DE102005000831A1 - Kontaminations-Überwachungsvorrichtung, Kontaminations-Managementsystem und darauf bezogene Verfahren - Google Patents

Kontaminations-Überwachungsvorrichtung, Kontaminations-Managementsystem und darauf bezogene Verfahren Download PDF

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Abstract

Eine Kontaminations-Überwachungsvorrichtung enthält mindestens zwei Leitungen, die durch einen Verbindungsabschnitt verbunden sind und durch die ein Arbeits-Fluid hindurch strömt, sowie eine Abdeckung, die zum Umschließen des Verbindungsabschnitts und zum Vorsehen einer umschlossenen Kavität zwischen der Abdeckung und dem Verbindungsabschnitt aufgebaut ist. Ein Einlaßanschluß ist mit der Abdeckung verbunden und so aufgebaut, daß der Kavität ein Gas zugeführt werden kann. Ein Auslaßanschluß ist mit der Abdeckung verbunden und so aufgebaut, daß das Gas und ein Kontaminationsstoff aus der Kavität abgeführt werden kann.

Description

  • QUERVERWEIS AUF VERWANDTE ANMELDUNGEN
  • Diese Anmeldung nimmt die Priorität der koreanischen Patentanmeldung Nr. 2004-229, angemeldet am 05. Januar 2004, in Anspruch, deren Offenbarung hierin durch Bezugnahme voll inhaltlich mit enthalten ist.
  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Kontaminations-Überwachungsvorrichtung und insbesondere eine Kontaminations-Überwachungsvorrichtung zum Verringern von Kontaminationsstoffen aufgrund von eines Gaslecks bzw. eines in einen Reinraum einströmenden Gases.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Halbleitervorrichtungen werden im allgemeinen mit Hilfe von verschiedenen Herstellungsverfahren (fabrication processes = FAB) hergestellt, die eine elektrische Schaltung auf einem Halbleitersubstrat, wie etwa einem Silizium-Wafer, ausbilden. Ein elektrisches Die-Aussortierungsverfahren (electrical die sorting (IDS) process) kann zum Überwachen der elektrischen Eigenschaften der elektrischen Schaltung verwendet werden und ein Packaging-Verfahren kann zum Aufteilen des Halbleitersubstrats in einzelne Halbleiter-Chips und zum Versiegeln dieser Halbleiter-Chips mittels eines Epoxidharzes verwendet werden. Beispiele der verwendeten Herstellungsverfahren, können Abscheidungsverfahren zum Ausbilden einer dünnen Schicht auf dem Halbleitersubstrat, chemisch-mechanisches Polieren (CMT-Verfahren), die die dünne Schicht polieren, photolithoographische Verfahren, die ein Photoresistmuster auf der dünnen Schicht ausbilden, Ätzverfahren, die die dünne Schicht unter Verwendung des Photoresistmusters als eine Maske zu einem elektrischen Muster ätzen, Ionenimplantationsverfahren, die Ionen in einen vorbestimmten Bereich des Halbleitersubstrats implantieren, Reinigungsverfahren zum Reinigen des Halbleitersubstrates von Verunreinigungen und Prüfverfahren zum Prüfen einer Oberfläche des Halbleitersubstrats, so daß Defekte in der dünnen Schicht oder in dem Muster detektiert werden können, enthalten.
  • Die obigen Herstellungsverfahren können in einem Reinraum durchgeführt werden, welcher mit reiner Luft versorgt wird. Ein Reinraum enthält im allgemeinen eine Vielzahl von Gebläsefiltereinheiten, ein Fluid-Versorgungssystem und eine Nutzzone (utility zone). Eine Gebläsefiltereinheit kann beispielsweise an einem oberen Abschnitt des Reinraums angeordnet werden und kann den Reinraum mit reiner Luft von einer Deckenkammer aus versorgen. Das Fluid-Versorgungssystem kann an einem oberen Abschnitt des Reinraums angeordnet sein, um den Reinraum mit verschiedenen Prozeß-Fluiden bzw. Arbeitsfluiden zu versorgen. Eine Drucksteuervorrichtung kann in der Nutzzone angeordnet sein. Die Drucksteuervorrichtung steuert einen Innendruck des Reinraums und/oder die Innendrücke der verschiedenen Geräte, die die obigen Herstellungsverfahren durchführen. Die Reinluft kann in den Reinraum durch die Gebläsefiltereinheit zugeführt werden und die Reinluft kann in die Nutzzone durch ein Bodenplatte des Reinraum entlüftet bzw. abgeführt werden. Demgemäß zirkuliert die Reinluft durch eine Luftzirkulationsleitung, die die Deckenkammer und die Nutzzone verbindet.
  • Beispiele für Arbeitsfluide enthalten verschiedene Prozeß- bzw. Arbeitsgase und -chemikalien, die für die Herstellung von Halbleitervorrichtung verwendet werden und dem Fachmann bekannt sind. Das Fluid-Versorgungssystem eines Reinraum kann eine Vielzahl von Röhren enthalten, durch welche verschiedene Arbeitsfluide strömen und eine Vielzahl von Verbindungsstellen zum Verbinden der Röhren miteinander. Diese Verbindungsstellen können ein oder mehrere Ventile enthalten, die den Druck und die Menge des durchströmenden Arbeitsfluides steuern.
  • Ein Arbeitsfluid kann jedoch aus dieser Verbindungsstelle des Fluid-Versorgungssystems austreten und das austretende Fluid kann in dem Reinraum durch die Luftzirkulationsleitung, die die Deckenkammer mit der Nutzzone verbindet, zirkulieren. Das zirkulierende ausgetretene Fluid kann dann die Betriebsumgebung in dem Reinraum kontaminieren bzw. verschmutzen.
  • KURZFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Gemäß Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung enthält eine Kontaminations-Überwachungsvorrichtung zumindest zwei Leitungen, die durch einen Verbindungsabschnitt verbunden sind und derart konfiguriert sind, daß es dem Arbeitsfluid möglich ist hindurch zu strömen, sowie eine Abdeckung, die so konfiguriert ist, daß sie den Verbindungsabschnitt umfaßt und eine umfaßte Kavität (Hohlraum) zwischen der Abdeckung und dem Verbindungsabschnitt vorsieht. Ein Einlaßanschluß ist mit der Abdeckung verbunden und so aufgebaut, daß er Gas in die Kavität zuführen kann. Ein Auslaßanschluß ist mit der Abdeckung verbunden und so aufgebaut, daß das Gas und ein Kontaminations- bzw. Verschmutzungsstoff (contaminant) aus der Kavität abgeführt werden kann.
  • Gemäß weiteren Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung enthält ein Kontaminations-Management-System zumindest eine Steuereinheit, die eine Abdeckung enthält, die derart aufgebaut ist, daß sie einen Verbindungsabschnitt umschließt, der zumindest zwei Leitungen verbindet, und derart aufgebaut ist, daß es einem Arbeitsfluid möglich ist, hindurch zu strömen. Die Abdeckung sieht eine umschlossene Kavität zwischen der Abdeckung und dem Verbindungsabschnitt vor. Ein Einlaßanschluß ist mit der Abdeckung verbunden und derart aufgebaut, daß Gas in die Kavität eingeführt werden kann. Ein Auslaßanschluß ist mit der Abdeckung verbunden und derart aufgebaut, daß das Gas und ein Verschmutzungsstoff aus der Kavität durch eine Entleerungsleitung abgeführt werden kann. Eine Vielzahl von Sammelleitungen sind mit dem Auslaßanschluß verbunden und derart aufgebaut, daß sie den Verschmutzungsstoff sammeln. Die Sammelleitungen sind mit einer Verbindungsleitung verbunden, die den Auslaßanschluß und die Entleerungsleitung verbindet. Eine Analyseeinheit ist mit den Sammelleitungen verbunden und derart aufgebaut, daß die gesammelten Verbindungsstoffe analysiert werden.
  • Verfahren zum Verringern der Kontamination in einem Reinraum gemäß Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung enthalten ein Umschließen eines Verbindungsabschnitts, der mit zumindest zwei Leitungen verbunden ist, mit einer Abdeckung, die eine umschlossene Kavität dazwischen definiert. Ein Verschmutzungsstoff von dem Verbindungsabschnitt ist in der Kavität enthalten. Ein Gas wird der Kavität durch einen Einlaßanschluß zugeführt. Ein Gasgemisch aus dem Gas und dem Verschmutzungsstoff wird durch einen Auslaßanschluß aus der Kavität abgeführt. Bei einigen Ausführungsformen wird das abgeführte Gasgemisch analysiert.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNG
  • 1 ist eine Querschnittsansicht einer Kontaminations-Überwachungsvorrichtung gemäß Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung;
  • 2 ist eine perspektivische Vorderansicht der Kontaminations-Überwachungsvorrichtung, die in 1 gezeigt ist;
  • 3 ist ein Blockdiagramm, das ein Kontaminations-Management-System gemäß Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung, die die in 1 gezeigte Kontaminations-Überwachungsvorrichtung verwenden, darstellt;
  • 4 ist ein schematisches Diagramm eines Reinraums, der das in 3 gezeigte Kontaminations-Management-System verwendet; und
  • 5 ist ein Flußdiagramm, das Betriebsschritte gemäß den Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSFORMEN DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung wird im folgenden unter Bezugnahme auf die begleitende Zeichnung eingehender beschrieben, in welcher Ausführungsformen der Erfindung gezeigt sind. Ausführungsformen der Erfindung können jedoch in zahlreichen Arten und Formen verkörpert sein und sollten nicht auf diese hier dargelegten Ausführungsformen beschränkt ausgelegt werden, vielmehr dienen diese Ausführungsformen dazu, die Offenbarung sorgfältig und vollständig vorzusehen und einem Fachmann den Umfang der Erfindung vollständig zu vermitteln. Bei der Zeichnung sind die Abmessungen der einzelnen Elemente aus Gründen der Übersichtlichkeit vergrößert dargestellt. Gleiche Bezugszeichen bezeichnen gleiche Elemente in den Figuren. Ferner ist zu berücksichtigen, daß, wenn ein Element als "auf" oder "verbunden mit" einem anderen Element beschrieben wird, dieses direkt auf oder direkt mit dem anderen Element verbunden sein kann, aber auch dazwischen liegende Elemente vorhanden sein können. Im Gegensatz dazu sind keine dazwischen liegenden Elemente vorhanden, wenn ein Element als "direkt auf' oder "direkt verbunden mit" einem anderen Element bezeichnet wird.
  • Gemäß 1 und 2 enthält eine Kontaminations-Überwachungsvorrichtung 100 eine Abdeckung 106, die derart aufgebaut ist, daß sie einen Verbindungsabschnitt 104 umschließt oder abschirmt oder versiegelt. Der Verbindungsabschnitt 104 verbindet zumindest zwei Leitungen 102a und 102b, durch welche ein Arbeitsfluid strömt. Bei diesem Aufbau kann die Ausbreitung eines Verschmutzungsstoffes, der aus dem Verbindungsabschnitt 104 austritt (beispielsweise durch ein Leck) verringert werden.
  • Insbesondere definiert die Abdeckung 106 eine Kavität 106c zwischen der Abdeckung 106 und dem Verbindungsabschnitt 104 und/oder den Leitungen 102a und 102b. Die Kavität 106c wird durch eine Innenoberfläche der Abdeckung 106 und der Außenoberfläche des Verbindungsabschnitts 104 und der Leitungen 102a und 102b definiert. Die Abdeckung 106 enthält einen darin definierten Einlaßanschluß 108 und Auslaßan schluß 110. Der Einlaßanschluß 108 ist zum Zuführen eines Gases, wie etwa Luft, zu der Kavität 106c aufgebaut. Der Auslaßanschluß 110 ist mit einer Entleerungsleitung 50 verbunden und derart aufgebaut, daß ein Gemisch des zugeführten Gases und des Verschmutzungsstoffes durch die Entleerungsleitung 50 entlüftet bzw. abgeführt wird.
  • Die Abdeckung 106 enthält einen ersten Endabschnitt 106a, der die erste Leitung 102a abdeckt, und einen zweiten Endabschnitt 106b, der die zweite Leitung 102b abdeckt. Die Abdeckung 106 wird durch eine Vielzahl von Rippen 112 unterstützt, so daß die Abdeckung 106 formstabil aufgebaut ist und eine Verformung weitgehend verhindert wird. Demgemäß weist die Kavität 106c eine im allgemeinen konstante Größe und Form auf, da auch die Form und Größe der Abdeckung im wesentlichen konstant bleibt.
  • Wie in den Figuren dargestellt, sind der Auslaßanschluß 110 und die Entleerungsleitung 50 miteinander über eine Verbindungsleitung 114 verbunden. Ein Gasgemisch, das in die Kavität 106c der Abdeckung 106 durch den Einlaßanschluß 108 zugeführt wird, und daß der austretende Verschmutzungsstoff aus dem Verbindungsabschnitt 104, strömen in der Entleerungsleitung 50 über die Verbindungsleitung 114.
  • Die Verbindungsleitung 114 kann zum Verbinden der Entleerungsleitung 50 mit verschiedenen Herstellungsverarbeitungsvorrichtungen (nicht gezeigt), in welchem ein Verfahren für ein Objekt, wie etwa ein Silizium-Wafer oder ein Glassubstrat, unter Verwendung des Arbeitsfluids durchgeführt werden kann, verwendet werden. Außerdem kann die Entleerungsleitung 50 mit einem nicht näher dargestellten Gaswäschersystems zum Reinigen des Gases, das aus den einzelnen Verarbeitungsvorrichtungen abgeführt worden ist, verbunden werden.
  • Beispielsweise kann ein Entleerungsgas, das aus einer Verarbeitungsvorrichtung abgeführt worden ist, in das Gaswäschersystem über die Entleerungsleitung 50 strömen. Das abgeführte Gas kann, nachdem es durch das Gaswäschersystem gereinigt worden ist, an die Umgebung, wie etwa in den Reinraum wieder abgegeben werden.
  • Demgemäß kann die Abdeckung 106 die Ausbreitung jeglichen austretenden Verschmutzungsstoffes aus dem Verbindungsabschnitt 104 verringern. Ein Gasgemisch, das den Verschmutzungsstoff enthält, kann in die Umgebung (wie etwa einen Reinraum) über die Verbindungsleitung 114, die Entleerungsleitung 50 und ein Gaswäschersystem abgegeben werden. Im Ergebnis kann damit die Kontamination einer Betriebsumgebung, wie etwa einem Reinraum für die Halbleiterherstellung, verringert werden.
  • Bei einigen Ausführungsformen enthält der Einlaßanschluß 108 einen Filter 116, der zum Filtern von Partikeln in der Luft, die der Kavität 106c der Abdeckung 106 zugeführt wird, aufgebaut ist. Beispiele für den Filter 116 enthalten einen hocheffizienten Partikelluftfilter (high efficiency particulate air = HEPA filter), einen Niedrigpenetrationsluftfilter (ultra low penetration air = ULPA filter) usw.
  • Die Abdeckung 106 kann einen excellenten Schutz gegen Korrosion und Chemikalien bezüglich des Arbeitsfluids aufweisen. Die Abdeckung 106 kann ein flexibles Material, wie etwa ein Fluorpolimerkunststoff enthalten. Ein Beispiel für einen Fluorpolimerkunststoff kann beispielsweise Polytetrafluorethylen (PTFE) sein (, das ein Produkt von Dupont Co., Ltd. mit der Bezeichnung Teflon als registrierte Marke ist).
  • Der Verbindungsabschnitt 104 verbindet die ersten und zweiten Leitungen 102a und 102b und kann zumindest ein Ventil zum Steuern der Menge oder des Drucks des durch die Leitungen 102a und 102b strömenden Arbeitsfluids aufweisen. Obgleich Ausführungsformen der Erfindung hier unter Bezugnahme auf den Verbindungsabschnitt 104, der die ersten und zweiten Leitungen 102a und 102b miteinander verbindet, beschrieben werden, ist es offensichtlich, daß der Verbindungsabschnitt 104 ebenso eine Ventilandordnung enthalten kann, die zum Steuern der Fluid-Menge zwischen drei und mehr Leitungen aufgebaut ist. Verschiedene Anschlußstücke zum Verbinden der einzelnen Leitungen und andere Konfigurationen, die dem Fachmann bekannt sind, können ebenso anstelle oder zusammen mit dem Verbindungsabschnitt 104 verwendet werden.
