DE1909480C2 - Trägeranordnung und Verfahren zur elektrischen Kontaktierung von Halbleiterchips - Google Patents
Trägeranordnung und Verfahren zur elektrischen Kontaktierung von HalbleiterchipsInfo
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Description
a) die Trägerfolie (10; 130) eine öffnung (12; 132)
aufweist, deren Rand den Halbleiterchip (100, 136) in einem Abstand umgibt, so daß die an die
inneren Enden anschließenden Teile dei Verbindungsleiter (80; 104; 134) zwischen dem
Halbleiterchip und dem Rand der Öffnung (12; s 132) frei tragend angeordnet sind und daß wei-
,■■■ ter
'- b) peripher und im Absterd zu dieser Öffnung (12;
132) eine Anzahl von Schlitzen (36) so angeordnet ist, daß die äußeren Enden der Verbindungsleiter (80; 104; 134) frei tragend in die Schlitzöffnungen
hineinragen und die Schlitze auf Schnittlinien (38) liegen.
2. Trägeranordnung nach Anspruch 1, dadurch ge-. kennzeichnet, daß die Verbindungsleiter (80; 104;
134) etwa 0,025 mm dick sind.
3. Trägeranordnung nach Anspruch 1 oder 2, da- ;; durch gekennzeichnet, daß die Folie (10; 130) die
Form eines Bandes hat, auf welchem die Öffnungen (12,36; 132,136) in Längsrichtung des Bandes beabstandet
angeordnet sind.
4. Verfahren zur elektrischen Kontaktierung von Halbleiterchips unter Verwendung einer Trägeranordnung
nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterchips und die daran
befestigten Verbindungsleitungen durch Abtrennen längs der Schnittlinien, auf welchen die Schlitze
liegen, von dem Rest des Folienträgers getrennt werden.
Die Erfindung betrifft eine Trägeranordnung zur elektrischen Kontaktierung von Halbleiterchips gemäß
dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie ein Verfahren zur elektrischen Kontaktierung von Halbleiterchips gemäß
dem Oberbegriff des Anspruchs 4.
Eine Trägeranordnung zur elektrischen Kontaktierung von Halbleiterchips gemäß dem Oberbegriff des
Anspruchs 1 ist aus der Literaturstelie, »iBM Technical
Disclosure Bulletin«, Band 8,1966, Seiten 1541 und 1542 bekannt. Aus dieser Literaturstelie ist weiterhin ein Verfahren
zur gleichzeitigen Kontaktierung einer Vielzahl von Verbindungsleitern mit den Kontaktflecken von
Halbleiterchips bekannt, bei dem die auf einer flexiblen Folie, einer Art Abz'iehfolie, aufgebrachten Verbindungsleiter
mit Hilfe von pneumatisch betriebenen Druckspitzen auf die Kontakttlecken und danach mit
ihrem anderen Ende auf Leiterbahnen auf einem Substrat aufgeschweißt werden. Bei der bekannten Trägeranordnung
liegen nun aber die Verbindungsleiter in ihrer gesamten Länge auf der Folie auf, so daß beim
Druckverschweißen die Druckspitzen durch die Trägerfolie hindurchgedrückt werden müssen; dadurch entsteht
an dieser Stelle eine innige Verbindung zwischen Folie und Verbindungsleitern, welche jedoch unerwünscht
ist, da diese die nachfolgend vorgesehene Trennung von Folie und Verbindungsleitern behindert oder
die Gefahr besteht, daß bei der Trennung die Verbindungsleiter beschädigt werden.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, die bekannte Trägeranordnung sowie das bekannte Verfahren
zur elektrischen Kontaktierung von Halbleiterchips so zu verbessern, daß die Folie beim Verschweißen beider
Enden der Verbindungsieiter mit den Anschlußflekken bzw. weiteren Leitern nicht hinderlich ist und diese
Folie — soweit sie nach dem Kontaktieren entfernt werden soll — sich abtrennen läßt, ohne daß dabei die Gefahr
besteht, daß die Verbindungsleiter beschädigt werden.
