DE1652522C3 - Verfahren zum Zerlegen einer geritzten Halbleiterscheibe - Google Patents
Verfahren zum Zerlegen einer geritzten HalbleiterscheibeInfo
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- DE1652522C3 DE1652522C3 DE1967T0035284 DET0035284A DE1652522C3 DE 1652522 C3 DE1652522 C3 DE 1652522C3 DE 1967T0035284 DE1967T0035284 DE 1967T0035284 DE T0035284 A DET0035284 A DE T0035284A DE 1652522 C3 DE1652522 C3 DE 1652522C3
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- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Zerlegen einer geritzten Halbleiterscheibe in einzeine, voneinander
getrennte Halbleiterplättchen.
Es wurden bereits geritzte Halbleiterscheiben auf einen Tesafilm aufgeklebt und in dieser aufgeklebten
Form gebrochen. Es erforderte nun einen ungeheuren Arbeitsaufwand, aus den 2000 oder noch mehr
Halbleiterplättchen, die von einer einzigen Halbleiterscheibe stammen und nach dem Ablösen vom Tesafilm
in völliger Unordnung vorliegen, diejenigen Plättchen herauszusortieren, die in einer Messung vor dem Ritzen
und Brechen, beispielsweise mit einer roter. Tinte, als
unbrauchbar gekennzeichnet wurden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der eingangs genannten Art anzugeben, das
ein rationelles Abarbeiten der einzelnen Halbleiterplättchen aus der Ordnung erlaubt
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die geritzte Halbleiterscheibe auf eine elastische
Folie gelegt, dort festgehalten und gebrochen wird und daß anschließend tue Folie allseitig gedehnt und in ihrer
gedehnten Lage gehaltert wird.
Bei der Folie kann es sich um einen Teil einer Hülle aus elastischem Material handeln. Das Verfahren stellt
sicher, daß die einzelnen Halbleiterplättchen allseitig durch einen bei der Dehnung eines Hüllenteiies oder
einer Folie entstandenen Abstand von den benachbarten Halbleiterplättchen getrennt sind. Es hat daher den
wesentlichen Vorteil, daß die einzelnen benachbarten Plättchen der zerbrochenen Halbleiterscheibe nicht
mehr beim Aussortieren gegeneinander verkanten können und ihre örtliche Lage bis zu ihrem Abtransport
ungestört beibehalten.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand der Figuren näher erläutert
Fig. 1 zeigt eine geritzte Halbleiterscheibe, während
in
Fig.2 eine für die Aufnahme der Halbleiterscheibe
geeignete Hülle dargestellt ist
Anhand der Fig.3 bis 6 wird das Verfahren
beschrieben und eine für die Durchführung des Verfahrens geeignete Vorrichtung dargestellt.
F i g. 7 zeigt, wie die vereinzelten Halbleiterplättchen zu einem Trägerkörper transportiert und auf diesen
aufgelötet werden.
Die in F i g. 1 dargestellte Halbleiterscheibe 1 weist beispielsweise eine Vielzahl von Planartransistoren 2
auf, die durch Zerbrechen der Halbleiterscheibe vereinzelt werden. Hierzu wird die Halbleiterscheibe
entlang der die einzelnen Transistoren begrenzenden Randlinien 3 vorgeritzt und anschließend in die in F i g. 2
dargestellte Kunststoffhülle 4 geschoben. Diese dehnbare Hülle 4, die beispielsweise aus Polyäthylen besteht,
wird in einer Vakuumkammer evakuiert und die öffnung der Hülle zugeschweißl. Durch das Evakuieren
der Hülle wird diese allseitig an die Halbleiterscheibe angepreßt. Die Hülle mit der Halbleiterscheibe wird nun
beispielsweise auf eine elastische Unterlage aufgelegt und mit einer Walze in zueinander senkrechten
Richtungen derart überrollt, daß die Halbleiterscheibe in einzelne, die Transistoren enthaltende Halbleiter-
plättchen zerbricht
Nach der Schnittdarstellung der F i g. 3 wird die noch
