JPH0624779Y2 - 位相雑音測定装置 - Google Patents
位相雑音測定装置Info
- Publication number
- JPH0624779Y2 JPH0624779Y2 JP14321486U JP14321486U JPH0624779Y2 JP H0624779 Y2 JPH0624779 Y2 JP H0624779Y2 JP 14321486 U JP14321486 U JP 14321486U JP 14321486 U JP14321486 U JP 14321486U JP H0624779 Y2 JPH0624779 Y2 JP H0624779Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- signal
- phase noise
- local oscillator
- filter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は位相雑音を測定する回路に関し、特に測定ダ
イナミックレンジを拡大しようとするものである。
イナミックレンジを拡大しようとするものである。
「従来技術の説明」 第４図に従来の位相雑音測定装置のブロック図を示す。
これは入力端子１から入力する被測定信号の周波数を変
換するミキサ２と局部発振器６との間に、分周器７、濾
波器８、増幅器９を設け、被測定信号から例えば局部発
振器６の最大発振周波数以下の周波数成分を抽出して、
その周波数特性を測定しようとするものである。ミキサ
２で周波数合成された信号は濾波器３で一定の周波数の
信号が抽出され、検波器４で検波して表示器５に表示さ
れる。分周器７の分周比は１／２ｎ（ｎ＝０、１、２、
……）である。今、濾波器３で抽出される周波数をΔｆ
（GHz）、局部発振器６の可変周波数範囲を２〜４（GH
z）とする。分周器７の分周比を１、即ちｎ＝０に設定
すると、測定できる周波数範囲は２＋Δｆ〜４＋Δｆ
（GHz）となる。分周比を1/2に設定すると測定できる周
波数範囲は１＋Δｆ〜２＋Δｆ、分周比を1/4に設定す
ると測定できる周波数範囲は、０．５＋Δｆ〜１＋Δｆ
となり、広い周波数範囲にわたって位相雑音を測定する
ことができる。
これは入力端子１から入力する被測定信号の周波数を変
換するミキサ２と局部発振器６との間に、分周器７、濾
波器８、増幅器９を設け、被測定信号から例えば局部発
振器６の最大発振周波数以下の周波数成分を抽出して、
その周波数特性を測定しようとするものである。ミキサ
２で周波数合成された信号は濾波器３で一定の周波数の
信号が抽出され、検波器４で検波して表示器５に表示さ
れる。分周器７の分周比は１／２ｎ（ｎ＝０、１、２、
……）である。今、濾波器３で抽出される周波数をΔｆ
（GHz）、局部発振器６の可変周波数範囲を２〜４（GH
z）とする。分周器７の分周比を１、即ちｎ＝０に設定
すると、測定できる周波数範囲は２＋Δｆ〜４＋Δｆ
（GHz）となる。分周比を1/2に設定すると測定できる周
波数範囲は１＋Δｆ〜２＋Δｆ、分周比を1/4に設定す
ると測定できる周波数範囲は、０．５＋Δｆ〜１＋Δｆ
となり、広い周波数範囲にわたって位相雑音を測定する
ことができる。
この回路では、局部発振器６として周波数純度の高いも
のを用いたとしても、分周器７に含まれる残留雑音によ
り、被測定信号の測定ダイナミックレンジが制限される
という欠点がある。
のを用いたとしても、分周器７に含まれる残留雑音によ
り、被測定信号の測定ダイナミックレンジが制限される
という欠点がある。
「問題点を解決するための手段」 この考案による位相雑音測定装置は、被測定信号を例え
ば低次てい倍器の縦続接続から成る可変てい倍器により
周波数てい倍してミキサの一方の入力端子に供給すると
共に、低雑音の局部発振器の出力信号を分周又はてい倍
しないでそのままミキサの他方の入力端子に供給する。
そしてミキサからの周波数変換された信号を濾波器に供
給して一定周波数の信号を抽出して表示器で表示するよ
うにしたものである。このように被測定信号をそれ自身
の残留雑音が少ない低次てい倍器により周波数てい倍す
るので、該被測定信号に含まれる位相雑音もそのまま周
波数てい倍され、これを周波数純度の高い局部発振器の
出力信号により周波数変換するので、被測定信号の位相
雑音を広いダイナミックレンジで表示することができ
る。
ば低次てい倍器の縦続接続から成る可変てい倍器により
周波数てい倍してミキサの一方の入力端子に供給すると
共に、低雑音の局部発振器の出力信号を分周又はてい倍
