JP2004118981A - 光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】ＡＰＣデイテクタのフィードバック出力により、光源のレーザーパワーを自動制御する装置において、ＡＰＣデイテクタの異常による、レーザーパワーの上昇を防止する。
【解決手段】光源（２２）の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタ（２６）の検出出力により、光源（２２）の駆動量を制御する自動パワー制御部（５２、７０）が、ＡＰＣ駆動指示量とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係を計測し、その傾きを正常時の傾きと比較する。又、ＡＰＣ前後の誤差値の比較し、所定期間の戻り光量の変化を検出する。このため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、汚れ、劣化による、データ破壊を未然に防止できる。
【選択図】図４
【解決手段】光源（２２）の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタ（２６）の検出出力により、光源（２２）の駆動量を制御する自動パワー制御部（５２、７０）が、ＡＰＣ駆動指示量とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係を計測し、その傾きを正常時の傾きと比較する。又、ＡＰＣ前後の誤差値の比較し、所定期間の戻り光量の変化を検出する。このため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、汚れ、劣化による、データ破壊を未然に防止できる。
【選択図】図４
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光を用いて、記憶媒体に情報の記録と再生を行う光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
情報記録分野の技術の進展は目覚しく、光を利用した光学メモリー、例えば、光磁気デイスクメモリ、光デイスク、光カードの研究・開発が積極的に進められている。このような光学的記憶装置では、光源に、レーザーダイオードを使用することが多く、又、媒体上での発光パワーを一定にするため、自動パワー制御（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）を利用している。
【０００３】
図１４は、従来の光学記憶装置のＡＰＣ構成図である。図１４に示すように、半導体レーザー素子（レーザーダイオード）１１０から発光された光は、光学系（凸レンズ１００、ビームスプリッタ１１１、立ち上げミラー１４０等）を通過した後、対物レンズ１１６で集光され、記録媒体（デイスク）４に照射される。
【０００４】
記録媒体４からの反射光は、元来た経路で戻り、ビームスプリッタ１１１で反射され、ウオラストンプリズム１２６、集光レンズ１２１を介し、デイテクタ（光電変換素子）１２０で受光される。サーボ／ＭＯ再生部１６０は、周知のように、デイテクタ１２０の出力から、再生信号ＭＯ、トラックエラー信号ＴＥＳ、フォーカスエラー信号ＦＥＳを生成する。
【０００５】
このトラックエラー信号やフォーカスエラー信号により、トラックサーボ及びフォーカスサーボ制御を行い、光ビームを記録媒体のトラックに追従し、合焦点に追従する。
【０００６】
レーザーの駆動方法として一般的であるＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）機構を説明する。ＡＰＣデイテクタ１１３は、ビームスプリッタ１１１からの出射光をモニターする。このＡＰＣデイテクタ１１３の出力は、Ｉ−Ｖ（電流―電圧）変換回路１１４で検出電圧に変換された後、比較器１５３で、メインコントローラ（ＭＰＵ）１８０から出力される基準電圧ＲＥＦと比較される。この基準電圧は、必要とされる光パワーに応じて、変化し、例えば、リードパワー、イレーズパワー、ライトパワーに応じて変化する。
【０００７】
比較器１５３からの差分をゲインアンプ１５４を介し、ドライバー回路１５５に入力し、レーザーダイオード１１０を駆動する。これによって、レーザーダイオード１１０から常に一定の発光量が得られるように構成されている。
【０００８】
一方、図１６に示すように、光ディスク装置は、媒体上に高いライトパワーで、レーザーダイオード１１０を発光させることによって、データを記録している。これに対し、リードパワーは、ライトパワー／イレーズパワーより低いパワーに設定し、媒体のデータを読み出している。
【０００９】
このリードパワーが大きくなり、イレーズパワーやライトパワーに近づくと、媒体上のデータを、リード時に、消してしまうおそれがある。特に、オーバーライト媒体については、特に顕著である。
【００１０】
このような事態を防止するため、コントローラ１８０が設定する目標パワー（基準電圧）は、ＡＰＣデイテクタ１１３に当たる光量をモニターすることによって、決定される。一方、Ｉ−Ｖ（電流−電圧）変換回路１１４の帯域が低いため、短い間隔で発光させるライトパワーや、イレーズパワーは、常時、ＡＰＣ動作を行うことができない。
【００１１】
このため、ＤＣ的に、ＡＰＣデイテクタの検出出力と対物レンズ上のパワーの比が一定であることにより、図１５に示すように、レーザーダイオードに流す電流（この場合は、ＤＡＣ指示値） ｖｓ 対物レンズ上のパワーの関係（ＡＰＣデイテクタの検出出力）を予め測定し、目標パワー値を決定する。又、装置個々の特性や、温度により、この関係のしきい値と傾きが変わる。このため、従来は、任意の時間、温度が変化した場合に、目標パワーを設定する電流値を算出する為に、２点以上の電流値とパワーを測定し、その関係式を求める発光調整という作業を行っていた。（例えば、特許文献１参照。）。
【００１２】
【特許文献１】
特許第３０６０６９８号公報（第８頁乃至第１０頁、図５及び図６）
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
このような発光調整を行うことにより、発光パワーを、適切に設定できる。しかしながら、この前提としては、ＡＰＣデイテクタ１１３が、レーザーダイオード１１０の発光パワーを正確に、モニターしていることにある。
【００１４】
このＡＰＣデイテクタ１１３は、光学ヘッドベース（メカ）に実装されており、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ズレ、汚れ、劣化等が生じる可能性がある。近年のモバイルユースへの適用や、光デイスクドライブの低価格化、光デイスクドライブの低消費電力化により、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ズレ、汚れ、劣化が生じた場合、ＡＰＣデイテクタに当たる光量と、対物レンズ上の光パワーの関係が崩れ、コントローラより設定したパワーよりも大きなパワーで媒体上を光らせ、媒体のデータを消してしまう可能性がある。
【００１５】
従って、本発明の目的は、ＡＰＣデイテクタに当たる光量と、対物レンズ上の光パワーの関係が崩れたことを検出し、データ破壊を未然に防止するための光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法を提供することにある。
【００１６】
又、本発明の他の目的は、リード／ライト動作前に、ＡＰＣデイテクタの異常を検出し、データ破壊を未然に防止するための光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法を提供することにある。
【００１７】
更に、本発明の他の目的は、ＡＰＣデイテクタの剥がれやずれを検出し、データ破壊を未然に防止するための光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
この目的の達成のため、本発明は、レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有する。そして、前記制御部は、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測し、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する。
【００１９】
又、本発明は、記憶媒体の書込み及び読み取りを行うための、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御するステップと、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測するステップと、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する。
【００２０】
本発明では、ＡＰＣ駆動指示量とＡＰＣデイテクタの検出出力の関係の傾きを計測し、基準の傾きと比較するため、測定時の傾きが大きく変化している時は、温度変化による変動ではなく、ＡＰＣデイテクタの異常と見なせ、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。
【００２１】
又、本発明では、好ましくは、前記制御部は、前記駆動指示量で前記光源を駆動した時の前記ＡＰＣデイテクタの検出出力を測定し、前記駆動量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測する。このため、発光調整時に、ＡＰＣデイテクタの異常を検出できる。
【００２２】
又、本発明では、好ましくは、前記記憶媒体のロード時に、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力の関係の傾きを計測する。これにより、リード／ライト前に、未然にＡＰＣデイテクタの異常を検出できる。
【００２３】
又、本発明では、好ましくは、前記制御部は、前記検出した傾きを、前記予め測定した傾きで割った値と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する。このため、種々の傾き特性を持つ光源及び装置に、汎用的に適用できる。
【００２４】
又、本発明では、好ましくは、前記制御部は、任意の時間間隔で前記自動パワー制御するとともに、前記自動パワー制御開始時の前記駆動指示量から、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測する。このため、ＡＰＣ動作中にも、ＡＰＣデイテクタの異常を検出できる。
【００２５】
更に、本発明は、レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有する。そして、前記制御部は、前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定し、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する。
【００２６】
又、本発明の異常検出方法は、記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためのレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定するステップと、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する。
【００２７】
この態様では、ＡＰＣ処理時に誤差を比較するため、記憶媒体のパワーを上げる前に、ＡＰＣデイテクタの異常を判定することができる。
【００２８】
更に、本発明は、レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光を検出して、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有する。そして、前記制御部は、所定期間の前記反射光量の平均値を測定し、予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する。
【００２９】
又、本発明の発光制御用デイテクタの異常検出方法は、記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、所定期間の前記記憶媒体からの反射光量の平均値を測定するステップと、前記測定した反射光量の平均値と予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する。
