JP3183975B2 - トラッキング制御回路 - Google Patents
トラッキング制御回路Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はトラッキング制御回路に
関し、特に光ディスク装置のトラッキングサーボ用のト
ラッキング制御回路に関する。
関し、特に光ディスク装置のトラッキングサーボ用のト
ラッキング制御回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク等の記録媒体を用いる光学的
な信号記録再生方式による情報記録再生装置では、トラ
ッキング制御回路により上記記録媒体上の相互に並行配
列された記録トラックからトラッキングサーボ用のトラ
ッキング誤差信号を検出している。
な信号記録再生方式による情報記録再生装置では、トラ
ッキング制御回路により上記記録媒体上の相互に並行配
列された記録トラックからトラッキングサーボ用のトラ
ッキング誤差信号を検出している。
【０００３】従来のトラッキング制御回路は、図４に示
すように、光ピックアップ２０の対物レンズ２１の焦点
に配置され光ディスク（図示省略）上に照射された光ビ
ームの反射光を検出する受光素子１，２と、受光素子
１，２の出力を比較し誤差信号ａを出力するコンパレー
タ３と、誤差信号ａを増幅しトラッキング誤差信号ｂを
出力する増幅器４と、トラッキングゲイン調整用の試験
信号ｃを発生する信号発生器７と、トラッキング誤差信
号ｂまたは試験信号ｃを通過させる加算回路８と、トラ
ッキング誤差信号ｂまたは試験信号ｃに所定の位相補正
を行ないトラッキング修正信号ｄを出力する位相補償回
路９と、トラッキング修正信号ｄを電力増幅してアクチ
ュエータのコイル１１を駆動する駆動回路１０とを備え
て構成されていた。
すように、光ピックアップ２０の対物レンズ２１の焦点
に配置され光ディスク（図示省略）上に照射された光ビ
ームの反射光を検出する受光素子１，２と、受光素子
１，２の出力を比較し誤差信号ａを出力するコンパレー
タ３と、誤差信号ａを増幅しトラッキング誤差信号ｂを
出力する増幅器４と、トラッキングゲイン調整用の試験
信号ｃを発生する信号発生器７と、トラッキング誤差信
号ｂまたは試験信号ｃを通過させる加算回路８と、トラ
ッキング誤差信号ｂまたは試験信号ｃに所定の位相補正
を行ないトラッキング修正信号ｄを出力する位相補償回
路９と、トラッキング修正信号ｄを電力増幅してアクチ
ュエータのコイル１１を駆動する駆動回路１０とを備え
て構成されていた。
【０００４】次に、従来のトラッキング制御回路の動作
について説明する。
について説明する。
【０００５】受光素子１，２は上記光ディスクに照射さ
れた光ビームの反射光をそれぞれ検出し、検出出力をコ
ンパレータ３に供給する。コンパレータ３はこれら受光
素子１，２からの検出出力を相互比較し、上記光ビーム
のスポット位置と上記光ディスク上の所定トラック位置
とのずれすなわちトラッキング誤差に対応する誤差信号
ａを出力する。誤差信号ａは、増幅器４にて抵抗Ｒ１，
Ｒ２で決まるゲイン（１＋Ｒ２／Ｒ１）で増幅され、ト
ラッキング誤差信号ｂとして出力される。トラッキング
誤差信号ｂは加算回路８を経由して位相補償回路９に供
給され、所定の位相補正されてトラッキング修正信号ｄ
として駆動回路１０に供給される。駆動回路１０はトラ
ッキング修正信号ｄを電力増幅し、対物レンズ２１駆動
用のコイル１１を駆動して上記トラッキング誤差を修正
する。
れた光ビームの反射光をそれぞれ検出し、検出出力をコ
ンパレータ３に供給する。コンパレータ３はこれら受光
素子１，２からの検出出力を相互比較し、上記光ビーム
のスポット位置と上記光ディスク上の所定トラック位置
とのずれすなわちトラッキング誤差に対応する誤差信号
ａを出力する。誤差信号ａは、増幅器４にて抵抗Ｒ１，
Ｒ２で決まるゲイン（１＋Ｒ２／Ｒ１）で増幅され、ト
ラッキング誤差信号ｂとして出力される。トラッキング
誤差信号ｂは加算回路８を経由して位相補償回路９に供
給され、所定の位相補正されてトラッキング修正信号ｄ
として駆動回路１０に供給される。駆動回路１０はトラ
ッキング修正信号ｄを電力増幅し、対物レンズ２１駆動
用のコイル１１を駆動して上記トラッキング誤差を修正
する。
【０００６】ところで、誤差信号ａのレベルは、ビーム
源である半導体レーザの出力のばらつき、受光素子１，
２の感度ばらつき、周囲温度変化や経年変化による特性
変動、あるいはディスクの反射率のばらつき等により、
同一のトラッキング誤差に対しても変動する。このた
め、上記トラッキングサーボを安定に動作させるため
に、これら変動要因による誤差信号ａのレベルの変動を
補正し、同一トラッキング誤差に対するトラッキング誤
差信号ｂのレベルを一定に保持する必要がある。従来
は、次の手順により信号発生器７からの試験信号ｃを用
いて上記補正を行なっていた。
源である半導体レーザの出力のばらつき、受光素子１，
２の感度ばらつき、周囲温度変化や経年変化による特性
変動、あるいはディスクの反射率のばらつき等により、
同一のトラッキング誤差に対しても変動する。このた
め、上記トラッキングサーボを安定に動作させるため
に、これら変動要因による誤差信号ａのレベルの変動を
補正し、同一トラッキング誤差に対するトラッキング誤
差信号ｂのレベルを一定に保持する必要がある。従来
は、次の手順により信号発生器７からの試験信号ｃを用
いて上記補正を行なっていた。
【０００７】まず、試験信号発生器７から正弦波あるい
は三角波の試験信号ｃを発生させる。試験信号ｃは、加
算回路８を経由して位相補償回路９で位相補正され、ト
ラッキング試験信号ｅとして駆動回路１０に供給され
る。駆動回路１０はトラッキング試験信号ｅを電力増幅
し、コイル１１を駆動する。これにより、上記光ディス
ク上の所定トラック位置からの上記光ビームのスポット
位置のトラッキング試験信号ｅすなわち試験信号ｃに対
応するずれを生じる。一方、受光素子１，２は、上述の
トラッキング制御動作と同様に上記光ビームの反射光を
それぞれ検出し、コンパレータ３からは対応する試験誤
差信号ａｃを出力する。増幅器４は試験誤差信号ａｃを
増幅し、トラッキング試験誤差信号ｂｃを出力する。ト
ラッキング試験誤差信号ｂｃのレベルが設定した基準値
となるように抵抗Ｒ２を加減して増幅器４のゲインを設
定するというものであった。
は三角波の試験信号ｃを発生させる。試験信号ｃは、加
算回路８を経由して位相補償回路９で位相補正され、ト
ラッキング試験信号ｅとして駆動回路１０に供給され
る。駆動回路１０はトラッキング試験信号ｅを電力増幅
し、コイル１１を駆動する。これにより、上記光ディス
ク上の所定トラック位置からの上記光ビームのスポット
位置のトラッキング試験信号ｅすなわち試験信号ｃに対
応するずれを生じる。一方、受光素子１，２は、上述の
トラッキング制御動作と同様に上記光ビームの反射光を
それぞれ検出し、コンパレータ３からは対応する試験誤
差信号ａｃを出力する。増幅器４は試験誤差信号ａｃを
増幅し、トラッキング試験誤差信号ｂｃを出力する。ト
ラッキング試験誤差信号ｂｃのレベルが設定した基準値
となるように抵抗Ｒ２を加減して増幅器４のゲインを設
定するというものであった。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のトラッ
キング制御回路は、上記変動要因に対する安定化対策と
して、信号発生器で設定した試験信号レベルに応答した
トラッキング誤差に対応して一定のトラッキング試験誤
差信号が得られるように手動で可変抵抗により増幅器の
ゲインを設定していたので生産効率が悪いという欠点が
あった。また、ディスク毎にゲインを調整するとすると
ユーザの手間がかかるという欠点があった。
キング制御回路は、上記変動要因に対する安定化対策と
して、信号発生器で設定した試験信号レベルに応答した
トラッキング誤差に対応して一定のトラッキング試験誤
差信号が得られるように手動で可変抵抗により増幅器の
ゲインを設定していたので生産効率が悪いという欠点が
あった。また、ディスク毎にゲインを調整するとすると
ユーザの手間がかかるという欠点があった。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明のトラッキング制
御回路は、光記録媒体を用いる光学的な信号記録再生方
式による情報記録再生装置の前記光記録媒体上の相互に
並行配列された記録トラックを追従する光ピックアップ
に搭載され前記光記録媒体上に照射された光ビームの反
射光をそれぞれ検出し第一および第二の検出信号を出力
する第一および第二の受光素子と、前記第一および第二
の検出信号を比較しトラッキング誤差信号を出力する比
較回路と、前記トラッキング誤差信号を疑似した試験信
号を発生する信号発生器と、前記トラッキング誤差信号
および前記試験信号を通過させトラッキング信号を生成
する信号加算回路と、前記トラッキング信号を電力増幅
し前記光ピックアップを駆動する駆動回路と、前記試験
信号の供給に応答して駆動された前記光ピックアップの
位置ずれに対応して前記比較回路が出力する前記トラッ
キング誤差信号であるトラッキング試験誤差信号のレベ
ルの最大値を記憶する記憶回路と、前記トラッキング試
験誤差信号のレベルを前記記憶回路から読出した前記最
大値で除算して正規化する除算回路とを備えて構成され
ている。
御回路は、光記録媒体を用いる光学的な信号記録再生方
式による情報記録再生装置の前記光記録媒体上の相互に
並行配列された記録トラックを追従する光ピックアップ
に搭載され前記光記録媒体上に照射された光ビームの反
射光をそれぞれ検出し第一および第二の検出信号を出力
する第一および第二の受光素子と、前記第一および第二
の検出信号を比較しトラッキング誤差信号を出力する比
較回路と、前記トラッキング誤差信号を疑似した試験信
号を発生する信号発生器と、前記トラッキング誤差信号
および前記試験信号を通過させトラッキング信号を生成
する信号加算回路と、前記トラッキング信号を電力増幅
し前記光ピックアップを駆動する駆動回路と、前記試験
信号の供給に応答して駆動された前記光ピックアップの
位置ずれに対応して前記比較回路が出力する前記トラッ
キング誤差信号であるトラッキング試験誤差信号のレベ
ルの最大値を記憶する記憶回路と、前記トラッキング試
験誤差信号のレベルを前記記憶回路から読出した前記最
大値で除算して正規化する除算回路とを備えて構成され
ている。
【００１０】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１１】図１は本発明のトラッキング制御回路の第
一の実施例を示すブロック図である。
一の実施例を示すブロック図である。
【００１２】本実施例のトラッキング制御回路は、図１
に示すように、従来と同様の受光素子１，２と、コンパ
レータ３と、信号発生器７と、加算回路８と、位相補償
回路９と、駆動回路１０とに加えて、増幅器４の代りに
誤差信号ａの最大値Ａを記憶するメモリ５と、従来の増
幅器４の標準ゲインを有し誤差信号ａを最大値Ａで除算
する除算器６とを備える。
に示すように、従来と同様の受光素子１，２と、コンパ
レータ３と、信号発生器７と、加算回路８と、位相補償
回路９と、駆動回路１０とに加えて、増幅器４の代りに
誤差信号ａの最大値Ａを記憶するメモリ５と、従来の増
幅器４の標準ゲインを有し誤差信号ａを最大値Ａで除算
する除算器６とを備える。
【００１３】次に、本実施例の動作について説明する。
【００１４】まず、通常のトラッキング動作は前述の従
来例と同様であるので説明を省略する。
来例と同様であるので説明を省略する。
【００１５】したがって、信号発生器７からの試験信号
ｃによる補正について説明する。
ｃによる補正について説明する。
【００１６】信号発生器７から試験信号ｃは、加算回路
８を経由して位相補償回路９で位相補正され、トラッキ
ング試験信号ｅとして駆動回路１０に供給される。駆動
回路１０はトラッキング試験信号ｅを電力増幅し、コイ
ル１１を駆動する。これにより、上記光ディスク上の所
定トラック位置からの上記光ビームのスポット位置の試
験信号ｃに対応するずれを生じる。一方、受光素子１，
２は、上記光ビームの反射光をそれぞれ検出し、コンパ
レータ３からは対応する試験誤差信号ａｃを出力する。
８を経由して位相補償回路９で位相補正され、トラッキ
ング試験信号ｅとして駆動回路１０に供給される。駆動
回路１０はトラッキング試験信号ｅを電力増幅し、コイ
ル１１を駆動する。これにより、上記光ディスク上の所
定トラック位置からの上記光ビームのスポット位置の試
験信号ｃに対応するずれを生じる。一方、受光素子１，
２は、上記光ビームの反射光をそれぞれ検出し、コンパ
レータ３からは対応する試験誤差信号ａｃを出力する。
【００１７】試験誤差信号ａｃのレベルは、試験信号ｃ
のレベルを一定としても半導体レーザの出力のばらつ
き、受光素子１，２の感度ばらつき、周囲温度変化や経
年変化による特性変動、あるいはディスクの反射率のば
らつき等の変動要因により、図２に示す曲線ａｃ１〜ａ
ｃ３のように変動する。図中のＡ１〜Ａ３は曲線ａｃ１
〜ａｃ３のそれぞれの最大値である。それぞれの試験誤
差信号ａｃ１〜ａｃ３のレベルをそれぞれの最大値Ａ１
〜Ａ３で除算した値は、すなわち試験誤差信号ａｃ１〜
