DE1892316U - Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen. - Google Patents

Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen.

Info

Publication number
DE1892316U
DE1892316U DEJ11969U DEJ0011969U DE1892316U DE 1892316 U DE1892316 U DE 1892316U DE J11969 U DEJ11969 U DE J11969U DE J0011969 U DEJ0011969 U DE J0011969U DE 1892316 U DE1892316 U DE 1892316U
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
arrangement according
arrangement
contact surfaces
deposited
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEJ11969U
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Standard Electric Corp
Original Assignee
International Standard Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Standard Electric Corp filed Critical International Standard Electric Corp
Publication of DE1892316U publication Critical patent/DE1892316U/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/02Pretreatment of the material to be coated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • C03C17/36Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
    • C03C17/40Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal all coatings being metal coatings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/563Encapsulation of active face of flip-chip device, e.g. underfilling or underencapsulation of flip-chip, encapsulation preform on chip or mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L24/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L24/25Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of a plurality of high density interconnect connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/82Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by forming build-up interconnects at chip-level, e.g. for high density interconnects [HDI]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • H01L2224/2401Structure
    • H01L2224/24011Deposited, e.g. MCM-D type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • H01L2224/241Disposition
    • H01L2224/24151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/24221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/24225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/23Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
    • H01L2224/24Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
    • H01L2224/241Disposition
    • H01L2224/24151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/24221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/24225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/24227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the HDI interconnect not connecting to the same level of the item at which the semiconductor or solid-state body is mounted, e.g. the semiconductor or solid-state body being mounted in a cavity or on a protrusion of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818Bonding techniques
    • H01L2224/81801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/8385Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01023Vanadium [V]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01024Chromium [Cr]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01052Tellurium [Te]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01068Erbium [Er]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01075Rhenium [Re]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/078Adhesive characteristics other than chemical
    • H01L2924/07802Adhesive characteristics other than chemical not being an ohmic electrical conductor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/095Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
    • H01L2924/097Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
    • H01L2924/09701Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15153Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/15165Monolayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19043Component type being a resistor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19105Disposition of discrete passive components in a side-by-side arrangement on a common die mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Description

Dipl.-Ing. Heinz Glaessen WÄ» f II If f **1. J. || Patentanwalt
Stuttgart - W
Rotebühlstre 70
ISE/Reg. 2758
International Standard Electric Corporation, lew York
"Anordnung zur Kontaktierung und Umhüllung von Halbleitervorrichtungen."
Die Neuerung bezieht sich auf eine Anordnung zur Kontaktierung und Umhüllung von Halbleitervorrichtungen, insbesondere Halbleiterfestkörpersehaltungen mit mindesten» einem aktiven Sohaltelement und einem oder mehreren passiven Schaltelementen und auf integrierte Subminiatursehaltungen mit einem Halbleiterkörper»
Eine Festkörperschaltung besteht bekanntlich aus einem Stüek Halbleitermaterial mit einer Reihe von miteinander in Verbindung stehenden Zonen verschiedener Leitfähigkeit und/oder pn-Übergängen, die durch Diffusionsvorgänge erzeugt wurden, so daß sie eine mehr oder weniger komplizierte Schaltungsanordnung darstellen, welehe Widerstände, Kondensatoren und Induktivitäten enthalte Dieser Ausdruck wird ;jedooh auch für einzelne Dioden oder transistoren verwendet. Ein solcher Halbleiterkörper muß in irgendeiner Weise montiert und umhüllt sein und muß Eingangs- und Ausgangsanschlüsse haben, mit denen ohmsohe Kontakte verbunden werden können, die zu anderen Sauelementen oder zu einer der üblichen Schaltungsanordnungen führen* Gegenstand der Neuerung ist eine Verbesserung der Kontaktierung von aolchen Anordnungen
Die Neuerung betrifft eine Anordnung zur Kontaktierung und Umhüllung von Halbleitervorrichtungen und besteht darin, daß der Halbleiterkörper in einer Ausnehmung einer Isolierstoffplatte befestigt ist, daß der Halbleiterkörper und die Ausnehmung mit einer Isoliermaterialschicht bedeokt sind, welehe die Anschlüsse auf dem Halbleiterkörper
(Dr.Bs.)Er./My./s. - 30o8o1963 « 2 -
7 ISE/Reg* 275«.
freiläßt, und daß diese Anschlüsse durch eine auf das umhüllende Material aufgedampfte dünne Metallschicht mit metallisierten Kontaktflächen auf 4er Isolierplatte verbunden sind.
Die Neuerung soll nun anhand der figuren näher erläutert werden.
Figur 1 zeigt eine Draufsicht auf eine Isolierstoffplatte mit einem neuerungsgemäß kontaktierten Halbleiterkörper.
Figur 2 zeigt einen Querschnitt der in Figur 1 dargestellten Anordnung und Figur 3 zeigt einen Querschnitt durch eine andtrt Ausführung** form der neuerungsgemäßen Anordnung mit zwei Halbleiterplättehtzi«
In Figur 1 uad 2 ist eine Keramik·« ©der flatplatte 1 dargestellt mit einer Ausnehmung 2 auf einer Sei^e, die etwas größer und tieftr ist als das Halbleiterplättohen 3, welches eine eindiffundierte festkörperschaltung enthält. Hit a bis k sind die Kontakte der Elemente dieser Festkörperschaltung in For« von kleinen metallisierten Gebieten auf der Oberfläche des Platteneis 3 bezeichnet, die mit den eigentlichen Anschlüssen auf der Isolierstoffplatte 1 verbunden
Die Platte 1 ist an einer Seite oder an allen Seiten mit einer Anzahl von Kontakten oder Anschlüssen 4 versehen, die aus voneinander getrennten metallisierten Bereichen bestehen= Die Platte 1 kann beispielsweise aus keramischem Material oder aus Glas bestehen und mit Kontaktzonen aus aufgesinte,rtem, schwer aohmelabarem Metall oder eimer im Vakuum aufgedampften dünnen Schicht, beispielsweise einer CJirom-Gold-Sohicht versehen sein, die. nach d*m Fotcätjsverfahrea mit Hilfe einej?· geeigneten Maske hergestellt wurde.
Auf das in d«r Ausnehmung 2 liegende Plättchtn 5 ist eis« dünn.» Schicht aus isolierendem Material 5 aufgebracht, so daß es in die Glas- oder Keramikplatte eingebettet ist, jedoch unter Freilassung der Anschlußgebiete 4. Das· isolierende Material kann aus Glas, Siliaiumdiflracyd, Kunstharz oder einem ähnlichen Material bestehen, welches für die Um-
3 -
ISE/Eego 2758 [
hüllung van elektrischen lÄuelemeBten verwendet wird, Ia diese umhüllende Schient sind Ausnfamunge» 6 naeh dem Fotoätzverfahren eingeätzt, so daß die metallisierten öebiete a !»ie k 4er Festkörperschaltung frei« liegen« Die metallisierten Gebiete a bis k sind mit entsprechenden Anschlüssen 4 auf der Glasplatte durch, im Vakuum aufgedampfte metallische Dünnfilmstreifen 7 verbunden. Die dünne Metallschicht kann Z0 1. aus Aluminium oder aus Gold und CJlirom bestehen.
