DE1279848B - Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers - Google Patents

Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers

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Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. CL:
HOIl
Deutsche Kl.: 21g-11/02
Nummer:
Aktenzeichen:
Anmeldetag:
Äuslegetag:
P 12 79 848.0-33 (S 52207)
5. Februar 1957
10, Oktober 1968
Gegenstand des Hauptpatentes ist ein Verfahren zum großflächigen Kontaktieren eines einkristallinen S^iziumkörpers mit einer ajitimonhaltigen Goldfolie dujch Zusammenlegieren beider über eine Flache you mehreren Quadratmülimeterri bis zu einigen Quadr^tzentimptern, bei dem eine durch JjCaltwalzen hergestellte Folie aus Gold mit einem an sich bekannten Antimongehalt zwischen 0,2 und 5%, insbpspndere, yqn etwa l«Vo, unter Verwendung eines Prejßkqrpers mit zur Kontaktfläche paralleler Ejruckfläche in den Siliziuinkristall bis zu einer über die ganze KontaktierungsflächV gleichmäßigen, durch die Gpiiimenge, je Fl^c/heneinheit im voraus festgelegten Tiefe einlegiert wird.
An solchen Anschlußkontakten, die auf diese Weise mit Hilfe einer antimonhaltigen Goldfolie hergestellt waren, insbesondere bei Transistoren, die mit sehr dünner GqJ$f qlie kontaktiert ware.n, kqnnjen bisweilen fehlerhafte Regierungsstellen, spgenannte Warzen, beobachtet werden. Transistoren, die bei der auf den Legierungsprozeß folgenden Prüfung eine zu geringe Sperrspannung hatten und bei denen daraufhin die Legierungsgrenzfläche durch Ätzen freigelegt wurde, zeigten solche Warzen. Obwohl die Gold-Antimon-Legierung stets in gleicher Zusammensetzung bestellt worden war, ergaben von verschiedenen Lieferungen einige fast 100°/» gute Transistoren und anclere fast lauter Ausschuß, ohne daß eine Ursache für diese verschiedenen Ergebnisse gefunden werden konnte. Langwierige Untersuchungen erst führten zu der Vermutung, daß bei Anwesenheit von Arsenspuren in der Gold-Antimon-Legierung die Warzenbildung weitgehend unterbleibt, wahrscheinlich infolge besserer Benetzung der Siliziumfläche durch das Legierungsmetall. Arsen an sich ist als Element der V. Gruppe des Periodischen Systems und somit als Mittel zur η-Dotierung von Germanium und Silizium bekannt. Die Dreistofflegierungen von Silizium, Arsen und einem geeigneten Kontaktmetall, insbesondere Gold, sind jedoch durchweg spröde, auch diejenigen, in denen der Arsengehalt nur wenige Hundertteile des Goldanteils beträgt. Deshalb ergibt die Verwendung von Arsen an sich als Beimengung zum Kontaktieren von Siliziumeinkristallen keine brauchbaren elektrischen Halbleiterelemente und wurde deshalb nach dem Scheitern der ersten Versuche verworfen. Demgegenüber beruht die Erfindung auf der Erkenntnis, daß man durch einen sehr geringen, aber genau definierten Arsengehalt im Kontaktmetall den Legierungsprozeß fördern kann, auch ohne daß man dabei die dotierende Wirkung des Arsens auszunutzen braucht.
Verfahren zum großflächigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkörpers
Zusatz zum Patent: 1085 613
Anmelder:
Siemens Aktiengesellschaft, Berlin und München, 8520 Erlangen, Werner-von-Siemens-Str. 50
Als Erfinder benannt:
Dr. phil. nat. Norbert Schink, 8520 Erlangen; Dr. rer. nat. Adolf Herlet, 8551 Pretzfejd
Demzufolge besteht die Erfindung beim Verfahren nach dem Hauptpatent darin, daß beim Zubereiten der zum Einlegieren bestimmten antimonhaltigen Goldfolie ein definierter Arsengehalt, der kleiner als
*5 der Antimongehalt ist, jedoch mindestens 10~30/o der Gesamtmenge der GoldkAntimon-Legierung beträgt, eingestellt wird.
Nachträgliche Kontrollversuche haben die Richtigkeit der Erkenntnis und der daraus gezogenen Lehre bestätigt. Mit dem angegebenen Mindestwert des Arsengehalts kann die Benetzung ζ. B. auch bei einem mäßigen Druck von weniger als 1 kg/cm2 während des Legierungsprozesses erheblich verbessert werden. Eine obere Grenze des Arsengehalts ist unter anderem dadurch gegeben, daß die gewünschte Wirkung in befriedigendem Maß erzielt wird und darüber hinaus eine weitere Steigerung derselben durch einen noch höheren Arsengehalt nicht feststellbar ist. Diese obere Grenze liegt nach dem Ergebnis der bisherigen Untersuchungen ungefähr bei einem Arsengehalt von 1O-1 % der Gesamtmenge der Gold-Antimon-Legierung. Übrigens kann bei zu hohem Arsenanteil unter Umständen die Gefahr bestehen, daß sich die fertige Goldlegierung nach dem Erkalten kaum noch zu einer dünnen Folie auswalzen läßt, oder daß der fertig kontaktierte Siliziumkörper nach dem Erkalten Risse oder Sprünge infolge zu hoher Sprödigkeit aufweist. Die Aufbereitung einer geeigneten arsenhaltigen Gold-Antimon-Legierung kann vorteilhaft in der Weise erfolgen, daß durch einen ersten Schmelzprozeß das Arsen dem hochreinen Antimon beige-
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schmolzen wird und daß durch einen oder mehrere weitere Schmelzprozesse das arsenhaltige Antimon mit der gehörigen Menge hochreinen Goldes zusammenlegiert wird. Der Goldanteil kann gegebenenfalls durch mehrere Schmelzprozesse stufenweise erhöht werden. Im Endstadium sollen die anteiligen Mengen vorzugsweise 99% Au und 1% Sb/As betragen.
Die auf diese Weise hergestellte arsenhaltige Gold-Antimon-Legierung kann zu einer Folie bis herab zu einer Stärke von 0,05 mm oder weniger ausgewalzt werden. In dieser Foliengestalt läßt sich das Kontaktmetall erfahrungsgemäß bequem handhaben.
Der eigentliche Legierungsprozeß kann z. B. mittels nachgiebiger und einstellbarer Druckvorrichtungen, in welchen die Siliziumscheiben mit den beiderseits anliegenden Kontaktfolien und gegebenenfalls Trägerplatten zwischen Druckplatten, z. B. aus Graphit, eingeklemmt und so der Erhitzung auf etwa 700 bis 8000C auf einige Minuten ausgesetzt wer- ao den, oder nach Patent 1015152 durch Einbetten des Halbleiteraggregats in eine Pulverfüllung, z.B. von Graphitpulver, und Zusammenpressen der letzteren sowie Erhitzung, wie erwähnt, gegebenenfalls unter mäßiger Druckbelastung bis zu etwa 1 kg/cm2 oder weniger durchgeführt werden.

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Verfahren zum großflächigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkörpers mit einer antimonhaltigen Goldfolie durch Zusammenlegieren beider über eine Fläche von mehreren Quadratmillimetern bis zu einigen Quadratzentimetern, bei dem eine durch Kaltwalzen hergestellte Folie aus Gold mit einem an sich bekannten Antimongefaalt zwischen 0,2 und 5%, insbesondere von etwa 1%, unter Verwendung eines Preßkörpers mit zur Kontaktfläche paralleler Druckfläche in den Siliziumkristall bis zu einer über die ganze Kontaktierungsfläche gleichmäßigen, durch die Goldmenge je Flächeneinheit im voraus festgelegten Tiefe einlegiert wird, nach Patent 1085 613, dadurch gekennzeichnet, daß beim Zubereiten der zum Einlegieren bestimmten antimonhaltigen Goldfolie ein definierter Arsengehalt, der kleiner als der Antimongehalt ist, jedoch mindestens 10~s% der Gesamtmenge der Gold-Antimon-Legierung beträgt, eingestellt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Arsengehalt von höchstens lO-lo/o der Gesamtmenge der Gold-Antimon-Legierung eingestellt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß durch einen ersten Schmelzprozeß das Arsen dem hochreinen Antimon und durch mindestens einen weiteren Schmelzprozeß das arsenhaltige Antimon dem hochreinen Gold beigemengt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der mit der Goldfolie vereinigte Siliziumkörper in ein neutrales Pulver, z.B. Graphitpulver, eingebettet und eingepreßt und in diesem Zustand unter ermäßigtem Druck der Erhitzung zum Einlegieren ausgesetzt wird.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentanmeldung W 6649 VIII c/ 21 g
(bekanntgemacht am 3. 4. 1952);
USA.-Patentschrift Nr. 2736 847;
österreichische Patentschrift Nr. 177 475.
809 620/314 9.68 © Bundesdruckerei Berlin
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FR1174436D FR1174436A (fr) 1956-05-15 1957-05-02 Dispositif semi-conducteur à base de silicium
CH360732D CH360732A (de) 1956-05-15 1957-05-07 Verfahren zur grossflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers
US657631A US2898528A (en) 1956-05-15 1957-05-07 Silicon semiconductor device
GB15439/57A GB846744A (en) 1956-05-15 1957-05-15 Improvements in or relating to the production of semi-conductor devices
DES55807A DE1279849B (de) 1956-05-15 1957-11-08 Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers
SE557/58A SE323146B (de) 1956-05-15 1958-01-22
CH5524458A CH365800A (de) 1956-05-15 1958-01-29 Verfahren zur grossflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers
US711967A US2959501A (en) 1956-05-15 1958-01-29 Silicon semiconductor device and method of producing it
FR757458A FR72881E (fr) 1956-05-15 1958-02-04 Dispositif semi-conducteur à base de silicium
GB3667/58A GB865370A (en) 1956-05-15 1958-02-04 Improvements in or relating to processes for producing semi-conductor devices
DES57002A DE1282792B (de) 1956-05-15 1958-02-19 Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers
NO129344A NO120536B (de) 1956-05-15 1958-09-25
FR776848A FR74285E (fr) 1956-05-15 1958-10-16 Dispositif semi-conducteur à base de silicium
SE9648/58A SE323147B (de) 1956-05-15 1958-10-17
US769295A US2937113A (en) 1956-05-15 1958-10-24 Method of producing an electrodecarrying silicon semiconductor device
GB34670/58A GB866376A (en) 1956-05-15 1958-10-29 Improvements in or relating to processes for producing semi-conductor devices
CH6568958A CH365801A (de) 1956-05-15 1958-11-01 Verfahren zur grossflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers
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CH6954959A CH365802A (de) 1956-05-15 1959-02-13 Verfahren zur grossflächigen Kontaktierung eines Siliziumkörpers
SE01459/59A SE336845B (de) 1956-05-15 1959-02-14
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SE (3) SE323146B (de)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3031747A (en) * 1957-12-31 1962-05-01 Tung Sol Electric Inc Method of forming ohmic contact to silicon
NL240107A (de) * 1958-06-14
NL230892A (de) * 1958-08-27
BE590762A (de) * 1959-05-12
US3068127A (en) * 1959-06-02 1962-12-11 Siemens Ag Method of producing a highly doped p-type zone and an appertaining contact on a semiconductor crystal
DE1268470B (de) * 1959-06-23 1968-05-16 Licentia Gmbh Vorrichtung zum Aufschmelzen eines Goldueberzuges auf die Endflaeche eines Platindrahtstueckes geringen Durchmessers
US2973466A (en) * 1959-09-09 1961-02-28 Bell Telephone Labor Inc Semiconductor contact
NL261280A (de) * 1960-02-25 1900-01-01
US3181935A (en) * 1960-03-21 1965-05-04 Texas Instruments Inc Low-melting point materials and method of their manufacture
US3124868A (en) * 1960-04-18 1964-03-17 Method of making semiconductor devices
GB916379A (en) * 1960-05-23 1963-01-23 Ass Elect Ind Improvements in and relating to semiconductor junction units
DE1125084B (de) * 1961-01-31 1962-03-08 Telefunken Patent Verfahren zum Auflegieren von Legierungsmaterial auf einen Halbleiterkoerper
US3127285A (en) * 1961-02-21 1964-03-31 Vapor condensation doping method
US3226265A (en) * 1961-03-30 1965-12-28 Siemens Ag Method for producing a semiconductor device with a monocrystalline semiconductor body
GB953034A (en) * 1961-07-13 1964-03-25 Clevite Corp Improvements in or relating to semiconductor devices
NL296608A (de) * 1962-08-15
US3394994A (en) * 1966-04-26 1968-07-30 Westinghouse Electric Corp Method of varying the thickness of dendrites by addition of an impurity which controls growith in the <111> direction
US3518498A (en) * 1967-12-27 1970-06-30 Gen Electric High-q,high-frequency silicon/silicon-dioxide capacitor
ES374318A1 (es) * 1968-12-10 1972-03-16 Matsushita Electronics Corp Un metodo de fabricar un dispositivo semiconductor sensiblea la presion.
US3897277A (en) * 1973-10-30 1975-07-29 Gen Electric High aspect ratio P-N junctions by the thermal gradient zone melting technique

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT177475B (de) * 1952-02-07 1954-02-10 Western Electric Co Verfahren zur Herstellung von Silizium-Schaltelementen unsymmetrischer Leitfähigkeit für die Signalumsetzung, insbesondere Gleichrichtung
US2736847A (en) * 1954-05-10 1956-02-28 Hughes Aircraft Co Fused-junction silicon diodes

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT117475B (de) * 1924-06-30 1930-04-25 Degussa Verfahren zur Darstellung von Substitutionsprodukten des ß-Jodpyridins.
US2792538A (en) * 1950-09-14 1957-05-14 Bell Telephone Labor Inc Semiconductor translating devices with embedded electrode
NL162993B (nl) * 1950-09-14 Bosch Gmbh Robert Brandstofinspuitinrichting voor mengselcomprimerende verbrandigsmotoren met afzonderlijke ontsteking.
US2765245A (en) * 1952-08-22 1956-10-02 Gen Electric Method of making p-n junction semiconductor units
NL87620C (de) * 1952-11-14
BE525280A (de) * 1952-12-31 1900-01-01
US2702360A (en) * 1953-04-30 1955-02-15 Rca Corp Semiconductor rectifier
NL96840C (de) * 1953-05-11 1900-01-01
US2782492A (en) * 1954-02-11 1957-02-26 Atlas Powder Co Method of bonding fine wires to copper or copper alloys
BE536150A (de) * 1954-03-05
NL88273C (de) * 1954-12-01
US2784300A (en) * 1954-12-29 1957-03-05 Bell Telephone Labor Inc Method of fabricating an electrical connection
NL107361C (de) * 1955-04-22 1900-01-01
US2825667A (en) * 1955-05-10 1958-03-04 Rca Corp Methods of making surface alloyed semiconductor devices
US2809165A (en) * 1956-03-15 1957-10-08 Rca Corp Semi-conductor materials
US2805370A (en) * 1956-04-26 1957-09-03 Bell Telephone Labor Inc Alloyed connections to semiconductors
US2879190A (en) * 1957-03-22 1959-03-24 Bell Telephone Labor Inc Fabrication of silicon devices

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT177475B (de) * 1952-02-07 1954-02-10 Western Electric Co Verfahren zur Herstellung von Silizium-Schaltelementen unsymmetrischer Leitfähigkeit für die Signalumsetzung, insbesondere Gleichrichtung
US2736847A (en) * 1954-05-10 1956-02-28 Hughes Aircraft Co Fused-junction silicon diodes

Also Published As

Publication number Publication date
CH365801A (de) 1962-11-30
US2959501A (en) 1960-11-08
CH365802A (de) 1962-11-30
DE1279849B (de) 1968-10-10
SE323147B (de) 1970-04-27
DE1282792B (de) 1968-11-14
NL112317C (de)
NO120536B (de) 1970-11-02
CH365800A (de) 1962-11-30
GB846744A (en) 1960-08-31
NL107648C (de)
FR1174436A (fr) 1959-03-11
US2974074A (en) 1961-03-07
NL224458A (de)
GB866376A (en) 1961-04-26
NL235480A (de)
SE323146B (de) 1970-04-27
NL112167C (de)
US2937113A (en) 1960-05-17
NL231940A (de)
GB865370A (en) 1961-04-12
NL216614A (de)
DE1085613B (de) 1960-07-21
GB903334A (en) 1962-08-15
US2898528A (en) 1959-08-04
CH360732A (de) 1962-03-15
SE336845B (de) 1971-07-19

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