ａｃ３のレベルをそれぞれの最大値Ａ１〜Ａ３で正規化
した値であり、したがって、上記変動要因が相殺された
ことになる。
のレベルを一定としても半導体レーザの出力のばらつ
き、受光素子１，２の感度ばらつき、周囲温度変化や経
年変化による特性変動、あるいはディスクの反射率のば
らつき等の変動要因により、図２に示す曲線ａｃ１〜ａ
ｃ３のように変動する。図中のＡ１〜Ａ３は曲線ａｃ１
〜ａｃ３のそれぞれの最大値である。それぞれの試験誤
差信号ａｃ１〜ａｃ３のレベルをそれぞれの最大値Ａ１
〜Ａ３で除算した値は、すなわち試験誤差信号ａｃ１〜
ａｃ３のレベルをそれぞれの最大値Ａ１〜Ａ３で正規化
した値であり、したがって、上記変動要因が相殺された
ことになる。
【００１８】メモリ５には、ある時点での試験誤差信号
ａｃの最大値Ａが格納されている。除算器６により試験
誤差信号ａｃを最大値Ａで除算することにより上記変動
要因に依存しないトラッキング試験誤差信号ｂｃを生成
する。
ａｃの最大値Ａが格納されている。除算器６により試験
誤差信号ａｃを最大値Ａで除算することにより上記変動
要因に依存しないトラッキング試験誤差信号ｂｃを生成
する。
【００１９】次に、本発明の第二の実施例について説明
する。
する。
【００２０】図３は本発明の第二の実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【００２１】前述の第一の実施例に対する本実施例の相
違点は、試験誤差信号ａｃの最小値Ｂを格納するメモリ
１２をさらに付加したことである。これにより、試験誤
差信号ａｃのレベルを最大値Ａのみでなく、最大値Ａ±
最小値Ｂにより正規化することが可能となり、より高精
度なトラッキング試験誤差信号ｂｃを生成することがで
きる。
違点は、試験誤差信号ａｃの最小値Ｂを格納するメモリ
１２をさらに付加したことである。これにより、試験誤
差信号ａｃのレベルを最大値Ａのみでなく、最大値Ａ±
最小値Ｂにより正規化することが可能となり、より高精
度なトラッキング試験誤差信号ｂｃを生成することがで
きる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のトラッキ
ング制御回路は、試験信号に応答して出力されたトラッ
キング誤差信号のレベルの最大値を記憶する記憶回路
と、上記トラッキング誤差信号のレベルを上記メモリか
ら読出した上記最大値で除算する除算回路とを備えるこ
とにより、常に誤差信号が最大値で正規化されるので、
半導体レーザの出力のばらつき、受光素子１，２の感度
ばらつき、周囲温度変化や経年変化による特性変動、あ
るいはディスクの反射率のばらつき等の変動要因に無関
係に安定したトラッキング制御が可能となるという効果
がある。
ング制御回路は、試験信号に応答して出力されたトラッ
キング誤差信号のレベルの最大値を記憶する記憶回路
と、上記トラッキング誤差信号のレベルを上記メモリか
ら読出した上記最大値で除算する除算回路とを備えるこ
とにより、常に誤差信号が最大値で正規化されるので、
半導体レーザの出力のばらつき、受光素子１，２の感度
ばらつき、周囲温度変化や経年変化による特性変動、あ
るいはディスクの反射率のばらつき等の変動要因に無関
係に安定したトラッキング制御が可能となるという効果
がある。
【図１】本発明のトラッキング制御回路の第一の実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】本実施例のトラッキング制御回路の動作の一例
を示す波形図である。
を示す波形図である。
【図３】本発明のトラッキング制御回路の第一の実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図４】従来のトラッキング制御回路の一例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
１，２ 受光素子 ３ コンパレータ ４ 増幅器 ５，１２ メモリ ６ 除算器 ７ 信号発生器 ８ 加算回路 ９ 位相補償回路 １０ 駆動回路 １１ コイル ２０ 光ピックアップ ２１ 対物レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−235038（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−259427（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−89034（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−212824（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/09
Claims (2)
- 【請求項１】 光記録媒体を用いる光学的な信号記録再
生方式による情報記録再生装置の前記光記憶媒体上の相
互に並行配列された記憶トラックを追従する光ピックア
ップに搭載され前記光記憶媒体上に照射された光ビーム
の反射光をそれぞれ検出し第一および第二の検出信号を
出力する第一および第二の受光素子と、前記第一および
第二の検出信号を比較し誤差信号を出力する比較回路
と、試験信号を発生する信号発生器と、前記誤差信号お
よび前記試験信号を加算しトラッキング信号を生成する
信号加算回路と、前記トラッキング信号に応じてトラッ
キング修正信号を生成する位相補償回路と、前記トラッ
キング修正信号にもとづき電力増幅し前記光ピックアッ
プを駆動する駆動回路と、前記信号加算回路により生成
された前記トラッキング信号に応答して駆動された前記
光ピックアップの位置ずれに対応して前記比較回路が出
力するトラッキング試験誤差信号のレベルの最大値を記
憶する記憶回路と、前記トラッキング試験誤差信号のレ
ベルを前記記憶回路から読出した前記最大値で除算して
正規化する除算回路とを備えることを特徴とするトラッ
キング制御回路。 - 【請求項２】 前記トラッキング試験誤差信号のレベル
の最小値を記憶する第二の記憶回路をさらに備えること
を特徴とする請求項１記載のトラッキング制御回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32905992A JP3183975B2 (ja) | 1992-12-09 | 1992-12-09 | トラッキング制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32905992A JP3183975B2 (ja) | 1992-12-09 | 1992-12-09 | トラッキング制御回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06176383A JPH06176383A (ja) | 1994-06-24 |
| JP3183975B2 true JP3183975B2 (ja) | 2001-07-09 |
Family
ID=18217154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32905992A Expired - Fee Related JP3183975B2 (ja) | 1992-12-09 | 1992-12-09 | トラッキング制御回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3183975B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03259427A (ja) * | 1990-03-08 | 1991-11-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
| JPH0485728A (ja) * | 1990-07-27 | 1992-03-18 | Sony Corp | サーボオフセット自動調整装置 |
| JPH04134638A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-08 | Ricoh Co Ltd | フオーカス・オフセツト調整装置および調整方法 |
-
1992
- 1992-12-09 JP JP32905992A patent/JP3183975B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06176383A (ja) | 1994-06-24 |
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|---|---|---|---|
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