【００３０】
この態様では、所定期間の戻り光量の変化を測定するため、ＡＰＣループが掛かった状態で、ＡＰＣデイテクタの異常を容易に判定できる。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、光学的記憶装置、ＡＰＣ制御処理、ＡＰＣデイテクタの異常検出処理、他の実施の形態の順で説明するが、本発明は、この実施の形態に限られない。
【００３２】
［光学的記憶装置］
図１は、本発明の一実施の形態の光デイスクドライブの全体ブロック図、図２は、図１のＡＰＣデイテクタの正面図、図３は、図２のＡＰＣデイテクタのＡ−Ａ断面図である。図１では、光学的記憶装置として、光磁気デイスクを記録媒体に使用する光磁気ドライブを例に説明する。
【００３３】
図１に示すように、スピンドルモータ４２は、光情報記録媒体（ＭＯデイスク）１０を回転する。通常、ＭＯデイスク１０は、リムーバブルな媒体であり、図示しないドライブの挿入口から挿入される。光ピックアップ２０は、この光情報記録媒体１０を挟むように磁界印加コイル４０に対向して配置される。
【００３４】
光ピックアップ２０は、トラックアクチュエータ（ボイスコイルモータ；ＶＣＭ）４４により移動し、光情報記録媒体１０の半径方向の任意の位置へアクセスが可能である。
【００３５】
光学ヘッド（光ピックアップ）２０を説明する。レーザーダイオード２２からの拡散光は、ビームスプリッター２４を介して、光情報記録媒体１０側に導かれ、コリメータレンズ（図示せず）により平行光となり、立ち上げミラー３０で反射後、対物レンズ３２により、光情報記録媒体１０上にほぼ回折限界まで集光される。尚、光学ヘッド２０は、対物レンズ３２を移動光学系とし、レーザーダイオード２２やデイテクタを固定光学系とする分離型光学系で構成しても良い。
【００３６】
このビームスプリッター２４に入射する光の一部は、ビームスプリッター２４により反射され、図２及び図３で後述する集光レンズを介してＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）デイテクタ２６に集光される。
【００３７】
又、光情報記録媒体１０より反射された光は、再び対物レンズ３２を介し、ミラー３０で反射後、ビームスプリッター２４に再度入射する。ビームスプリッター２４に再度入射した光の一部は、レーザーダイオード２２へ戻り、残りの光は、ビームスプリッター２４により反射され、図示しない３ビームウオラストンプリズム、円筒面レンズを介して、反射光デイテクタ２８上に集光される。
【００３８】
反射光デイテクタ２８は、入射光が３ビームであることから、４分割デイテクタと、その上下に配置されたＭＯ信号デイテクタと、その左右に配置されたトラックエラー検出用デイテクタとで構成される。
【００３９】
反射光デイテクタ２８の各デイテクタから得られる再生信号を説明する。図１に示すように、ＦＥＳ（Ｆｏｃｕｓ Ｅｒｒｏｒ Ｓｉｇｎａｌ）生成回路６２は、光電変換された４分割フォトデイテクタの出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより、周知の非点収差法によるフォーカスエラー検出（ＦＥＳ）を行う。即ち、
ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）
同時に，プッシュプル法によるＴＥＳ生成回路６４は、トラック検出デイテクタの出力Ｅ，Ｆから、下記演算式で、トラックエラー検出（ＴＥＳ）を行う。
【００４０】
ＴＥＳ＝（Ｅ−Ｆ）／（Ｅ＋Ｆ）
これらの計算により求められたフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）及びトラックエラー信号（ＴＥＳ）は、フォーカス方向及びトラック方向の位置誤差信号として、サーボコントローラ７４に入力される。
【００４１】
オフフォーカス検出回路６６は、フォーカスエラー信号ＦＥＳの振幅を、所定のオフフォーカススライスでスライスして、オフフォーカス信号を出力する。オフトラック検出回路６８は、トラックエラー信号ＴＥＳの振幅を、所定のオフトラックスライスでスライスし、オフトラック信号を出力する。
【００４２】
一方、ＭＯデイスク１０の記録情報検出は、次のようである。光情報記録媒体１０上の光磁気記録層の磁化の向きによって変わる反射光の偏光特性が、光強度に変換される。すなわち、ビームスプリッター２４からの反射光が、前述の図示しない３ビームウォラストンにおいて、偏光検波により偏光方向が互いに直交する２つのビームに分離し、円筒面レンズを通して反射光デイテクタ２８の２分割フォトデイテクタに入射し、それぞれ光電変換される。
【００４３】
２分割フォトデイテクタで光電変換された２つの電気信号Ｇ，Ｈは、リード再生回路６０で、減算され、読みだし（ＭＯ）信号（ＲＡＭ＝Ｇ−Ｈ）となり、メインコントローラ（ＭＰＵ）７０に出力される。
【００４４】
ＬＤコントローラ５２には、ＡＰＣ用フォトデイテクタ２６に入射した半導体レーザーダイオード２２の反射光が光電変換されて、入力される。図２で後述するように、ＬＤコントローラ５２は、メインコントローラ７０から指示された各モード（リード、ライト、イレーズ）の基準値と光電変換値とを比較して、エラー値を計算し、メインコントローラ７０に出力する。又、メインコントローラ７０からＡＰＣ制御電圧をＬＤドライブ５０に出力する。
【００４５】
ＬＤドライブ５０は、ＡＰＣ制御電圧を直流駆動電流に変換し、レーザーダイオード２２を駆動する。
【００４６】
サーボコントローラ７４は、ＦＥＳ生成回路６２からのフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）、ＴＥＳ生成回路６４からのトラックエラー信号（ＴＥＳ）を入力され、周知のフォーカスサーボ制御を行い、光学ヘッド２０の対物レンズ３２をフォーカス方向に駆動するフォーカスアクチュエータ３４を駆動する。同様に、サーボコントローラ７４は、トラックエラー信号（ＴＥＳ）に応じて、トラックサーボ制御を行い、トラックアクチュエータ（ＶＣＭ）４４を駆動する。
【００４７】
モータコントローラ７６は、スピンドルモータ４２を回転制御する。インターフェイス回路７２は、メインコントローラ７０と外部のホストとのインターフェイス制御を行う。
【００４８】
メインコントローラ７０は、各モード（リード、ライト、イレーズ）に応じて、ＬＤコントローラ５２に発光パワーの基準値、ＡＰＣ制御値及びライトデータを出力する。
【００４９】
図２及び図３は、前述のＡＰＣ用フォトデイテクタ２６の実装図であり、図２は、その正面図、図３は、図２のＡ−Ａ断面図である。図２及び図３に示すように、ＡＰＣデイテクタ２６は、集光レンズ２６０（のブロック）に取り付けられている。この集光レンズ２６０は、光学ヘッド２０のメカベース１４に、接着剤２６２で、２箇所接着されている。
【００５０】
このＡＰＣデイテクタ２６の光軸は、ビームスプリッター２４の反射光軸に一致するように、取り付けられる。従って、ＡＰＣデイテクタ２６の光軸が、取り付け時とずれると、ＡＰＣデイテクタ２６の受光量が変化し、ＡＰＣデイテクタ２６の出力と対物レンズの発光パワーの関係が変化する。この構成による光軸ずれの原因としては、経年変化による接着剤２６２の剥がれがある。又、集光レンズ２６０と一体のため、集光レンズの汚れや、デイテクタ自体の劣化により、ＡＰＣデイテクタ２６の受光量が変化し、ＡＰＣデイテクタ２６の出力と対物レンズの発光パワーの関係が変化する。
【００５１】
本発明では、このようなＡＰＣデイテクタの性能低下によるＡＰＣ機能の低下を検出し、データ破壊を未然に防止するものである。
【００５２】
［ＡＰＣ制御処理］
図４は、図１のＬＤコントローラ５２の詳細回路図である。図４において、図１乃至図３で示したものと同一のものは、同一の記号で示してある。ＩＶ変換回路５２０は、ＡＰＣデイテクタ２６からの受光量に応じた検出電流ｉＰＤを、電圧に変換する。この例では、抵抗と差動アンプ５２２とでＩＶ変換回路５２０を構成する。
【００５３】
増幅アンプ５２４は、変換された電圧を増幅する。この増幅電圧は、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５１４で、デジタル値に変換された後、レジスタ５００に格納される。ＭＰＵ（メインコントローラ）７０は、レジスタ５００を読み込むことができる。
【００５４】
Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）変換器５１６は、ＭＰＵ７０からレジスタ５０２にセットされたリード／イレーズ／ライトの各モードの基準値ＲＥＦを、アナログに変換する。比較器５２６は、増幅アンプ５２４からの測定電圧と、アナログに変換された基準電圧を比較し、誤差ＥＲＲを計算する。この誤差量ＥＲＲは、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５２８で、デジタル値に変換された後、レジスタ５０４に格納される。ＭＰＵ（メインコントローラ）７０は、レジスタ５０４を読み込み、後述するように、ＡＰＣ制御値を計算する。
【００５５】
ＬＤコントローラ５２は、４つの出力用Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）変換器５３０、５３２、５３４、５３６と、これに接続されたレジスタ５０６、５０８、５１０、５１２とを有する。ＰｒＤＡＣ５３０、Ｗ０ＤＡＣ５３２、Ｗ１ＤＡＣ５３４、Ｗ２ＤＡＣ５３６の最大電圧レベルは、図５に示すように、各々Ｐｒ、Ｗ０，Ｗ１，Ｗ２である。
【００５６】
例えば、ＰｒＤＡＣ５３０は、リードパワーの出力に利用し、Ｗ０ＤＡＣ５３２は、イレーズパワーの出力に利用し、Ｗ０ＤＡＣ５３２とＷ１ＤＡＣ５３４とで、ライトパワーを出力する。又、Ｗ２ＤＡＣ５３６は、Ｗ０ＤＡＣ５３２とを合わせて、ライト時のライト初期パワーを出力する。
【００５７】
ＬＤドライバ５０は、４つのＤＡＣ５３０〜５３４の出力を加え、駆動電流に変換して、レーザーダイオード２２を駆動する。尚、出力用ＤＡＣは、１つでも良い。しかし、このように構成すると、各ＤＡＣの最大電圧を低下でき、駆動電圧を低減でき、しかも消費電力を小さくできる。
【００５８】
次に、ＬＤコントローラ５２を使用したＭＰＵ７０のＡＰＣ処理を、図６により説明する。
【００５９】
（Ｓ１０）ＭＰＵ７０は、媒体（ＭＯデイスク）１０の挿入検出を受けると、スピンドルモータ４２を起動する。
【００６０】
（Ｓ１２）ＭＰＵ７０は、光ピックアップ２０を、媒体１０のデータエリア以外の位置に移動する。例えば、媒体１０の最内周エリアは、鏡面で構成され、データエリア外である。そして、ＭＰＵ７０は、ＤＡＣ５３０〜５３６を、レジスタ５０６〜５１２を介し操作し、レーザーダイオード２２を，発光させる。ＭＰＵ７０は、複数のＤＡＣ値で、レーザーダイオード２２を発光させ、その時のＡＰＣデイテクタ２６の出力レベルを、Ａ／Ｄコンバータ５１４、レジスタ５００を介し、読み取る。これにより、ＭＰＵ７０は、複数のＤＡＣ値と、出力レベル（パワー）とから、図１５で示したＤＡＣｖｓＡＰＣデイテクタの検出出力の関係を測定する。ここで、記憶媒体上のパワーと、ＡＰＣデイテクタの検出出力とは、一定の比となるようにしている。故に、この関係は、ａを傾き、ｂを閾値とし、下記式で表現される。
【００６１】
ＡＰＣデイテクタの検出出力＝ＤＡＣ＊ａ＋ｂ
（Ｓ１４）そして、リード、イレーズ、ライトの動作が可能となる。ＭＰＵ７０は、リード、ライト（イレーズ・ライト）コマンドを受けると、図１６に従い、リード、ライト、イレーズのいずれかの基準値ＲＥＦをレジスタ５０２にセットし、且つ前述の関係式に従い、リードパワー、イレーズパワー、ライトパワーを得るためのＤＡＣ値を計算し、レジスタ５０６〜５１２にセットする。これにより、ＤＡＣ５３０〜５３６の出力電圧により、ＬＤドライバ５０を介し、レーザーダイオード２２が発光する。
【００６２】
