DE10210006A1 - Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen geladener TeilchenInfo
- Publication number
- DE10210006A1 DE10210006A1 DE2002110006 DE10210006A DE10210006A1 DE 10210006 A1 DE10210006 A1 DE 10210006A1 DE 2002110006 DE2002110006 DE 2002110006 DE 10210006 A DE10210006 A DE 10210006A DE 10210006 A1 DE10210006 A1 DE 10210006A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electrode
- generating
- charged particles
- charged
- charged particle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 193
- 230000005684 electric field Effects 0.000 title claims abstract description 40
- 238000007599 discharging Methods 0.000 title abstract 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 52
- 239000007858 starting material Substances 0.000 claims description 49
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 32
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 28
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 35
- 230000006870 function Effects 0.000 description 18
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 13
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 8
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 8
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 8
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 4
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 3
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000002071 nanotube Substances 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000027 scanning ion microscopy Methods 0.000 description 2
- FBOUIAKEJMZPQG-AWNIVKPZSA-N (1E)-1-(2,4-dichlorophenyl)-4,4-dimethyl-2-(1,2,4-triazol-1-yl)pent-1-en-3-ol Chemical compound C1=NC=NN1/C(C(O)C(C)(C)C)=C/C1=CC=C(Cl)C=C1Cl FBOUIAKEJMZPQG-AWNIVKPZSA-N 0.000 description 1
- ZSLUVFAKFWKJRC-IGMARMGPSA-N 232Th Chemical compound [232Th] ZSLUVFAKFWKJRC-IGMARMGPSA-N 0.000 description 1
- 206010012289 Dementia Diseases 0.000 description 1
- 229910052776 Thorium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004125 X-ray microanalysis Methods 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 235000013312 flour Nutrition 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000976 ink Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000002048 multi walled nanotube Substances 0.000 description 1
- 239000002121 nanofiber Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N sulfuric acid Substances OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/06—Electron sources; Electron guns
- H01J37/073—Electron guns using field emission, photo emission, or secondary emission electron sources
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/06—Electron sources; Electron guns
- H01J37/065—Construction of guns or parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/08—Ion sources; Ion guns
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/305—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for casting, melting, evaporating, or etching
- H01J37/3053—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for casting, melting, evaporating, or etching for evaporating or etching
- H01J37/3056—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for casting, melting, evaporating, or etching for evaporating or etching for microworking, e. g. etching of gratings or trimming of electrical components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/006—Details of gas supplies, e.g. in an ion source, to a beam line, to a specimen or to a workpiece
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/06—Sources
- H01J2237/061—Construction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/06—Sources
- H01J2237/063—Electron sources
- H01J2237/06308—Thermionic sources
- H01J2237/06316—Schottky emission
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/06—Sources
- H01J2237/08—Ion sources
- H01J2237/0802—Field ionization sources
- H01J2237/0807—Gas field ion sources [GFIS]
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
Verfahren zum Erzeugen eines geladenen Teilchens, bei dem zwischen einem Ionenerzeugungsmodus und einem Elektronenerzeugungsmodus gewechselt werden kann. In dem Ionenerzeugungsmodus wird ein Ausgangsstoff an der Spitze einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen durch einen in der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen ausgebildeten Ausgangsstoffkanal zugeführt. Es wird ein erstes elektrisches Feld generiert, bei dem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ ist, um aus dem an der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen befindlichen Ausgangsstoff Ionen zu emittieren. In dem Elektronenerzeugungsmodus wird die Zufuhr von Ausgangsstoff aus dem Ausgangsstoffversorgungsabschnitt unterbrochen. Es wird ein zweites elektrisches Feld generiert, bei dem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen negativ und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen positiv ist, um aus dem an der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen befindlichen Ausgangsstoff Elektronen zu ermittieren.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein
Verfahren zum wahlweisen Erzeugen geladener Teilchen, in
der bzw. mit dem entweder Ionen, Elektronen oder beides er
zeugt werden.
In einer herkömmlichen Ionenquelle mit einer Nadelelektrode
wurde um die Nadelelektrode ein Vakuum erzeugt (beispiels
weise von etwa 10-8 Pa). Dem Spitzenende der Nadelelek
trode wurde bei Raumtemperatur ein gasförmiger Ausgangs
stoff zugeführt. Als Folge wurde das Vakuum um die Nadel
elektrode auf etwa 10-2 Pa reduziert. In Abhängigkeit
von dem zu erzeugenden Ionentyp wurde die Nadelelektrode
gekühlt. Der gasförmige Ausgangsstoff wurde verflüssigt und
durch ein starkes elektrisches Feld zwischen der Nadelelek
trode und einer Abzugselektrode ionisiert. Im Stand der
Technik war folglich eine Kühlvorrichtung zum Verflüssigen
des Ausgangsstoffes unentbehrlich. Darüber hinaus ver
schwendete der Stand der Technik den zugeführten Ausgangs
stoff, da er größtenteils in das Vakuum-/Abzugssystem
strömte.
In den letzten Jahren besteht im Bereich der Nanotechnolo
gie ein großer Bedarf an einer einzigen Vorrichtung zum
Emittieren sowohl von Elektronen- als auch Ionenstrahlen.
Beispielsweise wird das Anzeichnen oder Bearbeiten durch
wahlweises Verwenden der Eigenschaften eines Elektronen-
oder eines Ionenstrahlen durchgeführt. Alternativ kann ein
Verfahren zum Anzeichnen oder ein Verfahren zur Ioneninjek
tion, die den Ionenstrahl einsetzen, durch den Elektronen
strahl überwacht werden.
Im letztgenannten Fall kann von der Nadelelektrode ein
Elektron emittiert werden, nachdem die Zuführung des Aus
gangsstoffes von der Ionenquelle geendet hat. Da der Aus
gangsstoff an dem Spitzenende der Nadelelektrode anhaftet,
ist es allerdings erforderlich, dass eine Art Heizeinrich
tung verwendet wird, um die anhaftenden Substanzen zu ent
fernen und um ein Elektron von der gereinigten Stirnfläche
der Nadelelektrode zu emittieren.
Auf diese Weise, sobald die Nadelelektrode als Ionenquelle
eingesetzt wird, wird sie gekühlt. Wird die Nadelelektrode
als Elektronenquelle verwendet, wird sie erwärmt. Dement
sprechend muss die Temperatur der Nadelelektrode schnell
verändert werden, beispielsweise innerhalb eines Bereiches
von ca. mehreren K bis zu 200 K. Dies erfordert eine
Kühleinrichtung, beispielsweise einen mit flüssigem Helium
oder Stickstoff gefüllten Tank oder eine Kühlvorrichtung,
ebenso wie eine Heizeinrichtung.
Der atmosphärische Druck um die Nadelelektrode liegt bei
10-8 Pa, wenn sie als Elektronenquelle verwendet wird.
Wird die Nadelelektrode als Ionenquelle eingesetzt, kann
der Druck um die Nadelquelle in Abhängigkeit von dem
gasförmigen Ausgangsstoff beispielsweise bei 10-2 Pa
liegen. Um derartige unterschiedliche Drücke schnell
zu realisieren, ist eine Turbomolekularpumpe (oder eine
Öldiffusionspumpe) erforderlich, welche jeglicher höherer
Belastung widerstehen kann. Zusätzlich sind bei derartigen
Differenzialpumpsystemen Schwierigkeiten im Betrieb und
höhere Kosten unvermeidbar.
Die vorliegende Erfindung kann eine Vorrichtung zur Erzeu
gung geladener Teilchen sowie ein Verfahren bieten, die
bzw. das einen neuen und verbesserten Aufbau verwendet, der
für den Einsatz entweder in einer Ionen-, einer Elektronen
quelle oder in beiden Quellen geeignet ist.
Ferner kann die vorliegende Erfindung eine Vorrichtung zum
Erzeugen geladener Teilchen sowie ein Verfahren bieten, mit
der bzw. mit dem ein Ausgangsstoff ionisiert werden kann,
ohne dass dieser bis zu seinem Verflüssigungspunkt abge
kühlt werden muss.
Ferner kann die vorliegende Erfindung eine Vorrichtung zum
Erzeugen geladener Teilchen sowie ein Verfahren bieten,
mit der bzw. mit dem ein Ausgangsstoff mit hoher Effizienz
ionisiert werden kann.
Des Weiteren kann durch die vorliegende Erfindung eine Vor
richtung zum Erzeugen geladener Teilchen sowie ein Verfah
ren geschaffen werden, mit der bzw. mit dem durch Zuführen
eines Ausgangsstoffes ein heller Elektronenstrahl erzeugt
werden kann.
Des Weiteren kann die vorliegende Erfindung eine Vorrich
tung zum Erzeugen geladener Teilchen sowie ein Verfahren
bieten, die bzw. das unabhängig von dem Material, aus dem
eine das geladene Teilchen erzeugende Elektrode gebildet
ist, einen Elektonenstrahl mit erhöhter Stromdichte erzeu
gen kann.
Ferner kann die vorliegende Erfindung auch eine Vorrichtung
zum Erzeugen geladener Teilchen sowie ein Verfahren bieten,
die bzw. das nur eine einzige Einrichtung verwenden kann,
indem wahlweise zwischen einer Ionenquelle und einer Elek
tronenquelle geschaltet wird.
Zu diesem Zweck bietet die vorliegende Erfindung gemäß ei
nem Aspekt eine Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teil
chen, mit:
einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche einen durch diese ausgebildeten Ausgangsstoffkanal auf weist, wobei der Ausgangsstoffkanal vom Basisende zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen verläuft;
einem mit dem Basisende verbundenen Ausgangsstoff-Versor gungsabschnitt, welcher dem Ausgangsstoffkanal der Elektro de zum Erzeugen geladener Teilchen einen Ausgangsstoff zu führt; und
einer Abzugselektrode für geladene Teilchen, welche ein elektrisches Feld zwischen der Abzugselektrode für geladene Teilchen und dem freien Ende der Elektrode zum Erzeugen ge ladener Teilchen erzeugt.
einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche einen durch diese ausgebildeten Ausgangsstoffkanal auf weist, wobei der Ausgangsstoffkanal vom Basisende zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen verläuft;
einem mit dem Basisende verbundenen Ausgangsstoff-Versor gungsabschnitt, welcher dem Ausgangsstoffkanal der Elektro de zum Erzeugen geladener Teilchen einen Ausgangsstoff zu führt; und
einer Abzugselektrode für geladene Teilchen, welche ein elektrisches Feld zwischen der Abzugselektrode für geladene Teilchen und dem freien Ende der Elektrode zum Erzeugen ge ladener Teilchen erzeugt.
Gemäß diesem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird der
Ausgangsstoff ausgehend von dem Ausgangsstoff-Versorgungs
abschnitt durch den in der Elektrode zum Erzeugen geladener
Teilchen ausgebildeten Ausgangsstoffkanal in das freie En
de (oder das Spitzenende) der Elektrode zum Erzeugen gela
dener Teilchen geleitet. Da das elektrische Feld zwischen
dem freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teil
chen und der Abzugselektrode für geladene Teilchen erzeugt
wird, werden geladene Teilchen aus dem Ausgangsstoff am
freien Ende emittiert.
In Abhängigkeit von der Richtung des elektrischen Feldes
handelt es sich bei den geladenen Teilchen um Ionen oder
Elektronen.
Ein Ion kann aus dem Ausgangsstoff an dem freien Ende der
Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen durch Erzeugen
eines elektrischen Feldes emittiert werden, bei dem
die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv
und die Abzugselektrode für geladene Teilchen negativ ist.
Im Gegensatz hierzu kann aus dem Ausgangsstoff am freien
Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen ein
Elektron emittiert werden, indem ein elektrisches Feld
generiert wird, bei dem die Elektrode zum Erzeugen gelade
ner Teilchen negativ und die Abzugselektrode für geladene
Teilchen positiv ist.
Alternativ kann aus dem Ausgangsstoff am freien Ende der
Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen wahlweise ein Ion
oder Elektron emittiert werden, indem wahlweise ein erstes
elektrisches Feld, bei dem die Elektrode zum Erzeugen gela
dener Teilchen positiv und die Abzugselektrode für geladene
Teilchen negativ ist, und ein zweites elektronisches Feld
erzeugt wird, bei dem die Elektrode zum Erzeugen geladener
Teilchen negativ und die Abzugselektrode für geladene Teil
chen positiv ist.
Wenn ein Elektron aus dem Ausgangsstoff emittiert wird,
kann der Ausgangsstoff-Versorgungsabschnitt einen Ausgangs
stoff zuführen, der eine geringere Austrittsarbeit hat als
die Austrittsarbeit des Materials der Elektrode zum Erzeu
gen geladener Teilchen. In diesem Fall können die Bedingun
gen, wie die Temperatur und das elektrische Feld, die zur
Erzeugung eines Elektrons mit erhöhter Stromdichte erfor
derlich sind, reduziert werden.
Durch einen anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird
eine Vorrichtung zum Erzeugen eines geladenen Teilchens
geschaffen, mit:
einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche einen durch diese ausgebildeten Ausgangsstoffkanal auf weist, wobei der Ausgangsstoffkanal vom Basisende zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen verläuft;
einem mit dem Basisende verbundenen Ausgangsstoff-Ver sorgungsabschnitt, welcher dem Ausgangsstoffkanal der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen einen Ausgangs stoff zuführt;
einer Abzugselektrode für geladene Teilchen, welche ein elektrisches Feld zwischen der Abzugselektrode für gelade ne Teilchen und dem freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen erzeugt;
einem ein elektrisches Feld bildenden Spannungsversorgungs abschnitt, welcher in einem Ionenerzeugungsmodus ein erstes elektrisches Feld, in welchem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ ist, und in einem Elektronener zeugungsmodus ein zweites elektrisches Feld erzeugt, in welchem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen nega tiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen positiv ist; und
einem Ausgangsstoff-Versorgungsunterbrechungsabschnitt, welcher im Elektronenerzeugungsmodus die Zufuhr von Aus gangsstoff aus dem Ausgangsstoff-Versorgungsabschnitt unterbricht.
einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche einen durch diese ausgebildeten Ausgangsstoffkanal auf weist, wobei der Ausgangsstoffkanal vom Basisende zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen verläuft;
einem mit dem Basisende verbundenen Ausgangsstoff-Ver sorgungsabschnitt, welcher dem Ausgangsstoffkanal der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen einen Ausgangs stoff zuführt;
einer Abzugselektrode für geladene Teilchen, welche ein elektrisches Feld zwischen der Abzugselektrode für gelade ne Teilchen und dem freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen erzeugt;
einem ein elektrisches Feld bildenden Spannungsversorgungs abschnitt, welcher in einem Ionenerzeugungsmodus ein erstes elektrisches Feld, in welchem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ ist, und in einem Elektronener zeugungsmodus ein zweites elektrisches Feld erzeugt, in welchem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen nega tiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen positiv ist; und
einem Ausgangsstoff-Versorgungsunterbrechungsabschnitt, welcher im Elektronenerzeugungsmodus die Zufuhr von Aus gangsstoff aus dem Ausgangsstoff-Versorgungsabschnitt unterbricht.
Bei diesem Aspekt wird die Zuführung des Ausgangsstoffes im
Elektronen-Erzeugungsmodus unterbrochen. Hierdurch wird das
Elektron von der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen
selbst emittiert. Im Vergleich zu dem Fall, bei dem unter
schiedliche Ausgangsstoffe im Ionen- und Elektronen-Erzeu
gungsmodus verwendet werden, kann hierdurch die Steuerung
vereinfacht werden, indem lediglich die Zuführung des Aus
gangsstoffes gestoppt wird.
Die oben genannten Aspekte der vorliegenden Erfindung können
auch einen Temperatursteuerungsabschnitt umfassen, der die
Temperatur der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen
steuert. Das Vorsehen dieses Temperatursteuerungsabschnit
tes ermöglicht es, dass die Zuführung des Ausgangsstoffes
kontrolliert werden kann, dass die Elektrode zum Erzeugen
geladener Teilchen gereinigt werden kann und dass die Elek
trode zum Erzeugen geladener Teilchen Thermoelektronen bzw.
von einem thermischen Feld emittierte Elektronen emittieren
kann.
Die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche
bei den oben genannten Aspekten der vorliegenden Erfindung
verwendet wird, kann einen rohrförmigen Aufbau haben,
durch deren Mitte ein Hohlraum mit einem feinen Durch
messer ausgebildet ist. Ein derartiger rohrföhrmiger Elek
trodenaufbau kann aus Kohlenstoff gebildet sein. Insbeson
dere kann der rohrförmige Elektrodenaufbau durch eine ein
wandige Nanoröhre (bzw. Kohlenstoff-Nanoröhre), welche
einen zylindrischen Aufbau mit einer hexagonalen Kohlen
stoffschicht (Graphitschicht) aufweist, oder durch eine
Nanofaser gebildet sein, welche aus einer mehrwandigen Nano
röhre gebildet ist, die Nanoröhren verschiedener Durch
messer umfasst.
Der zylindrische Aufbau mit einer hexagonalen Kohlenstoff
schicht kann aus amorphem Kohlenstoff, polykristallinem
Kohlenstoff oder einer einatomigen Schicht aus Kohlenstoff
wie "Sumi" (chinesische Tinte) oder amorphem Kohlenstoff
gebildet sein.
Fig. 1 ist eine schematische Schnittansicht einer Vor
richtung zum Erzeugen geladener Teilchen gemäß
einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Er
findung;
Fig. 2 ist eine schematische Schnittansicht in vergrößer
tem Maßstab der in Fig. 1 gezeigten Elektrode zum
Erzeugen geladener Teilchen;
Fig. 3 zeigt den Betrieb der Vorrichtung nach Fig. 1,
wenn diese als Ionenquelle eingesetzt ist;
Fig. 4 ist eine Ansicht, die den Betrieb der Vorrichtung
nach Fig. 1 zeigt, wenn diese als Elektronenquelle
eingesetzt ist;
Fig. 5 ist eine sich von der Fig. 4 unterscheidende
Ansicht, die den Betrieb der Vorrichtung nach
Fig. 1 zeigt, wenn diese als Elektronenquelle ein
gesetzt ist;
Fig. 6 ist eine schematische Schnittansicht einer Vor
richtung zum Erzeugen geladener Teilchen gemäß
einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegen
den Erfindung;
Fig. 7 ist eine vergrößerte Ansicht, die den Teil A von
Fig. 6 zeigt.
Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele der vorliegenden
Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen beschrieben.
Aufbau der Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen.
Fig. 1 ist eine schematische Ansicht einer Vorrichtung zum
Erzeugen geladener Teilchen, nach einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
Unter Bezugnahme auf Fig. 1 weist die Vorrichtung zum Er
zeugen geladener Teilchen eine Elektrode 100 zum Erzeugen
geladener Teilchen, eine Abzugselektrode 110 für geladene
Teilchen sowie einen Stromversorgungsabschnitt 120 zum
Erzeugen eines elektrischen Feldes auf, der zum Erzeugen
eines starken elektrischen Feldes zwischen den Elektroden
100 und 110 dient.
Die Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen ist an
einem Ausgangsstoff-Speicher 130 gehalten, cler beispiels
weise aus einem isolierenden Material gefertigt sein kann.
Der Ausgangsstoff-Speicher 130 umfasst einen Ausgangsstoff-
Versorgungsanschluss 132, der durch ein Ventil 134 geöffnet
und geschlossen werden kann.
Die Elektrode 110 zum Erzeugen geladener Teilchen ist an
dem Ausgangsstoff-Speicher 130 durch einen isolierenden
Elektrodenhalter 140 gehalten.
Obwohl der in Fig. 2 dargestellte Ausgangsstoff-Speicher
130 aus einem isolierenden Material gefertigt ist, kann er
auch aus einem elektrisch leitfähigen Material gefertigt
sein. In einem derartigen Fall kann der mit dem Ausgangs
stoff-Speicher verbundene Versorgungsanschluss 132 als
Hochspannungsanschluss eingesetzt werden. Somit kann die
Hochspannungsversorgung für die Elektrode zum Erzeugen
geladener Teilchen durch den Ausgangsstoff-Speicher 130
vorgenommen werden.
Fig. 2 ist eine schematische Schnittansicht der Elektrode
100 zum Erzeugen geladener Teilchen in vergrößerter Dar
stellung. In dieser Figur kann die Elektrode 100 zum Erzeu
gen geladener Teilchen aus einem mehrwandigen Kohlen
stoffröhrchen 102 mit konzentrischem, zylindrischen Aufbau
gebildet sein. Fig. 2 zeigt schematisch fünf rohrförmige
Kohlenstofflagen 102a bis 102e. Das Kohlenstoffröhrchen
102 hat ein freies, nadelförmiges Ende, das beispiels
sweise durch Ätzen mit einer KOH-Lösung gefertigt
sein kann. An der Außenseite des Kohlenstoffröhrchens 102
ist eine Plattierungsschicht 104 aus Ta oder Ni ausgebil
det. Die Plattierungsschicht 104 ist am freien Ende des
Kohlenstoffröhrchens 102 beispielsweise durch Naßsätzen des
freien Endes mit konzentrierter Schwefelsäure oder konzen
trierter Salzsäure entfernt worden.
Um das Basisende des Kohlenstoffröhrchens 102 ist bei
spielsweise durch Schweißen eine Elektrodenhalterung 106
befestigt, welche aus Wolfram (W) oder Ähnlichem gefertigt
ist. Die Plattierungsschicht 104 dient zum stabilen Befe
stigen der Elektrodenhalterung 106 an dem Kohlenstoff
röhrchen 102.
Die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen kann aus ei
nem Kohlenstoff-Nanoröhrchen gefertigt sein, das einwandig,
aus mehreren einzelnen Wänden oder mehrwandig ausgebildet
ist. In diesem Fall kann das freie Ende des Kohlensoff-Na
noröhrchens ohne jegliche Bearbeitung hinreichend als Na
delelektrode arbeiten, da der Durchmesser des freien Endes
eines Kohlenstoff-Nanoröhrchens fein ist.
Die Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen ist so
aus einem einwandigen oder mehrwandigen Kohlenstoffröhr
chen 102 geformt. Das Kohlenstoffröhrchen 102 hat einen
zylindrischen Aufbau mit einer hexagonalen Kohlenstoff
schicht. Somit fungieren in der Elektrode 100 zum Erzeugen
geladener Teilchen die Gitter des Kohlenstoffröhrchens 102,
der Hohlraum des Zylinders und die Fugen zwischen den
rohrförmigen Schichten als Kanal 108 für den Ausgangsstoff.
Anders gesagt kann der Ausgangsstoff-Speicher 130 durch
Fluidförderung mit dem freien Ende der Elektrode 100 zum
Erzeugen geladener Teilchen durch den in der Elektrode
100 zum Erzeugen geladener Teilchen ausgebildeten Kanal
108 für den Ausgangsstoff verbunden sein.
Um die Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen ist
ein Temperatursteuerungsabschnitt, beispielsweise eine
Heizeinrichtung 150, angeordnet. Allerdings kann das Er
wärmen auch erfolgen, indem elektrischer Strom direkt
durch die Elektrode oder indirekt zu der Elektrode 100 zum
Erzeugen geladener Teilchen geleitet wird.
Fig. 3 zeigt den Betrieb der Vorrichtung nach Fig. 1 bei
Verwendung als Ionenquelle. Um positiv geladene Ionen in
der in Fig. 1 dargestellten Vorrichtung zu emittieren, er
zeugt der ein elektrisches Feld bildende Stromversorgungs
abschnitt 120 ein starkes elektrisches Feld, bei dem die
Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und
die Abzugselektrode 110 für geladene Teilchen negativ ist,
sowie es in Fig. 3 gezeigt ist.
Anschließend wird das Ventil 134 geöffnet, um den Ausgangs
stoff als Ionensorte durch den Versorgungsanschluss 132 in
den Ausgangsstoff-Speicher 130 zuzuführen.
Das Umgebungsgas um die Elektrode 100 zum Erzeugen gelade
ner Teilchen wird durch Evakuieren der Vorrichtung zum Er
zeugen geladener Teilchen mit Hilfe einer Vakuumpumpe
(nicht dargestellt) auf beispielsweise etwa 10-8 Pa
eingestellt.
Diese Vakuumatmosphäre steht mit dem Ausgangsstoff-Speicher
130 durch den Kanal 108 für den Ausgangsstoff in der Elek
trode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen in Verbindung.
Somit wird der Ausgangsstoff im Ausgangsstoff-Speicher 130
vom Basisende zum freien Ende der Elektrode 100 zum Erzeu
gen geladener Teilchen über den Kanal 108 für den Ausgangs
stoff der Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen
aufgrund der Druckdifferenz verteilt bzw. bewegt.
Der in das freie Ende der Elektrode 100 zum Erzeugen eines
geladener Teilchen gewanderte Ausgangsstoff wird durch das
zuvor angesprochene starke elektrische Feld ionisiert. Die
positiven Ionen werden durch die Abzugselektrode 110 für
geladene Teilchen abgezogen, um einen von der Vorrichtung
zum Erzeugen geladener Teilchen zu emittierenden Ionen
strahl zu bilden.
Heim Stand der Technik war ein Tank mit flüssigem Helium
oder Stickstoff oder eine Gefriereinrichtung zum Verflüssi
gen des gasförmigen Ausgangsstoffes um die Elektrode zum
Erzeugen geladener Teilchen erforderlich. Dieses Ausfüh
rungsbeispiel benötigt dagegen keine dieser Komponenten.
Da die Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen aus
einem Kohlenstoffröhrchen 102 gebildet ist, welches einen
Kanal 108 mit kleinem Durchmesser für den Ausgangsstoff
bietet, kann fast der gesamte Ausgangsstoff ohne Verluste
ionisiert werden.
Der zuzuführende Ausgangsstoff kann in Abhängigkeit von dem
Typ der zu emittierenden Ionenart ausgewählt werden. Wenn
die Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen als eine
Ionenquelle für eine Ionenstrahl-Vorrichtung eingesetzt
wird, kann der Ausgangsstoff in Abhängigkeit von dem Typ
der einzustrahlenden Ionenart gewählt werden. Wenn das
Werkstück durch Verwendung eines Ionenstrahls bearbeitet
wird, und der Typ der Ionenart nicht näher spezifiziert ist,
ist es wünschenswert, dass der zuzuführende Ausgangsstoff
ein Ausgangsstoff mit einem reduzierten Absolutwert für
die Austrittsarbeit ist, wie der von Cäsium (Cs) oder
Barium (Ba), da es den gewünschten Elektronenstrom bei mo
difizierten Temperaturbedingungen gewährleisten kann.
Die Geschwindigkeit des durch den Kanal 108 strömenden Aus
gangsstoffes kann eingestellt werden, indem zusätzlich zu
dem Maß des Vakuums in der Kammer, dem Versorgungsdruck des
Ausgangsstoffes oder Ähnlichem die Temperatur in der Heiz
einrichtung 150 geeignet eingestellt wird.
Eine derartige Feldionisations-Ionenquelle kann für jegli
che Art von Ionen-Mikro-Analysevorrichtung, Ionenstrahl-
Zeichnungseinrichtung, Belichtungseinrichtung für Halblei
terlithographie, Rasterionenmikroskopie (SIM = Scanning
Ion Microscopy), Mehl-Vorrichtung, Ionenstrahlvorrichtung,
usw. verwendet werden.
Die Erläuterungen 1 betreffen den Betrieb der Vorrich
tung zum Erzeugen geladener Teilchen als eine Elektronen
quelle.
Fig. 4 zeigt den Betrieb der Vorrichtung nach Fig. 1 als
eine Elektronenquelle. Damit in der Vorrichtung nach Fig. 1
Elektronen emittiert werden, erzeugt der das elektrische
Feld ausbildende Spannungsversorgungsabschnitt 120 ein
starkes elektrisches Feld, in welchem die Elektrode 100 zum
Erzeugen geladener Teilchen negativ und die Abzugselektrode
110 für geladene Teilchen positiv geladen ist, wie in Fig.
4 gezeigt ist.
Anschließend wird das Ventil 134 geöffnet, um durch den
Versorgungsanschluss 132 den Ausgangsstoff dem Ausgangs
stoff-Speicher 130 zuzuführen. Wie in dem Fall der Ionen
quelle wird somit der Ausgangsstoff in dem Ausgangsstoff-
Speicher 130 vom Basisende zum freien Ende der Elektrode
100 zum Erzeugen geladener Teilchen durch den Ausgangs
stoffkanal 108 in der Elektrode 100 zum Erzeugen geladener
Teilchen gefördert.
Der zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener
Teilchen geförderte Ausgangsstoff verringert die Austritts
arbeit, welche die Elektronenemission unter dem zuvorge
nannten elektrischen Feld bei der von der Heizeinrichtung
105 eingestellten Temperatur im Falle der Elektronenerzeu
gung erhöht, um Elektronen zu generieren. Die erzeugten
Elektronen werden dann durch die Abzugselektrode 110 für
geladene Teilchen beschleunigt, um einen von der Vorrich
tung zum Erzeugen geladener Teilchen zu emittierenden
Elektronenstrahls zu erzeugen. Darüber hinaus kann die
Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen die Elektronen
aufgrund der verringerten Austrittsarbeit des Ausgangs
stoffes sogar bei einem verringerten elektrischen Feld
emittieren.
Im Stand der Technik wurde die Stromdichte des Elektronen
strahls in Abhängigkeit von dem Material der Elektrode zum
Erzeugen geladener Teilchen bestimmt, da die Elektronen un
mittelbar von der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen
emittiert werden.
Bei diesem Ausführungsbeispiel können die Elektronen bei
der verringerten Austrittsarbeit des Ausgangsstoffes an der
Spitze der Elektrode einfacher emittiert werden. Somit kann
das Material der Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teil
chen Kohlenstoff sein, welcher eine hohe Zerstörungsbe
ständigkeit gegenüber verschiedenen gasförmigen Ausgangs
stoffen besitzt. Der Kohlenstoff hat eine hohe Austritts
arbeit von 4,5 (V). Die Elektrode nach dem Stand der Tech
nik zum Erzeugen geladener Teilchen ist im Allgemeinen
aus Wolfram (W) gefertigt. Wolfram hat eine Austrittsar
beit, die annähernd der von Kohlenstoff gleich ist, näm
lich 4,54 (V). Wolfram (W) liefert eine Stromdichte bei
einer thermischen Elektronenemission von 2600 A/m2 bei
einer Kathodentemperatur von 2500 K.
Andererseits kann Barium/Strontium (Ba/SrO), dessen Aus
trittsarbeit bei 0,95 (V) liegt, eine Stromdichte bei der
thermischen Elektronenemission liefern, die der von
Wolfram (W) gleicht, allerdings bei einer Kathodentempera
tur um 900 K, welche ungefähr 1600 K geringer ist, als die
von Wolfram (W).
Die gewünschte Eigenschaft der Elektronenquelle besteht in
der Emission von Elektronen einer vorgegebenen Energie als
Elektronenstrahl, welcher eine erhöhte Stromdichte und eine
verbesserte Kohärenz aufweist. Durch dieses Ausführungs
beispiel kann ein Emitter mit hoher Intensität realisiert
werden, indem die Stromdichte des Elektronenstrahls erhöht
wird.
Der in der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen dieses
Ausführungsbeispiels als Material verwendete Kohlenstoff
(C) hat einen höheren Schmelzpunkt und ist hinsichtlich
der Zerstörungsbeständigkeit gegenüber verschiedenen Gasen
überlegen. Allerdings hat Kohlenstoff eine Austrittsarbeit
von 4,5 (V), welche nahe an der von Wolfram (W) liegt. Da
mit Kohlenstoff in dem Hoch-Intensitäts-Emitter zu verwen
den ist, war eine erhöhte Feldintensität, eine feinere
Elektrodenspitze oder eine höhere Temperatur erforderlich.
Durch dieses Ausführungsbeispiel kann ein Hoch-Intensitäts-
Emitter realisiert werden, indem die Elektrodenoberfläche
mit einem Ausgangsmaterial beschichtet ist, welches eine
Austrittsarbeit aufweist, die geringer ist, als die des
die Elektroden formenden Kohlenstoffs, wie Barium (Ba)
mit einer Austrittsarbeit von 2,11 (V) oder Cäsium (Cs)
mit einer Austrittsarbeit von 1,81 (V).
Im Stand der Technik wurde manchmal eine Elektrode aus
Wolfram (W) verwendet, deren Oberfläche mit einem Material
beschichtet war, das eine geringere Austrittsarbeit besaß.
So kann beispielsweise die aus W/Ba gebildete Elektrode,
welche durch Beschichten von Wolfram (W) mit Barium (Ha)
ausgebildet worden ist, eine Austrittsarbeit mit 1,56 (V)
besitzen. In gleicher Weise kann die Austrittsarbeit von
W/Cs (Cesium) bei 1,36 (V), die Austrittsarbeit von W/Th
(Thorium) bei 2,63 (V), die Austrittsarbeit von W/Y (Ytt
rium) bei 2,70 (V) und die Austrittsarbeit von W/Zr (Zir
kon) bei 3,14 (V) liegen. Allerdings mussten diese Elek
troden durch neue dann ersetzt werden, wenn das Beschich
tungsmaterial mit geringerer Austrittsarbeit verbraucht
worden war.
Die Geschwindigkeit des durch den Ausgangsstoffkanal 108
passierenden Ausgangsstoffes kann justiert werden, indem
zusätzlich zu dem Versorgungsdruck des Ausgangsstoffes, dem
Druck in der Kammer und Ähnlichem, wie bei der Ionenquelle,
die Temperatur in der Heizeinrichtung 150 eingestellt wird.
Eine derartige Elektronenquelle kann für ein Rasterelektro
nenmikroskop (REM), eine Elektronenstrahl-Zeicheneinrich
tung, eine Belichtungseinrichtung, einen Röntgenmikroana
lyseapparat und Ähnliches verwendet werden.
Die in den Fig. 3 und 4 gezeigten Betriebsarten können ab
wechselnd durchgeführt werden. In einem derartigen Fall
kann die Richtung des elektrischen Feldes zumindest umge
kehrt werden. Der zugeführte Ausgangsstoff kann, sofern
notwendig, gewechselt, oder muß nicht notwendigerweise
gewechselt werden.
Der Stand der Technik erfordert die Verwendung einer Turbo
molekularpumpe oder ähnlichem, um den Druck zwischen einem
Innenkammerdruck von 10-2 Pa, wenn die Vorrichtung zum
Erzeugen geladener Teilchen als Ionenquelle verwendet wird,
und einem Druck von 10-8 Pa, wenn die Vorrichtung als
Elektronenquelle verwendet wird, zu ändern. Bei diesem
Ausführungsbeispiel bleibt der Innenkammerdruck im Wesent
lichen unverändert, auch wenn die Vorrichtung zum Erzeugen
geladener Teilchen als Ionenquelle oder als Elektronenquel
le eingesetzt wird. Anders gesagt, wird die Abmessung des
Ausgangsstoffkanals 108 in der Elektrode 100 zum Erzeugen
geladener Teilchen so gewählt, dass der Druck am freien En
de der Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen im We
sentlichen nicht variiert. Aus diesem Grund erfordert die
ses Ausführungsbeispiel keinerlei großdimensionierte Pumpe,
wie im Stand der Technik üblich.
Erläuterung 2 betreffend den Betrieb der Vorrichtung zum
Erzeugen geladener Teilchen als eine Elektronenquelle.
In dem Fall, in dem eine einzige Vorrichtung zum Erzeugen
geladener Teilchen als Ionen- und Elektronenquelle verwen
det wird, ist der Betrieb der Elektronenquelle nicht auf
den unter Bezugnahme auf Fig. 4 beschriebenen Betrieb be
schränkt.
Fig. 5 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der vorliegen
den Erfindung, in welchem die Vorrichtung zum Erzeugen ge
ladener Teilchen als eine Elektronenquelle betrieben wird.
Die Bildung des elektrischen Feldes in Fig. 5 entspricht,
mit der Ausnahme, dass die Zuführung des Ausgangsstoffes
unterbrochen ist, der in Fig. 4 gezeigten. In diesem
Fall werden die Elektronen von der Elektrode 100 zum Er
zeugen geladener Teilchen selbst emittiert, welche als Koh
lenstoffröhrchen 102 ausgebildet ist.
In diesem Fall wurde die Elektrode 100 zum Erzeugen gela
dener Teilchen zuvor durch die Heizeinrichtung 150 erwärmt,
um den Ausgangsstoff, welcher an ihrem freien Ende anhaf
tet, zu entfernen. Auf diese Weise wird die Oberfläche der
Eletrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen für eine sau
bere Elektronenemission gereinigt.
Da der Druck um die Elektrode 100 zum Erzeugen geladener
Teilchen sich zumindest annähernd nicht verändert, erfor
dert auch dieses Ausführungsbeispiel keine großdimensio
nierte Pumpe.
Wird die Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen als
Elektronenquelle verwendet, kann die Elektrode 100 zum Er
zeugen geladener Teilchen weiterhin durch die Heizeinrich
tung 150 erwärmt werden. Somit kann die Elektrode 100 zum
Erzeugen geladener Teilchen als eine Thermofeld-Emissions-
Elektronenquelle verwendet werden.
Im Vergleich zu dem Fall in Fig. 4, bei welchem verschiede
ne Ausgangsstoffe für die Ionenquelle und für die Elektro
nenquelle verwendet werden, kann in dem in Fig. 5 gezeigten
Fall dieser Zweck noch einfacher durch Öffnen/Schließen des
Ventils 134 erreicht werden. In dem Fall nach Fig. 4, bei
dem verschiedene Ausgangsstoffe in den Ionen- und Elektro
nen-Erzeugemodi verwendet werden, ist es beispielsweise
erforderlich, den Ausgangsstoff-Speicher 130 zu entleeren,
um ein Vermischen der Ausgangsstoffe zu verhindern.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf die zuvor beschrie
benen Ausführungsbeispiele beschränkt, sondern kann in jeg
licher anderen Form ausgeführt werden, ohne dabei vom
Grundgedanken und Zweck der Erfindung abzuweichen.
Beispielsweise ist der Aufbau der Elektrode 100 zum Erzeu
gen geladener Teilchen nicht auf den nach Fig. 2 be
schränkt, sondern kann jegliche andere Form annehmen, so
fern sie einen Ausgangsstoffkanal 108 aufweist.
Die gesamte Anordnung der Vorrichtung zum Erzeugen gelade
ner Teilchen, so wie sie in Fig. 1 dargestellt ist, kann
durch die nach Fig. 6 ersetzt werden. Bezugnehmend auf Fig.
6 hält ein Isolator 210 einen hohlen Ausgangsstoff-Spei
cher 200, welcher in gleicher Weise wie ein Haarspitzen
filament-Abschnitt, der in der bestehenden Vorrichtung zum
Erzeugen geladener Teilchen als Quelle verwendet worden
ist, ausgebildet ist. Der hohe Ausgangsstoff-Speicher 200
hat ein Ende 202, zu dem von einem Ausgangsstoff-Versor
gungsanschluss 220 der Ausgangsstoff zugeführt wird, und ein
anderes abgedichtetes Ende 204. Der Ausgangsstoff wird in
einen Kanal 206 geleitet.
Wie in Fig. 7 gezeigt, die eine vergrößerte Ansicht eines
Abschnitts A in Fig. 6 darstellt, hält der Kanal 206 die
Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teilchen, welche durch
ein Kohlenstoffröhrchen oder Ähnliches gebildet ist, bei
spielsweise mit Hilfe einer plattierten Schicht oder eines
leitfähigen Klebstoffs 230. Sogar der Aufbau nach Fig. 6
kann aus dem in das freie Ende der Elektrode 100 zum Erzeu
gen geladener Teilchen durch den Kanal 206 eingeleitete
Ausgangsmaterial Ionen emittieren. Die Vorrichtung nach
Fig. 6 kann, wie die Vorrichtung nach Fig. 1, als eine Elek
tronenquelle eingesetzt werden. Der Ausgangsstoff-Speicher
200, welcher die Elektrode 100 zum Erzeugen geladener Teil
chen trägt, kann aus einem Metall (Wolfram oder Ähnlichem)
oder Kohlenstoff ausgebildet und für einen direkten Elek
tronenstrom zum Erwärmen der Elektrode 100 zum Erzeugen ge
ladener Teilchen verwendet werden.
Claims (17)
1. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen, mit:
einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche einen durch diese ausgebildeten Ausgangs stoffkanal aufweist, wobei der Ausgangsstoffkanal vom Basisende zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen verläuft;
einem mit dem Basisende verbundenen Ausgangsstoff- Versorgungsabschnitt, welcher dem Ausgangsstoff kanal der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen einen Ausgangsstoff zuführt; und
einer Abzugselektrode für geladene Teilchen, welche ein elektrisches Feld zwischen der Abzugselektrode für geladene Teilchen und dem freien Ende der Elek trode zum Erzeugen geladener Teilchen erzeugt.
einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche einen durch diese ausgebildeten Ausgangs stoffkanal aufweist, wobei der Ausgangsstoffkanal vom Basisende zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen verläuft;
einem mit dem Basisende verbundenen Ausgangsstoff- Versorgungsabschnitt, welcher dem Ausgangsstoff kanal der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen einen Ausgangsstoff zuführt; und
einer Abzugselektrode für geladene Teilchen, welche ein elektrisches Feld zwischen der Abzugselektrode für geladene Teilchen und dem freien Ende der Elek trode zum Erzeugen geladener Teilchen erzeugt.
2. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 1,
wobei ein Ion von dem am freien Ende der Elektrode zum
Erzeugen geladener Teilchen befindlichen Ausgangsstoff
durch Erzeugen des elektrischen Feldes, in welchem die
Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und
die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ
ist, emittiert wird.
3. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 1,
wobei ein Elektron von dem am freien Ende der Elektro
de zum Erzeugen geladener Teilchen befindlichen Aus
gangsstoff durch Erzeugen eines elektrischen Feldes,
in welchem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teil
chen negativ und die Abzugselektrode für die geladenen
Teilchen positiv ist, emittiert wird.
4. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 1,
wobei wahlweise entweder ein Ion oder ein Elektron von
dem Ausgangsstoff am freien Ende der Elektrode zum Er
zeugen geladener Teilchen emittiert wird, in dem wahl
weise ein erstes elektrisches Feld, in welchem die
Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und
die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ
ist, und ein zweites elektrisches Feld zu erzeugen
ist, in welchem die Elektrode zum Erzeugen geladener
Teilchen negativ und die Abzugselektrode für die ge
ladenen Teilchen positiv ist.
5. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 3 oder 4,
wobei, wenn Elektronen von dem Ausgangsstoff emittiert
werden, der Ausgangsstoff-Versorgungsabschnitt einen
Ausgangsstoff zuführt, dessen Austrittsarbeit geringer
ist als die Austrittsarbeit des Materials der Elek
trode zum Erzeugen geladener Teilchen.
6. Vorrichtung zum Erzaugen geladener Teilchen, mit:
einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche einen durch diese ausgebildeten Ausgangs stoffkanal aufweist, wobei der Ausgangsstoffkanal vom Basisende zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen verläuft;
einem mit dem Basisende verbundenen Ausgangsstoff-Ver sorgungsabschnitt, welcher dem Ausgangsstoffkanal der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen einen Aus gangsstoff zuführt;
einer Abzugselektrode für geladene Teilchen, welche ein elektrisches Feld zwischen der Abzugselektrode für geladene Teilchen und dem freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen erzeugt;
einem ein elektrisches Feld bildenden Spannungsversor gungsabschnitt, welcher in einem Ionenerzeugungsmodus ein erstes elektrisches Feld, in welchem die Elek trode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ ist, und in einem Elektronenerzeugungsmodus ein zwei tes elektrisches Feld erzeugt, in welchem die Elek trode zum Erzeugen geladener Teilchen negativ und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen positiv ist; und
einem Ausgangsstoff-Versorgungsunterbrechungsab schnitt, welcher im Elektronenerzeugungsmodus die Zufuhr von Ausgangsstoff aus dem Ausgangsstoff-Ver sorgungsabschnitt unterbricht.
einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen, welche einen durch diese ausgebildeten Ausgangs stoffkanal aufweist, wobei der Ausgangsstoffkanal vom Basisende zum freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen verläuft;
einem mit dem Basisende verbundenen Ausgangsstoff-Ver sorgungsabschnitt, welcher dem Ausgangsstoffkanal der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen einen Aus gangsstoff zuführt;
einer Abzugselektrode für geladene Teilchen, welche ein elektrisches Feld zwischen der Abzugselektrode für geladene Teilchen und dem freien Ende der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen erzeugt;
einem ein elektrisches Feld bildenden Spannungsversor gungsabschnitt, welcher in einem Ionenerzeugungsmodus ein erstes elektrisches Feld, in welchem die Elek trode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ ist, und in einem Elektronenerzeugungsmodus ein zwei tes elektrisches Feld erzeugt, in welchem die Elek trode zum Erzeugen geladener Teilchen negativ und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen positiv ist; und
einem Ausgangsstoff-Versorgungsunterbrechungsab schnitt, welcher im Elektronenerzeugungsmodus die Zufuhr von Ausgangsstoff aus dem Ausgangsstoff-Ver sorgungsabschnitt unterbricht.
7. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen nach einem
der Ansprüche 1 bis 6,
die ferner einen Temperaturüberwachungsabschnitt um
fasst, welcher die Temperatur der Elektrode zum Erzeu
gen geladener Teilchen steuert.
8. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen nach einem
der Ansprüche 1 bis 7,
wobei die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen
einen rohrförmigen Aufbau aufweist.
9. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen nach
Anspruch 8,
wobei die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen
einen mehrwandigen rohrförmigen Aufbau hat.
10. Vorrichtung zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 8 oder 9,
wobei die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen
durch ein Kohlenstoffröhrchen gebildet ist.
11. Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen, mit den
Schritten:
Zuführen eines Ausgangsstoffes an die Spitze einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen durch einen in der Elektrode zum Erzeugen geladener Teil chen ausgebildeten Ausgangsstoffkanal; und
Erzeugen eines elektrischen Feldes zwischen der Elek trode zum Erzeugen geladener Teilchen und einer Ab zugselektrode für die geladenen Teilchen und Erzeu gen von geladenen Teilchen aus dem Ausgangsstoff an der Spitze der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen.
Zuführen eines Ausgangsstoffes an die Spitze einer Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen durch einen in der Elektrode zum Erzeugen geladener Teil chen ausgebildeten Ausgangsstoffkanal; und
Erzeugen eines elektrischen Feldes zwischen der Elek trode zum Erzeugen geladener Teilchen und einer Ab zugselektrode für die geladenen Teilchen und Erzeu gen von geladenen Teilchen aus dem Ausgangsstoff an der Spitze der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen.
12. Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 11,
wobei ein Ion aus dem Ausgangsstoff an der Spitze
der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen emit
tiert wird, indem ein elektrisches Feld erzeugt wird,
in welchem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teil
chen positiv und die Abzugselektrode für die gelade
nen Teilchen negativ ist.
13. Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 11,
wobei ein Elektron aus dem Ausgangsstoff an der
Spitze der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen
emittiert wird, indem ein elektrisches Feld erzeugt
wird, in welchem die Elektrode zum Erzeugen gelade
ner Teilchen negativ und die Abzugselektrode für die
geladenen Teilchen positiv ist.
14. Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 11,
wobei wahlweise ein Ion oder Elektron aus dem Aus
gangsstoff an der Spitze der Elektrode zum Erzeugen
geladener Teilchen emittiert wird, indem wahlweise
ein erstes elektrisches Feld, bei welchem die Elek
trode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und die
Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ
ist, und ein zweites elektrisches Feld erzeugt wird,
bei welchem die Elektrode zum Erzeugen geladener
Teilchen negativ und die Abzugselektrode für die ge
ladenen Teilchen positiv ist.
15. Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 13 oder 14,
wobei, wenn ein Elektron aus dem Ausgangsstoff emit
tiert wird, der Ausgangsstoff-Versorgungsabschnitt
einen Ausgangsstoff zuführt, dessen Austrittsarbeit
geringer ist als die Austrittsarbeit des Materials
der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen.
16. Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen, bei dem
der Betriebsmodus zwischen einem Ionenerzeugungs
modus und einem Elektronenerzeugungsmodus wechsel
bar ist, wobei das Verfahren die Schritte umfasst:
in dem Ionenerzeugungsmodus an die Spitze einer Elektrode zum Erzeugen gela dener Teilchen einen Ausgangsstoff durch einen in der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen aus gebildeten Ausgangsstoffkanal zuzuführen; und
ein erstes elektrisches Feld zu erzeugen, bei wel chem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ ist, um ein Ion aus dem an der Spitze der Elektrode zum Erzeugen geladener Teil chen befindlichen Ausgangsstoff zu emittieren, in dem Elektronenerzeugungsmodus die Ausgangsstoffzuführung von dem Ausgangsstoffver sorgungsabschnitt zu unterbrechen; und
ein zweites elektrisches Feld zu erzeugen, bei wel chem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen negativ und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen positiv ist, um ein Elektron aus dem an der Spitze der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen befindlichen Ausgangsstoff zu emittieren.
in dem Ionenerzeugungsmodus an die Spitze einer Elektrode zum Erzeugen gela dener Teilchen einen Ausgangsstoff durch einen in der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen aus gebildeten Ausgangsstoffkanal zuzuführen; und
ein erstes elektrisches Feld zu erzeugen, bei wel chem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen positiv und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen negativ ist, um ein Ion aus dem an der Spitze der Elektrode zum Erzeugen geladener Teil chen befindlichen Ausgangsstoff zu emittieren, in dem Elektronenerzeugungsmodus die Ausgangsstoffzuführung von dem Ausgangsstoffver sorgungsabschnitt zu unterbrechen; und
ein zweites elektrisches Feld zu erzeugen, bei wel chem die Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen negativ und die Abzugselektrode für die geladenen Teilchen positiv ist, um ein Elektron aus dem an der Spitze der Elektrode zum Erzeugen geladener Teilchen befindlichen Ausgangsstoff zu emittieren.
17. Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen nach An
spruch 16,
das zumindest während des Ionenerzeugungsmodus oder
des Elektronenerzeugungsmodus ferner einen Schritt
zum Überwachen der Temperatur der Elektrode zum Er
zeugen geladener Teilchen umfasst.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001066184 | 2001-03-09 | ||
JP2002021641A JP2002334663A (ja) | 2001-03-09 | 2002-01-30 | 荷電粒子発生装置及びその発生方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10210006A1 true DE10210006A1 (de) | 2002-10-31 |
Family
ID=26610924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2002110006 Withdrawn DE10210006A1 (de) | 2001-03-09 | 2002-03-07 | Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002334663A (de) |
DE (1) | DE10210006A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2953927A1 (fr) * | 2009-12-14 | 2011-06-17 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de fabrication d'echantillon a partir d'un liquide |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1518049A (zh) * | 2003-01-28 | 2004-08-04 | ������������ʽ���� | 电子显微镜 |
JP2005032500A (ja) * | 2003-07-10 | 2005-02-03 | Hitachi High-Technologies Corp | 冷陰極とそれを用いた電子源及び電子線装置 |
JP2005150058A (ja) * | 2003-11-20 | 2005-06-09 | Canon Inc | 液体金属イオン放出用装置、イオンビーム照射装置、該イオンビーム照射装置を備えた加工装置、分析装置、および液体金属イオン放出用装置の製造方法 |
JP4317779B2 (ja) * | 2004-03-26 | 2009-08-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電界放出型電子銃およびそれを用いた電子ビーム応用装置 |
ATE441202T1 (de) * | 2004-05-17 | 2009-09-15 | Mapper Lithography Ip Bv | Belichtungssystem mit einem geladenen teilchenstrahl |
JP4982161B2 (ja) * | 2006-11-30 | 2012-07-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | ガス電界電離イオン源、及び走査荷電粒子顕微鏡 |
EP2019412B1 (de) * | 2006-12-18 | 2016-08-24 | ICT, Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Gasfeldionenquelle für mehrere Anwendungen |
KR100849674B1 (ko) | 2007-07-27 | 2008-08-01 | 한국기계연구원 | 탄소섬유를 이용한 입자 하전장치 |
CN101499389B (zh) | 2008-02-01 | 2011-03-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 电子发射器件 |
CN101538031B (zh) * | 2008-03-19 | 2012-05-23 | 清华大学 | 碳纳米管针尖及其制备方法 |
CN101540251B (zh) * | 2008-03-19 | 2012-03-28 | 清华大学 | 场发射电子源 |
JP5166315B2 (ja) * | 2009-02-19 | 2013-03-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオンビーム加工装置及び試料観察方法 |
DE112010004286B4 (de) * | 2009-11-06 | 2021-01-28 | Hitachi High-Tech Corporation | Ladungsteilchenmikroskop |
JP5921879B2 (ja) * | 2011-03-23 | 2016-05-24 | ギガフォトン株式会社 | ターゲット供給装置及び極端紫外光生成装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0616383B2 (ja) * | 1984-04-11 | 1994-03-02 | 株式会社日立製作所 | イオンビーム形成方法および液体金属イオン源 |
JPS60262966A (ja) * | 1984-06-11 | 1985-12-26 | Hitachi Ltd | 液体金属イオン源及びその製造方法 |
JPS6298543A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-08 | Sony Corp | イオンビ−ム発生装置 |
JPS63216246A (ja) * | 1987-03-03 | 1988-09-08 | Jeol Ltd | ガスフエ−ズイオン源 |
JPS6443961A (en) * | 1987-08-10 | 1989-02-16 | Hitachi Ltd | Charged beam device |
JPH08153482A (ja) * | 1994-11-30 | 1996-06-11 | Shimadzu Corp | イオン銃 |
JPH11224629A (ja) * | 1998-02-09 | 1999-08-17 | Hitachi Ltd | 拡散補給型電子源、その製造方法および電子線装置 |
JP2000149866A (ja) * | 1998-11-10 | 2000-05-30 | Shimadzu Corp | 表面電離型イオン化装置 |
JP3525135B2 (ja) * | 1999-03-18 | 2004-05-10 | 独立行政法人 科学技術振興機構 | 炭素原子クラスターイオン生成装置及び炭素原子クラスターイオンの生成方法 |
JP2002318300A (ja) * | 2001-04-20 | 2002-10-31 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 電子線発生装置 |
-
2002
- 2002-01-30 JP JP2002021641A patent/JP2002334663A/ja active Pending
- 2002-03-07 DE DE2002110006 patent/DE10210006A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2953927A1 (fr) * | 2009-12-14 | 2011-06-17 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de fabrication d'echantillon a partir d'un liquide |
WO2011073206A1 (fr) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Dispositif et procede de fabrication d'echantillon a partir d'un liquide |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002334663A (ja) | 2002-11-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10210006A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen geladener Teilchen | |
DE2129636C2 (de) | Feldemissions-Elektronenstrahlerzeugungssystem | |
DE112011102643B4 (de) | Gasfeld-Ionenquelle, Ionenstrahl-Vorrichtung und Emitterspitze sowie Verfahren zur Herstellung derselben | |
DE69830664T2 (de) | Vorrichtung zum emittieren eines geladenen teilchenstrahls | |
DE69608859T2 (de) | Kathode mit einem Reservoir und Herstellungsverfahren derselben | |
DE3700775C2 (de) | Ionenplasma-Elektronenkanone | |
EP1747570A1 (de) | Röntgenröhre für hohe dosisleistungen | |
EP0432528A2 (de) | Verfahren zur Erzeugung von Schichten aus harten Kohlenstoffmodifikationen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE102012109961B4 (de) | Vorrichtung mit fokussiertem Ionenstrahl | |
DE69506375T2 (de) | Partikel-optisches gerät mit einer elektronenquelle versehen die eine nadel und eine membranartige extraktionselektrode aufweist | |
EP0328757B1 (de) | Verfahren zur Herstellung dünner Schichten aus oxydischem Hochtemperatur-Supraleiter | |
DE2341377A1 (de) | Elektronenstrahlroehre mit thermionikfeld-emissionskathode fuer ein abtastendes elektronenmikroskop | |
DE112016007160B4 (de) | Elektronenmikroskop | |
DE102014103689A1 (de) | Vorrichtung für einen fokussierten ionenstrahl und deren steuerverfahren | |
DE60007830T2 (de) | Schottky-emissionskathode mit verlängerter lebensdauer | |
WO2001029861A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines feldemissions-displays | |
DE69207616T2 (de) | Schnelle Atomstrahlquelle | |
US6869574B2 (en) | Apparatus and method of generating charged particles | |
EP1532848B1 (de) | Gasentladungslampe | |
DE19609234A1 (de) | Röhrensysteme und Herstellungsverfahren hierzu | |
DE3303677C2 (de) | Plasmakanone | |
DE2333866A1 (de) | Felddesorptions-ionenquelle und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE2523360A1 (de) | Gasentladungselektronenstrahlerzeugungssystem zum erzeugen eines elektronenstrahls mit hilfe einer glimmentladung | |
DE10005057C2 (de) | Feldemissionsspitzen | |
DE1514972C (de) | Ionenstoß Ionenquelle |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |