DE112016004117T5 - Systeme, verfahren und vorrichtungen für parallele lese- und schreibvorgänge - Google Patents
Systeme, verfahren und vorrichtungen für parallele lese- und schreibvorgänge Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 55
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 27
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 8
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 8
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 8
- 230000004044 response Effects 0.000 claims 8
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 claims 2
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 claims 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 27
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000029305 taxis Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- 241000218691 Cupressaceae Species 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000011112 process operation Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/18—Bit line organisation; Bit line lay-out
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/0223—User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
- G06F12/023—Free address space management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/147—Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/10—Providing a specific technical effect
- G06F2212/1041—Resource optimization
- G06F2212/1044—Space efficiency improvement
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/22—Control and timing of internal memory operations
- G11C2207/2209—Concurrent read and write
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/22—Control and timing of internal memory operations
- G11C2207/2281—Timing of a read operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/22—Control and timing of internal memory operations
- G11C2207/229—Timing of a write operation
Abstract
Description
- QUERVERWEIS AUF VERWANDTE ANMELDUNGEN
- Diese Anmeldung ist eine internationale Anmeldung der
US-Patentanmeldung Nr. 14/978,733 US-Patentanmeldung Nr. 62/216,896 - GEBIET DER ERFINDUNG
- Diese Offenbarung betrifft allgemein Speicher und insbesondere Lese- und Schreibvorgänge, die mit Speichern assoziiert sind.
- STAND DER TECHNIK
- Speichervorrichtungen können Speicherzellenarrays umfassen, die als Speicherkomponente konfiguriert sein können, die Datenwerte für verschiedene andere Komponenten eines Systems speichert. Solche Speichervorrichtungen identifizieren solche Speicherzellen basierend auf Speicheradressen und entsprechenden Zeilen und Spalten, die mit solchen Speicheradressen und Speicherzellen assoziiert sind, und greifen auf diese zu. Somit kann eine Speicherzelle durch eine konkrete Speicheradresse identifiziert werden und auf sie basierend auf, unter anderem, einem Zeilen- und Spaltendekodierer zugegriffen werden. Außerdem können solche Speicherzellen in Speichereinheiten, wie etwa Sektoren oder Seiten, aufgeteilt werden. Somit können Adressen, die mit Speicherzellen assoziiert sind, auch einen Speichersektor identifizieren, in dem eine Speicherzelle residiert.
- Figurenliste
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1 illustriert ein Beispiel für eine Speichervorrichtung, die für unabhängige Lese- und Schreibvorgänge fähig ist, die gemäß einigen Ausführungsformen konfiguriert ist. -
2A illustriert ein Beispiel für eine Schaltlogik, die konfiguriert ist, um gemäß verschiedenen Ausführungsformen unabhängige Lese- und Schreibvorgänge zu ermöglichen. -
2B illustriert ein weiteres Beispiel für eine Schaltlogik, die konfiguriert ist, um gemäß verschiedenen Ausführungsformen unabhängige Lese- und Schreibvorgänge zu ermöglichen. -
3 illustriert ein Flussdiagramm eines Beispiels für ein Verfahren zum Implementieren von Speichervorrichtungen gemäß einigen Ausführungsformen. -
4 illustriert ein Flussdiagramm eines weiteren Beispiels für ein Verfahren zum Implementieren von Speichervorrichtungen gemäß einigen Ausführungsformen. -
5 illustriert ein Beispiel für eine Illustration der Zykluszeiten, die mit Niedrigspannungs- und Hochspannungsspeichervorgängen assoziiert sind, die gemäß einigen Ausführungsformen implementiert werden. -
6 illustriert ein Blockdiagramm eines Verarbeitungssystems, das eine Speichervorrichtung umfasst, das gemäß einigen Ausführungsformen implementiert wird. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
- In der folgenden Beschreibung werden, zum Zwecke der Erklärung, zahlreiche spezifische Details dargelegt, um ein gründliches Verständnis der präsentierten Konzepte bereitzustellen. Die präsentierten Konzepte können ohne einige oder alle diese spezifischen Details ausgeübt werden. In anderen Fällen wurden gut bekannte Prozessvorgänge nicht im Detail beschrieben, um das Verständnis der beschriebenen Konzepte nicht unnötig zu erschweren. Während einige Konzepte in Verbindung mit den spezifischen Beispielen beschrieben werden, versteht es sich, dass diese Beispiele nicht einschränkend gemeint sind.
- Traditionelle Techniken zum Implementieren von Lese- und Schreibvorgängen in Speichervorrichtungen schließen sich gegenseitig dadurch aus, dass ein Lesevorgang nicht parallel mit einem Schreibvorgang implementiert werden kann. Falls beispielsweise eine konkrete Speicherzelle innerhalb eines Speichersektors einen Schreibvorgang durchläuft, kann an anderen Speicherzellen in einem anderen Speichersektor, die in dieser Speichervorrichtung eingeschlossen sind, kein anderer Vorgang durchgeführt werden. Beispielsweise kann kein Lesevorgang an anderen Speicherzellen durchgeführt werden, die in anderen unterschiedlichen Speichersektoren eingeschlossen sind, die keinen Schreibvorgang durchlaufen. Insbesondere werden, falls eine erste Speicherzelle einen Schreibdurchgang durchläuft, alle Bitleitungen auf Potenziale getrieben, die von VPOS bis VNEG reichen. Somit kann eine zweite Speicherzelle in einem unterschiedlichen Speichersektor keinen Lesevorgang durchlaufen, da ihre Bitleitungen auf Spannungen im Bereich von VPOS bis VNEG getrieben werden. Um einen Lesevorgang zu implementieren, wird die zweite Speicherzelle möglicherweise eine Spannung von etwa 0,6 V benötigen. Somit wird die zweite Speicherzelle warten müssen, bis der Schreibvorgang der ersten Speicherzelle abgeschlossen wurde, bevor sie die passenden Spannungen an ihren lokalen Bitleitungen empfangen kann. Außerdem können Hochspannungsvorgänge, wie etwa Schreibvorgänge, Leckströme oder -spannungen erzeugen, die Speicherzellen in anderen Speichersektoren beschädigen können, die ungeerdet gelassen wurden.
- Es werden in dieser Schrift verschiedene Ausführungsformen offenbart, die die parallele Implementierung von Lese- und Schreibvorgängen in verschiedenen Speichereinheiten einer Speichervorrichtung ermöglichen. Außerdem schützen in dieser Schrift offenbarte Ausführungsformen Speicherzellen gegen Schäden, die ansonsten durch Leckströme und -spannungen verursacht werden können. In verschiedenen Ausführungsformen können eine Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung sowie Schaltlogik, die in einem Spaltenmultiplexer eingeschlossen ist, konfiguriert sein, um lokale Bitleitungen mit und von verschiedenen anderen Komponenten innerhalb der Speichervorrichtung selektiv zu koppeln und entkoppeln. Beispielsweise kann eine Schaltlogik, die in einem Spaltenmultiplexer eingeschlossen ist, konfiguriert sein, um lokale Bitleitungen mit und von globalen Bitleitungen, Leseverstärkern und einer Systemmasse, die eine elektrische Erde sein kann, basierend auf einem oder mehreren Signalen, die durch die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung erzeugt werden, selektiv zu koppeln und entkoppeln. Auf diese Weise können unterschiedliche Speichereinheiten, die Speichersektoren oder -seiten sein können, unabhängig gesteuert werden, um Lese- und Schreibvorgänge in unterschiedlichen Speichereinheiten parallel zu implementieren, während Schäden, die auf Speicherzellen aufgrund hoher Spannungen, die während Hochspannungsvorgängen verwendet werden, auftreten, reduziert werden.
