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Die vorliegende Erfindung betrifft
einen ARB-Generator mit mehreren Ausgängen und einen Gemischt-LSI-Tester,
der die Einheit einschließt,
insbesondere eine Parallelmesstechnik des gleichzeitigen Testens
einer Vielzahl von Bauteilen.
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Ein LSI-Testgerät legt analoge Testsignale an
zu testende LSIs an führt
einen Test basierend auf einer Testfolge aus, die für einen
Typ eines jeden zu testenden LSI spezifisch ist. Das LSI-Testgerät enthält einen
ARB-Generator um die analogen Testsignale zu erzeugen.
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Hier wird ein Aufbau eines herkömmlichen ARB-Generators
unter Bezugnahme auf 3 beschrieben
werden.
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Ein ARB-Generator 1 ist,
wie es in 3(A) gezeigt
ist, aus einem Ausgangsfolgesteuerungsabschnitt 11, einem
Abschnitt für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung 12 und einem Abschnitt
für die Analogsignalformerzeugung 13 aufgebaut.
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Der Ausgangsfolgesteuerungsabschnitt 11 gibt
ein Testfolgesignal S1 aus, basierend auf der Testfolge, die für einen
zu testenden LSI (DUT/Prüfling)) 3 spezifisch
ist, um den Abschnitt für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung 12 zu steuern. Der Abschnitt
für die
Ausgangssignalformdatenerzeugung 12 erzeugt ein Ausgangssignalformdatensignal S2
in Übereinstimmung
mit dem Testfolgesignal S1.
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Der Abschnitt für die Analogsignalformerzeugung 13 digital/analog-wandelt
das Signalformdatensignal S2, das vom Abschnitt für die Ausgangssignalformdatenerzeugung 12 ausgegeben
wurde, und erzeugt ein analoges Testsignal S3. Das analoge Testsignal
S3 wird an den zu testenden LSI (DUT/Prüfling) 3 angelegt,
der auf eine Leistungskarte 2 gelegt wurde. Die Leistungskarte 2 fungiert
als eine Schnittstellenkarte (I/F-Karte) mit dem Prüfling 3.
Es wird die Leistungskarte 2 zum exklusiven Gebrauch bei
jedem Typ des zu testenden LSI 3 verwendet.
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Desweiteren enthält der Abschnitt für die Analogsignalformerzeugung 13,
wie es in 3(B) gezeigt
ist, einen Digital/Analog-Wandler (D/A) 41, einen Tiefpassfilter
(LPF) 42, ein Dämpfungsglied (ATT) 43,
einen Differentialabschnitt 44 und einen Digital/Analog-Wandler
für Offset
(D/A) 45.
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Das Ausgangssignalformdatensignal
S2, das in den Abschnitt für
die Analogsignalformerzeugung 13 eingegeben wurde, wird
durch den Digital/Analog-Wandler
(D/A) 41 in ein analoges Testsignal gewandelt. Anschließend, wenn
dieses analoge Testsignal durch den Tiefpassfilter (LPF) 42 geschickt
wird, werden Hochfrequenzrauschkomponenten beseitigt.
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Nun wird eine Signalamplitude (Verstärkung) des
analogen Testsignals in diesem Stadium manchmal einen erlaubten
Bereich der Eingangssignalamplitude im Prüfling 3 überschreiten.
Dann wird die Signalamplitude des analogen Testsignals durch das Dämpfungsglied 43 eingestellt,
so dass die Signalamplitude des Prüflings 3 innerhalb
des erlaubten Bereichs hinein fällt.
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Anschließend erzeugt der Differenzialabschnitt 44 ein
differentiales analoges Testsignal, das aus positiven und negativen
Signalen aus dem analogen Testsignal zusammengesetzt ist.
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Darüber hinaus gibt es für den Prüfling 3 einen
erlaubten Bereich für
eine Offsetspannung des Eingangssignals. Dann wird ein DC-Offsetsignal
S4 im erlaubten Bereich durch den Digital/Analog-Wandler für Offset 45 digital/analoggewandelt,
um eine Offsetspannung V der gleichen Phase zu erzeugen, wie die
des differentialen analogen Testsignals. Desweiteren wird die Offsetspannung
V zum differentialen analogen Testsignal hinzu addiert und das offseteingestellte
differentiale analoge Testsignal wird über Anschlüsse 40 ausgegeben.
