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1. Gebiet der Erfindung
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Die vorliegende Erfindung betrifft
eine optische Speichervorrichtung, die Informationen auf einem Speichermedium
aufzeichnet und von ihm wiedergibt, und ein Abnormitätsdetektionsverfahren
eines Detektors zur Emissionssteuerung.
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z. Beschreibung der verwandten Technik Das
technische Wachstum auf dem Gebiet der Informationsaufzeichnung
ist beachtlich, und die Erforschung und Entwicklung von optischen
Speichern unter Verwendung von Licht, wie beispielsweise von magneto-optischen
Plattenspeichern, optischen Platten und optischen Karten, schreitet
aktiv voran. In solch einer optischen Speichervorrichtung wird oft eine
Laserdiode als Lichtquelle verwendet, und eine automatische Energiesteuerung
(automatic power control: APC) kommt zum Einsatz, damit die Emissionsenergie
auf dem Medium konstant ist.
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14 ist
ein Blockdiagramm, das die APC einer herkömmlichen optischen Speichervorrichtung zeigt.
Wie in 14 gezeigt, durchläuft das
Licht, das von dem Halbleiterlaserelement (Laserdiode) 110 emittiert
wird, das optische System (wie zum Beispiel die konvexe Linse 100,
den Strahlenteiler 111, den Hebespiegel 140),
wird dann durch die Objektivlinse 116 konvergiert und auf
das Aufzeichnungsmedium (Platte) 4 eingestrahlt.
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Das reflektierte Licht von dem Aufzeichnungsmedium 4 kehrt über den
ursprünglichen
Sendeweg zurück,
wird durch den Strahlenteiler 111 reflektiert und über das
Wollaston- Prisma 126 und
die Kondensorlinse 121 durch den Detektor (photoelektrisches
Konvertierungselement) 120 empfangen. Die Servo/MO-Wiedergabesektion
160 gibt das Wiedergabesignal MO, das Spurfehlersignal TES und das Fokusfehlersignal
FES von dem Ausgang des Detektors 120 wieder, wie es bereits
bekannt ist.
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Unter Verwendung des Spurfehlersignals und
des Fokusfehlersignals werden eine Spurservo- und Fokusservosteuerung
ausgeführt,
so daß der
optische Strahl der Spur des Aufzeichnungsmediums und dem dem fokussierten
Punkt folgt.
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Jetzt wird der APC-(Auto Power Control)-Mechanismus
beschrieben, der ein allgemeines Laserantriebsverfahren ist. Der
APC-Detektor 113 überwacht
das Emittieren von Licht von dem Strahlenteiler 111. Die
Ausgabe des APC-Detektors 113 wird durch die I-V-(Strom-Spannungs)-Konvertierungsschaltung 114 in
eine Detektionsspannung konvertiert und dann durch den Komparator 153 mit
der Referenzspannung REF verglichen, die von dem Hauptcontroller
(MPU) 180 ausgegeben wird. Diese Referenzspannung verändert sich
gemäß der optischen
Energie nach Erfordernis, und zwar beispielsweise in Abhängigkeit
von der Leseenergie, der Löschenergie
und der Schreibenergie.
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Die Differenzausgabe von dem Komparator 153 wird über den
Verstärker
(GAIN) 154 der Treiberschaltung (DRV) 155 eingegeben,
und sie treibt die Laserdiode 110 an. Dadurch kann von
der Laserdiode 110 konstant ein vorbestimmter Emissionsbetrag erhalten
werden.
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Wie in 16 gezeigt,
zeichnet die optische Plattenvorrichtung Daten auf, indem es ermöglicht wird,
daß die
Laserdiode 110 eine Emission mit einer hohen Schreibenergie
auf das Medium ausführt.
Die Leseenergie ist andererseits auf eine Energie festgelegt, die
niedriger als die Schreibenergie/Löschenergie ist, um die Daten
des Mediums zu lesen.
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Falls diese Leseenergie auf ein Niveau
ansteigt, das der Löschenergie
und Schreibenergie näher
ist, kann es passieren, daß die
Daten auf dem Medium während
des Lesens gelöscht
werden. Dieses Problem fällt
besonders bei einem Überschreibmedium
auf.
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Um solch einen Zustand zu verhindern,
wird die Zielenergie (Referenzspannung), die durch den Controller 180 festgelegt
wird, durch das Überwachen
des Betrages von Licht bestimmt, das den APC-Detektor 113 kontaktiert.
Da das Band der I-V-(Strom-Spannungs)-Konvertierungsschaltung 114
niedrig ist, kann die Schreibenergie und Löschenergie, zur Emission in
kurzen Intervallen, die APC-Operation nicht immer ausführen.
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Deshalb wird über den Zielenergiewert dadurch
entschieden, indem die Beziehung des Stromes, der in die Laserdiode
fließt
(DAC-Instruktionswert in diesem Fall), vs. der Energie an der Objektivlinse
(Detektionsausgabe des APC-Detektors) im voraus gemessen wird, wie
in 15 gezeigt, da das Verhältnis der
Detektionsausgabe des APC-Detektors und der Energie an der Objektivlinse
konstant ist. Der Schwellenwert und die Neigung dieser Beziehung
verändern
sich in Abhängigkeit
von den Charakteristiken und der Temperatur einer individuellen Vorrichtung.
Herkömmlicherweise
wird deshalb dann, wenn sich eine beliebige Zeit und Temperatur verändert, eine
Emissionseinstelloperation ausgeführt, wobei der Stromwert und
die Energie für
zwei oder mehr Punkte gemessen werden und der Beziehungsausdruck
derselben bestimmt wird, um den Stromwert zum Festlegen der Zielenergie
zu berechnen (siehe z. B. die japanische Patentveröffentlichung
Nr. 3,060,698 (Seiten 8 bis 10, 5 und 6)).
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Durch solch eine Emissionseinstellung
kann die Emissionsenergie zweckmäßig festgelegt
werden. Dies basiert jedoch auf der Annahme, daß der APC-Detektor 113 die
Emissionsenergie der Laserdiode 110 akkurat überwacht.
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Der APC-Detektor 113 ist
an die Basis (Mechanismus) des optischen Kopfes montiert, und es
ist möglich,
daß es
bei dem APC-Detektor zu einer Ablösung, Abweichung, Verschmutzung
oder Qualitätsminderung
kommt. Falls eine Ablösung,
Abweichung, Verschmutzung oder Qualitätsminderung auf Grund von Anwendungen
im mobilen Gebrauch, einem Preisabfall von optischen Plattenlaufwerken
und einer Verringerung des Energieverbrauchs von optischen Plattenlaufwerken,
die jetzt zu sehen sind, auftritt, kann die Beziehung zwischen dem
Betrag von Licht, das den APC-Detektor kontaktiert, und der optischen
Energie an der Objektivlinse dann verändert werden, und eine Energie,
die größer als
die durch den Controller festgelegte Energie ist, kann auf das Medium
emittiert werden, wodurch Daten auf dem Medium gelöscht werden
können.
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ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG Angesichts
dessen ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung das Vorsehen
einer optischen Speichervorrichtung und eines Abnormitätsdetektionsverfahrens
eines Detektors zur Emissionssteuerung zum Detektieren der Veränderung
der Beziehung zwischen dem Betrag von Licht, das den APC-Detektor kontaktiert,
und der optischen Energie an der Objektivlinse und Verhindern einer
Datenzerstörung
im voraus.
