-
Die Erfindung betrifft eine integrierte
Schaltung mit einer Testschaltung, die über einen Testanschluss aktivierbar
ist.
-
Integrierte Schaltungen werden üblicherweise
während
und nach ihrer Herstellung getestet, bevor sie an den Kunden ausgeliefert
werden. Die integrierten Schaltungen werden getestet, indem sie über dafür vorgesehene
Testanschlüsse
an eine Testereinrichtung angeschlossen werden und die Testereinrichtung
gemäß einem
vorgegebenen Testablauf Funktionen innerhalb der integrierten Schaltung
aufruft. Nach dem Auslesen von Signalen an Ausgangsanschlüssen werden
die Funktionen auf ihre korrekte Funktionsweise hin überprüft.
-
Die integrierten Schaltungen sind
beim Testen über
die Testanschlüsse,
die mit Testleitungen verbunden sind, mit der Testereinrichtung
verbunden. Die Testleitungen stellen beim Testen ein Nadelöhr dar,
da über
sie Befehls- und Datensignale der integrierten Schaltung zugeführt werden
und Ausgangssignale von der integrierten Schaltung an die Testereinrichtung
ausgelesen werden. Um die Testabläufe zu beschleunigen, sind
häufig
innerhalb der integrierten Schaltungen Testschaltungen integriert. Die
Testschaltungen können
durch ein Testsignal aktiviert werden, so dass die interne Testschaltung
eine Testfunktion ausführt,
die im Wesentlichen innerhalb der integrierten Schaltung ohne äußere Steuerung ausgeführt wird.
Lediglich das Ergebnis der Testfunktion bzw. ob das Ergebnis einen
Fehler aufweist oder nicht, wird der Testereinrichtung mitgeteilt.
Dadurch lässt
sich die Menge der zu übertragenden
Daten zwischen der integrierten Schaltung und der Testereinrichtung
drastisch reduzieren.
-
Die Funktionen von integrierten Schaltungen benötigen häufig weitere
intern generierte Spannungen. Diese intern generier ten Spannungen
werden beispielsweise durch Spannungsteiler, Ladungspumpen oder ähnliches
generiert. Beim Testen der integrierten Schaltung durch die interne
Testschaltung werden häufig
mehrere, meist voneinander unabhängige
Funktionen innerhalb der integrierten Schaltung gleichzeitig ausgeführt. Diese
voneinander unabhängigen
Funktionen können
intern generierte Spannungen benötigen.
Dadurch, dass die Funktionen zum Testen im Wesentlichen soweit möglich parallel
ausgeführt
werden, ist der Strombedarf aus den internen Spannungsquellen höher als
im Normalbetrieb. Das Maß der
Parallelität
beim Testen der integrierten Schaltung durch die Testschaltung ist
daher durch die Leistungsaufnahme der einzelnen Schaltungsteile hinsichtlich
der internen Spannungsquellen begrenzt, da über die für den Normalbetrieb der integrierten Schaltung
zur Verfügung
gestellten internen Spannungsquellen nur eine bestimmte Strommenge
geliefert werden kann. Somit muss die Testfunktion, die durch die
Testschaltung ausgeführt
wird, so gestaltet sein, dass das Testen der Schaltungsteile der
integrierten Schaltung nicht dazu führt, dass der Strom aus einer
internen Spannungsquelle einen bestimmten Maximalwert übersteigt.
Dadurch wird der Testvorgang verlängert, da weniger Schaltungsteile gleichzeitig
getestet werden können.
-
Nach dem Testen der integrierten
Schaltung werden die Spannungswerte von internen Spannungsquellen
auf den gewünschten
Wert eingestellt. Beim Testen liegen die internen Spannungen nur unkalibriert
vor, d. h. die Spannungen sind noch nicht auf einen exakten Spannungswert
eingestellt. Das Einstellen der Spannungen der internen Spannungsquelle
erfolgt üblicherweise
nach Abschluss des Testverfahrens durch Schreiben von Einstellungswerten
in einen permanenten Speicher, z. B. in elektrische Fuses oder durch
Durchtrennen von Leiterbahnen, den sogenannten Laserfuses, durch
einen nachfolgenden Lasertrimming-Prozess. Solange die intern generierten
Spannungen nicht exakt den vorgeschriebenen Wert aufweisen, bleibt
das Testen der Funktionen ungenau und führt unter Umständen zu fehlerhaften
Testergebnissen.