verschlossene Hülle auf die ebene Stirnfläche 5 eines zylindrischen Körpers 6 aufgelegt Der Rand 10 der
Hülle wird in ein Ziehteil 7 eingespannt Dieses Ziehteil kann beispielsweise als Ziehring ausgebildet sein, der
sich aus zwei einzelnen Ringen 8 und 9 zusammensetzt zwischen die der Rand 10 der Hülle nach Art der
Stickrahmentechnik eingespannt wird. Auf den die Halbleiterplä'lohen bedeckenden Hüllenteil wird anschließend
ein beispielsweise zylindrisches Druckstück 11 aufgelegt das von einem Schneidewerkzeug 12 so
umfahren wird, daß der die Halbleiterplättchen bedeckende Hüllenteil von der übrigen Hülle freigeschnitten
wird. Das Druckstück 11 sorgt während dem
Aufschneiden der Hülle dafür, daß die einzelnen Halbleiterplättchen nicht durch beim Schneiden auftretende
Kräfte aus ihrer bestehenden Ordnung gebracht werden. Das Schneidewerkzeug 12 besteht beispielsweise
aus einem um das Druckstück 11 gelegten Ring 13, in dessen Unterseite an einer Stelle eine Spitze oder eine
Schneide !4 eingelassen ist Es ist such möglich, den gesamten unteren Rand des Ringes 13 mit einer
scharfen, schneidfähigen Kante zu versehen. Durch einfaches Drehen des Ringes 13 kann nunmehr der die
Haibleiterplättchen bedeckende Hüllenteil 15 (Fig.4)
freigeschnitten und, wie in einer perspektivischen Ansicht in Fig.4 dargestellt ist nach Abheben des
Druckstückes 11 (F i g. 3) entfernt werden.
Gemäß der Schnittdarstellung in Fig.5 wird das
ringförmige Ziehteil 7 mit dem eingespannten, die Halbleiterplättchen tragenden Hüllenteil 16 über den
Rand des zylindrischen Körpers 6 derart gezogen, daß sich die Hüllenfolie (16) allseitig dehnt und somit jedes
Halbleiterplättchen auf der gespannten Hülle einen vom Maß der Dehnung abhängigen allseitigen Abstand von
den benachbarten Halbleiterplättchen aufweist Es müssen Mittel vorgesehen sein, durch die der die
Halbleiterplättchen iragende Hüllenteil iri seiner gedehnten
Form gehalten wird. Hierzu kann beispielsweise am Außenrand des zylindrischen Körpers 6 ein
federndes oder vorstehendes Teil 17 angebracht werden, das bei einer bestimmten Ziehweite in eine
entsprechende Nut 18 des Ziehrinje? 7 einrastet Hierdurch erreicht man eine genau definierte Ziehweite
ίο und damit einen voraus bestimmbaren Abstand 19
(F i g. 6) zwischen den einzelnen Halbleiterplättchen. In Fig.δ sind in einer perspektivischen Ansicht die
geordnet vorliegenden Halbleiterplättchen 2 auf dem gedehnten und gehalterten Hüllenteil 16 nochmals
dargestellt Eine in Fig.7 gezeigte Profilsaugnade! 20
nimmt schließlich die getrennt voneinander liegenden Halbleiterplättchen 2 einzeln auf. Diese Saugnadel weist
auf der Unterseite eine Vertiefung 21 auf, in die das angesaugte Halbleiterplättchen 2 gerade paßt Da der
Querschnitt der dargestellten Profilsaugnadei, mit der die Halbleiterplättchen automatisc!" zu einem Trägerkörper
21 transportiert und auf diesen in einer genau
definierten Lage aufgesetzt und aufgelötet werden können, größer ist als der der Halbleiterplättchen, kann
diese Profilsaugnadei nur eingesetzt werden, wenn, wie bei der Durchführung des beschriebenen Verfahrens,
zwischen den einzelnen, aufgelegten Halbleiterplättchen ein bestimmter Abstand vorhanden ist Die
Profilsaugnadei 20 kann von einem Speicher, der die Meß- und Testergebnisse der einzelnen Halbleiterplättchen
enthält gesteuert werden. Dieser Speicher besteht beispielsweise aus Lochkarten, Tonbändern, Magnetkernen
oder aus anderen speichernden Elementen. Die Lage der Halbleiterplättchen auf der Folie 16 kann
gleichfalls mit einer die Saugnadel steuernden Photozelle abgetastet werden.
