DE1072832B
(de )
1960-01-07
UHtraschallgeber
DE1018660B
(de )
1957-10-31
Tragbarer Drehzahl- oder Frequenzmesser
DE1502969U
(OSRAM )
DE702213C
(de )
1941-02-01
Elektrischer Belichtungsmesser fuer beliebig dunkle Objekte
DE610280C
(de )
1935-03-06
Zweifadenelektrometer
DE683722C
(de )
1939-11-14
Vorrichtung zum Messen von Beleuchtungsstaerken
DE312805C
(OSRAM )
1919-06-12
DE695293C
(de )
1940-09-11
Einrichtung zur optischen Anzeige des Erreichens eines gewuenschten Integralwertes einer Bestrahlung
DE1423461C
(de )
1972-06-08
Anordnung zur zeitlich linearen Modulation eines Magnetfeldes
DE1002962B
(de )
1957-02-21
Verfahren und Vorrichtung zur Temperaturmessung eines strahlenden Koerpers
DE714168C
(de )
1941-11-22
Vorrichtung zum Messung der Farbigkeit einer Beleuchtung
DE1447296C
(de )
1973-03-22
Fotometer mit lichtelektrischem Wandler
AT280770B
(de )
1970-04-27
Photographische kamera mit belichtungsmeszvorrichtung
DE629565C
(de )
1936-05-07
Vorrichtung zum Beeinflussen des in das Objektiv eines photographischen Apparates oder in einen Belichtungsmesser einfallenden Lichtbuendels
AT278511B
(de )
1970-02-10
Belichtungsmesser
DE1614328C3
(de )
1976-05-20
Anordnung zur Reduzierung des Störlichts in digitalen Lichtablenkern
CH378154A
(de )
1964-05-31
Kinokamera mit über eine Spannungsquelle gespeister Belichtungsregelvorrichtung
AT228618B
(de )
1963-07-25
Spiegelreflexkamera mit eingebautem elektrischem Belichtungsmesser
DE1146669B
(de )
1963-04-04
Lichtmengenmesser
DE885414C
(de )
1953-08-03
Schaltungsanordnung zur Umformung von Gleichstrom niedriger Spannung in Gleichstrom hoeherer Spannung
AT217845B
(de )
1961-10-25
Photoelektrische Belichtungsmeß- und Steuereinrichtung
DE881416C
(de )
1953-06-29
Elektrische Messlehre, insbesondere Induktionsmesslehre
DE1056265B
(de )
1959-04-30
Schaltungsanordnung zur Nullpunktunterdrueckung von elektrischen Messgeraeten
CH207531A
(de )
1939-11-15
Kamera mit Belichtungsmesser, der mit den Belichtungseinstellorganen gekuppelt ist.
DE1178949B
(de )
1964-10-01
Verfahren und Anordnung zur Messung der Leit-faehigkeit von Halbleiterkristallen