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1 illustriert ein Beispiel für eine Speichervorrichtung, die für unabhängige Lese- und Schreibvorgänge fähig ist, die gemäß einigen Ausführungsformen konfiguriert ist. Wie unten ausführlich erörtert werden wird, kann eine Speichervorrichtung, wie etwa die Vorrichtung100 , ein Speicherarray umfassen, das für das Implementieren von gleichzeitigen Lese- und Schreibvorgängen innerhalb Speichereinheiten, die in der gleichen Speichervorrichtung eingeschlossen sind, fähig ist. Wie zuvor erörtert, kann eine Speichereinheit ein Speichersektor oder eine Speicherseite sein. Somit kann die Vorrichtung100 konfiguriert sein, um die Schaltlogik, die in einem Spaltenmultiplexer eingeschlossen ist, der mit lokalen Bitleitungen assoziiert ist, die innerhalb der Speichereinheiten eingeschlossen sind, unabhängig zu betreiben, womit parallele Implementierungen von Lese- und Schreibvorgängen auf unterschiedlichen Speichereinheiten ermöglicht werden und die Gesamtzykluszeit, die mit den Lese- und Schreibvorgängen assoziiert ist, verringert wird. - In verschiedenen Ausführungsformen kann die Vorrichtung
100 ein Speicherarray102 umfassen, das ein Array von Speicherzellen, wie etwa eine erste Speicherzelle112 , umfassen kann. Das Speicherarray102 kann nichtflüchtige Speicherzellen umfassen, die gespeicherte Daten oder Informationen unabhängig davon, ob sie mit Strom versorgt werden oder nicht, bewahren können. Demgemäß können, wie unten ausführlich erörtert werden wird, ein oder mehrere Schreibvorgänge implementiert werden, um Datenwerte in den Speicherzellen zu schreiben und/oder löschen. Außerdem können ein oder mehrere Lesevorgänge implementiert werden, um Datenwerte, die aktuell in den Speicherzellen gespeichert sind, zu lesen. In verschiedenen Ausführungsformen können Speicherzellen, die im Speicherarray102 eingeschlossen sind, wie etwa die erste Speicherzelle112 , nichtflüchtige Silizium-Oxid-Nitrid-Oxid-Silizium-Speicherzellen (SONOS-Speicherzellen) sein. - Wie oben erörtert, kann das Speicherarray
102 in mehrere Speichereinheiten unterteilt werden. In einigen Ausführungsformen kann eine Speichereinheit ein Speichersektor oder eine Speicherseite sein. Wie oben erörtert, können verschiedene Ausführungsformen, die in dieser Schrift offenbart werden, konfiguriert sein, um zu ermöglichen, einen Lesevorgang und einen Schreibvorgang auf unterschiedlichen Speichereinheiten innerhalb der gleichen Speichervorrichtung durchzuführen, wobei der Lesevorgang und der Schreibvorgang parallel und unabhängig voneinander auftreten. In solchen Ausführungsformen können Speicherzellen basierend auf einer Kombination eines Sektoridentifikators, eines Zeilenidentifikators und eines Spaltenidentifikators identifiziert werden. Beispielsweise kann die erste Speicherzelle112 , die im Lesevorgang eingeschlossen ist, basierend auf einer Sektorleseadresse, einer Zeilenleseadresse und einer Spaltenleseadresse identifiziert werden. Außerdem kann die zweite Speicherzelle 120, die im Schreibvorgang eingeschlossen ist, basierend auf einer Sektorschreibadresse und einer Zeilenschreibadresse identifiziert werden. Wie unten ausführlich erörtert werden wird, kann die Schaltlogik Schaltvorrichtungen, wie etwa Multiplexer, Schalter oder eine andere geeignete Schalt- oder Selektionsvorrichtung, umfassen. Beispielsweise kann die Schaltlogik einen Multiplexer umfassen. Somit kann, gemäß verschiedenen Ausführungsformen, die Schaltlogik106 ein Multiplexer sein, der konfiguriert ist, um eine parallele Implementierung des Lese- und Schreibvorgangs auf der ersten Speicherzelle112 und der zweiten Speicherzelle120 basierend, mindestens zum Teil, auf den empfangenen Lese- und Schreibadressen zu ermöglichen. Des Weiteren kann, gemäß einigen Ausführungsformen, die erste Speicherzelle112 und die zweite Speicherzelle120 in einer ersten bzw. zweiten Speichereinheit eingeschlossen sein. - In verschiedenen Ausführungsformen können die Speicherzellen basierend auf Bitleitungen und Wortleitungen selektiert werden. Beispielsweise kann eine Wortleitung, wie etwa die Wortleitung
118 , basierend auf beispielsweise einer Zeilenadresse selektiert werden, die eine Zeile identifiziert, die die erste Speicherzelle 112 umfasst. Außerdem kann eine lokale Bitleitung, wie etwa die Bitleitung114 , basierend auf beispielsweise einer Spaltenadresse selektiert werden, die eine Spalte identifiziert, die die erste Speicherzelle112 umfasst. Wenn die Zeilenadresse und Spaltenadresse zusammen betrachtet werden, können sie sich an der ersten Speicherzelle112 schneiden und die erste Speicherzelle kann selektiert werden. In verschiedenen Ausführungsformen kann eine Speicherzelle, wie etwa die erste Speicherzelle, ferner basierend auf einer Speichereinheitsadresse selektiert werden. Beispielsweise kann eine Sektoradresse verwendet werden, um einen ersten Speichersektor zu identifizieren, der die erste Speicherzelle112 umfasst, und kann anschließenden Lese- oder Schreibvorgängen unterzogen werden. In einigen Ausführungsformen kann die Speichereinheitadresse die Selektion von lokalen Bitleitungen, wie etwa die lokale Bitleitung114 , innerhalb der Speichereinheit und das Koppeln der lokalen Bitleitungen mit globalen Bitleitungen, wie etwa der globalen Bitleitung114 , ermöglichen, wodurch das Treiben der lokalen Bitleitungen auf elektrische Potenziale erleichtert wird, die während der Lese- und/oder Schreibvorgänge benutzt werden. Wie unten ausführlich erörtert werden wird, kann die Schaltlogik, wie etwa die Schaltlogik106 , die mit den lokalen Bitleitungen gekoppelt ist, konfiguriert sein, um lokale Bitleitungen innerhalb einer Speichereinheit mit, unter anderem, den globalen Bitleitungen selektiv zu koppeln, womit die parallele Implementierung von Lese- und Schreibvorgängen in unterschiedlichen Speichereinheiten innerhalb der gleichen Speichervorrichtung ermöglicht wird. - Die Vorrichtung
100 kann einen Zeilendekodierer110 umfassen, der konfiguriert sein kann, um eine empfangene Zeilenadresse zu dekodieren und eine Spannung an eine konkrete Wortleitung basierend auf der dekodierten Zeilenadresse anzulegen. Auf diese Weise kann der Zeilendekodierer110 konfiguriert sein, um eine Zeile für einen oder mehrere Lese- oder Schreibvorgänge basierend auf einer empfangenen Zeilenadresse zu selektieren. Die Vorrichtung100 kann ferner einen Spaltenmultiplexer104 umfassen, der konfiguriert sein kann, um eine Spaltenadresse zu empfangen und eine Spannung an die Schaltlogik anzulegen, die einen oder mehrere Multiplexer umfassen kann, die basierend auf der empfangenen Spaltenadresse mit konkreten Bitleitungen assoziiert sind. Auf diese Weise kann der Spaltendekodierer104 konfiguriert sein, um eine Spalte für einen oder mehrere Lese- oder Schreibvorgänge basierend auf einer empfangenen Spaltenadresse zu selektieren. Gemäß einigen Ausführungsformen kann der Spaltenmultiplexer104 eine Schaltlogik umfassen, die mit Speicherspalten assoziiert ist, wie etwa die Schaltlogik106 . Wie unten mit Bezug auf2A und2B ausführlich erörtert werden wird, kann die Schaltlogik106 konfiguriert sein, um individuelle lokale Bitleitungen innerhalb einer konkreten Speichereinheit mit einem konkreten elektrischen Potenzial selektiv zu koppeln. Dabei kann die Schaltlogik106 konfiguriert sein, um den unabhängigen Betrieb von lokalen Bitleitungen innerhalb einer Speichereinheit zu ermöglichen, wodurch die parallele Implementierung von Lese- und Schreibvorgängen innerhalb unterschiedlicher Speichereinheiten der gleichen Speichervorrichtung ermöglicht werden können. - Außerdem kann der Betrieb des Spaltenmultiplexers
104 , mindestens zum Teil, durch eine Steuerlogik, wie etwa die Steuerlogik130 , gesteuert werden, die in einer Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung, wie unten mit Bezug auf6 ausführlich erörtert, eingeschlossen sein kann. Die Konfiguration und der Betrieb der Steuerlogik130 , wie etwa die Erzeugung von verschiedenen Signalen, wird unten mit Bezug auf2A und2B , sowie Tabelle 1 und 2, ausführlich erörtert. - Die Vorrichtung
100 kann ferner Leseverstärker108 umfassen, die konfiguriert sein können, um eine oder mehrere elektrische Messungen von einer selektierten Speicherzelle zu erhalten. Beispielsweise können die Leseverstärker108 , während eines Lesevorgangs, konfiguriert sein, um eine elektrische Eigenschaft, wie etwa ein elektrisches Potenzial und/oder einen Widerstand, zu identifizieren, die mit einer selektierten Speicherzelle assoziiert ist. Die elektrische Eigenschaft kann für einen durch die Speicherzelle gespeicherten Datenwert indikativ sein. Somit können, gemäß einigen Ausführungsformen, die Leseverstärker108 oder eine andere Systemkomponente, wie unten mit Bezug auf6 ausführlich erörtert, ferner konfiguriert sein, um einen Datenwert, der innerhalb der Speicherzelle gespeichert ist, basierend auf der identifizierten elektrischen Eigenschaft zu bestimmen. -
2A illustriert ein Beispiel für eine Schaltlogik, die konfiguriert ist, um gemäß verschiedenen Ausführungsformen unabhängige Lese- und Schreibvorgänge zu ermöglichen. Wie oben erörtert, kann die Schaltlogik Multiplexer umfassen, die implementiert werden können, um lokale Bitleitungen mit einer oder mehreren anderen Komponenten, wie etwa Leseverstärker, globale Bitleitungen oder eine Systemmasse, selektiv zu koppeln. Wie unten ausführlich erörtert werden wird, kann eine Schaltlogik, wie etwa die Schaltlogik200 , konfiguriert sein, um den Schutz von Komponenten, die mit einem Speicherarray assoziiert sind, wie etwa Leseverstärker und Spaltenmultiplexer, während Hochspannungsvorgängen, die an anderen Teilen der Speichervorrichtung durchgeführt werden können, zu ermöglichen. Außerdem kann die Schaltlogik konfiguriert sein, um die Implementierung eines parallelen Lesevorgangs während eines Schreibvorgangs durch selektives Bereitstellen einer Entladungsstrecke zu den passenden Zeitpunkten während jedes jeweiligen Vorgangs zu ermöglichen. - Die Schaltlogik
200 kann eine erste Übertragungsvorrichtung202 umfassen, die konfiguriert sein kann, um die lokale Bitleitung114 mit der globalen Bitleitung116 selektiv zu koppeln oder von dieser zu entkoppeln. Demgemäß kann die globale Bitleitung116 auf ein oder mehrere Potenziale getrieben werden, wie unten mit Bezug auf Tabelle 1 und Tabelle 2 ausführlich erörtert, und kann mit verschiedenen lokalen Bitleitungen, wie etwa der lokalen Bitleitung114 , selektiv gekoppelt werden, um die lokalen Bitleitungen mit diesen einen oder mehreren Potenzialen zu treiben. In verschiedenen Ausführungsformen kann die erste Übertragungsvorrichtung202 eine oder mehrere andere Vorrichtungen umfassen, die konfiguriert sein können, um das Koppeln und Entkoppeln der globalen Bitleitung116 und lokalen Bitleitung114 basierend auf einem oder mehreren empfangenen Eingangssignalen zu steuern. Beispielsweise kann die erste Übertragungsvorrichtung202 eine dritte Vorrichtung204 und vierte Vorrichtung206 umfassen, die jeweils Transistoren sein können. In einem Beispiel kann die dritte Vorrichtung204 ein p-Typ-Transistor sein und kann die vierte Vorrichtung206 ein n-Typ-Transistor sein. Die dritte Vorrichtung204 kann konfiguriert sein, um durch ein drittes Eingangssignal, das an einem dritten Eingang210 empfangen wird, gegatet zu werden. Außerdem kann die vierte Vorrichtung206 konfiguriert sein, um durch ein viertes Eingangssignal, das an einem vierten Eingang208 empfangen wird, gegatet zu werden. Somit können das dritte Eingangssignal und das vierte Eingangssignal in Kombination das Koppeln zwischen der globalen Bitleitung116 und der lokalen Bitleitung114 steuern. Außerdem kann ein Signal, das an jedes des dritten Eingangssignals und des vierten Eingangssignals angelegt oder durch diese dargestellt wird, abhängig vom implementierten Modus oder Betrieb variieren oder sich ändern, wie unten mit Bezug auf Tabelle 1 und Tabelle 2 ausführlich erörtert werden wird. - Die Schaltlogik
200 kann ferner eine erste Vorrichtung212 umfassen, die konfiguriert sein kann, um einen Leseverstärker, der einen assoziierten Leseverstärkereingang214 aufweisen kann, mit der lokalen Bitleitung114 selektiv zu koppeln oder entkoppeln. Demgemäß kann die erste Vorrichtung212 konfiguriert sein, um die lokale Bitleitung114 während eines Teils eines Lesevorgangs, der mit einer Speicherzelle assoziiert ist, die mit der lokalen Bitleitung114 gekoppelt sein kann, mit dem Leseverstärkereingang214 zu koppeln. Auf diese Weise kann die erste Vorrichtung 212 konfiguriert sein, um das Koppeln zwischen der Speicherzelle und einem Leseverstärker, der mit einem Leseverstärkereingang214 gekoppelt ist, bereitzustellen, sodass der Leseverstärker eine oder mehrere Messungen von der Speicherzelle erhalten kann. In verschiedenen Ausführungsformen kann die erste Vorrichtung212 ein Transistor sein, der durch ein drittes Signal, das an einem ersten Eingang216 empfangen wird, der mit der ersten Vorrichtung212 assoziiert ist, gegatet wird. Beispielsweise kann das dritte Signal am Gate des Transistors angelegt werden, der in der ersten Vorrichtung212 eingeschlossen ist. Auf diese Weise kann eine Spannung, die am ersten Eingang216 angelegt wird, das Koppeln und Entkoppeln der Speicherzelle, der lokalen Bitleitung114 und des Leseverstärkers durch Steuern des Betriebs der ersten Vorrichtung212 steuern. - Die Schaltlogik
200 kann ferner eine zweite Vorrichtung218 , die eine Entladungsstrecke für die lokale Bitleitung114 bereitstellen kann, sowie andere Komponenten der Speichervorrichtung, in der die lokale Bitleitung114 implementiert ist, umfassen. Wie in2A gezeigt, kann die zweite Vorrichtung218 ein Transistor sein, der durch ein viertes Signal, das am zweiten Eingang220 empfangen wird, gegatet wird. Somit kann das vierte Signal das Koppeln der lokalen Bitleitung114 mit einer Systemmasse über den Masseanschluss222 steuern. In verschiedenen Ausführungsformen kann die zweite Vorrichtung218 konfiguriert sein, um die lokale Bitleitung114 mit der Masse zu koppeln, wenn eine Speichereinheit, die eine Speicherzelle umfasst, die mit der lokalen Bitleitung114 gekoppelt ist, nicht für einen Vorgang selektiert ist, wie es der Fall sein kann, wenn die Speichereinheit nicht für einen Lese-, Lösch- oder Programmiervorgang selektiert ist. Wenn auf diese Weise konfiguriert, kann die Entladungsstrecke die Speicherzelle vor Lecks von anderen Hochspannungen schützen, die angelegt sein können, wenn andere Speichereinheiten andere Hochspannungsvorgänge, wie etwa Schreibvorgänge, die Programmier- oder Löschvorgänge sein können, durchlaufen. Wenn beispielsweise eine erste Speichereinheit einen Schreibvorgang durchläuft, kann eine Schaltlogik, die Multiplexer einschließen kann, die in einer zweiten Speichereinheit eingeschlossen sind, konfiguriert sein, um ihre Bitleitungen mit der Masse über zweite Vorrichtungen, wie etwa die Vorrichtung218 , zu koppeln, womit Speicherzellen geschützt werden, die innerhalb der zweiten Speichereinheit eingeschlossen sind. - Außerdem kann die zweite Vorrichtung
218 , in Verbindung mit der ersten Übertragungsvorrichtung202 und der ersten Vorrichtung212 , konfiguriert sein, um einen Lesevorgang in einer Speichereinheit zu ermöglichen, der gleichzeitig mit einem Schreibvorgang erfolgen kann, der in einer unterschiedlichen Speichereinheit innerhalb der gleichen Speichervorrichtung durchgeführt wird. Beispielsweise kann ein Schreibvorgang in einem ersten Speichersektor durchgeführt werden und können globale Bitleitungen mit einer Hochspannung getrieben werden. In diesem Beispiel kann die erste Übertragungsvorrichtung202 in einem zweiten Speichersektor eingeschlossen sein, der für einen Lesevorgang selektiert wurde. Demgemäß kann die erste Übertragungsvorrichtung202 konfiguriert sein, um die globale Bitleitung116 von der lokalen Bitleitung114 zu entkoppeln, kann die erste Vorrichtung212 konfiguriert sein, um die lokale Bitleitung114 mit dem Leseverstärkereingang214 zu koppeln, und kann die zweite Vorrichtung218 konfiguriert sein, um die lokale Bitleitung114 vom Masseanschluss222 zu entkoppeln. Auf diese Weise kann ein Lesevorgang im zweiten Sektor implementiert werden, während ein Schreibvorgang im ersten Sektor durchgeführt wird, da der zweite Sektor die lokalen Bitleitungen mit den passenden Spannungen treiben kann. Außerdem kann ein dritter Speichersektor für beliebige Vorgänge unselektiert sein. Im dritten Speichersektor kann die globale Bitleitung von den lokalen Bitleitungen entkoppelt sein, können die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern entkoppelt sein und können die lokalen Bitleitungen mit einer Systemmasse gekoppelt sein. -
2B illustriert ein weiteres Beispiel für eine Schaltlogik, die konfiguriert ist, um gemäß verschiedenen Ausführungsformen unabhängige Lese- und Schreibvorgänge zu ermöglichen. Wie oben gleichermaßen mit Bezug auf2A erörtert, kann die Schaltlogik230 eine erste Übertragungsvorrichtung202 , eine globale Bitleitung116 , eine lokale Bitleitung114 , eine erste Vorrichtung212 und eine zweite Vorrichtung218 umfassen. In einigen Ausführungsformen kann die Schaltlogik230 ferner eine zweite Übertragungsvorrichtung232 umfassen, die zwischen die erste Übertragungsvorrichtung202 und die globale Bitleitung116 gekoppelt ist. Somit kann die zweite Übertragungsvorrichtung232 konfiguriert sein, um zusätzliche Steuerung für das Koppeln und Entkoppeln der globalen Bitleitung116 mit bzw. von der lokalen Bitleitung 114 bereitzustellen. In verschiedenen Ausführungsformen kann die zweite Übertragungsvorrichtung232 implementiert werden, wenn Transistoren, die in der Schaltlogik230 eingeschlossen sind, dünnere Gate-Oxide mit erweiterten Drains benutzen. Solche Transistoren mit dünneren Gate-Oxiden und erweiterten Drains können große Drain-Source-Ströme bewältigen, aber werden möglicherweise nicht große Gate-Drain/Gate-Source-Ströme bewältigen. Demgemäß kann die Implementierung der zweiten Übertragungsvorrichtung232 deren Toleranz gegenüber solchen Strömen vergrößern. In einigen Ausführungsformen kann die zweite Übertragungsvorrichtung232 Vorrichtungen umfassen, wie etwa eine fünfte Vorrichtung und eine sechste Vorrichtung, die der oben erörterten dritten Vorrichtung204 und vierten Vorrichtung206 ähnlich sein können. Die Vorrichtungen, die Transistoren sein können, die in der zweiten Übertragungsvorrichtung232 eingeschlossen sind, können durch zusätzliche Signale, wie etwa ein fünftes Eingangssignal und sechstes Eingangssignal, gesteuert werden. Auf diese Weise kann die zweite Übertragungsvorrichtung232 auch verwendet werden, um die globale Bitleitung116 mit der lokalen Bitleitung114 zu koppeln und von dieser zu entkoppeln. Tabelle 1Vorgang Erste Einheit Zweite Einheit GBL BL Leseverst. 1. Eingang 2. Eingang 3. Eingang 4. Eingang Kein HV unselektiert unselektiert 0 0 0 0 vcc vcc 0 selektiert unselektiert 0 0-0,6 0-0,6 vcc | 0 0 | vcc vcc 0 Löschen unselektiert unselektiert VPOS 0 0 0 vcc VPOS 0 selektiert unselektiert VPOS 0-0,6 0-0,6 vcc | 0 0 | vcc VPOS 0 unselektiert selektiert VPOS VPOS 0 0 0 vcc vcc Programm unselektiert unselektiert VBL | VNEG 0 0 0 vcc VBL VNEG selektiert unselektiert VBL | VNEG 0-0,6 0-0,6 vcc | 0 0 | vcc VBL VNEG unselektiert selektiert VBL | VNEG VBL | VNEG 0 VNEG VNEG 2*Vtp 0 - Tabelle 1 zeigt mehrere Spannungen, die an verschiedenen Teilen der Schaltlogik angelegt werden können, um verschiedene Lese- und/oder Schreibvorgänge in unterschiedlichen Betriebsmodi und gemäß unterschiedlichen Selektionskriterien zu implementieren. Wie in Tabelle 1 gezeigt, können die Spannungen von mehreren unterschiedlichen Quellen empfangen werden und unterschiedliche Amplituden aufweisen. Wenn die gezeigten Werte durch ein „|“ getrennt sind, wird zu erkennen sein, dass Werte auf beiden Seiten Werte für die erste bzw. zweite Speichereinheit identifizieren. In verschiedenen Ausführungsformen kann „Vorgang“ einen Speichervorgangstyp identifizieren, der in einer Speichereinheit implementiert wird. Beispielsweise kann ein Vorgang ein Niedrigspannungsvorgang oder unselektiert sein und kann als „kein HV“ identifiziert sein. Des Weiteren kann ein Vorgang ein Hochspannungsvorgang, wie etwa ein Lösch- oder Programmiervorgang, sein. Außerdem können die erste Einheit und die zweite Einheit Beispiele für unterschiedliche Einheiten sein, die Vorgänge parallel durchlaufen. Beispielsweise kann die erste Einheit einen Niedrigspannungsvorgang, wie etwa einen Lesevorgang, durchlaufen, während die zweite Einheit einen Hochspannungsvorgang, wie etwa einen Schreibvorgang, durchlaufen kann. Des Weiteren kann GBL eine Spannung an einer globalen Bitleitung, wie etwa die globale Bitleitung
116 , identifizieren. BL kann eine Spannung an einer lokalen Bitleitung, wie etwa die Bitleitung114 , identifizieren. Außerdem kann „Leseverst.“ eine Spannung an einem Leseverstärkereingang, wie etwa Leseverstärkereingang214 , identifizieren. Ferner können 1. Eingang, 2. Eingang, 3. Eingang und 4. Eingang noch auf Eingänge, wie etwa erster Eingang216 , zweiter Eingang220 , dritter Eingang210 bzw. vierter Eingang208 , Bezug nehmen. - In verschiedenen Ausführungsformen können die in Tabelle 1 gezeigten Werte verschiedene Spannungen oder Potenziale in verschiedenen unterschiedlichen Kombinationen von Speichervorgängen darstellen. Beispielsweise kann VPOS ein positives Ladepumpenpotenzial darstellen und kann VNEG ein negatives Ladepumpenpotenzial darstellen. Außerdem kann VBL eine Zwischenspannung darstellen, die unter Verwendung eines internen Digital-zu-Analog-Wandlers (DAC) erzeugt wird. Des Weiteren kann vcc eine Gleichstrom(DC)-Kernversorgungsspannung darstellen. Ferner kann VtP noch eine Schwellenspannung darstellen, die mit einem Teil einer Übertragungsvorrichtung, wie etwa die oben erörterte dritte Vorrichtung
204 , assoziiert ist. In verschiedenen Ausführungsformen können die in Tabelle 1 erörterten Spannungen mit drainerweiterten Vorrichtungen implementiert werden, die drainerweiterte Transistoren verwenden können. Wie oben erörtert, können solche Spannungen unter Verwendung einer Spannungssteuerungsschaltungsanordnung und Steuerungslogik, wie oben und ausführlich unten erörtert, erzeugt werden. - In einem ersten Betriebsmodus, bei dem keine Hochspannungsvorgänge an irgendwelchen Speichereinheiten innerhalb der Speichervorrichtung durchgeführt werden und Lesevorgänge an einer oder mehreren Speichereinheiten durchgeführt werden, können eine erste und zweite Speichereinheit Spannungen wie in den ersten zwei Zeilen von Tabelle 1 beschrieben empfangen. Wie in Tabelle 1 gezeigt, können die Speichereinheiten, die Speichersektoren sein können, die für einen Betrieb unselektiert sein können, vorgespannt sein, um Übertragungsvorrichtungen zu konfigurieren, die globale Bitleitung von den lokalen Bitleitungen zu entkoppeln, um die ersten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern zu entkoppeln, und um die zweiten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen mit der Masse zu koppeln. Außerdem können Speichereinheiten, die einen Lesevorgang durchlaufen, vorgespannt sein, um Übertragungsvorrichtungen zu konfigurieren, die globale Bitleitung von den lokalen Bitleitungen zu entkoppeln, um die ersten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen mit den Leseverstärkern zu koppeln, und um die zweiten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von der Masse zu entkoppeln. Auf diese Weise können unselektierte Speichereinheiten gegen Fremdspannungen geschützt werden und können Lesevorgänge simultan auf mehreren Speichereinheiten innerhalb der gleichen Speichervorrichtung durchgeführt werden.
- In einem zweiten Betriebsmodus, bei dem Hochspannungsvorgänge, wie etwa Löschvorgänge, an einer oder mehreren Speichereinheiten innerhalb der Speichervorrichtung durchgeführt werden, können eine erste und zweite Speichereinheit Spannungen wie in den ersten Zeilen
3 -5 von Tabelle 1 beschrieben empfangen. Wie in Tabelle 1 gezeigt, können die Speichereinheiten, die Speichersektoren sein können, die für einen Betrieb unselektiert sein können, vorgespannt sein, um Übertragungsvorrichtungen zu konfigurieren, die globale Bitleitung von den lokalen Bitleitungen zu entkoppeln, um die ersten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern zu entkoppeln, und um die zweiten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen mit der Masse zu koppeln. In diesem Fall werden die globalen Bitleitungen auf VPOS geladen, und die Konfiguration der Schaltlogik schützt die unselektierten Speicherzellen vor Schäden, die ansonsten aufgrund der Anlegung von VPOS auftreten können. Des Weiteren kann eine Speichereinheit, die einen Löschvorgang durchläuft, vorgespannt sein, um die Übertragungsvorrichtung zu konfigurieren, die globale Bitleitung mit den lokalen Bitleitungen zu koppeln, um die ersten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern zu entkoppeln, und um die zweiten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von einer Systemmasse zu entkoppeln. Demgemäß kann das VPOS an den lokalen Bitleitungen und an den Speicherzellen angelegt werden, die mit den lokalen Bitleitungen innerhalb einer Speichereinheit, die den Löschvorgang durchläuft, gekoppelt sind. - Außerdem können, wie oben erörtert, andere Speichereinheiten, die in der gleichen Speichervorrichtung eingeschlossen sind, simultan Lesevorgänge parallel zum Löschvorgang durchlaufen. Beispielsweise können Speichereinheiten, die für einen Lesevorgang selektiert sind, vorgespannt sein, um Übertragungsvorrichtungen zu konfigurieren, die globale Bitleitung von den lokalen Bitleitungen zu entkoppeln, um die ersten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen mit den Leseverstärkern zu koppeln, und um die zweiten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von einer Systemmasse zu entkoppeln. Auf diese Weise können unselektierte Speichereinheiten gegen Fremdspannungen geschützt werden und können Lesevorgänge simultan auf mehreren Speichereinheiten und gleichzeitig mit einem Lesevorgang, der in der gleichen Speichervorrichtung durchgeführt wird, durchgeführt werden.
- In einem dritten Betriebsmodus, bei dem Hochspannungsvorgänge, wie etwa Programmiervorgänge, an einer oder mehreren Speichereinheiten innerhalb der Speichervorrichtung durchgeführt werden, können eine erste und zweite Speichereinheit Spannungen wie in den ersten Zeilen
6 -8 von Tabelle 1 beschrieben empfangen. Wie in Tabelle 1 gezeigt, können die Speichereinheiten, die Speichersektoren sein können, die für einen Betrieb unselektiert sein können, vorgespannt sein, um Übertragungsvorrichtungen zu konfigurieren, die globale Bitleitung von den lokalen Bitleitungen zu entkoppeln, um die ersten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern zu entkoppeln, und um die zweiten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen mit der Masse zu koppeln. In diesem Fall werden die globalen Bitleitungen auf VBL oder VNEG geladen, abhängig davon, welcher Datenwert in die Speicherzellen, die die Programmiervorgänge durchlaufen, programmiert ist. Demgemäß schützt die Konfiguration der Schaltlogik die unselektierten Speicherzellen vor Schäden, die ansonsten aufgrund der Anlegung der Hochspannungen auftreten können. Des Weiteren kann eine Speichereinheit, die einen Programmiervorgang durchläuft, vorgespannt sein, um die Übertragungsvorrichtung zu konfigurieren, die globale Bitleitung mit den lokalen Bitleitungen zu koppeln, um die ersten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern zu entkoppeln, und um die zweiten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von einer Systemmasse zu entkoppeln. Demgemäß kann VBL oder VNEG an den lokalen Bitleitungen und an den Speicherzellen angelegt werden, die mit den lokalen Bitleitungen innerhalb einer Speichereinheit, die den Programmiervorgang durchläuft, gekoppelt sind. - Außerdem können, wie oben erörtert, andere Speichereinheiten, die in der gleichen Speichervorrichtung eingeschlossen sind, simultan Lesevorgänge parallel zum Programmiervorgang durchlaufen. Beispielsweise können Speichereinheiten, die für einen Lesevorgang selektiert sind, vorgespannt sein, um Übertragungsvorrichtungen zu konfigurieren, die globale Bitleitung von den lokalen Bitleitungen zu entkoppeln, um die ersten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen mit den Leseverstärkern zu koppeln, und um die zweiten Vorrichtungen zu konfigurieren, die lokalen Bitleitungen von einer Systemmasse zu entkoppeln. Auf diese Weise können unselektierte Speichereinheiten gegen Fremdspannungen geschützt werden und können Lesevorgänge simultan auf mehreren Speichereinheiten und gleichzeitig mit einem Programmiervorgang, der in der gleichen Speichervorrichtung durchgeführt wird, durchgeführt werden. Tabelle 2
Vorgang Erste Einheit Zweite Einheit GBL BL Leseverst. 1. Eingang 2. Eingang 3. Eingang 4. Eingang Kein HV unselektiert unselektiert 0 0 0 0 VDD VDD 0 selektiert unselektiert 0 0-0,6 0-0,6 VDD | 0 0 | VDD VDD 0 Löschen unselektiert unselektiert VPOS 0 0 0 VDD VPOS 0 selektiert unselektiert VPOS 0-0,6 0-0,6 VDD | 0 0 | VDD VPOS 0 unselektiert selektiert VPOS VPOS 0 0 0 0 0 Programm unselektiert unselektiert VBL | VNEG 0 0 0 VDD VBL VNEG selektiert unselektiert VBL | VNEG 0-0,6 0-0,6 VDD | 0 0 | VDD VBL VNEG unselektiert selektiert VBL | VNEG VBL | VNEG 0 VNEG VNEG 0 VDD - Tabelle 2 zeigt Spannungen, die angelegt werden können, um verschiedene Lese- und/oder Schreibvorgänge, wie oben gleichermaßen mit Bezug auf Tabelle 1 erörtert, zu implementieren. Wie jedoch in Tabelle 2 gezeigt, können einige Modifikationen an den Spannungen vorgenommen werden, um dicke Gate-Oxid-Vorrichtungen zu implementieren. Beispielsweise kann eine Spannung VDD benutzt werden, die eine Eingangs-/Ausgangs(1/0)-Versorgungsspannung darstellt. Wie oben gezeigt, wird vcc möglicherweise nicht verwendet und es können stattdessen unterschiedliche Implementierungen von Spannungen von VDD und „0“ verwendet werden, um das dritte Eingangssignal, das vierte Eingangssignal, das erste Eingangssignal und das zweite Eingangssignal zu implementieren. Wie oben erörtert, können solche Spannungen unter Verwendung einer Spannungssteuerungsschaltungsanordnung und Steuerungslogik, wie oben und ausführlich unten erörtert, erzeugt werden.