Claims (9)
1. Verfahren zum Zerlegen einer geritzten Halbleiterscheibe in einzelne, voneinander getrennte
Kalbleiterplättchen, dadurch gekenn- *
zeichnet, daß die geritzte Halbleiterscheibe auf
eine elastische Folie gelegt, dort festgehalten und gebrochen wird und daß anschließend die Folie
allseitig gedehnt und in ihrer gedehnten Lage gehaltert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine geritzte Halbleiterscheibe in eine
elastische Hülle eingebracht, die HQlIe verschlossen
und evakuiert und die Halbleiterscheibe in der evakuierten Hülle zerbrochen wird, daß die nach
dem Zerbrechen geordnet vorliegenden Halbleiterplättchen durch öffnen der Hülle freigelegt werden
und daß der die Halbleiterplättchen tragende Hüllenteil allseitig gedehnt und in seiner gedehnten
Lage gehaltert wird. M
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Folie bzw. die Hülle aus
Polyäthylen besteht
4. Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine Hülle aus zwei miteinander
verschweißten Hüllenteilen aus elastischer Folie verwendet wird, daß nach dem Zerbrechen der
Halbleiterscheibe in der evakuierten Hülle der die Halbleiterplätichen bedeckende Hüllenteil von dem
die Halbleiterplättchen tragenden Hüllenteil freigeschnitten wird, daß der zuletzt genannte Hüllenteil
auf die sbene Stirnfläche eines zylindrischen Körpers aufgelegt und über dessen Rand mit Hilfe
eines Ziehteiles gezogen wird, und daß Mittel vorgesehen sind, durch die dieser Hüllenteil in seiner
gedehnten Form gehaltert wir^
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterplättchen
von dem gedehnten Hülienteil mit Hilfe einer Profil-Saugnadel aufgenommen, zu
einem Trägerkörper transportiert und auf diesen aufgelötet werden.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegung der Saugnadel bzw. die
des zylindrischen Körpers vollautomatisch erfolgt, wobei zur Steuerung der Bewegungseinrichtung
Photozellensysteme oder Speichereinheiten heran' gezogen werden.
7. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die in der evakuierten Hülle enthaltene M
Halbleiterscheibe mit einem Druckstück gegen den zylindrischen Körper gepreßt v/ird, daß dieses
Druckstock so mit einem Schneidewerkzeug umfahren wird, daß der die Halbleiterplättchen bedeckende
Hallenteil freigeschnitten wird, und daß anschlie-Bend
vor dem Dehnen des die Halbleiterplättchen tragenden Hüllenteiies dieses Druckstück zusammen
mit dem die Halbleiterplättchen bedeckenden Hüllenteil wieder entfernt wird.
8. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß das Ziehteil (7) aus zwei ringförmigen Teilen (8 und 9) besteht, zwischen die
der Rand (10) des die Halbleiterplättchen (2) tragenden Hüllenteiles (16) nach Art der Stickrah- M
mentechnik eingespannt ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das Ziehteil (7) mit einer Nut (18) versehen ist, in die ein das Ziehteil haltender,
vorspringender Teil (17) des zylindrischen Korpers (6) einrastbar ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1967T0035284 DE1652522C3 (de) | 1967-11-18 | 1967-11-18 | Verfahren zum Zerlegen einer geritzten Halbleiterscheibe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1967T0035284 DE1652522C3 (de) | 1967-11-18 | 1967-11-18 | Verfahren zum Zerlegen einer geritzten Halbleiterscheibe |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1652522A1 DE1652522A1 (de) | 1971-04-01 |
DE1652522B2 DE1652522B2 (de) | 1980-06-12 |
DE1652522C3 true DE1652522C3 (de) | 1981-02-12 |
Family
ID=7559104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1967T0035284 Expired DE1652522C3 (de) | 1967-11-18 | 1967-11-18 | Verfahren zum Zerlegen einer geritzten Halbleiterscheibe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1652522C3 (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3442062A1 (de) * | 1984-11-17 | 1986-05-22 | Standard Elektrik Lorenz Ag, 7000 Stuttgart | Verfahren und vorrichtung zum zerteilen von bestueckten keramischen schaltungsplatten |
-
1967
- 1967-11-18 DE DE1967T0035284 patent/DE1652522C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1652522B2 (de) | 1980-06-12 |
DE1652522A1 (de) | 1971-04-01 |
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C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: TELEFUNKEN ELECTRONIC GMBH, 7100 HEILBRONN, DE |
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |