DE112007001812T5 - Verfahren und Vorrichtungen zur in-situ-Analyse von Gasen in Elektronikvorrichtungsfabrikationssystemen - Google Patents

Verfahren und Vorrichtungen zur in-situ-Analyse von Gasen in Elektronikvorrichtungsfabrikationssystemen Download PDF

Info

Publication number
DE112007001812T5
DE112007001812T5 DE200711001812 DE112007001812T DE112007001812T5 DE 112007001812 T5 DE112007001812 T5 DE 112007001812T5 DE 200711001812 DE200711001812 DE 200711001812 DE 112007001812 T DE112007001812 T DE 112007001812T DE 112007001812 T5 DE112007001812 T5 DE 112007001812T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
sample gas
gas
chamber
control unit
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE200711001812
Other languages
English (en)
Inventor
David K. San Jose Carlson
Satheesh San Jose Kuppurao
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Applied Materials Inc
Original Assignee
Applied Materials Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Applied Materials Inc filed Critical Applied Materials Inc
Publication of DE112007001812T5 publication Critical patent/DE112007001812T5/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0011Sample conditioning
    • G01N33/0016Sample conditioning by regulating a physical variable, e.g. pressure, temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N7/00Analysing materials by measuring the pressure or volume of a gas or vapour
    • G01N7/14Analysing materials by measuring the pressure or volume of a gas or vapour by allowing the material to emit a gas or vapour, e.g. water vapour, and measuring a pressure or volume difference
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/38Diluting, dispersing or mixing samples
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T137/00Fluid handling
    • Y10T137/8593Systems
    • Y10T137/85978With pump

Abstract

Die beanspruchte Erfindung ist:
Verfahren zum Testen eines Probengases, umfassend:
Einstellen eines Druckniveaus eines Probengases; und
Bestimmen einer Zusammensetzung des eingestellten Probengases.

Description

  • Die vorliegende Erfindung beansprucht die Priorität der US Provisional Patentanmeldung Seriennummer 60/820,958, eingereicht am 31. Juli 2006, mit dem Titel „Methods and apparatus for insitu analysis of gases in electronic device fabrication system" (Anwalts-Docket Nr. 10330/L), die hierdurch hier enthalten ist durch Bezugnahme in ihrer Gesamtheit für alle Zwecke.
  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich allgemein auf Elektronikvorrichtungsfabrikationsverfahren und -systeme, und befasst sich spezieller mit einer in-situ-Spektrografieanalyse von Gasen in derartigen Systemen.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Elektronikvorrichtungsfabrikationsverfahren und -systeme beinhalten typischerweise die Verwendung verschiedener Prozessgase und die Erzeugung einer Anzahl von Nebenprodukten. Um die Prozesse besser zu verstehen und die Prozesse genauer zu überwachen, kann eine Probe der Prozessgase genommen werden. Jedoch kann eine derartige Probe nur eine begrenzte Information über einen Gesamtprozess widerspiegeln. Daher werden Verfahren und Vorrichtungen benötigt, die eine vollständigere und detailliertere Information über Prozessgase liefern.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • In einigen Aspekten der Erfindung wird ein Verfahren bereitgestellt, das umfasst Einstellen eines Druckniveaus eines Probengases; und Bestimmen einer Zusammensetzung des eingestellten Probengases.
  • In anderen Aspekten der Erfindung wird eine Vorrichtung zum Testen eines Probengases bereitgestellt, die umfasst eine Kammer, die angepasst ist, um ein zu testendes Gas zu enthalten; ein Anschlussteil, das an die Kammer gekoppelt ist und angepasst ist, um ein Probengas an die Kammer zu liefern; und eine Steuerungseinheit, die angepasst ist, um ein Druckniveau des Probengases in der Kammer einzustellen.
  • In noch anderen Aspekten der Erfindung wird ein System zum Testen eines Probengases bereitgestellt, das umfasst ein Verarbeitungswerkzeug mit einer Mehrzahl von isolierbaren Räumen, die zu testende Gase enthalten; eine Kammer, die angepasst ist, um ein zu testendes Probengas zu enthalten; ein Anschlussteil zum selektiven Koppeln der Kammer an die Mehrzahl von Räumen; und eine Steuerungseinheit, die angepasst ist, um ein Druckniveau des Probengases in der Kammer einzustellen.
  • Andere Merkmale und Aspekte der vorliegenden Erfindung werden deutlicher aus der folgenden detaillierten Beschreibung beispielhafter Ausführungsformen, den angehängten Ansprüchen und den beigefügten Zeichnungen.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 ist ein schematisches Blockdiagramm, das eine Beispielausführungsform gemäß einiger Aspekte der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 2 ist ein Ablaufdiagramm, dass eine Beispielverfahrensausführungsform darstellt, die mit der Beispielvorrichtung der 1 assoziiert ist, gemäß einiger Aspekte der vorliegenden Erfindung.
  • 3 ist ein schematisches Blockdiagramm, das eine zweite Beispielausführungsform gemäß einiger Aspekte der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 4A und 4B sind zusammen ein Ablaufdiagramm, das eine Beispielverfahrensausführungsform darstellt, die mit der Beispielvorrichtung der 3 assoziiert ist, gemäß einiger Aspekte der vorliegenden Erfindung.
  • 5 ist ein schematisches Blockdiagramm, das eine dritte Beispielausführungsform gemäß einiger Aspekte der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 6A und 6B sind zusammen ein Ablaufdiagramm, das eine Beispielverfahrensausführungsform darstellt, die mit der Beispielvorrichtung der 5 assoziiert ist, gemäß einiger Aspekte der vorliegenden Erfindung.
  • Detaillierte Beschreibung
  • Die vorliegende Erfindung stellt Systeme und Verfahren zum Ausführen einer Analyse (z. B. Infrarot(IR)-Spektroskopie) von Gasen bereit, die in Elektronikvorrichtungsfabrikationsverfahren und -systemen verwendet oder erzeugt werden. Die Verfahren und Vorrichtungen der vorliegenden Erfindung vereinfachen die Analyse von Gasproben, die von mehreren Stellen innerhalb eines Elektronikvorrichtungsfabrikationssystems genommen werden. Ferner stellt die vorliegende Erfindung Verfahren des Integrierens von einer oder mehreren Gaszusammensetzungsmessvorrichtungen in ein Elektronikvorrichtungsfabrikationssystem bereit. Zum Beispiel kann gemäß einiger Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ein IR-Spektrophotometer an einer Anzahl von Kammern und Load-Locks eines Elektronikvorrichtungsfabrikationssystems über ein Niedrigdruckübergangsstück gekoppelt werden, das betriebsfähig ist, um den Fluss verschiedener Gasproben an eine Probenzelle des IR-Spektrophotometers getrennt zu leiten. Weil eine IR-Spektroskopie nur bei höheren Drücken genau sein kann (z. B. > 100 Torr) und die Prozessgase bei niedrigeren Drücken (z. B. < 100 Torr) innerhalb der Probenstellen vorliegen können, stellt die vorliegende Erfindung weiter bereit Verfahren und Vorrichtungen zum unter Druck setzen der Probengase auf innerhalb eines geeigneten Bereiches und in einer gesteuerten Weise derart, dass die Zusammensetzung und Konzentrationen der Bestandteile der Probengase genau bestimmt werden kann.