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Demgemäß wird das differentiale analoge Testsignal,
dessen Verstärkung
und Offset hinsichtlich dem zu testenden LSI optimiert wurden, in
den Prüfling 3 eingegeben.
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Beim LSI-Testgerät, das auf diese Art und Weise
zusammengesetzt ist, ist in den letzten Jahren ein Testverfahren
verwendet worden, das Parallelmessung genannt wird. Bei diesem Verfahren
wurde eine Vielzahl von Prüflingen 3 auf
die Leistungskarte 2 gelegt und wird gleichzeitig gemessen.
Wenn ein LSI-Test durch die Parallelmessung ausgeführt wird, kann
die Vielzahl von Prüflingen 3 gleichzeitig
gemessen werden und die Testzeit kann reduziert werden.
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Es gibt jedoch bei den Prüflingen
Abweichungen in einem Ausmaß eines
erlaubten Bereichs der Eingangssignalamplitude des Prüflings 3 oder
einen erlaubten Bereich der Offsetspannung. Deshalb ist es im Allgemeinen
notwendig, um den LSI-Test durch die Parallelmessung auszuführen, pro
Leistungskarte 2 die gleiche Anzahl von ARB-Generatoren 1 anzuordnen,
wie die der auf die Leistungskarte 2 gelegten zu testenden
LSIs, wie es in 4(A) gezeigt
ist. Im Ergebnis ergibt sich das Problem, dass das LSI-Testgerät vergrößert wird
und die Kosten des LSI-Tests steigen.
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Beispielsweise sind bei einem in 4(A) gezeigten Beispiel
vier Systeme von ARB-Generatoren 1 abgeordnet, um die Parallelmessung
hinsichtlich der vier Prüflinge 3 auszuführen.
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Desweiteren müssen acht Systeme von ARB-Generatoren 1 abgeordnet
werden, wenn beim LSI-Test zwei Arten von analogen Testsignalen
an den Prüflingen 3 angelegt
werden müssen,
um die Parallelmessung der vier Prüflinge auszuführen. Deshalb
wird das LSI-Testgerät
weiter vergrößert und
die Kosten steigen.
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Um das Problem zu lösen, ist
ein Verfahren der Verteilung von analogen Testsignalen S3, die von einen
ARB-Generator 1 an die Leistungskarte 2 ausgegeben
wurden, um die Signale an der Vielzahl von Prüflingen anzulegen, vorgeschlagen
worden, wie es in 4(B) gezeigt
ist.
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Bei diesem Verfahren ist es jedoch
schwierig, die Verstärkungen
und Offsets der Testsignale in Übereinstimmung
mit dem erlaubten Bereich der einzelnen Prüflinge 3 individuell
einzustellen. Deshalb besteht ein Problem, dass es schwierig ist,
das analoge Testsignal für
jeden Prüfling 3 optimiert
anzuwenden.
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Außerdem ist der Schaltkreisaufbau
der Leistungskarte 2 kompliziert, da es notwendig ist,
die Verteilung der analogen Testsignale an die Leistungskarte 2 zu
steuern, und ein Testprogramm ist ebenfalls kompliziert.
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Die vorliegende Erfindung wurde entwickelt, um
das oben beschriebene Problem zu lösen und es ist eine ihrer Aufgaben,
einen ARB-Generator mit mehreren Ausgängen bereitzustellen, bei dem
beim gleichzeitigen Testen einer Vielzahl von zu testenden LSIs
das analoge Testsignal für
jeden zu testenden LSI optimiert mit einem einfachen Schaltkreisaufbau erzeugt
werden kann, ohne den Schaltkreisaufbau der Leistungskarte zu verkomplizieren,
und ferner einen Gemischt-LSI-Tester, der den Generator enthält.
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Erfindungsgemäß wird ein ARB-Generator mit
mehreren Ausgängen
bereitgestellt, der folgendes umfasst: einen Abschnitt für die Ausgangssignalformdatenerzeugung
zum Erzeugen eines Ausgangssignalformdatensignals für einen
LSI-Test; einen Ausgangsfolgesteuerungsabschnitt zum Steuern des
Abschnitts für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung; basierend auf einer Testfolge,
die für
einen zu testenden LSI spezifisch ist; und einen Abschnitt für die Analogsignalformerzeugung
zum digital/analog-wandeln eines Ausgangssignalformdatensignals, das
vom Abschnitt für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung ausgegeben wurde, um die Signale
an eine Vielzahl von zu testender LSIs anzulegen, wobei der Abschnitt
für die
Analogsignalformerzeugung folgendes umfasst: einen Abschnitt für die Verstärkungseinstellung,
der eine Vielzahl von Anschlüssen enthält, über welche
die analogen Testsignale, die an die Vielzahl von LSIs angelegt
werden, individuell ausgegeben werden, um individuell Verstärkungen der
analogen Testsignale einzustellen, die über die Anschlüsse ausgegeben
werden; und einen Abschnitt für die
Offseteinstellung zum individuellen Einstellen der Offsetspannungen
der analogen Testsignale.
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Demgemäß verteilt der ARB-Generator
mit mehreren Ausgängen
der vorliegenden Erfindung die analogen Testsignale im Abschnitt
für die
Analogsignalformerzeugung und gibt die Signale über die Vielzahl von Anschlüssen aus.
Deshalb können
der Abschnitt für
die Ausgangsfolgesteuerung und der Abschnitt für die Ausgangssignalformdatenerzeugung in
einem System zusammengebaut sein, auch wenn die Vielzahl von zu
testenden LSIs durch die Parallelmessung getestet werden.
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Zusätzlich werden die verteilten
analogen Testsignale individuell für jeden zu testenden LSI durch
den Abschnitt für
die Verstärkungseinstellung und
den Abschnitt für
die Offseteinstellung des Abschnitts für die Analogsignalformerzeugung
optimiert.
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Demgemäß kann das analoge Testsignal, das
für jeden
zu testenden LSI optimiert ist, mit einem einfachen Schaltkreisaufbau
erzeugt werden, wenn die Vielzahl von zu testenden LSIs gleichzeitig
getestet werden.
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Desweiteren kann bei der vorliegenden
Erfindung das Testsignal für
jedes Bauteil optimiert werden, um den Parallelmesstest ohne Verkomplizierung
des Schaltkreisaufbaus der Leistungskarte und ohne Verkomplizierung
des Testprogramms auszuführen,
da die analogen Testsignale im Abschnitt für die Analogsignalformerzeugung
verteilt und optimiert werden.
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Darüber hinaus ist der ARB-Generator
mit mehreren Ausgängen
ein ARB-Generator mit mehreren Ausgängen nach Anspruch 1 und umfasst
ein Parallelmessungsbetätigungsregister
zum Auswählen eines
Anschlusses aus allen Anschlüssen, über den das
analoge Testsignal ausgegeben wird.
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Wenn das Parallelmessungsbetätigungsregister
im ARB-Generator mit mehreren Ausgängen angeordnet ist, kann ein
Ausgangsanschluss ausgewählt
werden, um die Zahl der durch die Parallelmessung zu testenden LSIs
auszuwählen.
Das heißt,
ein spezifischer LSI kann von den Testobjekten ausgeschlossen werden.
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Desweiteren wird erfindungsgemäß ein Gemischt-LSI-Tester
bereitgestellt, der folgendes umfasst: einen ARB-Generator mit mehreren
Ausgängen
zum Erzeugen eines analogen Testsignals, basierend auf einer Testfolge,
die für
einen Typ eines zu testenden LSI spezifisch ist; und eine Leistungskarte, auf
der eine Vielzahl von zu testenden LSIs gelegt wurden, welche die
analogen Testsignale enthalten, die daran angelegt wurden, wobei
der ARB-Generator folgendes umfasst: einen Abschnitt für die Ausgangssignalformdatenerzeugung
zum Erzeugen eines Ausgangssignalformdatensignals für einen LSI-Test;
einen Ausgangsfolgesteuerungsabschnitt zum Steuern des Abschnitts
für die
Ausgangssignalformdatenerzeugung, basierend auf der Testfolge, die
für den
zu testenden LSI spezifisch ist; und einen Abschnitt für die Analogsignalformerzeugung
zum digital/analog-wandeln des Ausgangssignalformdatensignals, das
vom Abschnitt für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung ausgegeben wurde, um die analogen
Testsignale zu erzeugen, die an die Vielzahl zu testender LSIs angelegt
werden sollen, und wobei der Abschnitt für die Analogsignalformerzeugung
folgendes umfasst: einen Abschnitt für die Verstärkungseinstellung, der eine
Vielzahl von Anschlüssen
enthält, über welche
die analogen Testsignale, die an die Vielzahl von LSIs angelegt
werden sollen, individuell ausgegeben werden, um individuell Verstärkungen
der analogen Testsignale einzustellen, die über die Anschlüsse ausgegeben
werden; und einen Abschnitt für
die Offseteinstellung zum individuellen Einstellen der Offsetspannungen
der analogen Testsignale.
