DE102016115785A1 - Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen - Google Patents

Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen Download PDF

Info

Publication number
DE102016115785A1
DE102016115785A1 DE102016115785.6A DE102016115785A DE102016115785A1 DE 102016115785 A1 DE102016115785 A1 DE 102016115785A1 DE 102016115785 A DE102016115785 A DE 102016115785A DE 102016115785 A1 DE102016115785 A1 DE 102016115785A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
frequency
mixer
local oscillator
digital
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE102016115785.6A
Other languages
English (en)
Inventor
Oliver Frank
Jochen Oliver Schrattenecker
Günter Erich Haider
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Priority to DE102016115785.6A priority Critical patent/DE102016115785A1/de
Priority to JP2017003848U priority patent/JP3213331U/ja
Priority to CN201710734789.7A priority patent/CN107786238B/zh
Priority to US15/685,542 priority patent/US10090939B2/en
Priority to JP2017160920A priority patent/JP6462799B2/ja
Publication of DE102016115785A1 publication Critical patent/DE102016115785A1/de
Priority to US16/105,431 priority patent/US10205541B2/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/38Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
    • H04B1/40Circuits
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/0082Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0085Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using test signal generators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31708Analysis of signal quality
    • G01R31/31709Jitter measurements; Jitter generators
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B15/00Suppression or limitation of noise or interference
    • H04B15/005Reducing noise, e.g. humm, from the supply
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/10Monitoring; Testing of transmitters
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/10Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/11Monitoring; Testing of transmitters for calibration
    • H04B17/14Monitoring; Testing of transmitters for calibration of the whole transmission and reception path, e.g. self-test loop-back
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/20Monitoring; Testing of receivers

Abstract

Hierin ist eine integrierte Schaltung beschrieben. Gemäß einer Ausgestaltung weist die integrierte Schaltung einen lokalen Oszillator mit einem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) auf, der ein lokales Oszillatorsignal erzeugt. Ferner weist die integrierte Schaltung einen Frequenzteiler auf, der, dem VCO nachgeschaltet, mit diesem gekoppelt ist. Der Frequenzteiler stellt ein frequenzgeteiltes lokales Oszillatorsignal bereit, indem er die Frequenz des lokalen Oszillatorsignals um einen konstanten Faktor verringert. Ein erstes Testpad der integrierten Schaltung ist dazu ausgebildet, ein Referenzoszillatorsignal zu empfangen. Ferner weist die integrierte Schaltung einen ersten Mischer auf, der das Referenzoszillatorsignal und das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal empfängt, um das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal herabzuwandeln.

