DE112009003793B4 - Automatische Analysevorrichtung - Google Patents

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Abstract

Es wird eine automatische Analysevorrichtung vorgestellt, bei der eine Anforderung für eine zusätzliche Untersuchung an einer bereits analysierten Probe oder beim Auftreten eines Fehlers schnell ausgeführt werden kann. Die automatische Analysevorrichtung gibt die Meßwerte für die analysierte Probe aus, stellt fest, ob eine erneute Analyse erforderlich ist, und führt die erneute Analyse aus. Um diese Funktionen ausführen zu können, enthält die automatische Analysevorrichtung einen Pufferbereich zum Warten, bis die Analyse beendet und die Meßwerte ausgegeben sind. Jede Analyseeinheit enthält zwei Puffereinheiten, die beliebig auf den Pufferbereich zugreifen können. Die automatische Analysevorrichtung weist in der Nähe des Pufferbereichs auch eine Position auf, an der eine Probe zugegeben und wieder entnommen werden kann. Ein Gestell, das die fragliche Probe enthält und das im Pufferbereich wartet, wird an der Entladeposition durch eine Anweisung zum Entladen entladen, die von einem Bediener an einem Bedienungsabschnitt ausgegeben wird. Die an der Probe erforderlichen Operationen werden von oberhalb des entladenen Gestells ausgeführt. Ein nachfolgendes Wiederbeladen mit der Probe ermöglicht es, andere Proben fortlaufend zu analysieren.

Description

  • Technisches Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein automatische Analysevorrichtungen für die quantitative und qualitative Analyse von biologischen Proben wie Blut und Urin und insbesondere eine automatische Analysevorrichtung mit einem Transportsystem, das einen Probenbehälter zum Analysator befördert.
  • Stand der Technik
  • Automatische Analysevorrichtungen führen an biologischen Proben wie Blut und Urin quantitative und qualitative Analysen durch. Solche automatischen Analysevorrichtungen sind besonders in großen Krankenhäusern und in klinischen Laborzentren weit verbreitet, die eine große Anzahl von Patientenproben innerhalb kurzer Zeit zu verarbeiten haben. Es wurden daher sehr viele unterschiedliche automatische Analysevorrichtungen entwickelt, die jeweils nach ihrer Verarbeitungskapazität groß, mittelgroß oder klein sein können. Groß bemessene Analysesysteme können in der Regel auch eine große Anzahl von Proben analysieren. Ein groß bemessenes System beinhaltet eine Transferlinie (eine Transfereinheit), über die eine Vielzahl von Probenbehältern, die jeweils eine zu analysierende Probe enthalten und die sich ein einem Halter befinden, der Probengestell genannt wird, zu einer Anzahl von Analysevorrichtungen befördert wird, um automatisch die Prozesse durchführen zu können, die das Analyseergebnis ausgeben. Ein Labortechniker braucht dabei nur noch das Probengestell an einer Probengestell-Beladungsstation mit Probenbehältern zu beladen.
  • Das an der Probengestell-Beladungsstation mit Probenbehältern beladene Probengestell wird dann über eine förderbandartige Transportlinie weiterbefördert, wobei ein an der Transportlinie angeordnetes Strichcodelesegerät den Gestelltyp und die zu analysierende Probe während des Transports des Gestells abliest. Ein Beispiel für ein solches automatisches Analysesystem ist im Patentdokument 1 beschrieben.
  • Im Patentdokument 1 ist ein System mit einer Transporteinrichtung zum Beladen von Gestellen für die Analyseeinheit und mit einer weiteren Transporteinrichtung zum Entladen der Gestelle beschrieben, die von der Analyseeinheit kommen. Das System enthält des weiteren eine Identifikationseinrichtung, die in Transportrichtung vor der Analyseeinheit angeordnet ist. Die Identifikationseinrichtung identifiziert den für die Probe jeweils erforderlichen Test, um bestimmen zu können, welche Analyseeinheit die Analyse durchführen soll, und um das fragliche Analysemodul anzuweisen, das Gestell aufzunehmen.
  • Im Patentdokument 2 enthält jede Analyseeinheit einen Puffer, der wartende Gestelle und dergleichen aufnimmt.
  • Dokumente zum Stand der Technik
  • Patentdokumente
    • Patentdokument 1: Japanische Patentanmeldung Nr. 2002180741 A
    • Patentdokument 2: Japanische Patentanmeldung Nr. 2007331312 A
  • Darstellung der Erfindung
  • Probleme, die durch die Erfindung gelöst werden sollen Generell können nicht alle Tests von einer einzigen Testvorrichtung durchgeführt werden. In einem Krankenhauslabor befindet sich daher immer eine Anzahl von automatischen Analysevorrichtungen.
  • Während der Durchführung eines Tests an einer Probe kann das bei einem Test erhaltene Testergebnis zur Folge haben, daß es erforderlich ist, sofort einen weiteren Test durchzuführen. Auch das Testergebnis für den weiteren Test muß schnell ausgegeben werden, wenn etwa der Patient gerade operiert wird, oder als Notfall eingeliefert wurde.
  • Wenn daher Proben in einer automatischen Analysevorrichtung verbleiben, weil sie zum Beispiel möglicherweise noch einmal getestet werden müssen, kann das Fehlen einer Einrichtung zum Entladen der Analysevorrichtung die Durchführung anderer Tests unmöglich machen, die dringend benötigt werden.
  • Bei der im Patentdokument 1 beschriebenen automatischen Analysevorrichtung wird der Transportweg für ein Gestell festgelegt, bevor das Gestell zu der Analyseeinheit befördert wird. Wenn an einer Mehrzahl von Analyseeinheiten eine Analyse durchzuführen ist, werden daher die Gestelle zuerst vor diese Analyseeinheiten befördert. Wenn dort viele Proben auf die Analyse warten, ist der Transportweg dort für andere Gestelle versperrt, und nur Proben, die an einer anderen Stelle zu analysieren sind, können die wartenden Proben überholen.
  • Bei der im Patentdokument 2 beschriebenen automatischen Analysevorrichtung enthält jedes Analysemodul einen Puffer, so daß eine beliebige Zugänglichkeit möglich ist. Um einen zusätzlichen Test schnell durchführen zu können, was das von der vorliegenden Erfindung zu lösende Problem ist, müssen jedoch die Gestelle vorübergehend in einem Speicherabschnitt verbracht werden.
  • Mittel zum Lösen des Problems
  • Eine automatische Analysevorrichtung gibt die Meßwerte für die analysierte Probe aus, stellt fest, ob eine erneute Analyse erforderlich ist oder nicht, und führt gegebenenfalls die erneute Analyse durch. Um diese Funktionen erfüllen zu können, enthält die automatische Analysevorrichtung einen Pufferbereich zum Abstellen der Proben, bis die Analyse beendet ist und die Meßergebnisse ausgegeben sind. Jede der Analyseeinheiten enthält zwei Puffereinheiten, die beliebig auf den Pufferbereich zugreifen können. Die automatische Analysevorrichtung weist in der Nähe des Pufferbereichs eine Position auf, an der Proben entladen und wieder geladen werden können. Ein Gestell, auf dem sich die fragliche Probe befindet und das im Pufferbereich abgestellt ist, wird durch einen Entladebefehl, der von einem Bediener an einem Bedienungsabschnitt ausgegeben wird, in die Entladeposition verbracht.
  • Die für die Probe erforderlichen Operationen werden von oberhalb des Entladegestells ausgeführt. Ein nachfolgendes Wiederbeladen mit Proben ermöglicht es, daß andere Proben als die fragliche Probe fortlaufend analysiert werden können.
  • Auswirkungen der Erfindung
  • Mit der vorliegenden Erfindung ist es möglich, an einer automatischen Analysevorrichtung ein Gestell vorübergehend von den zu analysierenden Proben zu entladen, so daß an der fraglichen Probe schnell zusätzliche Tests ausgeführt werden können.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnungen
  • 1 zeigt den Aufbau einer automatischen Analysevorrichtung bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 2 zeigt den Aufbau einer Probenaufnahmeeinheit bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 3 zeigt den Aufbau einer Puffereinheit bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 4 zeigt einen Bedienungsbildschirm, der für die Ausgabe einer Anweisung zum Entladen einer Probe verwendet wird.
  • 5 zeigt einen Bildschirm zur Eingabe von Kommentaren und Informationen, die registriert werden, wenn eine Anweisung zum Entladen einer Probe ausgegeben wird.
  • 6 zeigt einen Bildschirm, der anzeigt, daß bei einer Probe ein Fehler aufgetreten ist und mit dem eine Anweisung zum Entladen einer Probe ausgegeben werden kann.
  • 7 ist ein Flußdiagramm für den Prozeß zum Entladen einer Probe.
  • 8 ist ein Flußdiagramm für den Prozeß zum erneuten Laden einer Probe, die vorher entladen wurde.
  • Art der Erfindungsausführung
  • Im folgenden wird eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung näher beschrieben.
  • Die 1 ist eine Aufsicht auf eine automatische Analysevorrichtung bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die 1 zeigt beispielhaft ein System mit einer Probenaufnahmeeinheit 100, einer Gestelltransporteinheit 200, einer Puffereinheit 300, einem Analysemodul 400 und einem Analysemodul 500. In der Probenaufnahmeeinheit 100 werden Probengestelle beladen und bereitgestellt. Die Gestelltransporteinheit 200 befördert die Probengestelle zwischen der Probenaufnahmeeinheit und den einzelnen Analysemodulen. Die Puffereinheit 300 übernimmt die Probengestelle von der Gestelltransporteinheit 200 und bringt die Probengestelle vorübergehend in einen Wartezustand. Das Analysemodul 400 ist rechts von der Puffereinheit 300 angeordnet. Das Analysemodul 500 ist links von der Puffereinheit 300 angeordnet.
  • Im folgenden wird jede dieser Systemkomponenten und die Arbeitsweise des gesamten Systems beschrieben.
  • Die 2 zeigt den Aufbau der Probenaufnahmeeinheit 100.
  • Die Probenaufnahmeeinheit 100 umfaßt einen Beladungsabschnitt 101, einen Speicherabschnitt 102, eine Beförderungseinheit 103 für beladene Gestelle, eine Gestellidentifikationseinheit 104, eine Probenbehälter-Höhenfeststellungseinheit 105, eine Probenidentifikationseinheit 106, eine Probenrotationseinheit 107, eine Beförderungseinheit 108 für gespeicherte Gestelle und einen Not-Proben-Beladungsabschnitt 109. Am Beladungsabschnitt 101 werden die Probengestelle in das System eingeführt. Im Speicherabschnitt 102 werden die Probengestelle aus dem System genommen. Die Beförderungseinheit 103 für beladene Gestelle befördert die Probengestelle vom Beladungsabschnitt zur Gestelltransporteinheit 200. Die Gestellidentifikationseinheit 104 identifiziert die einzelnen Probengestelle anhand ihrer Identifikationsnummer ID. Die Probenbehälter-Höhenfeststellungseinheit 105 stellt fest, ob sich im Probengestell Probenbehälter befinden, und bestimmt dann jeweils die Höhe des Probenbehälters. Die Probenidentifikationseinheit 106 identifiziert die Proben anhand der an dem Probenbehälter im Probengestell angebrachten Identifikationsnummer ID. Die Probenrotationseinheit 10 dreht den Probenbehälter beim Ablesen der an dem Probenbehälter im Probengestell angebrachten Identifikationsnummer. Die Beförderungseinheit 108 für gespeicherte Gestelle befördert die Gestelle von der Gestelltransporteinheit 200 in den Speicherabschnitt 102. Am Not-Proben-Beladungsabschnitt 109 können im Notfall Probengestelle in das System geladen werden.
  • Der Beladungsabschnitt 101 umfaßt einen Beladungstablett-Anordnungsabschnitt 121, einen Beladungspufferabschnitt 122 und einen Beladungshebel 123. Auf dem Beladungstablett-Anordnungsabschnitt 121 werden Probengestelltabletts angeordnet, wobei jedes Probengestelltablett eine Anzahl von Probengestellen enthält, die darauf für den Transport abgestellt werden. Der Beladungspufferabschnitt 122 befindet sich zwischen dem Tablett-Anordnungsabschnitt und der Beförderungseinheit 103 für beladene Gestelle. Der Beladungshebel 123 bewegt die Probengestelle in der Y-Richtung.
  • Wenn sich im Beladungstablett-Anordnungsabschnitt 121 ein Probengestelltablett befindet, bewegt sich der Beladungshebel 123 in der Richtung der positiven Y-Achse. Dadurch wird ein Probengestell durch den Beladungspufferabschnitt 122 zur Beförderungseinheit 103 für beladene Gestelle gebracht. Wenn sich im Beladungspufferabschnitt 122 keine Gestelle mehr befinden, bewegt sich der Beladungshebel 123 in der Richtung der negativen Y-Achse und wartet, bis das nächste Probengestelltablett da ist.
  • Probengestelltabletts, von denen alle Probengestelle zum Beladungspufferabschnitt 122 gebracht wurden, werden entfernt, damit ein neues Probengestelltablett angeordnet werden kann.
  • Das System der vorliegenden Ausführungsform der Erfindung weist zwei Probenbeladungsabschnitte auf. Wenn einer der beiden Probenbeladungsabschnitte mit dem Zuführen der Probengestelle fertig ist und keine Gestelle mehr enthält, beginnt der andere Probenbeladungsabschnitt mit der Zuführung der Probengestelle. Bei der vorliegenden Ausführungsform der Erfindung gibt es zwei Probenbeladungsabschnitte. Es können zwei und mehr Probenbeladungsabschnitte angeordnet werden, die alle nacheinander ähnliche Prozesse ausführen.
  • Die Beförderungseinheit 103 für beladene Gestelle bringt die Gestelle aus dem Beladungsabschnitt zur Gestellidentifikationseinheit 104, an der die Identifikationsnummer der Gestelle abgelesen wird. Die Gestelle werden dann zur Probenbehälter-Höhenfeststellungseinheit 105 befördert.
  • Die Probenbehälter-Höhenfeststellungseinheit 105 stellt fest, ob sich an der entsprechenden Stelle im Probengestell ein Probenbehälter befindet, und erfaßt gegebenenfalls die Höhe des Probenbehälters.
  • Das Probengestell wird dann zu der Stelle gebracht, an der die Identifikationsnummer der Probe abgelesen wird. Die Identifikationsnummer der Probe wird dort von der Probenidentifikationseinheit 106 abgelesen.
  • Für die Identifikationsnummer der Probe wird in der Regel ein Strichcode verwendet. Der Probenbehälter kann zum Beispiel ein Becher, ein Reagenzglas oder ein Becher auf einem Reagenzglas sein. Der Strichcode für die Proben-Identifikationsnummer wird wegen der Größe, die zum Aufnehmen aller erforderlichen Informationen ausreichen muß, nur am Reagenzglas angebracht. Auf der Basis der erwähnten Informationen zur Gestellidentifikation und zur Höhe des Probenbehälters wird festgestellt, ob zum Ablesen der Proben-Identifikationsnummer der Probenbehälter gedreht werden muß.
  • Auf der Basis der erwähnten Informationen zur Gestellidentifikation und zur Probenidentifikation wird festgestellt, welche Prozesse für das Probengestell erforderlich sind, und es wird bestimmt, zu welchem Ort das jeweilige Probengestell zu befördern ist, das heißt es wird eines der Analysemodule 400 und 500 als Zielort ausgewählt.
  • Nach der Bestimmung des Zielorts für das Probengestell befördert die Beförderungseinheit 103 für beladene Gestelle die Probengestelle zur Gestelltransporteinheit 200.