  • Wie in den Figuren dargestellt, enthält die Kontaminations-Überwachungsvorrichtung 100 ein Paar von Dichtungselementen 118a und 118b, die zum Abdichten der Abdeckung 106 an den beiden Endabschnitten 106a und 106b aufgebaut bzw. angeordnet sind. Insbesondere das erste Abdichtungselement 118a befestigt den Endabschnitt 106a der Abdeckung 106 dichtig an die erste Leitung 102a und das zweite Abdichtungselement 118b befestigt den zweiten Endabschnitt 106b der Abdeckung 106 dichtig mit der zweiten Leitung 102b. Demgemäß dichtet das erste Abdichtungselement 118a die Abdeckung 106 an dem ersten Endabschnitt 106a und das zweite Abdichtungselement 118b dichtet die Abdeckung 106 an dem zweiten Endabschnitt 106b ab, so daß die Kavität 106c von der Umgebung isoliert ist. Gemäß Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung kann jegliches Versiegelungsmaterial für die Abdichtungselemente 118a und 118b verwendet werden. Insbesondere können die Abdichtungselemente 118a und 118b ein auf Silizium basierendes Material, wie etwa ein Silikonpolymer enthalten.
  • Unter Bezugnahme auf 2 kann die Kontaminations-Überwachungsvorrichtung 100 ferner einen Gleitverschluß (slide zipper) 120 und ein transparentes Fenster auf der Abdeckung 106 enthalten. Der Gleitverschluß 120 ist zum Öffnen und/oder Schließen der Abdeckung aufgebaut, wenn die Abdeckung 106 um den Verbindungsabschnitt 104 herum installiert wird. Das transparente Fenster 122 ist derart aufgebaut, daß es dem Benutzer ermöglicht, in den Innenraum der Abdeckung 106 zu sehen. Falls beispielsweise das Arbeitsfluid verflüssigte Chemikalien enthält, kann ein Bedienungspersonal die Leckage der Chemikalien aus dem Verbindungsabschnitt 104 durch das transparente Fenster 122 beobachten.
  • Gemäß 3 und 4 enthält ein Kontaminations-Managementsystem 200 eine Vielzahl von Steuereinheiten (wie etwa der Kontaminations-Überwachungsvorrichtung, die im Zusammenhang mit 1 und 2 beschrieben worden ist und die zum Verringern einer Kontamination aufgebaut ist, die aus dem Verbindungsabschnitt 104 austritt), eine Vielzahl von Sammelleitungen 202, die zum Sammeln eines Verschmutzungsstoffes aufgebaut sind und einer Analyseeinheit 404, die zum Analysieren des gesammelten Verschmutzungsstoffes aufgebaut ist.
  • Wie in 4 dargestellt, kann das Kontaminations-Managementsystem 200 in einem Reinraumsystem 10 installiert sein, in welchem ein Herstellungsverfahren für eine Halbleitervorrichtung durchgeführt wird. Wie in 4 gezeigt, enthält das Reinraumsystem 10 einen Reinraum 12, in welchem verschiedene Verfahren mit einem Halbleitersubstrat durchgeführt werden, eine Nutzzone 14 unterhalb des Reinraums 12, eine Deckenkammer 16 oberhalb des Reinraums 12, eine Luftzirkulationsleitung 18, durch welche die Nutzzone 14 und die Deckenkammer 16 miteinander verbunden sind, eine Kühlspule 20 zum Steuern der Lufttemperatur der Nutzzone 14 und ein Zirkulationsgebläse 22 zum Zirkulierenlassen der Luft in der Nutzzone 14. Der Reinraum weist eine obere Platte 12a und eine untere Platte 12b auf.
  • Eine Vielzahl von Gebläsefiltereinheiten 24 ist auf der oberen Platte 12a des Reinraums 12 zum Zuführen von reiner Luft in den Reinraum 12 installiert. Eine Vielzahl von Öffnungen können in der Bodenplatte 12b des Reinraums 12 ausgebildet sein, so daß die Luft in dem Reinraum 12 zu der Nutzzone 14 gelangen kann. Die Luft in dem Reinraum 12 strömt in die Nutzzone 14 durch die Durchdringungsöffnungen in der Bodenplatte 12b und die Luft in der Nutzzone 14 strömt in die Luftzirkulationsleitung 18. Die Luft in der Luftzirkulationsleitung 18 wird dem Reinraum 12 über die Gebläsefiltereinheiten 24 zugeführt. Daher zirkuliert die Luft in dem Reinraumsystem 10 durch die Luftzirkulationleitung 18.
  • Der Reinraum 12 enthält eine Transportvorrichtung 26, die zum Transportieren der Halbleitervorrichtung aufgebaut ist, eine Aufbewahrungsvorrichtung 28 zum Aufbewahren der Halbleitervorrichtung und eine Verarbeitungsvorrichtung 30, in welcher ein vorbestimmtes Herstellungsverfahren mit dem Halbleitersubstrat durchgeführt wird. Die Verarbeitungsvorrichtung 30 kann beispielsweise mit einem Fluid-Versorgungssystem 32, einem nicht näher dargestelltem Vakuumsystem und einem nicht näher dargestellten Energieversorgungssystem in der Nutzzone 14 verbunden sein.
  • Das Fluid-Versorgungssystem 32 enthält eine Vielzahl von Leitungen 102, die durch Verbindungsabschnitte 104 verbunden sind, von denen jeder von einer Kontaminations-Überwachungsvorrichtung 100 umschlossen ist. Die Verbindungsabschnitte 104 enthalten Ventile und können in dem Reinraum 12 und/oder der Nutzzone 14 positioniert sein. Die Aufbewahrungseinheit 28 kann in der Nutzzone 14 oder außerhalb des Reinraumsystems 10 installiert sein. Das Fluid-Versorgungssystem 32 versorgt die Verarbeitungsvorrichtungen 30 mit verschiedenen Quellgasen, Reinigungsgasen, Inert-Gasen, die als ein Kühlgas verwendet werden, oder verschiedenen Chemikalien.
  • Beispiele für die Verarbeitungsvorrichtungen 30 enthalten eine Abscheidungsvorrichtung zum Ausbilden einer dünnen Schicht auf dem Halbleitersubstrat, einer Photolitographie-Vorrichtung zum Ausbilden eines Photoresistmusters auf der dünnen Schicht, eine Ätzvorrichtung zum Versehen der dünnen Schicht mit einem Muster, das vorbestimmte elektrische Charakteristiken aufweist, unter Verwendung des Photoresistmusters als eine Ätzmaske, eine Ionenimplantationsvorrichtung zum Implantieren von Ionen in einen Oberflächenabschnitt der dünnen Schicht, eine Reinigungsvorrichtung zum Entfernen von Verunreinigungen aus dem Muster oder der dünnen Schicht und dergleichen.
  • Jeder der Gebläsefiltereinheiten 24 enthält einen HEPA-Filter und/oder einen ULPA-Filter zum Entfernen von Partikeln aus der zirkulierenden Luft, und/oder einen chemischen Filter zum Entfernen von chemischen Verunreinigungen aus der zirkulierenden Luft.
  • Die Verarbeitungsvorrichtungen 30 sind mit dem Gaswäschersystem 52 außerhalb des Reinraums 10 über die Entleerungsleitung 50 verbunden. Die Nebenprodukte von jedem der Verarbeitungseinheiten zum Herstellen der Halbleitervorrichtungen und das entsprechende Arbeitsfluid werden zu dem Gaswäschersystem 52 aus den Verarbeitungsvorrichtugen 30 abgeführt. Das Gaswäschersystem 52 entfernt Verunreinigungen aus den Nebenprodukten und den Arbeitsfluiden.
  • Die Analyseeinheit 204 ist mit den Sammelleitungen 202 verbunden, welche wiederum mit den Verbindungsleitungen 114 verbunden sind. Die Verbindungsleitungen 114 verbinden die Kontaminations-Überwachungsvorrichtungen 100 mit der Entleerungsleitung 50. Die Analyseeinheit 204 analysiert das Gasgemisch (, welches einen Kontaminationsstoff bzw. eine Verunreinigung enthalten kann), das durch die Sammelleitungen 202 strömt. Beispielsweise kann die Analyseeinheit 204 ionische Verunreinigungen, metallische Verunreinigungen und organische Verunreinigungen, die in dem Gemisch enthalten sind, detektieren und analysieren.
  • Obgleich die Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Kontaminations-Überwachungsvorrichtugen 100 beschrieben worden sind, die die Ventile des Fluids-Versorgungssystems 32 in der Nutzzone 14 abdecken, ist es offensichtlich, daß Ventile in den Reinraum 12 oder der Verarbeitungsvorrichtung 30 ebenso mit der Kontaminations-Überwachungsvorrichtung 100 abgedeckt werden können. Außerdem kann die Kontaminations-Überwachungsvorrichtung 100 ebenso die Ventile in den Ausgangsleitungen 34 zum Verbinden jeder der Prozeßvorrichtungen 30 mit der Entleerungsleitung 50 oder einige oder alle Ventile der Verbindungselemente, die in dem Reinraumsystem 10 verwendet werden, abdecken bzw. umschließen.
  • Die Abdeckung 106, welche verschiedene Leitungen und Verbindungselemente abschirmt bzw. abdichtet, kann die Kontamination, die daraus heraustritt und sich über andere Bereiche des Reinraumsystems 10 verbreitet, verringern. Der ausgetretene Verschmutzungsstoff kann durch die Entleerungsleitung 50 zusammen mit der in die Kavität 106c eingeführten Luft aus dem Reinraum 12 und der Nutzzone 14 abgeführt werden. Die Analyseeinheit 204 analysiert das Gemisch des ausgetretenen Verschmutzungsstoffes und des zugeführten Gases. Demgemäß kann die Verunreinigung der Luft, die durch den Reinraum 12, die Nutzzone 14, die Luftzirkulationsleitung 18 und die Deckenkammer 16 zirkuliert, ausreichend verhindert werden und die Verbindungsabschnitte 104, wie etwa Ventile und Verbindungselemente, effektiver gesteuert bzw. überwacht werden.
  • Gemäß 3 kann die Analyseeinheit 204 mit der Überwachungseinheit 206 zum Überwachen einer Kontaminations-Leckage aus den Verbindungsabschnitten 104 unter Verwendung der dabei erzeugten Analysedaten verbunden werden. Wie in den Figuren dargestellt, enthält die Überwachungseinheit 206 einen Komparator 206a zum Vergleichen der Analysedaten von dem Verschmutzungsstoff mit Referenzdaten, einen Signalgenerator 206b zum Erzeugen eines Warnsignals in Übereinstimmung mit dem Vergleichsergebnis, und eine Anzeigevorrichtung 206c zum Anzeigen der Analysedaten. Die Analysedaten können beispielsweise eine Konzentration des Verschmutzungsstoffs in dem Gemisch und/oder eine Identifikation von verschiedenen Bestandteilen des Verschmutzungsstoffes enthalten. Die Überwachungseinheit 206 vergleicht die Analysedaten mit den Referenzdaten und erzeugt ein Warnsignal auf der Grundlage des Vergleichs. Beispielsweise kann das Warnsignal erzeugt werden, wenn die Analysedaten größer oder kleiner als ein vorbestimmter Schwellwert ist, der durch die Referenzdaten definiert ist. Die Analysedaten einschließlich des Vergleichsergebnis können auf der Anzeigevorrichtung 206c angezeigt werden.
  • Wie in 5 dargestellt ist ein Verbindungsabschnitt von einer Abdeckung umschlossen (Kasten 300). Der Verbindungsabschnitt verbindet mindestens zwei Leitungen, die etwa dem Verbindungsabschnitt 104, der in 1 dargestellt ist. Die Abdeckung (wie etwa die in 1 und 2 gezeigte Abdeckung 106) definiert eine umschlossene Kavität zwischen dem Verbindungsabschnitt und der Abdeckung. Ein Verschmutzungsstoff von dem Verbindungsabschnitt kann in der Kavität enthalten sein. Ein Gas wird der Kavität über einen Einlaßanschluß zugeführt (Kasten 302). Ein Gasgemisch des Gases und des Verschmutzungsstoffs wird aus der Kavität über den Auslaßanschluß abgeführt (Kasten 304). Bei einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das abgeführte Gasgemisch analysiert werden, um die Konzentration des Verschmutzungsstoffs oder den Aufbau des Gasgemisches zu bestimmen.
  • Gemäß den Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung bedeckt bzw. versiegelt die Kontaminations-Überwachungsvorrichtung den Verbindungsabschnitt, der zu mindest zwei Leitungen verbindet, durch welche das Arbeitsfluid strömt, so daß der aus dem Verbindungsabschnitt austretende Verschmutzungsstoff an der Ausbreitung über andere Bereiche des Reinraumsystems wesentlich gehindert werden kann. Außerdem kann der ausgetretene Verschmutzungsstoff durch die Entleerungsleitung entlüftet bzw. abgeführt werden und die Konzentration und/oder Bestandteile des Verschmutzungsstoffes können unter Verwendung der Analyseeinheit analysiert werden. Der Signalgenerator kann ein Warnsignal basierend auf dem Vergleich erzeugen.
  • Demgemäß können die Verarbeitungsvorrichtungen, das Reinraumsystem und das Halbleitersubstrat im wesentlichen vor Verunreinigungen durch einen ausgetretenen Verschmutzungsstoff bzw. einer Leitungsleckage verhindert werden. Die Ventile und/oder Verbindungselemente, die auf den Leitungen installiert sind, durch welche das Arbeitsfluid oder das Entleerungsgas strömt, können wirksam gesteuert bzw. überwacht werden. Der Verschmutzungsstoff kann aus dem Reinraum durch die Entleerungsleitung wirksam entfernt werden. Außerdem können die Leitungen, durch welche das Arbeitsfluid strömt, und das Ventil zum Steuern der Menge und des Drucks des Arbeitsfluids einfach repariert werden und die Instandhaltungskosten des Systems verringert werden. Darüber hinaus kann die Zeit, während dem das Reinraumsystem aufgrund von ausgetretenen Verschmutzungsstoff nicht betriebsbereit ist, verringert werden, so daß die Produktivität der Halbleiterherstellungsvorrichtung insgesamt verbessert werden kann.
  • Das voranstehend gesagte dient zur Darstellung der vorliegenden Erfindung und nicht zu deren Beschränkung auf die hierin dargestellten beispielhaften Ausführungsformen. Obwohl einige beispielhafte Ausführungsformen dieser Erfindung hier beschrieben worden sind, ist es dem Fachmann ohne weiteres offensichtlich, daß zahlreiche Änderungen und Modifikationen an diesen beispielhaften Ausführungsformen durchgeführt werden können ohne im wesentlichen von der neuheitlichen Lehre und den Vorteilen dieser Erfindung abzuweichen. Demgemäß fallen alle derartigen Modifikationen in den Schutzbereich der Erfindung. Es ist daher offensichtlich, daß das vorhergehend beschriebene lediglich der Darstellung der vorliegenden Erfindung dient und nicht dazu die Erfindung auf die hier offenbarten Ausführungsformen zu beschränken und daß Modifikationen an den offenbarten Ausführungsformen ebenso wie an anderen Ausführungsformen vorgenommen werden können, ohne dabei den Schutzumfang der Erfindung zu verlassen.

Claims (25)

  1. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung für die Verwendung mit einem Verbindungsabschnitt, der mindestens zwei Leitungen miteinander verbindet, die so aufgebaut sind, daß ein Arbeitsfluid hindurch strömen kann, wobei die Kontaminations-Überwachungsvorrichtung aufweist: eine Abdeckung, die zum Umschließen des Verbindungsabschnitts und zum Vorsehen einer umschlossenen Kavität zwischen der Abdeckung und dem Verbindungsabschnitt aufgebaut ist; einen Einlaßanschluß, der mit der Abdeckung verbunden ist und zum Zuführen eines Gases zu der Kavität aufgebaut ist; und einen Auslaßanschluß, der mit der Abdeckung verbunden ist und zum Abführen des Gases und eines Kontaminationsstoffes aus der Kavität aufgebaut ist.
  2. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung nach Anspruch 1, die ferner eine Vielzahl von Rippen aufweist, die derart aufgebaut sind, daß sie die Abdeckung unterstützen.
  3. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, die ferner einen Filter enthält, der mit dem Einlaßanschluß verbunden ist und zum Filtern des Gases, das der Kavität zugeführt wird, aufgebaut ist.
  4. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die Abdeckung ein Fluorpolymer aufweist.
  5. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Verbindungsabschnitt zwischen Leitungen installiert ist und zumindest ein Ventil enthält, das zum Steuern, einer Menge und/oder eines Drucks des Arbeits-Fluids, das dadurch hindurch strömt, aufgebaut ist.
  6. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, die ferner ein Paar von Abdichtungselementen aufweist, die derart aufgebaut sind, daß sie die Abdeckung an ihren Endabschnitten abdichten.
  7. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung nach Anspruch 6, wobei das Abdichtungselement ein siliziumbasiertes Material aufweist.
  8. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Abdeckung einen Gleitverschluß aufweist, der zum Öffnen und/oder Schließen der Abdeckung aufgebaut ist.
  9. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Abdeckung ein transparentes Fenster aufweist.
  10. Kontaminations-Überwachungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, die ferner eine Entleerungsleitung aufweist, die mit dem Auslaßanschluß verbunden ist, sowie eine Verbindungsleitung, die den Auslaßanschluß und die Entleerungsleitung verbindet.
  11. Kontaminations-Managementsystem zur Verwendung mit einem Verbindungsabschnitt, der mindestens zwei Leitungen miteinander verbindet, die so aufgebaut sind, daß ein Arbeitsfluid hindurch strömen kann, wobei das Kontaminations-Managementsystem aufweist: zum indest eine Steuereinheit, die enthält: eine Abdeckung, die derart aufgebaut ist, daß die den Verbindungsabschnitt umschließt und eine umschlossene Kavität zwischen der Abdeckung und dem Verbindungsabschnitt vorsieht; einen Einlaßanschluß, der mit der Abdeckung verbunden ist und derart aufgebaut ist, daß er der Kavität ein Gas zuführt; und ein Auslaßanschluß, der mit der Abdeckung verbunden ist, und der derart aufgebaut ist, das Gas und einen Kontaminationsstoff aus der Kavität durch eine Entleerungsleitung abführt; eine Vielzahl von Sammelleitungen, die mit dem Auslaßanschluß verbunden sind und zum Sammeln des Kontaminationsstoffes aufgebaut sind, wobei die Sammelleitungen mit einer Verbindungsleitung verbunden sind, die den Auslaßanschluß und die Entleerungsleitung verbindet; und eine Analyseeinheit, die mit den Sammelleitungen verbunden ist und zum Analysieren des gesammelten Kontaminationsstoffes aufgebaut ist.
  12. Kontaminations-Managementsystem nach Anspruch 11, das ferner eine Überwachungseinheit aufweist, die zum Überwachen des Kontaminationsstoffes aus dem Verbindungsabschnitt unter Verwendung der Analysedaten von der Analyseeinheit aufgebaut ist.
  13. Kontaminations-Managementsystem nach Anspruch 11 oder 12, wobei die Analysedaten eine Konzentration des Kontaminationsstoffes und/oder von Komponenten des Kontaminationsstoffes darstellen.
  14. Kontaminations-Managementsystem nach Anspruch 13, wobei die Überwachungseinheit enthält: einen Komparator, der zum Vergleichen der Analysedaten des Kontaminationsstoffes mit Referenzdaten aufgebaut ist; einen Signalgenerator, der zum Erzeugen eines Warnsignals auf der Grundlage eines Vergleichs zwischen den Analysedaten des Kontaminationsstoffes und der Referenzdaten aufgebaut ist; und eine Anzeigevorrichtung zum Anzeigen der Analysedaten.
  15. Kontaminatios-Managementsystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Entleerungsleitung mit einem Gaswäschersystem verbunden ist, das zum Verringern des Kontaminationsstoffes in einem Gasgemisch, das aus der Abdeckung abgeführt wird, aufgebaut ist.
  16. Kontaminations-Managementsystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Arbeits-Fluid ein Arbeitsgas und/oder eine Chemikalie zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung enthält.
  17. Kontaminations-Managementsystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Steuereinheit eine Vielzahl von Rippen aufweist, die derart aufgebaut sind, daß sie die Abdeckung unterstützen.
  18. Kontaminations-Managementsystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Steuereinheit einen Filter aufweist, der mit dem Einlaßanschluß verbunden ist und zum Filtern der Kavität zugeführten Gases aufgebaut ist.
  19. Kontaminations-Managementsystem nach Anspruch 18, wobei der Filter ein HEPA-Filter und/oder einen ULPA-Filter enthält.
  20. Kontaminations-Managementsystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Verbindungsabschnitt zwischen den Leitungen installiert ist und zumindest ein Ventil enthält, das zum Steuern der Menge und/oder eines Drucks des Arbeits-Fluids aufgebaut ist.
  21. Kontaminations-Managementsystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, das ferner ein Paar von Abdichtungselementen aufweist, die derart aufgebaut sind, daß sie die Abdeckung an ihren Endabschnitten abdichten.
  22. Kontaminations-Managementsystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Abdeckung einen Gleitverschluß aufweist, der zum Öffnen und/oder Schließen der Abdeckung aufgebaut ist.
  23. Verfahren zum Verringern der Kontamination in einem Reinraum, wobei das Verfahren aufweist: Einschließen eines Verbindungsabschnitts, der zumindest zwei Leitungen verbindet, mit einer Abdeckung, die eine umschlossene Kavität dazwischen definiert, wobei ein Kontaminationsstoff aus dem Verbindungsabschnitt in der Kavität enthalten ist; Zuführen eines Gases in die Kavität durch einen Einlaßanschluß; Abführen eines Gasgemisches aus dem Gas und dem Kontaminationsstoff aus der Kavität durch einen Auslaßanschluß.