しないでそのままミキサの他方の入力端子に供給する。
そしてミキサからの周波数変換された信号を濾波器に供
給して一定周波数の信号を抽出して表示器で表示するよ
うにしたものである。このように被測定信号をそれ自身
の残留雑音が少ない低次てい倍器により周波数てい倍す
るので、該被測定信号に含まれる位相雑音もそのまま周
波数てい倍され、これを周波数純度の高い局部発振器の
出力信号により周波数変換するので、被測定信号の位相
雑音を広いダイナミックレンジで表示することができ
る。
「実施例」 第１図にこの考案の一実施例である位相雑音測定装置の
ブロック図を示す。図中、第４図と同じものは同一符号
で示す。
ブロック図を示す。図中、第４図と同じものは同一符号
で示す。
入力端子１から入力した被測定信号は増幅器１１で増幅
されて可変てい倍器１２に供給される。この可変てい倍
器１２は、てい倍次数が２又は３の低次てい倍器の縦続
接続により構成されている。可変てい倍器１２でてい倍
された被測定信号は濾波器１３を通じてミキサ２の一方
の入力端子に供給する。また低雑音の局部発振器６の出
力信号は分周又はてい倍せずにそのまま増幅器９で増幅
して、ミキサ２の他方の入力端子に供給する。ミキサ２
で周波数合成された信号は濾波器３に供給されて一定周
波数の信号が抽出され、検波器４で検波されて、表示器
５に供給される。そして被測定信号の位相雑音特性が表
示される。
されて可変てい倍器１２に供給される。この可変てい倍
器１２は、てい倍次数が２又は３の低次てい倍器の縦続
接続により構成されている。可変てい倍器１２でてい倍
された被測定信号は濾波器１３を通じてミキサ２の一方
の入力端子に供給する。また低雑音の局部発振器６の出
力信号は分周又はてい倍せずにそのまま増幅器９で増幅
して、ミキサ２の他方の入力端子に供給する。ミキサ２
で周波数合成された信号は濾波器３に供給されて一定周
波数の信号が抽出され、検波器４で検波されて、表示器
５に供給される。そして被測定信号の位相雑音特性が表
示される。
第２図に可変てい倍器１２の一実施例を示す。これはて
い倍次数２の低次てい倍器１７ｎ、濾波器１８ｎ、増幅
器１９ｎ（ｎ＝１、２、……）から成る直列回路を縦続
接続して、第１図の濾波器１３に信号を供給する端子２
０に接続すると共に、増幅器１９ｎ（ｎ＝１、２、…
…）の出力側をそれぞれ１６ｎ（ｎ＝１、２、……）を
通じて端子１５に接続する。この端子１５に第１図の増
幅器１１から信号を供給する。
い倍次数２の低次てい倍器１７ｎ、濾波器１８ｎ、増幅
器１９ｎ（ｎ＝１、２、……）から成る直列回路を縦続
接続して、第１図の濾波器１３に信号を供給する端子２
０に接続すると共に、増幅器１９ｎ（ｎ＝１、２、…
…）の出力側をそれぞれ１６ｎ（ｎ＝１、２、……）を
通じて端子１５に接続する。この端子１５に第１図の増
幅器１１から信号を供給する。
今、濾波器３で抽出される周波数をΔｆ（GHz）、局部
発振器６の可変範囲を２〜４（GHz）とする。スイッチ
１６１、１６２、１６３、……のうち、スイッチ１６１
のみを閉じると、増幅器１１で増幅された被測定信号が
そのまま濾波器１３を通じてミキサ２に供給され、局部
発振器６からの出力信号と周波数合成され、濾波器３で
周波数Δｆの信号が抽出される。この時表示器５で表示
できる周波数範囲は、２＋Δｆ〜４＋Δｆ（GHz）であ
る。スイッチ１６２のみを閉じると、増幅器１１で増幅
され、可変てい倍器１２で２倍に周波数てい倍された信
号が、濾波器１３を通じてミキサ２に供給される。この
時表示器５で表示できる周波数範囲は１＋Δｆ／２〜２
＋Δｆ／２（GHz）である。同様にしてスイッチ１６３
のみを閉じた時に表示できる周波数範囲は０．５＋Δｆ
／４〜１＋Δｆ／４（GHz）、スイッチ１６４のみを閉
じた時に表示できる周波数範囲は０．２５＋Δｆ／８〜
０．５＋Δｆ／８（GHz）となり、広い周波数範囲にわ
たり、被測定信号の位相雑音特性を表示することができ
る。
発振器６の可変範囲を２〜４（GHz）とする。スイッチ
１６１、１６２、１６３、……のうち、スイッチ１６１
のみを閉じると、増幅器１１で増幅された被測定信号が
そのまま濾波器１３を通じてミキサ２に供給され、局部
発振器６からの出力信号と周波数合成され、濾波器３で
周波数Δｆの信号が抽出される。この時表示器５で表示
できる周波数範囲は、２＋Δｆ〜４＋Δｆ（GHz）であ
る。スイッチ１６２のみを閉じると、増幅器１１で増幅
され、可変てい倍器１２で２倍に周波数てい倍された信
号が、濾波器１３を通じてミキサ２に供給される。この
時表示器５で表示できる周波数範囲は１＋Δｆ／２〜２
＋Δｆ／２（GHz）である。同様にしてスイッチ１６３
のみを閉じた時に表示できる周波数範囲は０．５＋Δｆ
／４〜１＋Δｆ／４（GHz）、スイッチ１６４のみを閉
じた時に表示できる周波数範囲は０．２５＋Δｆ／８〜
０．５＋Δｆ／８（GHz）となり、広い周波数範囲にわ
たり、被測定信号の位相雑音特性を表示することができ
る。
次に第３図のグラフを用いて第１図のように構成するこ
とにより、ダイナミックレンジが拡大されることについ
て説明する。ＡはＥＣＬ回路により構成された分周器
７、Ｂは可変てい倍器１２からそれぞれ５００MHzの信
号を出力する時、各回路から出力される信号に含まれる
残留雑音を示す。Ｃは局部発振器６から４GHzの信号を
出力する時、この雑音に含まれる位相雑音を、Ｄは局部
発振器６から出力される４GHzの信号を分周器８の理想
的な分周器で分周して５００MHzの信号を得た時、この
５００MHzの信号に含まれる位相雑音の計算値を示す。
Ｄの位相雑音は、Ｃの位相雑音よりも２０×ｌｏｇ８＝
１８ｄＢｃだけ少なくなっている。分周器７から出力さ
れる信号に含まれる残留雑音Ａは局部発振器６から出力
される４GHzの信号を理想的な分周器で分周した信号に
含まれる位相雑音Ｄより大きいので、第４図に示した従
来の装置で５００MHz近傍の位相雑音を測定しようとす
る時、そのダイナミックレンジは分周器７の雑音特性に
より制限される。ところが第１図に示すこの考案による
装置では、被測定信号の５００MHz近傍の位相雑音を測
定しようとする時、この被測定信号をてい倍率８の可変
てい倍器よりてい倍して局部発振器６からの４GHzの信
号と周波数合成しているが、表示器５に表示する時は、
５００MHz近傍の雑音は２０×ｌｏｇ８＝１８ｄＢｃだ
け減少させた状態で表示できる。従ってこの時のダイナ
ミックレンジは局部発振器６からの４GHzの出力信号
を、分周率８の理想的な分周器で分周した５００MHzの
信号の位相雑音特性Ｄにより制限され、第４図のように
分周器を用いた場合よりもダイナミックレンジが大きく
なる。
とにより、ダイナミックレンジが拡大されることについ
て説明する。ＡはＥＣＬ回路により構成された分周器
７、Ｂは可変てい倍器１２からそれぞれ５００MHzの信
号を出力する時、各回路から出力される信号に含まれる
残留雑音を示す。Ｃは局部発振器６から４GHzの信号を
出力する時、この雑音に含まれる位相雑音を、Ｄは局部
発振器６から出力される４GHzの信号を分周器８の理想
的な分周器で分周して５００MHzの信号を得た時、この
５００MHzの信号に含まれる位相雑音の計算値を示す。
Ｄの位相雑音は、Ｃの位相雑音よりも２０×ｌｏｇ８＝
１８ｄＢｃだけ少なくなっている。分周器７から出力さ
れる信号に含まれる残留雑音Ａは局部発振器６から出力
される４GHzの信号を理想的な分周器で分周した信号に
含まれる位相雑音Ｄより大きいので、第４図に示した従
来の装置で５００MHz近傍の位相雑音を測定しようとす
る時、そのダイナミックレンジは分周器７の雑音特性に
より制限される。ところが第１図に示すこの考案による
装置では、被測定信号の５００MHz近傍の位相雑音を測
定しようとする時、この被測定信号をてい倍率８の可変
てい倍器よりてい倍して局部発振器６からの４GHzの信
号と周波数合成しているが、表示器５に表示する時は、
５００MHz近傍の雑音は２０×ｌｏｇ８＝１８ｄＢｃだ
け減少させた状態で表示できる。従ってこの時のダイナ
ミックレンジは局部発振器６からの４GHzの出力信号
を、分周率８の理想的な分周器で分周した５００MHzの
信号の位相雑音特性Ｄにより制限され、第４図のように
分周器を用いた場合よりもダイナミックレンジが大きく
なる。
「考案の効果」 以上説明したようにこの考案による位相雑音測定装置
は、被測定信号を低次てい倍器により構成された可変て
い倍器でてい倍してミキサの一方の入力端子に供給する
と共に、低雑音の局部発振器の出力信号を直接ミキサの
他方の入力端子に供給して、上記被測定信号の周波数を
変換している。そして上記の方法で周波数変換された信
号から濾波器を通し所定の周波数を抽出してその位相雑
音を測定するように構成しているので、被測定信号の位
相雑音を広い周波数帯域にわたって精度良く測定でき
る。
は、被測定信号を低次てい倍器により構成された可変て
い倍器でてい倍してミキサの一方の入力端子に供給する
と共に、低雑音の局部発振器の出力信号を直接ミキサの
他方の入力端子に供給して、上記被測定信号の周波数を
変換している。そして上記の方法で周波数変換された信