  • Die vorliegende Erfindung kann nützlich sein für eine Anzahl verschiedener Zwecke. Während der Herstellung einer Elektronikvorrichtung (z. B. einer Halbleitervorrichtung), werden verschiedene Prozesse ausgeführt, die Räume kontaminieren können (z. B. Prozesskammern, Transferkammern, Load-Locks, Fabrik-Interface, Reinraum, etc.), in denen eine Verarbeitung ausgeführt wird oder durch die hergestellte Artikel geführt werden. Zum Beispiel können Abscheidungsspezien, Abscheidungsnebenprodukte, Ätzmittel, Prozessgase, etc, die Räume kontaminieren. Demgemäß kann die vorliegende Erfindung in einigen Ausführungsformen eingesetzt werden, um ein Kontaminationsniveau innerhalb eines Raumes zu bestimmen. Ferner kann, falls ein Prozess nicht wie erwartet arbeitet, die vorliegende Erfindung eingesetzt werden, um Bestimmen zu helfen, was tatsächlich während des Prozesses passierte, derart, dass der Prozess korrigiert oder verbessert werden kann. Zusätzlich können viele Abfallvermeidungsprozesse (z. B. Verfahren zum Verarbeiten oder Neutralisieren toxischer Nebenprodukte) verbessert oder optimiert werden mit einer genaueren Information im Hinblick auf die Zusammensetzung der Abfallgase. So kann die vorliegende Erfindung eingesetzt werden, um die Zusammensetzung der Abfallgase zu bestimmen, um Vermeidungsprozesse zu verbessern. Die vorliegende Erfindung kann viele andere Anwendungen als die oben aufgelisteten Beispiele besitzen.
  • Es wird auf 1 Bezug genommen, eine schematische Ansicht eines Systems 100, das zum Analysieren eines Probengases (z. B. Abgas) von einem Raum (z. B. Prozesskammer, Load-Lock, Transferkammer, etc) gemäß einer beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung verwendet werden kann, ist dargestellt. In einigen Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung kann das Probengas analysiert werden, um ein Kontaminationsniveau innerhalb des Raums zu bestimmen. Das System 100 kann umfassen ein Anschlussteil 102 (z. B. ein Niedrigdruckübergangsstück, das eine Mehrzahl von normalerweise geschlossenen Ventilen und ein Ein-Weg-Prüfventil umfasst), das betriebsfähig ist, um selektiv, strömungstechnisch eine Probenzelle innerhalb einer Messvorrichtung 104 (z. B. ein IR-Spektrophotometer) an verschiedene Räume zu koppeln, wie beispielsweise eine oder mehrere Prozesskammern 106, ein oder mehrere Load-Locks 108, eine oder mehrere Transferkammern 110 (nur eine gezeigt), oder dergleichen. Jeder der Räume kann einen assoziierten Anschluss (z. B. ein Ventil) 112 bis 122 als Teil des Anschlussteils 102 umfassen. In einigen Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung kann das Anschlussteil 102 selektiv, strömungstechnisch mit einer beliebigen Anzahl von Räumen gekoppelt sein. Das System 100 kann auch umfassen eine Versorgung 124 (z. B. inertes Referenzgas, wie N2) und einen Reiniger 126 in Fluidkommunikation mit der Probenzelle der Messvorrichtung 104. Das System 100 kann auch umfassen eine Drucküberwachungsvorrichtung 128 (z. B. ein Transducer), eine Vakuumquelle 130, eine Spülversorgung 132 und eine einstellbare Öffnung 134 (z. B. ein variables Flussventil), das betreibbar mit einem Auslass der Probenzelle der Messvorrichtung 104 gekoppelt ist.
  • Die verschiedenen Komponenten können jeweils betriebsfähig (z. B. elektrisch) an eine Steuerungseinheit 136 gekoppelt sein und unter deren Steuerung betrieben werden. Obwohl diese Kopplungen aus Klarheitsgründen nicht abgebildet sind, sind die Verbindungen zwischen der Steuerung 136 und der Drucküberwachungsvorrichtung 128 und der Steuerung und der einstellbaren Öffnung 134 gezeigt. Wie unten detaillierter erklärt werden wird, ist die Druck überwachungsvorrichtung 128 betreibbar, um eine Gasdruckinformation (z. B. ein Feedback) innerhalb der Probenzelle der Messvorrichtung 104 an die Steuerungseinheit 136 zu liefern. Die Steuerungseinheit ist betreibbar, um die einstellbare Öffnung 134 einzustellen, um den Druck innerhalb der Probenzelle der Messvorrichtung 104 zu regeln.
