-
Die vorliegende Erfindung betrifft
eine Steuerschaltung für
einen MOSFET, der als Gleichrichterelement in einem Synchrongleichrichter
zur Gleichrichtung oder Regeneration eines Ausgangsstroms eines
Schaltnetzteils oder dergleichen verwendet wird.
-
16 zeigt
einen ersten Stand der Technik einer Synchrongleichrichterschaltung,
bei der eine Diodengleichrichterschaltung an die Sekundärseite eines
Vorwärtsstromrichters
angeschlossen ist, und 17 ist
ein Zeitdiagramm, das die Arbeitsweise der Schaltung von 16 darstellt. In 16 bezeichnet die Bezugszahl 101 eine
Gleichstromversorgung, 102 bezeichnet einen MOSFET (n-Kanal-Verarmungs-MOSFET), 103 bezeichnet
einen Transformator, 104, 108 und 109 bezeichnen
Dioden, 105 bezeichnet eine Steuerschaltung für den MOSFET, 102, 106 bezeichnet
eine Glättungsdrossel, 107 bezeichnet
einen Glättungskondensator,
und N1, N2 und N3 bezeichnen eine Primärwicklung, eine Sekundärwicklung
bzw. eine Tertiärwicklung
eines Transformators 103 (mit N1,
N2 und N3 werden
zugleich die zugehörigen
Windungszahlen der Wicklungen bezeichnet). Außerdem ist über den Glättungskondensator 107 eine
nicht gezeigte Last geschaltet.
-
Bei dem in den 16 und 17 dargestellten Stand
der Technik wird der MOSFET 102 einer Ein/Aus-Steuerung
durch die Steuerschaltung 105 unterzogen, derart, daß die Ausgangsspannung
konstant wird. Der in einem Zeitabschnitt (1) in 17 eingeschaltete MOSFET 102 sorgt
dafür,
daß die Spannung
Vin der Gleichstromquelle an die Primärwicklung
N1 des Transformators 103 angelegt
wird. In der Sekundärwicklung
N2 des Transformators 103 wird
eine Spannung gleich dem (N2/N1)fachen
der Spannung VP1 der Primärwicklung
erzeugt, was unter Speicherung von Energie in der Glättungsdrossel 106 über die
Diode 108 die Energie an die Lastseite abgibt. Ein Erregerstrom
Im1 fließt in der (nicht gezeigten)
Erregerinduktivität
des Transformators 103.
-
Wenn der MOSFET 102 in einem
Zeitabschnitt (2) in 17 ausgeschaltet
wird, wird die in der Erregerinduktivität des Transformators 103 gespeicherte
Erregerenergie über
die Tertiärwicklung N3 des Transformators 103 und die
Diode 104 an die Gleichstromquelle 101 abgegeben.
In der Sekundärwicklung
N2 des Transformators 103 entsteht
dabei eine Spannung gleich dem -(N2/N1)fachen der Spannung an der Primärwicklung,
und eine Sperrspannung wird an die Diode 108 angelegt,
wodurch der Strom ID1 von der Diode 108 auf
die Diode 109 kommutiert.
-
In diesem Moment wird die in der
Glättungsdrossel 106 gespeicherte
Energie über
die Diode 109 an die Lastseite abgeführt.
-
In einem Zeitabschnitt (3) in 17, wenn der Erregerstrom
Im1 null wird, wird eine Sperrspannung Vin an die Diode 104 angelegt, um
diese zu sperren, was dazu führt,
daß die
Spannung VP1 an der Primärwicklung des Transformators 103 null
wird. Im Zeitabschnitt (3) wird die in der Glättungsdrossel 106 gespeicherte
Energie kontinuierlich über
die Diode 109 an die Lastseite abgegeben.
-
Anschließend wird der MOSFET 102 im
Zeitabschnitt (1) erneut eingeschaltet, was dazu führt, daß eine Spannung
gleich dem (N2/N1)-fachen
der Primärspannung
VP1 in der Sekundärwicklung N2 des Transformators 103 erzeugt
und eine Sperrspannung an die Diode 109 anlegt wird, wodurch
der Strom ID2 von der Diode 109 auf
die Diode 108 kommutiert.
-
Danach werden die Zeitabschnitte
(1) bis (3) wiederholt, so daß sich
die Wellenform des Stroms IL, der in der
Glättungsdrossel 106 fließt, aus
den Wellenformen von ID1 und ID2 zusammensetzt.
-
18 zeigt
einen zweiten Stand der Technik einer Synchrongleichrichterschaltung,
in der anstelle der Dioden 108 und 109 im Vorwärtsstromrichter
von 16 MOSFETs (n-Kanal-Verarmungs-MOSFETs) eingesetzt
sind. 19 ist ein Zeitdiagramm,
das die Arbeitsweise der in 18 gezeigten
Schaltung darstellt. In 18 sind
Komponenten mit der gleichen Funktion wie in 16 mit denselben Bezugszeichen versehen
und werden nicht noch einmal beschrieben.
