DE10329369B4 - Schaltung und Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers - Google Patents
Schaltung und Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers Download PDFInfo
- Publication number
- DE10329369B4 DE10329369B4 DE10329369A DE10329369A DE10329369B4 DE 10329369 B4 DE10329369 B4 DE 10329369B4 DE 10329369 A DE10329369 A DE 10329369A DE 10329369 A DE10329369 A DE 10329369A DE 10329369 B4 DE10329369 B4 DE 10329369B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- memory
- circuit
- time information
- memory cells
- memory cell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/401—Indexing scheme relating to cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C2211/406—Refreshing of dynamic cells
- G11C2211/4061—Calibration or ate or cycle tuning
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers
– bei der in den Speicherzellen (MC) eine Information für eine Dauer einer Datenerhaltungszeit abspeicherbar ist,
– bei der die in den Speicherzellen (MC) gespeicherte Information im Rahmen eines Lese-, Schreib- und Refreshbetriebs aufgefrischt wird,
– mit einer Refresh-Steuerschaltung (3, 4, 7) zur Ansteuerung eines Speicherzellenfeldes (1) zum Zugriff auf Speicherzellen (MC) des dynamischen Speichers für einen Auffrischungsvorgang,
– mit einer Speicherschaltung (2), die wenigstens einer der Speicherzellen zugeordnet ist, zum Speichern einer Zeitinformation (TI) bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf die der Speicherschaltung zugeordnete Speicherzelle während des Betriebs des Speichers,
– wobei die Speicherschaltung ein Register zur Speicherung eines Registerbits (2-F) aufweist,
– bei der die in der Speicherschaltung gespeicherte Zeitinformation (TI) ausgehend von einem Anfangswert derart verändert wird, daß spätestens nach Ablauf der Datenerhaltungszeit der der Speicherschaltung zugeordneten Speicherzelle das Registerbit (2-F) der Speicherschaltung...
– bei der in den Speicherzellen (MC) eine Information für eine Dauer einer Datenerhaltungszeit abspeicherbar ist,
– bei der die in den Speicherzellen (MC) gespeicherte Information im Rahmen eines Lese-, Schreib- und Refreshbetriebs aufgefrischt wird,
– mit einer Refresh-Steuerschaltung (3, 4, 7) zur Ansteuerung eines Speicherzellenfeldes (1) zum Zugriff auf Speicherzellen (MC) des dynamischen Speichers für einen Auffrischungsvorgang,
– mit einer Speicherschaltung (2), die wenigstens einer der Speicherzellen zugeordnet ist, zum Speichern einer Zeitinformation (TI) bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf die der Speicherschaltung zugeordnete Speicherzelle während des Betriebs des Speichers,
– wobei die Speicherschaltung ein Register zur Speicherung eines Registerbits (2-F) aufweist,
– bei der die in der Speicherschaltung gespeicherte Zeitinformation (TI) ausgehend von einem Anfangswert derart verändert wird, daß spätestens nach Ablauf der Datenerhaltungszeit der der Speicherschaltung zugeordneten Speicherzelle das Registerbit (2-F) der Speicherschaltung...
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft eine Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers mit einer Refresh-Steuerschaltung zur Ansteuerung eines Speicherzellenfeldes zum Zugriff auf Speicherzellen des dynamischen Speichers für einen Auffrischungsvorgang. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers.
- Bei integrierten dynamischen Speichern in Form vom DRAMs ist in Betriebszeiten, in denen auf Speicherzellen nicht von außen zugegriffen wird, ein sogenannter Refresh-Betrieb notwendig, um den Speicherzelleninhalt, der sich beispielsweise durch Leckströme des Speicherkondensators oder Auswahltransistors verflüchtigen kann, aufzufrischen und somit dauerhaft zu erhalten. Im Refresh-Betrieb werden die bewerteten und verstärkten Datensignale von ausgewählten Speicherzellen direkt in die betreffenden Speicherzellen zurück geschrieben. Dies wird im allgemeinen durch eine Steuerungsschaltung gesteuert, durch die außerdem eine Refresh-Frequenz festgelegt wird, mit der eine jeweilige Auffrischung des Speicherzelleninhalts erfolgt.
- Es gibt mehrere Möglichkeiten, den Inhalt von Speicherzellen aufzufrischen. Zum einen wird während eines Normalbetriebs des Speichers zur Durchführung von Lese- oder Schreiboperationen bereits mit der Aktivierung einer Wortleitung des Speichers und mit anschließendem Schließen der Wortleitung die aus den betreffenden Speicherzellen ausgelesene Information in Leseverstärkern bewertet und verstärkt, wobei die bewertete und verstärkte Information in die Speicherzellen zurückgeschrieben und auf diesem Wege aufgefrischt wird (normaler sogenannter Activate-Precharge-Zyklus).
- Desweiteren werden vom Speicher-Controller sogenannte Auto-Refresh-Befehle an den Speicher gesendet, die jeweils eine Befehlsabfolge zur Aktivierung einer zur Auffrischung anstehenden Reihe auslösen. Welche der Reihen zur Auffrischung ansteht, wird beispielsweise durch einen sogenannten Refresh-Zähler festgelegt, der nacheinander die Reihen des dynamischen Speichers beispielsweise in sequentieller Folge ihrer Adressen adressiert. Ein solcher Auffrischungsvorgang erfolgt oftmals parallel in allen Speicherbänken des Speichers, indem gleichzeitig in jeder Speicherbank jeweils eine Reihe aktiviert und wieder geschlossen wird. Weist eine Speicherbank beispielsweise 4096 Reihen auf, sendet der den Speicher ansteuernde Speicher-Controller beispielsweise alle 64 ms/4096 (die Datenerhaltungszeit beträgt 64 ms) einen Auto-Refresh-Befehl an den Speicher.