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Demgemäß kann das für jeden
zu testenden LSI optimierte analoge Testsignal beim gleichzeitigen Testen
der Vielzahl von zu testender LSIs mit einem einfachen Schaltkreisaufbau
erzeugt werden, da der Gemischt-LSI-Tester der vorliegenden Erfindung
den ARB-Generator mit mehreren Ausgängen umfasst, der entsprechend
zu dem von Anspruch 1 ist.
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1 ist
ein Blockdiagramm, das den Aufbau eines ARB-Generators mit mehreren
Ausgängen und
eines Gemischt-LSI-Testers gemäß einem
Ausführungsbeispiel
zeigt;
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2 ist
ein Blockdiagramm, das den Aufbau eines Abschnitts für die Analogsignalformerzeugung
des Ausführungsbeispiels
zeigt;
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3(A) ist
ein Blockdiagramm, das den Aufbau eines herkömmlichen ARB-Generators und Gemischt-LSI-Testers
zeigt, und 3(B) ist
ein Blockdiagramm, das den Aufbau eines Abschnitts für die Analogsignalformerzeugung
der diesbezüglichen Technik
zeigt; und
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4(A) ist
ein Blockdiagramm, das den Aufbau des herkömmlichen ARB-Generators und Gemischt-LSI-Testers
zeigt, bei dem Parallelmessung möglich
ist, und 4(B) ist ein
Blockdiagramm, das den Aufbau des herkömmlichen ARB-Generators und Gemischt-LSI-Testers
zeigt, bei dem Parallelmessung möglich
ist.
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Ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
wird unter Bezugnahme auf 1 beschrieben
werden.
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1 zeigt
einen Grundaufbau eines Gemischt-LSI-Testers gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel.
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Der Gemischt-LSI-Tester des Ausführungsbeispiels
enthält
einen ARB-Generator mit mehreren Ausgängen 10 und eine Leistungskarte 2,
wie es in 1 gezeigt
ist. Die Leistungskarte 2 fungiert als eine Schnittstellenkarte
mit zu testenden LSIs (DUT/Prüfling) 3. 1 zeigt, dass vier Prüflinge 3 auf
die Leistungskarte 2 gelegt wurden.
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Desweiteren ist der ARB-Generator
mit mehreren Ausgängen 10 aus
einem Ausgangsfolgesteuerungsabschnitt 11 aufgebaut, ferner
einem Abschnitt für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung 12, einem Abschnitt
für die
Analogsignalformerzeugung 4, der vier Anschlüsse 40 enthält, und
ferner ein Parallelmessungsbetätigungsregister 5,
um basierend auf einer Testfolge, die für einen Typ der zu testenden
LSI (Prüfling/DUT) 3 analoge
Testsignale zu erzeugen.
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Die Bauelemente werden im folgenden
beschrieben werden.
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Der Ausgangsfolgesteuerungsabschnitt 11 gibt
ein Testfolgesignal S 1 aus und steuert den Abschnitt für die Ausgangssignalformdatenerzeugung 12 basierend
auf der Testfolge für
den Prüfling 3.
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Der Abschnitt für die Ausgangssignalformdatenerzeugung 12 erzeugt
ein Ausgangssignalformdatensignal S2 für den LSI-Test in Übereinstimmung
mit dem Folgesignal S1.
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Desweiteren wird das Ausgangssignalformdatensignal
S2 an den Abschnitt für
die Analogsignalformerzeugung 4 ausgegeben.