  • Nun zu 2, ein Beispielverfahren 200 der vorliegenden Erfindung ist abgebildet. In Schritt 202 kann die Probenzelle der Messvorrichtung 104 durch selektives Koppeln (z. B. Öffnen eines Ventils) der Vakuumquelle 130 an die Probenzelle der Messvorrichtung 104 evakuiert werden. In einigen Ausführungsformen kann die Probenzelle der Messvorrichtung 104 mit inertem Gas (z. B. N2) vor dem Evakuierungsschritt gespült werden. In anderen Worten, die Probenzelle der Messvorrichtung 104 kann durch selektives Koppeln (z. B. Öffnen eines Ventils) der Spülversorgung 132 mit der Probenzelle der Messvorrichtung 104 vor dem Evakuierungsschritt 202 gespült werden. In Schritt 204 kann die Steuerungseinheit einen Raum 106, 108, 110 auswählen, aus dem eine Gasprobe entnommen werden soll. In Schritt 206 kann das Anschlussteil 102 betrieben werden, um zu verursachen, dass das ausgewählt Gas zu der Probenzelle der Messvorrichtung 104 fließt. Das ausgewählte Probengas kann aus eigenem Antrieb bei einem niedrigen Druck (z. B. < 100 Torr) fließen und/oder das ausgewählte Probengas kann durch die Vakuumquelle 130 gesaugt werden. Sobald die Probenzelle mit dem ausgewählten Probengas bei dem niedrigen Druckniveau, das durch die Drucküberwachungsvorrichtung 128 angezeigt ist, gefüllt ist, kann die Probenzelle im Schritt 208 durch Abschließen der Einlass- und Auslassventile der Probenzelle isoliert werden. In Schritt 210 kann die Zusammensetzung und der Druck des Gases in der Probenzelle gemessen und aufgezeichnet werden.
  • In Schritt 212 wird unter Druck stehendes inertes Referenzgas von der Versorgung 124 zur Probenzelle gegeben, um den Druck in der Probenzelle auf einen Bereich anzuheben, der für eine genaue Messung der Gaszusammensetzung geeignet ist, zum Beispiel unter Verwenden eines IR-Spektrophotometers. Die variable Öffnung 134, unter der Steuerung der Steuerungseinheit 136, wird verwendet, um den Druck innerhalb der Probenzelle zu regeln. Sobald der erwünschte Druckbereich (z. B. > 100 Torr) erreicht ist, wie der Steuerungseinheit 136 durch den Druckmonitor 128 angezeigt wird, wird im Schritt 214 die Probenzelle wieder isoliert (z. B. die Einlass- und Auslassventile werden geschlossen). In Schritt 216 werden die Zusammensetzung und der Druck der Kombination des Probengases und des Referenzgases in der Probenzelle gemessen. In Schritt 218 wird die aktuelle Zusammensetzung des Probengases berechnet, basierend auf den gemessenen Werten, die in den Schritten 210 und 216 bestimmt worden sind (z. B. die Zusammensetzung des Probengases allein wird bestimmt durch Ausgleichen des zugegebenen Referenzgases). In Schritt 220 bestimmt die Steuerungseinheit 136, ob es zusätzliche Probengase zu analysieren gibt. Falls ja, wandert die Steuerung zurück zu Schritt 202, bei dem das Verfahren 200 für die verbleibenden Probengase wiederholt wird. Falls Probengas von jedem der Räume 106, 108, 110 analysiert worden ist, endet das Verfahren 200 nach dem Schritt 220.
  • Nun zu 3, 4A und 4B, eine alternative Ausführungsform eines Systems 300 und eines Verfahrens 400 gemäß einiger Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ist abgebildet. In dem System 300 der 3 wird eine Boosterpumpe 302, die zwischen dem Anschlussteil 102 und der Probenzelle der Messvorrichtung 104 gekoppelt ist, verwendet, um das ausgewählte Probengas unter Druck zu setzen (z. B. an Stelle der Versorgung des unter Druck stehenden inerten Referenzgases, die im System 100 verwendet wird, das in 1 abgebildet ist). Wie mit der Ausführungsform der 1 wird die variable Öffnung 134 unter der Steuerung der Steuerungseinheit 136 verwendet, um den Druck innerhalb der Probenzelle zu regeln. Sobald der erwünschte Druckbereich (z. B. > 100 Torr) erreicht ist, wie der Steuerungseinheit 136 durch den Druckmonitor 128 angezeigt wird, wird die Probenzelle isoliert (z. B. die Einlass- und Auslassventile werden geschlossen). So wird in dem Verfahren 400 und System 300 der 4 beziehungsweise 3 ein Feedback vom Druckmonitor 128 verwendet, um die variable Öffnung 134 zu steuern.
  • Im Schritt 402 des Beispielverfahrens 400 wird eine Probenzelle (z. B. eine Probenkammer des Spektrophotometers 104) evakuiert. In Schritt 404 wählt eine Steuerungseinheit 136 (oder ein Nutzer) einen nächsten Raum aus, dessen Gas zu testen ist. In Schritt 406 wird ein Übergangsstück (z. B. ein Anschlussteil 102 (3)) verwendet, um das Probengas vom ausgewählten Raum durch die Boosterpumpe 302 zur Probenzelle fließen zu lassen. Eine variable Öffnung 134 wird verwendet, um niedrigen Druck beizubehalten (z. B. ein Druck bezogen auf oder gleich dem Druck im zu testenden Raum). In Schritt 408 werden die Zusammensetzung und der Druck des Probengases in der Probenzelle gemessen. In Schritt 410 wird, basierend auf dem Feedback von einem Druckmonitor, die variable Öffnung eingestellt (während die Boosterpumpe fortdauernd bei einer festen Geschwindigkeit arbeitet), um den Probengasdruck in der Probenkammer einzustellen (z. B. zu erhöhen). Im Schritt 412 wird der Druck in der Probenkammer überwacht. In Schritt 414 wird eine Bestimmung durchgeführt, ob der Druck ein Niveau erreicht hat, das für die genaue Bestimmung der Probengaszusammensetzung geeignet ist. Falls nicht, geht der Ablauf weiter zurück zu Schritt 410. Falls dies geschehen ist, wird in Schritt 416 die Probenzelle isoliert (z. B. der Einlass und der Auslass (z. B. die variable Öffnung) werden geschlossen) und die Boosterpumpe wird heruntergefahren. In Schritt 418 werden die Zusammensetzung und der Druck des Probengases wieder in der Probenzelle gemessen. In Schritt 420 wird eine Bestimmung durchgeführt, ob es zusätzliche Räume mit zu analysierendem Gas gibt. Falls ja, geht der Ablauf zurück zu Schritt 402. Andernfalls endet das Verfahren 400.
  • Nun zu 5, 6A und 6B, eine alternative Ausführungsform eines Systems 500 und eines Verfahrens 600 gemäß einiger Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ist abgebildet. Im System 500 der 5 wird eine einstellbare Boosterpumpe 502, die zwischen dem Anschlussteil 102 und der Probenzelle der Messvorrichtung 104 gekoppelt ist, verwendet, um das ausgewählte Probengas unter Druck zu setzen (z. B. an Stelle der Versorgung des unter Druck stehenden inerten Referenzgases im System 100, das in 1 dargestellt ist, oder der Boosterpumpe 302 und der variablen Öffnung 134 des Systems 300, das in 3 dargestellt ist). Die einstellbare Boosterpumpe 502, unter der Steuerung der Steuerungseinheit 136, wird verwendet, um den erwünschten Druck innerhalb der Probenzelle zu regulieren. Sobald der erwünschte Druckbereich (z. B. > 100 Torr) erreicht ist, wie der Steuerungseinheit 136 durch den Druckmonitor 128 an angezeigt wird, wird die Probenzelle isoliert (z. B. die Einlass- und Auslassventile werden geschlossen). So wird in dem Verfahren 600 und dem System 500 der 6A und 6B beziehungsweise 5 ein Feedback von dem Druckmonitor 128 verwendet, um die einstellbare Boosterpumpe 502 zu steuern.
  • Im Schritt 602 des Beispielverfahrens 600 wird eine Probenzelle (z. B. eine Probenkammer des Spektrophotometers 104) evakuiert. Im Schritt 604 wählt eine Steuerungseinheit 136 (oder ein Nutzer) einen nächsten Raum aus, dessen Gas zu testen ist. In Schritt 606 wird ein Übergangsstück (z. B. ein Anschlussteil 102 (5)) verwendet, um das Probengas vom ausgewählten Raum durch eine Boosterpumpe 502 mit variabler Geschwindigkeit (z. B. einstellbar) zur Probenzelle fließen zu lassen. Eine Boosterpumpe 502 mit variabler Geschwindigkeit (z. B. einstellbar) wird verwendet, um den niedrigen Druck beizubehalten (z. B. einen Druck, der bezogen ist oder gleich ist zum Druck im zu testenden Raum). In Schritt 608 wird die Probenzelle isoliert, beispielsweise durch Schließen der Einlässe und Auslässe. In Schritt 610 wird die Zusammensetzung und der Druck des Probengases in der Probenzelle gemessen. In Schritt 612 wird, basierend auf einem Feedback von einem Druckmonitor 128 beispielsweise, der Betrieb der Boosterpumpe mit variabler Geschwindigkeit eingestellt, um den Probengasdruck in der Probenkammer einzustellen (z. B. zu erhöhen). In Schritt 614 wird der Druck in der Probenkammer überwacht. In Schritt 616 wird eine Bestimmung ausgeführt, ob der Druck ein Niveau erreich hat, das für eine genaue Bestimmung der Probengaszusammensetzung geeignet ist. Falls nicht, geht der Ablauf weiter zurück zu Schritt 612. Falls ja, wird in Schritt 618 die Probenzelle isoliert (z. B. der Einlass und der Auslass werden geschlossen) und die Boosterpumpe wird runter gefahren. Im Schritt 620 werden die Zusammensetzung und der Druck des Probengases wieder in der Probenzelle gemessen. In Schritt 622 wird eine Bestimmung ausgeführt, ob es zusätzliche Räume mit zu analysierendem Gas gibt. Falls ja, kehrt der Ablauf zurück zu 602. Andernfalls endet das Verfahren 600.
  • Die vorstehende Beschreibung offenbart nur bestimmte Ausführungsformen der Erfindung; Modifikationen der oben offenbarten Verfahren und Vorrichtungen, die in den Umfang der Erfindung fallen, werden jenen Fachleuten leicht ersichtlich sein.
  • Demgemäß sollte, während die vorliegende Erfindung in Zusammenhang mit speziellen Ausführungen davon offenbart worden ist, verstanden werden, dass andere Ausführungsformen in den Sinn und den Umfang der Erfindung fallen können, wie definiert durch die folgenden Ansprüche.
  • ZUSAMMENFASSUNG
  • Systeme und Verfahren werden offenbart, die umfassen Einstellen eines Druckniveaus eines Probengases in einer Testkammer, zum Beispiel unter Verwenden eines unter Druck stehenden inerten Referenzgases, und Bestimmen einer Zusammensetzung des eingestellten Probengases. Durch Einstellen des Druckniveaus des Probengases kann die Zusammensetzung des Probengases genauer als sonst möglich bestimmt werden. Zahlreiche andere Aspekte werden offenbart.

