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Technisches Gebiet
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Die vorliegende Offenbarung bezieht sich allgemein auf das Gebiet von Anzeigetechnologien und insbesondere auf ein Arraysubstrat, ein Prüfverfahren, ein Anzeigebedienfeld und eine Anzeigevorrichtung.
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Hintergrund
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Flüssigkristallanzeigevorrichtungen stellen aktuell eine beliebte Wahl für Flachbedienfeldanzeigevorrichtungen (Flachbildschirme) dar, bei denen ein Arraysubstrat eine wichtige Rolle einnimmt. Beim Herstellen von Flüssigkristallanzeigevorrichtungen ist es notwendig, das Arraysubstrat zu prüfen, um den Ertrag zu steigern. Im Allgemeinen wird das Arraysubstrat mit einem Farbfilmsubstrat kombiniert, um ein Anzeigebedienfeld zu bilden, und anschließend wird dem Arraysubstrat ein Prüfsignal zugeführt. Die Effektivität des Arraysubstrats kann basierend darauf ermittelt werden, ob das Anzeigebedienfeld regulär funktioniert oder nicht. Die aktuellen Prüfverfahren sind jedoch nicht zufriedenstellend, da Spannungen an gemeinsamen Elektroden instabil sind.
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Kurzdarstellung der Erfindung
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Ausführungsbeispiele der vorliegenden Offenbarung sehen ein Arraysubstrat, ein Prüfverfahren, ein Anzeigebedienfeld und eine Anzeigevorrichtung vor.
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Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist ein Arraysubstrat vorgesehen, das folgende Merkmale umfassen kann: mehrere in einer Matrixform angeordnete Teilpixel; mehrere parallel und entlang einer ersten Richtung angeordnete Gateleitungen, von denen jede elektrisch mit einer Zeile der Teilpixel verbunden ist; mehrere parallel und entlang einer zweiten Richtung angeordnete Datenleitungen, von denen jede elektrisch mit einer Spalte von Teilpixeln verbunden ist; mehrere Schaltereinheiten, von denen jede ein erstes Ende, ein zweites Ende und ein Steuerende aufweist; und mehrere Prüfenden.
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Wobei die ersten Enden der Schaltereinheiten jeweils elektrisch mit den Datenleitungen verbunden sind und die Steuerenden der Schaltereinheiten elektrisch mit einem Steuersignalende verbunden sind.
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Wobei die Teilpixel in mehrere Teilpixelgruppen gruppiert sind, wobei es in jeder der Teilpixelgruppen aufeinanderfolgende M Spalten von Teilpixeln gibt und die in der zweiten Richtung angeordneten Teilpixel unterschiedliche Farben aufweisen, wobei M eine positive Ganzzahl nicht kleiner als 2 ist.
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Wobei jedes der Prüfenden elektrisch mit den zweiten Enden von N Schaltereinheiten verbunden ist und die N Schaltereinheiten elektrisch mit den Datenleitungen verbunden sind, die elektrisch mit N Spalten von Teilpixeln verbunden sind, wobei N eine positive Ganzzahl nicht kleiner als 2 ist.
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Wobei die N Spalten von Teilpixeln jeweils zu N Teilpixelgruppen gehören, die abwechselnd angeordnet sind, und wobei die laufenden Nummern der N Spalten von Teilpixeln in den N Teilpixelgruppen gleich sind.
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Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist ein Prüfverfahren vorgesehen, das zum Prüfen des Arraysubstrats verwendet wird. Das Prüfverfahren kann folgende Merkmale umfassen: Einschalten der Schaltereinheiten; Abtasten einer der Gateleitungen; und Zuführen von Prüfsignalen durch die Prüfenden an die Teilpixel während des Abtastens der einen der Gateleitungen, wobei die Prüfsignale, die zwei Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in zwei benachbarten Teilpixelgruppen zugeführt werden, entgegengesetzte Polaritäten besitzen. Genauer gesagt ist eine Anzahl der Prüfsignale, die positive Polarität besitzen, gleich einer Anzahl der Prüfsignale, die negative Polarität besitzen.
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Bei einigen Ausführungsbeispielen können die Prüfsignale, die zwei beliebigen benachbarten Teilpixeln in beliebigen Teilpixelgruppen zugeführt werden, entgegengesetzte Polaritäten aufweisen.
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Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist ein Anzeigebedienfeld, das das Arraysubstrat umfasst, vorgesehen.
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Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist eine Anzeigevorrichtung, die das Anzeigebedienfeld umfasst, vorgesehen.
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Ausführungsbeispiele der vorliegenden Offenbarung weisen folgende Vorteile auf.
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In dem Arraysubstrat, das bei den Ausführungsbeispielen der vorliegenden Offenbarung vorgesehenen ist, sind mehrere entsprechende Spalten von Teilpixeln in abwechselnd angeordneten Teilpixelgruppen elektrisch mit einem Prüfende verbunden, d. h., dass entsprechende Spalten von Teilpixeln in zwei angrenzenden Teilpixelgruppen elektrisch mit unterschiedlichen Prüfenden verbunden sind. „Entsprechende Spalten von Teilpixeln” sind Spalten von Teilpixeln, die die gleiche laufende Nummer in unterschiedlichen Teilpixelgruppen besitzen. Ein Prüfsignal mit einer Polarität kann an jedes der Prüfenden angelegt werden. In einer derartigen Konfiguration können den entsprechenden Spalten von Teilpixeln in zwei angrenzenden Teilpixelgruppen beim Testen eines derartigen Arraysubstrats die Prüfsignale mit entgegengesetzten Polaritäten bereitgestellt werden. Daher ist die Anzahl der Prüfsignale mit positiver Polarität gleich der Anzahl der Prüfsignale mit negativer Polarität, was ein Vorteil beim Verbessern der Spannungsstabilität an einer gemeinsamen Elektrode ist. Daher kann die Prüfwirkung verbessert werden.