-
In 18 bezeichnen
die Bezugszahlen 110 und 111 MOSFETs, 113 und 114 Widerstände, die
jeweils zwischen dem Gate eines jeweiligen MOSFETs und einem jeweiligen
Ende der Sekundärwicklung
N2 des Transformators 103 liegen.
-
Wenn die Ausgangsspannung der Synchrongleichrichterschaltung
eine Spannung von nur 3,3 V bis 5 V ist, bewirkt in einer Gleichrichterschaltung,
die wie die von 16 Dioden
verwendet, der Dioden-Durchlaßspannungsabfall
(in der Größenordnung
von 0,5 bis 1 V), daß der
Anteil des Leitungsverlusts sehr groß wird.
-
Im Fall eines negativen Drainstroms
im MOSFET fließt
der Drainstrom in einer Körperdiode des
MOSFETs, wenn keine Spannung zwischen Gate und Source anliegt. Dies
bewirkt einen Spannungsabfall in der Größenordnung von 0,5 V. Der Spannungsabfall
kann jedoch durch Anlegen einer positiven Spannung zwischen Gate
und Source verringert werden, da dies zum selben spezifischen Wiederstand
wie dem des Durchlaßwiderstands
führt. Der
Stand der Technik von 18 wird
hier unter Hinweis auf diesen Punkt dargestellt.
-
Die Unterschiede der Schaltung von 18 gegenüber der von 16 liegen, wie in 19 gezeigt, darin, daß im Zeitabschnitt (1)
eine Spannung VQ3, die zwischen Drain und
Source des MOSFETs 111 anliegt, als dessen Gatesignal an
den MOSFET 110 angelegt wird, damit ein negativer Drainstrom
IQ2 zur Verringerung des Leitungsverlusts
des MOSFETs 110 fließt,
sowie darin, daß im
Zeitabschnitt (2) eine Spannung VQ2,
die zwischen der Drain und der Source des MOSFETs 110 anliegt,
als dessen Gatesignal an den MOSFET 111 angelegt wird,
damit ein negativer Drainstrom IQ3 fließt, um den
Leitungsverlust des MOSFETs 111 zu verringern. Schraffierte
Teile in IQ2 und IQ3 in 19 stellen Zeitabschnitte
dar, in denen die Leitungsverluste reduziert werden.
-
Bei dem in 18 gezeigten Stand der Technik tritt
im Zeitabschnitt (3), die in 19 gezeigt
ist, eine Zeitspanne auf, während
derer keine Gatespannung an den MOSFET 111 angelegt wird,
was die Wirkung der Verringerung des Leitungsverlustes abschwächt. Dies
verursachte Probleme der Abnahme des Wirkungsgrads der gesamten
Einrichtung sowie einer Vergrößerung einer
Kühlvorrichtung
infolge des Erfordernisses nach mehr Kühlkapazität, um die erzeugte Hitze abzuführen, und
resultierte in dem Mangel, daß die
gesamte Einrichtung nicht kompakt und leicht gemacht werden konnte.
-
Demgemäß ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine Steuerschaltung für
einen MOSFET zur Synchrongleichrichtung zu schaffen, bei dem eine
Gatespannung an dem MOSFET über
nahezu die gesamte Zeitspanne, in welcher ein Strom in dem MOSFET
fließt,
angelegt wird, um dadurch den Minderungseffekt des Leitungsverlustes
zu erhöhen
und es zu ermöglichen,
daß der
Wirkungsgrad der Einrichtung vergrößert wird und diese kompakt
und mit geringem Gewicht ausgebildet werden kann.
-
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine
Steuerschaltung gemäß Patentanspruch
1 gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
-
Zur Lösung der Aufgabe ist die Kathode
einer ersten Diode mit der Drain des MOSFETs für synchrone Gleichrichtung
verbunden, eine erste Stromliefereinheit ist mit der Anode der ersten
Diode verbunden, und ein Widerstand liegt zwischen der Anode der
ersten Diode und der Source des MOSFETs, um eine Spannung über dem
Widerstand zu messen. Die Spannung über dem Widerstand ändert sich
abhängig
vom Spannungsabfall, wenn ein Strom in dem MOSFET fließt. Ob die
Spannung über
dem Widerstand relativ zu einer ersten Referenzspannung groß oder klein
ist, wird mittels einer Spannungsvergleichseinheit festgestellt,
deren Ausgangssignal verstärkt
wird. Eine Gatespannung wird zwischen Gate und Source des MOSFETs
von einer Gatetreibereinheit angelegt, durch die eine Zeitsteuerung
zur Ansteuerung des Gates des MOSFETs mit einem bestimmten Stromwert
als Referenz erhalten werden soll.