（Ｓ１６）この発光に伴い、ＡＰＣデイテクタ２６から発光パワーに応じた電流値が出力され、ＩＶ変換回路５２０は、ＡＰＣデイテクタ２６からの受光量に応じた検出電流ｉＰＤを、電圧に変換し、増幅アンプ５２４は、変換された電圧を増幅する。この増幅電圧は、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５１４で、デジタル値に変換された後、比較器５２６で、増幅アンプ５２４からの測定電圧と、比較され、誤差ＥＲＲが計算される。この誤差量ＥＲＲは、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５２８で、デジタル値に変換された後、レジスタ５０４に格納され、ＭＰＵ（メインコントローラ）７０に、読み込まれる。ＭＰＵ７０は、この誤差がゼロになるようなＡＰＣ制御値（ＤＡＣ値）を、前述の関係式から計算し、レジスタ５０６〜５１２の値を更新する。
【００６３】
このようにして、対物レンズ３２の発光パワーを、リード、イレーズ、ライトの各レベルで一定に自動制御する。
【００６４】
［ＡＰＣデイテクタの異常検出処理］
次に、ＡＰＣデイテクタの異常現象を検出し、データ破壊を未然に防ぐための異常検出処理を説明する。本発明は、発光調整、ＡＰＣ（ＲＥＡＤ ＰＯＷＥＲの逐次設定）動作時に，過去の設定値を覚えておき、現在の設定値との比較で、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ズレ、汚れ、劣化等を生じた可能性がある場合を検出することを基本とし、以下、４つの処理方法を説明するが、これらの１つを選択できるし、複数を組み合わせて、使用できる。
【００６５】
（１）媒体ロード時に、ＤＡＣ値 ｖｓ ＡＰＣデイテクタの検出出力の傾きを検出し、正常動作時に記憶した傾き値と比較を行う。
【００６６】
（２）目標パワーに設定するＡＰＣ動作を行う時に、ＤＡＣ値 ｖｓ ＡＰＣデイテクタの検出出力の傾きを算出し、正常動作時に記憶した傾き値と比較を行う。
【００６７】
以上の方法では、ＤＡＣ値（駆動指示値）とＡＰＣデイテクタ出力との関係の傾きは、通常一定であり、温度変化が生じても、変動は少ないが、この例では、閾値を大きくすることにより、ＡＰＣデイテクタの異常を、データ破壊前に検出する。
【００６８】
（３）前回と今回のＡＰＣ処理前の誤差ＥＲＲの差を比較する。
【００６９】
（４）媒体からの戻り光量（ＦＥＳ又はＴＥＳ）の変化を比較する
図７及び図８は、本発明の第１の実施の形態のＡＰＣデイテクタの異常検出処理フロー図、図９は、その動作説明図であり、前述の（１）の方法に対応する。
【００７０】
（Ｓ２０）図７に示すように、工場出荷時又は装置の検査時に、レーザーダイオード２２への高周波重畳（Ｈｉｇｈ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）をオフとし、図６のステップＳ１２で説明した発光調整を行い、ＰｒＤＡＣ値とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係式の傾きａを、装置内のフラッシュメモリにセーブし、基準値とする。
【００７１】
（Ｓ２２）図８に移り、媒体の挿入及び起動時に、図６のステップＳ１２の発光調整結果から、ＤＡＣ値 ｖｓ ＡＰＣデイテクタの検出出力の関係式を算出し、この関係式より傾きａ１を算出する。
【００７２】
（Ｓ２４）今回算出した傾きａ１と、工場出荷時の傾きａとを比較する。即ち、ａ１／ａが、閾値ｚ１以下かを判定する。ａ１／ａが、閾値ｚ１以下でない時は、傾きに差が少ないため、正常動作に移行する。
【００７３】
（Ｓ２６）一方、ａ１／ａが、閾値ｚ１以下であれば、ＡＰＣデイテクタの不良の可能性があり、再チエックする。ステップＳ２２では、ｘ１ｍＷ〜ｙ１ｍＷの範囲で傾きを算出したが、再チエックでは、発光調整を、それより範囲の広いｘ２ｍＷ〜ｙ２ｍＷの範囲で測定し、関係式の傾きａ２を算出する。この今回算出した傾きａ２と、工場出荷時の傾きａとを比較する。即ち、ａ２／ａが、閾値ｚ１２以下かを判定する。ａ２／ａが、閾値ｚ１２以下でない時は、傾きに差が少ないため、正常動作に移行する。
【００７４】
（Ｓ２８）一方、ａ２／ａが、閾値ｚ１２以下であれば、ＡＰＣデイテクタの不良と判定し、ストップ状態とし、装置のＬＥＤを点滅する。尚、電源の再投入又は媒体の再ロードで、復旧する。
【００７５】
ＰｒＤＡＣ値とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係は、図１５に示したように、温度により変化するが、傾きはそれ程変化しない。図９に示すように、基準の傾きに対し、測定時の傾きが大きく変化している時は、温度変化によるものではなく、ＡＰＣデイテクタの異常と見なせるため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。又、再チエックするため、より正確に検出でき、更に、媒体ロード時に検査するため、データ破壊を未然に防止できる。
【００７６】
図１０及び図１１は、本発明の第２の実施の形態のＡＰＣデイテクタの異常検出処理フロー図であり、前述の（２）のＡＰＣ処理中の検出方法に対応する。
【００７７】
（Ｓ３０）図１０に示すように、工場出荷時又は装置の検査時に、レーザーダイオード２２への高周波重畳（Ｈｉｇｈ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）をオンとし、図６のステップＳ１２で説明した発光調整を行い、ＰｒＤＡＣ値とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係式の傾きａ’を、装置内のフラッシュメモリにセーブし、基準値とする。
【００７８】
（Ｓ３２）図１１に移り、媒体の挿入及び起動後の通常動作時に、ＡＰＣ制御を行う開始時の制御前のＤＡＣ値を使用し、ＤＡＣ値 ｖｓ ＡＰＣデイテクタの検出出力の関係式を算出し、この関係式より傾きａ３を算出する。この傾き計算のもう一点のデータは、最新の発光調整結果で得た閾値を使用する。
【００７９】
（Ｓ３４）今回算出した傾きａ３と、工場出荷時の傾きａ’とを比較する。即ち、ａ３／ａ’が、閾値ｚ２以下かを判定する。ａ３／ａ’が、閾値ｚ２以下でない時は、傾きに差が少ないため、正常動作に移行する。
【００８０】
（Ｓ３６）一方、ａ３／ａ’が、閾値ｚ２以下であれば、ＡＰＣデイテクタの不良と判定し、ストップ状態とする。尚、電源の再投入又は媒体の再ロードで、復旧する。
【００８１】
この例でも、ＰｒＤＡＣ値とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係は、図１５に示したように、温度により変化するが、傾きはそれ程変化しない。図９に示すように、基準の傾きに対し、測定時の傾きが大きく変化している時は、ＡＰＣデイテクタの異常と見なせるため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。又、ＡＰＣを行う場合に、検出するため、ＡＰＣ中に突発的にＡＰＣデイテクタが異常となっても、データ破壊を未然に防止できる。
【００８２】
次に、本発明の第３の実施の形態を説明する。この実施の形態は、一定のＤＡＣ値において、Ａ／Ｄ変換後の誤差ＥＲＲの差を比較する方法である。即ち、ＰｒＤＡＣが一定である場合、通常、急激にＡＰＣデイテクタからの光量は変化しない。そこで、ＡＰＣデイテクタからの電流をＡ／Ｄ変換して得られる誤差値ＥＲＲを毎回モニターし、前回結果と今回結果の差が大きい場合を、ＡＰＣデイテクタの不良と判別する。
【００８３】
図１２は、本発明の第３の実施の形態のＡＰＣデイテクタの異常検出処理フロー図であり、前述の（３）の方法に対応する。
【００８４】
（Ｓ４０）媒体の挿入後のＡＰＣ制御時に、目標パワーに合わせるために、ＡＰＣ処理を行い、Ａ／Ｄ変換した誤差値ＥＲＲを、基準値ｃとして、記憶する。通常、ＡＰＣ処理により、誤差値ＥＲＲは、ゼロ又は殆どゼロである。
【００８５】
（Ｓ４２）任意の時間間隔で、次回のＡＰＣ処理前に、そのＡＰＣのＤＡＣ値の状態で、Ａ／Ｄ変換した誤差値ＥＲＲを読み込み、記憶する。
【００８６】
（Ｓ４４）フォーカスサーボ状態が変化したか、又はフォーカスサーボオフであるかを判定し、フォーカスサーボ状態が変化しない又はフォーカスサーボオフの状態であれば、（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３以上かを判定する。（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３以上でない時は、誤差の差が少ないため、正常動作に移行し、ステップＳ４０に戻る。
【００８７】
（Ｓ４６）フォーカスサーボ状態が変化したか、又はフォーカスサーボオフである時は、より大きい閾値ｚ３２を使用する。即ち、（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３２以上かを判定する。（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３２以上でない時は、誤差の差が少ないため、正常動作に移行し、ステップＳ４０に戻る。
【００８８】
（Ｓ４８）一方、（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３以上又はｚ３２以上であれば、ＡＰＣデイテクタの不良の可能性があり、再チエックする。即ち、フォーカスオンによりリトライを行い、ステップＳ４２の測定、ステップＳ４４又はＳ４６の比較を行う。それでも、閾値ｚ３又はｚ３２以上を検出した時は、ＡＰＣデイテクタの不良と判定し、ストップ状態とする。尚、電源の再投入又は媒体の再ロードで、復旧する。
【００８９】
このように、一定のＤＡＣ値の状態で、前回Ａ／Ｄ変換した誤差と今回のＡ／Ｄ変換を行った誤差とを比較するため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。又、ＡＰＣ中に急激にデイテクタの状態が変化した場合でも、データ破壊を未然に防止できる。
【００９０】
次に、本発明の第４の実施の形態を説明する。この実施の形態は、ＦＥＳ，ＴＥＳ等の媒体からの戻り光量をチェックするものである。即ち、媒体から戻ってきた光は、図１のサーボディテクタ２８に当たり、光量を検出出来る。媒体ロード時に観測した戻り光量値を記憶し、目標パワーでＡＰＣ制御した際に、戻り光量が上下のあるしきい値になったら、ＡＰＣデイテクタの不良と判別する。
【００９１】
（Ｓ５０）媒体の挿入後に、リードパワーで、レーザーダイオード２２を発光し、媒体１周期の戻り光量（図１のサーボデイテクタ２８の出力によるＦＥＳ）をサンプルし、媒体１周期の平均値（基準値）Ａを記憶する。
【００９２】
（Ｓ５２）任意の時間間隔で、同様に、リードパワーで、レーザーダイオード２２を発光し、媒体１周期の戻り光量（図１のサーボデイテクタ２８の出力によるＦＥＳ）をサンプルし、媒体１周期の平均値Ｂを記憶する。
【００９３】
（Ｓ５４）フォーカスサーボ状態が変化したか、又はフォーカスサーボオフであるかを判定し、フォーカスサーボ状態が変化しない又はフォーカスサーボオフの状態であれば、今回の平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４以上かを判定する。平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４以上でない時は、戻り光量の誤差が少ないため、正常動作に移行し、ステップＳ５２に戻る。
【００９４】
（Ｓ５６）フォーカスサーボ状態が変化したか、又はフォーカスサーボオフである時は、より大きい閾値ｚ４２を使用する。即ち、平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４２以上かを判定する。平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４２以上でない時は、誤差が少ないため、正常動作に移行し、ステップＳ５２に戻る。
【００９５】
（Ｓ５８）一方、平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４又はｚ４２以上であれば、ＡＰＣデイテクタの不良の可能性があり、再チエックする。即ち、フォーカスオンによりリトライを行い、ステップＳ５２の測定、ステップＳ５４又はＳ５６の比較を行う。それでも、閾値ｚ４又はｚ４２以上を検出した時は、ＡＰＣデイテクタの不良と判定し、ストップ状態とする。尚、電源の再投入又は媒体の再ロードで、復旧する。
【００９６】
