DE1279849B - Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers - Google Patents
Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen SiliziumkoerpersInfo
- Publication number
- DE1279849B DE1279849B DES55807A DES0055807A DE1279849B DE 1279849 B DE1279849 B DE 1279849B DE S55807 A DES55807 A DE S55807A DE S0055807 A DES0055807 A DE S0055807A DE 1279849 B DE1279849 B DE 1279849B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- antimony
- gold
- sulfur
- area
- silicon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 title claims description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 14
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 12
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 238000010309 melting process Methods 0.000 claims description 9
- 229910001245 Sb alloy Inorganic materials 0.000 claims description 8
- KAPYVWKEUSXLKC-UHFFFAOYSA-N [Sb].[Au] Chemical compound [Sb].[Au] KAPYVWKEUSXLKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000002140 antimony alloy Substances 0.000 claims description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 7
- YPMOSINXXHVZIL-UHFFFAOYSA-N sulfanylideneantimony Chemical compound [Sb]=S YPMOSINXXHVZIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000005275 alloying Methods 0.000 claims description 5
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims description 4
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 2
- 238000005097 cold rolling Methods 0.000 claims 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 5
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C5/00—Alloys based on noble metals
- C22C5/02—Alloys based on gold
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/02—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of metals or alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
- Die Bonding (AREA)
- Contacts (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Packages (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
- Powder Metallurgy (AREA)
Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND DEUTSCHES 4i7VW PATENTAMT
Int. Cl.:
HOIl
AUSLEGESCHRIFT
Deutsche Kl.: 21g-11/02
Nummer: 1279 849
Aktenzeichen: P 12 79 849.1-33 (S 55807)
Anmeldetag: 8. November 1957
Auslegetag: 10. Oktober 1968
Gegenstand des Hauptpatentes ist ein Verfahren zum großflächigen Kontaktieren eines einkristallmen
Siliziumkörpers mit einer antimonhaltigen Goldfolie durch Züsammenlegieren beider über eine Fläche
von mehreren Quadratmillimetern bis zu einigen Quadratzeritimeterri, bei dem eine durch Kaltwalzen
fiergestellte Folie aus Gold mit einem an sich bekannten
Antimongehalt zwischen 0,2 und 5 %>, insbesondere
von etwa 1 %, unter Verwendung eines PreßkÖrpers mit zur Kontaktfläche paralleler Druckfläche
in den Siliziumkristall bis zu einer über die ganze Kontaktierungsfläche gleichmäßigen, durch die
Goldmenge je Flächeneinheit ini voraus festgelegten Tiefe einlegierf wird. : ":"",'".
Halbleiteranordnungen mit einer oder mehreren
derartigen Elektroden können beispielsweise Gleichrichter, Leistungstransistoren, Fotodioden od. dgl.
sein. An solchen Elektroden wurden bisweilen fehlerhafte Legierungsstellen beobachtet, insbesondere
wenn die hierzu verwendete antimonhaltige Goldfolie sehr dünn war, wie z. B. bei der Herstellung von
Transistoren. Diese fehlerhaften Legierungsstellen hatten bei pn-Übergängen, welche nach dem erwähnten
Legierungsverfahren hergestellt waren, die nachteilige Folge, daß diese pn-Übergänge nur mit einer
verhältnismäßig geringen Sperrspannung beansprucht werden konnten oder sogar ihre Sperreigenschaft
vollständig verloren hatten. Es ist bereits vorgeschlagen worden, die fehlerhaften Legierungsstellen weitgehend
dadurch zu vermeiden, daß eine Gold-Antimon-Legierung mit einem Spurengehalt an Arsen in
den Siliziumeinkristall einlegiert wird.
Eine andere Möglichkeit, die Ausbildung fehlerhafter Legierungsstellen beim Verfahren nach dem
Hauptpatent weitgehend zu vermeiden, besteht erfindungsgemäß darin, daß beim Zubereiten der zum
Einlegieren bestimmten antimonhaltigen Goldfolie ein definierter Schwefelgehalt zwischen 10~4 und
10"11Vo der Gesamtmenge der Gold-Antimon-Legierung
eingestellt wird. Versuche mit einem solchen Schwefelgehalt hatten ein günstiges Ergebnis.
Zum Aufbereiten der schwefelhaltigen Gold-Antimon-Legierung wird vorteilhaft der Schwefel durch
einen ersten Schmelzprozeß dem hochreinen Antimon beigeschmolzen. Dabei kann der Schwefel in elementarer
oder in gebundener Form, z. B. als Antimonsulfid (Sb2S3), zugesetzt werden. Das schwefelhaltige
bzw. antimonsulfidhaltige Antimon kann dann durch einen zweiten Schmelzprozeß und gegebenenfalls
weitere Schmelzprozesse dem hochreinen Gold beigemengt werden. Der Goldanteil kann hierbei durch
die verschiedenen Schmelzprozesse stufenweise er-Verfahren zum großflächigen Kontaktieren eines
einkristallinen Siliziumkörpers
Zusatz zum Patent: 1085 613 i, ..'. ,'. ,
Anmelder: ; ' · "· ■·-■■■·' ■ ■■*·■■■ ■·■·■·■■: ■·-■: '■
Siemens Aktieiigeseilschaft, Berlin und MUpcjien, 8520 Erlangen, jWerner-yon-SiemBns-Str. 5Q ,
Siemens Aktieiigeseilschaft, Berlin und MUpcjien, 8520 Erlangen, jWerner-yon-SiemBns-Str. 5Q ,
Als Erfinder benannt: ■'·"'■'·■-Dr.
rer. nat. Adolf Herlet, 8551 Pretzfeld;
Dr.-Ing. Hubert Patalong, 8553 Ebermannstadt; Dr. phil. nat. Norbert Schink, 8520 Erlangen - -
Dr.-Ing. Hubert Patalong, 8553 Ebermannstadt; Dr. phil. nat. Norbert Schink, 8520 Erlangen - -
höht werden. Im Endstadium sollen die anteiligen Mengen vorzugsweise 99% Au und 1% Sb/S be-
»5 tragen.
Man kann aber auch den Schwefel in elementarer oder gebundener Form, z. B. als Antimonsulfid, in
einem ersten Schmelzprozeß einer Goldmenge, welche hochrein sein oder auch bereits Antimon enthalten
kann, direkt beimengen, und zwar zunächst einem Teil der gesamten Goldmenge, und die endgültige
Zusammensetzung durch einen oder mehrere weitere Schmelzprozesse, bei denen das Antimon beigemengt
und der Goldanteil stufenweise erhöht wird, beispielsweise bis zu dem obenerwähnten optimalen Mengenverhältnis
99:1, herbeigeführt werden. Die auf diese Weise hergestellte schwefelhaltige Gold-Antimon-Legierung
kann zu einer Folie bis herab zu einer Stärke von 0,05 mm oder weniger ausgewalzt werden.
In dieser Foliengestalt läßt sich das Elektrodenmetall erfahrungsgemäß bequem handhaben.
Die schwefelhaltige Gold-Antimon-Legierung kann zusätzlich nach dem eingangs erwähnten früheren
Vorschlag mit einem Spurengehalt an Arsen versehen werden, der mit Vorteil zwischen 10~3 und 1O-1Vo
der Gold-Antimon-Legierung gewählt werden kann. Das Arsen kann in ähnlicher Weise wie der Schwefel
beigemengt werden.
Der eigentliche Legierungsprozeß kann z. B. mittels nachgiebiger und einstellbarer Druckvorrichtungen,
in welchen die Siliziumscheiben mit den beiderseits anliegenden Elektrodenfolien und gegebenenfalls
: ' 809 620/315
Claims (4)
1. Verfahren zum großflächigen Kontaktieren
eines einkristallinen Siliziumkörpers mit einer antimonhaltigen Goldfolie durch Zusammen- ao
legieren beider über eine Fläche von mehreren ; Quadratmillimetern bis zu einigen Quadratzentimetern,
bei dem eine durch Kaltwalzen hergestellte Folie aus Gold mit einem an sich bekannten
Äntimongehalt zwischen 0,2 und 5%, insbesondere von etwa 1%, unter Verwendung eines Preßkörpers mit zur Kontaktfläche par-1
alleler Druckfläche in den Siliziumkristall bis zu einer über die ganze Kontaktierungsfläche gleichmäßigen,
durch die Goldmenge je Flächeneinheit im voraus festgelegten Tiefe einlegiert wird, nach
Patent 1085 613, dadurch gekennzeichnet,
daß beim Zubereiten der zum Einlegieren bestimmten antimonhaltigen Goldfolie ein definierter
Schwefelgehalt zwischen 10~4 und lO-lo/o
der Gesamtmenge der GoldrAntimon-Legierung eingestellt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß durch einen ersten Schmelzprozeß
Schwefel in elementarer oder gebundener Form, z. B. als Antimonsulfid (Sb2S3), dem hochreinen
Antimon und durch mindestens einen weiteren Schmelzprozeß das schwefelhaltige bzw.
antimonsulfidhaltige Antimon dem hochreinen Gold beigemengt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Schwefel in elementarer oder
gebundener Form, z. B. als Antimonsulfid, in einem ersten Schmelzprozeß mindestens einem
Teil der Goldmenge, welche bereits. Antimon enthalten kann, beigemengt und die endgültige
Zusammensetzung durch mindestens einen weiteren Schmelzprozeß herbeigeführt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Goldfolie zusätzlich mit
ebem Arsengehalt zwischen IQ-3 1^d lO-lo/o
der Gesamtmenge der Gold-Antimon-Legierung versehen wird. ·.·..,
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschrift Nr. 961913;
USA.-Patentschrift Nr. 2736847. "."
Deutsche Patentschrift Nr. 961913;
USA.-Patentschrift Nr. 2736847. "."
809 620/315 9.68 θ Bundesdruckerei Berlin
Priority Applications (31)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL112167D NL112167C (de) | 1956-05-15 | ||
NL107648D NL107648C (de) | 1956-05-15 | ||
NL216614D NL216614A (de) | 1956-05-15 | ||
NL112317D NL112317C (de) | 1956-05-15 | ||
NL231940D NL231940A (de) | 1956-05-15 | ||
NL235480D NL235480A (de) | 1956-05-15 | ||
NL224458D NL224458A (de) | 1956-05-15 | ||
DES48725A DE1085613B (de) | 1956-05-15 | 1956-05-15 | Verfahren zur grossflaechigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
DES52207A DE1279848B (de) | 1956-05-15 | 1957-02-05 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
FR1174436D FR1174436A (fr) | 1956-05-15 | 1957-05-02 | Dispositif semi-conducteur à base de silicium |
CH360732D CH360732A (de) | 1956-05-15 | 1957-05-07 | Verfahren zur grossflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers |
US657631A US2898528A (en) | 1956-05-15 | 1957-05-07 | Silicon semiconductor device |
GB15439/57A GB846744A (en) | 1956-05-15 | 1957-05-15 | Improvements in or relating to the production of semi-conductor devices |
DES55807A DE1279849B (de) | 1956-05-15 | 1957-11-08 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
SE557/58A SE323146B (de) | 1956-05-15 | 1958-01-22 | |
CH5524458A CH365800A (de) | 1956-05-15 | 1958-01-29 | Verfahren zur grossflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers |
US711967A US2959501A (en) | 1956-05-15 | 1958-01-29 | Silicon semiconductor device and method of producing it |
FR757458A FR72881E (fr) | 1956-05-15 | 1958-02-04 | Dispositif semi-conducteur à base de silicium |
GB3667/58A GB865370A (en) | 1956-05-15 | 1958-02-04 | Improvements in or relating to processes for producing semi-conductor devices |
DES57002A DE1282792B (de) | 1956-05-15 | 1958-02-19 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
NO129344A NO120536B (de) | 1956-05-15 | 1958-09-25 | |
FR776848A FR74285E (fr) | 1956-05-15 | 1958-10-16 | Dispositif semi-conducteur à base de silicium |
SE9648/58A SE323147B (de) | 1956-05-15 | 1958-10-17 | |
US769295A US2937113A (en) | 1956-05-15 | 1958-10-24 | Method of producing an electrodecarrying silicon semiconductor device |
GB34670/58A GB866376A (en) | 1956-05-15 | 1958-10-29 | Improvements in or relating to processes for producing semi-conductor devices |
CH6568958A CH365801A (de) | 1956-05-15 | 1958-11-01 | Verfahren zur grossflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers |
FR786569A FR75073E (fr) | 1956-05-15 | 1959-02-12 | Dispositif semi-conducteur à base de silicium |
CH6954959A CH365802A (de) | 1956-05-15 | 1959-02-13 | Verfahren zur grossflächigen Kontaktierung eines Siliziumkörpers |
SE01459/59A SE336845B (de) | 1956-05-15 | 1959-02-14 | |
US794001A US2974074A (en) | 1956-05-15 | 1959-02-18 | Method of producing a silicon semiconductor device |
GB5666/59A GB903334A (en) | 1956-05-15 | 1959-02-18 | Improvements in or relating to processes for making semi-conductor devices |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES48725A DE1085613B (de) | 1956-05-15 | 1956-05-15 | Verfahren zur grossflaechigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