-
Durch Einstellen dieses Referenzstromwerts auf
einen kleinen Wert wird es somit möglich, eine Gatespannung nahezu
in allen Zeitabschnitten, in denen Strom in dem MOSFET fließt anzulegen,
was es ermöglicht,
den Leitungsverlust stärker
als beim Stand der Technik gemäß 18 zu verringern.
-
Die Weiterbildung gemäß Anspruch
3 erlaubt eine Temperaturkompensation der Durchlaßspannung
der ersten Diode zur Verbesserung der Strommeßgenauigkeit.
-
Durch die Weiterbildung des Anspruchs
4 kann die Strommeßgenauigkeit
noch weiter verbessert werden.
-
Wenn ein negativer Strom in dem MOSFET absinkt,
und die Spannung über
dem Widerstand die erste Referenzspannung übersteigt, wird an das Gate
des MOSFETs Abschaltpotential angelegt. In diesem Moment fließt ein Strom
in der Körperdiode des
MOSFETs, um den Durchlaßspannungsabfall
zu vergrößern, was
von der ersten Spannungsvergleichseinheit als Anstieg des Stroms
angese hen wird, woraufhin an das Gate des MOSFETs wieder Einschaltpotential
angelegt wird. Als Folge davon wiederholen sich der Ein- und Auszustand,
was den Leitungsverlust im MOSFET erhöht. Die Weiterbildung gemäß Anspruch
5 sorgt dafür,
daß das
Gate des MOSFETs, wenn es einmal in den Auszustand versetzt wurde,
nicht wieder angesteuert wird, bis der MOSFET in den Ausschaltzustand
gebracht wurde. Dies unterdrückt
einen Anstieg des Treiberverlusts.
-
Die Weiterbildung des Anspruchs 6
verringert einen Sperrerholvorgang, wenn ein Strom, der in der Körperdiode
des MOSFETs fließt,
in die Sperrerholung gebracht wird. Zusammen damit wird, wenn infolge
einer Verzögerung
der Steuerschaltung des MOSFETs ein Nulldurchgang des negativen
Stroms in der Drain des MOSFETs auftritt, bevor das Gatepotential
des MOSFETs einen Ausschaltwert annimmt, um einen großen Stromfluß in positiver
Richtung in der Drain zu bewirken, bevor der MOSFET abgeschaltet
wird, die Anstiegsrate des Stroms nach dem Nulldurchgang auf einen
niedrigen Wert begrenzt, um eine Verringerung des Abschaltverlusts
zu ermöglichen.
-
Die Weiterbildung des Anspruchs 7
verringert die Anzahl von Komponenten und verkleinert die Komponentenmontagefläche, wodurch
die Vorrichtung kompakt gemacht werden kann.
-
Durch die Weiterbildung des Anspruchs
8 oder 9 kann eine Wirkung ähnlich
der des Anspruchs 6 erzielt werden.
-
Weitere Vorteile und Merkmale der
vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung
bevorzugter Ausführungsbeispiele
unter Bezugnahme auf die Zeichnungen. Es zeigen:
-
1 ein
Schaltbild einer Synchrongleichrichterschaltung, anhand derer die
verschiedenen Ausführungsbeispiele
der Erfindung erläutert
werden,
-
2 ein
Schaltbild eines ersten Ausführungsbeispiels
der Erfindung,
-
3 ein
Zeitdiagramm zur Erläuterung
der Arbeitsweise der Schaltung von 2,
-
4 ein
Schaltbild eines zweiten Ausführungsbeispiels
der Erfindung,
-
5 ein
Diagramm, das die Temperaturabhängigkeit
der Diodenkennlinie im Durchlaßbereich zeigt,
-
6 ein
Zeitdiagramm zur Erläuterung
der Arbeitsweise der Schaltung von 4,
-
7 ein
Schaltbild einer Modifikation des zweiten Ausführungsbeispiels der Erfindung,
-
8 ein
Schaltbild eines dritten Ausführungsbeispiels
der Erfindung,
-
9 ein
Zeitdiagramm zur Erläuterung
der Arbeitsweise der Schaltung von 8,
-
10 ein
Zeitdiagramm zur Erläuterung der
Arbeitsweise der Schaltung von 8,
-
11 ein
Schaltbild eines vierten Ausführungsbeispiels
der Erfindung,
-
12 ein
Zeitdiagramm zur Erläuterung der
Arbeitsweise der Schaltung von 11,
-
13 ein
Zeitdiagramm zur Erläuterung der
Arbeitsweise der Schaltung von 11,
-
14 eine
schematische Darstellung eines fünften
Ausführungsbeispiels
der Erfindung,
-
15 eine
schematische Darstellung eines sechsten Ausführungsbeispiels der Erfindung,
-
16 ein
Schaltbild eines ersten Standes der Technik,
-
17 ein
Zeitdiagramm zur Erläuterung der
Arbeitsweise der Schaltung von 16,
-
18 ein
Schaltbild eines zweiten Standes der Technik, und
-
19 ein
Zeitdiagramm zur Erläuterung der
Arbeitsweise der Schaltung von 18.
-
1 ist
ein Schaltbild, das eine Synchrongleichrichterschaltung zeigt, bei
der die einzelnen Ausführungsbeispiele
der Erfindung eingesetzt werden können. Die Synchrongleichrichterschaltung
besitzt zwischen den Elektroden (Gate, Source und Drain) jedes von
zwei MOSFETs 110 und 111 für synchrone Gleichrichtung
eine Steuerschaltung 112 gemäß der vorliegenden Erfindung.
Komponenten gleicher Funktion wie im Stand der Technik von 18 sind mit gleichen Bezugszeichen
versehen und werden nicht noch einmal erläutert.
-
Erstes Ausführungsbeispiel
-
2 ist
ein Schaltbild einer Steuerschaltung 112a gemäß eines
ersten Ausführungsbeispiels der
Erfindung. Die nachfolgende Erläuterung
dieses und der folgenden Ausführungsbeispiele
erfolgt vornehmlich unter Bezugnahme auf den MOSFET 110 gilt
aber für
beide MOSFETS gleichermaßen,
sofern sich im Einzelfall nichts anderes ergibt.
-
In 2 ist
eine erste Diode 1 eine Sperrdiode, die verhindert, daß ein hohes
elektrisches Potential an das Signalsystem innerhalb der Steuerschaltung 112a angelegt
wird, wenn der MOSFET 110 im Sperrzustand ist. Die Anode
der Diode 1 ist mit einer ersten Stromliefereinheit 2 verbunden,
während
ihre Kathode mit der Drain des MOSFETs 110 verbunden ist.
-
Die Stromliefereinheit 2 umfaßt eine
Stromquelle zur Lieferung eines Stroms an die Diode 1 und einen
Widerstand 3, eine Reihenschaltung aus einer Stromquelle
und einem Widerstand oder dergleichen.
-
Eine erste Spannungsvergleichseinheit 5 ermittelt,
ob die Spannung V1 über dem Widerstand 3 größer oder
kleiner ist als eine Referenzspannung Vref1,
die von einer ersten Referenzspannungsquelle 4 stammt,
um ein Gatesignal für
den MOSFET 110 zu erzeugen. Eine Gatetreiberschaltung 6 dient
der Verstärkung
des von der Spannungsvergleichseinheit 5 erzeugten Gatesignals
und legt das verstärkte
Gatesignal an das Gate des MOSFETs 110 an, um diesen anzusteuern.
-
In 2 bezeichnet
Vcomp1 die Ausgangsspannung der Spannungsvergleichseinheit 5,
VGS die Gate-Source-Spannung des MOSFETs 110,
VDS die Drain-Source-Spannung des MOSFETs 110,
VF1 die Spannung über der Diode 1 und
IF den Durchlaßstrom (ein negativer Drainstrom
ID).
-
Als nächstes wird die Arbeitsweise
der Schaltung von 2 unter
Bezugnahme auf das Zeitdiagramm in 3 erläutert.
-
Die Arbeitsweise soll dabei unterteilt
in Zeitabschnitte (1) bis (7) erläutert werden, die den Betriebsablauf
umfassen bis ein Strom, der in dem MOSFET 110 in 1 geflossen ist, auf den
MOSFET 111 kommutiert, wenn der MOSFET 102 mit
einem Stromfluß im
MOSFET 110 gesperrt wird, und dann der Strom, der in dem
MOSFET 111 geflossen ist, auf den MOSFET 110 kommutiert,
wenn der MOSFET 102 erneut eingeschaltet wird.
-
3 zeigt
alle Spannungs- und Stromverläufe
an Abschnitten auf Seiten des MOSFETs 111.
-
Zeitabschnitt (1)
-
Der MOSFET 110 befindet
sich im Durchlaßzustand,
der MOSFET 111 ist gesperrt, und die Diode 1 ist
aufgrund einer an ihr anliegenden Sperrspannung ebenfalls gesperrt.
Die Spannung V1 über dem Widerstand 3 wird
gleich der Spannung einer nicht gezeigten Stromversorgung für die Stromliefereinheit 2.
Die Ausgangsspannung Vcomp1 der Spannungsvergleichseinheit 5 auf
Seiten des MOSFETs 111 befindet sich auf niedrigem Pegel,
und die Gate-Source-Spannung VGS des MOSFETs 111 liegt
ebenfalls auf niedrigem Pegel.
-
Zeitabschnitt (2)
-
Wenn der MOSFET 102 eingeschaltet
wird, wird der MOSFET 110 abgeschaltet, was dessen Drain-Source-Spannung VDS ansteigen läßt, wodurch die Drain-Source-Spannung
VDS des MOSFETs 111 auf null abgesenkt
wird.
-
Zeitabschnitt (3)
-
Wenn die Drain-Source-Spannung VDS des MOSFETs 111 null wird, wird
eine Körperdiode
des MOSFETs 111 in den Leitzustand gebracht, womit ein Durchlaßstrom IF zu fließen beginnt.
-
Außerdem wird die Diode 1 in
den Leitzustand gebracht, womit die Spannung V1 über dem
Widerstand 3 zu sinken beginnt.
-
Zeitabschnitt (4) Wenn die
Spannung V1 über dem Widerstand 3 unter
die Referenzspannung Vref1 fällt, wechselt
die Ausgangsspannung Vcomp1 der Spannungsvergleichseinheit 5 zu
dem hohen Pegel, und die Gate-Source-Spannung
VGS des MOSFETs 111 nimmt ebenfalls
den hohen Pegel an. Dadurch sinkt der spezifische Widerstand des
MOSFETs 111, was den Leitungsverlust verringert. Die Durchlaßspannung
Von des MOSFETs nimmt einen Wert an, der
durch das Produkt aus dem Durchlaßstrom IF und dem
Durchlaßwiderstand
Ron bestimmt wird.
-
Zeitabschnitt (5)
-
Der erneut eingeschaltete MOSFET 102 bewirkt,
daß der
bis dahin im MOSFET 111 geflossene Strom mit einer Abnahmerate
(-di/dt = VS1/LS)
abzunehmen beginnt, die von einer erzeugten Spannung VS1 und
einer nicht gezeigten Induktivität
LS der Verdrahtung des Transformators 103 bestimmt
wird.
-
In diesem Moment wird eine Spannung
in einer parasitären
Induktivität
zwischen Drain und Source des MOSFETs 111 erzeugt, welche
die Drain-Source-Spannung VDS von negativ
nach positiv ändert,
wodurch eine Sperrspannung an die Diode 1 angelegt wird
und diese sperrt. Daher beginnt die Spannung V1 über dem
Widerstand 3 zu steigen.
-
Zeitabschnitt (6)
-
Wenn die Spannung V1 über dem
Widerstand 3 über
die Referenzspannung Vref1 ansteigt, wechselt
die Ausgangsspannung Vcomp1 der Spannungsvergleichseinheit 5 zum
niedrigen Pegel, und die Gate-Source-Spannung
VGS des MOSFETs 111 nimmt ebenfalls
den niedrigen Pegel an. Dies verursacht, daß der MOSFET 111 die
Eigenschaften einer Körperdiode
annimmt.
-
Zeitabschnitt (7)
-
Der MOSFET 111 gelangt in
einen Sperrzustand, wobei die Körperdiode
in die Sperrerholung kommt, wodurch die Drain-Source-Spannung VDS auf die erzeugte Spannung VS1 des
Transformators 103 ansteigt.
-
Danach wiederholen sich die Vorgänge der Zeitabschnitte
(1) bis (7). Dies ermöglicht
es, an den MOSFET 111 eine Gatespannung über die
Zeitabschnitte (4) und (5) anzulegen, die den größten Teil der Zeitabschnitte
ausmachen, in denen der Strom IF in dem
MOSFET 111 fließt,
wodurch eine Verringerung des Leitungsverlusts ermöglicht wird.
-
Zweites Ausführungsbeispiel
-
4 zeigt
ein zweites Ausführungsbeispiel der
Erfindung. Komponenten mit gleicher Funktion wie beim ersten Ausführungsbeispiel
von 2 sind mit denselben
Bezugszeichen versehen und werden nicht noch einmal erläutert.
-
Bei der Steuerschaltung 112b in 4 ist die Referenzspannungsquelle 4 von 2 durch eine zweite Diode 8 ersetzt.
Der Durchlaßspannungsabfall
der Diode 8, der sich einstellt, wenn ein Strom von einer
zweiten Stromliefereinheit 7 hindurchfließt, dient
als erste Referenzspannung Vref1.
-
Die Strom-Spannungs-Kennlinie der
Diode im Durchlaßbereich ändert sich
abhängig
von der Temperatur Tj des pn-Übergangs,
wie in 5 gezeigt. Allgemein
gilt, je höher
die Temperatur Tj des pn-Übergangs
wird, umso kleiner wird die Durchlaßspannung bei gleichem Durchlaßstrom IF1 (VFh < VFc)• Wenn, wie
im Fall von 2, die Referenzspannung Vref1 für
die Spannungsvergleichseinheit 5 konstant gemacht wird, ändert sich
deshalb die Spannung V1 über dem Widerstand 3 in
Abhängigkeit
von der Temperatur, und zwar aufgrund der Temperaturabhängigkeit
der Durchlaßspannung
der Diode 1.