Description

  • TECHNISCHES GEBIET
  • Die vorliegende Offenbarung betrifft das Gebiet von Radiofrequenz-(RF)-Schaltungen. Einige Ausgestaltungen betreffen einen RF-Chip, der "Design zum Test"-Merkmale (engl.: "design for test"; DFT) aufweist, die eine verbesserte automatische Testung eines in einen Chip integrierten RF-Oszillators (engl.: „on-chip RF oscillator“) ermöglichen.
  • HINTERGRUND
  • Radiofrequenz-(RF)-Sendeempfänger und -Empfänger lassen sich bei zahlreichen Anwendungen finden, insbesondere auf dem Gebiet der drahtlosen Kommunikation und Radarsensoren. Im Automotive-Bereich gibt es einen steigenden Bedarf an Radarsensoren, die in sogenannten "adaptiven Fahrtsteuerungs"-(engl.: "adaptive cruise control"; ACC)- oder "Radarfahrtsteuerungs"-(engl.: "radar cruise control"; RCC)-Systemen verwendet werden. Derartige Systeme können beispielsweise verwendet werden, um automatisch die Geschwindigkeit eines Fahrzeugs einzustellen, um einen sicheren Abstand von anderen Automobilen oder anderen Objekten voraus aufrecht zu erhalten.
  • Moderne Radarsysteme verwenden hochintegrierte RF-Schaltungen, die sämtliche Kernfunktionen eines RF-Frontends eines Radar-Sendeempfängers in einem einzigen Chip-Package (Ein-Chip-Sendeempfänger) enthalten können. Derartige RF-Frontends können, unter anderem, einen spannungsgesteuerten Oszillator (engl.: "voltage controlled oscillator"; VCO), Verstärker wie beispielsweise Leistungsverstärker, rauscharme Verstärker (engl.: "low noise amplifiers"; LNAs), Mischer, Filter aufweisen. Ein oder mehr Analog-Digital-Wandler (engl.: "analog-to-digital converter"; ADC) können ebenfalls enthalten sein, um ein digitales Ausgangssignal bereitzustellen. Ferner können der Chip oder das Chip-Package ein oder mehr Antennen enthalten. Radiofrequenzchips wie beispielsweise Halbleiterchips, die ein RF-Frontend eines Radarsensors enthalten, werden auch als monolithisch integrierte Mikrowellenschaltungen (engl.: "monolithic microwave integrated circuits"; MMICs) bezeichnet.
  • Radaranwendungen, die in Automobilen eingesetzt werden, sind Gegenstand verschiedener Standards betreffend Straßenverkehrssicherheit, beispielsweise des mit "Road Vehicles-Functional Safety" bezeichneten funktionalen Sicherheitsstandards ISO 26262. Um die funktionale Sicherheit eines Radarsensors sicherzustellen, ist es wichtig, zu wissen, ob der gegenwärtige Zustand des Radarsensors eine zuverlässige Abstands- und Geschwindigkeitsmessung zulässt. Allerdings kann Zuverlässigkeit auch bei anderen Anwendungen als Radar Thema sein.
  • Bei Radarsystemen begrenzt das Gesamt-Grundrauschen (engl.: "overall noise floor") die Empfindlichkeit, mit der Radarziele erkannt werden können. In dieser Hinsicht wird darauf hingewiesen, dass die Phasenrausch-Eigenschaften des On-Chip-Oszillators einen signifikanten Einfluss auf das Gesamt-Grundrauschen und damit auf die Empfindlichkeit und Genauigkeit der Abstands- und Geschwindigkeitsmessung haben können. Um sicher zu stellen, dass der On-Chip-RF-Oszillator innerhalb der gewünschten Spezifikationen arbeitet, können die RF-Chips (MMICs), die die RF-Oszillatoren enthalten, Gegenstand verschiedener automatischer Tests sein, welche Tests zur Charakterisierung der Rauscheigenschaften des On-Chip-RF-Oszillators enthalten. Für eine ökonomische Herstellung sind die Dauer dieser automatischen Tests und die Anzahl von Chips, die parallel getestet werden können, wichtige Parameter.
  • ÜBERBLICK
  • Hierin wird eine integrierte Schaltung beschrieben. Gemäß einer Ausgestaltung weist die integrierte Schaltung einen lokalen Oszillator mit einem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) auf, der ein lokales Oszillatorsignal erzeugt. Ferner weist die integrierte Schaltung einen Frequenzteiler auf, der, dem VCO nachgeschaltet, mit diesem gekoppelt ist. Der Frequenzteiler stellt ein frequenzgeteiltes lokales Oszillatorsignal bereit, indem er die Frequenz des lokalen Oszillatorsignals durch einen konstanten Faktor teilt. Ein erstes Testpad der integrierten Schaltung ist dazu ausgebildet, ein Referenzoszillatorsignal zu empfangen. Ferner weist die integrierte Schaltung einen ersten Mischer auf, der das Referenzoszillatorsignal und das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal empfängt, um das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal herabzuwandeln.
  • Weiterhin wird hier ein Verfahren zum Testen eines RF-Oszillators beschrieben, der in eine monolithisch integrierte Mikrowellenschaltung (MMIC) integriert ist. Gemäß einer Ausgestaltung umfasst das Verfahren das Teilen der Frequenz eines RF-Oszillatorsignals, das durch den RF-Oszillator erzeugt wird, durch einen in die MMIC integrierten Frequenzteiler, um ein RF-Signal mit reduzierter Frequenz zu erzeugen. Das Verfahren umfasst ferner das Herabwandeln des RF-Signals mit einer verringerten Frequenz durch einen in die MMIC integrierten Mischer, um ein Mischer-Ausgangssignal zu erzeugen. Der Mischer verwendet für das Herabwandeln ein Referenz-Oszillatorsignal, das durch eine externe Testeinrichtung erzeugt und dem Mischer über ein erstes Testpad der MMIC zugeführt wird. Schließlich umfasst das Verfahren das Verarbeiten des Mischer-Ausgangssignals.
  • Des Weiteren wird hier ein System beschrieben, das eine automatische Testeinrichtung zum Testen von monolithisch integrierten Mikrowellenschaltungen (MMICs) und eine zu testende MMIC aufweist. Gemäß einer Ausgestaltung enthält die ATE einen Referenzoszillator, der ein Referenzoszillatorsignal erzeugt. Die MMIC enthält eine integrierte RF-Schaltung, die einen lokalen Oszillator mit einem spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) enthält, der ein lokales Oszillatorsignal erzeugt. Die integrierte RF-Schaltung weist ferner einen Frequenzteiler auf, der, dem VCO nachgeschaltet, mit diesem gekoppelt ist. Der Frequenzteiler stellt ein frequenzgeteiltes lokales Oszillatorsignal bereit, indem er die Frequenz des lokalen Oszillatorsignals durch einen konstanten Faktor wählt. Die integrierte RF-Schaltung enthält ferner ein erstes Testpad zum Empfangen des Referenzoszillatorsignals von der ATE. Ein Mischer, der in die MMIC integriert ist, empfängt das Referenzoszillatorsignal über das erste Testpad und empfängt ferner das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal, um das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal herabzuwandeln.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die Erfindung lässt sich unter Bezugnahme auf die folgenden Zeichnungen und Beschreibungen leichter verstehen. Die Komponenten in den Figuren sind nicht notwendigerweise maßstabsgetreu; stattdessen wird Wert darauf gelegt, die Prinzipien der Erfindung zu veranschaulichen. Darüber hinaus bezeichnen in den Figuren gleiche Bezugszeichen entsprechende Teile. Zu den Zeichnungen:
  • 1 ist ein Blockdiagramm, das eine Beispielstruktur eines Radarsensors zeigt.
  • 2 ist ein Schaltbild, das die Grundstruktur eines Empfangskanals eines RF-Sendeempfängers oder -Empfängers zeigt.
  • 3 ist ein Blockdiagramm, das eine Beispiel-Implementierung eines RF-Oszillators (lokaler Oszillator) zeigt, der eine PLL zum Einstellen der Oszillationsfrequenz enthält.
  • 4 ist ein Blockdiagramm, das einen Testaufbau zeigt, der verwendet werden kann, um die Phasenrauscheigenschaften eines RF-Oszillators zu charakterisieren; der Testaufbau verwendet die sogenannte Referenzoszillatortechnik, um das Spektrum des Phasenrauschens oder konkreter Parameter des Spektrums zu erhalten.
  • 5 ist ein Blockdiagramm, das eine erste beispielhafte Ausgestaltung einer monolithisch integrierten Mikrowellenschaltung (MMIC) zeigt, die dazu in der Lage ist, ein externes Referenzoszillatorsignal zum Testen von Rauschcharakteristika des internen RF-Oszillators zu empfangen.
  • 6 ist ein Blockdiagramm, das eine zweite beispielhafte Ausgestaltung einer MMIC zeigt, die dazu in der Lage ist, ein externes Referenzoszillatorsignal zum Testen von Rauschcharakteristika des internen RF-Oszillators zu empfangen.
  • 7 ist ein Blockdiagramm, das eine dritte beispielhafte Ausgestaltung zeigt, die eine geringfügige Modifikation des Beispiels gemäß 5 darstellt.
  • 8 ist ein Blockdiagramm, das eine vierte beispielhafte Ausgestaltung einer MMIC zeigt, die dazu in der Lage ist, ein externes Referenzoszillatorsignal zum Testen von Rauschcharakteristika des internen RF-Oszillators zu empfangen, wobei die Rauschcharakteristika auf dem Chip bestimmt werden.
  • 9 ist ein Blockdiagramm einer allgemeinen Ausgestaltung einer MMIC, die dazu in der Lage ist, ein externes Referenzoszillatorsignal zum Testen des internen RF-Oszillators zu empfangen.
  • 10 ist ein Flussdiagramm, das ein Beispielverfahren zum Testen eines in eine MMIC integrierten RF-Oszillators zu testen.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG
  • Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend im Kontext eines Radar-Sendeempfängers erörtert. Es versteht sich jedoch, dass die vorliegende Erfindung auch bei von Radar verschiedenen Anwendungen wie beispielsweise RF-Sendeempfängern von RF-Kommunikationsgeräten, eingesetzt werden kann. Vielmehr hängt der hier beschriebene Ansatz zum Testen der Eigenschaften eines On-Chip-RF-Oszillators (üblicherweise als "lokaler Oszillator" oder LO bezeichnet) nicht von der konkreten Anwendung des Systems ab.