- Während Tabelle 1 und Tabelle 2 Beispiele für Spannungen bereitstellen, die in verschiedenen Ausführungsformen verwendet werden können, wird zu erkennen sein, dass verschiedene andere Bereiche von anderen geeigneten Spannungen ebenfalls verwendet werden können. Demgemäß sind die in Tabelle 1 und Tabelle 2 bereitgestellten Spannungen Beispiele für mögliche Spannungen und solche Spannungen sollen nicht den Geltungsbereich der in dieser Schrift beschriebenen Ausführungsformen beschränken.
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3 illustriert ein Flussdiagramm eines Beispiels für ein Verfahren zum Implementieren von Speichervorrichtungen gemäß einigen Ausführungsformen. Wie unten ausführlich erörtert werden wird, kann ein Verfahren, wie etwa das Verfahren300 , implementiert werden, um die parallele Implementierung von verschiedenen Speichervorgängen, wie etwa Lese- und Schreibvorgänge, zu ermöglichen. Außerdem kann ein solches Verfahren implementiert werden, um Speicherzellen vor Schäden zu schützen, die ansonsten möglicherweise während Hochspannungsspeichervorgängen auftreten. - Demgemäß kann das Verfahren
300 mit dem Vorgang302 beginnen, während dem mehrere Adressen, die mit Speichervorgängen assoziiert sind, empfangen werden können. In verschiedenen Ausführungsformen können die Adressen Adressen sein, die eine oder mehrere Speicherzellen, an denen Speichervorgänge durchgeführt werden sollen, sowie Speichereinheiten, die diese Speicherzellen einschließen, identifizieren. Beispielsweise können die Adressen eine Speichereinheitadresse, eine Zeilenadresse und eine Spaltenadresse für einen Lesevorgang identifizieren, der an einer ersten Speicherzelle in einer ersten Speichereinheit implementiert werden soll. Außerdem können die Adressen ferner eine zweite Speichereinheitadresse und Zeilenadresse für einen Schreibvorgang identifizieren, der an einer zweiten Speicherzelle in einer zweiten Speichereinheit implementiert werden soll. - Das Verfahren
300 kann mit Vorgang304 fortsetzen, während dem mindestens eine Speichereinheit basierend auf den empfangenen Adressen identifiziert werden kann. In verschiedenen Ausführungsformen kann die mindestens eine identifizierte Speichereinheit die Speichereinheit sein, an der der Speichervorgang implementiert werden soll. Wie oben erörtert, kann eine erste Speichereinheit basierend auf der ersten empfangenen Speichereinheitadresse identifiziert werden. Außerdem kann eine zweite Speichereinheit basierend auf der zweiten empfangenen Speichereinheitadresse identifiziert werden. Ferner können noch Vorgangstypen, die mit jeder Speichereinheit assoziiert sind, identifiziert werden. Beispielsweise kann ein Niedrigspannungs- oder Lesevorgang für die erste Speichereinheit basierend auf dem erfolgten Anforderungstyp identifiziert werden. Außerdem kann ein Hochspannungs- oder Schreibvorgang für die zweite Speichereinheit basierend auf dem erfolgten Anforderungstyp identifiziert werden. Wie unten ausführlich erörtert werden wird, können zusätzliche Speichereinheiten, die unselektiert sind oder für keinen Speichervorgang selektiert sind, ebenfalls identifiziert werden. - Das Verfahren
300 kann mit Vorgang306 fortsetzen, während dem die Schaltlogik, die Multiplexer einschließen kann, die mit den identifizierten Speichereinheiten assoziiert sind, konfiguriert werden kann. Demgemäß kann, wie unten ausführlich erörtert werden wird, die Schaltlogik für die Speichereinheiten konfiguriert werden, um die Implementierung ihrer jeweiligen Speichervorgänge zu erleichtern. Beispielsweise kann die Schaltlogik für eine erste Speichereinheit konfiguriert werden, um den ersten Speichervorgang zu implementieren, während die Schaltlogik für die zweite Speichereinheit konfiguriert werden kann, um den zweiten Speichervorgang zu implementieren. Außerdem kann die Schaltlogik für unselektierte Speichereinheiten ebenfalls konfiguriert werden. Auf diese Weise können die erste Speichereinheit und die zweite Speichereinheit ihre jeweiligen Speichervorgänge parallel implementieren und die unselektierten Speichereinheiten können gegen Leckspannungen und -ströme geschützt werden, die durch Hochspannungsspeichervorgänge erzeugt werden können. -
4 illustriert ein Flussdiagramm eines weiteren Beispiels für ein Verfahren zum Implementieren von Speichervorrichtungen gemäß einigen Ausführungsformen. Wie unten ausführlich erörtert werden wird, können Adressen, die mit Speichervorgängen assoziiert sind, empfangen und verwendet werden, um Speichereinheiten innerhalb einer Speichervorrichtung zu konfigurieren, die Speichervorgänge zu implementieren. Solche Speichervorgänge können parallel und unabhängig voneinander implementiert werden. Auf diese Weise können unterschiedliche Speichereinheiten, wie etwa Speichersektoren und -seiten, konfiguriert werden, um Speichervorgänge parallel zu implementieren und reduzierte Zykluszeiten, die mit solchen Vorgängen assoziiert sind, zu erzielen. Außerdem können Speicherzellen gegen Leckspannungen und -ströme geschützt werden, die durch Hochspannungsspeichervorgänge erzeugt werden können, die innerhalb der Speichervorrichtung implementiert werden. - Das Verfahren
400 kann mit dem Vorgang402 beginnen, während dem mehrere Adressen empfangen werden können. Die Adressen können von einer Komponente, wie etwa einer Speichersteuereinheit, empfangen werden und können an einer anderen Komponente, wie etwa einer Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung, die in einer Speichervorrichtung eingeschlossen ist, empfangen werden. Wie oben gleichermaßen mit Bezug auf1 offenbart, können die Adressen verschiedene Adressen oder Identifikatoren einschließen, die fähig sind, eine Speichereinheit und eine Speicherzelle, die mit einem Speichervorgang assoziiert sind, zu identifizieren. Beispielsweise können die empfangenen Adressen eine Speichereinheit und eine Speicherzelle identifizieren, die mit einem Niedrigspannungsvorgang, wie etwa einem Lesevorgang, assoziiert sind. Des Weiteren können die empfangenen Adressen auch eine Speichereinheit und Speicherzelle identifizieren, die mit einem Hochspannungsvorgang, wie etwa einem Programmier- oder Löschvorgang, assoziiert sind. Demgemäß können die während des Vorgangs402 empfangenen Adressen mehrere Speicherzellen identifizieren, die in mehreren Speichereinheiten eingeschlossen sind, die innerhalb einer Speichervorrichtung eingeschlossen sind. In einem spezifischen Beispiel können die empfangenen Adressen eine Sektorschreibadresse und eine Zeilenschreibadresse identifizieren, die mit einer ersten Speicherzelle assoziiert sein können, die in einem ersten Speichersektor eingeschlossen ist, der einen Schreibvorgang durchlaufen wird. Die empfangenen Adressen können ferner eine Speichersektorleseadresse, eine Zeilenleseadresse und eine Spaltenleseadresse identifizieren, die alle mit einer zweiten Speicherzelle assoziiert sein können, die in einem zweiten Speichersektor eingeschlossen ist, der einen Lesevorgang durchlaufen wird. In diesem Beispiel können der erste und zweite Speichersektor in der gleichen Speichervorrichtung eingeschlossen sein und die Lese-Schreibvorgänge können parallel implementiert werden, wie unten ausführlich erörtert werden wird. - Das Verfahren
400 kann mit dem Vorgang404 fortsetzen, während dem bestimmt werden kann, welche Speichereinheiten welchen Speichervorgangstyp durchlaufen sowie welche Speichereinheiten unselektiert bleiben werden. In verschiedenen Ausführungsformen kann eine Systemkomponente, wie etwa die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung, konfiguriert werden, um mehrere Speichereinheiten basierend auf den empfangenen Adressen zu identifizieren. Wie oben erörtert, können die empfangenen Adressen Speichereinheitidentifikatoren einschließen, die identifizieren, welche Speichereinheit mit welchem Vorgangstyp assoziiert sein wird. Die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung kann konfiguriert werden, um die Speichereinheitidentifikatoren abzurufen und einen Betriebsstatus, der ein Betriebsmodus sein kann, für jede Speichereinheit, die in der Speichervorrichtung eingeschlossen ist, zu bestimmen. Beispielsweise kann die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung eine vorbestimmte Liste aller Speichereinheiten, die Sektoren oder Seiten sein können, innerhalb der Speichervorrichtung aufweisen. - Basierend auf den empfangenen Speichereinheitadressen und den Speichervorgangstypen, die mit den empfangenen Speichereinheitadressen assoziiert sind, kann die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung alle Speichereinheiten identifizieren, die Hochspannungsvorgänge durchlaufen werden, alle Speichereinheiten identifizieren, die Niedrigspannungsvorgänge durchlaufen werden, und alle verbleibenden Speichereinheiten können als unselektiert identifiziert und gekennzeichnet werden. In einem spezifischen Beispiel kann die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung eine Liste aller Speichereinheiten, die Lesevorgänge durchlaufen werden, aller Speichereinheiten, die Löschvorgänge durchlaufen werden, aller Speichereinheiten, die Programmiervorgänge durchlaufen werden, und aller Speichereinheiten, die unselektiert sind, erzeugen. Auf diese Weise können die empfangenen Adressen verwendet werden, um einen Betriebsmodus von jeder Speichereinheit, die in der Speichervorrichtung eingeschlossen ist, zu erzeugen.
- Das Verfahren
400 kann mit dem Vorgang406 fortsetzen, während dem Speichereinheiten, die als unselektiert identifiziert sind, konfiguriert werden können. Wie oben mit Bezug auf2A und2B sowie Tabelle 1 und 2 erörtert, kann während des Vorgangs406 die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung ein oder mehrere Signale erzeugen und an einer Schaltlogik anlegen, die in einer Komponente, wie etwa einem Spaltenmultiplexer, eingeschlossen ist, um die unselektierten Speichereinheiten zu konfigurieren. Beispielsweise kann die Schaltlogik Multiplexer umfassen, die die erzeugten Signale empfangen können und vorgespannt sein können, um die Übertragungsvorrichtungen zu konfigurieren, globale Bitleitungen von lokalen Bitleitungen zu entkoppeln, die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern zu entkoppeln und die lokalen Bitleitungen mit Masse zu koppeln. Auf diese Weise können unselektierte Sektoren lokale Bitleitungen aufweisen, die mit einer Systemmasse gekoppelt sind, und gegen Schäden geschützt werden, die durch Leckströme verursacht werden können, die durch Hochspannungsvorgänge erzeugt werden können, die in anderen Speichereinheiten implementiert werden können. - Das Verfahren
400 kann mit dem Vorgang408 fortsetzen, während dem Speichereinheiten konfiguriert werden können, die dahingehend identifiziert werden, dass sie Hochspannungsspeichervorgänge durchlaufen. Wie ebenfalls oben mit Bezug auf2A und2B sowie Tabelle 1 und 2 erörtert, kann während des Vorgangs408 die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung ein oder mehrere Signale erzeugen und an einer Schaltlogik anlegen, die in einer Komponente, wie etwa einem Spaltenmultiplexer, eingeschlossen ist, um die Speichereinheiten zu konfigurieren, die Hochspannungsvorgänge durchlaufen. In einem Beispiel kann eine Speichereinheit, die ein Speichersektor oder eine Speicherseite sein kann, einen Löschvorgang durchlaufen. Demgemäß kann eine Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung Signale erzeugen und anlegen, um Multiplexer der Schaltlogik, die im Spaltenmultiplexer eingeschlossen ist, vorzuspannen, um globale Bitleitungen mit den lokalen Bitleitungen zu koppeln, die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern zu entkoppeln und die lokalen Bitleitungen von einer Systemmasse zu entkoppeln. Demgemäß kann eine erzeugte Spannung, wie etwa VPOS, erzeugt durch eine positive Spannungspumpe, an den lokalen Bitleitungen und an den Speicherzellen angelegt werden, die mit den lokalen Bitleitungen innerhalb einer Speichereinheit, die den Löschvorgang durchläuft, gekoppelt sind. - In einem anderen Beispiel kann die Speichereinheit einen Programmiervorgang durchlaufen. Somit kann eine Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung Signale erzeugen und anlegen, um Multiplexer der Schaltlogik, die im Spaltenmultiplexer eingeschlossen ist, vorzuspannen, um die globalen Bitleitungen mit den lokalen Bitleitungen zu koppeln, die lokalen Bitleitungen von den Leseverstärkern zu entkoppeln und die lokalen Bitleitungen von einer Systemmasse zu entkoppeln. Auf diese Weise kann eine erzeugte Spannung, wie etwa BL oder VNEG, erzeugt durch einen DAC und/oder eine negative Spannungspumpe, an den lokalen Bitleitungen und an den Speicherzellen angelegt werden, die mit den lokalen Bitleitungen innerhalb einer Speichereinheit, die den Programmiervorgang durchläuft, gekoppelt sind.
- Das Verfahren
400 kann mit dem Vorgang410 fortsetzen, während dem Niedrigspannungsspeichervorgänge in den Speichereinheiten implementiert werden können, die dahingehend identifiziert werden, dass sie Niedrigspannungsspeichervorgänge durchlaufen. Wie zusätzlich oben mit Bezug auf2A und2B sowie Tabelle 1 und 2 erörtert, kann während des Vorgangs408 die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung ein oder mehrere Signale erzeugen und an einer Schaltlogik anlegen, die in einer Komponente, wie etwa einem Spaltenmultiplexer, eingeschlossen ist, um die Speichereinheiten zu konfigurieren, die Niedrigspannungsvorgänge durchlaufen. In einem Beispiel können solche Speichereinheiten Lesevorgänge durchlaufen. Demgemäß kann eine Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung Signale erzeugen und anlegen, um Multiplexer, die in der Schaltlogik eingeschlossen sind, die im Spaltenmultiplexer eingeschlossen sein kann, vorzuspannen. Ein solches Vorspannen kann die globalen Bitleitungen von den lokalen Bitleitungen entkoppeln, um die lokalen Bitleitungen von der Systemmasse zu entkoppeln und die lokalen Bitleitungen mit den Leseverstärkern zu koppeln. Auf diese Weise können Speichereinheiten, die für Niedrigspannungsvorgänge, wie etwa Lesevorgänge, identifiziert sind, konfiguriert werden, um solche Vorgänge unabhängig von Hochspannungsschreibvorgängen zu implementieren, die in anderen Speichereinheiten implementiert werden können. - Außerdem können, wie oben erörtert, die Niedrigspannungslesevorgänge gleichzeitig und parallel mit den Hochspannungsschreibvorgängen implementiert werden. Demgemäß können die Vorgänge
406 ,408 und410 jeweils parallel und simultan durchgeführt werden. Auf diese Weise kann das Konfigurieren der unselektierten Speichereinheiten, der Hochspannungsspeichereinheiten und der Niedrigspannungspeichereinheiten parallel durchgeführt werden. Die Hochspannungsvorgänge und die Niedrigspannungsvorgänge können dann in ihren jeweiligen Speichereinheiten gleichzeitig und parallel implementiert werden. Wie unten ausführlich erläutert, können Lesevorgänge weniger Zeit in Anspruch nehmen als Schreibvorgänge. Demgemäß können zahlreiche unterschiedliche Lesevorgänge parallel mit einem einzelnen Schreibvorgang durchgeführt werden. Beispielsweise können zehn- oder hunderttausende Lesevorgänge parallel mit einem einzelnen Schreibvorgang, wie oben beschrieben, durchgeführt werden. Demgemäß wird zu erkennen sein, dass, während das Verfahren400 eine einzelne Iteration des Vorgangs406 und410 illustriert, zahlreiche Iterationen von jedem Vorgang während einer einzelnen Iteration des Vorgangs408 durchgeführt werden können. - Das Verfahren
400 kann mit dem Vorgang412 fortsetzen, während dem bestimmt wird, ob andere Speichervorgänge durchgeführt werden sollen. In einem Beispiel kann eine solche Bestimmung basierend auf den beim Vorgang402 empfangenen Adressen oder anderen Adressen, die möglicherweise seit dem Beginn des Verfahrens400 empfangen wurden, vorgenommen werden. Falls noch zusätzliche Adressen in den empfangenen Adressen verbleiben und keine damit assoziierten Speichervorgänge implementiert wurden, kann eine Komponente, wie etwa die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung, bestimmen, dass zusätzliche Speichervorgänge durchgeführt werden sollen. Falls bestimmt wird, dass zusätzliche Speichervorgänge durchgeführt werden sollen, kann das Verfahren400 zum Vorgang404 zurückkehren. Falls keine zusätzlichen Adressen verbleiben und bestimmt wird, dass keine zusätzlichen Speichervorgänge durchgeführt werden sollen, kann das Verfahren400 beendet werden. -
5 illustriert ein Beispiel für eine Illustration der Zykluszeiten, die mit Niedrigspannungs- und Hochspannungsspeichervorgängen assoziiert sind, die gemäß einigen Ausführungsformen implementiert werden. Der Zyklus502 illustriert eine Gesamtzykluszeit, die aufgewendet wird, um die ersten Lesevorgänge504 , gefolgt vom ersten Schreibvorgang506 und gefolgt von zweiten Lesevorgängen508 zu implementieren. Der Zyklus502 stellt ein Beispiel dafür bereit, dass alle solche Vorgänge nacheinander durchgeführt werden. Beispielsweise können die ersten Lesevorgänge504 100 000 individuelle Lesevorgänge umfassen und können die zweiten Lesevorgänge508 200 000 individuelle Lesevorgänge umfassen. Der erste Schreibvorgang506 kann ein einzelner Schreibvorgang sein. Demgemäß wird zu erkennen sein, dass, während5 nicht skalierbar sein mag, ein einzelner Schreibvorgang viel mehr Zeit als ein Lesevorgang benutzt. Demgemäß muss, wenn Lese- und Schreibvorgänge exklusiv sind und nacheinander durchgeführt werden, die Speichervorrichtung warten, bis der erste Schreibvorgang506 abgeschlossen ist, bevor die zweiten Lesevorgänge508 implementiert werden, was zu einer längeren Zykluszeit führt. - Der Zyklus