-
6 zeigt
ein Zeitdiagramm, das die Arbeitsweise bei einer Temperaturänderung
zeigt. Das Zeitdiagramm von 6 zeigt
Zustände,
wenn ein Strom in der Glättungsdrossel 106 in 1, etwa im Zustand geringer
Last, intermittierend fließt.
In 6 ist ein idealer
Zustand bei niedriger Temperatur in ausgezogenen Linien gezeichnet,
während
der Zustand bei hoher Temperatur gestrichelt gezeichnet ist.
-
Eine Gatespannung soll in einem Zeitabschnitt
angelegt werden, in dem ein negativer Drainstrom im jeweiligen MOSFET
fließt.
Dies verringert die Spannung V1 über dem
Widerstand 3, wie gestrichelt gezeichnet, wenn die Temperatur
hoch wird, und die Durchlaßspannung
der Diode 1 geringer wird. Selbst wenn daher ein Durchzündstrom,
welches ein Drainstrom ist, der einen Nulldurchgang in positiver
Richtung macht (ein in 6 gestrichelt
gezeichneter Teil von 1F), erzeugt wird,
ist eine Gatespannung kontinuierlich an den MOSFET anzulegen, bis
V1 über
die Referenzspannung Vref1 steigt. Wenn dann
das Gatepotential des MOSFETs den Ausschaltwert annimmt, soll der
MOSFET aufgrund des Durchzündstroms
abgeschaltet werden, was einen Abschaltverlust verursacht und den
Wirkungsgrad verringert. Außerdem
wird eine große
Stoßspannung erzeugt,
was zusätzliche
Probleme, wie etwa eine Zunahme von Störsignalen hervorruft.
-
Zur Verhinderung dieser Probleme
ist eine Schaltungsanordnung gemäß 4 vorgesehen, bei der zusammen
mit einer Minderung der Spannung V1 aufgrund
eines Temperaturanstiegs, auch die Referenzspannung Vref1 der
Diode 8 verringert wird. Daher bleibt die Relation zwischen
der Spannung V1 und der Referenzspannung
Vref1 nahezu temperaturunabhängig. Als
Folge davon kann die Erzeugung eines Durchzündstroms verhindert werden
oder dieser klein gehalten werden. Insbesondere dann, wenn die erste
Diode 1 und die zweite Diode 8 nahezu gleiche Temperaturab hängigkeit
ihrer Durchlaßkennlinien aufweisen,
kann die Erzeugung des Durchzündstroms
nahezu vollständig
verhindert werden.
-
Modifikation
des zweiten Ausführungsbeispiels
-
7 zeigt
eine Modifikation des oben beschriebenen zweiten Ausführungsbeispiels.
Bei der Steuerschaltung 112c dieser Modifikation ist eine
Anordnung vorgesehen, bei der der Durchlaßspannungsabfall der Diode 8 über einen
Spannungspuffer 9 an den Eingangsanschluß der Spannungsvergleichseinheit 5 angelegt
wird. Die Arbeitsweise dieser Modifikation ist ähnlich der der in 4 gezeigten Schaltung, so
daß eine
weitergehende Erläuterung unterbleiben
kann.
-
Drittes Ausführungsbeispiel
-
In 8 ist
ein drittes Ausführungsbeispiel der
Erfindung gezeigt. Komponenten gleicher Funktionen wie beim ersten
Ausführungsbeispiel
von 2 sind mit den gleichen
Bezugszeichen versehen und werden nicht noch einmal beschrieben.
-
In 8 ist
die Ausbildung der Steuerschaltung 112a die gleiche wie
in 2. Bei dem Ausführungsbeispiel von 8 ist jedoch eine sättigungsfähige Drossel 10 zwischen
die Drain des MOSFETs 110 (bzw. 111) und die Kathode
der Diode 1 der Schaltung von 2 geschaltet. Eine solche sättigungsfähige Drossel 10 kann
in ähnlicher
Weise bei den Schaltungen der 4 und 7 vorgesehen werden.
-
Die 9 und 10 sind Zeitdiagramme zur
Erläuterung
der Wirkung der Drossel 10.
-
9 zeigt
einen Betriebsablauf, bei dem infolge einer Zeitverzögerung der
Steuerschaltung 112a der MOSFET gesperrt wird, indem seine
Gatespannung zu einem Zeitpunkt T2 nach
einem Nulldurchgang des in dem MOSFET fließenden Stroms einen niedrigen
Pegel annimmt, so daß ein
Durchzündstrom
in dem MOSFET fließt,
wie durch eine Schraffur angedeutet. 10 zeigt
den Betriebsablauf, wenn die Drossel 10 gemäß dem dritten
Ausführungsbeispiel
von 8 vorgesehen ist.
