JPS6350068U - - Google Patents

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JPS6350068U
JPS6350068U JP14321486U JP14321486U JPS6350068U JP S6350068 U JPS6350068 U JP S6350068U JP 14321486 U JP14321486 U JP 14321486U JP 14321486 U JP14321486 U JP 14321486U JP S6350068 U JPS6350068 U JP S6350068U
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例である位相雑音測
定装置のブロツク図、第2図は第1図の可変てい
倍器の一実施例を示すブロツク図、第3図はこの
考案によりダイナミツクレンジ改善される理由を
説明するためのグラフ、第4図は従来の位相雑音
測定装置のブロツク図である。 1:入力端子、2:ミキサ、3,8,13,1
:濾波器、6:局部発振器、7:分周器、9
,11,19:増幅器、12:可変てい倍器、
17:低次てい倍器。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 A 低次てい倍器の縦続接続により構成され、被
    測定信号を周波数てい倍する可変てい倍器と、 B 低雑音の局部発振器と、 C 上記可変てい倍器の出力信号と上記局部発振
    器の出力信号とを周波数合成して所定の周波数の
    信号を抽出するミキサと、 D 該ミキサの出力信号から被測定信号の位相雑
    音特性を表示する表示器と、 を具備して成ることを特徴とする位相雑音測定装
    置。
JP14321486U 1986-09-18 1986-09-18 位相雑音測定装置 Expired - Lifetime JPH0624779Y2 (ja)

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JPS6350068U true JPS6350068U (ja) 1988-04-05
JPH0624779Y2 JPH0624779Y2 (ja) 1994-06-29

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018044951A (ja) * 2016-08-25 2018-03-22 インフィネオン テクノロジーズ アーゲーInfineon Technologies Ag 位相雑音試験能力を備えた集積rf回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018044951A (ja) * 2016-08-25 2018-03-22 インフィネオン テクノロジーズ アーゲーInfineon Technologies Ag 位相雑音試験能力を備えた集積rf回路
US10090939B2 (en) 2016-08-25 2018-10-02 Infineon Technologies Ag Integrated RF circuit with phase-noise test capability
US10205541B2 (en) 2016-08-25 2019-02-12 Infineon Technologies Ag Integrated RF circuit with phase-noise test capability

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JPH0624779Y2 (ja) 1994-06-29

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