  • Ein sogenanntes "Ein-Chip-Radar" kann Schaltungen aufweisen, die die zur Entfernungs- und/oder Geschwindigkeitsmessung benötigten Kern-RF-Funktionen in einem Chip enthalten. Die Siliziumchips, die diese RF-Schaltung enthalten, werden üblicherweise als monolithisch integrierte Mikrowellenschaltungen (MMICs) bezeichnet. Eine Radar-MMIC kann unter anderem eine RF-Frontend-Schaltung wie beispielsweise RF-Oszillatoren, Verstärker und Mixer enthalten, sowie eine Basisband-Schaltung wie beispielsweise Verstärker und analoge Filter. Zusätzlich kann in dem Chip ein Digital-Analog-Wandler enthalten sein, um das Basisband- oder IF-Band-Signal zu digitalisieren. Bei künftigen Sensordesigns kann in dem Chip, zusammen mit dem ADC, der Basisband-Schaltung und der RF-Frontend-Schaltung, auch ein digitaler Signalprozessor enthalten sein. Allerdings ist ein Signalprozessor bei heutigen Radarsensoren üblicherweise in einem separaten Chip implementiert.
  • 1 zeigt ein Blockdiagramm, das eine beispielhafte Struktur eines Radarsensors zeigt. Allerdings kann eine ähnliche Struktur auch bei RF-Sendeempfängern gefunden werden, die bei anderen Anwendungen wie beispielsweise Kommunikationssystemen eingesetzt werden. Dementsprechend sind zumindest eine Sendeantenne 5 (TX-Antenne) und zumindest eine Empfangsantenne 6 (RX-Antenne) an ein in einer MMIC 1 enthaltenes RF-Frontend angeschlossen. Das RF-Frontend 10 kann sämtliche zur RF-Signalverarbeitung erforderlichen Schaltungskomponenten enthalten. Derartige Schaltungskomponenten enthalten beispielsweise einen lokalen Oszillator (LO), RF-Leistungsverstärker, rauscharme Verstärker (LNAs), Richtkoppler wie beispielsweise Ringkoppler (engl.: "rat-race-coupler") und Zirkulatoren, sowie Mischer für die Herabwandlung des RF-Signals in das Basisband oder ein IF-Band oder für die Aufwärtswandlung des Basisbandsignals oder IF-Signals in das RF-Band. Es wird darauf hingewiesen, dass Antennen-Arrays anstelle von einzelnen Antennen verwendet werden können. Das dargestellte Beispiel zeigt ein bi-statisches (oder pseudo-monostatisches) Radarsystem, das separate RX- und TX-Antennen aufweist. Im Fall eines monostatischen Radarsystems kann eine einzelne Antenne oder ein einzelnes Antennen-Array sowohl für das Empfangen als auch das Senden elektromagnetischer (Radar-)Signale verwendet werden. In diesem Fall kann ein Richtkoppler (z.B. ein Zirkulator) verwendet werden, um RF-Signale, die an den Radarkanal zu senden sind, von den vom Radarkanal empfangenen RF-Signalen zu trennen.
  • Im Fall eines frequenzmodulierten Dauerstrich-(FMCW)-Radarsystems liegen die gesendeten RF-Signale, die durch die TX-Antenne 5 abgestrahlt werden, im Bereich oberhalb etwa 20 GHz (z.B. 24 GHz) und 81 GHz (z.B. 77 GHz bei Automotive-Anwendungen) und sind aus sogenannten "Chirps" (Frequenzrampen) zusammengesetzt. Die von der RX-Antenne 6 empfangenen RF-Signale enthalten die Radarechos, d.h. die Signale, die an sogenannten Radarzielen zurückgestreut werden. Wie erwähnt werden die empfangenen RF-Signale in das Basisband herabgewandelt und in dem Basisband unter Verwendung von analoger Signalverarbeitung (siehe in 1 die Basisbandsignalverarbeitungskette 13) weiterverarbeitet, was im Wesentlichen die Filterung und Verstärkung des Basisbandsignals beinhaltet. Das Basisbandsignal wird schließlich unter Verwendung von einem oder mehr Analog-Digital-Wandlern 40 digitalisiert und in der digitalen Domäne weiterverarbeitet (siehe in 1 die z.B. in einem digitalen Signalprozessor 15 implementierte digitale Signalverarbeitungskette). Das Gesamtsystem wird durch einen Systemcontroller 16 gesteuert, der zumindest teilweise unter Verwendung eines Prozessors wie beispielsweise einem Mikrocontroller, der geeignete Firmware ausführt, implementiert sein kann. Wie in 1 angedeutet ist, können das RF-Frontend 10 und die analoge Basisbandsignalverarbeitungskette (und optional der ADC 14) in die MMIC 1 integriert sein.
  • 2 zeigt die Empfangsstrecke (Empfangskanal) eines RF-Empfangskanals, wie er zum Beispiel in einer Radarentfernungsmesseinrichtung enthalten ist. Gemäß dem vorliegenden Beispiel enthält der Empfangskanal einen Mischer 12, dem ein RF-Eingangssignal SRX und RF-Oszillatorsignal SLO (Mischer-Referenzsignal), das dazu verwendet wird, das RF-Eingangssignal SRX in das Basisband oder ein IF-Band herabzuwandeln, zugeführt wird. Das RF-Eingangssignal SRX kann durch eine Antenne bereitgestellt werden (vgl. 1, RX-Antenne 6), und es kann, bevor es dem Mischer 12 zugeführt wird, vorverstärkt werden. Bei dem vorliegenden Beispiel wird das verstärkte RF-Eingangssignal (Signal SRX') durch den RF-Verstärker 11 bereitgestellt, und das RF-Oszillatorsignal SLO wird durch einen lokalen Oszillator LO, der zum Beispiel einen in einer Phasenregelschleife (engl.: "phase locked loop"; PLL) gekoppelt sein kann, erzeugt. Allerdings kann das RF-Oszillatorsignal SLO abhängig von der jeweiligen Anwendung durch eine andere Schaltung bereitgestellt werden. Wenn es in einer Radarentfernungsmesseinrichtung eingesetzt wird, kann das RF-Oszillatorsignal SLO in einem Bereich zwischen etwa 20 GHz und 81 GHz (üblicherweise etwa 77 GHz) liegen. Allerdings sind höhere oder geringere Frequenzen ebenso verwendbar. Im Fall eines sogenannten frequenzmodulierten Dauerstrich-(FMCW)-Radarsensors ist das RF-Oszillatorsignal SLO üblicherweise frequenzmoduliert. Das Arbeitsprinzip eines FMCW-Radars ist jedoch als solches bekannt und wird deshalb hier nicht weiter erörtert. Der Mischer 12 und sämtliche Schaltungskomponenten, die dem Mischer 12 vorgeschaltet sind, können als Teile des RF-Frontends 10 betrachtet werden. Bei dem vorliegenden Beispiel wird die Herabwandlung in einer Stufe durch einen Mischer 12 erreicht. Alternativ kann die Herabwandlung auch in zwei oder mehr Stufen unter Verwendung von zwei oder mehr in Reihe geschalteten Mischern erreicht werden.
  • Eine oder mehr Antennen und, wie oben erwähnt, digitale-Signalprozessor-Kerne können in demselben Chip-Package enthalten sein, wie das RF-Frontend (die RF-Schaltung und Mischer) und die Basisbandsignalverarbeitungskette. Da praktisch das gesamte Radarentfernungsmesssystem in ein einziges Chip-Package integriert ist, wird das System auch als System-in-Package (engl.: "systeme-in-a-package"; SiP) bezeichnet. Allerdings können der ADC und der Digitalteil des Systems (der üblicherweise unter Verwendung CMOS-Technologie hergestellt ist) auch in einem oder mehr separaten Chips angeordnet sein. Ähnlich kann die Antenne in einem separaten Package angeordnet sein. Bei einigen Ausgestaltungen werden für das Packaging der RF- und Basisband-Schaltung ebenso wie für die Antenne(n) sogenannte "Embedded Wafer Level Ball Grid Array(eWLB)-Packages" verwendet.
  • Wie erwähnt wandelt der Mischer das RF-Eingangssignal (SRX') (das verstärkte Antennensignal) in das Basisband herab. Das entsprechende Basisbandsignal (das Mischerausgangssignal) ist mit SBB bezeichnet. Die Herabwandlung kann in einer einzigen Stufe erreicht werden (d.h. vom RF-Band in das Basisband), oder über eine oder mehr Zwischenstufen (vom RF-Band in ein IF-Band und nachfolgend in das Basisband). Das Basisbandsignal SBB wird dann einer analogen Basisbandsignalverarbeitung unterzogen, die zum Beispiel durch die Signalverarbeitungskette 13 bereitgestellt wird. Die Signalverarbeitungskette 13 enthält zumindest ein analoges Filter, um unerwünschte Seitenbänder oder Spiegelfrequenzen zu unterdrücken. Die Signalverarbeitungskette 13 kann zumindest eine der folgenden Komponenten enthalten: Ein Tiefpassfilter, ein Hochpassfilter und einen Basisbandverstärker. Das gefilterte Basisbandsignal (das Ausgangssignal der Signalverarbeitungskette 13) ist mit SBB' bezeichnet. Empfänger, die einen Mischer verwenden, um das RF-Eingangssignal in das Basisband herabzuwandeln, sind als solche als Homodyn-Empfänger bekannt und werden daher nicht ausführlicher erörtert. Das gefilterte Basisbandsignal SBB' wird dann abgetastet und in ein digitales Signal SRXDIG (Analog-Digital-Wandler 14) gewandelt, das dann in der digitalen Domäne, zum Beispiel einem Signalprozessor 15, weiterverarbeitet wird. Im Fall einer Herabwandlung in ein IF-Band anstelle in das Basisband kann auch das IF-Signal auf dieselbe Weise wie das Basisbandsignal bei dem vorliegenden Beispiel verarbeitet und nachfolgend für eine digitale Demodulation des IF-Signals und weitere digitale Verarbeitung digitalisiert werden. Die digitale Signalverarbeitung kann unter Verwendung z.B. eines digitalen Signalprozessors (DSP), der geeignete Softwareanweisungen ausführt, durchgeführt werden. Zum diesem Zweck können ein oder mehr Prozessorkerne in demselben Chip wie die analoge Signalverarbeitungskette 13 implementiert sein. Allerdings werden die digitalen Signalprozessoren bei den vorliegenden Implementierungen üblicherweise in separaten Halbleiterchips bereitgestellt.
  • 2 zeigt die Empfangsstrecke eines RF-Empfängers oder -Sendeempfängers. Bei sogenannten bi-statischen oder pseudo-monostatischen Radarsystemen kann der Empfänger von dem Sender getrennt sein, da der Empfänger und der Sender getrennte Antennen verwenden. Allerdings lassen sich Empfangsstrecken, die eine ähnliche Struktur wie in 1 gezeigt aufweisen, auch in einem monostatischen Radarsystem, bei dem dieselbe Antenne verwendet wird, um RF-Signale zu senden und zu empfangen, finden, und die vorliegenden Erläuterungen gelten gleichermaßen für monostatische Radarsysteme.
  • 3 zeigt eine beispielhafte Implementierung eines RF-Oszillators, der aus einem spannungsgesteuerten Oszillator VCO besteht, der in einer Phasenregelschleife (engl.: "phase locked loop"; PLL) gekoppelt ist. Ein derartiger RF-Oszillator kann als lokaler Oszillator LO in einem RF-Sendeempfänger oder -Empfänger, wie er beispielsweise in 2 dargestellt ist, verwendet werden.
  • Gemäß dem in 3 gezeigten Beispiel enthält der lokale Oszillator LO eine PLL mit einem Fraktional-N-Multimodulus-Frequenzteiler. Ein derartiger Fraktional-N-Multimodulus-Frequenzteiler besteht aus einem Multi-Modulus-Teiler MMD und einem Σ-Δ-Modulator SDM, der dazu ausgebildet ist, den (ganzzahligen) Frequenzteilermodulus kontinuierlich zu ändern, um eine rationale Zahl als effektiven Frequenzteilermodulus zu erhalten. Das Grundprinzip einer derartigen PLL ist als solches bekannt und z.B. in Tom A.D. Riley: Delta-Sigma Modulation in Fractional-N Frequency Synthesis, in: IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 28, no. 5, May 1993 beschrieben.
  • Die PLL enthält einen spannungsgesteuerten Oszillator VCO, der ein oszillierendes Ausgangssignal SLO erzeugt, das eine mit fLO bezeichnete Frequenz besitzt, die gemäß einem Steuereingang des Oszillators VCO (Oszillatorsteuerungssignal SCTRL) festgelegt wird. Das oszillierende Ausgangssignal SLO kann unter Verwendung eines Frequenzteilers DIV, der ein konstantes Teilungsverhältnis M anwendet, vorgeteilt werden. Gemäß einem konkreten Beispiel kann das Teilungsverhältnis M 32 sein, so dass eine Oszillatorfrequenz fLO von etwa 80 GHz in eine vorgeteilte Oszillatorfrequenz fLO von etwa 2,5 GHz (das vorgeteilte Oszillatorsignal SLO') transformiert wird. Das Signal SLO' kann dann dem Multi-Modulus-Frequenzteiler MMD, der ein auswählbares (ganzzahliges) Teilungsverhältnis N besitzt, zugeführt werden. Das heißt, der Frequenzteiler MMD ist dazu ausgebildet, die seinem Eingang zugeführte Frequenz zu teilen und ein Teilerausgangssignal SPLL zu erzeugen, das eine Frequenz besitzt, die mit fPLL bezeichnet wird, wobei fLO' = N·fPLL und fLO = N·M·fPLL. Das Teilungsverhältnis N ist abhängig von einem Signal, das dem Select-Eingang des Frequenzteilers MMD zugeführt wird, wählbar. Das Ausgangssignal SPLL (Frequenz fPLL) des Frequenzteilers MMD wird auch als PLL-Taktsignal bezeichnet. Bei einer Radaranwendung kann die RF-Oszillatorfrequenz fLO zwischen 76 GHz und 81 GHz liegen, während das PLL-Taktsignal SPLL eine PLL-Taktfrequenz fPLL in einem Bereich von 160 MHz bis 200 MHz aufweisen kann. Anstelle der Verwendung eines Vorteilers DIV kann das Oszillatorsignal SLO direkt dem Multi-Modulus-Teiler MMD zugeführt werden, d.h., die Vorteilung der Oszillatorfrequenz fLO kann weggelassen werden.
  • Das Ausgangssignal SPLL des Frequenzteilers sowie ein Referenzsignal SREF, das eine Frequenz fREF aufweist, wird einem Phasendetektor PD (auch als Phasenkomparator bekannt) zugeführt. Abhängig von der Implementierung kann stattdessen ein Phasen-Frequenz-Detektor PFD eingesetzt werden. Phasendetektoren sowie Phasen-Frequenz-Detektoren werden auf dem Gebiet von PLLs allgemein eingesetzt und deshalb hier nicht ausführlicher erörtert.
  • Bei dem vorliegenden Beispiel kann das Referenzsignal SREF durch einen Frequenzvervielfacher FQM bereitgestellt werden, der dazu ausgebildet ist, die Frequenz fCLK (auch als System-Taktfrequenz bezeichnet) eines Referenzoszillators XTAL, bei dem es sich üblicherweise um einen Kristalloszillator handelt (der aber nicht notwendigerweise ein solcher sein muss), zu multiplizieren. Das heißt, die Frequenz fREF kann (indirekt) durch die Resonanzfrequenz eines Quarzkristalloszillators bestimmt werden. Alternativ kann das Referenzsignal SREF ohne irgendeine Frequenzvervielfachung durch den Referenzoszillator XTAL bereitgestellt werden. Die Referenzfrequenz fREF kann zum Beispiel in einem Bereich zwischen 160 MHz und 200 MHz liegen, während die durch den Referenzoszillator XTAL bereitgestellte System-Taktfrequenz fCLK zum Beispiel in einem Bereich von 40 MHz bis 80 MHz liegen kann. Bei den vorliegenden Beispielen verwendet der Frequenzvervielfacher FQM einen Multiplikationsfaktor zwischen 2 und 5. Allerdings können, abhängig von der Anwendung, verschiedene Multiplikationsfaktoren und Frequenzwerte für fCLK, fPLL und fLO verwendet werden.
  • Das Ausgangssignal SCTRL des Phasen-(Frequenz)-Detektors P(F)D wird üblicherweise durch eine Ladungspumpe erzeugt, die in der Ausgangsstufe des Phasendetektors enthalten ist. Das Ausgangssignal SCTRL kann als Fehlersignal angesehen werden, das durch ein Schleifenfilter LF, das die Bandbreite der Regelschleife bestimmt, gefiltert wird. Die Ladungspumpe treibt üblicherweise ein Stromsignal zu dem Schleifenfilter. Das Ausgangssignal des Schleifenfilters LF wird als Steuersignal SCTRL verwendet, um die Oszillatorfrequenz fLO des Oszillators VCO einzustellen und damit die Regelschleife zu schließen. Die geschlossene (Regel-)Schleife stellt sicher, dass die Frequenz fLO kontinuierlich auf einen derartigen Wert abgestimmt wird, dass die Phasen des Teilerausgangsignals SPLL und des Referenzsignals SREF zusammenpassen. Das heißt, die Phase ist "verriegelt" (engl.: "locked"). Verschiedene Implementierungen des Phasen-(Frequenz-)-Detektors P(F)D, die Ladungspumpen enthalten, sind als solche auf dem Fachgebiet bekannt und werden deshalb hier nicht ausführlicher erörtert.
  • Im Allgemeinen handelt es sich bei dem von dem Frequenzteiler MMD verwendeten Teilungsverhältnis N um eine ganze Zahl. Um ein nicht-ganzzahliges Teilungsverhältnis zu erzielen, kann das ganzzahlige Verhältnis N durch einen Σ-Δ-Modulator SDM moduliert werden, so dass das durchschnittliche (und effektive) Teilungsverhältnis eine rationale Zahl ist. Der Σ-Δ-Modulator SDM kann durch das PLL-Taktsignal SPLL (Taktfrequenz fPLL) getaktet werden, und ihm wird ein (z.B. digitaler) Eingangswert r, der eine rationale Zahl repräsentiert (z.B. zwischen 0 und 1 oder zwischen 0 und 2), zugeführt. Die an dem Ausgang des Σ-Δ-Modulators SDM erzeugten Werte R sind ganzzahlige Werte, die einen Durchschnittswert aufweisen, der gleich dem Eingangswert r ist. Zu dem Modulatorausgangssignal R kann ein ganzzahliger Offset-Wert X addiert werden (N = X + R). Der Summenwert N ist – im Mittel – gleich X + r und wird dann dem Select-Eingang des Teilers MMD zugeführt, der das Teilungsverhältnis gemäß dem Summenwert N einstellt. Das heißt, der Teiler MMD empfängt mit jedem Taktzyklus von SPLL ein aktualisiertes Teilungsverhältnis N entsprechend dem Modulatorausgangssignal. Wegen der Σ-Δ-Modulation ist das mittlere Teilungsverhältnis gleich X + r, d.h. ein Ganzzahlverhältnis X, das um einen Bruchwert r erhöht ist. Alternativ kann der ganzzahlige Offset bereits in dem Eingangswert r enthalten sein. In diesem Fall ist r kein Bruchteil zwischen 0 und 1, sondern vielmehr eine rationale Zahl in einem konkreten Intervall (z.B. dem Intervall [2, 8]). Üblicherweise werden Σ-Δ-Modulatoren verwendet, die eine mehrstufige Rauschformungs-(engl.: "multi stage noise shaping; MASH)-Struktur dritter Ordnung, welche auch als MASH3-Modulator bezeichnet werden, aufweisen.
  • Durch geeignetes Abstimmen des durch den Frequenzteiler MMD verwendeten (effektiv rationalen) Teilungsverhältnisses N kann eine Frequenzmodulation des RF-Oszillatorsignals SLO erreicht werden. Bei Radaranwendungen wird Frequenzmodulation insbesondere dazu verwendet, sogenannte Chirp-Signale (auch als Sweep-Signale bekannt) zu erzeugen. Bei einem Chirp-Signal oder einfach einem Chirp handelt es sich um ein Signal, bei dem die Frequenz mit der Zeit ansteigt ("up-chirp") oder abfällt ("down-chirp"). Chirp-Signale werden allgemein bei Sonar- und Radar-Anwendungen, aber auch bei anderen Anwendungen wie beispielsweise der Spreizbandübertragung (engl.: "spread sprectrum communications") eingesetzt. In der Praxis kann die Frequenzänderung linear (linearer Chirp, lineare Frequenzrampe) exponentiell (exponentieller Chirp) oder hyperbolisch (hyperbolischer Chirp) sein. Ein wirkungsvoller Weg, ein frequenzmoduliertes RF-Oszillatorsignal SLO zu erzeugen, besteht darin, das (rationale) Teilungsverhältnis X + r des Fraktional-N-Frequenzteilers geeignet zu verändern.
  • Wie in 2 zu erkennen ist, wird das Oszillatorsignal SLO auch als Mischer-Referenzsignal verwendet, das von dem Mischer dazu verwendet wird, das empfangene RF-Signal SRX' in das Basisband herabzuwandeln. Zusätzlich zu dem gewünschten Signal (d.h. dem gewünschten Chirp-Signal) enthält das Signal SLO des lokalen Oszillators Rauschen, insbesondere Amplituden- und Phasenrauschen, wobei Phasenrauschen problematischer ist, da es die Empfindlichkeit und Genauigkeit der Radarentfernungs- und -geschwindigkeitsmessungen verschlechtern kann. Da das Signal SLO des lokalen Oszillators durch den Mischer verwendet wird, wird das Phasenrauschen direkt in das Basisband konvertiert und ist damit auch in dem Basisbandsignal SBB sowie in dem digitalen Signal SRXDIG (siehe 2) enthalten.
  • In der Signalverarbeitung ist Phasenrauschen die Repräsentation von schnellen, kurzzeitigen, zufälligen Fluktuationen der Phase einer Wellenform in der Frequenzdomäne, die durch Instabilitäten in der Zeitdomäne, welche manchmal als "Jitter" bezeichnet werden, verursacht werden. Wie oben erwähnt ist das Phasenrauschen ein signifikanter Qualitätsparameter, und es kann wichtig sein, die Stärke des durch den lokalen Oszillator LO erzeugten Phasenrauschens zu kennen. Zum Beispiel wird bei einigen Anwendungen wie Automotive-Radarsensoren jede MMIC getestet, um während eines automatischen Tests (End-of-Line-Test) zu prüfen, ob das Phasenrauschen innerhalb der festgelegten Grenzen liegt.
  • 4 zeigt basierend auf einem Blockdiagramm eine Methode zur Messung des durch einen RF-Oszillator wie beispielsweise den in eine MMIC eines Radarsensors integrierten lokalen Oszillators LO (vgl. 2) erzeugten Phasenrauschens. Die Schaltungskomponenten, die die in 2 gezeigte Testschaltung bilden, können in einer automatisierten Testeinrichtung (engl.: "automatic test equipment"; ATE) 2 enthalten sein, die dazu verwendet werden kann, MMICs während eines End-of-Line-Tests zu prüfen. Die Testschaltung enthält einen rauscharmen RF-Referenzoszillator 21, der im Vergleich zu dem in dem zu testenden Gerät (engl.: "device under test"; DUT), d.h. der MMIC 1, enthaltenen lokalen Oszillator LO eine sehr geringe Rauschleistung erzeugt. Daher wird die Methode zum Analysieren des Phasenrauschens auch als Referenzoszillatormethode bezeichnet. Dementsprechend wird das durch die DUT erzeugte Oszillatorsignal SLO in den RF-Eingang eines Mischers 22 eingespeist, während das rauscharme Referenzoszillatorsignal STEST dem Referenzeingang des Mischers 22 zugeführt wird, um das Oszillatorsignal SLO in das Basisband herabzuwandeln. Das resultierende Basisbandsignal am Ausgang des Mischers ist mit SPN bezeichnet. Das Signal SPN, das, zur Entfernung unerwünschter Spiegelfrequenzen gefiltert (Filter 23), und durch einen rauscharmen Verstärker (LNA) 24 verstärkt werden kann, enthält im Wesentlichen das in dem Oszillatorsignal SLO enthaltene Phasenrauschen. Das gefilterte und verstärkte Signal SPN' wird dann durch einen ADC 25 digitalisiert und in der digitalen Domäne, z.B. unter Verwendung eines digitalen Signalprozessors 26 oder der CPU eines Personal Computers und geeigneter Software, weiterverarbeitet. Üblicherweise basiert die gewünschte Information auf der spektralen Leistungsdichte (engl.: "power spectral density; PSD) des Phasenrauschens, die zum Beispiel unter Verwendung der wohlbekannten Algorithmen der schnellen Fouriertransformation (engl.: "Fast-Fourier-Transform"; FFT) berechnet werden kann.
  • ATE-Systeme, die zum Testen von integrierten Oszillatoren gemäß der Referenzoszillatormethode verwendet werden können, sind auf dem Markt verfügbar. Ein Beispiel ist das UltraFLEX-Testsystem von Teradyne. Allerdings sind solche Systeme sehr teuer und es kann aufgrund der begrenzten Anzahl von durch die ATE-Systeme bereitgestellten Mischer nur eine kleine Anzahl von MMICs gleichzeitig getestet werden. Weiterhin sind rauscharme Referenzverstärker, die in demselben Frequenzbereich arbeiten wie der lokale On-Chip-Oszillator (d.h. im Fall von Radaranwendungen in dem Bereich von 76 bis 81 GHz) in Standard-ATEs nicht verfügbar. Allerdings sind Referenzoszillatoren, die bei Frequenzen bis zu etwa 6 GHz arbeiten, ohne weiteres verfügbar.
  • 5 zeigt eine Ausgestaltung der Empfangsstrecke eines RF-Sendeempfängers (oder -Empfängers), der das RF-Frontend 10 (lokaler Oszillator LO, RF-Verstärker 11, Mischer 12, analoge Basisbandverarbeitungskette 13), den Analog-Digital-Wandler 14, und den digitalen Signalprozessor 15, wie bei dem Beispiel gemäß 2 gezeigt, enthält. Der lokale Oszillator weist eine PLL auf, wie sie zum Beispiel in 3 gezeigt ist. In dieser Hinsicht wird, um die Wiederholung von Erläuterungen zu vermeiden, auf die 2 und 3 verwiesen. Im Vergleich zu dem Beispiel gemäß 2 weist das RF-Frontend 10, das in die MMIC 1 integriert ist, einen zusätzlichen Mischer 22' auf. Der RF-Eingang des Mischers 22' ist mit der PLL des lokalen Oszillators LO gekoppelt, so dass das frequenzgeteilte Oszillatorsignal SLO' dem RF-Eingang des Mischers 22' zugeführt wird. Der Referenzeingang des Mischers 22' ist mit einem Testpad P1 oder Testpin gekoppelt, an dem ein rauscharmes Referenzoszillatorsignal STEST eingespeist werden kann. Der rauscharme Referenzoszillator 21 kann Teil einer ATE 2 sein. Der Ausgang des Mischers 22' ist ferner mit einem weiteren Testpad P2 oder einem weiteren Testpin gekoppelt, an dem das herabgewandelte Rauschsignal SPN abgegriffen werden kann. Bei dem Beispiel gemäß 5 wird das herabgewandelte Rauschsignal SPN in der ATE 2 weiterverarbeitet, wobei das Signal SPN gefiltert (Filter 23), verstärkt (LNA 24) und digitalisiert (Analog-Digital-Wandler 25) wird. Das resultierende Digitalsignal wird, wie oben unter Bezugnahme auf 4 erläutert, in der digitalen Domäne weiterverarbeitet (siehe in 5 die in dem digitalen Signalprozessor 26 implementierte Spektralanalyse). Im Wesentlichen können die spektrale Leistungsdichte (PSD) des in dem Signal SPN enthaltenen Phasenrauschens oder ein zugehöriger Signalparameter unter Verwendung eines digitalen Signalprozessors wie beispielsweise der CPU eines Personal Computers oder dergleichen berechnet werden. Bei dem vorliegenden Beispiel sind die erwähnten Parameter die PSD des an dem Testpad/-pin P2 bereitgestellten Signals SPN für einen oder mehr konkrete Frequenzwerte (z.B. 100 kHz, 300 kHz und 1000 kHz). Nachfolgend kann die ATE 2 prüfen, ob die erwähnten Signalparameter (z.B. PSD-Werte bei bestimmten Frequenzen) einer vorgegebenen Spezifikation entsprechen, oder nicht. Das Resultat dieser Prüfung ist eine Bestanden-/Nicht-Bestanden-Entscheidung, die verwendet werden kann, um die betreffende MMIC als verworfen zu kennzeichnen oder die betreffende MMIC auszusortieren.
  • Die Integration des zusätzlichen Mischers 22' in das RF-Frontend 10 der MMIC 1 ermöglicht die End-of-Line-Testung der MMICs mit weniger komplexen ATE-Systemen. Weiterhin wird die Anzahl von MMICs, die simultan getestet werden können, signifikant, erhöht und sie wird im Wesentlichen nur durch die Anzahl der in dem ATE-System verfügbaren ADC-Kanäle begrenzt.
  • Es wird darauf hingewiesen, dass die Messung/Analyse des Phasenrauschens nicht auf dem Signal SLO des lokalen Oszillators basiert, das an dem Ausgang des spannungsgesteuerten Oszillators VCO bereitgestellt wird, sondern vielmehr auf einem frequenzgeteilten Oszillatorsignal SLO', das an den Ausgang des Frequenzteilers DIV, der dem spannungsgesteuerten Oszillator VCO nachgeschaltet und mit diesem gekoppelt ist, bereitgestellt wird. Wie oben erwähnt weist der Frequenzteiler DIV ein festes Teilungsverhältnis M auf, das sich während der Messung nicht ändert. Ein festes Teilungsverhältnis bedeutet nicht notwendigerweise, dass das Teilungsverhältnis fest verdrahtet (engl.: "hard-wired") ist. Das feste Teilungsverhältnis kann konfigurierbar sein, allerdings ändert es sich während der Testmessung nicht. Abhängig von der jeweiligen Implementierung können anstelle des einzelnen Frequenzteilers DIV zwei oder mehr in Reihe geschaltete Frequenzteiler vorhanden sein. Das dem RF-Eingang des Mischers 22' zugeführte Signal SLO' kann an dem Ausgang eines jeden Frequenzteilers in der PLL, der dem spannungsgesteuerten Oszillator VCO nachgeschaltet aber dem Fraktional-N-Teiler FND vorgeschaltet ist, abgegriffen werden.
  • Als illustratives Beispiel eines Teilungsverhältnisses für den Frequenzteiler DIV wird M = 32 angenommen. Ferner wird eine Frequenz fLO des lokalen Oszillators von 76,8 GHz (80 GHz) angenommen, sowie, dass die Frequenz des frequenzgeteilten lokalen Oszillatorsignals SLO' 2,4 GHz (2,5 GHz) beträgt. Daher wird der Frequenzbereich von 76,8 GHz bis 80 GHz auf den Frequenzbereich von 2,4 GHz bis 2,5 GHz abgebildet. Aufgrund der Vorteile des lokalen Oszillatorsignals SLO um einen Faktor M kann die Frequenz des Referenzoszillatorsignals STEST wesentlich geringer sein, als bei dem Beispiel gemäß 4, beispielsweise 2,5 GHz anstelle von 80 GHz. Das ATE-Testsystem muss lediglich einen rauscharmen Referenzoszillator 21 bereitstellen, der ein Referenzsignal im UHF-Band anstelle im EHF-(oder SHF-)-Band erzeugt.
  • 6 zeigt eine alternative Ausgestaltung der Empfangsstrecke eines RF-Sendeempfängers (oder -Empfängers), wie er bei dem Beispiel gemäß 2 gezeigt ist. Der lokale Oszillator enthält eine PLL, wie sie zum Beispiel in 3 gezeigt ist. Ähnlich zu dem vorangehenden Beispiel gemäß 5 ist in dem RF-Frontend 10 ein zusätzlicher Mischer 22' enthalten. Der RF-Eingang des Mischers 22' ist mit der PLL des lokalen Oszillators LO gekoppelt, so dass das frequenzgeteilte Oszillatorsignal SLO' dem RF-Eingang des Mischers 22' zugeführt wird. Der Referenzeingang des Mischers 22' ist mit dem Testpad P1 oder Testpin, an dem ein rauscharmes Referenzoszillatorsignal STEST eingespeist werden kann, gekoppelt. Das Ausgangssignal SPN wird allerdings nicht an das weitere Testpad P2 geleitet (Leitung bei dem Ausführungsbeispiel gemäß 5), sondern es wird vielmehr an den Schaltungsknoten N1 geleitet, der sich an dem Eingang der in der Empfangsstrecke angeordneten Basisbandsignalverarbeitungskette 13 befindet, die dazu ausgebildet ist, das empfangene Radarsignal während des Normalbetriebs des Radarsensors zu verarbeiten.
  • Bei dem vorliegenden Beispiel wird die Aufgabe des Filterns und Digitalisierens des herabgewandelten Oszillatorsignals SPN durch die integrierte Basisbandsignalverarbeitungskette 13 (die z.B. ein Filter und einen Verstärker enthält) und den integrierten Analog-Digital-Wandler 14 erreicht. Das resultierende Digitalsignal SPNDIG (das an einem Schaltungsknoten N2 verfügbar ist) wird dann dem Testpad P2 zugeführt, wo es durch die ATE 2 abgegriffen werden kann. Die ATE 2 enthält einen digitalen Signalprozessor zur Verarbeitung des Digitalsignals in der digitalen Domäne, wie dies vorangehend bei dem Beispiel gemäß 5 erläutert wurde. Das digitale Signal SPNDIG kann unter Verwendung von differentieller Niederspannungssignalübertragung (engl.: "Low Voltage Differential Signaling"; LVDS) an die ATE 2 geleitet werden. Deshalb kann das Testpad P2 aus zwei Teilen bestehen, um eine differentielle Signalübertragung an die ATE 2 zu ermöglichen. Mit Ausnahme der Verarbeitung des Ausgangssignals SPN des zusätzlichen Mischers 22' ist das Ausführungsbeispiel gemäß 6 identisch mit dem vorangehenden Ausführungsbeispiel gemäß 5, und es wird Bezug genommen auf die obige Beschreibung.
  • 7 zeigt eine weitere beispielhafte Ausgestaltung, bei der es sich um eine Modifikation der vorangehenden Ausgestaltung gemäß 5 handelt. Im Vergleich zu 5 wird das Ausgangssignal SPN des Mischers 22' nicht direkt dem weiteren Testpad P2 zugeführt, sondern es wird vielmehr durch die in der MMIC 1 enthaltene analoge Basisbandsignalverarbeitungskette 13 vorverarbeitet. Dementsprechend ist der Ausgang des Mischers 22' mit dem Knoten N1 (dem Eingang der analogen Basisbandsignalverarbeitungskette 13) gekoppelt, und der Schaltungsknoten N1' (der Ausgang der analogen Basisbandsignalverarbeitungskette 13) ist mit dem weiteren Testpad P2 verbunden, an dem das vorverarbeitete Mischerausgangssignal SPN' bereitgestellt wird. Im Vergleich zu dem Beispiel gemäß 6 wird der ADC 25 der ATE anstelle des ADCs 14, der On-Chip verfügbar ist, verwendet.
  • 8 zeigt eine Alternative zu der vorangehenden Ausgestaltung gemäß 6. Die Ausgestaltung gemäß 8 ist im Wesentlichen identisch zu der Ausgestaltung gemäß 6 mit der Ausnahme, dass die digitale Signalverarbeitung durch den DSP 15 der Radareinrichtung sanstelle ein es in die ATE 2 integrierten DSPs erreicht wird. Deshalb muss die ATE 2 im Wesentlichen nur das Referenzoszillatorsignal STEST bereitstellen. Im Vergleich zu der vorangehenden Ausgestaltung gemäß 6 können das Testpad P2 und die Signalverbindung zwischen dem Testpad P2 und dem Schaltungsknoten N2 weggelassen werden. Der DSP 15 ist dazu ausgebildet, das Digitalsignal SPNDIG auf dieselbe Weise zu verarbeiten, wie der Prozessor der ATE (siehe 6, Block 25) bei dem vorangehenden Beispiel gemäß 6. Dementsprechend kann in dem DSP 15 (z.B. unter Verwendung geeigneter Software) ein Funktionsblock 151 implementiert werden, der dazu ausgebildet ist, die Leistung des Digitalsignals SPNDIG bei einem oder mehr Frequenzwerten zu berechnen (z.B. die spektrale Leistungsdichte PSD). Die Signalleistung wird im Wesentlichen durch das Phasenrauschen des lokalen Oszillators LO bestimmt. In dem DSP 15 kann ein weiterer Funktionsblock 152 enthalten sein, der dazu ausgebildet ist, zu prüfen, ob die berechneten Leistungswerte mit den spezifizierten Maximalwerten in Einklang stehen. Das Ergebnis einer derartigen Prüfung kann "bestanden" (Rauschleistung in Einklang mit der Spezifikation) oder "nicht bestanden" (Rauschleistung nicht in Einklang mit der Spezifikation) sein. Die ATE kann die Testergebnisse in Form boolescher Information (Test bestanden/nicht bestanden) von dem DSP 15 erhalten.
  • Es wird darauf hingewiesen, dass verschiedene Aspekte der in den 5 bis 8 gezeigten Ausgestaltungen miteinander kombiniert werden können, um weitere Ausgestaltungen zu erhalten. Zum Beispiel können mehr als zwei Testpads P1 und P2 bereitgestellt werden, um verschiedene Optionen zum Anschließen an eine ATE zur Verfügung zu stellen. Zum Beispiel kann die Ausgestaltung gemäß 7 ergänzt werden mit einem zusätzlichen Testpad, das direkt mit dem Ausgang des Mischers 22' (vgl. 5) verbunden ist, und/oder mit einem weiteren Testpad, das mit dem Ausgang des ADCs 14 (Schaltungsknoten N2) verbunden ist, um der ATE ein Digitalsignal zur Verfügung zu stellen (vgl. 6).
  • 9 zeigt ein allgemeines Beispiel einer MMIC, die in der Lage ist, ein externes Referenzoszillatorsignal STEST zum Testen des internen RF-Oszillators zu empfangen. Der Ausdruck "intern" wird verwendet, um anzudeuten, dass die betreffende Schaltungskomponente in die MMIC integriert ist, wohingegen der Ausdruck "extern" verwendet wird, um anzuzeigen, dass die betreffende Schaltungskomponente getrennt von der zu testenden MMIC implementiert ist. Externe und interne Signale werden analog unterschieden. Dementsprechend wird das externe Referenzoszillatorsignal STEST durch eine externe Signalquelle (z.B. ATE 2) erzeugt und der MMIC über ein Chippad (Testpad/-pin) P1 zugeführt. Auf dem Chip ist das Chippad P1 mit dem Referenzeingang eines Mischers 22', der in die MMIC integriert ist, verbunden. Der lokale Oszillator LO erzeugt ein lokales Oszillatorsignal SLO, das (für Radaranwendungen) eine Oszillationsfrequenz fLO in EHF- oder SHF-Band aufweisen kann. Der Frequenzteiler DIV' ist mit dem lokalen Oszillator LO gekoppelt und dazu ausgebildet, (basierend auf dem lokalen Oszillatorsignal SLO) ein Oszillatorsignal SLO' zu erzeugen, das eine verringerte Frequenz fLO' (z.B. um einen ganzzahligen Faktor verringert), die zum Beispiel im UHF-Band liegen kann, aufweist. Das Ausgangssignal SLO' des Frequenzteilers besitzt dieselbe oder eine ähnliche Rauschcharakteristik wie das Signal SLO des lokalen Oszillators (d.h. die Rauschcharakteristik wird durch die Frequenzteilung erhalten), und somit wird das Ausgangssignal SLO' des Frequenzteilers weiterverarbeitet (d.h. durch den Mischer 22' herabgewandelt, digitalisiert, etc., siehe auch die 58), um die gewünschten Rauschparameter (z.B. die spektrale Leistungsdichte bei konkreten Frequenzen im Basisband) wie oben erörtert zu messen.
  • Es sollte erwähnt werden, dass der Frequenzteiler nicht in die in dem lokalen Oszillator LO enthaltene PLL-Rückkopplungsschleife gekoppelt ist, sondern vielmehr separat mit dem Ausgang des lokalen Oszillators verbunden ist. Allerdings kann das Oszillatorsignal SLO' auch an einem Frequenzteiler (mit festem Teilungsverhältnis), der, wie bei dem Beispiel gemäß den 58, in der Rückkopplungsschleife enthalten ist, abgegriffen werden. Bei dem Beispiel gemäß 9 kann das Ausgangssignal des Mischers auf dem Chip (siehe 8) oder in einer externen ATE (siehe die 57) wie oben erläutert verarbeitet werden.
  • 10 ist ein Flussdiagramm, das ein Beispielverfahren zum Testen eines in eine MMIC integrierten RF-Oszillators veranschaulicht. Dementsprechend wird die Frequenz eines (internen) Signals eines lokalen RF-Oszillators (siehe z.B. 59, Signal SLO) mit einem festen Teilungsverhältnis (siehe 10, Schritt S1) geteilt, um ein RF-Signal mit verringerter Frequenz zu erzeugen (siehe z.B. 59, Signal SLO'). Wie erwähnt kann der Frequenzteiler in einer PLL-Rückkopplungsschleife des lokalen Oszillators enthalten (siehe z.B. 58, Frequenzteiler DIV) oder separat mit dem lokalen Oszillator verbunden (siehe z.B. 9, Frequenzteiler DIV') sein. Das RF-Signal mit verringerter Frequenz wird herabgewandelt, um ein Ausgangssignal eines Mischers zu erzeugen (siehe 10, Schritt S2), wobei ein an einem Testpad der MMIC empfangenes externes Referenzoszillatorsignal verwendet wird (siehe 59, das dem Mischer 22' zugeführte Signal STEST am Pad P1). Das Ausgangssignal des Mischers (siehe 59, Signal SPN) wird verarbeitet (z.B. wie im Hinblick auf die in den 58 gezeigten Beispiele erörtert), um die gewünschten Testergebnisse zu erhalten.
  • Obwohl die Erfindung in Bezug auf eine oder mehrere Implementierungen dargestellt und beschrieben wurde, sind Änderungen und/oder Modifikationen bei den dargestellten Beispielen möglich, ohne vom Wesen und dem Umfang der beigefügten Ansprüche abzuweichen. Mit besonderem Blick auf verschiedene Funktionen, die von den oben beschriebenen Komponenten oder Strukturen (Einheiten, Anordnungen, Vorrichtungen, Schaltungen, Systemen, usw.) ausgeführt werden, ist beabsichtigt, dass die zur Beschreibung solcher Komponenten verwendeten Begriffe (einschließlich einer Bezugnahme auf ein „Mittel“), falls nicht anders angegeben, jeder Komponente oder Struktur entsprechen, die die spezifizierte Funktion der beschriebenen Komponente ausführt (die z.B. funktionell äquivalent ist), auch wenn sie zu der offenbarten Struktur, die die Funktion in den hier dargestellten beispielhaften Ausführungen der Erfindung ausführt, strukturell nicht äquivalent ist.
  • Außerdem kann, obwohl ein besonderes Merkmal der Erfindung in Bezug auf nur eine von mehreren Implementierungen offenbart sein mag, ein solches Merkmal mit einem oder mehreren anderen Merkmalen der anderen Implementierungen kombiniert werden, sofern dies erwünscht und für eine bestimmte oder besondere Anwendung vorteilhaft ist. Ferner sollen in dem Umfang, in dem die Begriffe „enthaltend“, „enthält“, „habend“, „haben“, „mit“ oder Varianten hiervon sowohl in der ausführlichen Beschreibung wie auch in den Ansprüchen verwendet werden, solche Begriffe in einer ähnlichen Weise wie der Begriff „aufweisend“ eingeschlossen sein.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • ISO 26262 [0004]
    • Tom A.D. Riley: Delta-Sigma Modulation in Fractional-N Frequency Synthesis, in: IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 28, no. 5, May 1993 [0029]