-
Die Drossel 10 gelangt bei
einem im MOSFET 110 (bzw. 111) in positiver Richtung
(IF > 0)
fließenden
Strom in die Sättigung,
so daß ihre
Induktivität
einen Wert von nahezu Null annimmt. Anschließend nimmt der Strom ab bis
zu einem Nulldurchgang, wonach die Sättigung verschwindet und der Wert
der Induktivität
ansteigt. In diesem Moment zeigt der in dem MOSFET fließende Strom
eine plötzliche
Verringerung seiner Änderung
infolge der Zunahme der Induktivität der Drossel 10.
Durch Vorsehen der Drossel 10 zwischen der Drain des MOSFETs
und der Kathode der Diode 1, kann somit der Durchzündstrom
unterdrückt
oder klein gehalten werden, selbst wenn die Gatespannung des MOSFETs etwas
verzögert
in den Abschaltzustand gelangt.
-
Viertes Ausführungsbeispiel
-
11 zeigt
ein viertes Ausführungsbeispiel der
Erfindung. Komponenten gleicher Funktion wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel
von 2 sind mit den gleichen
Bezugszeichen versehen und werden nicht noch einmal erläutert.
-
Bei der Steuerschaltung 112d in 11 bezeichnet eine Bezugszahl 11 eine
zweite Referenzspannungsquelle, die eine zweite Referenzspannung Vref2 liefert. 12 bezeichnet eine
zweite Spannungsvergleichseinheit, an der die zweite Referenzspannung Vref2 und die Spannung V1 über dem
Widerstand 3 anliegen. 13 bezeichnet eine Verzögerungsschaltung, an
die die Ausgabe der zweiten Spannungsvergleichseinheit 12 angelegt
wird. 14 bezeichnet ein ODER-Glied, an dem die Ausgabe
Vcomp1 der ersten Spannungsvergleichseinheit 5 und
die Ausgabe der Verzögerungsschaltung 13 anliegen. 15 bezeichnet ein
RS-Flipflop, an welches die Ausgabe des ODER-Glieds 14 und
die Ausgabe der zweiten Spannungsvergleichseinheit 12 als
Setzsignal bzw. Rücksetzsignal
angelegt sind. 16 schließlich bezeichnet ein UND-Glied,
an dem die Ausgabe des RS-Flipflops und diejenige der ersten Spannungsvergleichseinheit 5 anliegen.
Die Ausgabe des UND-Glieds 16 wird der Gatetreibereinheit 6 zugeführt.
-
12 zeigt
ein Zeitdiagramm für
den Fall, daß der
Durchlaßstrom
IF allmählich
abnimmt von einem Zustand, bei dem die Gatespannung VGS des MOSFETs
unter einer solchen Voraussetzung wie etwa einer geringen Last angelegt
wird und der Betrieb durchgeführt
wird mit der Spannung V1 über dem
Widerstand 3 im Bereich der ersten Referenzspannung Vref1. Wenn die Spannung V1 über dem
Widerstand über
die erste Referenzspannung Vref1 ansteigt,
bewirkt sie, daß die
Ausgabe der ersten Spannungsvergleichseinheit 5 den niedrigen
Pegel annimmt, was die Gatespannung des MOSFETs auf einen niedrigen
Pegel bringt. Dadurch wird die Drain-Source-Spannung VDS des
MOSFETs zur Durchlaßspannung
einer Körperdiode,
die zunimmt. In diesem Moment bewirkt die unter die erste Referenzspannung
Vref1 gefallene Spannung V1 über dem Widerstand 3,
daß die
Gatespannung des MOSFETs wieder den hohen Pegel annimmt. Dies bewirkt,
daß die
Drain-Source-Spannung VDS des MOSFETs zu
einem Spannungsabfall Von wird, der von
dem Produkt des Durchlaßwiderstands
Ron und des Durchlaßstroms IF bestimmt
wird und klein ist.
-
Die Wiederholung dieser Vorgänge bewirkt, daß das Gate
des MOSFETs mit hoher Frequenz einund ausgeschaltet wird, was ro
einem Anstieg des Treiberverlusts und damit zur Verringerung des
Wirkungsgrads der Vorrichtung führt.
-
Bei dem in 11 gezeigten vierten Ausführungsbeispiel
ist zur Verhinderung, daß das
Gate des MOSFETs in dieser Weise mit hoher Frequenz ein- und ausgeschaltet
wird, eine Anordnung vorgesehen derart, daß, wenn die Spannung V1 über
dem Wiederstand 3 einmal über die erste Referenzspannung Vref1 angestiegen ist, keine Gatespannung
erzeugt wird, bis V1 auf die zweite Referenzspannung
Vref2 ansteigt. 13 zeigt ein Zeitdiagramm, was den Betriebsablauf
für diesen Fall
darstellt.
-
Das RS-Flipflop 15 in 11 wird zu dem Zeitpunkt
der Abfallflanke der Ausgabe Vcomp1 der
ersten Spannungsvergleichseinheit 5 gesetzt und zum Zeitpunkt
der Abfallflanke der Ausgabe Vcomp2 der zweiten
Spannungsvergleichseinheit 12 zurückgesetzt.
-
Um zu verhindern, daß das RS-Flipflop 15 in einem
Zeitabschnitt gesetzt wird, in dem die Spannung V1 über dem
Widerstand 3 unterhalb der ersten Referenzspannung Vref1 liegt, werden die Ausgabe Vcomp2 der
zweiten Spannungsvergleichseinheit 12, durch die Verzögerungsschaltung 13 verzögert, als ein
Signal, und die Ausgabe Vcomp1 der ersten
Spannungsvergleichseinheit 5 als ein weiteres in das ODER-Glied 14 eingegeben.
Die Ausgabe des ODER-Glieds 14 wird dann als Setzsignal
für das RS-Flipflop 15 verwendet.
-
Außerdem dienen das Ausgangssignal
des RS-Flipflops 15 und die Ausgabe Vcomp1 der
ersten Spannungsvergleichseinheit 5 als Eingaben für das UND-Glied 16,
damit das Ausgangssignal des UND-Glieds 16 erneut zu einem
Gatetreibersignal wird. Dies führt
im Fall, daß die
Spannung V1 über dem Widerstand 3 einmal über die
erste Referenzspannung Vref1 angestiegen
ist, dazu, daß das
Gatesignal nicht erzeugt wird, bis die Spannung V1 über der
zweiten Referenzspannung Vref2 liegt. Daher
ist es möglich
zu verhindern, daß das
Gatesignal mit hoher Frequenz ein- und ausschaltet, und die Gatetreiberleistung
erhöht.
-
In der Schaltung von 11 wird die erste Referenzspannung Vref1 als konstant angenommen. Sie kann jedoch
unter Verwendung des Durchlaßspannungsabfalls
der Diode 8 temperaturabhängig sein, wie dies bei den 4 und 7 der Fall ist.
-
Fünftes Ausführungsbeispiel
-
14 zeigt
ein fünftes
Ausführungsbeispiel der
Erfindung. 14 ist eine
Darstellung, bei der die Steuerschaltung 112 (112a bis 112d)
der Erfindung als IC-Chip zur Montage auf dem Chip des MOSFETs 110 bzw. 111 ausgebildet
ist. Die Bezugszahl 18 bezeichnet ein gedrucktes Leitungsmuster,
und 19 bezeichnet Drähte.
-
Das Gate des MOSFETs ist mit einem
Ausgangsanschluß der
Gatetreibereinheit 6 in der Steuerschaltung 112 verbunden,
und Anschlüsse
sind vorgesehen für
die Verbindung der Source des MOSFETs mit Masse der Steuerschaltung 112,
zur Verbindung der Kathode der Diode 1 mit der Drain des MOSFETs,
und zur Entnahme einer Stromversorgungseingabe für die Steuerschaltung 112 (man
beachte, daß hier
die Bezugszahl 112 stellvertretend für die Bezugszahlen 112a bis 112d verwendet
wird). Dies schafft eine Verbundeinrichtung mit drei Anschlüssen unter
Verwendung eines Standardgehäuses
wie etwa TO220 oder TO3P, das seit langem verwendet wird, und ermöglicht damit,
daß die
Vorrichtung durch Verringerung der Anzahl von Komponenten kompakt
gemacht wird.
-
Sechstes Ausführungsbeispiel
-
15 zeigt
ein sechstes Ausführungsbeispiel
der Erfindung. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist
ein magnetisches Material 17 mit einer Sättigungscharakteristik
um den Chip des MOSFETs 110 (bzw. 111) herum angeordnet.
Die Arbeitsweise dieses Ausführungsbeispiels
ist die gleiche wie die des dritten Ausführungsbeispiels von 8, so daß eine weitergehende Erläuterung
unterbleiben kann.
-
Durch Einsetzen des magnetischen
Materials 17 mit Sättigungscharakteristik
in einem Halbleitergehäuse
in dieser Weise wird es möglich,
die Anzahl von Komponenten zu verringern.
-
Wie voranstehend beschrieben, kann
gemäß der Erfindung
in nahezu allen Zeitabschnitten, in denen ein negativer Strom in
einem MOSFET für
synchrone Gleichrichtung fließt,
eine Spannung an das Gate angelegt werden. Dadurch kann ein Gleichrichtungsverlust
unterdrückt
oder auf einen geringen Wert beschränkt werden, um den Wirkungsgrad
der Vorrichtung zu erhöhen.
Zusammen damit kann eine Kühlvorrichtung
kompakt ausgebildet werden, weil die Kühlkapazität der gesamten Vorrichtung
kleiner sein kann. Schließlich
kann die Vorrichtung kompakt und mit geringem Gewicht ausgebildet
werden.