  • Im Notfall wird das entsprechende Probengestell am Not-Proben-Beladungsabschnitt 109 in den Probenaufnahmeabschnitt 100 geladen. Das am Not-Proben-Beladungsabschnitt 109 eingegebene Gestell wird von der Beförderungseinheit 103 für beladene Gestelle weiterbefördert und den gleichen Prozessen unterworfen, denen auch die Gestelle vom Beladungsabschnitt 101 unterliegen, bevor sie zur Gestelltransporteinheit 200 gebracht werden.
  • Das Gestell, das in einem der Analysemodule 400, 500 die erforderlichen Prozesse durchlaufen hat, wird von der Beförderungseinheit 108 für gespeicherte Gestelle zum Speicherabschnitt 102 gebracht.
  • Der Speicherabschnitt 102 umfaßt einen Speichertablett-Anordnungsabschnitt 131, einen Speicherpufferabschnitt 132 und einen Speicherhebel 133. Wie beim Beladungsabschnitt 101 ist auf dem Speichertablett-Anordnungsabschnitt 131 ein Probengestelltablett angeordnet, auf dem sich transportabel eine Anzahl von Probengestellen befindet. Der Speicherpufferabschnitt 132 befindet sich zwischen dem Speichertablett-Anordnungsabschnitt 131 und der Beförderungseinheit 103 für beladene Gestelle. Der Speicherhebel 133 dient zum Bewegen der gespeicherten Gestelle.
  • Ein Probengestell, das von der Beförderungseinheit 108 für gespeicherte Gestelle zu einem Punkt vor dem Speicherabschnitt 102 gebracht wurde, wird vom Speicherhebel 133 zu dem Speichertablett im Speicherpufferabschnitt 132 oder zum Speichertablett-Anordnungsabschnitt 131 gebracht.
  • Die Gestelltransporteinheit 200 der 1 umfaßt zwei Gestelltransportwege, einen Zuführweg 201 und eine Rückweg 202. Auf dem Zuführweg 201 werden die Probengestelle von der Probenaufnahmeeinheit 100 zu den einzelnen Analysemodulen 400, 500 befördert. Auf dem Rückweg 202 werden die Probengestelle von den Analysemodulen 400, 500 zur Probenaufnahmeeinheit 100 befördert.
  • Auf dem Zuführweg 201 und auf dem Rückweg 202 werden die Probengestelle durch einen als Förderband dienen Bandmechanismus 210 zwischen der Probenaufnahmeeinheit 100 und den einzelnen Analysemodulen 400, 500 hin und her befördert. Bei der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfaßt das Förderband einen Zuführweg und einen Rückweg. Für eine schnellere Bearbeitung kann das Förderband auch mit einer Anzahl von Zuführwegen und einer Anzahl von Rückwegen versehen werden.
  • Die 3 zeigt den Aufbau der Puffereinheit 300. Die Puffereinheit 300 umfaßt einen Gestell-Eingang/Ausgang-Warteabschnitt 301, einen Pufferabschnitt 302, eine Modul-Eingang/Ausgang-Warteposition 303, einen Gestelltransportabschnitt 310, einen Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320, einen Identifikationsnummer-Leseabschnitt 321, einen Gestelltransfermechanismus 330, einen Gestellbeförderungsmechanismus 340 und einen Gestellentlademechanismus 350.
  • Der Gestell-Eingang/Ausgang-Warteabschnitt 301 weist einen Raum auf, in dem sich ein Gestell in einem Wartezustand befinden kann. Der Gestell-Eingang/Ausgang-Warteabschnitt 301 befindet sich dort, wo ein Probengestell von der Gestelltransporteinheit 200 zur Puffereinheit 300 gebracht wird. Im Gestell-Eingang/Ausgang-Warteabschnitt 301 wird ein von der Gestelltransporteinheit 200 zur Puffereinheit 300 gebrachtes Probengestell in einen Wartezustand versetzt.
  • Der Pufferabschnitt 302 weist eine Anzahl von voneinander unabhängigen Stellplätzen auf, in dem jeweils ein Probengestell vorübergehend in den Wartezustand gebracht wird.
  • Die Modul-Eingang/Ausgang-Warteposition 303 weist einen Raum auf, in dem sich ein Gestell im Wartezustand befinden kann. Die Modul-Eingang/Ausgang-Warteposition 303 befindet sich dort, wo ein Probengestell aus der Puffereinheit 300 herausgenommen und zum Analysemodul 400 befördert wird und wo ein Probengestell, das im Analysemodul 400 einer Analyse unterzogen wurde, zur Puffereinheit 300 zurückgebracht wird.
  • Der Gestelltransportabschnitt 310 befördert die Probengestelle zwischen der Modul-Eingang/Ausgang-Warteposition 303 und dem Analysemodul 400 hin und her.
  • Der Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320 dient bei den Prozessen am Probengestell im Analysatormodul 400, 500 als Gestell-Lade- und Entladeabschnitt, ohne daß dazu die Gestelltransporteinheit 200 verwendet werden muß.
  • Der Gestelltransfermechanismus 330 befördert die Probengestelle zwischen dem Gestell-Eingang/Ausgang-Warteabschnitt 301 und dem Zuführweg 201 und dem Rückweg 202 der Gestelltransporteinheit 200 in beiden Richtungen hin und her.