- Der Speicher kann zum Zwecke der Datenerhaltung in einen sogenannten Selbst-Refresh-Modus eintreten, in dem ein Refresh-Zähler periodisch ähnlich einem zuvor beschriebenen Auto-Refresh-Befehl eine Befehlsabfolge zur Aktivierung und zum Schließen einer Reihe des Speichers intern anstößt. Damit können die Daten von Speicherzellen auch ohne externen Auto-Refresh-Befehl eines Speicher-Controllers regelmäßig aufgefrischt werden.
- Ein Speicher-Controller, der die Zugriffe auf den dynamischen Speicher steuert, hat unter anderem die Aufgabe, dafür Sorge zu tragen, daß keine der Reihen des Speichers länger als die maximale spezifizierte Datenerhaltungszeit, beispielsweise 64 ms, sich in nicht aktiviertem Zustand befindet. Im einfachsten Fall wird vom Speicher-Controller zwischen den normalen Lese- und Schreiboperationen im Mittel alle 15,6 μs (= 64 ms/4096) ein Auto-Refresh-Befehl eingestreut. In diesem Fall spricht man von verteilten Refreshes (sogenannter Distributed Refresh), die nur dann abgesetzt werden können, wenn sich der Speicher nicht in einem Lese- oder Schreibmodus befindet.
- Nachteilig bei dieser Art des Distributed Refresh ist insbesondere, daß es nicht möglich ist festzulegen, wann ein Distributed Refresh erfolgen soll, da die Zeitpunkte von der Zugriffsauslastung abhängen. Eine hohe Zugriffsauslastung während Lese- und Schreiboperationen des Speichers würde aber andererseits bedeuten, daß während des aktiven Betriebs ohnehin eine Vielzahl von Reihen geöffnet und wieder geschlossen wird, so daß bereits bei den üblichen Lese- und Schreiboperationen eine Auffrischung der Informationen erfolgt. Hierbei werden die Auto-Refresh-Befehle vorsorglich in regelmäßiger Abfolge unterstützend an den Speicher gesendet, wobei hierbei auch eine Datenstromunterbrechung von normalen Lese- und Schreiboperationen auftritt.
- Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltung und ein Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers anzugeben, die es ermöglichen, daß bei Betrieb des Speichers in einem Datenverarbeitungssystem die Anzahl und damit die Frequenz der Speicherauffrischungen weitgehend reduziert wird.
- Diese Aufgabe wird durch eine Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers gemäß Patentanspruch 1 und durch ein Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers gemäß Patentanspruch 9 gelöst.
- Bei der erfindungsgemäßen Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers ist in den Speicherzellen eine Information für eine Dauer einer Datenerhaltungszeit abspeicherbar und wird im Rahmen eines Lese-, Schreib- oder Refreshbetriebs des dynamischen Speichers wieder aufgefrischt. Die Schaltung weist eine Refresh-Steuerschaltung zur Ansteuerung eines Speicherzellenfeldes zum Zugriff auf Speicherzellen des dynamischen Speichers für einen Auffrischungsvorgang auf. Außerdem umfasst sie eine Speicherschaltung, die wenigstens einer der Speicherzellen zugeordnet ist, zum Spei chern einer Zeitinformation bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf die der Speicherschaltung zugeordnete Speicherzelle während des Betriebs des Speichers. Ferner enthält die Speicherschaltung ein Register zur Speicherung eines Registerbits. Die in der Speicherschaltung gespeicherte Zeitinformation wird dabei ausgehend von einem Anfangswert derart verändert, daß spätestens nach Ablauf der Datenerhaltungszeit der der Speicherschaltung zugeordneten Speicherzelle das Registerbit der Speicherschaltung gesetzt wird. Die Refresh-Steuerschaltung wertet das Registerbit der Speicherschaltung aus und greift im Falle eines gesetzten Registerbits derart auf das Speicherzellenfeld zu, daß die der Speicherschaltung zugeordnete Speicherzelle aufgefrischt wird. Darüber hinaus wird die in der Speicherschaltung gespeicherte Zeitinformation nach einer Lese-, Schreib- und Refreshoperation auf die Speicherzelle, welche der Speicherschaltung zugeordnet ist, auf den Anfangswert zurückgesetzt und das Registerbit der Speicherschaltung wieder gelöscht.
- Gemäß der Erfindung wird also im Betrieb des Speichers eine Zeitinformation bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf wenigstens eine der Speicherzellen dieser zugeordnet und gespeichert, wobei zur Steuerung eines Auffrischungsvorgangs einer der Speicherzellen im Betrieb des Speichers die jeweils zugeordnete Zeitinformation anhand des Registerbits ausgewertet wird und der Auffrischungsvorgang in Abhängigkeit der Zeitinformation durchgeführt wird. Damit ist es beispielsweise für einen Speicher-Controller möglich festzustellen, wann eine Speicherzelle oder eine Einheit von Speicherzellen beispielsweise in Form einer Reihe zum letzten Mal aktiviert wurde, so daß in Abhängigkeit davon der nächste Auffrischungsvorgang eingeleitet werden kann. Damit ist es ermöglicht, im Betrieb des Speichers die Anzahl und damit die Frequenz der Speicherauffrischungen an die maximale vom Hersteller garantierte Datenerhaltungszeit der Speicherzellen flexibel anzupassen und damit weitgehend auf ein Minimum zu reduzieren.
- Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung ist die Speicherschaltung einer von mehreren Einheiten von Speicherzellen des dynamischen Speichers, beispielsweise einer Reihe des Speichers, zugeordnet, wobei mit den Einheiten von Speicherzellen jeweils mehrere der Speicherzellen auswählbar sind. Die Refresh-Steuerschaltung greift dabei auf das Speicherzellenfeld derart zu, daß die Speicherzellen der der Speicherschaltung zugeordneten Einheit von Speicherzellen in Abhängigkeit der in der Speicherschaltung gespeicherten Zeitinformation aufgefrischt werden.
- Die Schaltung zur Auffrischung von Speicherzellen eines dynamischen Speichers gemäß der Erfindung kann beispielsweise in der Refresh-Steuerung des dynamischen Speichers selbst oder in einer Refresh-Steuerung des den Speicher ansteuernden Speicher-Controllers eingesetzt werden. Auch verteilte Anordnungen von jeweiligen Teilschaltungen auf dem Speicher-Controller und auf dem dynamischen Speicher sind möglich, die in der erfindungsgemäßen Weise zum Auffrischen von Speicherzellen des dynamischen Speichers zusammenwirken. Weiterhin ist denkbar, einen eigenen Baustein für die erfindungsgemäße Schaltung vorzusehen, der etwa auf einem Speichermodul vorgesehen wird.
- Weitere vorteilhafte Aus- und Weiterbildungen der vorliegenden Erfindung sind in Unteransprüchen angegeben.
- Die Erfindung wird im folgenden anhand der in der Zeichnung dargestellten Figuren, die Ausführungsbeispiele zur vorliegenden Erfindung darstellen, näher erläutert.
-
1 zeigt eine Ausführungsform einer Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen eines DRAM gemäß der Erfindung, -
2 zeigt eine Ausführungsform einer Teilschaltung einer Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen eines DRAM gemäß der Erfindung, -
3 zeigt eine schematische Übersicht einer Speicherbank eines DRAM mit einer Speicherschaltung gemäß der Erfindung. - In
1 ist eine Ausführungsform einer Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen eines DRAM gemäß der Erfindung gezeigt. Der Speicher weist ein Speicherzellenfeld1 auf, das in mehrere gleichartige Speicherbänke11 bis14 unterteilt ist. Hierbei sind die Speicherzellen MC entlang von Wortleitungen WL (Reihen) und Bitleitungen BL (Spalten) angeordnet. Die Speicherzellen MC sind in Kreuzungspunkten der Bitleitungen und Wortleitungen angeordnet und beinhalten jeweils einen Speicherkondensator, der über einen Auswahltransistor mit einer der Bitleitungen verbunden ist. Hierbei sind aus Übersichtlichkeitsgründen der Auswahltransistor und der Speicherkondensator einer jeweiligen Speicherzelle MC in1 nicht dargestellt. Zur Auswahl einer der Speicherzellen MC wird der jeweilige Auswahltransistor durch eine aktivierte Wortleitung WL leitend geschaltet, wodurch im Anschluß ein Auslesen oder Schreiben eines Datensignals der ausgewählten Speicherzelle mittels eines in1 ebenfalls nicht darstellten Leseverstärkers erfolgen kann. Das Datensignal der ausgewählten Speicherzelle liegt an der betreffenden Bitleitung BL an und wird von dem Leseverstärker bewertet und verstärkt. - Für einen Auffrischungsvorgang werden die vom jeweiligen Leseverstärker bewerteten und verstärkten Datensignale direkt in die betreffenden Speicherzellen MC zurückgeschrieben. Hierzu ist eine Refresh-Steuerschaltung vorgesehen, wie im weiteren Verlauf noch näher beschrieben. Insbesondere durch die jeweils erforderliche Aktivierung von Leseverstärkern ist während eines Auffrischungsvorgangs eine Stromaufnahme notwendig, die mit der Refresh-Frequenz korreliert. Im Interesse einer möglichst geringen Stromaufnahme ist es daher Ziel, die Zeitdauer zwischen zwei Auffrischungszyklen möglichst groß zu bemessen, so daß die Refresh-Frequenz möglichst klein ist. Dabei ist die maximal erzielbare Datenerhaltungszeit der Speicherzellen ausschlaggebend für die Bestimmung der Zeitdauer, die zwischen zwei Refresh-Zyklen benötigt wird. Diese ist insbesondere durch Leckströme im Speicherkondensator und/oder Auswahltransistor beeinflußt, die mit zunehmenden Speichertemperaturen ansteigen.
- Weiterhin ist gemäß
1 ein Speicherbereich20 mit Speicherschaltungen2 vorgesehen, die jeweils einer der Wortleitungen WL des Speichers zugeordnet sind. In den Speicherschaltungen2 , deren Aufbau insbesondere anhand von2 noch näher erläutert wird, wird eine Zeitinformation bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf die zugeordnete Reihe des Speichers gespeichert. Insbesondere enthält die Speicherschaltung2 ein in1 nicht dargestelltes Zählerregister zum Speichern einer Bitinformation, mit der die Zeitinformation gespeichert wird. Weiterhin ist gemäß der Ausführungsform nach1 ein Oszillator5 vorgesehen, der mit dem jeweiligen Zählerregister der Speicherschaltung2 verbunden ist, zum Inkrementieren oder Dekrementieren des Zählerregisters mit einer definierten Taktrate. - Eine Zugriffssteuerung
3 dient zur Ansteuerung jeder der Speicherbänke11 bis14 des Speicherzellenfeldes1 zum Zugriff auf Speicherzellen MC. Weiterhin ist ein Befehlsdecoder6 vorgesehen, mit dem Befehlssequenzen, beispielsweise von einem Speicher-Controller, für Lese- und Schreiboperationen des Speichers und auch insbesondere Auto-Refresh-Befehle AR empfangen werden, wobei mit einem Auto-Refresh-Befehl eine Befehlssequenz zur Durchführung eines sogenannten Distributed Refresh vom Befehlsdecoder6 ausgelöst wird. Vom Befehlsdecoder6 wird auch eine Auswahlschaltung4 in Form eines Refresh-Zählers angesteuert, um die für einen nächsten Auffrischungsvorgang anstehende Reihe auszuwählen. In dem Refresh-Zähler ist hierzu die Reihenadresse der als nächstes für einen Auffrischungsvorgang auszuwählenden Reihe gespeichert. Zum Inkrementieren oder Dekrementieren der im Refresh-Zähler der Auswahlschaltung4 gespeicherten Reihenadresse wird diese durch einen Oszillator7 angesteuert. Zum Aktivieren einer Reihe für einen Auffrischungsvorgang wird von der Zugriffssteuerung3 ein Aktivierungsbefehl ACT zum Öffnen der Reihe und zum Auslesen der Speicherzellen entlang dieser Reihe an jede Speicherbank gesendet. Das Schließen einer ausgewählten Reihe erfolgt durch einen Vorladungsbefehl PRE. - In
2 ist eine Ausführungsform einer Teilschaltung der Schaltung gemäß1 in detaillierterer Ansicht gezeigt. Die Speicherschaltung2 ist in Form eines Registers mit beispielsweise 16 Bits2-0 bis2-15 ausgeführt, in dem die Zeitinformation TI bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf die zugeordnete Reihe des Speichers gespeichert wird. Weiterhin weist die Speicherschaltung2 ein Register zur Speicherung eines Registerbits2-F auf, das in Abhängigkeit der mit den Bits2-0 bis2-15 gespeicherten Zeitinformationen TI gesetzt wird und von der erfindungsgemäßen Refresh-Steuerschaltung auslesbar ist. Das Register mit den Bits2-0 bis2-15 der Speicherschaltung2 ist in Form eines Zählerregisters ausgeführt, das von dem Oszillator5 zum Inkrementieren oder Dekrementieren der in dem Zählerregister gespeicherten Zeitinformation TI mit einer definierten Taktrate angesteuert wird. Hierbei ist die Taktrate des Oszillator5 durch ein Trimmsignal TRM2 von extern einstellbar. - In Zusammenschau mit
1 wird damit erfindungsgemäß für den Fall, daß jede der Speicherbänke11 bis14 4096 Reihen aufweist, ein 4·4096·(16 + 1) = (256 + 16)kb großer Speicherbereich20 reserviert, um für jede Reihe des Speichers individuell eine Zeitinformation bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf die jeweilige Reihe zu erfassen und zu speichern. Hierbei kann das Register zur Speicherung der Bits2-0 bis2-15 wie ein Binärzähler betrieben werden. Ferner können alle Speicherschaltungen2 des Speicherbereichs20 gleichzeitig und parallel beispielsweise um den Schritt1 inkrementiert oder dekrementiert werden. Jede der Speicherschaltungen2 kann bei Aktivierung der jeweiligen zugeordneten Reihe individuell zurückgesetzt werden. - Weiterhin ist gemäß der Ausführungsform nach
2 ein Grenzwertspeicher8 zur Speicherung eines Grenzwerts GW vor gesehen, der beispielsweise in Form eines PROM ausgeführt ist. Der Grenzwertspeicher8 ist durch ein Trimmsignal TRM1 von extern mit einem definierten Wert programmierbar. Eine Vergleichsschaltung9 ist mit dem Grenzwertspeicher8 und mit der Speicherschaltung2 verbunden, um die in der Speicherschaltung2 gespeicherte Zeitinformation TI mit dem Grenzwert GW des Grenzwertspeichers8 zu vergleichen. Die Vergleichsschaltung9 stellt ein Ausgangssignal S zur Verfügung, das in Abhängigkeit des Vergleichs zwischen der Zeitinformation TI und dem Grenzwert GW aktiviert wird. In Abhängigkeit des Zustands des Ausgangssignals S wird das Registerbit2-F gesetzt, welches von der Refresh-Steuerschaltung gemäß der Erfindung abrufbar ist. Diese löst einen Auffrischungsvorgang aus, wenn die Zeitinformation TI den zeitlichen Grenzwert GW erreicht hat, wodurch das Registerbit2-F gesetzt wird. - Im Betrieb der erfindungsgemäßen Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen wird die Speicherschaltung