510 illustriert eine Gesamtzykluszeit, die aufgewendet wird, um die dritten Lesevorgänge512 , gefolgt vom zweiten Schreibvorgang514 und gefolgt von vierten Lesevorgängen516 zu implementieren, wobei die vierten Lesevorgänge516 parallel mit dem zweiten Schreibvorgang514 implementiert werden. Wie im Zyklus510 gezeigt und mit Bezug auf die in dieser Schrift aktuell offenbarten Ausführungsformen erörtert, können Lesevorgänge und Schreibvorgänge parallel durchgeführt werden. Somit können der zweite Schreibvorgang514 und die vierten Lesevorgänge516 parallel implementiert und zur gleichen Zeit gestartet werden. Da die Speichervorrichtung nicht warten muss, bis der Schreibvorgang abgeschlossen wird, ist die Gesamtzykluszeit kürzer als die im Zyklus502 dargestellte Zykluszeit. Eine Einsparung der Zykluszeit wird in5 durch die Periode518 dargestellt. Demgemäß kann die Implementierung der parallelen Lese- und Schreibvorgänge, wie in dieser Schrift offenbart, in einer Zykluszeiteinsparung oder -verbesserung resultieren, die beispielsweise durch die Periode518 dargestellt wird. -
6 illustriert ein Blockdiagramm eines Verarbeitungssystems, das eine Speichervorrichtung umfasst, das gemäß einigen Ausführungsformen implementiert wird. Das Verarbeitungssystem600 umfasst allgemein einen nichtflüchtigen Speicher602 , der mit dem Prozessor604 auf herkömmliche Weise über den Adressbus606 , Datenbus608 und Steuerbus610 gekoppelt ist. Es wird von Fachleuten auf dem Gebiet erkannt werden, dass das Verarbeitungssystem von6 zum Zweck der Illustration der vorliegenden Erfindung vereinfacht wurde und nicht als vollständige Beschreibung gedacht ist. - In verschiedenen Ausführungsformen kann das Verarbeitungssystem
600 einen Prozessor604 umfassen, der ein Typ einer Allzweck- oder Spezialzweck-Verarbeitungsvorrichtung sein kann. Beispielsweise kann in einer Ausführungsform der Prozessor ein Prozessor in einem programmierbaren System oder eine Steuereinheit sein, die ferner einen nichtflüchtigen Speicher umfasst, wie etwa eine Programmable-System-on-a-Chip-Steuereinheit oder PSoC™-Steuereinheit, die von Cypress Semiconductor, San Jose, Kalifornien, kommerziell erhältlich ist. - Der nichtflüchtige Speicher
602 kann ein Speicherarray102 , wie oben mit Bezug auf1 erörtert, umfassen. Demgemäß kann das Speicherarray102 in Zeilen und Spalten von nichtflüchtigen Speicherzellen (in dieser Figur nicht gezeigt), wie oben beschrieben, organisiert sein. Das Speicherarray102 ist über mehrere Selektierleitungen und Leseleitungen616 (mindestens eine Selektierleitung und eine Leseleitung für jede Zeile des Speicherarrays) mit dem Zeilendekodierer110 gekoppelt. Das Speicherarray 102 ist ferner über mehrere Bitleitungen620 , wie oben beschrieben, mit dem Spaltenmultiplexer104 gekoppelt. Es wird zu erkennen sein, dass gemeinsame Sourceleitungen als Teil der Leitungen620 oder Leitungen616 , wie oben beschrieben, implementiert werden können. Das Speicherarray102 kann mit einer Vielzahl von Leseverstärkern108 gekoppelt sein, um von diesen Multibitwörter zu lesen. Der nichtflüchtige Speicher602 umfasst ferner eine Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung624 , um den Zeilendekodierer110 , den Spaltendekodierer104 und die Leseverstärker108 zu steuern und um gelesene Daten von den Leseverstärkern108 zu empfangen. Die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung624 umfasst eine Spannungssteuerungsschaltungsanordnung626 um die Spannungen zu erzeugen, die für den Betrieb des Speicherarrays102 benötigt werden, die über die Spannungssteuerungsschaltungsanordnung626 an den Zeilendekodierer110 und Spaltenmultiplexer104 geleitet werden können. Die Spannungssteuerungsschaltungsanordnung626 arbeitet, um passende Spannungen während der Lese-, Lösch- und Programmiervorgänge an den Speicherzellen anzulegen. Demgemäß kann die Spannungssteuerungsschaltungsanordnung eine Steuerlogik, wie etwa die Steuerlogik130 , eine Hochspannungspumpe, eine Niedrigspannungspumpe, sowie einen oder mehrere Digital-zu-Analog-Wandler (DACs), umfassen, die jeweils konfiguriert sein können, um Signale, wie oben erörtert, zu erzeugen. Beispielsweise kann die Spannungssteuerungsschaltungsanordnung626 konfiguriert sein, um das erste Signal, das zweite Signal, das dritte Signal und das vierte Signal, wie oben erörtert, zu erzeugen. Die Spannungssteuerungsschaltungsanordnung kann ferner konfiguriert sein, um Spannungen, wie vcc, VDD, VPOS, VNEG, VBL und 2*VtP, wie oben erörtert, zu erzeugen. - In verschiedenen Ausführungsformen kann die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung
624 ferner konfiguriert sein, um einen ersten Zeilendekodierer110 zu steuern, um eine erste Zeile eines Speicherarrays102 für einen Programmiervorgang durch Anlegen einer Spannung an eine erste Selektierleitung in der ersten Zeile zu selektieren und eine zweite Zeile des Speicherarrays durch Anlegen einer anderen Spannung an eine zweite Selektierleitung in der zweiten Zeile zu deselektieren. Die Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung624 kann ferner konfiguriert sein, um den Spaltenmultiplexer104 zu steuern, um eine Speicherzelle in der ersten Zeile zum Programmieren durch Anlegen einer Spannung an eine erste Bitleitung in einer ersten Spalte zu selektieren und eine nicht selektierte Speicherzelle in der ersten Zeile gegen das Programmieren durch Anlegen einer anderen Spannung an eine zweite Bitleitung in einer zweiten Spalte zu inhibieren. Der Zeilendekodierer110 oder Spaltenmultiplexer104 kann ferner konfiguriert sein, um eine Spannung an eine oder mehrere gemeinsame Sourceleitungen anzulegen, die mit den im Speicherarray102 eingeschlossenen Speicherzellen, wie oben beschrieben, gekoppelt sein können. - Wenngleich die vorstehenden Konzepte für ein klares Verständnis einigermaßen ausführlich beschrieben wurden, können offenkundigerweise gewisse Änderungen und Modifikationen innerhalb des Geltungsbereiches der beigefügten Patentansprüche vorgenommen werden. Es wird darauf hingewiesen, dass es viele alternative Arten zum Implementieren der Prozesse, Systeme und Vorrichtungen gibt. Demgemäß sind die vorliegenden Beispiele als illustrativ und nicht einschränkend zu betrachten.
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
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- US 62216896 [0001]
Claims (20)
- Eine Vorrichtung, die Folgendes beinhaltet: eine erste Übertragungsvorrichtung, die mit einer lokalen Bitleitung und einer globalen Bitleitung gekoppelt ist, die mit einer Speichereinheit eines Speicherarrays assoziiert sind, wobei die erste Übertragungsvorrichtung konfiguriert ist, um die globale Bitleitung mit der lokalen Bitleitung selektiv zu koppeln; eine erste Vorrichtung, die mit der lokalen Bitleitung und einem Leseverstärker gekoppelt ist, wobei die erste Vorrichtung konfiguriert ist, um die lokale Bitleitung mit dem Leseverstärker selektiv zu koppeln; und eine zweite Vorrichtung, die mit der lokalen Bitleitung und einer elektrischen Masse gekoppelt ist, wobei die zweite Vorrichtung konfiguriert ist, um die lokale Bitleitung mit der elektrischen Masse selektiv zu koppeln.