号から濾波器を通し所定の周波数を抽出してその位相雑
音を測定するように構成しているので、被測定信号の位
相雑音を広い周波数帯域にわたって精度良く測定でき
る。
第１図はこの考案の一実施例である位相雑音測定装置の
ブロック図、第２図は第１図の可変てい倍器の一実施例
を示すブロック図、第３図はこの考案によりダイナミッ
クレンジ改善される理由を説明するためのグラフ、第４
図は従来の位相雑音測定装置のブロック図である。 １：入力端子、２：ミキサ、 ３、８、１３、１８ｎ：濾波器、 ６：局部発振器、７：分周器、 ９、１１、１９ｎ：増幅器、 １２：可変てい倍器、 １７ｎ：低次てい倍器
ブロック図、第２図は第１図の可変てい倍器の一実施例
を示すブロック図、第３図はこの考案によりダイナミッ
クレンジ改善される理由を説明するためのグラフ、第４
図は従来の位相雑音測定装置のブロック図である。 １：入力端子、２：ミキサ、 ３、８、１３、１８ｎ：濾波器、 ６：局部発振器、７：分周器、 ９、１１、１９ｎ：増幅器、 １２：可変てい倍器、 １７ｎ：低次てい倍器
Claims (1)
- 【請求項１】Ａ．低次てい倍器の縦続接続により構成さ
れ、被測定信号を周波数てい倍する可変てい倍器と、 Ｂ．低雑音の局部発振器と、 Ｃ．上記可変てい倍器の出力信号と上記局部発振器の出
力信号と周波数合成して所定の周波数の信号を抽出する
ミキサと、 Ｄ．該ミキサからの周波数変換された出力信号から一定
周波数の信号を抽出する濾波器と、 Ｅ．該濾波器の出力信号から被測定信号の位相雑音特性
を表示する表示器と、 を具備して成ることを特徴とする位相雑音測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14321486U JPH0624779Y2 (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 位相雑音測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14321486U JPH0624779Y2 (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 位相雑音測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6350068U JPS6350068U (ja) | 1988-04-05 |
| JPH0624779Y2 true JPH0624779Y2 (ja) | 1994-06-29 |
Family
ID=31052683
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14321486U Expired - Lifetime JPH0624779Y2 (ja) | 1986-09-18 | 1986-09-18 | 位相雑音測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0624779Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10090939B2 (en) | 2016-08-25 | 2018-10-02 | Infineon Technologies Ag | Integrated RF circuit with phase-noise test capability |
-
1986
- 1986-09-18 JP JP14321486U patent/JPH0624779Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10090939B2 (en) | 2016-08-25 | 2018-10-02 | Infineon Technologies Ag | Integrated RF circuit with phase-noise test capability |
| US10205541B2 (en) | 2016-08-25 | 2019-02-12 | Infineon Technologies Ag | Integrated RF circuit with phase-noise test capability |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6350068U (ja) | 1988-04-05 |
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