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Ein anderes Ziel der vorliegenden
Erfindung ist das Vorsehen einer optischen Speichervorrichtung und
eines Abnormitätsdetektionsverfahrens
eines Detektors zur Emissionssteuerung zum Detektieren der Abnormität des APC-Detektors
vor einer Lese-/Schreiboperation und Verhindern der Datenzerstörung im
voraus.
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Noch ein anderes Ziel der vorliegenden
Erfindung ist das Vorsehen einer optischen Speichervorrichtung und
eines Abnormitätsdetektionsverfahrens
eines Detektors zur Emissionssteuerung zum Detektieren der Ablösung und
Abweichung des APC-Detektors und Verhindern der Datenzerstörung im
voraus.
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Um diese Aufgabe zu erfüllen, umfaßt die vorliegende
Erfindung eine optische Speichervorrichtung, zum Beschreiben und
Lesen eines Speichermediums unter Verwendung eines Laserstrahls,
mit einer Lichtquelle zum Emittieren eines Laserstrahls auf das
Speichermedium, einer Servosteuersektion zum Ausführen einer
Verfolgungssteuerung des Laserstrahls auf dem Speichermedium gemäß reflektiertem
Licht von dem Speichermedium, einem APC-Detektor zum Überwachen
der Emissionsenergie der Lichtquelle und einer Steuereinheit zum
Berechnen eines Antriebsinstruktionsbetrages entsprechend der Detektionsausgabe
des APC-Detektors, die eine automatische Energiesteuerung der Lichtquelle
gemäß dem Antriebsinstruktionsbetrag
ausführt,
so daß die
Emissionsenergie auf dem Speichermedium während des Schreibens beibehalten wird,
um eine Schreibenergie zu sein, und die Emissionsenergie auf dem
Speichermedium während
des Lesens beibehalten wird, um eine Leseenergie zu sein. Und die
Steuereinheit mißt
die Neigung der Beziehung zwischen dem Antriebsinstruktionsbetrag und
der Detektionsausgabe des APC-Detektors und beurteilt die Abnormität des APC-Detektors
durch das Vergleichen der zuvor gemessenen Neigung der Beziehung
zwischen dem Antriebsinstruktionsbetrag und der Detektionsausgabe
des APC-Detektors mit der gemessenen Neigung.
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Das Abnormitätsdetektionsverfahren der vorliegenden
Erfindung enthält
einen Schritt zum Ausführen
einer automatischen Energiesteuerung der Lichtquelle, die einen
Laserstrahl zum Beschreiben und Lesen eines Speichermediums auf
das Speichermedium emittiert, gemäß dem Antriebsinstruktionsbetrag,
der auf der Basis der Detektionsausgabe eines APC-Detektors zum Überwachen
der Emissionsenergie der Licht quelle berechnet wurde, so daß die Emissionsenergie
auf dem Speichermedium während
des Schreibens beibehalten wird, um eine Schreibenergie zu sein,
und die Emissionsenergie auf dem Speichermedium während des
Lesens beibehalten wird, um eine Leseenergie zu sein, einen Schritt
zum Messen der Neigung der Beziehung zwischen dem Antriebsinstruktionsbetrag
und der Detektionsausgabe des APC-Detektors und einen Schritt zum
Beurteilen der Abnormität
des APC-Detektors durch das Vergleichen der zuvor gemessenen Neigung
der Beziehung zwischen dem Antriebsinstruktionsbetrag und der Detektionsausgabe
des APC-Detektors und der obengenannten gemessenen Neigung.
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Gemäß der vorliegenden Erfindung
wird die Neigung der Beziehung zwischen dem APC-Antriebsinstruktionsbetrag
und der Detektionsausgabe des APC-Detektors gemessen und mit der
Referenzneigung verglichen.
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Somit kann eine große Veränderung
der Neigung zur Meßzeit
als Abnormität
des APC-Detektors angesehen werden, und nicht als Schwankung durch Temperaturveränderung,
und kann als Ablösung,
Abweichung, Qualitätsminderung
oder Verschmutzung des APC-Detektors identifiziert werden.
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Gemäß der vorliegenden Erfindung
ist es ferner vorzuziehen, wenn die Steuereinheit die Detektionsausgabe
des APC-Detektors mißt,
wenn die Lichtquelle mit dem Antriebsinstruktionsbetrag angetrieben
wird, und die Neigung der Beziehung zwischen dem Antriebsinstruktionsbetrag
und der Detektionsausgabe des APC-Detektors mißt. Deshalb kann eine Abnormität des APC-Detektors
während der
Emissionseinstellung detektiert werden.
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Gemäß der vorliegenden Erfindung
ist es ferner vorzuziehen, wenn die Neigung der Beziehung zwischen
dem Antriebsinstruktionsbetrag und der Detektionsausgabe des APC-Detektors gemessen wird,
wenn das Speichermedium geladen wird. Dadurch kann eine Abnormität des APC-Detektors
im voraus vor dem Lesen/Schreiben detektiert werden.
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Gemäß der vorliegenden Erfindung
ist es ferner vorzuziehen, wenn die Steuereinheit die Abnormität des APC-Detektors
beurteilt, indem sie einen Wert, der durch Teilen der detektierten
Neigung durch die zuvor gemessene Neigung erhalten wird, mit dem
Schwellenwert vergleicht. Deshalb kann die vorliegende Erfindung
breite Anwendung auf Lichtquellen und Vorrichtungen finden, die
verschiedene Neigungscharakteristiken haben.
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Gemäß der vorliegenden Erfindung
ist es ferner vorzuziehen, wenn die Steuereinheit die automatische
Energiesteuerung in einem beliebigen Zeitintervall ausführt und
die Neigung der Beziehung zwischen dem Antriebsinstruktionsbetrag
und der Detektionsausgabe des APC-Detektors entsprechend dem Antriebsinstruktionsbetrag
zu Beginn der automatischen Energiesteuerung mißt. Deshalb kann eine Abnormität des APC-Detektors
auch dann detektiert werden, wenn die APC in Betrieb ist.
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Weiterhin umfaßt die vorliegende Erfindung eine
optische Speichervorrichtung, zum Beschreiben und Lesen eines Speichermediums
unter Verwendung eines Laserstrahls, mit einer Lichtquelle zum Emittieren
eines Laserstrahls auf das Speichermedium, einer Servosteuereinheit
zum Ausführen
einer Verfolgungssteuerung des Laserstrahls auf dem Speichermedium
entsprechend dem reflektierten Licht von dem Speichermedium, einem
APC-Detektor zum Überwachen
der Emissionsenergie der Lichtquelle und einer Steuereinheit zum
Berechnen des Antriebsinstruktionsbetrages gemäß dem Fehler zwischen der Detektionsausgabe
des APC-Detektors und dem Referenzwert, die eine automatische Energiesteuerung
der Lichtquelle gemäß dem Antriebsinstruktionsbetrag
ausführt,
so daß die
Emissionsenergie auf dem Speichermedium während des Schreibens beibehalten
wird, um eine Schreibenergie zu sein, und die Emissionsenergie auf
dem Speichermedium während
des Lesens beibehalten wird, um eine Leseenergie zu sein. Und die
Steuereinheit führt die
automatische Energiesteuerung in einem beliebigen Zeitintervall
aus und beurteilt auch die Abnormität des APC-Detektors durch das
Messen der Fehlerwerte für
eine Vielzahl von Zeiten und Vergleichen der für die Vielzahl von Zeiten in
einem Zustand mit dem feststehenden Antriebsinstruktionsbetrag gemessenen
Fehlerwerte.
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Ferner enthält ein Abnormitätsdetektionsverfahren
der vorliegenden Erfindung einen Steuerungsschritt zum Ausführen einer
automatischen Energiesteuerung einer Lichtquelle, die einen Laserstrahl zum
Beschreiben und Lesen eines Speichermediums auf das Speichermedium
gemäß dem Antriebsinstruktionsbetrag
emittiert, der auf der Basis des Fehlers zwischen der Detektionsausgabe
eines APC-Detektors zum Überwachen
der Emissionsenergie der Lichtquelle und dem Referenzwert berechnet
wurde, so daß die
Emissionsenergie auf dem Speichermedium während des Schreibens beibehalten
wird, um eine Schreibenergie zu sein, und die Emissionsenergie auf
dem Speichermedium während
des Lesens beibehalten wird, um eine Leseenergie zu sein, einen
Schritt zum Ausführen
der automatischen Energiesteuerung in einem beliebigen Zeitintervall
und Messen der Fehlerwerte für
eine Vielzahl von Zeiten in einem Zustand mit dem feststehenden
Antriebsinstruktionsbetrag und einen Schritt zum Beurteilen der
Abnormität
des APC-Detektors durch Vergleichen der Fehlerwerte, die für die Vielzahl
von Zeiten gemessen wurden.
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In diesem Modus werden Fehlerwerte
während
der APC-Verarbeitung verglichen, so daß die Abnormität des APC-Detektors
beurteilt werden kann, bevor die Energie des Speichermediums erhöht wird.
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Des weiteren umfaßt die vorliegende Erfindung
auch eine optische Speichervorrichtung, zum Beschreiben und Lesen
eines Speichermediums unter Verwendung eines Laserstrahls, mit einer
Lichtquelle zum Emittieren eines Laserstrahls auf das Speichermedium,
einer Servosteuereinheit zum Detektieren von reflektiertem Licht
von dem Speichermedium und Ausführen
einer Verfolgungssteuerung des Laserstrahls auf dem Speichermedium,
einem APC-Detektor zum Überwachen
der Emissionsenergie der Lichtquelle und einer Steuereinheit zum
Berechnen des Antriebsinstruktionsbetrages entsprechend der Detektionsausgabe
des APC-Detektors, die eine automatische Energiesteuerung der Lichtquelle
gemäß dem Antriebsinstruktionsbetrag
ausführt,
so daß die
Emissionsenergie auf dem Speichermedium während des Schreibens beibehalten wird,
um eine Schreibenergie zu sein, und die Emissionsenergie auf dem
Speichermedium während
des Lesens beibehalten wird, um eine Leseenergie zu sein. Und die
Steuereinheit mißt
den Durchschnittswert des Betrages des reflektierten Lichtes während einer
vorbestimmten Periode und beurteilt die Abnormität des APC-Detektors durch das
Vergleichen des Durchschnittswertes des gemessenen Betrages des reflektierten
Lichtes mit dem zuvor gemessenen Durchschnittswert des Betrages
des reflektierten Lichtes.
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Ein Abnormitätsdetektionsverfahren eines Detektors
zur Emissionssteuerung gemäß der anderen
Form der vorliegenden Erfindung enthält einen Steuerungsschritt
zum Ausführen
einer automatischen Energiesteuerung einer Lichtquelle, die einen Laserstrahl
zum Beschreiben und Lesen eines Speichermediums auf das Speichermedium
gemäß dem Antriebsinstruktionsbetrag
emittiert, der auf der Basis der Detektionsausgabe eines APC-Detektors
zum Überwachen
der Emissionsenergie der Lichtquelle berechnet wurde, so daß die Emissionsenergie
auf dem Speichermedium während
des Schreibens beibehalten wird, um eine Schreibenergie zu sein,
und die Emissionsenergie auf dem Speichermedium während des
Lesens beibehalten wird, um eine Leseenergie zu sein, einen Schritt
zum Messen des Durchschnittswertes des Betrages des reflektierten Lichtes
von dem Speichermedium während
einer vorbestimmten Periode und einen Schritt zum Beurteilen der
Abnormität
des APC-Detektors
durch das Vergleichen des Durchschnittswertes des gemessenen Betrages
des reflektierten Lichtes mit dem Durchschnittswert des Betrages
des zuvor gemessenen reflektierten Lichtes.
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Auf diese Weise wird die Veränderung
des Betrages des zurückgekehrten
Lichtes während
einer vorbestimmten Periode gemessen, so daß die Abnormität des APC-Detektors
in einem Zustand, wenn die APC-Schleife eingerichtet ist, leicht
beurteilt werden kann.
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KURZE BESCHREIBUNG DER
ZEICHNUNGEN
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1 ist
ein Blockdiagramm, das die optische Speichervorrichtung gemäß einer
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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2 ist
eine Vorderansicht, die den APC-Detektor von 1 zeigt;
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3 ist
eine A-A-Querschnittsansicht von 2;
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4 ist
ein Blockdiagramm, das den LD-Controller von 1 zeigt;
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5 ist
ein Diagramm, das den DAC-Ausgabepegel des LD-Controllers von 4 zeigt;
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6 ist
ein Flußdiagramm,
das die APC-Verarbeitung von 4 zeigt;
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7 ist
ein Flußdiagramm,
das die Referenzwertmeßverarbeitung
gemäß der ersten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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8 ist
ein Flußdiagramm,
das die Abnormitätsbeurteilungsverarbeitung
gemäß der ersten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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9 ist
ein Diagramm, das die Detektionsoperation gemäß der ersten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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10 ist
ein Flußdiagramm,
das die Referenzwertmeßverarbeitung
gemäß der zweiten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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11 ist
ein Flußdiagramm,
das die Abnormitätsbeurteilungsverarbeitung
gemäß der zweiten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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12 ist
ein Flußdiagramm,
das die Abnormitätsbeurteilungsverarbeitung
gemäß der dritten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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13 ist
ein Flußdiagramm,
das die Abnormitätsbeurteilungsverarbeitung
gemäß der vierten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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14 ist
ein Diagramm, das eine herkömmliche
APC-Steuersektion
zeigt;
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15 ist
ein Diagramm, das die Beziehung zwischen dem APC-Antriebswert und
der Energie der Objektivlinse zeigt; und
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16 ist
ein Diagramm, das die herkömmliche
Lese-, Lösch-
und Schreibenergie zeigt.
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BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN
AUSFÜHRUNGSFORMEN
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Nun werden Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung in der Reihenfolge der optischen Speichervorrichtung,
der APC-Steuerungsverarbeitung, der Abnormitätsdetektionsverarbeitung des APC-Detektors
und der anderen Ausführungsformen beschrieben,
wobei die vorliegende Erfindung jedoch nicht auf diese Ausführungsformen
beschränkt
ist.
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Optische Speichervorrichtung
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1 ist
ein Blockdiagramm, das ein gesamtes optisches Plattenlaufwerk gemäß einer
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt, 2 ist eine
Vorderansicht des APC-Detektors von 1, und 3 ist eine A-A-Querschnittsansicht
von 2.
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In 1 wird
ein magneto-optisches Laufwerk unter Verwendung eines optischen
magnetischen Laufwerkes beschrieben, wobei als Beispiel eine magneto-optische
Platte als Aufzeichnungsmedium verwendet wird.
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Der Spindelmotor 42 rotiert
das optische Informationsaufzeichnungsmedium (MO-Platte) 10, wie
in 1 gezeigt. Normalerweise
ist die MO-Platte 10 ein entfernbares Medium, und es wird
in einen Antriebsspalt eingesetzt, der nicht gezeigt ist. Der optische
Aufnehmer 20 ist so positioniert, um der Magnetfeldanwendungsspule 40 zugewandt
zu sein, wodurch das optische Informationsaufzeichnungsmedium 10 sandwichartig
angeordnet ist.
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Der optische Aufnehmer 20,
der durch den Spurbetätiger
(voice coil motor: VCM (Schwingspulenmotor)) 44 bewegt
wird, kann auf eine beliebige Position in einer radialen Richtung
des optischen Informationsaufzeichnungsmediums 10 zugreifen.
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Nun wird der optische Kopf (optischer
Aufnehmer) 20 beschrieben. Das Streulicht von der Laserdiode 22 wird über den
Strahlenteiler 24 zu der Seite des optischen Aufzeichnungsmediums 10 geführt, durch
die Kollimatorlinse (nicht gezeigt) in paralleles Licht verändert, durch.
den Hebespiegel 30 reflektiert, dann durch die Objektivlinse 32 bis
fast zu der Beugungsgrenze auf dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium 10 kondensiert.
Der optische Kopf 20 kann ein optisches System des separaten
Typs sein, wobei die Objektivlinse 32 ein bewegliches optisches
System darstellt und die Laserdiode 22 und der Detektor
ein feststehendes optisches System bilden.
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Ein Teil des Lichtes, das in den
Strahlenteiler 24 eintritt, wird durch den Strahlenteiler 24 reflektiert und über die
Kondensorlinse, die später
unter Bezugnahme auf 2 und 3 beschrieben wird, auf dem
APC-(Auto Power Control)-Detektor 26 kondensiert.
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Das Licht, das durch das optische
Informationsaufzeichnungsmedium 10 reflektiert wird, wird über die
Objektivlinse 32 durch den Spiegel 30 wieder reflektiert
und tritt dann wieder in den Strahlenteiler 24 ein. Ein
Teil des Lichtes, das wieder in den Strahlenteiler 24 eintritt,
kehrt zu der Laserdiode 22 zurück, und der Rest des Lichtes
wird durch den Strahlenteiler 24 reflektiert und über das
Dreistrahl-Wollaston-Prisma
und eine Zylinderlinse, die nicht gezeigt sind, auf dem Detektor
von reflektiertem Licht 28 kondensiert.
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Da das einfallende Licht drei Strahlen
hat, ist der Detektor von reflektiertem Licht 28 gebildet
aus einem viergeteilten Detektor, MO-Signal-Detektoren, die oben
und unten von ihm angeordnet sind, und Detektoren zur Spurfehlerdetektion,
die links und rechts von ihm angeordnet sind.
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Nun wird das Wiedergabesignal beschrieben,
das von jedem Detektor des Detektors von reflektiertem Licht 28 erhalten
wird. Die FES-(Focus Error Signal: Fokusfehlersignal)-Erzeugungsschaltung 62 führt eine
Fokusfehlerdetektion (FES) auf der Basis eines bekannten Astigmatismusverfahrens
unter Verwendung der photoelektrisch-konvertierten Ausgaben A, B,
C und D des viergeteilten Photodetektors aus, wie in 1 gezeigt. Mit anderen Worten,
FES = (A + B) – (C
+ D)/A + B + C + D. Gleichzeitig führt die TES-Erzeugungsschaltung 64 auf
der Basis des Gegentaktverfahrens eine Spurfehlerdetektion (TES) durch
die folgende Berechnungsgleichung unter Verwendung der Ausgaben
E und F des Spurdetektionsdetektors aus. TES
= (E – F)/(E
+ F)
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Das Fokusfehlersignal (focus error
Signal: FES) und das Spurfehlersignal (track error Signal: TES),
die durch diese Berechnungen bestimmt werden, werden dem Servocontroller 74 als
die Fokusrichtungs- und die Spurrichtungspositionsfehlersignale
eingegeben.
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Die Fokusversatzdetektionsschaltung 66 zerschneidet
die Amplitude des Fokusfehlersignals FES bei einer vorbestimmten
Fokusversatzscheibe und gibt das Fokusversatzsignal aus. Und die
Spurversatzdetektionsschaltung 68 zerschneidet die Amplitude
des Spurfehlersignals TES bei einer vorbestimmten Spurversatzscheibe
und gibt das Spurversatzsignal aus. Aufgezeichnete Informationen
auf der MO-Platte 10 werden wie folgt detektiert. Die Polarisationscharakteristik
des reflektierten Lichtes, die sich in Abhängigkeit von der Richtung der
Magnetisierung der magneto-optischen Aufzeichnungsschicht auf dem
optischen Informationsaufzeichnungsmedium 10 ändert, wird
in Lichtintensität
konvertiert. Das heißt,
das von dem Strahlenteiler 24 reflektierte Licht wird durch
Polarisationsdetektion in dem obenerwähnten Dreistrahl-Wollaston-Prisma, das
nicht gezeigt ist, in zwei Strahlen getrennt, wobei die Polarisationsrichtungen
senkrecht zueinander sind, und zwei Strahlen treten durch die Zylinderlinse in
den zweigeteilten Photodetektor des Detektors von reflektiertem
Licht 28 ein und werden jeweilig photoelektrisch konvertiert.
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Die zwei elektrischen Signale G und
H werden nach photoelektrischer Konvertierung durch den zweigeteilten
Photodetektor durch die Lesewiedergabeschaltung 60 subtrahiert
und bilden das Lese-(MO)-Signal (RAM = G – H), das an den Hauptcontroller
(MPU) 70 ausgegeben wird.
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Das reflektierte Licht von der Halbleiterlaserdiode 22,
das in den Photodetektor zur APC 26 eingetreten ist, wird
photoelektrisch konvertiert und dem LD-Controller (LDC) 52 eingegeben.
Der LD-Controller 52 vergleicht den Referenzwert von jedem
Modus (Lesen, Schreiben, Löschen),
der durch den Hauptcontroller 70 angewiesen wird, mit dem
photoelektrischen Konvertierungswert, berechnet den Fehlerwert und
gibt ihn an den Hauptcontroller 70 aus, wie es später unter
Bezugnahme auf 2 erläutert ist.
Die APC-Steuerspannung wird von dem Hauptcontroller 70 an
den LD-Treiber (LDD) 50 ausgegeben.
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Der LD-Treiber 50 konvertiert
die APC-Steuerspannung in den Antriebsgleichstrom und treibt die Laserdiode 22 an.
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Der Servocontroller 74,
dem das Fokusfehlersignal (FES) von der FES-Erzeugungsschaltung 62 und
das Spurfehlersignal (TES) von der TES-Erzeugungsschaltung 64 eingegeben
werden, führt eine
bekannte Fokusservosteuerung aus und treibt den Fokusbetätiger 34 an,
der die Objektivlinse 32 des optischen Kopfes 20 in
der Fokusrichtung antreibt. Ruf dieselbe Weise führt der Servocontroller 74 eine
Spurservosteuerung gemäß dem Spurfehlersignal
(TES) aus und treibt den Spurbetätiger
(VCM) 44 an.
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Der Motorcontroller 76 führt eine
Rotationssteuerung des Spindelmotors 42 aus. Die Schnittstellenschaltung 72 führt eine
Schnittstellensteuerung zwischen dem Hauptcontroller 70 und
dem externen Host aus.
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Der Hauptcontroller 70 gibt
den Referenzwert der Emissionsenergie, den APC-Steuerungswert und
Schreibdaten an den LD-Controller 52 gemäß jedem
Modus (Lesen, Schreiben, Löschen)
aus.
