CN104698637B - 阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，多条沿第一方向排列的栅极线；多条沿第二方向排列的数据线，第一方向和第二方向交叉从而限定多个子像素，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿第二方向排列的子像素的颜色不同；多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，避免像素电极对公共电极的影响，提高了测试效果。

Description

阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，更为具体的说，涉及一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置。
背景技术
液晶显示装置时目前常用的平板显示装置，其中，阵列基板是液晶显示装置中重要组件之一。现今，在制作液晶显示装置时，为了提高产品的良率，对其阵列基板的测试时必不可少的，通常将阵列基板和彩膜基板结合为显示面板，而后对阵列基板充入测试信号，检测显示面板的画面是否正常。但是，在对现有的阵列基板进行测试时，对其测试效果不佳。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，通过将间隔的子像素组中相同像素列对应的数据线连接至同一测试端，使得在采用测试方法对阵列基板测试时，提高了公共电极的电压稳定性，进而提高了测试效果。
为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：
一种阵列基板，包括：
多条沿第一方向排列的栅极线；
多条沿第二方向排列的数据线，其中，所述第一方向和所述第二方向交叉从而限定多个子像素，其中，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿所述第二方向排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数；
多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；以及
多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，所述至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其中，i为小于等于M正整数。
另外，本发明还提供了一种测试方法，用于测试上述的阵列基板，包括：
同时控制所述多个开关单元导通；
逐级扫描所述多条栅极线，并同时对相邻两个子像素组中的第i子像素列所对应的测试端分别输出正极性测试信号和负极性测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同。
优选的，任意子像素组中相邻两个子像素列分别对应的测试端输出的测试信号的极性相反。
此外，本发明还提供了一种显示面板，包括上述的阵列基板。
最后，本发明还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。
相较于现有技术，本发明提供的技术方案至少具有以下优点之一：
本发明提供的一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，多条沿第一方向排列的栅极线；多条沿第二方向排列的数据线，其中，所述第一方向和所述第二方向交叉从而限定多个子像素，其中，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿所述第二方向排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数；多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；以及多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，所述至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其中，i为小于等于M正整数。
由上述内容可知，本发明提供的技术方案，在对阵列基板进行测试时，控制所述多个开关单元导通；逐级扫描所述多条栅极线，相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应的测试端同时输出测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同，即，在扫描一栅极线时，测试端输出测试信号，且对多条数据线中一半输入了正极性测试信号，而对另一半输入了负极性测试线号，避免了像素电极对公共电极上的电压的影响，提高了公共电极的电压稳定性，进而提高了测试效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种阵列基板的结构示意图；
图2为本申请实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图；
图3a为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；
图3b为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；
图5为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；
图6为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；
图7为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；
图8为本申请实施例提供的一种测试方法的流程图；
图9为本申请实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图10为本申请实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
正如背景技术所述，在对现有的阵列基板进行测试时，对其测试效果不佳。发明人研究发现，出现这种问题的主要原因有像素电极影响了公共电极的电压的稳定性。具体的，在对阵列基板进行测试时，无论测试哪种画面，对多条数据线充入的测试线号中，极性互为反信号的测试信号的数量不同，当数据线对像素电极输入测试信号后，正极性的像素电极和负极性的像素电极数量不同，导致像素电极对公共电极的电压干扰不能消除，进而出现测试效果不佳的现象。
基于此，本申请实施例提供了一种阵列基板，通过将间隔的子像素组中相同像素列对应的数据线连接至同一测试端，使得在采用测试方法对阵列基板测试时，提高了公共电极的电压稳定性，具体结合图1至图7所示，对本申请实施例提供的阵列基板进行详细的说明。
参考图1所示，为本申请实施例提供的一种阵列基板的结构示意图，其中，本申请实施例提供的阵列基板，包括：
多条沿第一方向Y排列的栅极线1；
多条沿第二方向X排列的数据线2，其中，第一方向Y和第二方向X交叉从而限定多个子像素，其中，每一条数据线2所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组B，并定义为第1子像素列P1到第M子像素列Pm，每一子像素组中沿第二方向X排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数；
多个开关单元3，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端(未画出)；以及
多个测试端T，每一测试端T与至少两个开关单元的第二端电连接，至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其中，i为小于等于M正整数。
需要说明的是，上述内容中所述的间隔设置的至少两个子像素组，即为在该至少两个子像素组之间只设置有一个子像素组。另外，本申请实施例提供的阵列基板还适用于自电容触控显示装置，即，阵列基板还包括多个触控电极和多条触控电极引线，触控电极为公共电极分割而成，且每条触控电极引线分别与一触控电极电性连接，其中，触控电极在显示阶段被施加公共电压，且触控电极在触控阶段被施加触控检测信号。
相应的，本申请实施例还提供了一种测试方法，其特征在于，用于测试上述的阵列基板，包括：
控制多个开关单元导通；
逐级扫描多条栅极线，相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应的测试端同时输出测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同。
进一步的，在M为奇数时，相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应的测试端输出的测试信号的极性相反，即，在对阵列基板进行测试时，当通过数据线对像素电极输入测试信号后，正极性像素电极和负极性像素电极之间的距离较近，能够快速将对公共电极造成的影响相互抵消，保证了公共电极的电压稳定性高。
由上述内容可知，本申请实施例提供的技术方案，在对阵列基板进行测试时，控制所述多个开关单元导通；逐级扫描所述多条栅极线，相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应的测试端同时输出测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同，即，在扫描一栅极线时，测试端输出测试信号，且对多条数据线中一半输入了正极性测试信号，而对另一半输入了负极性测试线号，数据线对像素电极输入信号后，由于正极性的像素电极和负极性的像素电极数量相同，使得所有正极性的像素电极对公共电极的影响和所有负性像素电极对公共电极的影响相互抵消，避免了像素电极对公共电极上的电压的影响，提高了公共电极的电压稳定性，进而提高了测试效果。
下面通过一具体阵列基板结构进行具体描述，参考图2所示，为本申请实施例提供的另一种阵列基板的结构示意图，其中，阵列基板包括：
多条栅极线1、多条数据线2、多个开关单元3和第一测试端T1至第2M测试端T2m(未画出)，其中，
栅极线1和数据线2绝缘交叉限定多个子像素，且相邻的M个子像素列为一子像素组，其中，包括有第一子像素组B1至第N子像素组Bn(未画出)，任意一子像素组中M个子像素列设置为第1子像素列P1至第M子像素列Pm，每一子像素组中第1子像素列P1至第M子像素列Pm的子像素列颜色均不相同；
每一子像素列分别对应一数据线，且每一数据线分别连接至一开关单元3的第一端；
其中，奇数子像素组中第i子像素列对应的开关单元(即第i子像素列对应数据线所连接的开关单元)的第二端点连接至第i测试端，以第一子像素组B1和第三子像素组B3为例，即，第一子像素组B1和第三子像素组B3中的第1子像素列P1分别对应的开关单元的第二端电连接至第一测试端T1；偶数子像素组中第i子像素列对应的开关单元的第二端电连接至第i+M测试端，以第二子像素组B2和第四子像素组B4为例，即，第二子像素组B2和第四子像素组B4中的第1子像素列P1分别对应的开关单元的第二端点连接至第M+1测试端；
每一开关单元3的控制端分别连接至各自对应的控制信号端，其中，本申请实施例提供的开关单元均为相同导电类型的开关管，即，开关单元均为N型开关管，或者，开关单元均为P型开关管，其中，所有开关单元3的控制端均连接至同一控制信号端SW；另外，所有开关单元均为相同导电类型的开关管只是本申请所有实施例中的一种，本申请对此不作具体限制，所有开关管的类型可以相同，也可以不同导电类型的开关管混用，具体根据实际应用进行设计。
需要说明的是，本申请实施例提供的开关管优选设置于阵列基板的非显示区域，避免开关管对阵列基板的开口率造成影响。
其中，在对上述内容中提供的阵列基板进行测试时，逐级扫描多条栅极线，同时通过控制信号端SW将所有开关单元导通，以能够使测试端的测试信号导入，其中，相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应的测试端同时输出测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同；即，
当单独测试第i子像素列对应颜色画面时，所有奇数子像素组中第i子像素列对应的第i测试端输出第一极性测试信号，而所有偶数子像素组中第i子像素列对应的第i测试端输出第二极性测试信号，且其余测试端不输出测试信号，其中，第一极性和第二极性相反；或者，
测试灰阶画面时，所有测试端均输出测试信号，且输出第一极性测试信号的测试端和输出第二极性测试信号的测试端数量相同，其中，第一极性和第二极性相反。
对于本申请实施例提供的阵列基板，当M为2时，其中，第1子像素列包括交替排列的第一颜色子像素和第二颜色子像素，第2子像素列包括交替排列的第三颜色子像素和第四颜色子像素；其中，第一颜色子像素至第四颜色子像素的颜色种类不同，且分别为红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和白色子像素中的一种；
或者，M为3，其中，第1子像素列包括多个第一颜色子像素，第2子像素列包括第二颜色子像素，第3子像素列包括第三颜色子像素；其中，第一颜色子像素至第三颜色子像素的颜色种类不同，且分别为红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素中的一种。
需要说明的是，上述内容中第i颜色子像素，可以表示为在阵列基板上直接形成i颜色，也可以表示为在其他基板上形成i颜色、且i颜色与阵列基板上i子像素对应。
下面以M为2，子像素组的数量为时为例，对本申请实施例提供的阵列基板的测试方法进行更为详细的描述，参考图3a所示，为为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图，其中，阵列基板包括：
多条栅极线1、多条数据线2、多个开关单元3和第一测试端T1至第四测试端T4，多个开关单元3均为导电类型相同的开关管，其中，
栅极线1和数据线2绝缘交叉限定多个子像素，且相邻的2个子像素列为一子像素组，其中，包括有第一子像素组B1至第四子像素组B4，任意一子像素组中2个子像素列设置为第1子像素列P1至第2子像素列P2，其中，第1子像素列P1为红色子像素R和绿色子像素G交替排列，第2子像素列P2为蓝色子像素B和白色子像素W交替排列；
每一子像素列分别对应一数据线，且每一数据线分别连接至一开关单元3的第一端；
其中，第一子像素组B1和第三子像素组B3中第i子像素列对应的开关单元的第二端点连接至第i测试端；第二子像素组B2和第四子像素组B4中第i子像素列对应的开关单元的第二端电连接至第i+3测试端；
每一开关单元3的控制端均连接至同一控制信号端SW；
在对图3b对应阵列基板进行红色和绿色混合画面测试时，结合图3a和表1所示：
R/G B/W R/G B/W R/G B/W R/G B/W
+ 0 - 0 + 0 - 0
+ 0 - 0 + 0 - 0
+ 0 - 0 + 0 - 0
+ 0 - 0 + 0 - 0
+ 0 - 0 + 0 - 0
… … … … … … … …
表1
逐级扫描多条栅极线，控制信号端SW将所有开关单元导通，第一测试端T1输出正极性测试信号，第三测试端T3输出负极性测试信号，而其余测试端均不输出测试信号为0，数据线对对应的子像素的像素电极输入测试信号，最终得到表1中像素电极信号极性分布表格，正极性像素电极和负极性像素电极数量相同，将对公共电极造成的影响抵消，保证了公共电极的电压稳定性高；
同样的，在对图3a对应的阵列基板进行蓝色和白色混合画面测试时，最终得到表2中所示的像素电极信号极性分布表格：
R/G B/W R/G B/W R/G B/W R/G B/W
0 + 0 - 0 + 0 -
0 + 0 - 0 + 0 -
0 + 0 - 0 + 0 -
0 + 0 - 0 + 0 -
0 + 0 - 0 + 0 -
… … … … … … … …
表2
另外，在对图3a对应的阵列基板进行灰阶画面测试时，结合图3a和表3所示：
R/G B/W R/G B/W R/G B/W R/G B/W
+ - + - + - + -
+ - + - + - + -
+ - + - + - + -
+ - + - + - + -
+ - + - + - + -
… … … … … … … …
表3
逐级扫描多条栅极线，控制信号端SW将所有开关单元导通，第一测试端T1输出正极性测试信号，第三测试端T3输出正极性测试信号，而相邻两个测试端输出测试信号极性相反，数据线对对应的子像素的像素电极输入测试信号，最终得到表3中像素电极信号极性分布表格，正极性像素电极和负极性像素电极数量相同，将对公共电极造成的影响抵消，保证了公共电极的电压稳定性高。
另外，下面以M为3，子像素组的数量为4时为例，对本申请实施例提供的阵列基板的测试方法进行更为详细的描述，参考图3b所示，为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图，其中，阵列基板包括：
多条栅极线1、多条数据线2、多个开关单元3和第一测试端T1至第六测试端T6，多个开关单元3均为导电类型相同的开关管，其中，
栅极线1和数据线2绝缘交叉限定多个子像素，且相邻的3个子像素列为一子像素组，其中，包括有第一子像素组B1至第四子像素组B4，任意一子像素组中3个子像素列设置为第1子像素列P1至第3子像素列P3，其中，第1子像素列P1中所有子像素均为红色子像素R，第2子像素列P2中所有子像素均为绿色子像素G，以及第3子像素列P3中所有子像素均为蓝色子像素B；
每一子像素列分别对应一数据线，且每一数据线分别连接至一开关单元3的第一端；
其中，第一子像素组B1和第三子像素组B3中第i子像素列对应的开关单元的第二端点连接至第i测试端；第二子像素组B2和第四子像素组B4中第i子像素列对应的开关单元的第二端电连接至第i+3测试端；
每一开关单元3的控制端均连接至同一控制信号端SW；
在对图3b对应阵列基板进行红色画面测试时，结合图3和表4所示：
R G B R G B R G B R G B
+ 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0 0
+ 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0 0
+ 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0 0
+ 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0 0
+ 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0 0
… … … … … … … … … … … …
表4
逐级扫描多条栅极线，控制信号端SW将所有开关单元导通，第一测试端T1输出正极性测试信号，第四测试端T4输出负极性测试信号，而其余测试端均不输出测试信号为0，数据线对对应的子像素的像素电极输入测试信号，最终得到表1中像素电极信号极性分布表格，正极性像素电极和负极性像素电极数量相同，将对公共电极造成的影响抵消，保证了公共电极的电压稳定性高；
同样的，在对图3b对应的阵列基板进行绿色画面测试时，最终得到表5中所示的像素电极信号极性分布表格：
R G B R G B R G B R G B
0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0
0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0
0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0
0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0
0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 - 0
… … … … … … … … … … … …
表5
同样的，在对图3b对应的阵列基板进行蓝色画面测试时，最终得到表6中所示的像素电极信号极性分布表格：
R G B R G B R G B R G B
0 0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 -
0 0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 -
0 0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 -
0 0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 -
0 0 + 0 0 - 0 0 + 0 0 -
… … … … … … … … … … … …
表6
另外，在对图3b对应的阵列基板进行灰阶画面测试时，结合图3b和表7所示：
R G B R G B R G B R G B
+ - + - + - + - + - + -
+ - + - + - + - + - + -
+ - + - + - + - + - + -
+ - + - + - + - + - + -
+ - + - + - + - + - + -
… … … … … … … … … … … …
表7
逐级扫描多条栅极线，控制信号端SW将所有开关单元导通，第一测试端T1输出正极性测试信号，第四测试端T4输出负极性测试信号，而相邻两个测试端输出测试信号极性相反，数据线对对应的子像素的像素电极输入测试信号，最终得到表7中像素电极信号极性分布表格，正极性像素电极和负极性像素电极数量相同，将对公共电极造成的影响抵消，保证了公共电极的电压稳定性高。
此外，本申请实施例对于阵列基板的类型不作具体限制，下面结合图4至图7对本申请适用的阵列基板进行详细描述。
其中，阵列基板可以为底栅型阵列基板或顶栅型阵列基板。其中，参考图4所示，为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图，其结构为底栅型阵列基板，其中，阵列基板包括：
基板100；
设置于基板100任一表面的第一导电层200，第一导电层200包括栅极线和栅极G；
设置于第一导电层200背离基板100一侧的栅介质层300；
设置于栅介质层300背离基板100一侧的半导体层400，半导体层400包括有源区A；
设置于半导体层400背离基板100一侧的第二导电层500，第二导电层500包括数据线和源S/漏D极，其中，栅极S、有源区A、源S/漏D极形成薄膜晶体管；
或者，参考图5所示，为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图，其结构为顶栅型阵列基板，其中，阵列基板包括：
基板100；
设置于基板100任意一表面的半导体层400，所述半导体层400包括有源区A；
设置于半导体层400背离基板100一侧的栅介质层300；
设置于栅介质层300背离基板100一侧的第一导电层200，第一导电层200包括栅极线和栅极G；
设置于第一导电层200背离基板100一侧的栅绝缘层301；
设置于栅绝缘层301背离基板100一侧的第二导电层500，第二导电层500包括数据线和源S/漏D极，其中，栅极S、有源区A、源S/漏D极形成薄膜晶体管。
另外，本申请实施例对于阵列基板的像素电极和公共电极的位置不作限制。具体的，基于图4或图5所示的阵列基板，并结合图6和图7所示，对本申请实施例提供的阵列基板中像素电极和公共电极位置进行描述，其中，
参考图6所示，为本申请实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图，阵列基板包括：
设置于第二导电层500背离基板100一侧的第一绝缘层601；
设置于第一绝缘层601背离基板100一侧的第一电极700；
设置于第一电极700背离基板100一侧的第二绝缘层800；
设置于第二绝缘层800背离基板一侧的第二电极900。
参考图6所示的阵列基板，其中，第一电极700为公共电极，第二电极900为像素电极；或者，第一电极700为像素电极，第二电极900为公共电极。
另外，本申请实施例提供的阵列基板中公共电极和像素电极还可以位于同一导电层，参考图7所示，为本申请实施例提供的又一阵列基板的结构示意图，其中，阵列基板包括：
设置于第二导电层500背离基板100一侧的第三绝缘层602；
设置于第三绝缘层602背离基板100一侧的驱动电极层701，驱动电极层701设置有公共电极和像素电极。
基于上述任意一实施例提供的阵列基板，本申请实施例还提供了一种测试方法，参考图8所示，为本申请实施例提供的一种测试方法的流程图，其中，测试方法用于测试上述任意一实施例提供的阵列基板，包括：
S1、同时控制所述多个开关单元导通；
S2、逐级扫描多条栅极线，并同时对相邻两个子像素组中的第i子像素列所对应的测试端分别输出正极性测试信号和负极性测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同。
其中，任意子像素组中相邻两个子像素列所对应的测试端输出的测试信号的极性相反。
此外，本申请实施例还提供了一种显示面板，参考图9所示，为本申请实施例提的一种显示面板的结构示意图，其中，显示面板包括上述任意一实施例提供的阵列基板101；
彩膜基板102；
以及，设置于阵列基板101和彩膜基板102之间的液晶层103。
最后，本申请实施例还提供了一种显示装置，参考图10所示，为本申请实施例提供的一种显示装置的结构示意图，其中，显示装置包括上述实施例提供的显示面板201；
以及，设置于所述显示面板201受光面的背光模组202。
本申请实施例提供的一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，多条沿第一方向排列的栅极线；多条沿第二方向排列的数据线，其中，所述第一方向和所述第二方向交叉从而限定多个子像素，其中，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿所述第二方向排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数；多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；以及多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，所述至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其中，i为小于等于M正整数。
由上述内容可知，本申请实施例提供的技术方案，在对阵列基板进行测试时，控制所述多个开关单元导通；逐级扫描所述多条栅极线，相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应的测试端同时输出测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同，即，在扫描一栅极线时，测试端输出测试信号，且对多条数据线中一半输入了正极性测试信号，而对另一半输入了负极性测试线号，避免了像素电极对公共电极上的电压的影响，提高了公共电极的电压稳定性，进而提高了测试效果。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (13)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括：
多条沿第一方向排列的栅极线；
多条沿第二方向排列的数据线，其中，所述第一方向和所述第二方向交叉从而限定多个子像素，其中，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿所述第二方向排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数；
多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；以及
多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，所述至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其中，i为小于等于M正整数；
相邻两个子像素组中的第i子像素列所对应的测试端分别输出正极性测试信号和负极性测试信号；
位于同一子像素列的所有子像素的极性相同，对于输入测试信号的子像素列中，输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同且任意相邻两个子像素列的极性相反。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，在所述M为奇数时，相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应的测试端输出的测试信号的极性相反。
3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，M为2，且所述第1子像素列包括交替排列的第一颜色子像素和第二颜色子像素，所述第2子像素列包括交替排列的第三颜色子像素和第四颜色子像素；
或者，M为3，且所述第1子像素列包括多个第一颜色子像素，所述第2子像素列包括第二颜色子像素，所述第3子像素列包括第三颜色子像素。
4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述多个开关单元均为相同导电类型的开关管，且所述多个开关单元的控制端均连接至同一控制信号端。
5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括多个触控电极和多条触控电极引线，所述触控电极为公共电极分割而成，且每条触控电极引线分别与一触控电极电性连接，其中，
所述触控电极在显示阶段被施加公共电压，在触控阶段被施加触控检测信号。
6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括：
基板；
设置于所述基板任一表面的第一导电层，所述第一导电层包括所述栅极线和栅极；
设置于所述第一导电层背离所述基板一侧的栅介质层；
设置于所述栅介质层背离所述基板一侧的半导体层，所述半导体层包括有源区；
设置于所述半导体层背离所述基板一侧的第二导电层，所述第二导电层包括所述数据线和源/漏极，其中，所述栅极、有源区、源/漏极形成薄膜晶体管；
或者，所述阵列基板包括：
基板；
设置于所述基板任一表面的半导体层，所述半导体层包括有源区；
设置于所述半导体层背离所述基板一侧的栅介质层；
设置于所述栅介质层背离所述基板一侧的第一导电层，所述第一导电层包括所述栅极线和栅极；
设置于所述第一导电层背离所述基板一侧的栅绝缘层；
设置于所述栅绝缘层背离基板一侧的第二导电层，所述第二导电层包括所述数据线和源/漏极，其中，所述栅极、有源区、源/漏极形成薄膜晶体管。
7.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括：
设置于所述第二导电层背离所述基板一侧的第一绝缘层；
设置于所述第一绝缘层背离所述基板一侧的第一电极；
设置于所述第一电极背离所述基板一侧的第二绝缘层；
设置于所述第二绝缘层背离所述基板一侧的第二电极。
8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，所述第一电极为公共电极，所述第二电极为像素电极；
或者，所述第一电极为像素电极，所述第二电极为公共电极。
9.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括：
设置于所述第二导电层背离所述基板一侧的第三绝缘层；
设置于所述第三绝缘层背离所述基板一侧的驱动电极层，所述驱动电极层设置有公共电极和像素电极。
10.一种测试方法，其特征在于，用于测试权利要求1～9任意一项所述的阵列基板，包括：
同时控制所述多个开关单元导通；
逐级扫描所述多条栅极线，并同时对相邻两个子像素组中的第i子像素列所对应的测试端分别输出正极性测试信号和负极性测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同。
11.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，任意子像素组中相邻两个子像素列所对应的测试端输出的测试信号的极性相反。
12.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1～9任意一项所述的阵列基板。
13.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求12所述的显示面板。
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