このように、ＡＰＣデイテクタが不良なら、ＡＰＣ制御により、レーザーダイオードの発光パワーが増大し、これを戻り光量で検出できる。媒体１周期の平均値をとれば、他の要因によらず、発光パワーをモニターできる。媒体挿入後の戻り光量の平均値を基準とし、任意間隔で戻り光量の平均値とを比較するため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。
【００９７】
［他の実施の形態］
尚、フォーカスエラー信号は非点収差法、トラックエラー信号はプッシュプル法により検出し、ＭＯ信号は偏光成分の差動検出信号から検出している例で説明したが、前記した光学系は本発明の実施例で使用するものであり、フォーカシングエラー検出方法としては、ナイフエッジ法、スポットサイズ位置検出法などでも、何ら問題無い。また、トラッキングエラー検出法は３ビーム法、位相差法などを用いても何ら問題無い。
【００９８】
又、記録・再生・イレーズを行う光磁気デイスクドライブで説明したが、記録・再生・イレーズを行う他の光デイスクドライブ（ＤＶＤ−ＲＷ、ＣＤ−ＲＷ等）にも適用できる。記録・再生を行う、所謂オーバーライトの光磁気デイスクドライブ、光デイスクドライブに適用できる。又、磁界変調書込み型の光磁気デイスクドライブにも適用できる。しかも、記録媒体は、円盤上のデイスクに限らず、カード形状等であっても良い。
【００９９】
以上、本発明を実施の形態で説明したが、本発明の趣旨の範囲内において、種々の変形が可能であり、これらを、本発明の技術的範囲から排除するものではない。
【０１００】
（付記１）レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、前記制御部は、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測し、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１０１】
（付記２）前記制御部は、前記駆動指示量で前記光源を駆動した時の前記ＡＰＣデイテクタの検出出力を測定し、前記駆動指示量と前記検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記１の光学的記憶装置。
【０１０２】
（付記３）前記記憶媒体のロード時に、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力の関係の傾きを計測することを特徴とする付記１の光学的記憶装置。
【０１０３】
（付記４）前記制御部は、前記検出した傾きを、前記予め測定した傾きで割った値と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記１の光学的記憶装置。
【０１０４】
（付記５）前記制御部は、任意の時間間隔で前記自動パワー制御するとともに、前記自動パワー制御開始時の前記駆動指示量から、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記１の光学的記憶装置。
【０１０５】
（付記６）レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、前記制御部は、前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定し、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１０６】
（付記７）前記制御部は、前記複数回の誤差の差分と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記６の光学的記憶装置。
【０１０７】
（付記８）レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光を検出して、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、前記制御部は、所定期間の前記反射光量の平均値を測定し、予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１０８】
（付記９）前記制御部は、前記両平均値の比と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記８の光学的記憶装置。
【０１０９】
（付記１０）記憶媒体の書込み及び読み取りを行うための、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御するステップと、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測するステップと、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有することを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１０】
（付記１１）前記計測ステップは、前記駆動指示量で前記光源を駆動した時の前記ＡＰＣデイテクタの検出出力を測定し、前記駆動指示量と前記検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記９の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１１】
（付記１２）前記記憶媒体のロード時に、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記９の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１２】
（付記１３）判定ステップは、前記計測した傾きを、前記予め測定した傾きで割った値と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記９の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１３】
（付記１４）前記計測ステップは、任意の時間間隔で前記自動パワー制御するとともに、前記自動パワー制御開始時の前記駆動指示量から、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記９の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１４】
（付記１５）記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためのレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定するステップと、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有することを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１５】
（付記１６）前記判定ステップは、前記複数回の内、２回以上の誤差の差分と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記１５の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１６】
（付記１７）記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、所定期間の前記記憶媒体からの反射光量の平均値を測定するステップと、前記測定した反射光量の平均値と予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有することを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１７】
（付記１８）前記判定ステップは、前記両平均値の比と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記１７の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１８】
【発明の効果】
光源を発光させるための駆動指示量とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係を測定し、その傾きを正常時の傾きと比較するため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、汚れ、劣化による、データ破壊を未然に防止できる。同様に、ＡＰＣ前後の誤差値の比較、所定期間の戻り光量の変化を検出するため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、汚れ、劣化による、データ破壊を未然に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の光学的記憶装置の構成図である。
【図２】図１のＡＰＣデイテクタの正面図である。
【図３】図２のＡ−Ａ断面図である。
【図４】図１のＬＤコントローラの構成図である。
【図５】図４のＬＤコントローラのＤＡＣ出力レベルの説明図である。
【図６】図４のＡＰＣ処理フロー図である。
【図７】本発明の第１の実施の形態の基準値測定処理フロー図である。
【図８】本発明の第１の実施の形態の異常判定処理フロー図である。
【図９】本発明の第１の実施の形態の検出動作説明図である。
【図１０】本発明の第２の実施の形態の基準値測定処理フロー図である。
【図１１】本発明の第２の実施の形態の異常判定処理フロー図である。
【図１２】本発明の第３の実施の形態の異常判定処理フロー図である。
【図１３】本発明の第４の実施の形態の異常判定処理フロー図である。
【図１４】従来のＡＰＣ制御部の説明図である。
【図１５】ＡＰＣ駆動値と対物レンズのパワーとの関係図である。
【図１６】従来のリード、イレーズ、ライトパワーの説明図である。
【符号の説明】
１０ 光学的記憶媒体（ＭＯデイスク）
２０ 光ピックアップ
２２ 半導体レーザーダイオード
２６ ＡＰＣデイテクタ
２４ ビームスプリッタ
３２ 対物レンズ
３４ フォーカスアクチュエータ
４２ スピンドルモータ
４４ トラックアクチュエータ
５０ ＬＤドライバ
５２ ＬＤコントローラ
６２ ＦＥＳ生成回路
６４ ＴＥＳ生成回路
７４ サーボコントローラ
７０ メインコントローラ
【発明の属する技術分野】
本発明は、光を用いて、記憶媒体に情報の記録と再生を行う光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
情報記録分野の技術の進展は目覚しく、光を利用した光学メモリー、例えば、光磁気デイスクメモリ、光デイスク、光カードの研究・開発が積極的に進められている。このような光学的記憶装置では、光源に、レーザーダイオードを使用することが多く、又、媒体上での発光パワーを一定にするため、自動パワー制御（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）を利用している。
【０００３】
図１４は、従来の光学記憶装置のＡＰＣ構成図である。図１４に示すように、半導体レーザー素子（レーザーダイオード）１１０から発光された光は、光学系（凸レンズ１００、ビームスプリッタ１１１、立ち上げミラー１４０等）を通過した後、対物レンズ１１６で集光され、記録媒体（デイスク）４に照射される。
【０００４】
記録媒体４からの反射光は、元来た経路で戻り、ビームスプリッタ１１１で反射され、ウオラストンプリズム１２６、集光レンズ１２１を介し、デイテクタ（光電変換素子）１２０で受光される。サーボ／ＭＯ再生部１６０は、周知のように、デイテクタ１２０の出力から、再生信号ＭＯ、トラックエラー信号ＴＥＳ、フォーカスエラー信号ＦＥＳを生成する。
【０００５】
このトラックエラー信号やフォーカスエラー信号により、トラックサーボ及びフォーカスサーボ制御を行い、光ビームを記録媒体のトラックに追従し、合焦点に追従する。
【０００６】
レーザーの駆動方法として一般的であるＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）機構を説明する。ＡＰＣデイテクタ１１３は、ビームスプリッタ１１１からの出射光をモニターする。このＡＰＣデイテクタ１１３の出力は、Ｉ−Ｖ（電流―電圧）変換回路１１４で検出電圧に変換された後、比較器１５３で、メインコントローラ（ＭＰＵ）１８０から出力される基準電圧ＲＥＦと比較される。この基準電圧は、必要とされる光パワーに応じて、変化し、例えば、リードパワー、イレーズパワー、ライトパワーに応じて変化する。
【０００７】
比較器１５３からの差分をゲインアンプ１５４を介し、ドライバー回路１５５に入力し、レーザーダイオード１１０を駆動する。これによって、レーザーダイオード１１０から常に一定の発光量が得られるように構成されている。
【０００８】
一方、図１６に示すように、光ディスク装置は、媒体上に高いライトパワーで、レーザーダイオード１１０を発光させることによって、データを記録している。これに対し、リードパワーは、ライトパワー／イレーズパワーより低いパワーに設定し、媒体のデータを読み出している。
【０００９】
このリードパワーが大きくなり、イレーズパワーやライトパワーに近づくと、媒体上のデータを、リード時に、消してしまうおそれがある。特に、オーバーライト媒体については、特に顕著である。
【００１０】
このような事態を防止するため、コントローラ１８０が設定する目標パワー（基準電圧）は、ＡＰＣデイテクタ１１３に当たる光量をモニターすることによって、決定される。一方、Ｉ−Ｖ（電流−電圧）変換回路１１４の帯域が低いため、短い間隔で発光させるライトパワーや、イレーズパワーは、常時、ＡＰＣ動作を行うことができない。
【００１１】
このため、ＤＣ的に、ＡＰＣデイテクタの検出出力と対物レンズ上のパワーの比が一定であることにより、図１５に示すように、レーザーダイオードに流す電流（この場合は、ＤＡＣ指示値） ｖｓ 対物レンズ上のパワーの関係（ＡＰＣデイテクタの検出出力）を予め測定し、目標パワー値を決定する。又、装置個々の特性や、温度により、この関係のしきい値と傾きが変わる。このため、従来は、任意の時間、温度が変化した場合に、目標パワーを設定する電流値を算出する為に、２点以上の電流値とパワーを測定し、その関係式を求める発光調整という作業を行っていた。（例えば、特許文献１参照。）。
【００１２】
【特許文献１】
特許第３０６０６９８号公報（第８頁乃至第１０頁、図５及び図６）
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
このような発光調整を行うことにより、発光パワーを、適切に設定できる。しかしながら、この前提としては、ＡＰＣデイテクタ１１３が、レーザーダイオード１１０の発光パワーを正確に、モニターしていることにある。
【００１４】
このＡＰＣデイテクタ１１３は、光学ヘッドベース（メカ）に実装されており、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ズレ、汚れ、劣化等が生じる可能性がある。近年のモバイルユースへの適用や、光デイスクドライブの低価格化、光デイスクドライブの低消費電力化により、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ズレ、汚れ、劣化が生じた場合、ＡＰＣデイテクタに当たる光量と、対物レンズ上の光パワーの関係が崩れ、コントローラより設定したパワーよりも大きなパワーで媒体上を光らせ、媒体のデータを消してしまう可能性がある。
【００１５】
従って、本発明の目的は、ＡＰＣデイテクタに当たる光量と、対物レンズ上の光パワーの関係が崩れたことを検出し、データ破壊を未然に防止するための光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法を提供することにある。
【００１６】
又、本発明の他の目的は、リード／ライト動作前に、ＡＰＣデイテクタの異常を検出し、データ破壊を未然に防止するための光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法を提供することにある。
【００１７】
更に、本発明の他の目的は、ＡＰＣデイテクタの剥がれやずれを検出し、データ破壊を未然に防止するための光学的記憶装置及び発光制御用デイテクタの異常検出方法を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
この目的の達成のため、本発明は、レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有する。そして、前記制御部は、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測し、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する。
【００１９】
又、本発明は、記憶媒体の書込み及び読み取りを行うための、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御するステップと、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測するステップと、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する。
【００２０】
本発明では、ＡＰＣ駆動指示量とＡＰＣデイテクタの検出出力の関係の傾きを計測し、基準の傾きと比較するため、測定時の傾きが大きく変化している時は、温度変化による変動ではなく、ＡＰＣデイテクタの異常と見なせ、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。
【００２１】
又、本発明では、好ましくは、前記制御部は、前記駆動指示量で前記光源を駆動した時の前記ＡＰＣデイテクタの検出出力を測定し、前記駆動量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測する。このため、発光調整時に、ＡＰＣデイテクタの異常を検出できる。
【００２２】
又、本発明では、好ましくは、前記記憶媒体のロード時に、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力の関係の傾きを計測する。これにより、リード／ライト前に、未然にＡＰＣデイテクタの異常を検出できる。
【００２３】
又、本発明では、好ましくは、前記制御部は、前記検出した傾きを、前記予め測定した傾きで割った値と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する。このため、種々の傾き特性を持つ光源及び装置に、汎用的に適用できる。
【００２４】
又、本発明では、好ましくは、前記制御部は、任意の時間間隔で前記自動パワー制御するとともに、前記自動パワー制御開始時の前記駆動指示量から、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測する。このため、ＡＰＣ動作中にも、ＡＰＣデイテクタの異常を検出できる。
【００２５】
更に、本発明は、レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有する。そして、前記制御部は、前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定し、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する。
【００２６】
又、本発明の異常検出方法は、記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためのレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定するステップと、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する。
【００２７】
この態様では、ＡＰＣ処理時に誤差を比較するため、記憶媒体のパワーを上げる前に、ＡＰＣデイテクタの異常を判定することができる。
【００２８】
更に、本発明は、レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光を検出して、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有する。そして、前記制御部は、所定期間の前記反射光量の平均値を測定し、予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する。
【００２９】
又、本発明の発光制御用デイテクタの異常検出方法は、記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、所定期間の前記記憶媒体からの反射光量の平均値を測定するステップと、前記測定した反射光量の平均値と予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する。
【００３０】
この態様では、所定期間の戻り光量の変化を測定するため、ＡＰＣループが掛かった状態で、ＡＰＣデイテクタの異常を容易に判定できる。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、光学的記憶装置、ＡＰＣ制御処理、ＡＰＣデイテクタの異常検出処理、他の実施の形態の順で説明するが、本発明は、この実施の形態に限られない。
【００３２】
［光学的記憶装置］
図１は、本発明の一実施の形態の光デイスクドライブの全体ブロック図、図２は、図１のＡＰＣデイテクタの正面図、図３は、図２のＡＰＣデイテクタのＡ−Ａ断面図である。図１では、光学的記憶装置として、光磁気デイスクを記録媒体に使用する光磁気ドライブを例に説明する。
【００３３】
図１に示すように、スピンドルモータ４２は、光情報記録媒体（ＭＯデイスク）１０を回転する。通常、ＭＯデイスク１０は、リムーバブルな媒体であり、図示しないドライブの挿入口から挿入される。光ピックアップ２０は、この光情報記録媒体１０を挟むように磁界印加コイル４０に対向して配置される。
【００３４】
光ピックアップ２０は、トラックアクチュエータ（ボイスコイルモータ；ＶＣＭ）４４により移動し、光情報記録媒体１０の半径方向の任意の位置へアクセスが可能である。
【００３５】
光学ヘッド（光ピックアップ）２０を説明する。レーザーダイオード２２からの拡散光は、ビームスプリッター２４を介して、光情報記録媒体１０側に導かれ、コリメータレンズ（図示せず）により平行光となり、立ち上げミラー３０で反射後、対物レンズ３２により、光情報記録媒体１０上にほぼ回折限界まで集光される。尚、光学ヘッド２０は、対物レンズ３２を移動光学系とし、レーザーダイオード２２やデイテクタを固定光学系とする分離型光学系で構成しても良い。
【００３６】
このビームスプリッター２４に入射する光の一部は、ビームスプリッター２４により反射され、図２及び図３で後述する集光レンズを介してＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）デイテクタ２６に集光される。
【００３７】
又、光情報記録媒体１０より反射された光は、再び対物レンズ３２を介し、ミラー３０で反射後、ビームスプリッター２４に再度入射する。ビームスプリッター２４に再度入射した光の一部は、レーザーダイオード２２へ戻り、残りの光は、ビームスプリッター２４により反射され、図示しない３ビームウオラストンプリズム、円筒面レンズを介して、反射光デイテクタ２８上に集光される。
【００３８】
反射光デイテクタ２８は、入射光が３ビームであることから、４分割デイテクタと、その上下に配置されたＭＯ信号デイテクタと、その左右に配置されたトラックエラー検出用デイテクタとで構成される。
【００３９】
反射光デイテクタ２８の各デイテクタから得られる再生信号を説明する。図１に示すように、ＦＥＳ（Ｆｏｃｕｓ Ｅｒｒｏｒ Ｓｉｇｎａｌ）生成回路６２は、光電変換された４分割フォトデイテクタの出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより、周知の非点収差法によるフォーカスエラー検出（ＦＥＳ）を行う。即ち、
ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）
同時に，プッシュプル法によるＴＥＳ生成回路６４は、トラック検出デイテクタの出力Ｅ，Ｆから、下記演算式で、トラックエラー検出（ＴＥＳ）を行う。
【００４０】
ＴＥＳ＝（Ｅ−Ｆ）／（Ｅ＋Ｆ）
これらの計算により求められたフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）及びトラックエラー信号（ＴＥＳ）は、フォーカス方向及びトラック方向の位置誤差信号として、サーボコントローラ７４に入力される。
【００４１】
オフフォーカス検出回路６６は、フォーカスエラー信号ＦＥＳの振幅を、所定のオフフォーカススライスでスライスして、オフフォーカス信号を出力する。オフトラック検出回路６８は、トラックエラー信号ＴＥＳの振幅を、所定のオフトラックスライスでスライスし、オフトラック信号を出力する。
【００４２】
一方、ＭＯデイスク１０の記録情報検出は、次のようである。光情報記録媒体１０上の光磁気記録層の磁化の向きによって変わる反射光の偏光特性が、光強度に変換される。すなわち、ビームスプリッター２４からの反射光が、前述の図示しない３ビームウォラストンにおいて、偏光検波により偏光方向が互いに直交する２つのビームに分離し、円筒面レンズを通して反射光デイテクタ２８の２分割フォトデイテクタに入射し、それぞれ光電変換される。
【００４３】
２分割フォトデイテクタで光電変換された２つの電気信号Ｇ，Ｈは、リード再生回路６０で、減算され、読みだし（ＭＯ）信号（ＲＡＭ＝Ｇ−Ｈ）となり、メインコントローラ（ＭＰＵ）７０に出力される。
【００４４】
ＬＤコントローラ５２には、ＡＰＣ用フォトデイテクタ２６に入射した半導体レーザーダイオード２２の反射光が光電変換されて、入力される。図２で後述するように、ＬＤコントローラ５２は、メインコントローラ７０から指示された各モード（リード、ライト、イレーズ）の基準値と光電変換値とを比較して、エラー値を計算し、メインコントローラ７０に出力する。又、メインコントローラ７０からＡＰＣ制御電圧をＬＤドライブ５０に出力する。
【００４５】
ＬＤドライブ５０は、ＡＰＣ制御電圧を直流駆動電流に変換し、レーザーダイオード２２を駆動する。
【００４６】
サーボコントローラ７４は、ＦＥＳ生成回路６２からのフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）、ＴＥＳ生成回路６４からのトラックエラー信号（ＴＥＳ）を入力され、周知のフォーカスサーボ制御を行い、光学ヘッド２０の対物レンズ３２をフォーカス方向に駆動するフォーカスアクチュエータ３４を駆動する。同様に、サーボコントローラ７４は、トラックエラー信号（ＴＥＳ）に応じて、トラックサーボ制御を行い、トラックアクチュエータ（ＶＣＭ）４４を駆動する。
【００４７】
モータコントローラ７６は、スピンドルモータ４２を回転制御する。インターフェイス回路７２は、メインコントローラ７０と外部のホストとのインターフェイス制御を行う。
【００４８】
メインコントローラ７０は、各モード（リード、ライト、イレーズ）に応じて、ＬＤコントローラ５２に発光パワーの基準値、ＡＰＣ制御値及びライトデータを出力する。
【００４９】
図２及び図３は、前述のＡＰＣ用フォトデイテクタ２６の実装図であり、図２は、その正面図、図３は、図２のＡ−Ａ断面図である。図２及び図３に示すように、ＡＰＣデイテクタ２６は、集光レンズ２６０（のブロック）に取り付けられている。この集光レンズ２６０は、光学ヘッド２０のメカベース１４に、接着剤２６２で、２箇所接着されている。
【００５０】
このＡＰＣデイテクタ２６の光軸は、ビームスプリッター２４の反射光軸に一致するように、取り付けられる。従って、ＡＰＣデイテクタ２６の光軸が、取り付け時とずれると、ＡＰＣデイテクタ２６の受光量が変化し、ＡＰＣデイテクタ２６の出力と対物レンズの発光パワーの関係が変化する。この構成による光軸ずれの原因としては、経年変化による接着剤２６２の剥がれがある。又、集光レンズ２６０と一体のため、集光レンズの汚れや、デイテクタ自体の劣化により、ＡＰＣデイテクタ２６の受光量が変化し、ＡＰＣデイテクタ２６の出力と対物レンズの発光パワーの関係が変化する。
【００５１】
本発明では、このようなＡＰＣデイテクタの性能低下によるＡＰＣ機能の低下を検出し、データ破壊を未然に防止するものである。
【００５２】
［ＡＰＣ制御処理］
図４は、図１のＬＤコントローラ５２の詳細回路図である。図４において、図１乃至図３で示したものと同一のものは、同一の記号で示してある。ＩＶ変換回路５２０は、ＡＰＣデイテクタ２６からの受光量に応じた検出電流ｉＰＤを、電圧に変換する。この例では、抵抗と差動アンプ５２２とでＩＶ変換回路５２０を構成する。
【００５３】
増幅アンプ５２４は、変換された電圧を増幅する。この増幅電圧は、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５１４で、デジタル値に変換された後、レジスタ５００に格納される。ＭＰＵ（メインコントローラ）７０は、レジスタ５００を読み込むことができる。
【００５４】
Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）変換器５１６は、ＭＰＵ７０からレジスタ５０２にセットされたリード／イレーズ／ライトの各モードの基準値ＲＥＦを、アナログに変換する。比較器５２６は、増幅アンプ５２４からの測定電圧と、アナログに変換された基準電圧を比較し、誤差ＥＲＲを計算する。この誤差量ＥＲＲは、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５２８で、デジタル値に変換された後、レジスタ５０４に格納される。ＭＰＵ（メインコントローラ）７０は、レジスタ５０４を読み込み、後述するように、ＡＰＣ制御値を計算する。
【００５５】
ＬＤコントローラ５２は、４つの出力用Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）変換器５３０、５３２、５３４、５３６と、これに接続されたレジスタ５０６、５０８、５１０、５１２とを有する。ＰｒＤＡＣ５３０、Ｗ０ＤＡＣ５３２、Ｗ１ＤＡＣ５３４、Ｗ２ＤＡＣ５３６の最大電圧レベルは、図５に示すように、各々Ｐｒ、Ｗ０，Ｗ１，Ｗ２である。
【００５６】
例えば、ＰｒＤＡＣ５３０は、リードパワーの出力に利用し、Ｗ０ＤＡＣ５３２は、イレーズパワーの出力に利用し、Ｗ０ＤＡＣ５３２とＷ１ＤＡＣ５３４とで、ライトパワーを出力する。又、Ｗ２ＤＡＣ５３６は、Ｗ０ＤＡＣ５３２とを合わせて、ライト時のライト初期パワーを出力する。
【００５７】
ＬＤドライバ５０は、４つのＤＡＣ５３０〜５３４の出力を加え、駆動電流に変換して、レーザーダイオード２２を駆動する。尚、出力用ＤＡＣは、１つでも良い。しかし、このように構成すると、各ＤＡＣの最大電圧を低下でき、駆動電圧を低減でき、しかも消費電力を小さくできる。
【００５８】
次に、ＬＤコントローラ５２を使用したＭＰＵ７０のＡＰＣ処理を、図６により説明する。
【００５９】
（Ｓ１０）ＭＰＵ７０は、媒体（ＭＯデイスク）１０の挿入検出を受けると、スピンドルモータ４２を起動する。
【００６０】
（Ｓ１２）ＭＰＵ７０は、光ピックアップ２０を、媒体１０のデータエリア以外の位置に移動する。例えば、媒体１０の最内周エリアは、鏡面で構成され、データエリア外である。そして、ＭＰＵ７０は、ＤＡＣ５３０〜５３６を、レジスタ５０６〜５１２を介し操作し、レーザーダイオード２２を，発光させる。ＭＰＵ７０は、複数のＤＡＣ値で、レーザーダイオード２２を発光させ、その時のＡＰＣデイテクタ２６の出力レベルを、Ａ／Ｄコンバータ５１４、レジスタ５００を介し、読み取る。これにより、ＭＰＵ７０は、複数のＤＡＣ値と、出力レベル（パワー）とから、図１５で示したＤＡＣｖｓＡＰＣデイテクタの検出出力の関係を測定する。ここで、記憶媒体上のパワーと、ＡＰＣデイテクタの検出出力とは、一定の比となるようにしている。故に、この関係は、ａを傾き、ｂを閾値とし、下記式で表現される。
【００６１】
ＡＰＣデイテクタの検出出力＝ＤＡＣ＊ａ＋ｂ
（Ｓ１４）そして、リード、イレーズ、ライトの動作が可能となる。ＭＰＵ７０は、リード、ライト（イレーズ・ライト）コマンドを受けると、図１６に従い、リード、ライト、イレーズのいずれかの基準値ＲＥＦをレジスタ５０２にセットし、且つ前述の関係式に従い、リードパワー、イレーズパワー、ライトパワーを得るためのＤＡＣ値を計算し、レジスタ５０６〜５１２にセットする。これにより、ＤＡＣ５３０〜５３６の出力電圧により、ＬＤドライバ５０を介し、レーザーダイオード２２が発光する。
【００６２】
（Ｓ１６）この発光に伴い、ＡＰＣデイテクタ２６から発光パワーに応じた電流値が出力され、ＩＶ変換回路５２０は、ＡＰＣデイテクタ２６からの受光量に応じた検出電流ｉＰＤを、電圧に変換し、増幅アンプ５２４は、変換された電圧を増幅する。この増幅電圧は、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５１４で、デジタル値に変換された後、比較器５２６で、増幅アンプ５２４からの測定電圧と、比較され、誤差ＥＲＲが計算される。この誤差量ＥＲＲは、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換回路５２８で、デジタル値に変換された後、レジスタ５０４に格納され、ＭＰＵ（メインコントローラ）７０に、読み込まれる。ＭＰＵ７０は、この誤差がゼロになるようなＡＰＣ制御値（ＤＡＣ値）を、前述の関係式から計算し、レジスタ５０６〜５１２の値を更新する。
【００６３】
このようにして、対物レンズ３２の発光パワーを、リード、イレーズ、ライトの各レベルで一定に自動制御する。
【００６４】
［ＡＰＣデイテクタの異常検出処理］
次に、ＡＰＣデイテクタの異常現象を検出し、データ破壊を未然に防ぐための異常検出処理を説明する。本発明は、発光調整、ＡＰＣ（ＲＥＡＤ ＰＯＷＥＲの逐次設定）動作時に，過去の設定値を覚えておき、現在の設定値との比較で、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ズレ、汚れ、劣化等を生じた可能性がある場合を検出することを基本とし、以下、４つの処理方法を説明するが、これらの１つを選択できるし、複数を組み合わせて、使用できる。
【００６５】
（１）媒体ロード時に、ＤＡＣ値 ｖｓ ＡＰＣデイテクタの検出出力の傾きを検出し、正常動作時に記憶した傾き値と比較を行う。
【００６６】
（２）目標パワーに設定するＡＰＣ動作を行う時に、ＤＡＣ値 ｖｓ ＡＰＣデイテクタの検出出力の傾きを算出し、正常動作時に記憶した傾き値と比較を行う。
【００６７】
以上の方法では、ＤＡＣ値（駆動指示値）とＡＰＣデイテクタ出力との関係の傾きは、通常一定であり、温度変化が生じても、変動は少ないが、この例では、閾値を大きくすることにより、ＡＰＣデイテクタの異常を、データ破壊前に検出する。
【００６８】
（３）前回と今回のＡＰＣ処理前の誤差ＥＲＲの差を比較する。
【００６９】
（４）媒体からの戻り光量（ＦＥＳ又はＴＥＳ）の変化を比較する
図７及び図８は、本発明の第１の実施の形態のＡＰＣデイテクタの異常検出処理フロー図、図９は、その動作説明図であり、前述の（１）の方法に対応する。
【００７０】
（Ｓ２０）図７に示すように、工場出荷時又は装置の検査時に、レーザーダイオード２２への高周波重畳（Ｈｉｇｈ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）をオフとし、図６のステップＳ１２で説明した発光調整を行い、ＰｒＤＡＣ値とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係式の傾きａを、装置内のフラッシュメモリにセーブし、基準値とする。
【００７１】
（Ｓ２２）図８に移り、媒体の挿入及び起動時に、図６のステップＳ１２の発光調整結果から、ＤＡＣ値 ｖｓ ＡＰＣデイテクタの検出出力の関係式を算出し、この関係式より傾きａ１を算出する。
【００７２】
（Ｓ２４）今回算出した傾きａ１と、工場出荷時の傾きａとを比較する。即ち、ａ１／ａが、閾値ｚ１以下かを判定する。ａ１／ａが、閾値ｚ１以下でない時は、傾きに差が少ないため、正常動作に移行する。
【００７３】
（Ｓ２６）一方、ａ１／ａが、閾値ｚ１以下であれば、ＡＰＣデイテクタの不良の可能性があり、再チエックする。ステップＳ２２では、ｘ１ｍＷ〜ｙ１ｍＷの範囲で傾きを算出したが、再チエックでは、発光調整を、それより範囲の広いｘ２ｍＷ〜ｙ２ｍＷの範囲で測定し、関係式の傾きａ２を算出する。この今回算出した傾きａ２と、工場出荷時の傾きａとを比較する。即ち、ａ２／ａが、閾値ｚ１２以下かを判定する。ａ２／ａが、閾値ｚ１２以下でない時は、傾きに差が少ないため、正常動作に移行する。
【００７４】
（Ｓ２８）一方、ａ２／ａが、閾値ｚ１２以下であれば、ＡＰＣデイテクタの不良と判定し、ストップ状態とし、装置のＬＥＤを点滅する。尚、電源の再投入又は媒体の再ロードで、復旧する。
【００７５】
ＰｒＤＡＣ値とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係は、図１５に示したように、温度により変化するが、傾きはそれ程変化しない。図９に示すように、基準の傾きに対し、測定時の傾きが大きく変化している時は、温度変化によるものではなく、ＡＰＣデイテクタの異常と見なせるため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。又、再チエックするため、より正確に検出でき、更に、媒体ロード時に検査するため、データ破壊を未然に防止できる。
【００７６】
図１０及び図１１は、本発明の第２の実施の形態のＡＰＣデイテクタの異常検出処理フロー図であり、前述の（２）のＡＰＣ処理中の検出方法に対応する。
【００７７】
（Ｓ３０）図１０に示すように、工場出荷時又は装置の検査時に、レーザーダイオード２２への高周波重畳（Ｈｉｇｈ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）をオンとし、図６のステップＳ１２で説明した発光調整を行い、ＰｒＤＡＣ値とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係式の傾きａ’を、装置内のフラッシュメモリにセーブし、基準値とする。
【００７８】
（Ｓ３２）図１１に移り、媒体の挿入及び起動後の通常動作時に、ＡＰＣ制御を行う開始時の制御前のＤＡＣ値を使用し、ＤＡＣ値 ｖｓ ＡＰＣデイテクタの検出出力の関係式を算出し、この関係式より傾きａ３を算出する。この傾き計算のもう一点のデータは、最新の発光調整結果で得た閾値を使用する。
【００７９】
（Ｓ３４）今回算出した傾きａ３と、工場出荷時の傾きａ’とを比較する。即ち、ａ３／ａ’が、閾値ｚ２以下かを判定する。ａ３／ａ’が、閾値ｚ２以下でない時は、傾きに差が少ないため、正常動作に移行する。
【００８０】
（Ｓ３６）一方、ａ３／ａ’が、閾値ｚ２以下であれば、ＡＰＣデイテクタの不良と判定し、ストップ状態とする。尚、電源の再投入又は媒体の再ロードで、復旧する。
【００８１】
この例でも、ＰｒＤＡＣ値とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係は、図１５に示したように、温度により変化するが、傾きはそれ程変化しない。図９に示すように、基準の傾きに対し、測定時の傾きが大きく変化している時は、ＡＰＣデイテクタの異常と見なせるため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。又、ＡＰＣを行う場合に、検出するため、ＡＰＣ中に突発的にＡＰＣデイテクタが異常となっても、データ破壊を未然に防止できる。
【００８２】
次に、本発明の第３の実施の形態を説明する。この実施の形態は、一定のＤＡＣ値において、Ａ／Ｄ変換後の誤差ＥＲＲの差を比較する方法である。即ち、ＰｒＤＡＣが一定である場合、通常、急激にＡＰＣデイテクタからの光量は変化しない。そこで、ＡＰＣデイテクタからの電流をＡ／Ｄ変換して得られる誤差値ＥＲＲを毎回モニターし、前回結果と今回結果の差が大きい場合を、ＡＰＣデイテクタの不良と判別する。
【００８３】
図１２は、本発明の第３の実施の形態のＡＰＣデイテクタの異常検出処理フロー図であり、前述の（３）の方法に対応する。
【００８４】
（Ｓ４０）媒体の挿入後のＡＰＣ制御時に、目標パワーに合わせるために、ＡＰＣ処理を行い、Ａ／Ｄ変換した誤差値ＥＲＲを、基準値ｃとして、記憶する。通常、ＡＰＣ処理により、誤差値ＥＲＲは、ゼロ又は殆どゼロである。
【００８５】
（Ｓ４２）任意の時間間隔で、次回のＡＰＣ処理前に、そのＡＰＣのＤＡＣ値の状態で、Ａ／Ｄ変換した誤差値ＥＲＲを読み込み、記憶する。
【００８６】
（Ｓ４４）フォーカスサーボ状態が変化したか、又はフォーカスサーボオフであるかを判定し、フォーカスサーボ状態が変化しない又はフォーカスサーボオフの状態であれば、（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３以上かを判定する。（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３以上でない時は、誤差の差が少ないため、正常動作に移行し、ステップＳ４０に戻る。
【００８７】
（Ｓ４６）フォーカスサーボ状態が変化したか、又はフォーカスサーボオフである時は、より大きい閾値ｚ３２を使用する。即ち、（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３２以上かを判定する。（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３２以上でない時は、誤差の差が少ないため、正常動作に移行し、ステップＳ４０に戻る。
【００８８】
（Ｓ４８）一方、（基準値ｃ−今回誤差値）の絶対値が、閾値ｚ３以上又はｚ３２以上であれば、ＡＰＣデイテクタの不良の可能性があり、再チエックする。即ち、フォーカスオンによりリトライを行い、ステップＳ４２の測定、ステップＳ４４又はＳ４６の比較を行う。それでも、閾値ｚ３又はｚ３２以上を検出した時は、ＡＰＣデイテクタの不良と判定し、ストップ状態とする。尚、電源の再投入又は媒体の再ロードで、復旧する。
【００８９】
このように、一定のＤＡＣ値の状態で、前回Ａ／Ｄ変換した誤差と今回のＡ／Ｄ変換を行った誤差とを比較するため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。又、ＡＰＣ中に急激にデイテクタの状態が変化した場合でも、データ破壊を未然に防止できる。
【００９０】
次に、本発明の第４の実施の形態を説明する。この実施の形態は、ＦＥＳ，ＴＥＳ等の媒体からの戻り光量をチェックするものである。即ち、媒体から戻ってきた光は、図１のサーボディテクタ２８に当たり、光量を検出出来る。媒体ロード時に観測した戻り光量値を記憶し、目標パワーでＡＰＣ制御した際に、戻り光量が上下のあるしきい値になったら、ＡＰＣデイテクタの不良と判別する。
【００９１】
（Ｓ５０）媒体の挿入後に、リードパワーで、レーザーダイオード２２を発光し、媒体１周期の戻り光量（図１のサーボデイテクタ２８の出力によるＦＥＳ）をサンプルし、媒体１周期の平均値（基準値）Ａを記憶する。
【００９２】
（Ｓ５２）任意の時間間隔で、同様に、リードパワーで、レーザーダイオード２２を発光し、媒体１周期の戻り光量（図１のサーボデイテクタ２８の出力によるＦＥＳ）をサンプルし、媒体１周期の平均値Ｂを記憶する。
【００９３】
（Ｓ５４）フォーカスサーボ状態が変化したか、又はフォーカスサーボオフであるかを判定し、フォーカスサーボ状態が変化しない又はフォーカスサーボオフの状態であれば、今回の平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４以上かを判定する。平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４以上でない時は、戻り光量の誤差が少ないため、正常動作に移行し、ステップＳ５２に戻る。
【００９４】
（Ｓ５６）フォーカスサーボ状態が変化したか、又はフォーカスサーボオフである時は、より大きい閾値ｚ４２を使用する。即ち、平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４２以上かを判定する。平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４２以上でない時は、誤差が少ないため、正常動作に移行し、ステップＳ５２に戻る。
【００９５】
（Ｓ５８）一方、平均値Ｂ／基準値Ａが、閾値ｚ４又はｚ４２以上であれば、ＡＰＣデイテクタの不良の可能性があり、再チエックする。即ち、フォーカスオンによりリトライを行い、ステップＳ５２の測定、ステップＳ５４又はＳ５６の比較を行う。それでも、閾値ｚ４又はｚ４２以上を検出した時は、ＡＰＣデイテクタの不良と判定し、ストップ状態とする。尚、電源の再投入又は媒体の再ロードで、復旧する。
【００９６】
このように、ＡＰＣデイテクタが不良なら、ＡＰＣ制御により、レーザーダイオードの発光パワーが増大し、これを戻り光量で検出できる。媒体１周期の平均値をとれば、他の要因によらず、発光パワーをモニターできる。媒体挿入後の戻り光量の平均値を基準とし、任意間隔で戻り光量の平均値とを比較するため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、劣化、汚れ等と識別できる。
【００９７】
［他の実施の形態］
尚、フォーカスエラー信号は非点収差法、トラックエラー信号はプッシュプル法により検出し、ＭＯ信号は偏光成分の差動検出信号から検出している例で説明したが、前記した光学系は本発明の実施例で使用するものであり、フォーカシングエラー検出方法としては、ナイフエッジ法、スポットサイズ位置検出法などでも、何ら問題無い。また、トラッキングエラー検出法は３ビーム法、位相差法などを用いても何ら問題無い。
【００９８】
又、記録・再生・イレーズを行う光磁気デイスクドライブで説明したが、記録・再生・イレーズを行う他の光デイスクドライブ（ＤＶＤ−ＲＷ、ＣＤ−ＲＷ等）にも適用できる。記録・再生を行う、所謂オーバーライトの光磁気デイスクドライブ、光デイスクドライブに適用できる。又、磁界変調書込み型の光磁気デイスクドライブにも適用できる。しかも、記録媒体は、円盤上のデイスクに限らず、カード形状等であっても良い。
【００９９】
以上、本発明を実施の形態で説明したが、本発明の趣旨の範囲内において、種々の変形が可能であり、これらを、本発明の技術的範囲から排除するものではない。
【０１００】
（付記１）レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、前記制御部は、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測し、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１０１】
（付記２）前記制御部は、前記駆動指示量で前記光源を駆動した時の前記ＡＰＣデイテクタの検出出力を測定し、前記駆動指示量と前記検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記１の光学的記憶装置。
【０１０２】
（付記３）前記記憶媒体のロード時に、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力の関係の傾きを計測することを特徴とする付記１の光学的記憶装置。
【０１０３】
（付記４）前記制御部は、前記検出した傾きを、前記予め測定した傾きで割った値と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記１の光学的記憶装置。
【０１０４】
（付記５）前記制御部は、任意の時間間隔で前記自動パワー制御するとともに、前記自動パワー制御開始時の前記駆動指示量から、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記１の光学的記憶装置。
【０１０５】
（付記６）レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、前記制御部は、前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定し、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１０６】
（付記７）前記制御部は、前記複数回の誤差の差分と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記６の光学的記憶装置。
【０１０７】
（付記８）レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、前記記憶媒体の反射光を検出して、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、前記制御部は、所定期間の前記反射光量の平均値を測定し、予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１０８】
（付記９）前記制御部は、前記両平均値の比と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記８の光学的記憶装置。
【０１０９】
（付記１０）記憶媒体の書込み及び読み取りを行うための、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御するステップと、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測するステップと、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有することを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１０】
（付記１１）前記計測ステップは、前記駆動指示量で前記光源を駆動した時の前記ＡＰＣデイテクタの検出出力を測定し、前記駆動指示量と前記検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記９の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１１】
（付記１２）前記記憶媒体のロード時に、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記９の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１２】
（付記１３）判定ステップは、前記計測した傾きを、前記予め測定した傾きで割った値と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記９の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１３】
（付記１４）前記計測ステップは、任意の時間間隔で前記自動パワー制御するとともに、前記自動パワー制御開始時の前記駆動指示量から、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測することを特徴とする付記９の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１４】
（付記１５）記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためのレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定するステップと、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有することを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１５】
（付記１６）前記判定ステップは、前記複数回の内、２回以上の誤差の差分と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記１５の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１６】
（付記１７）記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、所定期間の前記記憶媒体からの反射光量の平均値を測定するステップと、前記測定した反射光量の平均値と予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有することを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１７】
（付記１８）前記判定ステップは、前記両平均値の比と閾値とを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定することを特徴とする付記１７の発光制御用デイテクタの異常検出方法。
【０１１８】
【発明の効果】
光源を発光させるための駆動指示量とＡＰＣデイテクタの検出出力との関係を測定し、その傾きを正常時の傾きと比較するため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、汚れ、劣化による、データ破壊を未然に防止できる。同様に、ＡＰＣ前後の誤差値の比較、所定期間の戻り光量の変化を検出するため、ＡＰＣデイテクタの剥がれ、ずれ、汚れ、劣化による、データ破壊を未然に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の光学的記憶装置の構成図である。
【図２】図１のＡＰＣデイテクタの正面図である。
【図３】図２のＡ−Ａ断面図である。
【図４】図１のＬＤコントローラの構成図である。
【図５】図４のＬＤコントローラのＤＡＣ出力レベルの説明図である。
【図６】図４のＡＰＣ処理フロー図である。
【図７】本発明の第１の実施の形態の基準値測定処理フロー図である。
【図８】本発明の第１の実施の形態の異常判定処理フロー図である。
【図９】本発明の第１の実施の形態の検出動作説明図である。
【図１０】本発明の第２の実施の形態の基準値測定処理フロー図である。
【図１１】本発明の第２の実施の形態の異常判定処理フロー図である。
【図１２】本発明の第３の実施の形態の異常判定処理フロー図である。
【図１３】本発明の第４の実施の形態の異常判定処理フロー図である。
【図１４】従来のＡＰＣ制御部の説明図である。
【図１５】ＡＰＣ駆動値と対物レンズのパワーとの関係図である。
【図１６】従来のリード、イレーズ、ライトパワーの説明図である。
【符号の説明】
１０ 光学的記憶媒体（ＭＯデイスク）
２０ 光ピックアップ
２２ 半導体レーザーダイオード
２６ ＡＰＣデイテクタ
２４ ビームスプリッタ
３２ 対物レンズ
３４ フォーカスアクチュエータ
４２ スピンドルモータ
４４ トラックアクチュエータ
５０ ＬＤドライバ
５２ ＬＤコントローラ
６２ ＦＥＳ生成回路
６４ ＴＥＳ生成回路
７４ サーボコントローラ
７０ メインコントローラ
Claims (10)
- レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、
レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、
前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、
前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、
前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、
前記制御部は、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測し、予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する
ことを特徴とする光学的記憶装置。 - 前記制御部は、前記駆動指示量で前記光源を駆動した時の前記ＡＰＣデイテクタの検出出力を測定し、前記駆動指示量と前記検出出力との関係の傾きを計測する
ことを特徴とする請求項１の光学的記憶装置。 - 前記制御部は、任意の時間間隔で、前記自動パワー制御するとともに、前記自動パワー制御開始時の前記駆動指示量から、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測する
ことを特徴とする請求項１の光学的記憶装置。 - レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、
レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、
前記記憶媒体の反射光に従い、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、
前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、
前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、
前記制御部は、前記自動パワー制御を任意の間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定し、前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する
ことを特徴とする光学的記憶装置。 - レーザー光を使用して、記憶媒体の書込み及び読み取りを行う光学的記憶装置において、
レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源と、
前記記憶媒体の反射光を検出して、前記レーザー光を前記記憶媒体に追従制御するサーボ制御部と、
前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタと、
前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記ＡＰＣデイテクタの検出出力に従う駆動指示量を算出し、前記駆動指示量に応じて、前記光源を自動パワー制御する制御部とを有し、
前記制御部は、所定期間の前記反射光量の平均値を測定し、予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定する
ことを特徴とする光学的記憶装置。 - 記憶媒体の書込み及び読み取りを行うための、レーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御するステップと、
前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測するステップと、
予め測定した前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きと、前記計測した傾きを比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する
ことを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。 - 前記計測ステップは、前記駆動指示量で前記光源を駆動した時の前記ＡＰＣデイテクタの検出出力を測定し、前記駆動量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測する
ことを特徴とする請求項６の発光制御用デイテクタの異常検出方法。 - 前記計測ステップは、任意の時間間隔で前記自動パワー制御するとともに、前記自動パワー制御開始時の前記駆動指示量から、前記駆動指示量と前記ＡＰＣデイテクタの検出出力との関係の傾きを計測する
ことを特徴とする請求項６の発光制御用デイテクタの異常検出方法。 - 記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためのレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力と基準値との誤差に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、
前記自動パワー制御を任意の時間間隔で行うとともに、一定の前記駆動指示量の状態で、複数回前記誤差を測定するステップと、
前記複数回の誤差を比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する
ことを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。 - 記憶媒体の書込み及び読み取りを行うためレーザー光を前記記憶媒体に向けて出射する光源を、前記書込み時には、前記記憶媒体上の発光パワーが書込みパワーに、前記読み取り時には、前記記憶媒体上の発光パワーが読み取りパワーに維持するように、前記光源の発光パワーをモニターするＡＰＣデイテクタの検出出力に従い算出した駆動指示量に応じて、自動パワー制御する制御ステップと、
所定期間の前記記憶媒体からの反射光量の平均値を測定するステップと、
前記測定した反射光量の平均値と予め測定した前記反射光量の平均値と比較して、前記ＡＰＣデイテクタの異常を判定するステップとを有する
ことを特徴とする発光制御用デイテクタの異常検出方法。
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