In Figur 1 sind noch ein durch Aufdampfen hergestellter Widerstand 8 und ein Kondensator 9 dargestellt, welche^ auf der <*las*- oder Keramikplatte 1 in bekannter Weise eraeugt wurden und mit den diffundierten Elementen der Festkörperschaltung dureh die leitungen 7 verbunden sind. Es soll erwähnt werden, daß durch Diffusion hergestellte Widerstände und Kondensatoren, d.h. also die Bauelemente der Festkörpers ehaltung, andere elektrische Eigenschaften haben, als die durch Aufdampfen hergestellten Sauelemente, wie beispielsweise eier Widerstand Θ und der Kondensator 9» und daß die Kembinatien der beiden Typen von $ituele~ menten Halbleiteranordnungen mit einem größeren Punktionsbereich ergibt.
Die in Figur 1 dargestellte Anordnung ist zum Einbau in eine integrierte Subminiatürsehaltung geeignet, welohe 8,I. aus mehreren aufeinandergeatapelten Hatten 1 mit geeigneten Schal Verbindungen über die Kontakte 4 besteht.
Im Sinne der !feuerung liegt aiieii die Terwendung einer Kontajfciierungsanordnung nach Figur 1 ohne aufgedampfte passive Bauelemente wie 8 und 9. Die Platte 1 kann mehrere Ausnehmungen Z mit darin befestigten und. umhüllten. Halbleiterplättohen 3 haben, die dureh aufgedampfte leitungen 7 ait den auf den einzelnen Plättchen freiliegenden Anschlüssen verbunden sind. Wenn ein Plättehea eine festfcSrpereeÄaltung enthält, in welcher mehr als ei&e Vorrichtung eder ein Bauelement eindiffundiert ist, können die Leitungen 7 als Verbindungen zwisehen den Anschlüssen auf demselben Plättehen dienern*
Figur 3 zeigt einen Querschnitt1 durch eine andere Aueführungsform der neuerungsgemäßen Kontaktierungaanerdnung mit einer komplizierter em, aus mehreren Einheiten zusammengesetzten Halbleitervorriehtung.
Eine Keramikplatte 1 mit sswei Vertiefungen 2, welche durch den Rand la voneinander getrennt sind, enthält zwei Halbleitervorrichtungen 3a und 3b, die in definierter gegenseitiger lage in den Ausnehmungen mittels gefrittetem Glas 11 eingebettet sind. Zur Verbindung der einzelnen Elemente sind kugelförmige Kontakte 10 auf der mit Aluminium überzogenen yiä&fce 12 jeder Vorrichtung und auf den metallisierten Kontakbfläehen der Keramikplatte in der benötigten Anzahl angebracht, die vor der Montage in bekannter Weise erzeugt wurden. Die ganze Oberfläche der Vorrichtung ist mit GKLas oder lack 5 bedeckt, der nach der Befestigung der Halbleiterplättehen aufgebracht und auf eine geeignete Temperatur erhitzt wurde, se daS die Hälbleiterelemente und die kugelförmigen Kontakte damit bedeckt sind, Die Süden der kugelförmigen Kontakte liegen, wie dargestellt» frei, nachdem die S-las- ede* Kunstharze berfläehe z.B. durch läppen abgetragen wurde. Bie kugelförmigen Kentakte sind in der erforderlichen Weise durch aufgedampfte leitungen 7 miteinander verbunden. Die Verwendung kugelförmiger Kontakte ist nicht auf Anordnungen mit Keramiicunterlagen beschränkt. Anstelle des gefrittetea ölasmaterials kann aueh ein aaderes geeignetes festhaftendes Isoliermaterial verwendet werden.
Obwohl die Anwendung der kugelförmigen Kontakte besonders für die Verbindung mehrerer Plättchen auf derselben. Unterlage geeignet ist, kann sie attßh für Anordnungen wie der in figur 1 dargestelltem mit einem einzigen Halbleiterplättöhen verwendet werden.
Die aufgedampften Verbindungsltitungen 7 können durch Aufplattieren, «•Β. mit Hilfe eines nicht-galvanischen Verfahrene, verstärkt sein.
Die oben beschriebenen Kontaktierungsanordnungen zur Herstellung von Verbindungen zwischen den metallisierten Anschlüssen auf der Oberfläche eines Halbleiterplättohens durch ein Aufdampf- oder Plattier-
Yerfaiireii !»rliigen, hinsicli-tlioli Koeiien tmd ZuTerläeeigJteit else 8entliehe V«rbesserimg gegenüliear dem fartiJsiereii Tirfaiirta der kompreBaionBTerbinelung ait ft im·» Sola«- oder
16 Scliutiansprüohe 1 Bl0 Zeieiuaungen