-
Aus der Druckschrift
DE 198 53 069 A1 ist ein
Testsystem für
eine zu testende integrierte Schaltung mit einer Testeinrichtung
bekannt. Die Testeinrichtung umfasst eine Spannungsversorgung für die integrierte
Schaltung und einen Mustergenerator. Der Mustergenerator kann ein
Testsignal generieren, mit dem ein Selbsttestvorgang der integrierten
Schaltung gestartet wird.
-
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine
verbesserte integrierte Schaltung zu schaffen, mit der das Testen
einer integrierten Schaltung genauer und schneller durchgeführt werden
kann.
-
Diese Aufgabe wird durch die integrierte Schaltung
nach Anspruch 1, das Testsystem nach Anspruch 4 und das Verfahren
nach Anspruch 5 gelöst.
-
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen
der Erfindung sind in den abhängigen
Ansprüchen
angegeben.
-
Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden
Erfindung ist eine integrierte Schaltung mit einer Testschaltung
und einem Testanschluss vorgesehen. Die Testschaltung ist über ein
an dem Testanschluss anlegbares Testsignal aktivierbar, um eine
interne Testfunktion zu starten. Weiterhin ist eine Schalteinrichtung
vorgesehen, um nach dem Aktivieren der Testschaltung über den
Testanschluss den Testanschluss mit einer internen Spannungsleitung
zu verbinden, um einen aufgrund der ausgeführten Testfunktionen benötigten Strombedarf
zu versorgen.
-
Integrierte Schaltungen weisen in
der Regel eine Reihe von internen Spannungsgeneratoren auf, über die
interne Spannungen für
den normalen Betrieb der integrierten Schaltung generiert werden.
Die Stromaufnahme aus den internen Spannungsgeneratoren der integrierten
Schaltung ist beim Testen jedoch erhöht, insbesondere beim gleichzeitigen
Testen mehrerer Schaltungsteile innerhalb der integrierten Schaltung.
Das gleichzeitige Testen mehrerer Schaltungsteile kann dazu führen, dass
die Stromlieferfähigkeit
der internen Spannungsgeneratoren der integrierten Schaltung überschritten
wird, so dass die Parallelität
des Testens von Schaltungsteilen innerhalb der integrierten Schaltung
dadurch begrenzt ist. Da in der Regel keine zusätzlichen externen Anschlüsse zum
Anlegen weiterer Spannungen zur Verfügung stehen, ist es daher nach dem
Stand der Technik notwendig, die ausgeführten Testfunktionen der integrierten
Schaltung so nacheinander ablaufen zu lassen, dass ein Maximalstrom
aus den internen Spannungsgeneratoren nicht überschritten wird. Dies verzögert den
Testablauf erheblich.
-
Erfindungsgemäß ist nun vorgesehen, eine integrierte
Schaltung zu schaffen, bei der eine interne Spannungsquelle durch
eine externe angelegte Spannung unterstützt oder ersetzt werden kann. Dazu
ist eine Schalteinrichtung vorgesehen, die mit einem Testanschluss
verbunden ist und die es ermöglicht,
den Testanschluss mit einer Testschaltung zum Aktivieren der Testfunktion
oder mit einer internen Versorgungsleitung zu verbinden. Die Schalteinrichtung
dient also dazu, mithilfe eines Testsignals die Testschaltung zu
aktivieren und anschließend durch
Schalten der Schalteinrichtung den Testanschluss mit einer internen
Spannungsleitung zu verbinden.
-
Auf diese Weise kann in einem Testsystem mit
einer Testeinrichtung, die mit der zu testenden integrierten Schaltung über eine
Testleitung verbunden ist, eine Testschaltung in der integrierten
Schaltung aktiviert werden, indem ein Testsignal angelegt wird. Nachdem
durch das Anlegen des Testsignals die Testfunktion gestartet ist,
legt die Testeinrichtung eine Strom- bzw. Spannungsquelle über die
Testleitung an die integrierte Schaltung an, in der nach Starten
der Testfunktion der Testanschluss mit einer internen Spannungsleitung
verbunden ist. Über
die Strom-/Spannungsquelle der Testeinrichtung ist es möglich, einen
zusätzlichen
Strombedarf auf der internen Spannungsleitung innerhalb der integrierten Schaltung
während
des Durchführens
des Testvorgangs zu decken.