; Diese Aufgabe wird durch die in Anspruch 1 gekennzeichnete Trägeranordnung sowie das in Anspruch 4
gekennzeichnete Verfahren gelöst
Aus der NL-OS 67 10453 ist zwar eine Anordnung zum Kontaktieren eines Halbleiterchips bekannt, bei welcher in einem plättchenförmigen Substrat aus einem isolierenden Material eine öffnung ausgebildet ist, deren Rand den zu kontaktierenden Halbleiterchip in einem Abstand umgibt und in die die Enden von auf dem Substrat ausgebildeten Leiterbahnen freitragend hineinragen; dabei sind diese Enden der Leiterbahnen mit den Anschlußflecken der Halbleiterchips elektrisch verbunden. Bei der bekannten Anordnung entsprechen jedoch nicht die gesamten Leiterbahnen den Verbindungsleitern der Trägeranordnung nach dem Anspruch 1, sondern lediglich die in die Öffnung ragenden, freitragenden Enden dieser Verbindungsleiter. Diese freitragenden Enden der Leiterbahnen müssen aus Stabilitätsgründen, zumal sie nicht wie bei der vorliegenden Trägeranordnung durch eine flexible Folie getragen werden, relativ dick und kurz ausgebildet sein; dies bedeutet aber, daß sich diese Enden der Leiterbahnen nicht so leicht und frei von mechanischen Spannungen mit den Anschlußflecken des Halbleiterchips verbinden lassen. Bei der bekannten Anordnung ist das plättchenförmige Substrat weiterhin nicht flexibel ausgebildet.
Aus der NL-OS 67 10453 ist zwar eine Anordnung zum Kontaktieren eines Halbleiterchips bekannt, bei welcher in einem plättchenförmigen Substrat aus einem isolierenden Material eine öffnung ausgebildet ist, deren Rand den zu kontaktierenden Halbleiterchip in einem Abstand umgibt und in die die Enden von auf dem Substrat ausgebildeten Leiterbahnen freitragend hineinragen; dabei sind diese Enden der Leiterbahnen mit den Anschlußflecken der Halbleiterchips elektrisch verbunden. Bei der bekannten Anordnung entsprechen jedoch nicht die gesamten Leiterbahnen den Verbindungsleitern der Trägeranordnung nach dem Anspruch 1, sondern lediglich die in die Öffnung ragenden, freitragenden Enden dieser Verbindungsleiter. Diese freitragenden Enden der Leiterbahnen müssen aus Stabilitätsgründen, zumal sie nicht wie bei der vorliegenden Trägeranordnung durch eine flexible Folie getragen werden, relativ dick und kurz ausgebildet sein; dies bedeutet aber, daß sich diese Enden der Leiterbahnen nicht so leicht und frei von mechanischen Spannungen mit den Anschlußflecken des Halbleiterchips verbinden lassen. Bei der bekannten Anordnung ist das plättchenförmige Substrat weiterhin nicht flexibel ausgebildet.
Zweckmäßige Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Trägeranordnung nach Anspruch 1 sind in den Unteransprüchen
2 und 3 angegeben.
Die erfindungsgc-mäße Trägeranordnung hat den
Vorteil, daß sich die Halbleiterchips, welche mit Hilfe dieser Anordnung kontaktiert sind, über die Verbindungsleiter
an eine Testanordnung zur Prüfung der elektrischen Funktionen anschließen lassen, um dann
nur die einwandfreien Halbleiterchips weiterzuverarbeiten.
Die Erfindung wird im folgenden an Hand von Zeichnungen näher beschrieben, wobei
F i g. 1 im gestrichelten Abschnitt eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Trägeranordnung,
F i g. 1 im gestrichelten Abschnitt eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Trägeranordnung,
F i g. 2 ein an einer Trägeranordnung nach Fig. 1 befestigtes Halbleiterbauelement,
F i g. 3 die Befestigung eines Halbleiterkörpers nach F i g. 2 im vergrößerten Abschnitt und
F i g. 4 und 5 fertige, unter Verwendung einer Trägeranordnung nach F i g. 1 hergestellte Halbleiterbauelemente
zeigen.
zeigen.
Gemäß Fig.! ist ein Band 10 aus Isoliermaterial, beispielsweise
einem Polyester oder Polyimid, das gegebenenfalls
mit einer zusätzlichen, aus einem isolierenden, leitenden oder halbleitenden Material bestehenden Vers'teifungsschicht
(nicht gezeigt) hinterlegt oder überzogen isl, mit einer Vielzahl von mittleren Löchern oder
Öffnungen 12 versehen, die längs d<:s Bamies nahezu
gleichmäßig beabstandet und im allgemeinen etwa in der Mitte zwischen den beiden Längsrändern des Bandes
angeordnet sind. Die Löcher 12 sind vorzugsweise so groß, daß sie die Kontaktfläche eines Halbleiterkörpers
vollständig umgeben können. Sie sind also beispielsweise c'.was größer als die Kontaktfläche des
Halbleiterkörpers, auf der sich die metallischen Kontakte befinden. Um die Löcher 12 sind Randschlitze 36
gruppiert, die im allgemeinen etwa senkrecht auf einem durch sie vom Mittelloch 12 aus gezogenen Radius stehen
und mit dem jeweiligen Mittelloch einen Löcherbereich 32 bilden. Das Mittelloch 12 in jedem Löcherbereich
32 dient zum Festlegen der Lage der inneren En-, i,.den der Anschlüsse eines Satzes, während die Rand-■jfschlkze
36 zum Festlegen der Lage der äußeren Enden ftfder Anschlüsse dieses Satzes dienen. Hierdurch kann
J8er Teil des Trägerbandes, der ein Mittelloch und die
Anschlüsse des zugehörigen Satzes enthält, leicht dadurch vom Rest des Trägerbandes entfernt werden, daß
?man das Band längs der Verbindungslinien der Randschlitze
36 abtrennt. Das sich dabei ergebende Gebilde ist in F i g. 2 dargestellt
Zur Herstellung des Trägerbandes wird ein dünnes, zusammenhängendes, elektrisch isolierendes Band 10, in
Welches vorher in regelmäßigen Abständen die Löcbergruppen 32 eingestanzt sind, von einer (nicht gezeigten)
Vorratsrolle abgewickelt und zumindest in den Löcherbereichen 32 und in den benachbarten Bereichen mit
einer dünnen Folie 16 aus einem metallischen, elektrisch leitenden Material belegt und verbunden. Zur Verbindung
können irgendwelche geeigneten Materialien, z. B. Klebeschichten, verwendet werden. Das Band 10 kann
eine Dicke von beispielsweise 0,07 bis 0,1 mm aufweisen, wohingegen die Metallschicht 16 etwa 0,012 bis
0,025 mm dick sein kann. Gemäß einem Ausführungsbeispiel besteht die Metallschicht 16 aus einer 0,018 mm
starken Kupferfolie.
Der sich ergebende, aus Band 10 und Schicht 16 bestehende Schichtkörper besteht somit aus einem länglichen,
zusammenhängenden Träger- oder Stützband 24. Gemäß F i g. 1 sind zur genauen Ausrichtung an seinem
Rand eine Anzahl von Einstellöffnungen 11 und 13 vorgesehen,
die durch das gesamte Trägerband hindurchgehen. Jedes Loch 12 ist so groß, daß es Kontaktzonen
eines Halbleiterkörpers aufnehmen kann. Die Metallschicht 16 haftet zumindest in denjenigen Bereichen fest
an der Oberfläche des Bandes 10, die den Löchergruppen 32 benachbart sind und erstreckt sich auch über die
Löcher hinweg und bedeckt sie.
Durch fotolithografische Maskierungs- und Ätztechnik oder auch auf andere bekannte Weise werden Abschnitte
der Metallschicht 16 vom Band 10 entfernt, so daß auf dem Band eine Vielzahl von Sätzen oder Gruppen
aus metallischen Anschlüssen 80 entsteht, wobei sich bei jedem Satz die inneren Enden der metallischen
Anschlüsse im Bereich eines Mittelloches 12 befinden und die Anschlüsse jedes Satzes in einem vorgewählten
Muster angeordnet sind. Dieses Muster besteht im allgemeinen aus sich radial erstreckenden Fingern oder
Streifen, die nach innen über den Rand eines Loches 12 ragen, so daß die inneren Enden der Anschlüsse 80 eines
jeden Satzes auf die Metallkontakte eines Halbleiterkörpers ausgerichtet werden kö.men. der gegenüber
dem entsprechenden Loch angeordnet wird, während sich die äußeren Enden der Anschlüsse im Bereich der
Schlitze befinden. Wenn ein fotolilografisches Ätzverfahren zur Herstellung der Anschlüsse 80 angewendet
wird, dann sollten diejenigen Teile der Rückfläche der Metallschicht 16, die durch die Löchergruppen 32 freigelegt
sind, ebenso wie die oberen Oberflächen mit dem üblichen fotoresistiven Material überzogen werden, damit
verhindert wird, daß das Ätzmittel die Unterseite der Anschlüsse oder Finger 80 angreifen kann. Die Größe
und die Form der Löcher 12 können dem Muster der Metallkontakte auf dem mit elektrischen Anschlüssen
zu versehenden Halbleiterkörper angepaßt werden. Form und Größe der Löcher 12 sollten aber so gewählt
werden, daß ihre Ränder die Kontakte umfassen.