2 bei der Initialisierung mittels des Signals SET beispielsweise derart vorbelegt, daß alle Bits2-0 bis2-15 auf ”1” gesetzt werden. Ebenso werden bei einem individuellen Zugriff auf die zugeordnete Reihe des Speichers alle entsprechenden 16 Bits2-0 bis2-15 beispielsweise auf ”1” gesetzt. Damit wird die Speicherschaltung2 bei jedem Zugriff auf die zugeordnete Reihe mit einem Anfangswert vorbelegt, kann alternativ dazu aber auch auf einen Anfangswert zurückgesetzt werden. Nach einem Zugriff auf die zugeordnete Reihe wird die in der Speicherschaltung2 gespeicherte Zeitinformation TI vom Oszillator5 schrittweise inkrementiert oder dekrementiert, je nach Anfangswert, wobei im Falle, daß der Grenzwert GW erreicht wird, die zugeordnete Reihe aufgefrischt wird. Die Speicherschaltung2 wird dabei beispielsweise jeweils um den Schritt1 inkrementiert oder dekrementiert. Vorteilhaft wäre in diesem Zusammenhang ein auf 1 ms getrimmter Oszillator5 , da in diesem Fall die Zeitinformation TI direkt die Zeiteinheit Millisekunden anzeigt. Dies wäre vor allem dann vorteilhaft, wenn die Bits2-0 bis2-15 direkt beispielsweise für Analyse zwecke ausgelesen werden. Damit könnte das 16 Bit breite Register eine Zeitspanne von 65535 ms darstellen, so daß eine Datenerhaltungszeit bis 65 sec erfaßt werden kann. Nach dem Dekrementieren wird bei einem Zugriff auf die zugeordnete Reihe beispielsweise durch den PRE-Befehl jedes der Bits2-0 bis2-15 wiederum mit dem Wert ”1” belegt, so daß wieder der Maximalwert 65535 eingestellt ist. - Alternativ dazu wäre es auch möglich, mit den Bits
2-0 bis2-15 bei einer voreingestellten Schwelle zu starten, beispielsweise bei 64 ms, 256 ms oder 1024 ms, so daß individuelle Startwerte in der Speicherschaltung2 gespeichert werden. Diese Schwellwerte könnten beispielsweise in einem sogenannten Frontend-Testbetrieb während des Tests des Speichers durch feste Programmierung der höher- oder niederwertigsten Bits der Speicherschaltung2 voreingestellt werden. Hierzu würden die entsprechenden Bits der Speicherschaltung2 dauerhaft mit ”0” bzw. ”1” vorbelegt werden, beispielweise mittels Durchtrennen einer Fuse oder dergleichen. Das Registerbit2-F würde dann mit einem Wert gesetzt werden, wenn die als Binärzähler fungierende Speicherschaltung2 auf Null heruntergezählt hat. - Die Schaltung gemäß
2 weist weiterhin eine Temperatursensorschaltung10 auf zur Detektion einer Temperatur des dynamischen Speichers. Hierbei ist die Taktrate des Oszillators5 durch ein Steuersignal T der Temperatursensorschaltung10 in Abhängigkeit der Temperatur des Speichers einstellbar. Weiterhin ist zusätzlich oder alternativ dazu auch der Grenzwertspeicher8 durch das Steuersignal T der Temperatursensorschaltung10 ansteuerbar, um den im Grenzwertspeicher8 programmierbaren Wert in Abhängigkeit der Temperatur des Speichers einzustellen. Damit ist vorteilhaft ermöglicht, die Abhängigkeit der Datenerhaltungszeit von der Speichertemperatur zu berücksichtigen. Weiterhin wäre es prinzipiell möglich, die Taktrate des Oszillators7 gemäß1 temperaturabhängig zu regeln. Auch wäre prinzipiell eine temperaturabhängige Vorbelegung der Speicherschaltung2 mit einem temperaturabhängigen Anfangswert denkbar. - Wie bereits oben näher beschrieben, kann beispielsweise während der Fertigung die maximale Datenerhaltungszeit (Retention-Time) im Frontend-Testbetrieb für jeden Speicher, jeden Speicherbereich oder auch jede Speicherreihe festgestellt werden. Die jeweiligen Speicherschaltungen
2 mit der zugehörigen Auswerteschaltung können, wie beispielsweise in2 dargestellt, Baustein-spezifisch eingestellt werden, sei es durch Trimmen der Taktrate des Oszillators5 mittels des Signals TRM2, durch Trimmen der Taktrate des Oszillators7 gemäß1 mittels des Signals TRM3, durch Trimmen des Grenzwertspeichers8 mittels des Signals TRM1, oder durch Setzen von individuellen Anfangs-Schwellwerten innerhalb der Speicherschaltung2 . Die jeweiligen Trimmsignale könnten beispielsweise auch mit Programmierung von elektrischen Fuses eingestellt werden, so daß sogar eine Veränderung der Trimmsignale während des Betriebs des Speichers in der Applikation prinzipiell ermöglicht ist, beispielsweise wenn sich die Datenerhaltungszeit über die Betriebsdauer des Speichers verschlechtern sollte. Damit könnte erreicht werden, daß das Registerbit2-F entsprechend früher gesetzt wird. - In
3 ist beispielhaft eine schematische Übersicht der Speicherbank11 eines DRAM gemäß1 gezeigt, bei der die einzelnen Speicherschaltungen mit den Bits2-0 bis2-15 und dem Registerbit2-F in einem eigenen Speicherbereich11-1 angeordnet sind. Die Speicherzellen MC zur Speicherung der Datensignale des Speichers für Lese- und Schreiboperationen sind in dem Speicherbereich11-2 angeordnet. Gemäß einem Zahlenbeispiel umfaßt der Speicherbereich11-1 (mit 4096 Reihen innerhalb der Speicherbank11 ) eine Größe von 16 × 4096 Bit. Zusätzlich sind 4096 Registerbits2-F vorgesehen. -
- 1
- Speicherzellenfeld
- 2
- Speicherschaltung
- 3
- Zugriffssteuerung
- 4
- Auswahlschaltung mit Refresh-Zähler
- 5
- Oszillator
- 6
- Befehlsdecoder
- 7
- Oszillator
- 8
- Grenzwertspeicher
- 9
- Vergleichsschaltung
- 10
- Temperatursensorschaltung
- 11–14
- Speicherbank
- 2-0 bis 2-15
- Bit
- 2-F
- Registerbit
- 11-1, 11-2
- Speicherbereich
- 20
- Speicherbereich
- S
- Ausgangssignal
- T
- Steuersignal
- TRM1–TRM3
- Trimmsignal
- GW
- Grenzwert
- TI
- Zeitinformation
- SET
- Signal
- WL
- Wortleitungen (Reihen)
- BL
- Bitleitungen (Spalten)
- MC
- Speicherzellen
- ACT
- Aktivierungsbefehl
- PRE
- Vorladungsbefehl
- AR
- Auto-Refresh-Befehl
Claims (12)