-
Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen integrierten
Schaltung besteht darin, dass beim Testen eine intern generierte
Spannung extern vorgegeben werden kann. Die externe Spannung ist
genau auf einen bestimmten Spannungswert einstellbar. Dies ist insbesondere
dann vorteilhaft, wenn die interne Spannungsquelle noch nicht nach
Abschluss des Testverfahrens in einem Justiervorgang auf einen optimalen
Spannungswert eingestellt worden ist. In diesem Fall liegt während des
Testvorgang die interne Spannungsquelle auf einen noch nicht justierten
Spannungswert, so dass das Ergebnis des Testvorgangs ungenau bzw.
verfälscht
ist.
-
Vorzugsweise ist vorgesehen, dass
die Schalteinrichtung so angesteuert wird, um nach dem Aktivieren
der Testschaltung den Testanschluss von der Testschaltung zu trennen.
Auf diese Weise ist sichergestellt, dass Spannungsschwankungen am Testanschluss
keinen Einfluss auf die Ausführung der
Testfunktion innerhalb der Testschaltung haben.
-
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform ist
vorgesehen, dass die integrierte Schaltung ein Speicherelement aufweist,
in dem eine Aktivierungsinformation abhängig von dem Anlegen des Testsignals
gespeichert werden kann. D.h. sobald das Testsignal über den
Testanschluss empfangen worden ist, wird die Aktivierungsinformation
in dem Speicherelement gespeichert. Das Speicherelement ist mit der
Schalteinrichtung so gekoppelt, um die Schalteinrichtung bei Speichern
der Aktivierungsinformation zu schalten, so dass die interne Versorgungsleitung nach
Anlegen des Testsignals mit dem Testanschluss verbunden wird.
-
Gemäß einem weiteren Aspekt der
vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zum Aktivieren einer Testfunktion
in einer integrierten Schaltung vorgesehen. Dazu wird ein Testsignal
an einen Testanschluss angelegt, um durch das Testsignal eine Testfunktion
in der integrierten Schaltung zu starten. Nach dem Anlegen des Testsignals
an den Testanschluss wird ein externer Strom oder eine externe Spannung
angelegt, um für
den Ablauf der durch das Testsignal aktivierten Testfunktionen eine
Stromversorgung bereitzustellen.
-
Eine bevorzugte Ausführungsform
der Erfindung wird im Folgenden anhand der beigefügten Zeichnungen
näher erläutert. Es
zeigen:
-
1 eine
integrierte Schaltung mit einem Testanschluss gemäß einer
bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung; und
-
2 eine
mögliche
Ausführungsform
für eine
Schalteinrichtung, die in der erfindungsgemäßen integrierten Schaltung
verwendbar ist.
-
In 1 ist
eine bevorzugte Ausführungsform
der erfindungsgemäßen integrierten
Schaltung dargestellt. Die integrierte Schaltung 1 umfasst
eine Nutzschaltung 2, in der die anwendungsbezogenen Nutzfunktionen
der integrierten Schaltung realisiert sind. Die integrierte Schaltung 1 weist
weiterhin eine Testschaltung 3 auf, die über Steuerleitungen 4 mit der
Nutzschaltung 2 verbunden ist, um die Nutzschaltung 2 gemäß einem
vorgegebenen, in der Testschaltung 3 implementierten Testablauf
zu testen.
-
Über
einen Versorgungsspannungsanschluss 5 sind sowohl Testschaltung 3 als
auch Nutzschaltung 2 mit einer Versorgungsspannung verbunden.
-
Die Nutzschaltung weist weiterhin
eine interne Spannungsquelle 17 auf, um intern generierte Spannungen
der Nutzschaltung 2 zur Verfügung zu stellen. Die intern
generierten Spannungen können größer oder
kleiner als die zur Verfügung
gestellte Versorgungsspannung sein. Die interne Spannungsquelle 17 kann
eine Ladungspumpe zum Erzeugen einer höheren internen Spannung oder
einen Spannungsteiler aufweisen, um aus der Versorgungsspannung
eine interne Spannung zu generierten.
-
Über
einen Datenanschluss 6, der sowohl mit der Testschaltung 3 als
auch mit der Nutzschaltung 2 verbunden ist, können Daten
an die Testschaltung 3 bzw. an die Nutzschaltung 2 über tragen
werden. Die Daten können
einerseits dazu verwendet werden, den Testablauf innerhalb der Testschaltung 3 zu
steuern, und andererseits im Normalbetrieb Daten der Nutzschaltung 2 zur
Verfügung
zu stellen bzw. der Nutzschaltung 2 die Möglichkeit
zu geben, Daten auszugeben.
-
Die Testschaltung 3 ist
weiterhin über
einen Testanschluss 7 ansteuerbar. Der Testanschluss 7 dient
dazu, ein Testsignal zu empfangen, wodurch die Testschaltung 3 aktiviert
wird. Beim Aktivieren der Testschaltung wird ein in der Testschaltung 3 implementierter
Testablauf gestartet, der gemäß einem vorgegebenen
Testverfahren die Funktionen der Nutzschaltung 2 testet.
Der Testanschluss 7 wird bei Schaltungen gemäß dem Stand
der Technik nicht weiter verwendet, nachdem der Testablauf gestartet worden
ist. Häufig
kommt es vor, dass der Testanschluss einem späteren Benutzer der integrierten Schaltung
nicht zur Verfügung
steht, da der Testanschluss bei einem nachfolgenden Einhäusen nicht mit
einem Anschlusspin des Gehäuses
verbunden wird.
-
Je nach ausgeführter Testfunktion in der Testschaltung 3,
insbesondere bei parallelen Testfunktionen, kann es sein, dass ein
erhöhter
Strombedarf aus der internen Spannungsquelle 17 besteht. Unter
Umständen
kann dieser Strombedarf nicht durch die vorhandene interne Spannungsquelle 17 gedeckt
werden. In diesem Fall müsste
bei herkömmlichen
integrierten Schaltungen eine zusätzliche Stromversorgung über einen
weiteren externen Anschluss der integrierten Schaltung 1 zugeführt werden
oder die Testfunktionen weniger parallel bzw. nacheinander ausgeführt werden,
um die Strombelastung zu reduzieren.
-
Da in der Regel die Anzahl zur Verfügung stehender
externer Anschlüsse
einer integrierten Schaltung begrenzt ist, können oftmals keine zusätzlichen,
ausschließlich
für das
Durchführen
von Testverfahren zu nutzende Spannungsanschlüsse bereitgestellt werden.
Das nacheinander erfolgende Ausführen
von Testfunktionen würde
andererseits die Testzeit erheblich verlängern.
-
Darüber hinaus kann es notwendig
sein, zum Durchführen
der Testfunktionen ein zusätzliches Spannungspotential
zur Verfügung
zu stellen, das für den
Normalbetrieb der integrierten Schaltung nicht vorgesehen ist. Da üblicherweise
die zur Verfügung stehenden
Anschlüsse
belegt sind, gibt es keine Möglichkeit,
dieses zusätzliche
Spannungspotential in die integrierte Schaltung einzubringen.
-
Erfindungsgemäß ist daher der Testanschluss 7 mit
einer Schalteinrichtung 8 verbunden, so dass der Testanschluss 7 schaltbar
mit einer internen Spannungsleitung zur Versorgung der Schaltkreise mit
einer internen Spannung in der Nutzschaltung 2 verbunden
werden kann.
-
Die Testschaltung 3 weist
weiterhin ein Speicherelement 9, z.B. in Form eines Latches,
auf, das eine Aktivierungsinformation speichern kann, sobald die
Testschaltung 3 durch das Testsignal über den Testanschluss 7 aktiviert
worden ist. Der Ausgang des Speicherelements 9 ist über eine
Steuerleitung 10 mit der ersten Schalteinrichtung 8 verbunden,
so dass die erste Schalteinrichtung 8 durch die Aktivierungsinformation
gesteuert ist. Die Steuerleitung 10 ist weiterhin mit einer
zweiten Schalteinrichtung 18 verbunden, so dass die zweite
Schalteinrichtung durch die Aktivierungsinformation gesteuert ist.
Ist in dem Speicherelement 9 eine Aktivierungsinformation gespeichert,
die angibt, dass die Testfunktion der Testschaltung 3 aktiviert
worden ist, so schaltet die erste Schalteinrichtung 8,
so dass der Testanschluss 7 mit dem internen Spannungsnetz 11 verbunden
ist.
-
Bei einem Aktivieren der Testfunktion
der Testschaltung 3 kann ebenso die zweite Schalteinrichtung 18 so
geschaltet werden, dass die interne Spannungsquelle 17 von
der internen Spannungsleitung getrennt wird, so dass die extern
angelegte Spannung an dem Testanschluss 7 nicht zu einem Stromfluss
durch die interne Spannungsquelle 17 führt.
-
Die integrierte Schaltung ist zum
Aktivieren der Testfunktion und Auswerten des Testergebnisses mit
einer Testeinrichtung 12 verbunden. Die Testereinrichtung 12 kann
das Testsignal über
eine Testleitung 13 an den Testanschluss 7 angelegen.
Die Testeinrichtung 12 ist so gestaltet, dass zum Starten
der Testfunktion das Testsignal über
den Testkanal der Testleitung 13 an die integrierte Schaltung 1 angelegt werden
kann und im Anschluss an das Aktivieren der Testfunktion an den
selben Testkanal eine Strom- bzw. Versorgungsspannungsquelle 14 angeschlossen
wird. Die Strom- bzw. Versorgungsspannungsquelle 14 ist
in der Testeinrichtung 12 einstellbar.
-
Das Anschließen der Strom-/Spannungsquelle 14 erfolgt
vorzugsweise über
einen Schalter 15, der durch die Testeinrichtung 12,
bzw. durch ein Steuermodul 16, in der Testeinrichtung 12 gesteuert wird.
-
Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren generiert
das Steuermodul 16 zunächst
das Testsignal, das über
den Schalter 15 über
die Testleitung 13 an den Testanschluss 7 angelegt
wird. Dies bewirkt, dass in der Testschaltung 3 der integrierten
Schaltung 1 die Testfunktion gestartet wird und die Aktivierungsinformation
in dem Speicherelement 9 gespeichert wird. Dadurch wird
die erste Schalteinrichtung 8 geschaltet, so dass der Testanschluss 7 nun
mit der internen Spannungsleitung 11 verbunden ist und
die interne Spannungsquelle 17 von der internen Spannungsleitung 11 getrennt
wird.
-
Im Wesentlichen gleichzeitig oder
kurz nach Senden des Testsignals steuert das Steuermodul 16 den
Schalter 15 an, so dass dieser geschaltet wird und nun
die Strom-/Spannungsquelle 14 mit der Testleitung 13 verbunden
ist, wodurch eine Spannung bzw. ein Strom an den Testanschluss 7 angelegt
wird. Somit kann der internen Spannungsleitung 11 ein zusätzlicher Strom
bzw. eine weitere Spannung zur Verfügung gestellt werden, so dass
in der Nutzschaltung 2 Testfunktionen mit höherer Parallelität durchgeführt werden
können,
die eine erhöhte
Stromzufuhr benötigen.
Auf diese Weise ist es möglich,
dass die Testschaltung 3 parallel mehrere Funktionen gleichzeitig in
der Nutzschaltung 2 testen kann, ohne dass die Stromlieferfähigkeit
der internen Spannungsquelle 17 überschritten wird. Auch stellt
die Möglichkeit
des Anlegens einer zusätzlichen
Spannung eine Möglichkeit
dar, ein weiteres Spannungspotential zur Durchführung der Testfunktion den
internen Schaltungen zur Verfügung
zu stellen, ohne einen weiteren Testanschluss dafür vorzusehen.
-
Ein weiterer Vorteil der Erfindung
ist, dass die extern angelegte Spannung sehr genau durch die Testeinrichtung
eingestellt werden kann und somit die Testfunktionen bereits mit
einem justierten Spannungswert durchgeführt werden kann. Insbesondere bei
einem Testen in einem unzersägten
Zustand der Halbleiterchips sind die internen Spannungsquellen noch
nicht justiert. Eine Justierung der internen Spannungsquellen wird
vorzugsweise durch permanente Speicher bzw. durch sogenannte Fuses
durchgeführt,
die erst nach Ablauf des Testvorgangs programmiert werden, so dass
die gewünschte
interne Spannung durch die interne Spannungsquelle zur Verfügung gestellt
wird.
-
Dadurch, dass beim Testvorgang die
interne Spannungsquelle durch eine externe Spannungsquelle ersetzt
wird, ist es möglich,
die interne Spannung auf der Spannungsleitung sehr exakt auf den gewünschten
Wert einzustellen uns somit den Testvorgang bei einer definierten
internen Spannung durchzuführen.
Dies ermöglicht
ein sicheres Überprüfen der
Funktionen der Nutzschaltung und verhindert, dass das Testen der
integrierten Schaltung zu fehlerhaften Testergebnissen führt.
-
Es ist selbstverständlich,
dass der Schalter 15 und/oder die Schalteinrichtung 8 auch
als Umschalter vorgesehen sein kön nen,
die gleichzeitig oder nach dem Schalten zur Versorgung der Testfunktion
das Steuermodul 16 und/oder die Testschaltung 3 von
der Testleitung trennen. Dies hat den Vorteil, dass die Testschaltung 3 nicht
von Spannungsschwankungen an dem Testanschluss beeinflusst werden
kann.
-
In 2 ist
beispielhaft eine Schaltung einer Schalteinrichtung 8 gezeigt,
mit der Versorgungsspannungen unterhalb des in der Nutzschaltung 2 verwendeten
Massepotentials geschaltet werden können. Dies ist insbesondere
deswegen ein Problem, da die Schalteinrichtungen in der Regel mithilfe von
Feldeffekttransistoren realisiert werden. Liegt an einem Anschluss
eines Feldeffekttransistors ein Versorgungsspannungspotential an,
dass unterhalb des Massepotentials bzw. des niedrigsten in der Schaltung
verwendeten Potentials, liegt, so lässt sich der betreffende Feldeffekttransistor über die
in der integrierten Schaltung zur Verfügung stehenden Spannungen nicht
vollständig
abschalten, da das niedrigste zur Verfügung stehende Potential in
der Regel das Massepotential ist, und somit eine positive Gate-Source-Spannung
besteht.
-
In 2 ist
eine mögliche
erste Schalteinrichtung 8 dargestellt, mit der ein Schalten
einer Spannung, die an einen Testanschluss 7 angelegt worden
ist, durchgeführt
werden kann, selbst dann, wenn das Spannungspotential unterhalb
des internen Massepotentials liegt. Die erste Schalteinrichtung 8 weist
dazu eine Spannungspegelwandlerschaltung 21 auf, die mit
der Steuerleitung 10 verbunden ist und ein Ansteuersignal
für einen
Gate-Anschluss eines Schalttransistors 22 zur Verfügung stellt.
-
Die Spannungspegelwandlerschaltung 21 ist ferner
mit einem ersten hohen Versorgungsspannungspotential VDD, das standardmäßig in der
integrierten Schaltung bereitgestellt wird, und dem Testanschluss 7 verbunden.
Der Schalttransistor 22 ist mit einem ersten Anschluss
ebenfalls mit dem Testanschluss 7 und mit einem zweiten
Anschluss mit der internen Spannungs leitung 11, auf die
das an dem Testanschluss 7 angelegte Spannungspotential
angelegt ist, verbunden.
-
Liegt an dem Gate-Anschluss des Schalttransistors 22 das
hohe Versorgungsspannungspotential an, so ist der Schalttransistor 22 durchgeschaltet
und das Spannungspotential über
den Testanschluss 7 liegt an der internen Spannungsleitung 11 an.
Damit der Schalttransistor 22 vollständig sperrt, muss zum Sperren
an dem Gateanschluss ein Potential anliegen, das entweder gleich
oder kleiner dem an den Testanschluss 7 anliegenden Spannungspotential
ist.
-
Die Spannungspegelwandlerschaltung 21 weist
dazu einen ersten Inverter 23 auf, dessen Eingang mit dem
Ausgang des Speicherelements 9 über die Steuerleitung 10 verbunden
ist. Der Ausgang des Inverters 23 ist mit einem Eingang
eines zweiten Inverters 24 und einem Gate-Anschluss eines
ersten p-Kanal-Transistors 25 verbunden.
Ein Ausgang des zweiten Inverters 24 ist mit einem Gate-Anschluss
eines zweiten p-Kanal-Transistors 26 verbunden.
Erste Anschlüsse
des ersten p-Kanal-Transistors 25 und des
zweiten p-Kanal-Transistors 26 sind mit dem hohen Versorgungsspannungspotential
VDD verbunden.
-
Ein zweiter Anschluss des ersten
p-Kanal-Transistors 25 ist mit dem Gate-Anschluss des Schalttransistors 22,
einem ersten Anschluss eines ersten n-Kanal-Transistors 27 und
einem Gate-Anschluss
eines zweiten n-Kanal-Transistors 28 verbunden. Ein zweiter
Anschluss des zweiten p-Kanal-Transistors 26 ist mit dem
Gate-Anschluss des ersten n-Kanal-Transistors 27 und einem
ersten Anschluss des zweiten n-Kanal-Transistors 28 verbunden.
Zweite Anschlüsse
des ersten n-Kanal-Transistors 27 und des zweiten n-Kanal-Transistors 28 sind mit
dem Testanschluss 7 verbunden. Die Substratanschlüsse des
ersten p-Kanal-Transistors 25 und
des zweiten p-Kanal-Transistors 26 sind mit dem hohen Versorgungsspannungspotential
VDD und die Substratanschlüsse
des ersten n-Kanal-Transistors 27 und des zweiten n-Kanal-Transistors 28 mit
dem Steueranschluss 7 verbunden. Der Substratanschluss
des Schalttransistors 22 ist ebenfalls mit dem Testanschluss 7 verbunden.
-
Auf diese Weise wird ein Spannungspegelwandler 21 geschaffen,
der abhängig
von der Aktivierungsinformation den Schalttransistor 23 öffnet oder vollständig sperrt,
auch wenn eine externe Spannung an dem Testanschluss 7 angeschlossen
ist, der unterhalb des in der integrierten Schaltung 1 zur
Verfügung
gestellten Massepotentials liegt.
-
Die Idee der Erfindung besteht darin,
eine Testleitung, über
die ein Testbefehl zum Starten eines Testvorgangs in einer integrierten
Schaltung 1 zur Verfügung
gestellt wird, nach dem Starten des Testvorgangs zum Bereitstellen
einer Spannungs- bzw. Stromversorgung zu nutzen. Die Spannungs-
bzw. Stromversorgung kann einerseits dazu dienen, eine erhöhte Stromzufuhr
auf einer internen Spannungsleitung der integrierte Schaltung 1 zur
Verfügung
zu stellen, damit Testverfahren für mehrere Schaltungsteile der
Nutzschaltung 2 paral-lel
durchgeführt
werden können,
und andererseits die interne Spannung beim Testen exakter als während des
Testablaufs durch die interne Spannungsquelle 17 generibar
bereit zu stellen.
-
- 1
- integrierte
Schaltung
- 2
- Nutzschaltung
- 3
- Testschaltung
- 4
- Testleitungen
- 5
- Versorgungsspannungsanschluss
- 6
- Datenanschluss
- 7
- Testanschluss
- 8
- erste
Schalteinrichtung
- 9
- Speicherelement
- 10
- Steuerleitung
- 11
- interne
Spannungsleitung
- 12
- Testeinrichtung
- 13
- Testleitung
- 14
- Strom-/Spannungsversorgung
- 15
- Schalter
- 16
- Steuermodul
- 17
- interne
Spannungsquelle
- 18
- zweite
Schalteinrichtung
- 21
- Spannungspegelwandlerschaltung
- 22
- Schalttransistor
- 23
- Erster
Inverter
- 24
- Zweiter
Inverter
- 25
- Erster
p-Kanal-Transistor
- 26
- Zweiter
p-Kanal-Transistor
- 27
- Erster
n-Kanal-Transistor
- 28
- Zweiter
n-Kanal-Transistor