DES52207A DE1279848B (de) | 1956-05-15 | 1957-02-05 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
DES55807A DE1279849B (de) | 1956-05-15 | 1957-11-08 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
DES57002A DE1282792B (de) | 1956-05-15 | 1958-02-19 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1279849B true DE1279849B (de) | 1968-10-10 |
Family
ID=27437483
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES48725A Pending DE1085613B (de) | 1956-05-15 | 1956-05-15 | Verfahren zur grossflaechigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
DES52207A Pending DE1279848B (de) | 1956-05-15 | 1957-02-05 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
DES55807A Pending DE1279849B (de) | 1956-05-15 | 1957-11-08 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
DES57002A Pending DE1282792B (de) | 1956-05-15 | 1958-02-19 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
Family Applications Before (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES48725A Pending DE1085613B (de) | 1956-05-15 | 1956-05-15 | Verfahren zur grossflaechigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
DES52207A Pending DE1279848B (de) | 1956-05-15 | 1957-02-05 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES57002A Pending DE1282792B (de) | 1956-05-15 | 1958-02-19 | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US2898528A (de) |
CH (4) | CH360732A (de) |
DE (4) | DE1085613B (de) |
FR (1) | FR1174436A (de) |
GB (4) | GB846744A (de) |
NL (7) | NL112167C (de) |
NO (1) | NO120536B (de) |
SE (3) | SE323146B (de) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3031747A (en) * | 1957-12-31 | 1962-05-01 | Tung Sol Electric Inc | Method of forming ohmic contact to silicon |
NL113840C (de) * | 1958-06-14 | |||
NL230892A (de) * | 1958-08-27 | |||
BE590762A (de) * | 1959-05-12 | |||
US3068127A (en) * | 1959-06-02 | 1962-12-11 | Siemens Ag | Method of producing a highly doped p-type zone and an appertaining contact on a semiconductor crystal |
DE1268470B (de) * | 1959-06-23 | 1968-05-16 | Licentia Gmbh | Vorrichtung zum Aufschmelzen eines Goldueberzuges auf die Endflaeche eines Platindrahtstueckes geringen Durchmessers |
US2973466A (en) * | 1959-09-09 | 1961-02-28 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductor contact |
NL261280A (de) * | 1960-02-25 | 1900-01-01 | ||
US3181935A (en) * | 1960-03-21 | 1965-05-04 | Texas Instruments Inc | Low-melting point materials and method of their manufacture |
US3124868A (en) * | 1960-04-18 | 1964-03-17 | Method of making semiconductor devices | |
GB916379A (en) * | 1960-05-23 | 1963-01-23 | Ass Elect Ind | Improvements in and relating to semiconductor junction units |
DE1125084B (de) * | 1961-01-31 | 1962-03-08 | Telefunken Patent | Verfahren zum Auflegieren von Legierungsmaterial auf einen Halbleiterkoerper |
US3127285A (en) * | 1961-02-21 | 1964-03-31 | Vapor condensation doping method | |
US3226265A (en) * | 1961-03-30 | 1965-12-28 | Siemens Ag | Method for producing a semiconductor device with a monocrystalline semiconductor body |
GB953034A (en) * | 1961-07-13 | 1964-03-25 | Clevite Corp | Improvements in or relating to semiconductor devices |
NL296608A (de) * | 1962-08-15 | |||
US3394994A (en) * | 1966-04-26 | 1968-07-30 | Westinghouse Electric Corp | Method of varying the thickness of dendrites by addition of an impurity which controls growith in the <111> direction |
US3518498A (en) * | 1967-12-27 | 1970-06-30 | Gen Electric | High-q,high-frequency silicon/silicon-dioxide capacitor |
ES374318A1 (es) * | 1968-12-10 | 1972-03-16 | Matsushita Electronics Corp | Un metodo de fabricar un dispositivo semiconductor sensiblea la presion. |
US3897277A (en) * | 1973-10-30 | 1975-07-29 | Gen Electric | High aspect ratio P-N junctions by the thermal gradient zone melting technique |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2736847A (en) * | 1954-05-10 | 1956-02-28 | Hughes Aircraft Co | Fused-junction silicon diodes |
DE961913C (de) * | 1952-08-22 | 1957-04-11 | Gen Electric | Verfahren zur Herstellung von elektrisch unsymmetrisch leitenden Systemen mit p-n-UEbergaengen |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT117475B (de) * | 1924-06-30 | 1930-04-25 | Degussa | Verfahren zur Darstellung von Substitutionsprodukten des ß-Jodpyridins. |
US2792538A (en) * | 1950-09-14 | 1957-05-14 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductor translating devices with embedded electrode |
NL90092C (de) * | 1950-09-14 | 1900-01-01 | ||
BE517459A (de) * | 1952-02-07 | |||
BE524233A (de) * | 1952-11-14 | |||
NL104654C (de) * | 1952-12-31 | 1900-01-01 | ||
US2702360A (en) * | 1953-04-30 | 1955-02-15 | Rca Corp | Semiconductor rectifier |
NL96840C (de) * | 1953-05-11 | 1900-01-01 | ||
US2782492A (en) * | 1954-02-11 | 1957-02-26 | Atlas Powder Co | Method of bonding fine wires to copper or copper alloys |
NL193595A (de) * | 1954-03-05 | |||
BE543253A (de) * | 1954-12-01 | |||
US2784300A (en) * | 1954-12-29 | 1957-03-05 | Bell Telephone Labor Inc | Method of fabricating an electrical connection |
NL212349A (de) * | 1955-04-22 | 1900-01-01 | ||
US2825667A (en) * | 1955-05-10 | 1958-03-04 | Rca Corp | Methods of making surface alloyed semiconductor devices |
US2809165A (en) * | 1956-03-15 | 1957-10-08 | Rca Corp | Semi-conductor materials |
US2805370A (en) * | 1956-04-26 | 1957-09-03 | Bell Telephone Labor Inc | Alloyed connections to semiconductors |
US2879190A (en) * | 1957-03-22 | 1959-03-24 | Bell Telephone Labor Inc | Fabrication of silicon devices |
-
0
- NL NL112317D patent/NL112317C/xx active
- NL NL216614D patent/NL216614A/xx unknown
- NL NL107648D patent/NL107648C/xx active
- NL NL224458D patent/NL224458A/xx unknown
- NL NL235480D patent/NL235480A/xx unknown
- NL NL231940D patent/NL231940A/xx unknown
- NL NL112167D patent/NL112167C/xx active
-
1956
- 1956-05-15 DE DES48725A patent/DE1085613B/de active Pending
-
1957
- 1957-02-05 DE DES52207A patent/DE1279848B/de active Pending
- 1957-05-02 FR FR1174436D patent/FR1174436A/fr not_active Expired
- 1957-05-07 US US657631A patent/US2898528A/en not_active Expired - Lifetime
- 1957-05-07 CH CH360732D patent/CH360732A/de unknown
- 1957-05-15 GB GB15439/57A patent/GB846744A/en not_active Expired
- 1957-11-08 DE DES55807A patent/DE1279849B/de active Pending
-
1958
- 1958-01-22 SE SE557/58A patent/SE323146B/xx unknown
- 1958-01-29 CH CH5524458A patent/CH365800A/de unknown
- 1958-01-29 US US711967A patent/US2959501A/en not_active Expired - Lifetime
- 1958-02-04 GB GB3667/58A patent/GB865370A/en not_active Expired
- 1958-02-19 DE DES57002A patent/DE1282792B/de active Pending
- 1958-09-25 NO NO129344A patent/NO120536B/no unknown
- 1958-10-17 SE SE9648/58A patent/SE323147B/xx unknown
- 1958-10-24 US US769295A patent/US2937113A/en not_active Expired - Lifetime
- 1958-10-29 GB GB34670/58A patent/GB866376A/en not_active Expired
- 1958-11-01 CH CH6568958A patent/CH365801A/de unknown
-
1959
- 1959-02-13 CH CH6954959A patent/CH365802A/de unknown
- 1959-02-14 SE SE01459/59A patent/SE336845B/xx unknown
- 1959-02-18 GB GB5666/59A patent/GB903334A/en not_active Expired
- 1959-02-18 US US794001A patent/US2974074A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE961913C (de) * | 1952-08-22 | 1957-04-11 | Gen Electric | Verfahren zur Herstellung von elektrisch unsymmetrisch leitenden Systemen mit p-n-UEbergaengen |
US2736847A (en) * | 1954-05-10 | 1956-02-28 | Hughes Aircraft Co | Fused-junction silicon diodes |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH365802A (de) | 1962-11-30 |
CH360732A (de) | 1962-03-15 |
US2937113A (en) | 1960-05-17 |
US2974074A (en) | 1961-03-07 |
NL107648C (de) | |
DE1279848B (de) | 1968-10-10 |
GB866376A (en) | 1961-04-26 |
CH365801A (de) | 1962-11-30 |
SE323147B (de) | 1970-04-27 |
GB846744A (en) | 1960-08-31 |
DE1282792B (de) | 1968-11-14 |
NL112167C (de) | |
SE323146B (de) | 1970-04-27 |
NL216614A (de) | |
NL235480A (de) | |
NL231940A (de) | |
FR1174436A (fr) | 1959-03-11 |
NL224458A (de) | |
DE1085613B (de) | 1960-07-21 |
US2959501A (en) | 1960-11-08 |
US2898528A (en) | 1959-08-04 |
NL112317C (de) | |
NO120536B (de) | 1970-11-02 |
GB865370A (en) | 1961-04-12 |
GB903334A (en) | 1962-08-15 |
SE336845B (de) | 1971-07-19 |
CH365800A (de) | 1962-11-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1279849B (de) | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers | |
DE2122192C3 (de) | Verfahren zur Vorbehandlung von beim Züchten von halbleitenden Kristallen als Einschließungsmittel verwendetem Boroxid | |
DE1221363B (de) | Verfahren zum Verringern des Bahnwiderstands von Halbleiterbauelementen | |
DE2038564B2 (de) | Quarzglasgeraeteteil, insbesondere quarzglasrohr, mit in seiner aussenoberflaechenschicht enthaltenen, kristallbildung foerdernden keimen zur verwendung bei hohen temperaturen, insbesondere fuer die durchfuehrung halbleitertechnologischer verfahren | |
DE974364C (de) | Verfahren zur Herstellung von P-N-Schichten in Halbleiterkoerpern durch Eintauchen in eine Schmelze | |
DE1162485B (de) | Halbleitergleichrichter zur Verwendung bis zu Temperaturen von etwa 1000íÒ mit einemHalbleiterkoerper aus Borphosphid | |
DE1012696B (de) | Halbleiteruebergang zwischen Zonen verschiedenen Leitungstypus und Verfahren zur Herstellung des UEberganges | |
AT216575B (de) | Verfahren zur großflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers | |
DE1172378B (de) | Verfahren zur Herstellung einer elektrisch unsymmetrisch leitenden Halbleiteranordnung | |
DE1193766B (de) | Verfahren zur Stabilisierung der durch AEtzen erzielten Sperreigenschaften von Halbleiteranordnungen | |
AT233119B (de) | Halbleiteranordnung mit einem im wesentlichen einkristallinen Halbleiterkörper | |
AT218570B (de) | Verfahren zur großflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers | |
CH406439A (de) | Halbleiteranordnung mit einem im wesentlichen einkristallinen Halbleiterkörper | |
DE1266510B (de) | Halbleitervorrichtung mit einem Halbleiterkoerper mit mindestens einem Kontakt und Verfahren zum Herstellen | |
DE1275208B (de) | Steuerbarer Halbleitergleichrichter | |
DE966387C (de) | Elektrische Gleichrichteranordnung mit Germanium als Halbleiter und Verfahren zur Herstellung von Germanium fuer eine solche Gleichrichteranordnung | |
DE1228342B (de) | Diffusionsverfahren zum Dotieren einer Oberflaechenschicht von festen Halbleiterkoerpern | |
DE1241915B (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelementes | |
DE1639360A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Halbleitervorrichtungen | |
AT228339B (de) | Siliziumgleichrichter | |
DE1184423B (de) | Verfahren zum Herstellen einer Schutzschicht auf einem Halbleiterbauelement | |
DE1033334B (de) | Verfahren zur Herstellung von Gleichrichtern, Transistoren u. dgl. mit Metallkontakten nach dem Legierungs- bzw. Diffusions-Verfahren | |
Szpunar et al. | Entwicklungstendenzen in der Wärmebehandlungstechnik | |
DE1118361B (de) | Verfahren zum Anbringen eines ohmschen Kontaktes auf Silizium | |
DE1191491B (de) | Halbleiteranordnung mit einem im wesentlichen einkristallinen Halbleiterkoerper und mindestens einem pn-UEbergang und Verfahren zu ihrer Herstellung |