- Schaltung zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers – bei der in den Speicherzellen (MC) eine Information für eine Dauer einer Datenerhaltungszeit abspeicherbar ist, – bei der die in den Speicherzellen (MC) gespeicherte Information im Rahmen eines Lese-, Schreib- und Refreshbetriebs aufgefrischt wird, – mit einer Refresh-Steuerschaltung (
3 ,4 ,7 ) zur Ansteuerung eines Speicherzellenfeldes (1 ) zum Zugriff auf Speicherzellen (MC) des dynamischen Speichers für einen Auffrischungsvorgang, – mit einer Speicherschaltung (2 ), die wenigstens einer der Speicherzellen zugeordnet ist, zum Speichern einer Zeitinformation (TI) bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf die der Speicherschaltung zugeordnete Speicherzelle während des Betriebs des Speichers, – wobei die Speicherschaltung ein Register zur Speicherung eines Registerbits (2-F ) aufweist, – bei der die in der Speicherschaltung gespeicherte Zeitinformation (TI) ausgehend von einem Anfangswert derart verändert wird, daß spätestens nach Ablauf der Datenerhaltungszeit der der Speicherschaltung zugeordneten Speicherzelle das Registerbit (2-F ) der Speicherschaltung gesetzt wird, – bei der die Refresh-Steuerschaltung (3 ,4 ,7 ) das Registerbit (2-F ) der Speicherschaltung auswertet und im Falle eines gesetzten Registerbits derart auf das Speicherzellenfeld zugreift, daß die der Speicherschaltung zugeordnete Speicherzelle aufgefrischt wird, – bei der die in der Speicherschaltung gespeicherte Zeitinformation (TI) nach einer Lese-, Schreib- und Refreshoperation auf die Speicherzelle, welche der Speicherschaltung zugeordnet ist, auf den Anfangswert zurückgesetzt wird und das Registerbit (2-F ) der Speicherschaltung gelöscht wird. - Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß – die Speicherschaltung (
2 ) einer von mehreren Einheiten (WL) von Speicherzellen des dynamischen Speichers zugeordnet ist, wobei mit den Einheiten von Speicherzellen (MC) jeweils mehrere der Speicherzellen auswählbar sind, – die Refresh-Steuerschaltung (3 ,4 ,7 ) derart auf das Speicherzellenfeld zugreift, daß die Speicherzellen (MC) der der Speicherschaltung (2 ) zugeordneten Einheit (WL) von Speicherzellen in Abhängigkeit der Zeitinformation (TI) aufgefrischt werden. - Schaltung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß – die Speicherschaltung ein Zählerregister (
2 ) aufweist, – die Schaltung einen Oszillator (5 ) aufweist, der mit dem Zählerregister verbunden ist, zum Inkrementieren oder Dekrementieren des Zählerregisters mit einer definierten Taktrate. - Schaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Taktrate des Oszillators (
5 ) durch ein Trimmsignal (TRM2) von extern einstellbar ist. - Schaltung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß – die Schaltung eine Temperatursensorschaltung (
10 ) aufweist zur Detektion einer Temperatur des dynamischen Speichers, – die Taktrate des Oszillators (5 ) durch ein Steuersignal (T) der Temperatursensorschaltung (10 ) in Abhängigkeit der Temperatur des dynamischen Speichers einstellbar ist. - Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß – ein Grenzwertspeicher (
8 ) zur Speicherung eines Grenzwerts (GW) vorgesehen ist, – eine Vergleichsschaltung (9 ) vorgesehen ist, die mit dem Grenzwertspeicher (8 ) und mit der Speicherschaltung (2 ) verbunden ist und ein Ausgangssignal (S) zur Verfügung stellt, das in Abhängigkeit eines Vergleichs zwischen der Zeitinformation (TI) der Speicherschaltung und des Grenzwerts (GW) des Grenzwertspeichers aktiviert wird, – der Zustand des Ausgangssignals (S) der Vergleichsschaltung von der Refresh-Steuerschaltung (3 ,4 ,7 ) abrufbar ist. - Schaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Grenzwertspeicher (
8 ) durch ein Trimmsignal (TRM1) von extern mit einem definierten Wert programmierbar ist. - Schaltung nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß – die Schaltung eine Temperatursensorschaltung (
10 ) aufweist zur Detektion einer Temperatur des dynamischen Speichers, – der Grenzwertspeicher (8 ) durch ein Steuersignal (T) der Temperatursensorschaltung (10 ) in Abhängigkeit der Temperatur des dynamischen Speichers mit einem definierten Wert programmierbar ist. - Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers, – bei dem in jeweils einer der Speicherzellen (MC) des dynamischen Speichers eine Information für eine Dauer einer Datenerhaltungszeit abspeicherbar ist, – bei dem während des Betriebs des Speichers eine Zeitinformation (TI) bezüglich eines letzten zurückliegenden Zugriffs auf wenigstens eine der Speicherzellen (MC) dieser zugeordnet und gespeichert wird, – bei dem die der Speicherzelle zugeordnete Zeitinformation (TI) verändert wird und spätestens nach Ablauf der Datenerhaltungszeit ein Registerbit (
2-F ) gesetzt wird, – bei dem im Falle des gesetzten Registerbits (2-F ) die der Zeitinformation (TI) zugeordnete Speicherzelle aufgefrischt wird, – bei dem die der Speicherzelle zugeordnete Zeitinformation (TI) nach einer Lese-, Schreib- und Refreshoperation auf die Speicherzelle zurückgesetzt wird und das Registerbit (2-F ) zurückgesetzt wird. - Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Auffrischungsvorgang durchgeführt wird, wenn die Zeitinformation (TI) einen Grenzwert (GW) erreicht.
- Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß – die Zeitinformation (TI) in einer Speicherschaltung (
2 ) gespeichert wird, – die Speicherschaltung (2 ) bei einem Zugriff auf die Speicherzelle, welcher die Zeitinformation zugeordnet ist, mit einem Anfangswert vorbelegt oder auf einen Anfangswert zurückgesetzt wird, – die in der Speicherschaltung (2 ) gespeicherte Zeitinformation (TI) schrittweise inkrementiert oder dekrementiert wird, wobei im Falle, daß ein definierter Grenzwert (GW) erreicht wird, die Speicherzelle aufgefrischt wird. - Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitinformation (TI) in Abhängigkeit einer Temperatur des Speichers eingestellt und/oder bewertet wird.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10329369A DE10329369B4 (de) | 2003-06-30 | 2003-06-30 | Schaltung und Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers |
US10/881,689 US7123533B2 (en) | 2003-06-30 | 2004-06-30 | Circuit and method for refreshing memory cells of a dynamic memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10329369A DE10329369B4 (de) | 2003-06-30 | 2003-06-30 | Schaltung und Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10329369A1 DE10329369A1 (de) | 2005-02-10 |
DE10329369B4 true DE10329369B4 (de) | 2010-01-28 |
Family
ID=34041606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10329369A Expired - Fee Related DE10329369B4 (de) | 2003-06-30 | 2003-06-30 | Schaltung und Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7123533B2 (de) |
DE (1) | DE10329369B4 (de) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10337855B4 (de) * | 2003-08-18 | 2005-09-29 | Infineon Technologies Ag | Schaltung und Verfahren zur Auswertung und Steuerung einer Auffrischungsrate von Speicherzellen eines dynamischen Speichers |
US7206244B2 (en) * | 2004-12-01 | 2007-04-17 | Freescale Semiconductor, Inc. | Temperature based DRAM refresh |
DE102005025168B4 (de) | 2005-06-01 | 2013-05-29 | Qimonda Ag | Elektronische Speichervorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer elektronischen Speichervorrichtung |
US20080016272A1 (en) * | 2006-07-03 | 2008-01-17 | Stmicroelectronics Sa | Method of refreshing dynamic random access memory, in particular in standby mode and in active operating mode, and corresponding dynamic random access memory device, for example incorporated into a cellular mobile telephone |
US7990795B2 (en) * | 2009-02-19 | 2011-08-02 | Freescale Semiconductor, Inc. | Dynamic random access memory (DRAM) refresh |
US9715919B1 (en) | 2016-06-21 | 2017-07-25 | Micron Technology, Inc. | Array data bit inversion |
US20190066760A1 (en) * | 2017-08-23 | 2019-02-28 | Nanya Technology Corporation | Dram and method for operating the same |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3810129A (en) * | 1972-10-19 | 1974-05-07 | Ibm | Memory system restoration |
EP0851427A2 (de) * | 1996-12-23 | 1998-07-01 | Lsi Logic Corporation | Speichersystem mit einem On-Chip Sensor für Auffrischungsregelungsrate eines DRAM Speichers |
DE10206367C2 (de) * | 2002-02-15 | 2003-12-11 | Infineon Technologies Ag | Integrierter dynamischer Speicher mit Steuerungsschaltung zur Steuerung eines Refresh-Betriebs von Speicherzellen sowie Verfahren zum Betrieb eines solchen Speichers |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05101650A (ja) | 1991-10-07 | 1993-04-23 | Nec Eng Ltd | ダイナミツクメモリのリフレツシユ方式 |
JPH09282873A (ja) | 1996-04-08 | 1997-10-31 | Ricoh Co Ltd | メモリ装置 |
US5890198A (en) | 1996-10-22 | 1999-03-30 | Micron Technology, Inc. | Intelligent refresh controller for dynamic memory devices |
JPH10269800A (ja) * | 1997-03-27 | 1998-10-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US6167484A (en) * | 1998-05-12 | 2000-12-26 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for leveraging history bits to optimize memory refresh performance |
US5999474A (en) * | 1998-10-01 | 1999-12-07 | Monolithic System Tech Inc | Method and apparatus for complete hiding of the refresh of a semiconductor memory |
US6094705A (en) | 1999-03-10 | 2000-07-25 | Picoturbo, Inc. | Method and system for selective DRAM refresh to reduce power consumption |
DE10057275C1 (de) | 2000-11-18 | 2002-06-06 | Infineon Technologies Ag | Schaltung und Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen in einem DRAM |
US6483764B2 (en) | 2001-01-16 | 2002-11-19 | International Business Machines Corporation | Dynamic DRAM refresh rate adjustment based on cell leakage monitoring |
US6690606B2 (en) * | 2002-03-19 | 2004-02-10 | Micron Technology, Inc. | Asynchronous interface circuit and method for a pseudo-static memory device |
-
2003