Am Trägerband 24 werden mehrere Halbleiterkörper ausgerichtet auf die Löcher 12 befestigt. Hierzu wird ein
zusammenhängender Streifen des Trägerbandes 24 von einer Vorratsrolle abgewickelt und das mit mehreren
Sätzen von Anschlüssen 80 versehene Trägerband 24 zunächst in eine geeignete Plattierungslösung eingetaucht,
um alle freiliegenden Teile der Anschlüsse 80 einschließlich ihrer freiliegenden Rückflächen mit einem
geeigneten lötbaren Material wie Zinn zu überziehen. In dem nächsten Verfahrensschritt wird dann das Trägerband
24 relativ zu den hintereinander liegenden Halbleiterkörpern bewegt, so daß die inneren Enden der An-Schlüsse
jedes Satzes auf die Metallkontakte des zugeordneten Halbleiterkörpers ausgerichtet werden. Anschließend
werden die Kontaktzonen jedes Halbleiterkörpers mit den inneren Enden der Anschlüsse des entsprechenden
Satzes verbunden. Danach kann jeder Satz von Anschlüssen mit dem zugehörigen Halbleiterkörper
von dem Res.t des Trägerbandes 24 abgeschnitten werden.
In F i g. 3 ist der Halbleiterkörper 100 eines integrierten monolithischen Halbleiterbauelementes dargestellt.
Der Halbleiterkörper weist eine Anzahl von Anschlußflecken auf, die mit den inneren Enden der Verbindungsleiter 104 verbunden werden sollen. Die Anschlußflekken
des Halbleiterkörpers sind durch schraffierte Flächen 105 dargestellt. Bei der Ausführungsform nach
F i g. 3 kann mit der Boden- oder Rückseite des Halbleiterkörpers ein wärmeleitender Bauteil bzw. eine
Wärmesenke verbunden sein. Die inneren Enden der Verbindungsleiter 104 und ein Teil der Wärmesenke
können außerdem mit einer geeigneten Kapsel aus Kunststoff, Glas oder dgl. eingehüllt werden. Es ist auch
möglich, das Kapselmaterial nur auf die obere Oberfläche des Halbleiterkörpers aufzubringen, damit der
Halbleiterkörper später an eine äußere Wärmesenke angelötet werden kann.
In F i g. 5 ist ein unter Verwendung der erfindungsgemäßen Trägeranordnung hergestelltes Halbleiterbauelement
gezeigt. Ein flexibles Band 130 aus einem elektrisch isolierenden Material weist ein Mittelloch 132 auf
und stützt einen Satz von metallischen Anschlüssen 134 ab, die auf dem Band aufliegen und mit einer Oberfläche
des Bandes verklebt sind. Die Anschlüsse 134 sind, wie oben beschrieben, in einem aus Fingern bestehenden
Muster auf der Bandoberfläche angeordnet, wobei sich die Finger vom Mittelloch 132 radial nach außen erstrecken,
während ihre inneren Enden über den Rand des Mittelloches nach innen ragen und auf die Kontaktzonen
des Halbleiterkörpers 136 ausgerichtet sind. Der Halbleiterkörper 136 ist auf das Mittelloch 132 ausge-
richtet, und die inneren Enden der Metallfinger sind an den ihnen zugeordneten Kontaktzonen des Halbleiterkörpers
befestigt. Jeder Anschluß 134 ist an seinem äußeren Ende mit einem relativ steifen Metallstift 138 verbunden,
dessen inneres Ende in F i g. 5 durch die gestrichelten Linien angedeutet ist Das Band 130, der Halbleiterkörper
136, die Anschlüsse 134 und ein Teil der Metallstifte 138 sind in eine Kunststoffkapsel eingeschlossen,
so daß das fertige Halbleiterbauelement etwa wie das in Fig.4 dargestellte Halbleiterbauelement
aussieht und nur seine Kunststoffkapsel und die Metallstifte sichtbar sind.
Hierzü2 BlattZeichnüngen
10
15
20
25
30
45
50
55
Claims (1)
1. Trägeranordnung zur elektrischen Kontaktierung von Kalbleiterchips, wobei der Träger aus einer
flexiblen Folie aus organischem Kunststoff besteht und auf dieser Folie eine den Anschlußflecken
des Halbleiterchips entsprechende Anzahl von fingerförmigen, metallischen Verbindungsleitern ausgebildet
ist, deren innere Enden mit den Anschlußflecken des Halbleiterchips elektrisch verbunden
sind und deren äußere Enden sich vom Halbleiterchip nach außen erstrecken, dadurch gekennzeichnet,
daß
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US70956168A | 1968-03-01 | 1968-03-01 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1909480A1 DE1909480A1 (de) | 1970-01-15 |
| DE1909480C2 true DE1909480C2 (de) | 1984-10-11 |
Family
ID=24850358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE1909480A Expired DE1909480C2 (de) | 1968-03-01 | 1969-02-26 | Trägeranordnung und Verfahren zur elektrischen Kontaktierung von Halbleiterchips |
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| FR2438339A1 (fr) * | 1978-10-05 | 1980-04-30 | Suisse Horlogerie | Liaison electrique d'un circuit integre |
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| D2 | Grant after examination | ||
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| 8365 | Fully valid after opposition proceedings |