  • Der Gestellbeförderungsmechanismus 340 übernimmt die Beförderung der Probengestelle zwischen dem Gestell-Eingang/Ausgang-Warteabschnitt 301, dem Pufferabschnitt 302, der Modul-Eingang/Ausgang-Warteposition 303 und dem Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320.
  • Der Gestellentlademechanismus 350 dient dazu, ein Probengestell an der Modul-Eingang/Ausgang-Warteposition 303 dem Gestelltransportabschnitt 310 zuzuführen. Der Gestellentlademechanismus 350 dient auch dazu, ein Gestell der Analyseeinheit 500 auf der linken Seite der Puffereinheit 300 zuzuführen.
  • Die Analyseeinheiten 400, 500 nehmen die Probengestelle von der Puffereinheit 300 auf, führen an den Proben die geforderten Analysen durch und geben die Probengestelle zur Puffereinheit 300 zurück.
  • Anhand der 7 wird nun der Probenentladeprozeß beschrieben.
  • In automatischen Analysevorrichtungen werden die Prozesse zum Analysieren der jeweiligen Probe einschließlich dem Ansaugen der Probe, dem Zufügen der Reagenzien und dem Abwarten der Inkubationszeit ausgeführt, und es dauert einige Minuten, bevor Meßwerte ausgegeben werden. Die Meßwerte werden dann daraufhin überprüft, ob sie im Bereich der normalen Werte liegen. Wenn die Meßwerte für die Probe nicht im normalen Bereich liegen, wird die Probe erneut analysiert.
  • Nach der Probenentnahme bleibt daher das Probengestell in einer vorgegebenen Warteposition stehen. Bei der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung befindet sich dabei das Probengestell im Pufferabschnitt 302.
  • Wenn die Reaktionszeiten verstrichen sind und die Meßwerte feststehen, wird die Entscheidung getroffen, ob eine erneute Analyse erforderlich ist. Wenn die Entscheidung so ausfällt, daß eine erneute Analyse erforderlich ist, wird das Probengestell für den Analysevorgang wieder zum Analysemodul 400, 500 gebracht. Wenn die Entscheidung dagegen so ausfällt, daß keine erneute Analyse erforderlich ist, wird das Probengestell von der Gestelltransporteinheit 200 zum Speicherabschnitt 102 gebracht.
  • Die Reaktionszeiten für Analysen betragen bei den üblichen kolorimetrischen Verfahren drei bis zehn Minuten. Das Probengestell, das eine Probe enthält, die auf eine erneute Analyse wartet, befindet sich im Pufferabschnitt 302. Wenn zusätzlich eine Analyseanforderung für eine dringende Analyse eingeht, trifft ein Bediener an einem Probenentladeauswahlbildschirm 600 eines Bedienungsbildschirms eine Auswahl 601 zum Entladen einer Probe und drückt eine Entladeanweisungstaste 602.
  • Beim Drücken der Entladeanweisungstaste 602 wird ein Suchprozeß 701 ausgeführt, um festzustellen, ob die Probe, deren Entladung angefordert wurde, in dem System wartet. Wenn die Probe nicht im System wartet, folgt daraus, daß die Probe bereits zum Speicherabschnitt 102 befördert wurde, so daß eine Nachricht 707 ausgegeben wird, die besagt, daß die fragliche Probe nicht existiert.
  • Wenn die Probe, deren Entladung angefordert wurde, in dem System vorhanden ist, wird in einem Schritt 702 eine entsprechende Information auf einem Bildschirm ausgegeben und ein Bildschirmfenster 610 für die Eingabe eines Kommentars zu der Probe angezeigt.
  • Auf einem Probengestell können sich mehrere Proben befinden. In vielen Fällen wird davon nur eine der Proben benötigt. Um klarzustellen, daß ein Prozeß für die Entnahme einer bestimmten Probe vorübergehend den normalerweise laufenden Prozeß unterbricht, werden in einem Kommentaraufnahmeschritt 704 entsprechende Informationen eingegeben und diese Informationen 611 zu allen Proben auf dem Probengestell hinzugefügt.
  • Dann wird in einem Suchschritt 705 für das Entladegestell festgestellt, ob sich das Gestell mit der angeforderten Probe im Pufferabschnitt 302 im Wartezustand befindet. Wenn sich das fragliche Gestell nicht im Pufferabschnitt 302 befindet, wird diese Bedingung später erneut überprüft.
  • Wenn sich das fragliche Gestell im Pufferabschnitt 302 befindet, wird das fragliche Gestell in einem Entnahmetransportschritt 706 vom Pufferabschnitt 302 zum Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320 gebracht.
  • Der Bediener kann dann das Gestell entfernen und die Probe aus dem Gestell nehmen.
  • Anhand der 8 wird der Neubeladungsvorgang für die Proben beschrieben.
  • Der Bediener setzt ein Probengestell in den Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320.
  • Im Gestellerfassungsschritt 801 wird festgestellt, daß ein Gestell eingesetzt ist. Im Leseschritt 802 für die Gestell-Identifikationsnummer wird das Gestell zum Leseabschnitt 321 gebracht und die Identifikationsnummer ID des Gestells abgelesen. Im Bestimmungsschritt 803 wird festgestellt, ob das geladene Gestell das Gestell ist, das bei dem oben beschriebenen Entladeprozeß entladen wurde.
  • Wenn das geladene Gestell nicht das vorher entladene Gestell ist, wird das eingestellte Gestell wieder zum Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320 gebracht und der Prozeß im Schritt 809 mit der Ausgabe der Nachricht beendet, daß das geladene Gestell nicht das vorher entladene Gestell ist.
  • Wenn das geladene Gestell das vorher entladene Gestell ist, wird im Schritt 804 die Identifikationsnummer ID der Probe abgelesen und im Schritt 805 festgestellt, ob im Entladeprozeß die gleiche Probe entfernt wurde.
  • Wenn es sich um die entfernte Probe handelt, wird der Prozeß fortgesetzt.
  • Wenn es sich nicht um die entfernte Probe handelt, heißt das, daß die Probe nicht mehr vorhanden ist. Im Schritt 806 wird dann der Verarbeitungsstatus der gleichen Probe aktualisiert, damit nicht danach die gleiche Probe erneut analysiert wird.
  • Wenn die Verarbeitung aller Proben auf dem vorhandenen Gestell beendet ist, wird das Gestell zum Pufferabschnitt 302 gebracht und damit wieder zu dem Analyseprozeß zurückgekehrt.
  • Das erneute Anordnen einer Probe unterliegt einer zeitlichen Überwachung.
  • Der Grund dafür ist, daß, wenn eine Probe nach allen Messungen an den Proben des vorher entladenen Gestells wieder angeordnet wird, der Verarbeitungsstatus der Probe sich von ”entladen” zu ”Messungen abgeschlossen” ändert.
  • Wenn dann die Periode für die zeitliche Überwachung noch nicht abgelaufen ist, wenn insbesondere der Verarbeitungsstatus der Probe ”entladen” ist, kann die Analyse mit dem erwähnten Neuanordnen fortgesetzt werden. Wenn dagegen die Periode für die zeitliche Überwachung bereits abgelaufen ist und wenn insbesondere der Verarbeitungsstatus der Probe sich zu ”Messungen abgeschlossen” geändert hat, wird das Gestell zum Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320 gebracht und der Vorgang mit der Nachricht abgeschlossen, daß kein anzuordnendes Gestell freigegeben ist.
  • Die in der 1 gezeigte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Systems weist eine Anzahl von Puffereinheiten 300 auf und daher auch eine Anzahl von Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitten 320. Zum Beispiel sind die Puffereinheiten 300 aufeinanderfolgend in ihrer numerischen Reihenfolge, beginnend an der Probenaufnahmeeinheit 100, durchnumeriert. Dann kann ein Gestell an einem ersten Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320 entladen und an einem zweiten Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt 320 angeordnet werden.
  • In diesem Fall wird im Schritt 803 der Status der entladenen Probe kontrolliert und der Status der zu ladenden Probe erfaßt, so daß die Probe im Pufferabschnitt 302 einer zweiten Puffereinheit 300 gespeichert werden kann.
  • Wenn fortlaufend eine große Anzahl von Proben analysiert wird, enthalten in seltenen Fällen manche Proben nicht mehr das erforderliche Abgabevolumen, und andere Proben verkleben durch eine darin suspendierte Substanz (Fibrin).
  • Bei den bekannten Analysevorrichtungen ist es nicht möglich, eine solche Probe weiter zu analysieren, sondern es waren bei einer Probe, die nicht mehr das erforderliche Abgabevolumen enthielt, keinerlei Tests mehr möglich. Ein Gestell mit einer solchen Probe enthält jedoch auch noch andere Proben. Das Gestell wird erst dann entladen, wenn die Analysen an diesen Proben beendet sind. Im Ergebnis verstreicht viel Zeit, bis eine Probe einer erneuten Analyse unterzogen werden kann.
  • Bei der automatischen Analysevorrichtung der vorliegenden Erfindung wird beim Laden einer solchen Probe ein Probenfehlerstatus 603 angezeigt (bei der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung durch ein ”E”). Wenn die Proben ausgewählt und die Entladetaste 602 gedrückt wird, geht der Probenfehlerstatus 603 zu dem Status der fortgesetzten Bedingung des Entladevorgangs über, so daß das Entladen möglich ist.
  • Wenn eine Probe als nicht normal erkannt wird und das Probenvolumen nur noch klein ist, wird eine zusätzliche Probenmenge hinzugefügt, und wenn es eine suspendierte Substanz ist, wird die Substanz vor dem erneuten Anordnen der Probe entfernt, so daß der vorübergehend unterbrochene Analyseprozeß fortgesetzt werden kann. Außerdem ist es möglich, Messungen auszuführen, die bei den bekannten Techniken nicht möglich waren.
  • Die in einem Labor erforderlichen Analysen können nicht alle mit einer einzigen automatischen Analysevorrichtung durchgeführt werden. In einem Labor befinden sich daher in der Regel mehrere automatische Analysevorrichtungen, und die Proben werden nacheinander der Analyse unterzogen.
  • Es kann dann vorkommen, daß während der Aufnahme von Meßwerten für eine Probe eine Anforderung zur Durchführung weiterer Analysen eingeht.
  • Bei der automatischen Analysevorrichtung der vorliegenden Erfindung wird in einem solchen Fall die Priorität der neu angeforderten Analysen geprüft. Wenn festgestellt wird, daß eine neu durchzuführende Analyse eine hohe Priorität hat und die gegenwärtig die Analyse vornehmende automatische Analysevorrichtung die Analyse nicht durchführen kann, werden die Messungen vorübergehend unterbrochen, und die Probe wird zu dem Ein-Gestell-Lade-Entladeabschnitt 320 gebracht.