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Kurze Beschreibung der Zeichnungen
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Die Erfindung wird durch die folgende detaillierte Beschreibung in Verbindung mit den angehängten Zeichnungen, bei denen gleiche Bezugszeichen für gleiche Elemente stehen, verständlicher. Die Figuren in der untenstehenden Beschreibung veranschaulichen nur die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Offenbarung. Ohne von dem Schutzbereich der Offenbarung abzuweichen, können Fachleute andere Figuren basierend auf den veranschaulichten Figuren erlangen.
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1 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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2 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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3a veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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3b veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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4 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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5 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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6 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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7 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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8 veranschaulicht schematisch ein Flussdiagramm eines Prüfverfahrens gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung;
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9 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Anzeigebedienfelds gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung; und
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10 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm einer Anzeigevorrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung.
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Detaillierte Beschreibung
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Um die vorliegende Offenbarung zu verdeutlichen, werden Ausführungsbeispiele der vorliegenden Offenbarung detaillierte in Verbindung mit den angehängten Zeichnungen beschrieben. Die Offenbarung wird unter Bezugnahme auf bestimmte Ausführungsbeispiele beschrieben. Demgemäß ist die vorliegende Offenbarung nicht auf die offenbarten Anwendungsbeispiele beschränkt. Es ist verständlich für Fachleute, dass verschiedene Änderungen vorgenommen werden können, ohne von der Wesensart oder dem Schutzbereich der Offenbarung abzuweichen.
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Gemäß dem Stand der Technik ist die Prüfeffektivität eines Arraysubstrats eventuell nicht zufriedenstellend, da Pixelelektroden die Spannungsstabilität von gemeinsamen Elektroden beeinflussen können. Genauer gesagt können Prüfsignale mit entgegengesetzten Polaritäten, die mehreren Datenleitungen zugeführt werden, beim Prüfen des Arraysubstrats unabhängig von dem geprüften Bildtyp unterschiedliche Größen aufweisen. Wenn die Datenleitungen die Prüfsignale in die gemeinsamen Elektroden eingeben, können die Pixelelektroden mit positiver Polarität und die Pixelelektroden mit negativer Polarität eventuell unterschiedliche Größen aufweisen, sodass eine Spannungsstörung an den gemeinsamen Elektroden durch die Pixelelektroden nicht aufgehoben werden kann, was eventuell das Phänomen einer nicht zufriedenstellenden Prüfwirkung zur Folge haben kann.
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Demgemäß sieht die vorliegende Offenbarung ein Arraysubstrat vor, bei dem die Datenleitungen, die Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in abwechselnd angeordneten Teilpixelgruppen entsprechen, elektrisch mit einem gleichen Prüfende verbunden sein können, sodass die Spannungsstabilität der gemeinsamen Elektroden beim Prüfen des Arraysubstrats verbessert ist. Wobei jeder Spalte von Teilpixeln in jeder der Teilpixelgruppen eine laufende Nummer zugewiesen ist. Wobei zwei Teilpixelgruppen abwechselnd angeordnet sind, d. h., dass zwei Teilpixelgruppen nicht benachbart sind. Beispielsweise sind eine erste Spalte von Teilpixeln in einer ersten Teilpixelgruppe und eine erste Spalte von Teilpixeln in einer dritten Teilpixelgruppe elektrisch mit einem gleichen Prüfende verbunden, wobei die erste Teilpixelgruppe und die dritte Teilpixelgruppe nicht benachbart sind. Genauer gesagt sind detaillierte Beschreibungen von Arraysubstraten bei verschiedenen Ausführungsbeispielen der vorliegenden Offenbarung in Verbindung mit den angehängten 1 bis 7 bereitgestellt.
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1 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung.
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Bei einem Ausführungsbeispiel des Arraysubstrats sind mehrere Gateleitungen 1 parallel und entlang einer ersten Richtung angeordnet, wobei die erste Richtung senkrecht zu jeder der Gateleitungen 1 in einer Ebene verläuft. Mehrere Datenleitungen 2 sind parallel und entlang einer zweiten Richtung angeordnet, wobei die zweite Richtung senkrecht zu jeder der Datenleitungen 2 verläuft. Die Gateleitungen 1 kreuzen sich mit den Datenleitungen 2, um mehrere Regionen zu unterteilen, von denen jede ein Teilpixel umfasst. Die Teilpixel, die jeder der Datenleitungen 2 entsprechen, bilden eine Spalte von Teilpixeln. Benachbarte M Spalten von Teilpixeln bilden eine Teilpixelgruppe B, die eine erste Spalte von Teilpixeln P1 bis zu einer M-ten Spalte von Teilpixeln PM umfasst, wobei die in jeder Teilpixelgruppe entlang der zweiten Richtung angeordneten Teilpixel unterschiedliche Farben aufweisen können. Bei einigen Ausführungsbeispielen ist M eine positive Ganzzahl gleich oder größer als 2. Das Arraysubstrat, wie in 1 gezeigt, umfasst ferner mehrere Schaltereinheiten 3, wobei ein erstes Ende jeder Schaltereinheit elektrisch mit einer der Datenleitungen 2 verbunden ist. Das Arraysubstrat, wie in 1 gezeigt, umfasst ferner mehrere Prüfenden T, wobei jedes der Prüfenden T elektrisch mit zweiten Enden von zumindest zwei Schaltereinheiten verbunden ist und die zumindest zwei Schaltereinheiten elektrisch mit den Datenleitungen 2 verbunden sind, die den Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in zumindest zwei abwechselnd angeordneten Teilpixelgruppen entsprechen.
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In jeder Teilpixelgruppe sind die M Spalten von Teilpixeln mit M laufenden Nummern bezeichnet. Entlang der zweiten Richtung lauten die laufenden Nummern wie folgt: 1, 2, ... M. Bei einigen Ausführungsbeispielen bilden die laufenden Nummern der abwechselnd angeordneten mehreren Teilpixelgruppen eine arithmetische Folge mit einer Toleranz von 2.
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Genauer gesagt bedeuten zumindest zwei abwechselnd angeordnete Teilpixelgruppen, dass nur eine Teilpixelgruppe zwischen zumindest zwei Teilpixelgruppen positioniert sein kann. Außerdem kann das Arraysubstrat bei der vorliegenden Offenbarung in einer selbstkapazitiven Berührungsanzeigevorrichtung angewendet werden und das Arraysubstrat kann ferner mehrere Berührungssteuerungselektroden und mehrere Berührungssteuerungselektrodenanschlussleitungen umfassen. Die Berührungssteuerungselektroden können gebildet werden, indem die gemeinsamen Elektroden geteilt werden, und jede der Berührungssteuerungselektrodenanschlussleitungen kann elektrisch mit einer der Berührungssteuerungselektroden verbunden werden. In einer Anzeigestufe kann den Berührungssteuerungselektroden eine gemeinsame Spannung zugeführt werden und in einer Berührungssteuerungsstufe kann den Berührungssteuerungselektroden ein Berührungssteuerungsoperationserfassungssignal zugeführt werden.
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Bei der vorliegenden Offenbarung ist ein Verfahren zum Prüfen des Arraysubstrats vorgesehen. Das Verfahren kann folgende Schritte umfassen: Einschalten der Schaltereinheiten; Abtasten einer der Gateleitungen; und Zuführen von Prüfsignalen durch die Prüfenden an die Teilpixel während des Abtastens der einen der Gateleitungen. Die Prüfsignale, die zwei Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in zwei benachbarten Teilpixelgruppen zugeführt werden, besitzen entgegengesetzte Polaritäten. Genauer gesagt ist die Anzahl der Prüfsignale, die positive Polarität besitzen, gleich der Anzahl der Prüfsignale, die negative Polarität besitzen.
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Wenn M eine ungerade Zahl ist, besitzen die von den Prüfenden ausgegebenen Prüfsignale, die jeweils den Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in den zwei benachbarten Teilpixelgruppen entsprechen, entgegengesetzte Polaritäten. Beim Prüfen des Arraysubstrats können sich die Pixelelektroden mit positiver Polarität und die Pixelelektroden mit negativer Polarität nach dem Eingeben der Prüfsignale in die Pixelelektroden über die Datenleitungen in nächster Nähe befinden. Daher können durch die Pixelektroden verursachte Auswirkungen auf die gemeinsamen Elektroden schnell aufgehoben und eine hohe Spannungsstabilität der gemeinsamen Elektroden gewährleistet werden.
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Bei der vorliegenden Offenbarung können beim Prüfen des Arraysubstrats die folgenden Schritte durchgeführt werden: Erstens, Einschalten der Schaltereinheiten; Zweitens, Abtasten einer der Gateleitungen; und zuletzt Zuführen von Prüfsignalen durch die Prüfenden an die Teilpixel während des Abtastens der einen der Gateleitungen, wobei die Prüfsignale, die zwei Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in zwei benachbarten Teilpixelgruppen zugeführt werden, entgegengesetzte Polaritäten besitzen. Genauer gesagt ist die Anzahl der Prüfsignale, die positive Polarität besitzen, gleich der Anzahl der Prüfsignale, die negative Polarität besitzen. Beim Abtasten einer der Gateleitungen geben die Prüfenden die Prüfsignale aus und die Prüfsignale mit positiver Polarität können in eine Hälfte der Datenleitungen eingegeben werden und die Prüfsignale mit negativer Polarität können in die andere Hälfte der Datenleitungen eingegeben werden. Die Datenleitungen geben Signale in die Pixelelektroden ein. Da die Pixelelektroden mit positiver Polarität und die Pixelelektroden mit negativer Polarität in der gleichen Anzahl vorhanden sein können, können sich die durch die Pixelelektroden mit positiver Polarität verursachten Auswirkungen auf die gemeinsamen Elektroden und die durch die Pixelelektroden mit negativer Polarität verursachten Auswirkungen auf die gemeinsamen Elektroden gegenseitig aufheben. Daher kann die durch die Pixelelektroden verursachte Auswirkung auf die Spannung der gemeinsamem Elektroden vermieden werden, sodass die Spannungsstabilität der gemeinsamen Elektroden und darüber hinaus die Prüfwirkung verbessert werden können.
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2 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung. Das Arraysubstrat kann folgende Merkmale umfassen: mehrere Gateleitungen 1, mehrere Datenleitungen 2, mehrere Schaltereinheiten 3 und 2M Prüfenden, die ein erstes Prüfende T1 bis zu einem 2M-ten Prüfende T2M (nicht gezeigt) umfassen. Die Gateleitungen 1 kreuzen sich mit den Gateleitungen 2, um mehrere Regionen zu unterteilen, von denen jede ein Teilpixel umfasst. Benachbarte M Spalten von Teilpixeln bilden eine Teilpixelgruppe und N Teilpixelgruppen können gebildet werden, die eine erste Teilpixelgruppe B1 bis zu einer N-ten Teilpixelgruppe BN (nicht gezeigt) umfassen. In jeder Teilpixelgruppe können die M Spalten von Teilpixeln eine erste Teilpixelspalte P1 bis zu einer M-ten Teilpixelspalte PM umfassen, und die erste Teilpixelspalte P1 bis zu einer M-ten Teilpixelspalte PM in jeder Teilpixelgruppe können unterschiedliche Farben aufweisen. Jede Spalte von Teilpixeln entspricht einer der Datenleitungen 2 und jede der Datenleitungen 2 ist elektrisch mit dem ersten Ende einer der Schaltereinheiten 3 verbunden. Die zweiten Enden der Schaltereinheiten, die Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer i in ungeradzahligen Teilpixelgruppen entsprechen (die Schaltereinheiten sind elektrisch mit den Datenleitungen verbunden, die den Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer entsprechen), sind elektrisch mit einem Prüfende mit der gleichen laufenden Nummer i verbunden. Beispielsweise sind zweite Enden der Schaltereinheiten, die einer ersten Teilpixelspalte in einer ersten Teilpixelgruppe B1 und einer ersten Teilpixelspalte in einer dritten Teilpixelgruppe B3 entsprechen, elektrisch mit einem ersten Prüfende T1 verbunden. Zweite Enden der Schaltereinheiten, die Spalten von Teilpixeln mit der gleichen laufenden Nummer i in geradzahligen Teilpixelgruppen entsprechen, sind elektrisch mit einem Prüfende mit einer laufenden Nummer (i + M) verbunden. Beispielsweise sind zweite Enden der Schaltereinheiten, die einer ersten Teilpixelspalte in einer zweiten Teilpixelgruppe B2 und einer ersten Teilpixelspalte in einer vierten Teilpixelgruppe B4 entsprechen, elektrisch mit einem Prüfende mit einer laufenden Nummer (M + 1) verbunden. Das Steuerende jeder Schaltereinheit 3 ist elektrisch mit einem entsprechenden Steuersignalende verbunden.
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Bei einigen Ausführungsbeispielen können die Schaltereinheiten Schaltröhren mit einem gleichen Leitfähigkeitstyp sein, wobei die Schaltröhren N-Typ-Schaltröhren oder P-Typ-Schaltröhren sein können und die Schaltereinheiten 3 gänzlich elektrisch mit einem Steuersignalende SW verbunden sind.
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Bei einigen Ausführungsbeispielen können die Schaltröhren gänzlich von einem gleichen Leitfähigkeitstyp oder einer Mischung aus unterschiedlichen Leitfähigkeitstypen sein, was basierend auf tatsächlichen Situationen entworfen wird.
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Bei dem in 2 gezeigten Ausführungsbeispiel können die Schaltröhren bei der vorliegenden Offenbarung in einem Nichtanzeigebereich platziert sein, um eine Beeinflussung des Öffnungsverhältnisses des Arraysubstrats zu vermeiden.
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Beim Prüfen des Arraysubstrats können die mehreren Gateleitungen einzeln abgetastet werden und gleichzeitig können die Schaltereinheiten gänzlich von dem Steuersignalende SW eingeschaltet werden, so dass die Prüfenden den Datenleitungen die Prüfsignale zuführen. Die Prüfenden, die jeweils den Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in den zwei benachbarten Teilpixelgruppen entsprechen, können simultan die Prüfsignale ausgeben und die Prüfenden, die die Prüfsignale mit positiver Polarität ausgeben und die Prüfenden, diedie Prüfsignale mit negativer Polarität ausgeben, können in Anzahl übereinstimmen.
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Beim Prüfen eines Farbbildes, das nur den Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer entspricht, kann ein Prüfende, das den Spalten von Teilpixeln mit der gleichen laufenden Nummer in den ungeradzahligen Teilpixelgruppen entspricht, ein Erst-Polarität-Prüfsignal zuführen. Das Prüfende, das den Spalten von Teilpixeln der gleichen laufenden Nummer in geradzahligen Teilpixelgruppen entspricht, kann ein Zweit-Polarität-Prüfsignal zuführen und die verbleibenden Spalten von Teilpixeln können eventuell kein Prüfsignal zuführen, wobei die erste Polarität und die zweite Polarität entgegengesetzt sind.
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Bei einem anderen Ausführungsbeispiel führen die Prüfenden beim Prüfen eines Grauskalierungsbildes alle der Prüfsignale zu und die Prüfenden, die das Erst-Polarität-Prüfsignal zuführen, und die Prüfenden, die das Zweit-Polarität-Prüfsignal zuführen, stimmen in Anzahl überein.
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Bei einigen Ausführungsbeispielen sind die erste Polarität und die zweite Polarität entgegengesetzt.
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Bei einem Ausführungsbeispiel, bei dem M gleich 2 ist, kann die erste Teilpixelspalte ein erstes Farbteilpixel und ein zweites Farbteilpixel umfassen, die abwechselnd angeordnet sind, und die zweite Teilpixelspalte kann ein drittes Farbteilpixel und ein viertes Farbteilpixel umfassen, die abwechselnd angeordnet sind. Das erste Farbteilpixel, das zweite Farbteilpixel, das dritte Farbteilpixel und das vierte Farbteilpixel können unterschiedliche Farben aufweisen, die jeweils eine eines roten Teilpixels, eines grünen Teilpixels, eines blauen Teilpixels und eines weißen Teilpixels sein können.
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Bei einem anderen Ausführungsbeispiel, bei dem M gleich 3 ist, kann die erste Teilpixelspalte mehrere erste Farbteilpixel umfassen, die zweite Teilpixelspalte kann mehrere zweite Farbteilpixel umfassen und die dritte Teilpixelspalte kann mehrere dritte Farbteilpixel umfassen. Das erste Farbteilpixel, das zweite Farbteilpixel und das dritte Farbteilpixel können unterschiedliche Farben aufweisen, die jeweils eine eines roten Teilpixels, eines grünen Teilpixels und eines blauen Teilpixels sein können. Genauer gesagt können Farben direkt auf dem Arraysubstrat oder auf anderen Substraten gebildet sein, wobei die Farben den Farbteilpixeln entsprechen.
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3a veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung.
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Bei diesem Ausführungsbeispiel umfasst das Arraysubstrat vier Teilpixelgruppen, von denen jede zwei Spalten von Teilpixeln umfasst. Das Arraysubstrat kann dabei folgende Merkmale umfassen: mehrere Gateleitungen 1, mehrere Datenleitungen 2, mehrere Schaltereinheiten 3 und mehrere Prüfenden, die ein erstes Prüfende T1 bis viertes Prüfende T4 umfassen. Die mehreren Schaltereinheiten 3 sind Schaltröhren mit einem gleichen Leitfähigkeitstyp. Die Gateleitungen 1 kreuzen sich mit den Gateleitungen 2, um mehrere Regionen zu unterteilen, von denen jede ein Teilpixel umfasst. Zwei benachbarte Spalten von Teilpixeln bilden eine Teilpixelgruppe, so dass Teilpixelgruppen B1 bis B4 gebildet sind. Zwei Spalten von Teilpixeln in jeder Teilpixelgruppe sind festgelegt, die eine erste Teilpixelspalte P1 und eine zweite Teilpixelspalte P2 umfassen. Die erste Teilpixelspalte P1 umfasst mehrere rote Teilpixel R und mehrere grüne Teilpixel G, die abwechselnd angeordnet sind, und die zweite Teilpixelspalte P2 umfasst die mehreren blauen Teilpixel B und mehrere weiße Teilpixel E, die abwechselnd angeordnet sind. Jede der Spalten von Teilpixeln entspricht einer der Datenleitungen und jede der Datenleitungen ist elektrisch mit einem ersten Ende einer der Schaltereinheiten 3 verbunden. Die zweiten Enden der Schaltereinheiten 3, die Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer i in der ersten Teilpixelgruppe B1 und der dritten Teilpixelgruppe B3 entsprechen, sind elektrisch mit einem Prüfende mit der gleichen laufenden Nummer i verbunden. Zweite Enden der Schaltereinheiten 3, die Spalten von Teilpixeln mit der gleichen laufenden Nummer i in der zweiten Teilpixelgruppe B2 und der vierten Teilpixelgruppe B4 entsprechen, sind elektrisch mit einem Prüfende mit einer laufenden Nummer (i + 2) verbunden. Die Steuerenden der Schaltereinheiten 3 sind elektrisch mit einem gleichen Steuersignalende SW verbunden.
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Beim Prüfen eines rot und grün gemischten Bildes auf dem Arraysubstrat, wie in
3a abgebildet, wird Tabelle 1 erhalten, die die Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt. Tabelle 1
| R/G | B/W | R/G | B/W | R/G | B/W | R/G | B/W |
| + | 0 | – | 0 | + | 0 | – | 0 |
| + | 0 | – | 0 | + | 0 | – | 0 |
| + | 0 | – | 0 | + | 0 | – | 0 |
| + | 0 | – | 0 | + | 0 | – | 0 |
| + | 0 | – | 0 | + | 0 | – | 0 |
| ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... |
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Die mehreren Gateleitungen können einzeln abgetastet werden und die Schaltereinheiten können gänzlich von dem Steuersignalende SW eingeschaltet werden. Das erste Prüfende T1 führt ein Prüfsignal mit positiver Polarität zu, das dritte Prüfende T3 führt ein Prüfsignal mit negativer Polarität zu und die verbleibenden Prüfenden führen kein Prüfsignal zu, was als 0 dargestellt ist, wobei die Prüfsignale über die Datenleitungen in die Pixelelektroden, die den Teilpixeln entsprechen, eingegeben werden können und Tabelle 1 erhalten wird, die die Zuordnung der Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt. Wie in Tabelle 1 abgebildet, ist die Anzahl der Pixelelektroden mit positiver Polarität und der Pixelelektroden mit negativer Polarität gleich und die Auswirkungen auf die gemeinsamen Elektroden können aufgehoben werden, um die Spannungsstabilität der gemeinsamen Elektroden zu gewährleisten.
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In ähnlicher Weise wird beim Prüfen eines blau und weiß gemischten Bildes auf dem Arraysubstrat, wie in
3a abgebildet, Tabelle 2 erhalten, die die Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt. Tabelle 2
| R/G | B/W | R/G | B/W | R/G | B/W | R/G | B/W |
| 0 | + | 0 | – | 0 | + | 0 | – |
| 0 | + | 0 | – | 0 | + | 0 | – |
| 0 | + | 0 | – | 0 | + | 0 | – |
| 0 | + | 0 | – | 0 | + | 0 | – |
| 0 | + | 0 | – | 0 | + | 0 | – |
| ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... |
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Zusätzlich wird beim Prüfen eines Grauskalierungsbildes auf dem Arraysubstrat, wie in
3a abgebildet, Tabelle 3 erhalten, die die Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt. Tabelle 3
| R/G | B/W | R/G | B/W | R/G | B/W | R/G | B/W |
| + | – | + | – | + | – | + | – |
| + | – | + | – | + | – | + | – |
| + | – | + | – | + | – | + | – |
| + | – | + | – | + | – | + | – |
| + | – | + | – | + | – | + | – |
| ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... |
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Die mehreren Gateleitungen können einzeln abgetastet werden und die Schaltereinheiten können gänzlich über das Steuersignalende SW eingeschaltet werden. Das erste Prüfende T1 führt ein Prüfsignal mit positiver Polarität zu, das dritte Prüfende T3 führt ein Prüfsignal mit positiver Polarität zu und zwei benachbarte Prüfenden führen die Prüfsignale mit entgegengesetzten Polaritäten zu, wobei die Prüfsignale über die Datenleitungen in die Pixelelektroden, die den Teilpixeln entsprechen, eingegeben werden können. Tabelle 3, die die Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt, wird erhalten. Wie in Tabelle 3 abgebildet, ist die Anzahl der Pixelelektroden mit positiver Polarität und der Pixelelektroden mit negativer Polarität gleich und die Auswirkungen auf die gemeinsamen Elektroden können aufgehoben werden, um die Spannungsstabilität der gemeinsamen Elektroden zu gewährleisten.
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3b veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung.
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Bei diesem Ausführungsbeispiel umfasst das Arraysubstrat vier Teilpixelgruppen, von denen jede drei Spalten von Teilpixeln umfasst. Das Arraysubstrat kann dabei folgende Merkmale umfassen: mehrere Gateleitungen 1, mehrere Datenleitungen 2, mehrere Schaltereinheiten 3 und mehrere Prüfenden, die ein erstes Prüfende T1 bis sechstes Prüfende T6 umfassen. Wobei die mehreren Schaltereinheiten 3 Schaltröhren mit einem gleichen Leitfähigkeitstyp sind. Wobei sich die Gateleitungen 1 mit den Gateleitungen 2 kreuzen, um mehrere Regionen zu unterteilen, von denen jede ein Teilpixel umfasst. Drei benachbarte Spalten von Teilpixeln bilden eine Teilpixelgruppe, so dass Teilpixelgruppen B1 bis B4 gebildet sind. Wobei drei Spalten von Teilpixeln in jeder Teilpixelgruppe festgelegt sind, die eine erste Teilpixelspalte P1 bis dritte Teilpixelspalte P3 umfassen. Und die Teilpixel in der ersten Teilpixelspalte P1 sind gänzlich rote Teilpixel R, die Teilpixel in der zweiten Teilpixelspalte P2 sind gänzlich grüne Teilpixel G und die Teilpixel in der dritten Teilpixelspalte P1 sind gänzlich blaue Teilpixel B. Jede der Spalten von Teilpixeln entspricht einer der Datenleitungen und jede der Datenleitungen ist elektrisch mit einem ersten Ende einer der Schaltereinheiten 3 verbunden. Zweite Enden der Schaltereinheiten, die Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer i in der ersten Teilpixelgruppe B1 und der dritten Teilpixelgruppe B3 entsprechen, sind elektrisch mit einem Prüfende mit der gleichen laufenden Nummer i verbunden. Und zweite Enden der Schaltereinheiten, die Spalten von Teilpixeln mit der gleichen laufenden Nummer i in der zweiten Teilpixelgruppe B2 und der vierten Teilpixelgruppe B4 entsprechen, sind elektrisch mit einem Prüfende mit einer laufenden Nummer (1 + 3) verbunden. Die Steuerenden der Schaltereinheiten 3 sind elektrisch mit einem gleichen Steuersignalende SW verbunden.
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Beim Prüfen eines roten Bildes auf dem Arraysubstrat, wie in
3a abgebildet, wird Tabelle 4 erhalten, die die Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt. Tabelle 4
| R | G | B | R | G | B | R | G | B | R | G | B |
| + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 |
| + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 |
| + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 |
| + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 |
| + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 |
| ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... |
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Die mehreren Gateleitungen können einzeln abgetastet werden und die Schaltereinheiten können gänzlich von dem Steuersignalende SW eingeschaltet werden. Das erste Prüfende T1 führt ein Prüfsignal mit positiver Polarität zu, das vierte Prüfende T4 führt ein Prüfsignal mit positiver Polarität zu und die verbleibenden Prüfenden führen kein Prüfsignal zu, was als 0 dargestellt ist, wobei die Prüfsignale über die Datenleitungen in die Pixelelektroden, die den Teilpixeln entsprechen, eingegeben werden können. Tabelle 4, die die Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt, wird erhalten. Wie in Tabelle 4 abgebildet, ist die Anzahl der Pixelelektroden mit positiver Polarität und der Pixelelektroden mit negativer Polarität gleich und die Auswirkungen auf die gemeinsamen Elektroden können daher aufgehoben werden, um die Spannungsstabilität der gemeinsamen Elektroden zu gewährleisten.
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Gleichermaßen wird beim Prüfen eines grünen Bildes auf dem Arraysubstrat, das in
3b abgebildet ist, Tabelle 5 erhalten, die eine Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt. Tabelle 5
| R | G | B | R | G | B | R | G | B | R | G | B |
| 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 |
| 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 |
| 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 |
| 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 |
| 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 |
| ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... |
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Gleichermaßen wird beim Prüfen eines blauen Bildes auf dem Arraysubstrat, das in
3b abgebildet ist, Tabelle 6 erhalten, die eine Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt. Tabelle 6
| R | G | B | R | G | B | R | G | B | R | G | B |
| 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – |
| 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – |
| 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – |
| 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – |
| 0 | 0 | + | 0 | 0 | – | 0 | 0 | + | 0 | 0 | – |
| ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... | ... |
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Zusätzlich wird beim Prüfen eines Grauskalierungsbildes auf dem Arraysubstrat, wie in
3a abgebildet, Tabelle 7 erhalten, die die Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt. Tabelle 7
| R | G | B | R | G | B | R | G | B | R | G | B |
| + | – | + | – | + | – | + | – | + | – | + | – |
| + | – | + | – | + | – | + | – | + | – | + | – |
| + | – | + | – | + | – | + | – | + | – | + | – |
| + | – | + | – | + | – | + | – | + | – | + | – |
| + | – | + | – | + | – | + | – | + | – | + | – |
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Die mehreren Gateleitungen können einzeln abgetastet werden und die Schaltereinheiten können gänzlich von dem Steuersignalende SW eingeschaltet werden. Das erste Prüfende T1 führt ein Prüfsignal mit positiver Polarität zu, das vierte Prüfende T4 führt ein Prüfsignal mit negativer Polarität zu. Die zwei benachbarten Prüfenden führen die Prüfsignale mit entgegengesetzten Polaritäten zu, wobei die Prüfsignale über die Datenleitungen in die Pixelelektroden, die den Teilpixeln entsprechen, eingegeben werden können. Tabelle 7, die die Zuordnung von Signalpolarität der Pixelelektroden darstellt, wird erhalten. Wie in Tabelle 7 abgebildet, ist die Anzahl der Pixelelektroden mit positiver Polarität und der Pixelelektroden mit negativer Polarität gleich und die Auswirkungen auf die gemeinsamen Elektroden können aufgehoben werden, um die Spannungsstabilität der gemeinsamen Elektroden zu gewährleisten.