Claims (24)

  1. Integrierte Schaltung, die aufweist: einen lokalen Oszillator, der einen spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) aufweist, der ein lokales Oszillatorsignal erzeugt; einen Frequenzteiler, der, dem VCO nachgeschaltet, mit diesem gekoppelt ist, wobei der Frequenzteiler ein frequenzgeteiltes lokales Oszillatorsignal bereitstellt, indem er die Frequenz des lokalen Oszillatorsignals um einen konstanten Faktor verringert; ein erstes Testpad zum Empfangen eines Referenzoszillatorsignals; einen ersten Mischer, der das Referenzoszillatorsignal und das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal empfängt, um das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal herabzuwandeln.
  2. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 1, die ferner aufweist: einen zweiten Mischer, der dazu ausgebildet ist, mit einer Antenne gekoppelt zu werden und das lokale Oszillatorsignal zu empfangen; eine Basisbandsignalverarbeitungskette, die, dem zweiten Mixer nachgeschaltet, mit diesem verbunden ist.
  3. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 2, die ferner aufweist: einen Analog-Digital-Wandler, der, der Basisbandsignalverarbeitungskette nachgeschaltet, mit dieser gekoppelt ist
  4. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 3, die ferner aufweist: einen digitalen Signalprozessor (DSP), der, dem Analog-Digital-Wandler nachgeschaltet, mit diesem gekoppelt ist.
  5. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 1, die ferner aufweist: ein zweites Testpad, das mit einem Ausgang des ersten Mischers verbunden ist.
  6. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 3, bei der ein Ausgang des ersten Mischers mit einem Eingang der Basisbandverarbeitungskette gekoppelt ist, um das herabgewandelte, frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal an die Basisbandsignalverarbeitungskette zu leiten.
  7. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 6, die ferner aufweist: ein zweites Testpad, das mit einem Ausgang der Basisbandsignalverarbeitungskette gekoppelt ist.
  8. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 6, die ferner aufweist: einen Analog-Digital-Wandler, der, der Basisbandsignalverarbeitungskette nachgeschaltet, mit dieser gekoppelt ist; und ein zweites Testpad, das mit einem Digitalausgang des Analog-Digital-Wandlers gekoppelt ist.
  9. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 8, bei der die Signalverbindung zwischen dem Digitalausgang des Analog-Digital-Wandlers und dem zweiten Testpad eine differentielle Niederspannungssignalverbindung (LVDS) ist.
  10. Integrierte Schaltung gemäß Anspruch 6, die ferner aufweist: einen Analog-Digital-Wandler, der, der Basisbandsignalverarbeitungskette nachgeschaltet, mit dieser gekoppelt ist, wobei der Analog-Digital-Wandler ein Digitalsignal erzeugt, das das herabgewandelte frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal repräsentiert; und einen digitalen Signalprozessor (DSP), der, dem Analog-Digital-Wandler nachgeschaltet, mit diesem gekoppelt ist, wobei der DSP dazu ausgebildet ist, eine Spektralanalyse des Digitalsignals durchzuführen.
  11. Verfahren zum Testen eines RF-Oszillators, der in eine monolithisch integrierte Mikrowellenschaltung (MMIC) integriert ist; das Verfahren weist auf: Teilen der Frequenz eines RF-Oszillatorsignals, das durch den RF-Oszillator erzeugt wird, durch einen in die MMIC integrierten Frequenzteiler, um ein RF-Signal mit verringerter Frequenz zu erzeugen; Herabwandeln des RF-Signals mit einer reduzierten Frequenz durch einen in die MMIC integrierten Mischer, um ein Mischerausgangssignal zu erzeugen, wobei der Mischer für die Herabwandlung ein Referenzoszillatorsignal verwendet, das durch eine externe Testeinrichtung erzeugt und über ein erstes Testpad der MMIC dem Mischer zugeführt wird; und Verarbeiten des Mischerausgangssignals.
  12. Verfahren gemäß Anspruch 11, wobei das Verarbeiten des Mischerausgangssignals aufweist: analoges Vorverarbeiten des Mischerausgangssignals; Digitalisieren des vorverarbeiteten Mischerausgangssignals, um ein digitales Signal bereitzustellen; Durchführen einer Spektralanalyse des digitalen Signals.
  13. Verfahren gemäß Anspruch 12, wobei das analoge Vorverarbeiten zumindest teilweise durch die ATE erreicht wird; oder wobei das analoge Vorverarbeiten zumindest teilweise durch eine in die MMIC integrierte Signalverarbeitungskette erreicht wird.
  14. Verfahren gemäß Anspruch 13, wobei das analoge Vorverarbeiten zumindest eine Tiefpassfilterung oder eine Bandpassfilterung aufweist.
  15. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 12 bis 14, wobei das Digitalisieren zumindest teilweise durch die ATE erreicht wird; oder wobei das Digitalisieren zumindest teilweise durch einen in die MMIC integrierten Analog-Digital-Wandler erreicht wird.
  16. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 12 bis 15, bei dem das Durchführen der Spektralanalyse aufweist: Berechnen zumindest eines digitalen Leistungswerts, der die spektrale Leistungsdichte des Digitalsignals für zumindest einen diskreten Frequenzwert repräsentiert; Prüfen, ob der zumindest eine digitale Leistungswert einer vorgegebenen Spezifikation genügt.
  17. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 12 bis 15, bei dem die Spektralanalyse durch einen in die MMIC integrierten digitalen Signalprozessor durchgeführt wird.
  18. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 12 bis 15, bei dem die Spektralanalyse durch einen in der ATE enthaltenen digitalen Signalprozessor durchgeführt wird.
  19. System, das aufweist: eine automatische Testeinrichtung zum Testen monolithisch integrierter Mikrowellenschaltungen (MMICs), wobei die ATE einen Referenzoszillator aufweist, der ein Referenzoszillatorsignal erzeugt; und eine MMIC, die eine integrierte RF-Schaltung enthält, welche aufweist: einen lokalen Oszillator, der einen spannungsgesteuerten Oszillator (VCO) aufweist, der ein lokales Oszillatorsignal erzeugt; einen Frequenzteiler, der, dem VCO nachgeschaltet, mit diesem gekoppelt ist, wobei der Frequenzteiler ein frequenzgeteiltes lokales Oszillatorsignal bereitstellt, indem er die Frequenz des lokalen Oszillatorsignals um einen konstanten Faktor verringert; ein erstes Testpad zum Empfangen des Referenzoszillatorsignals von der ATE; und einen Mischer, der das Referenzoszillatorsignal über das erste Testpad sowie das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal empfängt, um das frequenzgeteilte lokale Oszillatorsignal herabzuwandeln.
  20. System gemäß Anspruch 19, bei dem die integrierte RF-Schaltung ferner ein zweites Testpad aufweist, das ein Signal empfängt, welches ein Ausgangssignal des Mischers repräsentiert; bei dem die ATE dazu ausgebildet ist, über das zweite Testpad das Signal, das das Ausgangssignal des Mischer repräsentiert, zu empfangen.
  21. System gemäß Anspruch 20, bei dem die ATE einen Signalprozessor aufweist, der dazu ausgebildet ist, eine Spektralanalyse des Signals, das das Ausgangssignal des Mischers repräsentiert, durchzuführen.
  22. System gemäß Anspruch 21, bei dem das Signal, das das Ausgangssignal des Mischers repräsentiert, vor der Spektralanalyse digitalisiert wird, oder Gegenstand einer analogen Vorverarbeitung ist und durch die ATE digitalisiert wird.
  23. System gemäß einem der Ansprüche 19 bis 22, bei dem der Frequenzteiler und der VCO in einer Rückkopplungsschleife einer phasengekoppelten Schleife (PLL) enthalten sind.
  24. System gemäß einem der Ansprüche 19 bis 23, bei dem die integrierte RF-Schaltung einen Radar-Sendeempfänger für einen Radarentfernungsmesssensor aufweist, wobei der Radar-Sendeempfänger das durch die VCO erzeugte Ausgangssignal empfängt.
DE102016115785.6A 2016-08-25 2016-08-25 Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen Pending DE102016115785A1 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102016115785.6A DE102016115785A1 (de) 2016-08-25 2016-08-25 Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen
JP2017003848U JP3213331U (ja) 2016-08-25 2017-08-22 位相雑音試験能力を備えた集積rf回路及びシステム
CN201710734789.7A CN107786238B (zh) 2016-08-25 2017-08-24 一种集成电路、测试系统和用于测试rf振荡器的方法
US15/685,542 US10090939B2 (en) 2016-08-25 2017-08-24 Integrated RF circuit with phase-noise test capability
JP2017160920A JP6462799B2 (ja) 2016-08-25 2017-08-24 位相雑音試験能力を備えた集積rf回路
US16/105,431 US10205541B2 (en) 2016-08-25 2018-08-20 Integrated RF circuit with phase-noise test capability

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102016115785.6A DE102016115785A1 (de) 2016-08-25 2016-08-25 Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102016115785A1 true DE102016115785A1 (de) 2018-03-01

Family

ID=60236523

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102016115785.6A Pending DE102016115785A1 (de) 2016-08-25 2016-08-25 Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen

Country Status (4)

Country Link
US (2) US10090939B2 (de)
JP (2) JP3213331U (de)
CN (1) CN107786238B (de)
DE (1) DE102016115785A1 (de)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016110344A1 (de) * 2016-06-03 2017-12-07 Infineon Technologies Ag Rf-empfänger mit eingebauter selbsttestfunktion
DE102016115785A1 (de) 2016-08-25 2018-03-01 Infineon Technologies Ag Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen
EP3460506A1 (de) * 2017-09-25 2019-03-27 Aptiv Technologies Limited Verfahren zur überwachung des leistungsbereichs eines kraftfahrzeugradarsystems
DE102018108219B3 (de) 2018-01-29 2019-06-19 Infineon Technologies Ag Spektrale Schätzung von Rauschen in Radarvorrichtungen
DE102018206701A1 (de) * 2018-05-02 2019-11-07 Robert Bosch Gmbh Überwachen eines FMCW-Radarsensors
CN109061623B (zh) * 2018-06-25 2023-07-18 南京信息工程大学 一种应用于无人机的平面集成式微波测高雷达及测量方法
KR102618561B1 (ko) * 2018-07-16 2023-12-27 삼성전자주식회사 로컬 오실레이터를 포함하는 rf 집적 회로 및 그 동작 방법
CN110470973B (zh) * 2019-08-05 2021-09-14 浙江铖昌科技股份有限公司 一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统
CN111487500B (zh) * 2020-06-08 2022-07-05 上海航天测控通信研究所 星载原子钟高稳晶振的测试系统和方法
DE102020117748A1 (de) * 2020-07-06 2022-01-13 Infineon Technologies Ag Radarsystem mit monitoring-funktion
US11496254B2 (en) * 2020-08-28 2022-11-08 Rockwell Automation Technologies, Inc. System and method for testing filters in redundant signal paths
US11431379B1 (en) * 2021-03-31 2022-08-30 Teradyne, Inc. Front-end module

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1584929A2 (de) * 2004-04-02 2005-10-12 Teradyne, Inc. Phasendetektor mit Digitaloszillator
DE102015115017A1 (de) * 2014-09-23 2016-03-24 Infineon Technologies Ag HF-Empfänger mit Test-Fähigkeit

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6338329A (ja) * 1986-08-02 1988-02-18 Advantest Corp マイクロ波シンセサイザ
JPH0624779Y2 (ja) * 1986-09-18 1994-06-29 株式会社アドバンテスト 位相雑音測定装置
JPH06281722A (ja) * 1993-03-26 1994-10-07 Mitsubishi Electric Corp レーダ受信機の自動利得制御回路
AU764882B2 (en) 1998-07-24 2003-09-04 Gct Semiconductor, Inc. Single chip cmos transmitter/receiver and VCO-mixer structure
US6483355B1 (en) * 1998-07-24 2002-11-19 Gct Semiconductor, Inc. Single chip CMOS transmitter/receiver and method of using same
US6816021B2 (en) * 2002-08-27 2004-11-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Multiple band local oscillator frequency generation circuit
US7061222B2 (en) * 2003-10-22 2006-06-13 Agilent Technologies, Inc. Automated testing of frequency converter device
US7397312B2 (en) * 2005-07-28 2008-07-08 Agilent Technologies, Inc. Spectrum analyzer and method for correcting frequency errors
JP2008187556A (ja) * 2007-01-31 2008-08-14 Nec Electronics Corp 受信装置
US7868607B2 (en) * 2007-04-20 2011-01-11 Agilent Technologies, Inc. Test method for frequency converters with embedded local oscillators
TWI341090B (en) * 2007-05-14 2011-04-21 Alcor Micro Corp Frequency synthesizer applied to frequency hopping system
CN101442368B (zh) * 2008-12-26 2013-01-30 北京航空航天大学 一种广播通信发射机相噪仿真器及抗相噪性能测试方法
CN101551419B (zh) * 2009-05-27 2010-11-03 沈明 一种相位噪声检测方法及系统
US20110273197A1 (en) * 2010-05-07 2011-11-10 Qualcomm Incorporated Signal generator for a built-in self test
WO2012031684A1 (de) * 2010-08-22 2012-03-15 Krohne Messtechnik Gmbh Schaltungsanordnung zur erzeugung von eine breitbandige frequenzrampe bildenden hochfrequenten ausgangssignalen
JP2012083310A (ja) * 2010-10-14 2012-04-26 Fujitsu Semiconductor Ltd 半導体装置
KR102090185B1 (ko) * 2013-10-18 2020-03-17 현대모비스 주식회사 위상 잡음 최적화 장치 및 방법
CN104808077B (zh) * 2015-04-21 2018-03-20 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种高灵敏度的相位噪声测量方法及装置
US9705511B2 (en) * 2015-06-18 2017-07-11 Yekutiel Josefsberg Ultra low phase noise frequency synthesizer
DE102016115785A1 (de) 2016-08-25 2018-03-01 Infineon Technologies Ag Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1584929A2 (de) * 2004-04-02 2005-10-12 Teradyne, Inc. Phasendetektor mit Digitaloszillator
DE102015115017A1 (de) * 2014-09-23 2016-03-24 Infineon Technologies Ag HF-Empfänger mit Test-Fähigkeit

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ISO 26262
Tom A.D. Riley: Delta-Sigma Modulation in Fractional-N Frequency Synthesis, in: IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 28, no. 5, May 1993

Also Published As

Publication number Publication date
US20180062768A1 (en) 2018-03-01
JP6462799B2 (ja) 2019-01-30
US10205541B2 (en) 2019-02-12
CN107786238B (zh) 2020-02-28
CN107786238A (zh) 2018-03-09
JP2018044951A (ja) 2018-03-22
JP3213331U (ja) 2017-11-02
US20180359035A1 (en) 2018-12-13
US10090939B2 (en) 2018-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102016115785A1 (de) Integrierte RF-Schaltung mit Möglichkeit zum Testen von Phasenrauschen
DE102015115017B4 (de) HF-Empfänger mit Test-Fähigkeit
DE102011086818B4 (de) System und verfahren zum testen einer integrierten hochfrequenzschaltung
DE102017124343B4 (de) Erzeugung schneller frequenzrampen
DE102017113730A1 (de) Radar-frontend mit hf-oszillator-überwachung
DE102017127416B4 (de) Hf-empfänger mit eingebauter testfähigkeit
DE102016110344A1 (de) Rf-empfänger mit eingebauter selbsttestfunktion
DE102017211558A1 (de) Radarsysteme und zugehörige verfahren
DE102015106931A1 (de) HF-Frontend mit Leistungssensorkalibrierung
DE102018117202B3 (de) Radarsensor mit mehreren radar-chips
DE102009045141A1 (de) Radarsensor mit IQ-Empfänger
DE102015210676A1 (de) Fmcw-radarvorrichtung und fmcw-radarsignal-verarbeitungsverfahren
DE102018108219B3 (de) Spektrale Schätzung von Rauschen in Radarvorrichtungen
DE102018109081A1 (de) Bandbreitenanpassung in einem phasenregelkreis eines lokaloszillators
DE102020117748A1 (de) Radarsystem mit monitoring-funktion
DE102015219612A1 (de) Systemarchitektur für einen MIMO Füllstandradar
DE102009027495A1 (de) Heterodyn-Sende-/Empfangssysteme und Verfahren
US8598925B1 (en) Frequency determination circuit and method
DE102017130390A1 (de) Testen von Eigenschaften eines spannungsgesteuerten Oszillators
DE102015115018B4 (de) Kombinierter Lock-/out-of-Lock-Detektor für Phasenregelkreise
DE102015103942A1 (de) Frequenzrampenerzeugung
EP2293096A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bereitstellen eines Reflexionssignals
DE102012218730B4 (de) Verstärkungsgrad-Messchaltung, Verstärkungsgrad-Messverfahren und Kommunikationsgerät
DE102008050327A1 (de) Empfangsmischer zur Verringerung von Überkopplungseffekten
DE2125191A1 (de) Systeme fur die Messung der Bewe gungsgeschwindigkeit von Korpern

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication
R084 Declaration of willingness to licence