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2 und 3 sind Diagramme, welche die
Montage des obenerwähnten
Photodetektors zur APC 26 zeigen, wobei 2 eine Vorderansicht ist und 3 eine A-A-Quer schnittsansicht
von 2 ist. Der APC-Detektor 26 ist,
wie in 2 und 3 gezeigt, an die Kondensorlinse 260 (Block)
montiert. Die Kondensorlinse 260 ist durch ein Haftmittel 262 an
zwei Stellen an die Mechanismusbasis 14 des optischen Kopfes 20 geklebt.
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Die optische Achse des APC-Detektors 26 ist so
installiert, um mit der reflektierten optischen Achse des Strahlenteilers 24 übereinzustimmen.
Falls die optische Achse des APC-Detektors 26 von derjenigen
bei der Installation abweicht, verändert sich deshalb der Lichtempfangsbetrag
des APC-Detektors 26, und die Beziehung zwischen der Ausgabe
des APC-Detektors 26 und der Emissionsenergie der Objektivlinse
verändert
sich. Die Abweichung der optischen Achse in dieser Konfiguration
wird durch die Ablösung
des Haftmittels 262 auf Grund der Qualitätsminderung
im Laufe der Zeit verursacht. Ferner ist der APC-Detektor 26 in
der Kondensorlinse 260 integriert, so daß sich der
Lichtempfangsbetrag des APC-Detektors 26 verändert, und
die Beziehung zwischen der Ausgabe des APC-Detektors 26 und
der Emissionsenergie der Objektivlinse verändert sich auf Grund der Verschmutzung
der Kondensorlinse und der Qualitätsminderung des Detektors selbst, und
sich die Beziehung zwischen der Ausgabe des APC-Detektors 26 und der Emissionsenergie
der Objektivlinse verändert.
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Bei der vorliegenden Erfindung wird
ein Abfall von APC-Funktionen
auf Grund eines Leistungsabfalls im APC-Detektor detektiert, und
eine Datenzerstörung
wird im voraus verhindert.
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APC-Steuerungsverarbeitung
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4 ist
ein detailliertes Schaltungsdiagramm des LD-Controllers 52 von 1. In 4 sind dieselben Bildungselemente wie
in 1 bis 3 mit denselben Bezugs zeichen
versehen. Die I-V-Konvertierungsschaltung 520 konvertiert
den Detektionsstrom iPD gemäß dem Lichtempfangsbetrag von
dem APC-Detektor 26 in Spannung. Bei diesem Beispiel bilden
der Widerstand und der Differenzverstärker 522 die I-V-Konvertierungsschaltung 520.
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Der Verstärker 524 verstärkt die
konvertierte Spannung. Diese verstärkte Spannung wird durch die
A/D-(Analog/Digital)-Konvertierungsschaltung 514 in einen
digitalen Wert konvertiert und dann in dem Register 500 gespeichert.
Die MPU (Hauptcontroller) 70 kann das Register 500 lesen.
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Der D/A-(Digital/Analog)-Konverter
516 konvertiert den Referenzwert REF von jedem Modus, nämlich vom
Lesen/Löschen/.
Schreiben, der in dem Register 502 durch die MPU 70 festgelegt
ist, in einen analogen Wert. Der Komparator 526 vergleicht die
gemessene Spannung von dem Verstärker 524 und
die Referenzspannung, die in den analogen Wert konvertiert worden
ist, und berechnet den Fehlerbetrag ERR. Dieser Fehlerbetrag ERR
wird durch die A/D-(Analog/Digital)-Konvertierungsschaltung 528
in einen digitalen Wert konvertiert und dann in dem Register 504 gespeichert.
Die MPU (Hauptcontroller) 70 liest das Register 504 und
berechnet den APC-Steuerungswert,
wie es später
erläutert
ist.
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Der LD-Controller 52 umfaßt vier
D/A-(Digital/Analog)-Konverter
für die
Ausgänge 530, 532, 534, 536 und
damit verbundene Register 506, 508, 510 und 512.
Die maximalen Spannungspegel von PrDAC 530, W0DAC 532,
W1DAC 534 und W2DAC 536 sind Pr, W0, W1 bzw. W2,
wie in 5 gezeigt.
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Der PrDAC 530 wird zum Beispiel
für die Ausgabe
der Leseenergie verwendet, der W0DAC 532 wird für die Ausgabe
der Löschenergie
verwendet, und der W0DAC 532 und W1DAC 534 werden für die Ausgabe
der Schreibenergie verwendet. Der W2DAC 536 gibt zusammen
mit dem W0DAC 532 die Schreibanfangsenergie während des
Schreibens aus.
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Der LD-Treiber 50 addiert
die Ausgabe der vier DACs 530–534, konvertiert dies
in den Antriebsstrom und treibt die Laserdiode 22 an. Es
braucht auch nur ein DAC zur Ausgabe vorhanden zu sein. Bei dieser
Konfiguration kann jedoch die maximale Spannung von jedem DAC verringert
werden, die Antriebsspannung verringert werden und der Energieverbrauch
verringert werden.
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Nun wird die APC-Verarbeitung der
MPU 70 unter Verwendung des LD-Controllers 52 unter
Bezugnahme auf 6 beschrieben.
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(S10) Die MPU 70 empfängt die
Detektion des Einsetzens des Mediums (MO-Platte) 10 und startet
den Spindelmotor 42. (S12) Die MPU 70 bewegt den
optischen Aufnehmer 20 zu einer Position, die nicht der
Datenbereich des Mediums 10 ist. Zum Beispiel umfaßt der innerste
Spurbereich des Mediums 10 eine Spiegelfläche, und
deren Außenseite
ist der Datenbereich. Die MPU 70 betreibt die DACs 530–536 über die
Register 506–512 und
läßt die Laserdiode 22 emittieren.
Die MPU 70 läßt die Laserdiode 22 mit
einer Vielzahl von DAC-Werten
emittieren und liest den Ausgabepegel des APC-Detektors 26 zu
dieser Zeit über
den A/D-Konverter 514 und das Register 500. Dadurch mißt die MPU 70 die
Beziehung des DAC vs. der Detektionsausgabe des APC-Detektors, die
in 15 gezeigt ist, unter
Verwendung von DAC-Werten und des Ausgabepegels (Energie). Hierbei
bilden die Energie auf dem Speichermedium und die Detektionsausgabe
des APC-Detektors ein vorbestimmtes Verhältnis. Deshalb ist diese Beziehung
durch den folgenden Ausdruck gegeben, wobei "a" die
Neigung ist und "b" der Schwellenwert
ist.
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Detektionsausgabe des APC-Detektors
= (DAC * a) + b (S14) Nun werden Lese-, Lösch- und Schreiboperationen
möglich.
Wenn die MPU 70 einen Lese- oder Schreib-(Lösch/ Schreib)-Befehl empfängt, legt
die MPU 70 den Referenzwert REF zum Lesen, Schreiben oder
Löschen
in dem Register 502 gemäß 16 fest, berechnet die DAC-Werte zum
Erhalten der Leseenergie, Löschenergie
und Schreibenergie gemäß dem obenerwähnten Beziehungsausdruck
und legt die DAC-Werte für
die Register 506–512 fest.
Als Resultat emittiert die Laserdiode 22 durch die Ausgabespannung
der DACs 530–536 über den
LD-Treiber 50.