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Desweiteren digital/analog-wandelt
der Abschnitt für
die Analogsignalformerzeugung 4 das Ausgangssignalformdatensignal
S2, das vom Abschnitt für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung 12 ausgegeben wurde,
und erzeugt analoge Testsignale S3, die an die vier Prüflinge angelegt
werden sollen.
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Nun wird der Aufbau des Abschnitts
für die Analogsignalformerzeugung 4 unter
Bezugnahme auf 2 beschrieben.
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Wie es in 2 gezeigt ist, enthält der Abschnitt für die Analogsignalformerzeugung 4 einen Digital/Analog-Wandler
(D/A) 41, ferner einen Tiefpassfilter (LPF) 42 und
ferner eine erste Stufe eines Dämpfungsglieds
(ATT1) 43a in einem System. Darüber hinaus enthält der Abschnitt
für die
Analogsignalformerzeugung 4 eine zweite Stufe von Dämpfungsgliedern
(ATT2) 43b, ferner Differentialabschnitte 44 und
ferner Digital/Analog-Wandler für
die Offseteinstellung (D/A) 45 für vier Systeme.
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Anschließend wird zuerst das Ausgangssignalformdatensignal
S2, das in den Abschnitt für
die Analogsignalformerzeugung 4 eingegeben wurde, durch
den Digital/Analog-Wandler 41 digital/analog-gewandelt,
um ein analoges Testsignal zu erzeugen. Anschließend, wenn dieses analoge Testsignal durch
den Tiefpassfilter 42 hindurch geschickt wird, werden Hochfrequenzrauschkomponenten
beseitigt. Darüber
hinaus stellt die erste Stufe des Dämpfungsglieds 43a die
Verstärkung
der Signalamplitude des analogen Testsignals einmal alle 3 dB ein,
so dass die Amplitude im Wesentlichen innerhalb eines erlaubten
Bereichs des Prüflings 3 fällt.
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Als nächstes wird das analoge Testsignal, das
von der ersten Stufe des Dämpfungsglieds 43a ausgegeben
wurde, in vier Systeme verteilt und in eine zweite Stufe von Dämpfungsgliedern 43b der vier
Systeme eingegeben. Für
die entsprechenden analogen Testsignale, die in die vier Systeme
hinein verteilt wurden, werden die Verstärkungen individuell durch die
zweite Stufe von Dämpfungsgliedern 43b endgültig eingestellt,
so dass die Signalamplitude innerhalb des erlaubten Bereichs eines
jeden Prüflings 3 fällt. Bei
der zweiten Stufe von Dämpfungsgliedern 43b werden
die Verstärkungen
individuell bei einer Einstellamplitude von 3 dB alle 0.1 dB eingestellt.
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Anschließend erzeugen die Differentialabschnitte 44 differentiale
analoge Testsignale, die positive und negative Signale aus dem verstärkungseingestellten
analogen Testsignal enthält.
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Desweiteren werden Offsetspannungen
zu den entsprechenden differentialen analogen Testsignalen der vier
Systeme in Übereinstimmung
mit einem erlaubten Bereich der Offsetspannung der entsprechenden
Prüflinge 3 hinzuaddiert,
um eine Offseteinstellung auszuführen.
Die Offsetspannung ist in der gleichen Phase wie die des differentialen
analogen Testsignals. Diese Offsetspannungen werden durch digital/analog-wandeln
von Gleichstromoffsetsignalen S4 durch die Digital/Analog-Wandler für die Offseteinstellung 45 in Übereinstimmung
mit dem erlaubten Bereich für
die Offsetspannung für
jeden Prüfling 3 erzeugt.
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Das offseteingestellte differentiale
analoge Testsignal, das für
jeden Prüfling 3 optimiert
wurde, der an jeden Anschluss angeschlossen ist, wird auf diese
An und Weise über
jeden der Anschlüsse 40 der
vier Systeme ausgegeben.
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Desweiteren steuert beim vorliegenden
Ausführungsbeispiel
das Parallelmessungsbetätigungsregister 5 das Öffnen/Schließen der
Ausgangsschalter 46 des Abschnitts für die Analogsignalformerzeugung 4 für jeden
Anschluss 40. Demgemäß kann der Anschluss, über den
das analoge Testsignal ausgegeben wird, beliebig aus den Anschlüssen 40 der
vier Systeme ausgewählt
werden. Im Ergebnis kann der zu testende Prüfling 3 durch die
Parallelmessung ausgewählt
werden. Demgemäß kann der
Test hinsichtlich des beliebigen Prüflings 3 durch die
Parallelmessung ohne Verkomplizieren des Testprogramms ausgeführt werden.
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Die vorliegende Erfindung ist hinsichtlich
eines Beispiels beschrieben worden, das beim oben beschriebenen
Ausführungsbeispiel
auf bestimmten Bedingungen aufbaute, aber die vorliegende Erfindung
kann verschiedenartig verändert
werden. Beispielsweise ist beim oben beschriebenen Ausführungsbeispiel
das Beispiel beschrieben worden, bei dem vier Prüflinge 3 auf die Leistungskarte
gelegt wurden, aber die Zahl der Prüflinge ist bei der vorliegenden
Erfindung nicht auf vier beschränkt.
Beispielsweise können
zwei Prüflinge
durch die Parallelmessung getestet werden oder es können acht
Prüflinge
durch die Parallelmessung getestet werden.
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Darüber hinaus wird beim oben beschriebenen
Ausführungsbeispiel
beispielsweise das gleiche Offsetsignal sowohl zu den positiven
als auch den negativen Signalen des differentialen analogen Testsignals
hinzu addiert, aber bei der vorliegenden Erfindung können die
Offsetsignale, die sich in der Intensität voneinander unterscheiden,
separat zu den positiven und negativen Signalen hinzu addiert werden.
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Wie es oben beschrieben wurde, werden
gemäß dem ARB-Generator
mit mehreren Ausgängen und
dem Gemischt-LSI-Tester der vorliegenden Erfindung im Abschnitt
für die
Analogsignalformerzeugung die analogen Testsignale über die
Vielzahl von Anschlüssen
verteilt und ausgegeben. Deshalb kann, sogar wenn die Vielzahl von
zu testenden LSIs durch die Parallelmessung getestet wird, der Ausgangsfolgesteuerungsabschnitt
und der Abschnitt für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung in einem System zusammengebaut
sein.
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Außerdem werden die verteilten
analogen Testsignale durch den Abschnitt für die Verstärkungseinstellung und den Abschnitt
für die
Offseteinstellung des Abschnitts für die Analogsignalformerzeugung
individuell für
jeden zu testenden LSI optimiert. Demgemäß kann das analoge Testsignal,
das für
jeden zu testenden LSI optimiert wurde, mit einem einfachen Schaltkreisaufbau
erzeugt werden, wenn die Vielzahl von zu testenden LSIs gleichzeitig
getestet werden.
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Desweiteren kann das Testsignal bei
der vorliegenden Erfindung für
jedes Bauteil optimiert werden, um den Parallelmesstest auszuführen, ohne den
Schaltkreisaufbau zu verkomplizieren oder das Testprogramm zu verkomplizieren,
da die analogen Testsignale im Abschnitt für die Analogsignalformerzeugung
verteilt und optimiert werden.
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Wie es oben beschrieben wurde, kann
ein ARB-Generator mit mehreren Ausgängen und ein Gemischt-LSI-Tester
der vorliegenden Erfindung wirkungsvoll beim gleichzeitigen Testen
einer Vielzahl von zu testenden LSIs verwendet werden.
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Zusammenfassung
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Es werden ein Ausgangsfolgesteuerungsabschnitt
und ein Abschnitt für
die Ausgangssignalformdatenerzeugung für ein System angeordnet und
ein Abschnitt für
die Analogsignalformerzeugung enthält vier Systeme von Anschlüssen 40,
Dämpfungsgliedern 43b zum
individuellen Einstellen von Verstärkungen von analogen Testsignalen,
die über
die entsprechenden Anschlüsse
ausgegeben werden, und Digital/Analog-Wandler 45 zum individuellen
Einstellen der Offsetspannungen der analogen Testsignale. Demgemäß werden
die analogen Testsignale, die für jeden
zu testenden LSI optimiert sind, mit einem einfachen Schaltkreisaufbau
ohne Verkomplizierung des Schaltkreisaufbaus einer Leistungskarte
erzeugt, wenn eine Vielzahl von zu testenden LSIs gleichzeitig getestet
werden.