- 2003-06-30 DE DE10329369A patent/DE10329369B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-06-30 US US10/881,689 patent/US7123533B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3810129A (en) * | 1972-10-19 | 1974-05-07 | Ibm | Memory system restoration |
EP0851427A2 (de) * | 1996-12-23 | 1998-07-01 | Lsi Logic Corporation | Speichersystem mit einem On-Chip Sensor für Auffrischungsregelungsrate eines DRAM Speichers |
DE10206367C2 (de) * | 2002-02-15 | 2003-12-11 | Infineon Technologies Ag | Integrierter dynamischer Speicher mit Steuerungsschaltung zur Steuerung eines Refresh-Betriebs von Speicherzellen sowie Verfahren zum Betrieb eines solchen Speichers |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Ohsawa, T. et.al.: Optimizing the DRAM refresh count for merged DRAM/logic LSIs. Proceedings of International Symposium on Low Power Electronics and Desing, 1998. S.82-87 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050030806A1 (en) | 2005-02-10 |
DE10329369A1 (de) | 2005-02-10 |
US7123533B2 (en) | 2006-10-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10337855B4 (de) | Schaltung und Verfahren zur Auswertung und Steuerung einer Auffrischungsrate von Speicherzellen eines dynamischen Speichers | |
DE69723105T2 (de) | Speicher und verfahren zum lesen von speicherelementenuntergruppen | |
DE69424014T2 (de) | Burstmode-Auffrischung für DRAMs | |
DE102007038615B4 (de) | Speicher mit Speicherbänken und Modusregistern, sowie Verfahren zum Betreiben eines solchen Speichers | |
DE10223178B4 (de) | Schaltungsanordnung mit einer Ablaufsteuerung, integrierter Speicher sowie Testanordnung mit einer derartigen Schaltungsanordnung | |
DE19518497A1 (de) | Dynamischer RAM mit Selbstauffrischung und Verfahren zum Generieren von Selbstauffrisch-Zeitsteuersignalen | |
DE102007012177A1 (de) | Speicher mit einem Temperatursensor, dynamischer Speicher und Speicher mit einer Takteinheit sowie Verfahren zum Abtasten einer Temperatur eines Speichers | |
DE102006004848A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Variieren eines aktiven Arbeitszyklus einer Wortleitung | |
DE10329369B4 (de) | Schaltung und Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers | |
DE10261459A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung, die auf eine Zwillingsspeicherzellen-Konfiguration umschaltbar ist | |
DE10317364B4 (de) | Integrierter dynamischer Speicher mit Steuerungsschaltung zur Steuerung eines Refresh-Betriebs von Speicherzellen | |
DE10329370B3 (de) | Schaltung und Verfahren zum Auffrischen von Speicherzellen eines dynamischen Speichers | |
DE102004060579A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Steuern von Auffrischzyklen eines Mehrzyklusauffrischschemas bei einem dynamischen Speicher | |
EP1202282B1 (de) | Integrierter Speicher mit Zeilenzugriffsteuerung zur Aktivierung und Deaktivierung von Zeilenleitungen | |
DE102005013237B4 (de) | Einrichtung in einer Speicherschaltung zum Festlegen von Wartezeiten | |
DE10332601A1 (de) | Schaltung und Verfahren zur Steuerung eines Zugriffs auf einen integrierten Speicher | |
DE19501227B4 (de) | DRAM-Auffrisch-Steuerungsschaltung | |
EP1122742A2 (de) | Verfahren zum Testen der Refresheinrichtung eines Informationsspeichers | |
DE10154770B4 (de) | Dynamische Speichervorrichtung mit einer Auswahleinrichtung für das selektive Ausblenden von nicht belegten Speicherzellen beim Refresh | |
DE10335012A1 (de) | Halbleiterspeicherbauelement mit mehreren Speicherfeldern und zugehöriges Datenverarbeitungsverfahren | |
DE69023587T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung. | |
DE10131007B4 (de) | Vorrichtung zum Ansteuern einer Speicherzelle eines Speicherbausteins und Speicherbaustein | |
DE10135814C2 (de) | Halbleiterspeicher mit Precharge-Steuerung | |
DE10065476A1 (de) | Halbleiter-Speicheranordnung und Verfahren für deren Bit-Leitungsverbindung | |
DE10041688B4 (de) | Integrierter Speicher mit Speicherzellen in mehreren Speicherzellenblöcken und Verfahren zum Betrieb eines solchen Speichers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: QIMONDA AG, 81739 MUENCHEN, DE |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: POLARIS INNOVATIONS LTD., IE Free format text: FORMER OWNER: QIMONDA AG, 81739 MUENCHEN, DE Owner name: INFINEON TECHNOLOGIES AG, DE Free format text: FORMER OWNER: QIMONDA AG, 81739 MUENCHEN, DE |
|
R082 | Change of representative | ||
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: POLARIS INNOVATIONS LTD., IE Free format text: FORMER OWNER: INFINEON TECHNOLOGIES AG, 85579 NEUBIBERG, DE |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |