DE1794206A1 - Verfahren zur thermischen Behandlung von Kristallen und Schmelzen - Google Patents
Verfahren zur thermischen Behandlung von Kristallen und SchmelzenInfo
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- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
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- C30B13/28—Controlling or regulating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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Description
- Verfahren zur thermischeft Behandlung von Kristallen und Schmelzen Gegenstand des Haupt-pateü-L-es ist ein Verfahren zur therinischen Behandlung von Kristallen und Schmelzen, nach dem die vOn einer Heitquelle erzeugte EnerGie auf einen aus gut Wärmeleitenuem Material bestehenäeü Ausgleichskörpet einwirkt, der rotiert und i n dessen Rotationsachse sich die thermisch zu behandelnden Objekte befinden. Eine derartige Behandlung ist f Ür. die qualitative Verbesserung bestimmter Materialien von großer Bedeutung. Insbesondere haben sich rotationssymmetrisehe Ausgleichskörperg ZOB* in Form eines Rotationszylinderst für die Züchtung stabförmiger Einkristalle aus der Schmelze bewährte Den Vorzügen der qualite#tiven Verbesserung des Kristallmaterials durch die thermische Behandlung innerhalb des rotiej.. ,renden Ausgleichskörpers steht ein höherer Leistungebedarf gegenüberg der die Behandlung dicker Stäbe-mindestens erschwart, zumal sich an dicken Stäben die Energie nic]#t in dem gleichen Maße bündeln läßt wie bei dünnen. Hinzu kommt,- daß der Ausgleichskörper unabhangig von der'Dicke der Stäbe die Beobachtung der-Schmelze# die bei dicken'Stäben bezonders.wichtig istj- behinderte Der vo:d1iogeiLden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde; das Verfahren nach dem flauptpatent so aUszugestalten, daß% ohne Beschränku-,1, der Vcrteilei die sich aus der Wirkung das' sym-:Ketrierten Tomperaturfeldes insbesondare bei der Behandlung dicker Einktietalletäbe ergeben# die ÜbertrageneLeistung besser ausgenutzt wird und gleichzeitig die Beobachtung der-Schmelze nicht behtiadert ist. Diese Autgabewird Orfindünge gemäß dadurch geldet#i* daß die Wirkung der vo'n den rotierenden Ausgleichakörpör Übirträgenen fteahlungseneriib auf die Be.-#*,
.töicho des lü#iotaileä hinter der b,oüöhr,änkb ist, Das bedeutet# daß dot ö#Wa in der qöhä der endet-, Uhdi im Pallö döä tiOSOlfteien die seh"12-. zone selbät äöWie d10 noch niöht StäbtelLie ditekt von der lndülttionsäpule bohälizt werden. aUA ergibt sich eine tjcäio'Sieht auf die Schmelze ünd'ein geringerer Leistungsäufwand für das AUfschineizeildb Außeedem steht auch te die Züchtung dicker Einkristallstäbe die erforderliche Lei,Stung voll Zur Verfügung» Die Erfindung beruht auf der Überlegung, daß die thermische- teeinflussung der jenseits der ErstaPrungsphasengrenze plastischen Bereiche des.Einkristallstabes einen entschei- deinden Einfluß auf die Anzahl und die Verteilung der struk' turellen Defekte und auf die mikroskopische Verteilung der Fremdstoffe im Einkristall hat und daß dieser Einfluß durch die von dem rotierenden Ausgleichskörper bewirkte Symmetrie- rung des Tomperaturfeldes in erhöhtem Maße wirksam wird. wegen dieser günstigen Einwirkung-der Wärmestrahlung des rotierenden AusgleichakÖri.)(,.r-s'uuf die noch glühenden Ein' kristallbereiche läßt sich das Verfah#--en wei-b#-r ausgestalten zur Einstellung eines axialen IllemperatiirproGram-as für diese' Bereiche durch eine entsprechende zus#Itzliche Beheiziiie des Ausgleichskörperse Bei nach dem Verfahren ge,züchteten Einkristallen erstreckt sich die gleichförmige Ve.L'teilung der Kris-ballverget-"ungen"."., über deeanzen St-abquerschnitt» #--Vird das tiegelfreie Zonen-.. schmelzen in bekannter Weise mit direktL#r induktiver Behei- zung durchgeführt, dann liegt die Versetzunj##sdichte in derb Randzone des Stab(luerschnittes bis zu einer Tiefe von 2.mal.,1 um das Drei- bis Zehnf ache höher als im Innern des'.Stebes,.., Die Mateeialverluste, welche durch die erforderliche Ent- fernung der gestörten Randzone bis zu 30#j des v":#rbvollen Einka-istallmaterials betragen '"u'nneng v#.-rden bei d----i.- An- v..endung des Verfahwens vermtden. Der Ganze Sü..-ü(iuersclinitt steht für die Weiterverarbeitunj## zu 13auelemenjv-en zur Ver- fügung, was von besonderer Bedeutung ist für #,ie Lerstel- Jung von Siliziumgleichrichtern,' Das Verfahren v#ird nachstehend an einem AusfWirungsbeispiel an Hand der Zeichnung näher ei-klärt. Innerhalb einer Apparatur zum tie,-ullosen Zonenschmelzen be- U findet sich ein iialbleiturstab, bestehend aus dem wachsenden Einkristall 19 dem AusG. r4,sotab 4 und dc-r Schmelzzone 5 9 die durch eine bekanntu Slulunanordniine; 3 mi',itels induktiv,r lir- wärmung erzeugt #ii12ä. Der AusGanGsstab 4 und der Eink-#-istall 1 rotieren Lleichsinnig um die eingezeichnete 1"o-'U-ationsach3e. Um den #iinki-istn-11 1 und um die gemeinstime ro- tiert der Aus--leichskörper 2, dei. u.us llociljereiiliü#tera Gra-hit besieht. Der einbezeielineüe Pfeil L--,ibt die Pe-,.egurigsricht-,ung der SpulenanordniinG 3 und des AusGleichsköi-pers 2 in bezug, . 6 1, ist auf den iialbleit-rs-t!j-#zb jui. Der AusGleichskörper 2 zur ge- s#amten Spu#lenanordnun,# 3 definiert angeordnet, und zwE;X so dicht; un't,-c;rhal-L> uer Siule 3 iLit bekannten technischen Mitteln drelibax -ehaltert, daß er du-L-ch das elek-t:1-roma#;notische Feld 0 der Spule 31, an seiner oberen Kante hinreichend stark aufge- heizt v.ird. Der Ausgleichskörper 2 ist von einer von der Spule .3 unabhärk;igen Induktionssl-ul%e 6 umgeben, de.-#en Lei--e und de-L.-en Hochfrecluenzstrom so gewählt werden k.'#jiuien, daß der aziale Temperaturverlauf in den Glühenden Bereichen des Einkristalles 1 einem vorbes-'L-fi:I=ten Programm foken kann, Bei dem Zonenselimelzl.rozeß erfulGt durch diesen rotierenden, erhitzten Ausgleichskörper 2 eine äußerst symmetrische Strah- lungsaufheizun#, ae.- Einkristalles 1 in seinen Glühenden Be- rei-c heng die den angegebenen homogenisierenden Einfluß auf die Verse'tzunGsvert;eilung über den X-,istallquers-chnitt hat. Das Verfahren kann auch mit anderen bekannten KristallzÜchtu.ng-t3i-'-- verfahren kombiniert werden. Die günstige thermische Beein- flussung der 4ualität des Einkristalles wird in gleicher Weise' wirksam bei der-Züchtung nach dem sogenannten.Pedestal-Ver- fahreng dem Ozochralski-Verfahi,--en und seinen Varian-t-Jeng bei den verschiedenen Varianten des Zonens#Iimelzens-,- auch bei Anordnung des Einkristalles oberhalb der Schmelzzone (4"Jonendiu-c,hlauf von oben nach Unken) - und beim soGenannten Stauchver:#ahren, d.h. bei dem Verfahren zur Ge#,jirniurk; a-ickerer Einkristall- stäbe durch Ge,-c-neinanderbev.--o-#-en dünnerer Stäbe beim üiee;el- losen ZonenLehmelzen.
Claims (1)
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#Verfahren Zur thermischen BehandlunL, von Kristallen, insbesondere Halbleit..,rmaterialt ln'Ve---«bindure mit dem Züchten von EinkrIstallstäben nach Patent 35 876t da# durch e k e n n z e i c h n e -t d#,#ß die l-"'lrkung der von einem rotierenden, deii Stab 1..zonzerrbrisch uniGe# benden Ausgleichskörper üb#-rb:c-aGenen StrahlunGsenergie auf die glühenden Bereiche hinter d.-r L#rs-barrunvjs-,haseng4,enz- fläche beschränkt wird. 2. Verf aliven uzÄch i#.nsp-Luexi e k e ii n z u i c h u e b durch eine zusätzliche Delielzuri#" dv-,-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD13149568 | 1968-04-15 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1794206A1 true DE1794206A1 (de) | 1971-07-29 |
Family
ID=5479912
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19681794206 Pending DE1794206A1 (de) | 1968-04-15 | 1968-09-23 | Verfahren zur thermischen Behandlung von Kristallen und Schmelzen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1794206A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011089429A1 (de) * | 2011-12-21 | 2013-06-27 | Siltronic Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Einkristalls |
-
1968
- 1968-09-23 DE DE19681794206 patent/DE1794206A1/de active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011089429A1 (de) * | 2011-12-21 | 2013-06-27 | Siltronic Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Einkristalls |
EP2607525B1 (de) * | 2011-12-21 | 2014-08-13 | Siltronic AG | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Einkristalls |
US9422634B2 (en) | 2011-12-21 | 2016-08-23 | Siltronic Ag | Method and apparatus for producing a single crystal |
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