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(S16) Einhergehend mit dieser Emission wird
der Stromwert gemäß der Emissionsenergie
von dem RPC-Detektor 26 ausgegeben, und die I-V-Konvertierungsschaltung 520 konvertiert
die Detektionsschaltung iPD, gemäß dem Lichtempfangsbetrag
von dem APC-Detektor 26, in Spannung, und der Verstärker 524 verstärkt die
konvertierte Spannung. Diese verstärkte Spannung wird durch die
A/D-(Analog/Digital)-Konvertierungsschaltung 514 in
einen digitalen Wert konvertiert, dann wird das Resultat mit der
Meßspannung
von dem Verstärker 524 durch
den Komparator 526 verglichen, und der Fehlerbetrag ERR wird
berechnet. Dieser Fehlerbetrag ERR wird durch die A/D-(Analog/Digital)-Konvertierungsschaltung 528
in einen digitalen Wert konvertiert, dann in dem Register 504 gespeichert
und in die MPU (Hauptcontroller) 70 gelesen. Die MPU 70 berechnet
den APC-Steuerungswert (DAC-Wert)
unter Verwendung des obenerwähnten
Beziehungsausdrucks, so daß dieser
Fehlerbetrag null wird, und aktualisiert die Werte der Register 506–512.
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Auf diese weise wird die Emissionsenergie der
Objektivlinse 32 automatisch gesteuert, um auf jedem Niveau,
und zwar beim Lesen, Löschen
und Schreiben, konstant zu sein.
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Abnormitätsdetektionsverarbeitung
des RPC-Detektors
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Nun wird die Abnormitätsdetektionsverarbeitung
zum Detektieren von abnormen Erscheinungen des APC-Detektors und
zum Verhindern einer Datenzerstörung
im voraus beschrieben.
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Im wesentlichen sind bei der vorliegenden Erfindung
festgelegte Werte aus der Vergangenheit gespeichert, wenn die Lichtemissionseinstellung
und die APC (sequentielles Festlegen der LESEENERGIE) arbeiten,
und die Möglichkeit
der Ablösung,
Abweichung, Verschmutzung oder Qualitätsminderung des APC-Detektors
wird detektiert, indem die festgelegten Werte aus der Vergangenheit
mit den gegenwärtigen
festgelegten Werten verglichen werden. Im folgenden werden nun vier
Verarbeitungsverfahren beschrieben, wobei eines von ihnen selektiert
werden kann oder eine Vielzahl von Verarbeitungsverfahren kombiniert
und verwendet werden kann.
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(1) Wenn das Medium geladen wird,
wird die Neigung der Beziehung des DAC-Wertes vs. der Detektionsausgabe
des APC-Detektors
detektiert und mit dem Neigungswert verglichen, der während einer normalen
Operation gespeichert wurde.
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(2) Die Neigung des DAC-Wertes vs.
der Detektionsausgabe des APC-Detektors wird berechnet, wenn die
APC-Operation zum Festlegen der Zielenergie ausgeführt wird,
und mit dem während
einer normalen Operation gespeicherten Neigungswert verglichen.
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Bei dem obigen Verfahren ist die
Neigung der Beziehung zwischen dem DAC-Wert (Antriebsinstruktionswert)
und der APC-Detektor-Ausgabe normalerweise konstant und schwankt
auch dann nicht sehr, falls eine Temperaturveränderung auftreten sollte, aber
bei diesem Beispiel wird die Abnormität des APC-Detektors detektiert,
bevor Daten zerstört werden,
indem der Schwellenwert erhöht
wird.
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(3) Die Differenz von Fehlerbeträgen vor.
der APC-Verarbeitung wird zwischen dem vorherigen Mal und diesem
Mal verglichen.
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(4) Die Veränderung des Betrages des Rückkehrlichtes
(FES oder TES) von dem Medium wird verglichen.
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7 und 8 sind Flußdiagramme,
welche die Verarbeitung zur Detektion der Abnormität des APC-Detektors
gemäß der ersten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigen, und 9 ist ein Diagramm, das die Operation
davon darstellt, die dem obigen Verfahren (1) entspricht.
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(S20) Wie in 7 gezeigt, wird beim Fabrikversand oder
bei einer Inspektion der Vorrichtung die Hochfrequenzmodulation
(HFM) für
die Laserdiode 22 AUSgeschaltet, und die bei Schritt S12
in 6 beschriebene Emissionseinstellung
wird ausgeführt, und
die Neigung "a" des Beziehungsausdrucks
zwischen dem PrDAC-Wert und der Detektionsausgabe des APC-Detektors
wird in dem Flash-Speicher der Vorrichtung gesichert, um als Referenzwert
verwendet zu werden.
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(S22) In 8 wird, wenn das Medium eingesetzt und
gestartet ist, der Beziehungsausdruck des DAC-Wertes vs. der Detektionsausgabe
des APC-Detektors aus dem Emissionseinstellungsresultat bei Schritt
512 in 6 berechnet,
und die Neigung "a1" wird durch diesen
Beziehungsausdruck berechnet.
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(S24) Die Neigung "a1", die diesmal berechnet
wird, und die Neigung "a" beim Fabrikversand werden
verglichen. Mit anderen Worten, es wird beurteilt, ob a1/a der Schwellenwert
Z1 ist oder darunter liegt. Falls a1/a nicht der Schwellenwert Z1
ist oder darunter liegt, weisen die Neigungen keine Differenz auf,
so daß eine
normale Operation ausgeführt
wird.
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(S26) Falls "a1/a" andererseits
der Schwellenwert Z1 ist oder darunter liegt, kann der APC-Detektor
defekt sein, so daß eine
Nachprüfung
ausgeführt
wird. Bei Schritt S22 wurde die Neigung in dem Bereich x1mW–y1mW berechnet,
aber bei einer Nachprüfung
wird die Emissionseinstellung in dem breiteren Bereich x2mW–y2mW ausgeführt, und
die Neigung "a2" des Beziehungsausdrucks
wird berechnet. Die diesmal berech nete Neigung "a2" und
die Neigung "a" beim Fabrikversand
werden verglichen. Mit anderen Worten, es wird beurteilt, ob "a2/a" der Schwellenwert
Z12 ist oder darunter liegt. Falls "a2/a" nicht
der Schwellenwert Z12 ist oder darunter liegt, weisen die Neigungen
eine geringe Differenz auf, so daß eine normale Operation ausgeführt wird.
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(S28) Falls "a2/a" andererseits
der Schwellenwert Z12 ist oder darunter liegt, wird beurteilt, daß der APC-Detektor
defekt ist, wird die Operation gestoppt und blinkt die LED der Vorrichtung.
Dieser Status wird behoben, wenn die Energie wieder EINgeschaltet
wird oder das Medium neu geladen wird.
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Die Beziehung zwischen dem PrDAC-Wert und
der Detektionsausgabe des APC-Detektors verändert sich in Abhängigkeit
von der Temperatur, wie in 15 gezeigt,
aber die Neigung verändert
sich wenig. Wenn sich die Neigung während der Messung bezüglich der
Referenzneigung sehr verändert,
wie in 9 gezeigt, kann
dies als Abnormität
des APC-Detektors angesehen werden, und nicht als Folge einer Temperaturveränderung,
so daß eine
Ablösung,
Abweichung, Qualitätsminderung
oder Verschmutzung des APC-Detektors identifiziert werden kann.
Da die Abnormität
des APC-Detektors nachgeprüft
wird, kann die Abnormität
akkurater detektiert werden, und da auch eine Inspektion ausgeführt wird, wenn
das Medium geladen wird, kann eine Datenzerstörung im voraus verhindert werden.
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10 und 11 sind Flußdiagramme, welche
die Verarbeitung zur Detektion der Abnormität des APC-Detektors gemäß der zweiten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigen, die dem Detektionsverfahren während der
APC-Verarbeitung entspricht, das unter Punkt (2) beschrieben ist.
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(S30) Wie in 10 gezeigt, wird beim Fabrikversand oder
bei der Inspektion der Vorrichtung die Hochfrequenzmodulation (HFM)
für die
Laserdiode 22 EINgeschaltet, und die bei Schritt S12 in 6 beschriebene Emissionseinstellung
wird ausgeführt, und
die Neigung "a "' des Beziehungsausdrucks zwischen dem
PrDAC-Wert und der Detektionsausgabe des APC-Detektors wird in dem
Flash-Speicher der Vorrichtung gesichert, um als Referenzwert verwendet
zu werden.
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(S32) In 11 wird während der normalen Operation,
nachdem das Medium eingesetzt und gestartet wurde, der Beziehungsausdruck
des DAC-Wertes vs. der Detektionsausgabe des APC-Detektors unter
Verwendung des DAC-Wertes vor der Startsteuerung berechnet, wobei
die APC-Steuerung ausgeführt
wird, und die Neigung "a3" wird durch diesen
Beziehungsausdruck berechnet. Der Schwellenwert, der bei dem letzten
Emissionseinstellungsresultat erhalten wurde, wird für Daten
an dem anderen Punkt für
diese Neigungsberechnung verwendet.
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(534) Die Neigung "a3", die diesmal berechnet
wird, und die Neigung "a'" beim Fabrikversand werden verglichen.
Mit anderen Worten, es wird beurteilt, ob "a3/a'" der Schwellenwert
Z2 ist oder darunter liegt. Falls "a3/a'" nicht der Schwellenwert
Z2 ist oder darunter liegt, weisen die Neigungen eine geringe Differenz
auf, so daß eine
normale Operation ausgeführt
wird.
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(S36) Falls "a3/a'" andererseits der
Schwellenwert Z2 ist oder darunter liegt, wird beurteilt, daß der APC-Detektor
defekt ist, so daß die
Operation gestoppt wird. Dieser Status wird behoben, wenn die Energie
wieder EINgeschaltet wird oder wenn das Medium neu geladen wird.
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Auch bei diesem Beispiel verändert sich
die Beziehung zwischen dem PrDAC-Wert und der Detektionsausgabe
des APC-Detektors
in Abhängigkeit von
der Temperatur, wie in 15 gezeigt,
aber die Neigung ändert
sich wenig. Wenn sich die Neigung während der Messung bezüglich der
Referenzneigung sehr verändert,
wie in 9 gezeigt, kann
dies als Abnormität
des APC-Detektors angesehen werden, so daß eine Ablö sung, Abweichung, Qualitätsminderung
oder Verschmutzung des APC-Detektors identifiziert werden kann.
Da die Abnormität
des APC-Detektors detektiert wird, wenn die APC ausgeführt wird,
kann eine Datenzerstörung
im voraus verhindert werden, auch wenn der APC-Detektor während der
APC unerwartet abnorm reagiert.
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Nun wird die dritte Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung beschrieben. Diese Ausführungsform
ist ein Verfahren zum Vergleichen der Differenz der Fehlerwerte
ERR nach der A/D-Konvertierung bei einem konstanten DAC-Wert. Mit
anderen Worten, wenn PrDAC konstant ist, ändert sich der Betrag des Lichtes
von dem APC-Detektor nicht plötzlich.
Somit wird der Fehlerwert ERR, der erhalten wird, wenn Strom von
dem APC-Detektor A/D-konvertiert wird, jedes Mal überwacht,
und wenn die Differenz des Resultates beim vorherigen Mal und des
Resultates bei diesem Mal groß ist,
wird beurteilt, daß der
APC-Detektor defekt ist.
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12 ist
ein Flußdiagramm,
das die Verarbeitung zur Detektion der Abnormität des APC-Detektors gemäß der dritten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellt, die dem unter Punkt (3) beschriebenen
Verfahren entspricht.
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(S40) Bei der APC-Steuerung wird,
nachdem das Medium eingesetzt ist, die APC-Verarbeitung ausgeführt, um
der Zielenergie zu entsprechen, und der Fehlerwert ERR nach der
A/D-Konvertierung wird als Referenzwert "c" gespeichert.
Normalerweise ist der Fehlerwert ERR auf Grund der APC-Verarbeitung null
oder fast null.
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(S42) Vor der nächsten APC-Verarbeitung wird
der Fehlerwert ERR nach der A/D-Konvertierung in dem Zustand mit
einem DAC-Wert der APC in einem beliebigen Zeitintervall gelesen
und gespeichert.
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(S44) Es wird beurteilt, ob sich
der Fokusservostatus verändert
hat oder ob Fokusservo AUS ist, und falls sich der Fokusservostatus
nicht verändert hat
oder falls Fokusservo AUS ist, wird beurteilt, ob der Absolutwert
von (Referenzwert "c" – Fehlerwert von diesem Mal)
der Schwellenwert Z3 ist oder darüber liegt. Falls der Absolutwert
von (Referenzwert "c" – Fehlerwert von diesem Mal)
nicht der Schwellenwert Z3 ist oder darüber liegt, ist die Fehlerdifferenz klein,
so daß eine
normale Operation ausgeführt wird,
und die Verarbeitung kehrt zu Schritt S40 zurück.
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(S46) Falls sich der Fokusservostatus
verändert
hat oder falls Fokusservo AUS ist, wird der größere Schwellenwert Z32 verwendet.
Mit anderen Worten, es wird beurteilt, ob der Absolutwert von (Referenzwert "c" – Fehlerwert
von diesem Mal) der Schwellenwert Z32 ist oder darüber liegt.
Falls der Absolutwert von (Referenzwert "c" – Fehlerwert
von diesem Mal) nicht der Schwellenwert Z32 ist oder darüber liegt,
ist die Fehlerdifferenz klein, so daß eine normale Operation ausgeführt wird,
und die Verarbeitung kehrt zu Schritt S40 zurück.
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(S48) Falls der Absolutwert von (Referenzwert "c" – Fehlerwert
von diesem Mal) andererseits der Schwellenwert Z3 ist oder darüber liegt,
oder Z32 ist oder darüber
liegt, kann der APC-Detektor defekt sein, so daß eine Nachprüfung erfolgt.
Mit anderen Worten, durch das EINschalten des Fokus wird ein Wiederholungsversuch
ausgeführt,
und die Messung bei Schritt S42 und der Vergleich bei Schritt S44
oder S46 werden ausgeführt.
Falls der Absolutwert noch der Schwellenwert Z3 oder Z32 ist oder
darüber
liegt, wird beurteilt, daß der
APC-Detektor defekt ist, und die Operation wird gestoppt. Dieser
Status wird behoben, wenn die Energie wieder EINgeschaltet wird oder
wenn das Medium neu geladen wird.
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Da der Fehler nach der A/D-Konvertierung vom
vorherigen Mal und der Fehler nach der A/D-Konvertierung von diesem
Mal in einem Zustand eines konstanten DAC-Wertes verglichen werden, kann
eine Ablösung,
Abweichung, Qualitätsminderung
oder Verschmutzung des APC-Detektors identifiziert werden. Ferner
kann eine Datenzerstörung
im voraus verhindert werden, auch wenn sich der Status des Detektors
während
der APC plötzlich
verändert.
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Nun wird die vierte Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung beschrieben. Bei dieser Ausführungsform
wird der Betrag von zurückgekehrtem Licht
von solch einem Medium als FES und TES geprüft. Mit anderen Worten, das
Licht, das von dem Medium zurückkehrt,
kontaktiert den Servodetektor 28 von 1, wo der Lichtbetrag detektiert werden kann.
Wenn das Medium geladen ist, wird der Wert des gemessenen Betrages
des zurückgekehrten Lichtes
gespeichert, und wenn der Betrag des zurückgekehrten Lichtes einen gewissen
oberen oder unteren Schwellenwert darstellt, während die APC-Steuerung mit
einer Zielenergie ausgeführt wird,
wird beurteilt, daß der
RPC-Detektor defekt ist.
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(S50) Nachdem das Medium eingesetzt
ist, emittiert die Laserdiode 22 mit einer Leseenergie, wird
der Betrag von zurückgekehrtem
Licht für
einen Zyklus des Mediums (FES durch die Ausgabe des Servodetektors 28 von 1) abgetastet, und der Durchschnittswert "A" von einem Zyklus des Mediums (Referenzwert)
wird gespeichert.
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(S52) Die. Laserdiode 22 emittiert
mit der Leseenergie auf dieselbe Weise in einem beliebigen Zeitintervall,
der Betrag von zurückgekehrtem
Licht für
einen Zyklus des Mediums (FES durch die Ausgabe des Servodetektors 28 von 1) wird abgetastet, und
der Durchschnittswert "B" für einen
Zyklus des Mediums wird gespeichert.
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(S54) Es wird beurteilt, ob sich
der Fokusservostatus verändert
hat oder ob Fokusservo AUS ist, und falls sich der Fokusservostatus
nicht verändert hat
oder falls Fokusservo AUS ist, wird beurteilt, ob der Durchschnittswert "B"/ Referenzwert "A" von
diesem Mal der Schwellenwert Z4 ist oder darüber liegt. Falls der Durchschnittswert "B"/ Referenzwert "A" von
diesem Mal nicht der Schwellenwert Z4 ist oder darüber liegt,
ist der Fehler des Betrages von zurückgekehrtem Licht klein, so
daß eine
normale Operation ausgeführt
wird, und die Verarbeitung kehrt zu Schritt S52 zurück.
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(S56) Falls sich der Fokusservostatus
verändert
hat oder falls Fokusservo AUS ist, wird der größere Schwellenwert Z42 verwendet.
Mit anderen Worten, es wird beurteilt, ob der Durchschnittswert "B"/Referenzwert "A" der
Schwellenwert Z42 ist oder darüber
liegt. Falls der Durchschnittswert "B"/Referenzwert "A" nicht der Schwellenwert Z42 ist oder darüber liegt,
ist der Fehler klein, so daß eine
normale Operation ausgeführt
wird, und die Verarbeitung kehrt zu Schritt S52 zurück.
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(S58) Falls der Durchschnittswert "B"/Referenzwert "A" andererseits
der Schwellenwert Z4 oder Z42 ist oder darüber liegt, kann der APC-Detektor
defekt sein, so daß eine
Nachprüfung
erfolgt. Mit anderen Worten, es wird ein Wiederholungsversuch ausgeführt, indem
der Fokus EINgeschaltet wird und die Messung bei Schritt S52 und
der Vergleich bei Schritt S54 oder S56 ausgeführt werden. Falls der Durchschnittswert "B"/Referenzwert "A" noch
der Schwellenwert Z4 oder Z42 ist oder darüber liegt, wird beurteilt,
daß der
APC-Detektor defekt ist, und die Operation wird gestoppt. Dieser
Status wird behoben, wenn die Energie wieder EINgeschaltet wird
oder wenn das Medium neu geladen wird.
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Falls der APC-Detektor defekt ist,
wird auf diese Weise die Emissionsenergie der Laserdiode durch die
APC-Steuerung erhöht,
und dies kann durch den Betrag von zurückgekehrtem Licht detektiert
werden. Indem ein Durchschnittswert für einen Zyklus des Mediums
verwendet wird, kann die Emissions energie überwacht werden, ohne von anderen Faktoren
abzuhängen.
Indem der Durchschnittswert des Betrages von zurückgekehrtem Licht, nachdem das
Medium eingesetzt ist, als Referenzwert angesehen wird, wird der
Referenzwert mit dem Durchschnittswert des Betrages von zurückgekehrtem Licht
in einem beliebigen Intervall verglichen, so daß eine Ablösung, Abweichung, Qualitätsminderung oder
Verschmutzung des APC-Detektors
identifiziert werden kann.
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Andere Ausführungsformen
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Bei dem oben beschriebenen Beispiel
wird das Fokusfehlersignal durch ein Astigmatismus-Verfahren detektiert,
wird das Spurfehlersignal durch ein Gegentaktverfahren detektiert
und wird das MO-Signal gemäß Differenzdetektionssignalen
der Polarisationskomponenten detektiert, aber das obige optische
System wird für
ein Beispiel der vorliegenden Erfindung verwendet, und es traten
auch dann keine Probleme auf, als das Fokusfehlerdetektionsverfahren
ein Messerkantenverfahren oder ein Punktgröße-Positionsdetektionsverfahren
war. Ferner traten selbst dann keine Probleme auf, als das Spurverfolgungsfehlerdetektionsverfahren
ein Dreistrahl-Verfahren oder ein Phasendifferenzverfahren war.
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Das magneto-optische Plattenlaufwerk
ist beschrieben worden, das eine Aufzeichnung, eine Wiedergabe und
ein Löschen
ausführt,
aber die vorliegende Erfindung kann auf andere optische Plattenlaufwerke
angewendet werden, die eine Aufzeichnung, eine Wiedergabe und ein
Löschen
ausführen (z.
B. DVD-RW, CD-RW). Die vorliegende Erfindung kann ferner auf ein
magneto-optisches Plattenlaufwerk des Überschreibtyps und auf ein
optisches Plattenlaufwerk angewendet werden, das eine Aufzeichnung
und Wiedergabe ausführt.
Die vorliegende Erfindung kann auch auf ein magneto-optisches Plattenlaufwerk
des magnetischen Modulationsschreibtyps angewendet werden. Und das
Aufzeichnungsmedium ist nicht auf eine runde Platte beschränkt, sondern
es kann ein Kartentyp sein.
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Die vorliegende Erfindung ist mit
den Ausführungsformen
beschrieben worden, aber verschiedene Abwandlungen sind innerhalb
des Schutzumfangs des Grundcharakters der vorliegenden Erfindung möglich, die
von dem technischen Schutzumfang der vorliegenden Erfindung nicht
ausgeschlossen sein sollen.
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Bei der vorliegenden Erfindung wird
die Beziehung zwischen dem Antriebsinstruktionsbetrag zur Emission
der Lichtquelle und der Detektionsausgabe des APC-Detektors gemessen,
und die Neigung derselben wird mit der Neigung während einer normalen Zeit verglichen,
so daß eine
Datenzerstörung
auf Grund einer Ablösung,
Abweichung, Verschmutzung oder Qualitätsminderung des APC-Detektors
verhindert werden kann. Ferner werden die Fehlerwerte vor und nach
der APC verglichen, und die Veränderung
des Betrages von zurückgekehrtem Licht
während
einer vorbestimmten Periode wird detektiert, so daß eine Datenzerstörung auf
Grund einer Ablösung,
Abweichung, Verschmutzung oder Qualitätsminderung des APC-Detektors
verhindert werden kann.