- Vorrichtung gemäß
Anspruch 1 , wobei die erste Vorrichtung konfiguriert ist, um die lokale Bitleitung als Reaktion auf einen Niedrigspannungsvorgang mit dem Leseverstärker zu koppeln, wobei die erste Vorrichtung ferner konfiguriert ist, um die lokale Bitleitung als Reaktion auf einen Hochspannungsvorgang oder darauf, dass die Speichereinheit unselektiert ist, vom Leseverstärker zu entkoppeln, wobei die zweite Vorrichtung konfiguriert ist, um die lokale Bitleitung als Reaktion darauf, dass die Speichereinheit unselektiert ist, mit der elektrischen Masse zu koppeln und wobei die zweite Vorrichtung ferner konfiguriert ist, um die lokale Bitleitung als Reaktion auf einen Hochspannungsvorgang oder einen Niedrigspannungsvorgang von der elektrischen Masse zu entkoppeln. - Vorrichtung gemäß
Anspruch 2 , wobei die erste Vorrichtung konfiguriert ist, um ein erstes Eingangssignal zu empfangen, wobei die zweite Vorrichtung konfiguriert ist, um ein zweites Eingangssignal zu empfangen und wobei die Vorrichtung ferner eine Befehls- und Steuerungsschaltungsanordnung beinhaltet, die konfiguriert ist, um das erste Eingangssignal und das zweite Eingangssignal zu erzeugen. - Vorrichtung gemäß
Anspruch 2 , wobei ein Hochspannungsvorgang ein Programmiervorgang oder ein Löschvorgang ist und wobei ein Niedrigspannungsvorgang ein Lesevorgang ist. - Vorrichtung gemäß
Anspruch 1 , wobei die erste Vorrichtung ein erster Transistor ist, wobei die zweite Vorrichtung ein zweiter Transistor ist und wobei der erste Transistor und der zweite Transistor dicke Gate-Oxid-Transistoren sind. - Vorrichtung gemäß
Anspruch 1 , wobei die erste Vorrichtung ein erster Transistor ist, wobei die zweite Vorrichtung ein zweiter Transistor ist und wobei der erste Transistor und der zweite Transistor drainerweiterte Transistoren sind. - Vorrichtung gemäß
Anspruch 1 , wobei die erste Übertragungsvorrichtung eine dritte Vorrichtung und eine vierte Vorrichtung umfasst, die konfiguriert sind, um ein drittes Eingangssignal und ein viertes Eingangssignal zu empfangen. - Vorrichtung gemäß
Anspruch 7 , wobei die dritte Vorrichtung ein p-Typ-Transistor ist und wobei die vierte Vorrichtung ein n-Typ-Transistor ist. - Vorrichtung gemäß
Anspruch 1 , wobei die erste Übertragungsvorrichtung, die erste Vorrichtung und die zweite Vorrichtung in einem Spaltenmultiplexer eingeschlossen sind, der mit dem Speicherarray assoziiert ist. - Vorrichtung gemäß
Anspruch 1 , die ferner eine zweite Übertragungsvorrichtung beinhaltet, die zwischen der globalen Bitleitung und der ersten Übertragungsvorrichtung gekoppelt ist. - Ein Verfahren, das Folgendes beinhaltet: Empfangen einer Vielzahl von Adressen, die mit mindestens einem ersten Speichervorgang assoziiert sind, der mit einer ersten Speichereinheit eines Speicherarrays assoziiert ist; Identifizieren der ersten Speichereinheit und eines Vorgangstyps, die mit dem ersten Speichervorgang assoziiert sind, basierend auf der Vielzahl von Adressen, wobei die erste Speichereinheit mit einer ersten Speicherzelle assoziiert ist; und Konfigurieren einer Vielzahl von Vorrichtungen der ersten Speichereinheit basierend auf dem identifizierten Vorgangstyp.
- Verfahren gemäß
Anspruch 11 , wobei die Vielzahl von Adressen eine erste Speichereinheitsadresse und eine erste Zeilenadresse umfassen und wobei die Vielzahl von Vorrichtungen in einer Schaltlogik eingeschlossen sind, die mit der ersten Speichereinheit assoziiert ist. - Verfahren gemäß
Anspruch 12 , wobei das Empfangen der Vielzahl von Adressen ferner Folgendes beinhaltet: Empfangen einer zweiten Speichereinheitsadresse, einer zweiten Zeilenadresse und einer Spaltenadresse, die mit einem zweiten Speichervorgang assoziiert sind, der mit einer zweiten Speicherzelle implementiert werden soll. - Verfahren gemäß
Anspruch 13 , das ferner Folgendes beinhaltet: Identifizieren einer zweiten Speichereinheit, die mit der zweiten Speicherzelle assoziiert ist, und eines Vorgangstyps, der mit dem zweiten Speichervorgang assoziiert ist; Identifizieren einer Vielzahl von Speichereinheiten, die unselektiert sind; Konfigurieren der Schaltlogik der zweiten Speichereinheit basierend auf dem identifizierten Vorgangstyp; und Konfigurieren der Schaltlogik der Vielzahl von Speichereinheiten, die unselektiert sind. - Verfahren gemäß
Anspruch 14 , das ferner Folgendes beinhaltet: Implementieren des ersten Speichervorgangs in der ersten Speichereinheit; und Implementieren des zweiten Speichervorgangs in der zweiten Speichereinheit, wobei der erste Speichervorgang parallel mit dem zweiten Speichervorgang implementiert wird, wobei der erste Speichervorgang ein Schreibvorgang ist und wobei der zweite Speichervorgang ein Lesevorgang ist. - Ein System, das Folgendes beinhaltet: ein Speicherarray; eine erste Vielzahl von lokalen Bitleitungen, die mit einer ersten Speichereinheit des Speicherarrays gekoppelt sind; eine Vielzahl von Leseverstärkern; einen Spaltenmultiplexer, der mit der ersten Vielzahl von lokalen Bitleitungen gekoppelt ist, wobei der Spaltenmultiplexer eine erste Schaltlogik beinhaltet, die konfiguriert ist, um: die erste Vielzahl von lokalen Bitleitungen als Reaktion auf einen Niedrigspannungsvorgang mit der Vielzahl von Leseverstärkern zu koppeln; die erste Vielzahl von lokalen Bitleitungen als Reaktion auf einen Hochspannungsvorgang oder darauf, dass die erste Speichereinheit unselektiert ist, von der Vielzahl von Leseverstärkern zu entkoppeln; die erste Vielzahl von lokalen Bitleitungen als Reaktion darauf, dass die erste Speichereinheit unselektiert ist, mit einer elektrischen Masse zu koppeln; und die erste Vielzahl von lokalen Bitleitungen e als Reaktion auf einen Hochspannungsvorgang oder einen Niederspannungsvorgang von der elektrischen Masse zu entkoppeln.
- System gemäß
Anspruch 16 , wobei das Speicherarray ferner eine zweite Speichereinheit beinhaltet. - System gemäß
Anspruch 17 , das ferner Folgendes beinhaltet: eine zweite Vielzahl von lokalen Bitleitungen, die mit der zweiten Speichereinheit des Speicherarrays gekoppelt sind; und eine zweite Schaltlogik, die mit der zweiten Vielzahl von lokalen Bitleitungen assoziiert ist. - System gemäß
Anspruch 18 , wobei die erste Schaltlogik und die zweite Schaltlogik konfiguriert sind, um Hochspannungs- und Niedrigspannungsvorgänge parallel zu implementieren. - System gemäß
Anspruch 17 , wobei die erste Speichereinheit ein erster Speichersektor ist und wobei die zweite Speichereinheit ein zweiter Speichersektor ist.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201562216896P | 2015-09-10 | 2015-09-10 | |
US62/216,896 | 2015-09-10 | ||
US14/978,733 | 2015-12-22 | ||
US14/978,733 US9627016B2 (en) | 2015-09-10 | 2015-12-22 | Systems, methods, and devices for parallel read and write operations |
PCT/US2016/049286 WO2017044338A1 (en) | 2015-09-10 | 2016-08-29 | Systems, methods, and devices for parallel read and write operations |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112016004117T5 true DE112016004117T5 (de) | 2018-05-30 |
DE112016004117B4 DE112016004117B4 (de) | 2024-04-11 |
Family
ID=58237065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112016004117.9T Active DE112016004117B4 (de) | 2015-09-10 | 2016-08-29 | Systeme, verfahren und vorrichtungen für parallele lese- und schreibvorgänge |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9627016B2 (de) |
CN (1) | CN107924364B (de) |
DE (1) | DE112016004117B4 (de) |
WO (1) | WO2017044338A1 (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9627016B2 (en) * | 2015-09-10 | 2017-04-18 | Cypress Semiconductor Corporation | Systems, methods, and devices for parallel read and write operations |
US11360704B2 (en) | 2018-12-21 | 2022-06-14 | Micron Technology, Inc. | Multiplexed signal development in a memory device |
CN111746133B (zh) * | 2020-06-11 | 2021-11-16 | 杭州旗捷科技有限公司 | 再生芯片的控制方法、再生芯片和再生墨盒 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5126970A (en) | 1990-04-06 | 1992-06-30 | Vlsi Technology, Inc. | Static random access memory with PMOS pass gates |
JPH1187658A (ja) | 1997-09-05 | 1999-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | メモリセルおよびそれを備える不揮発性半導体記憶装置 |
JP3938808B2 (ja) * | 1997-12-26 | 2007-06-27 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
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US8811102B2 (en) | 2013-01-16 | 2014-08-19 | International Business Machines Corporation | Multiple read port memory system with a single port memory cell |
US9627016B2 (en) * | 2015-09-10 | 2017-04-18 | Cypress Semiconductor Corporation | Systems, methods, and devices for parallel read and write operations |
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2015
- 2015-12-22 US US14/978,733 patent/US9627016B2/en active Active
-
2016
- 2016-08-29 CN CN201680049948.3A patent/CN107924364B/zh active Active
- 2016-08-29 DE DE112016004117.9T patent/DE112016004117B4/de active Active
- 2016-08-29 WO PCT/US2016/049286 patent/WO2017044338A1/en active Application Filing
-
2017
- 2017-03-20 US US15/463,702 patent/US10020034B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20170076766A1 (en) | 2017-03-16 |
US9627016B2 (en) | 2017-04-18 |
WO2017044338A1 (en) | 2017-03-16 |
CN107924364A (zh) | 2018-04-17 |
US10020034B2 (en) | 2018-07-10 |
CN107924364B (zh) | 2022-04-08 |
DE112016004117B4 (de) | 2024-04-11 |
US20170249978A1 (en) | 2017-08-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: VOSSIUS & PARTNER PATENTANWAELTE RECHTSANWAELT, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: LONGITUDE FLASH MEMORY SOLUTIONS LTD., IE Free format text: FORMER OWNER: CYPRESS SEMICONDUCTOR CORPORATION, SAN JOSE, CALIF., US Owner name: LONGITUDE FLASH MEMORY SOLUTIONS LTD., DUBLIN, IE Free format text: FORMER OWNER: CYPRESS SEMICONDUCTOR CORPORATION, SAN JOSE, CALIF., US |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: VOSSIUS & PARTNER PATENTANWAELTE RECHTSANWAELT, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: LONGITUDE FLASH MEMORY SOLUTIONS LTD., DUBLIN, IE Free format text: FORMER OWNER: LONGITUDE FLASH MEMORY SOLUTIONS LTD., SANDYFORD BUBLIN, IE |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: VOSSIUS & PARTNER PATENTANWAELTE RECHTSANWAELT, DE |
|
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division |