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Ferner unterliegt das Arraysubstrat bei den Ausführungsbeispielen der vorliegenden Offenbarung keinen Beschränkungen. Nachfolgend ist eine detaillierte Beschreibung des Arraysubstrates, das für die vorliegende Offenbarung geeignet ist, in Verbindung mit 4 bis 7 bereitgestellt.
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Ein Arraysubstrat kann ein Arraysubstrat von dem Untenliegendes-Gate-Typ oder ein Arraysubstrat von dem Obenliegendes-Gate-Typ sein. 4 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel bei der vorliegenden Offenbarung.
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Das Arraysubstrat ist ein Arraysubstrat von dem Untenliegendes-Gate-Typ und das Arraysubstrat kann ein Substrat 100 umfassen. Eine erste leitfähige Schicht 200 ist auf einer beliebigen Oberfläche des Substrats 100 gebildet, wobei die erste leitfähige Schicht 200 eine Gateleitung und ein Gate G umfassen kann. Eine Gate-Dielektrikum-Schicht 300 ist auf einer ersten Oberfläche der ersten leitfähigen Schicht 200 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der ersten leitfähigen Schicht 200, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Eine Halbleiterschicht 400 ist auf einer ersten Oberfläche der Gate-Dielektrikum-Schicht 300 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der Gate-Dielektrikum-Schicht 300, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Genauer gesagt kann die Halbleiterschicht 400 eine aktive Region A umfassen. Eine zweite leitfähige Schicht 500 ist auf einer ersten Oberfläche der Halbleiterschicht 400 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der Halbleiterschicht 400, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Genauer gesagt kann die zweite leitfähige Schicht 500 eine Datenleitung, einer Source S und ein Drain D umfassen. Und Gate G, aktive Region A, Source S und Drain D bilden einen Dünnfilmtransitor.
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5 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel bei der vorliegenden Offenbarung und das Arraysubstrat ist ein Arraysubstrat von dem Obenliegendes-Gate-Typ.
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Das Arraysubstrat kann ein Substrat 100 umfassen. Eine Halbleiterschicht 400 ist auf einer beliebigen Oberfläche des Substrats 100 gebildet, wobei die Halbleiterschicht 400 eine aktive Region A umfassen kann. Eine Gate-Dielektrikum-Schicht 300 ist auf einer ersten Oberfläche der Halbleiterschicht 400 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der ersten Halbleiterschicht 400, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Eine Gate-Isolierungsschicht 301 ist auf der ersten Oberfläche der Halbleiterschicht 400 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der Halbleiterschicht 400, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Eine erste leitfähige Schicht 200 ist auf einer ersten Oberfläche der Gate-Isolierungsschicht 301 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der Gate-Isolierungsschicht 301, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Genauer gesagt kann die erste leitfähige Schicht 200 eine Gateleitung und ein Gate G umfassen. Eine zweite leitfähige Schicht 500 ist auf einer ersten Oberfläche der Gate-Dielektrikum-Schicht 300 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der Gate-Dielektrikum-Schicht 300, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Genauer gesagt kann die zweite leitfähige Schicht 500 eine Datenleitung, eine Source S und ein Drain D umfassen. Und Gate G, aktive Region A, Source S und Drain D bilden einen Dünnfilmtransistor.
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Ferner unterliegen die Stellung einer gemeinsamen Elektrode und die Stellung einer Pixelelektrode auf dem Arraysubstrat bei der vorliegenden Offenbarung keinen Beschränkungen. Genauer gesagt ist eine Beschreibung der Stellung der gemeinsamen Elektrode und der Stellung der Pixelelektrode auf dem Arraysubstrat basierend auf dem in 4 oder 5 abgebildeten Arraysubstrat in Verbindung mit 6 und 7 bereitgestellt.
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6 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung.
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Das Arraysubstrat kann folgende Komponenten umfassen. Eine erste Isolierungsschicht 601 ist auf einer ersten Oberfläche der zweiten leitfähigen Schicht 500 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der zweiten leitfähigen Schicht 500, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Eine erste Elektrode 700 ist auf einer ersten Oberfläche der ersten Isolierungsschicht 601 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der ersten Isolierungsschicht 601, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Eine zweite Isolierungsschicht 800 ist auf einer ersten Oberfläche der ersten Elektrode 700 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der ersten Elektrode 700, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Und eine zweite Elektrode 900 ist auf einer ersten Oberfläche der zweiten Isolierungsschicht 800 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der zweiten Isolierungsschicht 800, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt.
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Ferner können sich die gemeinsame Elektrode und die Pixelelektrode bei der vorliegenden Offenbarung auf einer gleichen leitfähigen Schicht auf dem Arraysubstrat befinden. 7 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm eines Arraysubstrats gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Offenbarung.
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Das Arraysubstrat kann folgende Komponenten umfassen. Eine dritte Isolierungsschicht 602 ist auf einer ersten Oberfläche der zweiten leitfähigen Schicht 500 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der zweiten leitfähigen Schicht 500, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Und eine Elektrodentreiberschicht 701 ist auf einer ersten Oberfläche der dritten Isolierungsschicht 602 gebildet, wobei die erste Oberfläche einer zweiten Oberfläche der dritten Isolierungsschicht 602, die dem Substrat 100 zugewandt ist, gegenüberliegt. Wobei die Elektrodentreiberschicht 701 die gemeinsame Elektrode und die Pixelelektrode aufweisen kann.
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Basierend auf dem Arraysubstrat bei einem der Ausführungsbeispiele ist ein Prüfverfahren vorgesehen. 8 veranschaulicht schematisch ein Flussdiagramm des Prüfverfahrens.
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Das Verfahren kann für das Prüfen des Arraysubstrats bei einem beliebigen der Ausführungsbeispiele verwendet werden und kann folgende Schritte umfassen. S1: Einschalten der Schaltereinheiten; S2: Abtasten einer der Gateleitungen und Zuführen von Prüfsignalen durch die Prüfenden an die Teilpixel während des Abtastens der einen der Gateleitungen. Wobei die Prüfsignale, die zwei Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in zwei benachbarten Teilpixelgruppen zugeführt werden, entgegengesetzte Polaritäten besitzen. Genauer gesagt ist eine Anzahl der Prüfsignale, die positive Polarität besitzen, und eine Anzahl der Prüfsignale, die negative Polarität besitzen, gleich. Also weisen die Prüfsignale, die von den Prüfenden, die zwei benachbarten Spalten von Teilpixeln in jeder Teilpixelgruppe entsprechen, entgegengesetzte Polaritäten auf.
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Bei der vorliegenden Offenbarung ist ein Anzeigebedienfeld vorgesehen. 9 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm des Anzeigebedienfelds bei der vorliegenden Offenbarung. Das Anzeigebedienfeld kann das Arraysubstrat 101 bei einem der Ausführungsbeispiele und ein Farbfilmsubstrat 102 umfassen. Das Anzeigebedienfeld kann ferner eine Flüssigkristallschicht 103, die zwischen dem Arraysubstrat 101 und dem Farbfilmsubstrat 102 positioniert ist, umfassen.
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Bei der vorliegenden Offenbarung ist eine Anzeigevorrichtung vorgesehen. 10 veranschaulicht schematisch ein Strukturdiagramm der Anzeigevorrichtung bei der vorliegenden Offenbarung. Die Anzeigevorrichtung kann das vorgesehene Anzeigebedienfeld 201 und ein Hintergrundbeleuchtungsmodul 202, das auf einer lichtzugewandten Oberfläche des Anzeigebedienfelds 201 gebildet ist, umfassen.
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Die vorliegende Offenbarung sieht ein Arraysubstrat, ein Prüfverfahren, ein Anzeigebedienfeld und eine Anzeigevorrichtung vor.
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Das Arraysubstrat kann mehrere Gateleitungen, die parallel entlang einer ersten Richtung angeordnet sind, und mehrere Datenleitungen, die parallel entlang einer zweiten Richtung angeordnet sind, umfassen, wobei sich die Gateleitungen mit den Datenleitungen kreuzen können, um mehrere Regionen zu unterteilen, von denen jede ein Teilpixel umfasst. Die Teilpixel, die jeder der Datenleitungen entsprechen, können eine Spalte von Teilpixeln bilden. M benachbarte Spalten von Teilpixeln können eine Teilpixelgruppe bilden, die eine erste Teilpixelspalte bis zu einer M-ten Teilpixelspalte umfasst. Die Teilpixel, die entlang der zweiten Richtung in jeder Teilpixelgruppe angeordnet sind, können unterschiedliche Farben aufweisen, wobei M eine positive Ganzzahl gleich oder größer als 2 ist.
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Das Arraysubstrat kann ferner mehrere Schaltereinheiten umfassen, wobei ein erstes Ende jeder der Schaltereinheiten elektrisch mit jeder der Datenleitungen verbunden sein kann und ein Steuerende jeder der Schaltereinheiten elektrisch mit einem Steuersignalende verbunden sein kann.
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Das Arraysubstrat kann ferner mehrere Prüfenden umfassen, von denen jedes mit zweiten Enden von zumindest zwei der Schaltereinheiten elektrisch verbunden sein kann. Zumindest zwei der Schaltereinheiten können jeweils elektrisch mit den Datenleitungen, die den Spalten von Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in zumindest zwei abwechselnd angeordneten Teilpixelgruppen entsprechen, verbunden sein.
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Die vorliegende Offenbarung sieht ein Prüfverfahren vor, das folgende Schritte umfasst. Der erste Schritt ist das Einschalten der mehreren Schaltereinheiten. Und der zweite Schritt ist das Abtasten einer der mehreren Gateleitungen. Während des Abtastens der einen der Gateleitungen werden die Prüfsignale den Teilpixeln über die Prüfenden zugeführt, wobei die Prüfsignale, die zwei Teilpixeln mit einer gleichen laufenden Nummer in zwei benachbarten Teilpixelgruppen zugeführt werden, entgegengesetzte Polaritäten besitzen. Die Anzahl der Prüfsignale, die positive Polarität besitzen, ist gleich der Anzahl der Prüfsignale, die negative Polarität besitzen. Genauer gesagt führen die Prüfenden beim Abtasten einer der Datenleitungen die Prüfsignale zu, wobei die Prüfsignale mit positiver Polarität in eine Hälfte der mehreren Datenleitungen und die Prüfsignale mit negativer Polarität in die andere Hälfte der mehreren Datenleitungen eingegeben werden können. Folglich können Auswirkungen auf die Spannung der gemeinsamen Elektroden durch die Pixelelektroden vermieden werden, folglich ist die Spannungsstabilität der gemeinsamen Elektroden verbessert, so dass die Prüfwirkung verbessert ist.
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Die vorliegende Offenbarung ist durch die vorstehenden bevorzugten Ausführungsbeispiele offenbart, aber nicht beschränkt, und daher können Fachleute die vorliegende Offenbarung implementieren oder verwenden. Basierend auf der Offenbarung der vorliegenden Offenbarung werden Fachleute eine Vielzahl von Variationen und Modifikationen durchführen können, ohne von dem Schutzbereich der Offenbarung abzuweichen. Somit liegt jede einfache Modifikation, Variation und Verfeinerung basierend auf den hierin beschriebenen Ausführungsbeispielen innerhalb des Schutzbereiches der vorliegenden Offenbarung.
