DE1215112B - Verfahren zum Vorheizen von Formlingen fuer die Abscheidung hochohmiger Halbleitermaterialien - Google Patents
Verfahren zum Vorheizen von Formlingen fuer die Abscheidung hochohmiger HalbleitermaterialienInfo
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- DE1215112B DE1215112B DEW28964A DEW0028964A DE1215112B DE 1215112 B DE1215112 B DE 1215112B DE W28964 A DEW28964 A DE W28964A DE W0028964 A DEW0028964 A DE W0028964A DE 1215112 B DE1215112 B DE 1215112B
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
- C30B25/08—Reaction chambers; Selection of materials therefor
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
BOId
Deutsche Kl.: 12 c - 2
Nummer: 1215 112
Aktenzeichen: W 28964IV c/12 c
Anmeldetag: 22. November 1960
Auslegetag: 28. April 1966
Bei der bekannten, reduktiven Herstellung von Silicium aus Siliciumhalogeniden in Gegenwart von
Wasserstoff wird wegen des gewünschten Reinheitsgrades und wegen der für die Weiterverarbeitung notwendigen
Homogenität des hergestellten Siliciums vorwiegend direkt auf einem Siliciumkörper der
gleichen Qualität abgeschieden.
Die zur Abscheidung vorgegebenen Formlinge werden dabei in der Regel im direkten Stromdurchgang
auf die Umsetzungstemperatur von 800 bis 1400° C, vorzugsweise 1150° C, gebracht. Die Direkt- wie
auch die Hochfrequenzheizung der Ausgangs-Siliciumkörper ist wegen der halbleitenden Eigenschaft
des Ausgangsmaterials ohne Starthilfe, d. h. ohne Vorheizen auf die entsprechende Mindestleitfähigkeit,
nicht möglich.
Da die Hochspannungsvorheizung selbst bei einer Spannung von 5000 Volt für hochohmige Ausgangs-Halbleiterkörper
nicht ausreicht, werden die Körper in der Praxis hauptsächlich elektrisch durch Heizhauben
oder mittels Wasserstoffbrenner von außerhalb des Abscheidungsraumes auf etwa 700° C aufgeheizt,
d. h. bis zur Erreichung der Leitfähigkeit für den direkten Stromdurchgang.
Die Hochspannungsvorheizung und die Vorheizung von außerhalb des Abscheidungsraumes wird
bei Quarzglocken als Behälter für die Formlinge mit zunehmendem Durchmesser immer schwieriger. In
Metallglocken können Siliciumkörper ohne Verunreinigung durch das Metall nicht aufgeheizt werden.
Es wurde nun ein Verfahren gefunden zum Vorheizen von Formungen für die Abscheidung hochohmiger
Halbleitermaterialien aus gasförmigen Verbindungen des Halbleitermaterials auf zunächst vorerwärmten
und dann durch direkten Stromdurchgang geheizten Formkörpern in Abscheidungsräumen aus
Metall oder Quarz, letztere mit einer lichten Weite von mehr als 150 mm, wobei die Vorheizvorrichtung
durch einen getrennten Stromkreis gespeist wird. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß man eine
Heizvorrichtung unmittelbar neben die Formlinge im Abscheidungsraum anbringt und nach der Vorheizung
entfernt.
Nun ist zwar ein Verfahren bekannt, bei dem Heizkörper in einem Reaktionsraum angebracht und mit
deren Hilfe exakte Temperaturverhältnisse zur Herstelung definierter Halbleiterverbindungen eingestellt
werden.
Auch ist ein Verfahren bekannt, bei welchem Plättchen aus Antimon und Aluminium, die auf Siliciumcarbid
ruhen, durch eine in einem Behälter sich befindende Heizvorrichtung aufgeheizt werden".
Verfahren zum Vorheizen von Formungen für die
Abscheidung hochohmiger
Halbleitermaterialien
Halbleitermaterialien
Anmelder:
Wacker-Chemie G. m. b. H.,
München 22, Prinzregentenstr. 22
München 22, Prinzregentenstr. 22
Als Erfinder benannt:
Dr. Eduard Enk,
Dr. Julius Nicki,
Horst Teich, Burghausen (Obb.)
Die erwähnten Heizvorrichtungen befinden sich aber dauernd in dem Raum, in welchem die Reaktion
abläuft, und haben die Aufgabe, eine Reaktionstemperatur konstant zu halten. Dagegen bewirkt die
Heizvorrichtung des erfindungsgemäßen Verfahrens, daß die Leitfähigkeit von Abscheidungsausgangskörpern
durch Aufheizen so weit erhöht wird, daß anschließend letztere durch direkten Stromdurchgang
erhitzt werden können.
So ist es möglich, z. B. Siliciumdünnstäbe 1 (A b b. 1) in einer Ein- und in einer Zweistabanlage
durch einen von der Wandung her auf 5 bis 10 mm an den oder die Dünnstäbe herangeschwenkten Bandheizkörper
2 bequem vorzuheizen. Dabei bedeutet 3 die Reaktionsraumwandung und 4 die obere Strombrücke.
Bei der Sechs- und Achtzehn- sowie bei Mehrstababscheidungsanlagen
ist es jedoch vorteilhaft, wenn ein Rundheizkörper 5 in der Art eines Stabtauchsieders
für die Zeit des Vorheizens von oben her eingeführt wird (A b b. 2).
Zum Vorheizen der Achtzehn- und Mehrstabanlage genügt dabei der gleiche Rundheizkörper wie bei
der Sechsstabanlage. Sind die Stäbe z. B. in einem Doppelkreis mit im inneren Kreis sechs und im
äußeren Kreis zwölf Stäben angeordnet, so wird der äußere Kreis nach dem Zünden der inneren sechs
Stäbe mit der steigenden Heizleistung leicht bis zur notwendigen Leitfähigkeit aufgeheizt.
Bei von der Stabform abweichenden Ausgangskörpern können Formen, die den Körpern angepaßt sind,
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in ähnlicher Weise angeordnet und zum Vorheizen in die unmittelbare Nähe der vorzuheizenden Ausgangskörper
gebracht werden.
Als Material für den Träger oder Mantel des Innenheizkörpers eignet sich wegen der geforderten
hohen Reinheit vorwiegend Quarz. In besonderen Fällen können die Heizelemente aber auch in Edelmetallhülsen
oder -behälter, bzw. solche aus Aluminiumoxyd, eingebaut werden.
Die störungsfreie Vorheizung der Ausgangskörper zur Abscheidung von gleichem Halbleitermaterial,
ζ. B. Silicium, Bor, Germanium, mit einer entfernbaren, im Inneren des Abscheidüngsraumes angebrachten
Heizvorrichtung ermöglicht es, den Abscheidungsraum und die Abscheidungsbedingungen
weiter zu entwickeln, was sich insbesondere in der besseren Verteilung der Ausgangsgase und der Unabhängigkeit
in der Raumgröße auswirkt.
Nachdem die Hochspannungsvorheizung sehr aufwendig und für hochohmiges Material ausreichend
ist, erlaubt es die Innenvorheizung erstmals, von der engen Quarzglocke als Abscheidungsraum abzugehen.
Es wird dadurch möglich, auf große Quarzräume überzugehen, bei denen die Ausgangskörper von
außen nicht mehr bis zur entsprechenden Leitfähigkeit vorgeheizt werden können. Andererseits können
durch die Innenvorheizung auch Abscheidungsräume aus Metall eingesetzt werden, die ebenfalls als
Glocken, aber auch in Schrankform ausgebildet sein können.
Als Material für den Abscheidungsraum eignen sich z. B. Quarz, Geräteglas, Porzellan. Dabei kann
mit oder ohne Mantelkühlung gearbeitet werden. Aber auch z. B. Gold-, Silber-, Titan-, Platinauflagen
auf Metallhauben mit Kühlmantel (20 bis 400° C) können dafür verwendet werden. In besonderen Fällen
kann auch Edelstahl oder Eisen mit Umlaufkühlung eingesetzt werden.
Claims (1)
- Patentanspruch:Verfahren zum Vorheizen von Formungen für die Abscheidung hochohmiger Halbleitermaterialien aus gasförmigen Verbindungen des Halbleitermaterials auf zunächst vorerwärmten und dann durch direkten Stromdurchgang geheizten Formkörpern in Abscheidungsräumen aus Metall oder Quarz, letztere mit einer lichten Weite von mehr als 150 mm, wobei die Vorheizvorrichtung durch einen getrennten Stromkreis gespeist wird, dadurch gekennzeichnet, daß man eine Heizvorrichtung unmittelbar neben die Formlinge im Abscheidungsraum anbringt und nach der Vorheizung entfernt.In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschrift Nr. 1061593;
deutsche Auslegeschrift Nr. 1040 693;
deutsche Auslegeschrift S 44074 VIIIc/21g (bekanntgemacht am 31.10.1956);
USA.-Patentschrift Nr. 2759 861.Hierzu 1 Blatt Zeichnungen609 560/336 4.66 © Bundesdruckerei Berlin
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEW28964A DE1215112B (de) | 1960-11-22 | 1960-11-22 | Verfahren zum Vorheizen von Formlingen fuer die Abscheidung hochohmiger Halbleitermaterialien |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEW28964A DE1215112B (de) | 1960-11-22 | 1960-11-22 | Verfahren zum Vorheizen von Formlingen fuer die Abscheidung hochohmiger Halbleitermaterialien |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1215112B true DE1215112B (de) | 1966-04-28 |
Family
ID=7599103
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DEW28964A Pending DE1215112B (de) | 1960-11-22 | 1960-11-22 | Verfahren zum Vorheizen von Formlingen fuer die Abscheidung hochohmiger Halbleitermaterialien |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE1215112B (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1281396B (de) | 1960-11-30 | 1968-10-24 | Siemens Ag | Vorrichtung zum Herstellen von kristallinem Halbleitermaterial |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2759861A (en) * | 1954-09-22 | 1956-08-21 | Bell Telephone Labor Inc | Process of making photoconductive compounds |
| DE1040693B (de) * | 1955-02-07 | 1958-10-09 | Licentia Gmbh | Verfahren zur Herstellung einer halbleitenden stoechiometrischen Verbindung aus Komponenten hoechster Reinheit fuer Halbleiteranordnungen |
| DE1061593B (de) | 1956-06-25 | 1959-07-16 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Gewinnung reinsten Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke |
-
1960
- 1960-11-22 DE DEW28964A patent/DE1215112B/de active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2759861A (en) * | 1954-09-22 | 1956-08-21 | Bell Telephone Labor Inc | Process of making photoconductive compounds |
| DE1040693B (de) * | 1955-02-07 | 1958-10-09 | Licentia Gmbh | Verfahren zur Herstellung einer halbleitenden stoechiometrischen Verbindung aus Komponenten hoechster Reinheit fuer Halbleiteranordnungen |
| DE1061593B (de) | 1956-06-25 | 1959-07-16 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Gewinnung reinsten Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1281396B (de) | 1960-11-30 | 1968-10-24 | Siemens Ag | Vorrichtung zum Herstellen von kristallinem Halbleitermaterial |
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