Claims (21)

  1. Die beanspruchte Erfindung ist: Verfahren zum Testen eines Probengases, umfassend: Einstellen eines Druckniveaus eines Probengases; und Bestimmen einer Zusammensetzung des eingestellten Probengases.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Einstellen des Druckniveaus umfasst Vergrößern des Druckniveaus auf ein Niveau, bei dem die Zusammensetzung des Probengases bestimmt werden kann.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Einstellen des Druckniveaus umfasst Zugeben eines unter Druck stehenden inerten Gases zu dem Probengas in einer geschlossenen Kammer.
  4. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Einstellen des Druckniveaus umfasst Zugeben eines unter Druck stehenden inerten Gases zu dem Probengas in einer Kammer mit einer variablen Auslassöffnung.
  5. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Einstellen des Gasniveaus umfasst Zugeben eines zusätzlichen Probengases zum Probengas in einer Kammer mit einer variablen Auslassöffnung.
  6. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Einstellen des Druckniveaus umfasst Zugeben eines zusätzlichen Probengases zum Probengas in einer geschlossenen Kammer.
  7. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Einstellen des Druckniveaus umfasst Steuern einer variablen Auslassöffnung.
  8. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Einstellen des Druckniveaus umfasst Steuern einer Boosterpumpe und einer variablen Auslassöffnung.
  9. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Einstellen des Druckniveaus umfasst Steuern einer variablen Boosterpumpe, die ein zusätzliches Probengas liefert.
  10. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Bestimmen einer Zusammensetzung des eingestellten Probengases umfasst Messen einer Zusammensetzung des Probengases bevor und nachdem das Druckniveau des Probengases eingestellt wird.
  11. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Bestimmen einer Zusammensetzung des eingestellten Probengases umfasst Berechnen einer Zusammensetzung des Probengases und eines Referenzgases, das zu dem Probengas gegeben ist, um das Druckniveau des Probengases einzustellen.
  12. Vorrichtung zum Testen eines Probengases, umfassend: eine Kammer, die angepasst ist, um ein zu testendes Gas zu enthalten; ein Anschlussteil, das an die Kammer gekoppelt ist und angepasst ist, um ein Probengas an die Kammer zu liefern; und eine Steuerungseinheit, die angepasst ist, um ein Druckniveau des Probengases in der Kammer einzustellen.
  13. Vorrichtung nach Anspruch 12, wobei die Steuerungseinheit eine Versorgung mit einem unter Druck stehenden inerten Gas umfasst.
  14. Vorrichtung nach Anspruch 12, wobei die Steuerungseinheit eine variable Auslassöffnung umfasst.
  15. Vorrichtung nach Anspruch 12, wobei die Steuerungseinheit eine Boosterpumpe umfasst.
  16. Vorrichtung nach Anspruch 12, wobei die Steuerungseinheit eine einstellbare Boosterpumpe umfasst.
  17. Ein System zum Testen eines Probengases, umfassend: ein Verarbeitungswerkzeug mit einer Mehrzahl von isolierbaren Räumen, die zu testende Gase enthalten; eine Kammer, die angepasst ist, um ein zu testendes Probengas zu enthalten; ein Anschlussteil zum selektiven Koppeln der Kammer an die Mehrzahl von Räumen; und eine Steuerungseinheit, die angepasst ist, um ein Druckniveaus des Probengases in der Kammer einzustellen.
  18. System nach Anspruch 17, wobei die Steuerungseinheit eine Versorgung mit einem unter Druck stehenden inerten Gas umfasst.
  19. System nach Anspruch 17, wobei die Steuerungseinheit eine variable Auslassöffnung umfasst.
  20. System nach Anspruch 17, wobei die Steuerungseinheit eine Boosterpumpe umfasst.
  21. System nach Anspruch 17, wobei die Steuerungseinheit eine einstellbare Boosterpumpe umfasst.
DE200711001812 2006-07-31 2007-07-30 Verfahren und Vorrichtungen zur in-situ-Analyse von Gasen in Elektronikvorrichtungsfabrikationssystemen Withdrawn DE112007001812T5 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US82095806P 2006-07-31 2006-07-31
US60/820,958 2006-07-31
PCT/US2007/017038 WO2008016569A2 (en) 2006-07-31 2007-07-30 Methods and apparatus for insitu analysis of gases in electronic device fabrication systems

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE112007001812T5 true DE112007001812T5 (de) 2009-06-04

Family

ID=38997660

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200711001812 Withdrawn DE112007001812T5 (de) 2006-07-31 2007-07-30 Verfahren und Vorrichtungen zur in-situ-Analyse von Gasen in Elektronikvorrichtungsfabrikationssystemen

Country Status (7)

Country Link
US (3) US7770431B2 (de)
JP (2) JP5323699B2 (de)
KR (1) KR101143080B1 (de)
CN (1) CN101495849B (de)
DE (1) DE112007001812T5 (de)
TW (1) TWI372867B (de)
WO (1) WO2008016569A2 (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008016569A2 (en) 2006-07-31 2008-02-07 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for insitu analysis of gases in electronic device fabrication systems
JP5562539B2 (ja) * 2008-08-21 2014-07-30 矢崎総業株式会社 濃度測定装置
US8272248B2 (en) * 2010-04-09 2012-09-25 Guenther Mark T Emissions test system and method
CN106896080A (zh) * 2015-12-18 2017-06-27 有研国晶辉新材料有限公司 一种适用于高纯光纤用原材料的红外光谱在线取样检测系统及检测方法

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3930756A (en) * 1974-01-14 1976-01-06 Cat Pumps Corporation Metering pulse pump
US4112736A (en) * 1977-01-17 1978-09-12 The Distillers Company (Carbon Dioxide) Ltd. Gas detector
JPS6182142A (ja) * 1984-06-12 1986-04-25 ザ・シコネクス・コ−ポレ−シヨン ガス流中におけるガスの濃度測定装置
US4633083A (en) * 1985-04-08 1986-12-30 Washington State University Research Foundation, Inc. Chemical analysis by time dispersive ion spectrometry
DE59300480D1 (de) * 1992-07-09 1995-09-21 Elpatronic Ag Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Flaschen auf Verunreinigungen.
KR100186272B1 (ko) 1994-03-25 1999-05-15 츠찌야 히로오 가스의 적외선 분광 분석방법 및 이것에 사용되는 장치
FR2733319B1 (fr) * 1995-04-21 1997-05-23 Air Liquide Procede et dispositif d'analyse de traces d'impuretes dans un echantillon de gaz au moyen d'une diode laser
US5552600A (en) * 1995-06-07 1996-09-03 Barringer Research Limited Pressure stabilized ion mobility spectrometer
JPH09178656A (ja) * 1995-12-26 1997-07-11 Shimadzu Corp 赤外線ガス分析計
US5880850A (en) 1996-04-18 1999-03-09 American Air Liquide Inc Method and system for sensitive detection of molecular species in a vacuum by harmonic detection spectroscopy
DK173073B1 (da) * 1996-11-01 1999-12-20 Foss Electric As Fremgangsmåde og flowsystem til spektrometri og en kuvette til flowsystemet
JPH10281988A (ja) 1997-04-09 1998-10-23 Nippon Sanso Kk ガス分析方法及びガス分析装置
GB2324906B (en) 1997-04-29 2002-01-09 Masslab Ltd Ion source for a mass analyser and method of providing a source of ions for analysis
US6076392A (en) 1997-08-18 2000-06-20 Metasensors, Inc. Method and apparatus for real time gas analysis
JP3459564B2 (ja) * 1998-03-11 2003-10-20 日本酸素株式会社 ガスの分光分析装置および分光分析方法
JP3929185B2 (ja) * 1998-05-20 2007-06-13 株式会社荏原製作所 真空排気装置及び方法
JPH11350147A (ja) * 1998-06-03 1999-12-21 Canon Inc 堆積膜形成方法及び装置
JP2000009639A (ja) * 1998-06-23 2000-01-14 Horiba Ltd 赤外線ガス分析装置
JP3137953B2 (ja) * 1999-03-30 2001-02-26 科学技術振興事業団 エレクトロスプレー質量分析方法及びその装置
US6351983B1 (en) * 1999-04-12 2002-03-05 The Regents Of The University Of California Portable gas chromatograph mass spectrometer for on-site chemical analyses
US6952945B2 (en) * 2000-01-25 2005-10-11 The State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education On Behalf Of Portland State University Method and apparatus for concentrating samples for analysis
US6865926B2 (en) * 2000-01-25 2005-03-15 State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education On Behalf Of Portland State University Method and apparatus for sample analysis
US6604051B1 (en) * 2000-04-17 2003-08-05 Southwest Research Institute System and method to determine thermophysical properties of a multi-component gas
JP2002323442A (ja) * 2001-04-25 2002-11-08 Jasco Corp ガスセル
US7102132B2 (en) * 2002-03-20 2006-09-05 Tokyo Electron Limited Process monitoring using infrared optical diagnostics
SE524900C2 (sv) * 2002-07-22 2004-10-19 Senseair Ab Gasanalyserande arrangemang
JP2004184409A (ja) * 2002-11-20 2004-07-02 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造装置及びガス濃度分析方法
JP3744903B2 (ja) * 2003-01-20 2006-02-15 セイコーエプソン株式会社 赤外吸収測定方法および赤外吸収測定装置、ならびに半導体装置の製造方法
JP3705270B2 (ja) * 2003-01-20 2005-10-12 セイコーエプソン株式会社 赤外吸収測定方法および赤外吸収測定装置、ならびに半導体装置の製造方法
JP2004359496A (ja) * 2003-06-04 2004-12-24 Toyota Central Res & Dev Lab Inc リチウム化合物合成装置およびリチウム化合物の合成方法
US7629177B2 (en) 2004-01-21 2009-12-08 Siemens Industry, Inc. Method and apparatus for introduction of high boiling point streams at low temperature
KR20060042741A (ko) * 2004-11-10 2006-05-15 삼성전자주식회사 상압 공정에 이용되는 가스 반응 분석 장치를 위한 샘플가스 공급 시스템
WO2008016569A2 (en) 2006-07-31 2008-02-07 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for insitu analysis of gases in electronic device fabrication systems

Also Published As

Publication number Publication date
TW200821580A (en) 2008-05-16
US20120006092A1 (en) 2012-01-12
US7770431B2 (en) 2010-08-10
TWI372867B (en) 2012-09-21
WO2008016569A3 (en) 2008-03-27
US20100275674A1 (en) 2010-11-04
US8020427B2 (en) 2011-09-20
CN101495849B (zh) 2013-01-30
KR101143080B1 (ko) 2012-05-08
WO2008016569A2 (en) 2008-02-07
JP2009545744A (ja) 2009-12-24
CN101495849A (zh) 2009-07-29
JP5954739B2 (ja) 2016-07-20
JP5323699B2 (ja) 2013-10-23
US8813538B2 (en) 2014-08-26
JP2013174597A (ja) 2013-09-05
US20080022751A1 (en) 2008-01-31
KR20090046850A (ko) 2009-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60223903T2 (de) Produktleckprüfung
EP1470417B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur kalibrierung eines feuchtesensors sowie sensoranordnung mit einem kalibrierbaren feuchtesensor
EP2005135B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur leckprüfung
DE112007001812T5 (de) Verfahren und Vorrichtungen zur in-situ-Analyse von Gasen in Elektronikvorrichtungsfabrikationssystemen
EP1205741B1 (de) Leckdetektorpumpe mit Ventilkörpern im Gehäuse
DE102012008274A1 (de) Gasbeaufschlagungs-Vorrichtung für Gasmessgeräte, Verfahren zum Prüfen von Gas-Messgeräten sowie Kalibrierungsmessgerät zum Prüfen und Kalibrieren von Gasmessgeräten
DE102005000831A1 (de) Kontaminations-Überwachungsvorrichtung, Kontaminations-Managementsystem und darauf bezogene Verfahren
DE4339589C1 (de) Verfahren und Einrichtung zum Prüfen von Filterelementen durch einen Wasserintrusionstest
DE19513199A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Dichtigkeitsprüfung von Gehäusen
EP3728690A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur gewinnung von informationen über in einem cvd-verfahren abgeschiedene schichten
EP2917714A1 (de) Lecktestgerät
DE102006059030A1 (de) Leckageprüfung in einem Brennstoffzellensystem
EP1000629A1 (de) Sterilisator mit einem Messwertaufnehmer und Verfahren zur Überwachung des Messwertaufnehmers
DE10316332B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Dichtheitsprüfung
DE102005060743B4 (de) Vorrichtung zur Bestimmung der Dichtigkeit eines Bauwerks
EP1709423A1 (de) Vorrichtung zur pr fung mindestens eines qualit tsparam eters eines fluids
DE102012218754B4 (de) Verfahren zum Betrieb einer Reinigungsmaschine
DE10340511B3 (de) Verfahren zur Kontrolle von Batch-Anlagen
CH684863B5 (de) Verfahren und Einrichtung zur Prüfung der Wasserdichtigkeit von Gehäusen.
DE102020207524B3 (de) Verfahren zum Prüfen der Dichtigkeit mindestens eines Kanals
DE102012104022A1 (de) Verfahren zum Überprüfen einer Dichtigkeitsmessung und Leckmessgerät mit einem Lecksimulator
WO2007025672A1 (de) Vorrichtung zur kalibrierung eines feuchtesensors sowie sensoranordnung mit einem kalibrierbaren feuchtesensor
Healy et al. Mathematical modelling of test limits and guardbands
DE10021317A1 (de) Verfahren und Druckprüfgerät zur Dichtheitsprüfung eines Prüflings
WO2016116257A1 (de) Verfahren zum nachweis von helicobacter pylori

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee