DE1892316U - Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen. - Google Patents
Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen.Info
- Publication number
- DE1892316U DE1892316U DEJ11969U DEJ0011969U DE1892316U DE 1892316 U DE1892316 U DE 1892316U DE J11969 U DEJ11969 U DE J11969U DE J0011969 U DEJ0011969 U DE J0011969U DE 1892316 U DE1892316 U DE 1892316U
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- arrangement according
- arrangement
- contact surfaces
- deposited
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 28
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 8
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 6
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 3
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 claims description 3
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 1
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 claims 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011435 rock Substances 0.000 claims 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 6
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- -1 Siliaiumdiflracyd Substances 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/02—Pretreatment of the material to be coated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
- C03C17/40—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal all coatings being metal coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/563—Encapsulation of active face of flip-chip device, e.g. underfilling or underencapsulation of flip-chip, encapsulation preform on chip or mounting substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/522—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/18—High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/23—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
- H01L24/24—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/18—High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/23—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
- H01L24/25—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of a plurality of high density interconnect connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/82—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by forming build-up interconnects at chip-level, e.g. for high density interconnects [HDI]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/16—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/18—High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/23—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
- H01L2224/24—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
- H01L2224/2401—Structure
- H01L2224/24011—Deposited, e.g. MCM-D type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/18—High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/23—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
- H01L2224/24—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
- H01L2224/241—Disposition
- H01L2224/24151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/24221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/24225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/18—High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/23—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process
- H01L2224/24—Structure, shape, material or disposition of the high density interconnect connectors after the connecting process of an individual high density interconnect connector
- H01L2224/241—Disposition
- H01L2224/24151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/24221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/24225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/24227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the HDI interconnect not connecting to the same level of the item at which the semiconductor or solid-state body is mounted, e.g. the semiconductor or solid-state body being mounted in a cavity or on a protrusion of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/45124—Aluminium (Al) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73203—Bump and layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/818—Bonding techniques
- H01L2224/81801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/8385—Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01004—Beryllium [Be]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01006—Carbon [C]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01015—Phosphorus [P]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01019—Potassium [K]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01023—Vanadium [V]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01024—Chromium [Cr]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01052—Tellurium [Te]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01057—Lanthanum [La]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01068—Erbium [Er]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01074—Tungsten [W]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01075—Rhenium [Re]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/06—Polymers
- H01L2924/078—Adhesive characteristics other than chemical
- H01L2924/07802—Adhesive characteristics other than chemical not being an ohmic electrical conductor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1515—Shape
- H01L2924/15153—Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/15165—Monolayer substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/156—Material
- H01L2924/15786—Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
- H01L2924/15787—Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/1901—Structure
- H01L2924/1904—Component type
- H01L2924/19043—Component type being a resistor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19105—Disposition of discrete passive components in a side-by-side arrangement on a common die mounting substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/30107—Inductance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Description
Dipl.-Ing. Heinz Glaessen WÄ» f II If f **1. J. ||
Patentanwalt
Stuttgart - W
Rotebühlstre 70
Stuttgart - W
Rotebühlstre 70
ISE/Reg. 2758
International Standard Electric Corporation, lew York
"Anordnung zur Kontaktierung und Umhüllung von Halbleitervorrichtungen."
Die Neuerung bezieht sich auf eine Anordnung zur Kontaktierung und
Umhüllung von Halbleitervorrichtungen, insbesondere Halbleiterfestkörpersehaltungen
mit mindesten» einem aktiven Sohaltelement und einem oder mehreren passiven Schaltelementen und auf integrierte Subminiatursehaltungen
mit einem Halbleiterkörper»
Eine Festkörperschaltung besteht bekanntlich aus einem Stüek Halbleitermaterial
mit einer Reihe von miteinander in Verbindung stehenden
Zonen verschiedener Leitfähigkeit und/oder pn-Übergängen, die durch
Diffusionsvorgänge erzeugt wurden, so daß sie eine mehr oder weniger
komplizierte Schaltungsanordnung darstellen, welehe Widerstände, Kondensatoren
und Induktivitäten enthalte Dieser Ausdruck wird ;jedooh
auch für einzelne Dioden oder transistoren verwendet. Ein solcher Halbleiterkörper muß in irgendeiner Weise montiert und umhüllt sein und
muß Eingangs- und Ausgangsanschlüsse haben, mit denen ohmsohe Kontakte
verbunden werden können, die zu anderen Sauelementen oder zu einer der
üblichen Schaltungsanordnungen führen* Gegenstand der Neuerung ist
eine Verbesserung der Kontaktierung von aolchen Anordnungen
Die Neuerung betrifft eine Anordnung zur Kontaktierung und Umhüllung
von Halbleitervorrichtungen und besteht darin, daß der Halbleiterkörper in einer Ausnehmung einer Isolierstoffplatte befestigt ist, daß
der Halbleiterkörper und die Ausnehmung mit einer Isoliermaterialschicht bedeokt sind, welehe die Anschlüsse auf dem Halbleiterkörper
(Dr.Bs.)Er./My./s. - 30o8o1963 « 2 -
7 ISE/Reg* 275«.
freiläßt, und daß diese Anschlüsse durch eine auf das umhüllende Material
aufgedampfte dünne Metallschicht mit metallisierten Kontaktflächen auf 4er Isolierplatte verbunden sind.
Die Neuerung soll nun anhand der figuren näher erläutert werden.
Figur 1 zeigt eine Draufsicht auf eine Isolierstoffplatte mit einem
neuerungsgemäß kontaktierten Halbleiterkörper.
Figur 2 zeigt einen Querschnitt der in Figur 1 dargestellten Anordnung
und Figur 3 zeigt einen Querschnitt durch eine andtrt Ausführung**
form der neuerungsgemäßen Anordnung mit zwei Halbleiterplättehtzi«
In Figur 1 uad 2 ist eine Keramik·« ©der flatplatte 1 dargestellt mit
einer Ausnehmung 2 auf einer Sei^e, die etwas größer und tieftr ist
als das Halbleiterplättohen 3, welches eine eindiffundierte festkörperschaltung
enthält. Hit a bis k sind die Kontakte der Elemente dieser
Festkörperschaltung in For« von kleinen metallisierten Gebieten
auf der Oberfläche des Platteneis 3 bezeichnet, die mit den eigentlichen Anschlüssen auf der Isolierstoffplatte 1 verbunden
Die Platte 1 ist an einer Seite oder an allen Seiten mit einer Anzahl
von Kontakten oder Anschlüssen 4 versehen, die aus voneinander getrennten metallisierten Bereichen bestehen= Die Platte 1 kann beispielsweise
aus keramischem Material oder aus Glas bestehen und mit
Kontaktzonen aus aufgesinte,rtem, schwer aohmelabarem Metall oder eimer
im Vakuum aufgedampften dünnen Schicht, beispielsweise einer CJirom-Gold-Sohicht
versehen sein, die. nach d*m Fotcätjsverfahrea mit Hilfe
einej?· geeigneten Maske hergestellt wurde.
Auf das in d«r Ausnehmung 2 liegende Plättchtn 5 ist eis« dünn.» Schicht
aus isolierendem Material 5 aufgebracht, so daß es in die Glas- oder
Keramikplatte eingebettet ist, jedoch unter Freilassung der Anschlußgebiete
4. Das· isolierende Material kann aus Glas, Siliaiumdiflracyd,
Kunstharz oder einem ähnlichen Material bestehen, welches für die Um-
3 -
ISE/Eego 2758 [
hüllung van elektrischen lÄuelemeBten verwendet wird, Ia diese umhüllende
Schient sind Ausnfamunge» 6 naeh dem Fotoätzverfahren eingeätzt,
so daß die metallisierten öebiete a !»ie k 4er Festkörperschaltung frei«
liegen« Die metallisierten Gebiete a bis k sind mit entsprechenden
Anschlüssen 4 auf der Glasplatte durch, im Vakuum aufgedampfte metallische
Dünnfilmstreifen 7 verbunden. Die dünne Metallschicht kann Z0 1.
aus Aluminium oder aus Gold und CJlirom bestehen.
In Figur 1 sind noch ein durch Aufdampfen hergestellter Widerstand 8
und ein Kondensator 9 dargestellt, welche^ auf der <*las*- oder Keramikplatte
1 in bekannter Weise eraeugt wurden und mit den diffundierten
Elementen der Festkörperschaltung dureh die leitungen 7 verbunden sind.