Claims (14)

υ,-§ 63262
1.) Anordnung eur Kontaktierung* mad Wm&ullung τοη Ial>ieiterv©rrichtungtn, insbesondere Halbleiterfestkörpersehaltungen mit mindestens einem aktiven Schaltelement und einem ©der mehreren paesiren Sohaltelementeni und integrierte Sufeminiatureehaltungen mit einem Halbleiterkörper, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper in einer Aaenehmung einer Isolieretoffplatte befestigt ist, daß der Halbleiterkörper und die Ausnehmung mit einer Iaoliermaterialscfctiotrt bedeokt sind, welche die Anschlüsse auf dem Halbleiterkörper freiläßt und daß diese Anschlüsse durch eine auf das umhüllende Material aufgedampfte dünne Metallschicht mit metallisierten Kontaktflächen auf der Isolierplatte verbunden» sind.
2.) Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die aufmetallisierten Kontaktflächen tntlang der Kante der Isolieretoffplatte angeordnet sind.
3o) Anordnung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Halbleiteranordnungen in Ausnehmungen einer Isolierstoffplatte befestigt und deren Kontaktflächen durch aufgedampfte Metailschichten verbunden sind0
4o) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktflächen mit aufmetallisierten Anschlüssen eines oder mehrerer passiver, durch Niederschlagen auf der Isolierstoffplatte erzeugter Schaltelemente duroh aufgedampfte Metallschichten verbunden sind.
5.) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß zwei «der mehrere Anschlüsse auf demselben Haltleiterplättohen mit Hilfe τοη auf dem Isoliermaterial niedergeschlagenen Leitwegen verbunden sind.
60) Anordnung nach einem der AnöpaHtpÜt 1 fels 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktflächen aus dünnen metallisierten debieten feestehen, die in Aussparungen des Iseliermaterials angeordnet eindc. -
7c) Anordnung nach Anspruch 1 bis 5» dadurch gekennzeichnet, daß an den Kontaktflächen in Form düa&er metallisierter G-ebiete kugelförmige Kentakte angebracht mad durch eisen aufgedampften Metallfilm verbunden sind.
80) Anordnung mach einem der Ansprüche 1 bis T, dadurch gekennzeichnet, daß die Ieoliersteffplatte aus keramischem Material besteht.
9o) Anordnung aach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die aufmetallisierten Kontaktflächen au· gesintertem Metall bestehen*
10.) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die !tellerstoffplatte aus Glas- und die Kontaktflächen aus aufgedampften Ohrom-QOld-Sohlohten bestehen»
ο) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis IQ, dadurch gekennzeichnet!, daß sie in Kunstharz eingebettet ist«
12.) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 10,dadurch gekennzeichnet, daß sie in Siliziumdioxyd eingebettet ist.
13o) Anordnung mach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß sie in Glas eingebettet ist.
14.) Anordnung naoh einem der Ansprüche 1 bis 13, daduKfa. gekennzeichnet, daß ein od»r mehrere Halblei^eifplättchen in Je einer ?erti«f«ag der Iselie:r»t©f£platte mit Ulf« einer dünnem Sohieht ven, festheftendem Isoliermaterial, beispielsweise gefrittet«» Um, befestigt, sind«
2758
15°) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 »i« 14·, dadurch, gekennzeieiinet, daß der kontaktierende dünne, duroh YakuumTöedaiapf-ttag niedergeschlagene Metallfilm aus Aluminium besteht.
16o) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 eis 15» dadurch gekennzeichnet, daß der im Takuum aufgedampfte I1I]Lm durch Auf plattieren verstärkt ist«
(Dr.Bs0)Pr0/Myo/so *- 30o8.1963
DEJ11969U 1962-09-21 1963-09-03 Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen. Expired DE1892316U (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB36013/62A GB1044689A (en) 1962-09-21 1962-09-21 Improvements in or relating to mountings for semi-conductor devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1892316U true DE1892316U (de) 1964-05-06

Family

ID=10384003

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEJ11969U Expired DE1892316U (de) 1962-09-21 1963-09-03 Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen.

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE1892316U (de)
GB (1) GB1044689A (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1591186B1 (de) * 1966-03-09 1971-01-14 Ibm Verfahren zum simultanen Herstellen von Zufuehrungs-verbindungen mittels Kontaktbruecken auf Festkoerperbauelementen mit Hilfe von abziehbildartigen Vorrichtungen
DE2753236A1 (de) * 1977-11-29 1979-05-31 Siemens Ag Einbaurahmen fuer gehaeuselose integrierte halbleiterschaltungsanordnungen

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2202673B (en) * 1987-03-26 1990-11-14 Haroon Ahmed The semi-conductor fabrication
US6020646A (en) * 1997-12-05 2000-02-01 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Intergrated circuit die assembly

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1591186B1 (de) * 1966-03-09 1971-01-14 Ibm Verfahren zum simultanen Herstellen von Zufuehrungs-verbindungen mittels Kontaktbruecken auf Festkoerperbauelementen mit Hilfe von abziehbildartigen Vorrichtungen
DE2753236A1 (de) * 1977-11-29 1979-05-31 Siemens Ag Einbaurahmen fuer gehaeuselose integrierte halbleiterschaltungsanordnungen

Also Published As

Publication number Publication date
GB1044689A (en) 1966-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3051195C2 (de) Trägerelement zum Einbau in Ausweiskarten
DE102005043557B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauteils mit Durchkontakten zwischen Oberseite und Rückseite
DE1298630B (de) Integrierte Schaltungsanordnung
DE1764951B1 (de) Mehrschichtige metallisierung fuer halbleiteranschluesse
DE2040180B2 (de) Verfahren zur verhinderung von mechanischen bruechen einer duennen, die oberflaeche eines halbleiterkoerpers ueberdeckende isolierschichten ueberziehenden elektrisch leitenden schicht
DE1564491A1 (de) Elektrische Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE1207511B (de) Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE1640457B1 (de) Elektrische Verbindungen in Schaltkreisanordnungen und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE2139656C3 (de) Elektrolumineszente Halbleitervorrichtung
DE1812158A1 (de) Verfahren zum Einbetten von Halbleiterscheiben in dielektrische Schichten
DE1892316U (de) Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen.
DE1439648B2 (de) Verfahren zum Herstellen eines Halb leiterbauelementes
DE1812130B2 (de) Verfahren zum herstellen einer halbleiter- oder dickfilmanordnung
DE1416437B2 (de) Trägerplatte für mikrominiaturisierte Schaltelemente und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE102013108967A1 (de) Verfahren und Herstellung eines Elektronikmoduls und Elektronikmodul
DE1285581C2 (de) Traeger mit einer Mikroschaltung und Verfahren zu seiner Herstellung
DE3926238C2 (de) Halbleiter-Bauelement
WO1999026287A1 (de) Siliziumfolie als träger von halbleiterschaltungen als teil von karten
DE1766688B1 (de) Anordnung mehrerer Plaettchen,welche integrierte Halbleiterschaltungen enthalten,auf einer gemeinsamen Isolatorplatte sowie Verfahren zur Herstellung der Anordnung
DE19921867C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements mit mindestens einem verkapselten Chip auf einem Substrat
DE2723100A1 (de) Tiefsttemperaturbehaelter mit geringen waermeverlusten fuer infrarot-detektorvorrichtungen
DE1954135A1 (de) Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung
DE1439648C (de) Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelementes
DE2057126C3 (de) Anordnung und Verfahren zur Kontaktierung von Halbleiterbauelementen
DE1188731B (de) Verfahren zum gleichzeitigen Herstellen von mehreren Halbleiteranordnungen