  • Wenn die entladene Probe entnommen und in einer anderen automatischen Analysevorrichtung angeordnet wird, können die neu angeforderten Untersuchungen durchgeführt werden. Wenn anzunehmen ist, daß nur noch wenig Probenvolumen vorhanden ist, und die zusätzliche Untersuchung in der automatischen Analysevorrichtung erfolgen kann, die gegenwärtig die Analyse durchführt, wird der gleiche Entladeprozeß ausgeführt, damit eine zusätzliche Probenmenge hinzugegeben werden kann, und die Probe wieder geladen.
  • Bezugszeichenliste
  • 100
    Probenaufnahmeeinheit
    101
    Beladungsabschnitt
    102
    Speicherabschnitt
    103
    Beförderungseinheit für beladene Gestelle
    104
    Gestellidentifikationseinheit
    105
    Probenbehälter-Höhenfeststellungseinheit
    106
    Probenidentifikationseinheit
    107
    Probenrotationseinheit
    108
    Beförderungseinheit für gespeicherte Gestelle
    109
    Not-Proben-Beladungsabschnitt
    121
    Beladungstablett-Anordnungsabschnitt
    122
    Beladungspufferabschnitt
    123
    Beladungshebel
    131
    Speichertablett-Anordnungsabschnitt
    132
    Speicherpufferabschnitt
    133
    Speicherhebel
    200
    Gestelltransporteinheit
    201
    Zuführweg
    202
    Rückweg
    210
    Bandmechanismus
    300
    Puffereinheit
    301
    Gestell-Eingang/Ausgang-Warteabschnitt
    302
    Pufferabschnitt
    303
    Modul-Eingang/Ausgang-Warteposition
    310
    Gestelltransportabschnitt
    320
    Ein-Gestell-Lade/Entlade-Abschnitt
    321
    Identifikationsnummer-Leseabschnitt
    330
    Gestelltransfermechanismus
    340
    Gestellbeförderungsmechanismus
    350
    Gestellentlademechanismus
    400, 500
    Analysemodul
    600
    Probenentladeauswahlbildschirm
    601
    Probenentladeauswahlstatus
    602
    Entladeanweisungstaste
    603
    Probenfehlerstatus
    610
    Eingabebildschirm für Kommentar zur Entladeprobe
    611
    Eingabebereich für Kommentar zur Entladeprobe
    612
    Eingabetaste für Kommentar zur Entladeprobe
    701, 805
    Suchschritt für Entladeprobe
    702
    Anzeigeschritt für Informationen am Bildschirm
    703
    Bestimmungsschritt für Informationen am Bildschirm
    704
    Aufnahmeschritt für Kommentare
    705
    Suchschritt für entladene Gestelle
    706, 808
    Entlade-Transportschritt
    707
    Ausgabeschritt für Nachricht ”Nicht anwendbar”
    801
    Gestellerfassungsschritt
    802
    Leseschritt für Gestell-Identifikationsnummer
    803
    Bestimmungsschritt für entladenes Gestell
    804
    Leseschritt für Proben-Identifikationsnummer
    806
    Status-Aktualisierungsschritt für entladenes Gestell
    807
    Pufferabschnitt-Transportschritt
    809
    Ausgabeschritt für Nachricht ”Nicht das entladene Gestell”

Claims (6)

  1. Automatische Analysevorrichtung mit einer Analyseeinheit (400, 500) zum Analysieren von Proben, einer Transporteinheit (200) zum Befördern von Probengestellen mit Probenbehältern, die eine Anzahl von Proben enthalten, zu der Analyseeinheit (400, 500), einer Ladestation (101) zum Zuführen von Probengestellen zu der Transporteinheit (200), einer Sammelstation (102) zum Sammeln von Probengestellen von der Transporteinheit (200), und einer Puffereinheit (300) für die Probengestelle, gekennzeichnet durch eine Einzelgestell-Entladestation (320) zum Entladen von einzelnen Probengestellen ohne Benutzung der Transporteinheit (200), und eine Bildschirm-Eingabeeinheit (600602) zum Anweisen, welches Probengestell in der automatischen Analysevorrichtung an der Einzelgestell-Entladestation (320) angeordnet werden soll.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1 mit einer Einrichtung zum Aufzeichnen des Grundes für das Anordnen eines Probengestells an der Einzelgestell-Entladestation (320).
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Einzelgestell-Entladestation auch zum erneuten Laden einzelner Probengestelle ohne Benutzung der Transporteinheit (200) dient.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 3 mit einer Einrichtung zum Beurteilen, ob die gesammelte Probe eine erneut geladene Probe ist.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 4 mit einer Einrichtung zum Steuern der automatischen Analysevorrichtung derart, dass der Prozess fortgesetzt wird, wenn beurteilt wird, dass die gesammelte Probe eine erneut geladene Probe ist.
  6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei ein Probengestell zur Aufnahme mehrerer Probenbehälter ausgelegt ist.