Es soll erwähnt werden, daß durch Diffusion hergestellte Widerstände und Kondensatoren, d.h. also die Bauelemente der Festkörpers ehaltung,
andere elektrische Eigenschaften haben, als die durch Aufdampfen hergestellten
Sauelemente, wie beispielsweise eier Widerstand Θ und der
Kondensator 9» und daß die Kembinatien der beiden Typen von $ituele~
menten Halbleiteranordnungen mit einem größeren Punktionsbereich ergibt.
Die in Figur 1 dargestellte Anordnung ist zum Einbau in eine integrierte
Subminiatürsehaltung geeignet, welohe 8,I. aus mehreren aufeinandergeatapelten
Hatten 1 mit geeigneten Schal Verbindungen über
die Kontakte 4 besteht.
Im Sinne der !feuerung liegt aiieii die Terwendung einer Kontajfciierungsanordnung
nach Figur 1 ohne aufgedampfte passive Bauelemente wie 8 und 9. Die Platte 1 kann mehrere Ausnehmungen Z mit darin befestigten
und. umhüllten. Halbleiterplättohen 3 haben, die dureh aufgedampfte
leitungen 7 ait den auf den einzelnen Plättchen freiliegenden Anschlüssen verbunden sind. Wenn ein Plättehea eine festfcSrpereeÄaltung
enthält, in welcher mehr als ei&e Vorrichtung eder ein Bauelement eindiffundiert
ist, können die Leitungen 7 als Verbindungen zwisehen den
Anschlüssen auf demselben Plättehen dienern*
Figur 3 zeigt einen Querschnitt1 durch eine andere Aueführungsform der
neuerungsgemäßen Kontaktierungaanerdnung mit einer komplizierter em,
aus mehreren Einheiten zusammengesetzten Halbleitervorriehtung.
Eine Keramikplatte 1 mit sswei Vertiefungen 2, welche durch den Rand la
voneinander getrennt sind, enthält zwei Halbleitervorrichtungen 3a und 3b, die in definierter gegenseitiger lage in den Ausnehmungen mittels
gefrittetem Glas 11 eingebettet sind. Zur Verbindung der einzelnen
Elemente sind kugelförmige Kontakte 10 auf der mit Aluminium überzogenen
yiä&fce 12 jeder Vorrichtung und auf den metallisierten Kontakbfläehen
der Keramikplatte in der benötigten Anzahl angebracht, die vor der Montage in bekannter Weise erzeugt wurden. Die ganze Oberfläche
der Vorrichtung ist mit GKLas oder lack 5 bedeckt, der nach der Befestigung
der Halbleiterplättehen aufgebracht und auf eine geeignete
Temperatur erhitzt wurde, se daS die Hälbleiterelemente und die kugelförmigen
Kontakte damit bedeckt sind, Die Süden der kugelförmigen
Kontakte liegen, wie dargestellt» frei, nachdem die S-las- ede* Kunstharze
berfläehe z.B. durch läppen abgetragen wurde. Bie kugelförmigen
Kentakte sind in der erforderlichen Weise durch aufgedampfte leitungen 7 miteinander verbunden. Die Verwendung kugelförmiger Kontakte ist
nicht auf Anordnungen mit Keramiicunterlagen beschränkt. Anstelle des
gefrittetea ölasmaterials kann aueh ein aaderes geeignetes festhaftendes
Isoliermaterial verwendet werden.
Obwohl die Anwendung der kugelförmigen Kontakte besonders für die
Verbindung mehrerer Plättchen auf derselben. Unterlage geeignet ist,
kann sie attßh für Anordnungen wie der in figur 1 dargestelltem mit
einem einzigen Halbleiterplättöhen verwendet werden.
Die aufgedampften Verbindungsltitungen 7 können durch Aufplattieren,
«•Β. mit Hilfe eines nicht-galvanischen Verfahrene, verstärkt sein.
Die oben beschriebenen Kontaktierungsanordnungen zur Herstellung von
Verbindungen zwischen den metallisierten Anschlüssen auf der Oberfläche
eines Halbleiterplättohens durch ein Aufdampf- oder Plattier-
Yerfaiireii !»rliigen, hinsicli-tlioli Koeiien tmd ZuTerläeeigJteit else
8entliehe V«rbesserimg gegenüliear dem fartiJsiereii Tirfaiirta der
kompreBaionBTerbinelung ait ft im·» Sola«- oder
16 Scliutiansprüohe
1 Bl0 Zeieiuaungen
Claims (14)
1.) Anordnung eur Kontaktierung* mad Wm&ullung τοη Ial>ieiterv©rrichtungtn,
insbesondere Halbleiterfestkörpersehaltungen mit mindestens
einem aktiven Schaltelement und einem ©der mehreren paesiren Sohaltelementeni
und integrierte Sufeminiatureehaltungen mit einem Halbleiterkörper,
dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper in einer Aaenehmung einer Isolieretoffplatte befestigt ist, daß der
Halbleiterkörper und die Ausnehmung mit einer Iaoliermaterialscfctiotrt
bedeokt sind, welche die Anschlüsse auf dem Halbleiterkörper freiläßt und daß diese Anschlüsse durch eine auf das umhüllende Material
aufgedampfte dünne Metallschicht mit metallisierten Kontaktflächen auf der Isolierplatte verbunden» sind.
2.) Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die aufmetallisierten
Kontaktflächen tntlang der Kante der Isolieretoffplatte
angeordnet sind.
3o) Anordnung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere
Halbleiteranordnungen in Ausnehmungen einer Isolierstoffplatte befestigt und deren Kontaktflächen durch aufgedampfte Metailschichten
verbunden sind0
4o) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktflächen mit aufmetallisierten Anschlüssen eines oder mehrerer passiver, durch Niederschlagen auf der Isolierstoffplatte
erzeugter Schaltelemente duroh aufgedampfte Metallschichten verbunden
sind.
5.) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß zwei «der mehrere Anschlüsse auf demselben Haltleiterplättohen
mit Hilfe τοη auf dem Isoliermaterial niedergeschlagenen Leitwegen
verbunden sind.
60) Anordnung nach einem der AnöpaHtpÜt 1 fels 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontaktflächen aus dünnen metallisierten debieten feestehen,
die in Aussparungen des Iseliermaterials angeordnet eindc. -
7c) Anordnung nach Anspruch 1 bis 5» dadurch gekennzeichnet, daß an
den Kontaktflächen in Form düa&er metallisierter G-ebiete kugelförmige
Kentakte angebracht mad durch eisen aufgedampften Metallfilm
verbunden sind.
80) Anordnung mach einem der Ansprüche 1 bis T, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ieoliersteffplatte aus keramischem Material besteht.
9o) Anordnung aach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die aufmetallisierten
Kontaktflächen au· gesintertem Metall bestehen*
10.) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die !tellerstoffplatte aus Glas- und die Kontaktflächen aus
aufgedampften Ohrom-QOld-Sohlohten bestehen»
ο) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis IQ, dadurch gekennzeichnet!,
daß sie in Kunstharz eingebettet ist«
12.) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 10,dadurch gekennzeichnet,
daß sie in Siliziumdioxyd eingebettet ist.
13o) Anordnung mach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet,
daß sie in Glas eingebettet ist.
14.) Anordnung naoh einem der Ansprüche 1 bis 13, daduKfa. gekennzeichnet,
daß ein od»r mehrere Halblei^eifplättchen in Je einer ?erti«f«ag
der Iselie:r»t©f£platte mit Ulf« einer dünnem Sohieht ven, festheftendem
Isoliermaterial, beispielsweise gefrittet«» Um, befestigt,
sind«
2758
15°) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 »i« 14·, dadurch, gekennzeieiinet,
daß der kontaktierende dünne, duroh YakuumTöedaiapf-ttag niedergeschlagene Metallfilm aus Aluminium besteht.
16o) Anordnung nach einem der Ansprüche 1 eis 15» dadurch gekennzeichnet,
daß der im Takuum aufgedampfte I1I]Lm durch Auf plattieren verstärkt
ist«
(Dr.Bs0)Pr0/Myo/so *- 30o8.1963
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB36013/62A GB1044689A (en) | 1962-09-21 | 1962-09-21 | Improvements in or relating to mountings for semi-conductor devices |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1892316U true DE1892316U (de) | 1964-05-06 |
Family
ID=10384003
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEJ11969U Expired DE1892316U (de) | 1962-09-21 | 1963-09-03 | Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen. |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1892316U (de) |
GB (1) | GB1044689A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1591186B1 (de) * | 1966-03-09 | 1971-01-14 | Ibm | Verfahren zum simultanen Herstellen von Zufuehrungs-verbindungen mittels Kontaktbruecken auf Festkoerperbauelementen mit Hilfe von abziehbildartigen Vorrichtungen |
DE2753236A1 (de) * | 1977-11-29 | 1979-05-31 | Siemens Ag | Einbaurahmen fuer gehaeuselose integrierte halbleiterschaltungsanordnungen |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2202673B (en) * | 1987-03-26 | 1990-11-14 | Haroon Ahmed | The semi-conductor fabrication |
US6020646A (en) * | 1997-12-05 | 2000-02-01 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Intergrated circuit die assembly |
-
1962
- 1962-09-21 GB GB36013/62A patent/GB1044689A/en not_active Expired
-
1963
- 1963-09-03 DE DEJ11969U patent/DE1892316U/de not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1591186B1 (de) * | 1966-03-09 | 1971-01-14 | Ibm | Verfahren zum simultanen Herstellen von Zufuehrungs-verbindungen mittels Kontaktbruecken auf Festkoerperbauelementen mit Hilfe von abziehbildartigen Vorrichtungen |
DE2753236A1 (de) * | 1977-11-29 | 1979-05-31 | Siemens Ag | Einbaurahmen fuer gehaeuselose integrierte halbleiterschaltungsanordnungen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1044689A (en) | 1966-10-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3051195C2 (de) | Trägerelement zum Einbau in Ausweiskarten | |
DE102005043557B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauteils mit Durchkontakten zwischen Oberseite und Rückseite | |
DE1298630B (de) | Integrierte Schaltungsanordnung | |
DE1764951B1 (de) | Mehrschichtige metallisierung fuer halbleiteranschluesse | |
DE2040180B2 (de) | Verfahren zur verhinderung von mechanischen bruechen einer duennen, die oberflaeche eines halbleiterkoerpers ueberdeckende isolierschichten ueberziehenden elektrisch leitenden schicht | |
DE1564491A1 (de) | Elektrische Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE1207511B (de) | Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE1640457B1 (de) | Elektrische Verbindungen in Schaltkreisanordnungen und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2139656C3 (de) | Elektrolumineszente Halbleitervorrichtung | |
DE1812158A1 (de) | Verfahren zum Einbetten von Halbleiterscheiben in dielektrische Schichten | |
DE1892316U (de) | Anordnung zur kontaktierung und umhuellung von halbleitervorrichtungen. | |
DE1439648B2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halb leiterbauelementes | |
DE1812130B2 (de) | Verfahren zum herstellen einer halbleiter- oder dickfilmanordnung | |
DE1416437B2 (de) | Trägerplatte für mikrominiaturisierte Schaltelemente und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE102013108967A1 (de) | Verfahren und Herstellung eines Elektronikmoduls und Elektronikmodul | |
DE1285581C2 (de) | Traeger mit einer Mikroschaltung und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE3926238C2 (de) | Halbleiter-Bauelement | |
WO1999026287A1 (de) | Siliziumfolie als träger von halbleiterschaltungen als teil von karten | |
DE1766688B1 (de) | Anordnung mehrerer Plaettchen,welche integrierte Halbleiterschaltungen enthalten,auf einer gemeinsamen Isolatorplatte sowie Verfahren zur Herstellung der Anordnung | |
DE19921867C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements mit mindestens einem verkapselten Chip auf einem Substrat | |
DE2723100A1 (de) | Tiefsttemperaturbehaelter mit geringen waermeverlusten fuer infrarot-detektorvorrichtungen | |
DE1954135A1 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung | |
DE1439648C (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelementes | |
DE2057126C3 (de) | Anordnung und Verfahren zur Kontaktierung von Halbleiterbauelementen | |
DE1188731B (de) | Verfahren zum gleichzeitigen Herstellen von mehreren Halbleiteranordnungen |