  24. Verfahren nach Anspruch 23, das ferner ein Analysieren des abgeführten Gasgemisches aufweist.
  25. Kontaminations-Überwachungssystem aufweisend: zumindest zwei Leitungen, die durch einen Verbindungsabschnitt verbunden sind und es einem Arbeits-Fluid ermöglichen hindurch zu strömen; eine Abdeckung, die derart aufgebaut ist, daß sie den Endabschnitt umschließt und eine umschlossene Kavität zwischen der Abdeckung und dem Verbindungsabschnitt vorsieht; ein Einlaßanschluß, der mit der Abdeckung verbunden ist und zum Zuführen eines Gases zu der Kavität aufgebaut ist; und ein Auslaßanschluß, der mit der Abdeckung verbunden ist und zum Abführen des Gases und eines Kontaminationsstoffes aus der Kavität aufgebaut ist.
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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4904079B2 (ja) * 2006-05-09 2012-03-28 日新産商株式会社 コンテナ容器用内袋とその使用方法
US8162746B2 (en) 2007-09-28 2012-04-24 Igt Gaming system and method configured to change the odds of a player obtaining a winning game outcome or a designated game outcome for a play of a game without changing the paytable of the game
CN101624999B (zh) * 2008-07-07 2011-08-31 北京天擎化工有限公司 一种危险化学品泄漏救援设备
US9316337B2 (en) * 2012-11-13 2016-04-19 Image Technology, Inc. Cover for pipe connection
US9494261B2 (en) 2013-02-11 2016-11-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Chemical dispense system with reduced contamination
KR101379674B1 (ko) * 2013-09-10 2014-04-01 한국지질자원연구원 이산화탄소의 누출처리장치 및 이에 의한 이산화탄소의 누출처리 방법
GB201321932D0 (en) * 2013-12-11 2014-01-22 Wellstream Int Ltd Annulus Monitoring
KR101483615B1 (ko) 2014-03-03 2015-01-19 대한민국 유체 포집 장치
US20150380278A1 (en) * 2014-06-30 2015-12-31 Lam Research Corporation Hardware for the separation and degassing of dissolved gases in semiconductor precursor chemicals
KR101594956B1 (ko) * 2014-12-08 2016-02-18 대한민국 포집막을 이용한 유체 포집 장치
US9546752B2 (en) * 2015-04-14 2017-01-17 Union Pacific Railroad Company Device for detecting and isolating fuel leaks in a vehicle
CN106678466B (zh) * 2017-01-15 2019-01-22 浙江海洋大学 一种海洋天然气输送装置
CN109506075B (zh) * 2018-11-15 2020-08-07 福建工程学院 市政管道破损诱发路基空洞有无的检测装置
CN109882744B (zh) * 2019-04-25 2021-04-16 浙江天固电气有限公司 一种快速精准无需对器件加压的密封性检测装置
KR102175398B1 (ko) * 2019-05-28 2020-11-06 주식회사 세종이엔지 다단식 복합 탈취장치
CN110440998B (zh) * 2019-07-30 2021-10-29 核工业第八研究所 一种碳化硅复合材料圆管漏率性能检测方法
CN111853549B (zh) * 2020-07-27 2021-11-05 宁波华成阀门有限公司 一种防泄漏的天然气阀门
KR102333354B1 (ko) * 2020-09-01 2021-12-02 주식회사 힐텍코퍼레이션 반도체 제조 설비의 긴급 배기 시스템
CN113171658B (zh) * 2021-03-26 2022-12-13 青岛穗禾信达金属制品有限公司 一种用于五金喷漆的废气处理设备
US11892382B2 (en) * 2021-08-27 2024-02-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Method for detecting environmental parameter in semiconductor fabrication facility

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4253684A (en) * 1979-05-14 1981-03-03 Monsanto Company Quick connect coupler with air shield
DE3213821A1 (de) 1982-04-15 1983-10-27 kabelmetal electro GmbH, 3000 Hannover Rohrleitung zum transport von umweltgefaehrdenden medien sowie verfahren zur herstellung und verlegung derselben
JPH0615918Y2 (ja) * 1988-02-19 1994-04-27 トキコ株式会社 配管漏洩検知機能付給油システム
JPH03137534A (ja) * 1989-10-23 1991-06-12 Takuma Co Ltd 伝熱管及びこれを用いた漏洩検知システム
JPH0640499A (ja) * 1992-07-15 1994-02-15 Sharp Corp 配送管中の漏洩検知装置
US5577528A (en) * 1994-11-18 1996-11-26 Southern California Gas Company Apparatus for upgrade or repair of in-service pipelines
JP3401404B2 (ja) * 1997-05-28 2003-04-28 早川ゴム株式会社 管の接続構造
US6202656B1 (en) * 1998-03-03 2001-03-20 Applied Materials, Inc. Uniform heat trace and secondary containment for delivery lines for processing system
JP4206516B2 (ja) * 1998-06-22 2009-01-14 株式会社Ihi 漏洩検知装置
JP2000150387A (ja) 1998-11-18 2000-05-30 Applied Materials Inc 配管系構造及び配管系ユニット
US6129107A (en) * 1999-03-16 2000-10-10 Jackson; Robert W. Fluid-containment hose
KR20020096608A (ko) 2001-06-21 2002-12-31 삼성전자 주식회사 반도체 설비용 오염 제거 장치
US6708717B1 (en) * 2002-05-10 2004-03-23 Coogle Technology, L.L.C. Flushing system for air conditioning drainage pipes
KR20040000229A (ko) * 2002-06-24 2004-01-03 삼성전자주식회사 데이터의 효율적인 서브 채널별 송/수신 방법 및 장치
US7011102B2 (en) * 2002-08-23 2006-03-14 Ameron International Corporation Contained pipeline system with brine filled interstitial space and method for detecting leakage in same

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Publication number Publication date
JP2005201444A (ja) 2005-07-28
US7357144B2 (en) 2008-04-15
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