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2423689B1 (de) * 2009-04-20 2019-01-30 Hitachi High-Technologies Corporation Automatikanalysevorrichtung
JP5715378B2 (ja) * 2010-10-28 2015-05-07 シスメックス株式会社 検体処理システム
US9810704B2 (en) * 2013-02-18 2017-11-07 Theranos, Inc. Systems and methods for multi-analysis
WO2014144759A1 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Abbott Laboratories Linear track diagnostic analyzer
WO2014144870A2 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Abbott Laboratories Light-blocking system for a diagnostic analyzer
WO2014144825A2 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Abbott Laboratories Automated reagent manager of a diagnostic analyzer system
CN104569450B (zh) * 2013-10-15 2017-02-15 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本架插入调度方法和样本架装载装置
JP6389702B2 (ja) * 2014-08-29 2018-09-12 シスメックス株式会社 搬送装置
WO2016136390A1 (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP6675226B2 (ja) * 2016-02-26 2020-04-01 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 自動分析装置
CN113917168A (zh) * 2016-04-15 2022-01-11 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本架运输装置、样本分析设备及样本分析系统
WO2018037537A1 (ja) * 2016-08-25 2018-03-01 株式会社島津製作所 自動分析システム
JP6696045B2 (ja) * 2017-03-07 2020-05-20 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
CN112285357B (zh) * 2019-07-25 2024-03-08 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析方法及样本分析系统

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03183957A (ja) * 1989-12-13 1991-08-09 Shimadzu Corp 自動分析装置
DE69117411T2 (de) * 1990-09-25 1996-07-11 Toa Medical Electronics Vorrichtung zur Analyse von Proben
JPH1090276A (ja) * 1996-09-12 1998-04-10 Hitachi Ltd 検体検査自動化システム
JP2000105246A (ja) * 1998-09-29 2000-04-11 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2003083991A (ja) * 2001-09-11 2003-03-19 Aloka Co Ltd 検体前処理装置
DE60016132T2 (de) * 1999-09-21 2005-08-04 Hitachi, Ltd. Automatische Analysevorrichtung
DE69735115T2 (de) * 1996-04-10 2006-07-13 Hitachi, Ltd. Transportverfahren für Probenträger, sowie automatische Analysevorrichtung, in welcher ein Probenträger transportiert wird
DE69837230T2 (de) * 1997-04-10 2007-12-20 Hitachi, Ltd. Automatische Analysevorrichtung

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3336894B2 (ja) * 1997-01-29 2002-10-21 株式会社日立製作所 自動分析装置
DK0902290T3 (da) * 1997-09-11 2009-02-09 Hitachi Ltd Et prövehåndteringssystem til automatiske analyseindretninger
FI116487B (fi) * 1999-11-15 2005-11-30 Thermo Electron Oy Sovitelma ja menetelmä näyteputkien käsittelemiseksi laboratoriossa
JP2002180741A (ja) 2000-12-15 2002-06-26 Kayaba Ind Co Ltd スライドドアの開閉装置
JP3931110B2 (ja) * 2002-05-29 2007-06-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP4146674B2 (ja) 2002-06-21 2008-09-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP3931150B2 (ja) * 2003-03-19 2007-06-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US7850914B2 (en) * 2004-03-05 2010-12-14 Beckman Coulter, Inc. Specimen-transport module for a multi-instrument clinical workcell
US7028831B2 (en) * 2004-03-05 2006-04-18 Beckman Coulter, Inc. Magnetic specimen-transport system for automated clinical instrument
JP2007331312A (ja) 2006-06-16 2007-12-27 Canon Inc 印刷装置、印刷制御方法、プログラム、記憶媒体
JP4336360B2 (ja) * 2006-09-20 2009-09-30 株式会社アイディエス 検体前処理搬送装置
US7681466B2 (en) * 2007-05-01 2010-03-23 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Programmable random access sample handler for use within and automated laboratory system
JP3133890U (ja) * 2007-05-16 2007-07-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ 検体処理システム
JP5049769B2 (ja) * 2007-12-25 2012-10-17 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および検体処理システム
JP5155065B2 (ja) * 2008-07-09 2013-02-27 シスメックス株式会社 試料分析装置、試料の分析結果画面表示方法、及びコンピュータプログラム

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03183957A (ja) * 1989-12-13 1991-08-09 Shimadzu Corp 自動分析装置
DE69117411T2 (de) * 1990-09-25 1996-07-11 Toa Medical Electronics Vorrichtung zur Analyse von Proben
DE69735115T2 (de) * 1996-04-10 2006-07-13 Hitachi, Ltd. Transportverfahren für Probenträger, sowie automatische Analysevorrichtung, in welcher ein Probenträger transportiert wird
JPH1090276A (ja) * 1996-09-12 1998-04-10 Hitachi Ltd 検体検査自動化システム
DE69837230T2 (de) * 1997-04-10 2007-12-20 Hitachi, Ltd. Automatische Analysevorrichtung
JP2000105246A (ja) * 1998-09-29 2000-04-11 Hitachi Ltd 自動分析装置
DE60016132T2 (de) * 1999-09-21 2005-08-04 Hitachi, Ltd. Automatische Analysevorrichtung
JP2003083991A (ja) * 2001-09-11 2003-03-19 Aloka Co Ltd 検体前処理装置

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Publication number Publication date
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US9063104B2 (en) 2015-06-23
JP2010151569A (ja) 2010-07-08
WO2010073502A1 (ja) 2010-07-01
DE112009003793T5 (de) 2012-06-14
US20110256022A1 (en) 2011-10-20

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