DE102015106266A1

DE102015106266A1 - Anzeigevorrichtung

Info

Publication number: DE102015106266A1
Application number: DE102015106266.6A
Authority: DE
Inventors: Shuai YOU
Original assignee: Tianma Microelectronics Co Ltd; Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd
Current assignee: Tianma Microelectronics Co Ltd; Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd
Priority date: 2014-04-23
Filing date: 2015-04-23
Publication date: 2015-10-29
Anticipated expiration: 2035-04-24
Also published as: US20150310786A1; US9842524B2; DE102015106266B4; CN103926718B; CN103926718A

Abstract

Die vorliegende Erfindung offenbart eine Anzeigevorrichtung, die Folgendes umfasst: ein erstes Anzeigetestsignal-Eingabebauteil, das dazu ausgelegt ist, ein erstes Anzeigetestsignal einzugeben; ein erstes Anzeigetestsignal-Steuerbauteil, das dazu ausgelegt ist, die Eingabe des ersten Anzeigetestsignals zu steuern; ein zweites Anzeigetestsignal-Eingabebauteil, das dazu ausgelegt ist, ein zweites Anzeigetestsignal einzugeben; einen ersten Testbus, der an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen ist; und einen zweiten Testbus, der an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen ist; wobei der erste Testbus und der zweite Testbus aneinander angeschlossen sind. Mit der vorliegenden Erfindung lässt sich der Einfluss auf den Anzeigeeffekt verringern, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt einer treiberintegrierten Schaltung oder eines Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.

Description

Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der Anzeigen und insbesondere auf eine Anzeigevorrichtung.
Hintergrund der Erfindung
In jüngster Zeit entwickeln sich Flüssigkristallanzeige-(LCD)-Produkte sehr schnell, und eine wachsende Anzahl von Flüssigkristallanzeigen in hoher Qualität durchdringen allmählich den Markt und finden in immer weiteren Bereichen Anwendung.
Das Prinzip des Anzeigens von Bildern durch eine Flüssigkristallanzeige besteht darin, dass: Flüssigkristalle um einen bestimmten Winkel ausgelenkt werden, um Licht durchzulassen, wenn eine Spannung an zwei Platten angelegt wird, die die Flüssigkristalle sandwichartig einschließen, und das Lichtdurchlassvermögen des Flüssigkristalls von der Größe des Auslenkungswinkels des Flüssigkristalls abhängt, womit verschiedene Graustufen angezeigt werden.
Während der Anzeigeperiode der Flüssigkristallanzeige ist das elektrische Potenzial an einer gemeinsamen Elektrode jedoch festgelegt, und die Schicht des Flüssigkristalls ist äquivalent zu einem Kondensator. Wenn eine treiberintegrierte Schaltung (Treiber-IC) mit Licht beleuchtet wird und dann ein fotovoltaischer Effekt in der Treiber-IC verursacht wird, treten Ladungsträger wie zum Beispiel durch den fotovoltaischen Effekt erzeugte Elektronen in eine Datenleitung ein und verändern elektrische Ladungen in der Datenleitung, und somit ändern sich elektrische Ladungen an einer Pixelelektrode und an der gemeinsamen Elektrode, wobei sich dabei eine Spannung an der Pixelelektrode und der gemeinsamen Elektrode ändert, so dass sich eine durch den fotovoltaischen Effekt erzeugte zweite Spannung an der Pixelelektrode und der gemeinsamen Elektrode bildet, um ein elektrisches Feld zu bilden, das durch Restionen verursacht wird und mithin auch als elektrisches Restfeld bezeichnet wird. Wenn die LCD dann erneut Licht aussendet, wird die ursprüngliche symmetrische Spannung, die an der Pixelelektrode und der gemeinsamen Elektrode anliegt, zusammen mit dem elektrischen Restfeld in der LCD angelegt, was zu einer asymmetrischen, in der LCD angelegten Spannung führt, und die asymmetrische Spannung wird zu einem Flackern der LCD führen. Derzeit kann der fotovoltaische Effekt durch ein Abschattungsband (oder einen schwarzen Streifen) verhindert werden; nachdem aber die Anbringung eines Abdeckungsobjektivs an einem kapazitiven Berührungsbildschirm gängig geworden ist, wird das Abschattungsband weggelassen und stattdessen ein opaker Bereich am Abdeckungsobjektiv des kapazitiven Berührungsbildschirms vorgesehen, um Licht abzuhalten. Bei der Produktion und Herstellung der LCD ist der opake Bereich am Abdeckungsobjektiv jedoch nicht in der Lage, Licht sehr gut abzublocken, womit der fotovoltaische Effekt also weiterhin besteht und eine negative Wirkung auf die Anzeigequalität verursacht.
Zusammenfassung der Erfindung
Zu diesem Zweck wird eine Anzeigevorrichtung bereitgestellt. Eine Anzeigevorrichtung umfasst: ein erstes Anzeigetestsignal-Eingabebauteil, das dazu ausgelegt ist, ein erstes Anzeigetestsignal einzugeben; ein erstes Anzeigetestsignal-Steuerbauteil, das dazu ausgelegt ist, die Eingabe des ersten Anzeigetestsignals zu steuern; ein zweites Anzeigetestsignal-Eingabebauteil, das dazu ausgelegt ist, ein zweites Anzeigetestsignal einzugeben; einen ersten Testbus, der an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen ist; und einen zweiten Testbus, der an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen ist; wobei der erste Testbus und der zweite Testbus aneinander angeschlossen sind.
Bei der Anzeigevorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung ist der erste Testbus an den zweiten Testbus angeschlossen, um die Freisetzung des fotovoltaischen Stroms effektiv zu steuern, womit der Einfluss auf die Anzeigewirkung verringert wird, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt einer treiberintegrierten Schaltung oder eines Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
1 ist eine schematische Ansicht, die einen Aufbau einer Anzeigevorrichtung im verwandten Stand der Technik zeigt;
2 ist eine schematische Ansicht, die eine Wirkung einer Restgleichstrom-(DC)-Spannung aufgrund des Vorhandenseins des fotovoltaischen Effekts in der Anzeigevorrichtung im verwandten Stand der Technik zeigt;
3 ist eine schematische Ansicht, die eine Schaltung in einer Anzeigevorrichtung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
4 ist eine schematische Ansicht, die eine Schaltung in einer Anzeigevorrichtung gemäß einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
5 ist eine schematische Ansicht, die eine Schaltung in einer Anzeigevorrichtung gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt; und
6 ist eine schematische Ansicht, die eine Schaltung in einer Anzeigevorrichtung gemäß noch einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
Ausführliche Beschreibung der Ausführungsformen
Die vorliegende Erfindung wird des Weiteren im Einzelnen in Verbindung mit begleitenden Zeichnungen und Ausführungsformen beschrieben. Es sollte klar sein, dass hier beschriebene Ausführungsformen lediglich dazu verwendet werden, die vorliegende Erfindung zu erläutern, aber nicht dazu, diese einzuschränken. Es ist zusätzlich festzuhalten, dass in den Zeichnungen nur ein Teil von nicht allen Strukturen beschrieben ist, die für die vorliegende Erfindung relevant sind.
Eine durch Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung offenbarte Anzeigevorrichtung umfasst eine LCD-Vorrichtung, eine Anzeigevorrichtung mit einer organischen lichtemittierenden Diode (OLED) usw., wobei hier die Beschreibung anhand einer Flüssigkristallanzeigevorrichtung als Beispiel erfolgt. Die Flüssigkristallanzeigevorrichtung umfasst ein Flüssigkristallanzeigefeld und eine flexible Schaltungsplatine, die mit dem Flüssigkristallanzeigefeld verbunden ist, wobei das Flüssigkristallanzeigefeld ein Dünnschichttransistor-TFT-Anordnungssubstrat und ein Farbfiltersubstrat aufweist, das dem TFT-Anordnungssubstrat gegenüberliegend angeordnet ist, und ein Flüssigkristall zwischen dem TFT-Anordnungssubstrat und dem Farbfiltersubstrat eingekapselt ist. Das TFT-Anordnungssubstrat weist eine Vielzahl von Datenleitungen und eine Vielzahl von Gate-Leitungen auf, die senkrecht zu den Datenleitungen verlaufen und gegenüber diesen elektrisch isoliert sind, wobei sowohl die Datenleitungen als auch die Gate-Leitungen dazu ausgelegt sind, TFT-Schalter aller Teilpixel in Verbindung mit Steuersignalen zu steuern, wobei eine Source des TFT-Schalters an die Datenleitung angeschlossen ist, ein Gate des TFT-Schalters an die Gate-Leitung angeschlossen ist und ein Drain des TFT-Schalters an eine Pixelelektrode im TFT-Anordnungssubstrat angeschlossen ist; zusätzlich weist das TFT-Anordnungssubstrat auch eine gemeinsame Elektrode (je nach den verschiedenen Arten des Anzeigefelds kann sich die gemeinsame Elektrode an einer anderen Position befinden, wobei sich die gemeinsame Elektrode bei einem verdrehten nematischen Anzeigefeld zum Beispiel seitlich des Farbfiltersubstrats befindet, und bei einem Anzeigefeld mit ebeneninterner Schaltung oder einem Anzeigefeld mit Randfeldschaltung sie sich seitlich des TFT-Anordnungssubstrats befindet) und eine treiberintegrierte Schaltung auf, die dazu ausgelegt ist, ein Datensignal an jedes einzelne der Teilpixel des TFT-Anordnungssubstrats zu liefern.
1 ist eine schematische Ansicht, die einen Aufbau einer Anzeigevorrichtung im verwandten Stand der Technik zeigt. Wie in 1 dargestellt ist, treten, wenn eine treiberintegrierte Schaltung 15 mit Licht beleuchtet wird, Ladungsträger wie zum Beispiel Elektronen, die in der treiberintegrierten Schaltung durch den fotovoltaischen Effekt entstehen, in eine Datenleitung 11 ein und verändern elektrische Ladungen in der Datenleitung 11; wenn ein TFT-Schalter 12 so gesteuert wird, dass er durchschaltet, ändern sich darüber hinaus elektrische Ladungen an einer Pixelelektrode 14 und einer gemeinsamen Elektrode 13, was zur Veränderung einer Spannung an der Pixelelektrode 14 und der gemeinsamen Elektrode 13 führt, so dass sich an der Pixelelektrode 14 und der gemeinsamen Elektrode 13 eine zweite Spannung ausbildet, die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugt wird. Der Flüssigkristall enthält faktisch verschiedene elektrische Ladungen, die unter der Wirkung der zweiten Spannung richtungsgebunden bewegt werden, womit sich mit der Zeit schließlich Restladungen aufseiten der Pixelelektrode 14 bzw. der gemeinsamen Elektrode 13 anlagern, und die aufseiten der Pixelelektrode 14 und gemeinsamen Elektrode 13 angelagerten Restladungen sind elektrisch invertiert. Deshalb bildet sich ein elektrisches Feld zwischen der Pixelelektrode 14 und der gemeinsamen Elektrode 13, und dieses elektrische Feld, das durch die Restladungen gebildet wird, wird auch als elektrisches Restfeld bezeichnet. 2 ist eine schematische Ansicht, die eine Wirkung der Restgleichstromspannung des elektrischen Restfelds zeigt, das im verwandten Stand der Technik durch den fotovoltaischen Effekt der Anzeigevorrichtung verursacht wird. Wie in 2 dargestellt ist, wird, wenn die LCD erneut Licht aussendet, die ursprüngliche Spannung von 5 V oder –5 V (was ein Beispiel ist und nicht notwendigerweise den echten Wert der zweiten Spannung darstellt), die an die Pixelelektrode und die gemeinsame Elektrode anzulegen ist, in der LCD in Verbindung mit der Restspannung des elektrischen Restfeldes angelegt; wenn die Restgleichstromspannung zum Beispiel 0,2 V beträgt, dann liegt die sich ergebende positive Spannung bei 5,2 V und die sich ergebende negative Spannung bei –4,8 V, und derartige asymmetrische Spannungen verursachen dann ein Flackern der LCD.
3 ist eine schematische Ansicht, die eine Schaltung in einer Anzeigevorrichtung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt, und die Anzeigevorrichtung weist darüber hinaus ein Anzeigefeld auf, das Folgendes umfasst: ein erstes Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26, ein erstes Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 25, ein zweites Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 27, einen ersten Testbus 28 und einen zweiten Testbus 29.
Das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 ist dazu ausgelegt, ein erstes Anzeigetestsignal einzugeben.
In der vorliegenden Ausführungsform kann es sich bei dem ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 um einen Pixeltestkontaktpunkt handeln, der dazu ausgelegt ist, ein Teilpixeltestsignal einzugeben.
Das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 25 ist dazu ausgelegt, die Eingabe des ersten Anzeigetestsignals zu steuern.
In der vorliegenden Ausführungsform wird das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 durch das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 25 gesteuert. Bei dem ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 25 kann es sich um einen N-Kanal-Metalloxidhalbleiter-(NMOS)-Transistor handeln, der so gesteuert werden kann, dass er durchschaltet oder sperrt, so dass verschiedene erste Anzeigetestsignale, die jeweils Teilpixeln verschiedener Farben entsprechen, über das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 eingegeben werden können. Hierbei ist das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 25 dazu ausgelegt, zwischen den ersten Anzeigetestsignalen umzuschalten, die den Teilpixeln verschiedener Farben entsprechen. Die ersten Anzeigetestsignale enthalten eine Gruppe von Signalen, die zum Zwecke der Testung über NMOS-Transistoren miteinander verschaltet sind. So ist zum Beispiel gemäß den Farben der Teilpixel ein Testkontaktpunkt jeweils für die Teilpixel rot (R), grün (G) und blau (B) vorgesehen, und alle ersten Anzeigetestsignale können gesteuert werden, indem die durch die Gates der NMOS-Transistoren empfangenen Signale gesteuert werden, ohne viele Signalleitungen hinzuzufügen.
Das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 27 ist dazu ausgelegt, ein zweites Anzeigetestsignal einzugeben.
In der vorliegenden Ausführungsform ist das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 27 (wie etwa ein in 3 dargestellter Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode) an eine gemeinsame Elektrode 22 des Anzeigefeldes angeschlossen und dazu ausgelegt, ein Testsignal für die gemeinsame Elektrode einzugeben.
Der erste Testbus 28 ist an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 angeschlossen.
Der zweite Testbus 29 ist an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 27 angeschlossen.
Der erste Testbus 28 und der zweite Testbus 29, die beide im Anzeigefeld enthalten sind, sind über eine Kurzschlussverbindung aneinander angeschlossen.
In der vorliegenden Ausführungsform ist das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 27 durch eine Kurzschlussverbindung im Anzeigefeld über den ersten Testbus 28 und den zweiten Testbus 29 angeschlossen. Wie in 3 dargestellt ist, ist der Pixeltestkontaktpunkt durch eine Kurzschlussverbindung im Anzeigefeld an den Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode angeschlossen.
Es ist festzuhalten, dass, wie in 3 dargestellt ist, das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 25 und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 über eine elektrostatische Schutzschaltung 24 an die gemeinsame Elektrode 22 angeschlossen sind, um eine elektrostatische Schutzwirkung am ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 25 und ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 zu ergeben.
Wie in 3 dargestellt ist, wird, wenn eine treiberintegrierte Schaltung 23 mit Licht beleuchtet wird, so dass der fotovoltaische Effekt herbeigeführt und infolgedessen eine Gleichspannung an der gemeinsamen Elektrode 22 und einer Datenleitung 21 erzeugt wird, die Gleichspannung direkt an ein Pixel angelegt und erzeugt somit einen fotovoltaischen Strom aufgrund eines schwachen Einschaltzustands des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium (A-Si TFT) (d. h. des wie in 1 gezeigten TFT-Schalters 12). Durch den fotovoltaischen Effekt erzeugte elektrische Ladungen können jedoch durch die Verbindung zwischen dem Pixeltestkontaktpunkt und dem Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode aufgrund des schwachen Einschaltzustands des ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteils 25 (wie zum Beispiel ein NMOS-Transistor) zu einem Masseanschluss (GND) (zum Beispiel zur gemeinsamen Elektrode 22) abgeleitet werden.
In der vorliegenden Ausführungsform sind das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 und das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 27 aneinander angeschlossen, um den fotovoltaischen Strom freizugeben, so dass sich der Einfluss auf die Anzeigewirkung verringert, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt der treiberintegrierten Schaltung oder des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
In der vorliegenden Ausführungsform können mehrere erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 26 vorhanden sein, deren Anzahl der Anzahl von Grundfarben der Anzeigevorrichtung entspricht; darüber hinaus können mehrere der ersten Testbusse 28 vorhanden sein, darunter Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben, und die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile sind jeweils an die Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben angeschlossen.
In der vorliegenden Ausführungsform umfassen die Grundfarben der Anzeigevorrichtung die Farben Rot (R), Grün (G) und Blau (B). Die meisten Farben lassen sich durch die Farbe Rot, die Farbe Grün und die Farbe Blau bilden, die in verschiedenen Anteilen zusammengesetzt werden. Diese drei Grundfarben sind voneinander unabhängig, und keine der Grundfarben lässt sich durch die beiden anderen Grundfarben bilden. Deshalb können die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 26 drei Testsignal-Eingabebauteile für jeweils eine dieser drei verschiedenen Farben umfassen, und gleichermaßen können die mehreren ersten Testbusse 28 drei Testbusse für jeweils ein Pixel dieser drei verschiedenen Farben umfassen, und jedes einzelne der drei Testsignal-Eingabebauteile aus den mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteilen 26 ist – aus der Auswahl der ersten Testbusse 28 – an einen der Testbusse für ein Pixel (was von derselben Farbe ist wie das eine der drei Testsignal-Eingabebauteile) angeschlossen.
In der vorliegenden Ausführungsform können die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 26 ein Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, ein Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel und ein Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel umfassen, und die mehreren ersten Testbusse 28 können einen Signaltestbus für rote Teilpixel, einen Signaltestbus für grüne Teilpixel und einen Signaltestbus für blaue Teilpixel umfassen, die an das Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, das Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel bzw. das Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel angeschlossen sind.
In der vorliegenden Ausführungsform kann das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 27 ein Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode aufweisen.
In der vorliegenden Ausführungsform kann es sich bei dem ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 25 um einen NMOS-Transistor handeln, dessen Source an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 angeschlossen ist, und dessen Gate dazu ausgelegt ist, ein erstes Steuersignal zu empfangen, um den NMOS-Transistor durchzuschalten oder zu sperren; und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 26 ist an das Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode angeschlossen. Wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, befindet sich das erste Steuersignal auf Tiefpegel, so dass der NMOS-Transistor gesperrt ist; und wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, befindet sich das erste Steuersignal auf Hochpegel, so dass der NMOS-Transistor durchgeschaltet ist.
In der vorliegenden Ausführungsform wird der NMOS-Transistor (wie in 3 dargestellt) als Schalter verwendet, um die Eingabe des ersten Anzeigetestsignals zu steuern. Die Source des NMOS-Transistors ist an den Pixeltestkontaktpunkt angeschlossen, das Drain des NMOS-Transistors ist an die Datenleitung 21 angeschlossen und das Gate des NMOS-Transistors ist dazu ausgelegt, das erste Steuersignal zu empfangen, so dass der durch den fotovoltaischen Effekt verursachte Einfluss auf die in einem inaktiven Zustand befindliche Anzeigevorrichtung reduziert wird. Wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, wird eine negative Spannung an das Gate des NMOS-Transistors angelegt, um den NMOS-Transistor zu sperren, d. h. die Source des NMOS-Transistors ist vom Drain des NMOS-Transistors getrennt. Dabei kann die Datenleitung 12 ohne Einfluss seitens des NMOS-Transistors immer noch normal betrieben werden. Wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, wird ein Potenzial am Gate des NMOS-Transistors auf null gehalten, und der NMOS-Transistor ist noch durchgeschaltet, wenn die Spannung VGS am Gate und an der Source des NMOS-Transistors null beträgt, so dass durch den fotovoltaischen Effekt erzeugte elektrische Ladungen über den Pfad des NMOS-Transistors zum Masseanschluss geleitet werden können.
4 ist eine schematische Ansicht, die eine Schaltung einer Anzeigevorrichtung gemäß einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt, und die Anzeigevorrichtung umfasst: ein erstes Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36, ein erstes Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 35, ein zweites Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37, einen ersten Testbus 38 und einen zweiten Testbus 39.
Das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 ist dazu ausgelegt, ein erstes Anzeigetestsignal einzugeben.
In der vorliegenden Ausführungsform kann es sich bei dem ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 um einen Pixeltestkontaktpunkt handeln, der dazu ausgelegt ist, ein Teilpixeltestsignal einzugeben.
Das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 35 ist dazu ausgelegt, die Eingabe der ersten Anzeigetestsignale zu steuern.
In der vorliegenden Ausführungsform wird das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 vom ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 35 gesteuert, und das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 35 kann ein NMOS-Transistor sein. Indem der NMOS-Transistor so gesteuert wird, dass er durchschaltet oder sperrt, werden verschiedene erste Anzeigetestsignale über das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 eingegeben.
Das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37 ist dazu ausgelegt, ein zweites Anzeigetestsignal einzugeben.
In der vorliegenden Ausführungsform ist das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37 (wie etwa der in 4 dargestellte Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode) an eine gemeinsame Elektrode 32 des Anzeigefeldes angeschlossen und dazu ausgelegt, ein Testsignal für die gemeinsame Elektrode einzugeben.
Der erste Testbus 38 ist an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen.
Der zweite Testbus 39 ist an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen.
Die Anzeigevorrichtung weist darüber hinaus eine flexible Leiterplatine 310 auf, wobei die flexible Leiterplatine 310 den ersten Testbus 38 und den zweiten Testbus 39 umfasst, die über eine Kurzschlussverbindung aneinander angeschlossen sind. In der vorliegenden Ausführungsform sind das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 (wie etwa ein in 4 dargestellter Pixeltestkontaktpunkt) und das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37 (wie etwa der in 4 dargestellte Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode) an die flexible Leiterplatine 310 in der Anzeigevorrichtung angeschlossen, und sind durch eine Kurzschlussverbindung über eine leitfähige Leitung auf der flexiblen Leiterplatine 310 miteinander verbunden.
Es ist festzuhalten, dass, wie in 4 dargestellt ist, das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 35 und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 an die gemeinsame Elektrode 32 über eine elektrostatische Schutzschaltung 34 angeschlossen sind, um am ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 35 und ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 eine elektrostatische Schutzwirkung zu erzielen.
In der vorliegenden Ausführungsform können mehrere erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 36 vorhanden sein, wobei die Anzahl der ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 36 der Anzahl von Grundfarben der Anzeigevorrichtung entspricht; es können auch mehrere erste Testbusse 38 vorhanden sein, darunter Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben, und die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile sind jeweils an die Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben angeschlossen.
In der vorliegenden Ausführungsform können die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 36 ein Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, ein Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel und ein Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel umfassen, und die mehreren ersten Testbusse 38 können einen Signaltestbus für rote Teilpixel, einen Signaltestbus für grüne Teilpixel und einen Signaltestbus für blaue Teilpixel umfassen, die an das Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, das Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel bzw. das Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel angeschlossen sind.
In der vorliegenden Ausführungsform kann das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37 ein Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode aufweisen.
In der vorliegenden Ausführungsform kann es sich bei dem ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 35 um einen NMOS-Transistor handeln, dessen Source an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 angeschlossen ist, und dessen Gate dazu ausgelegt ist, ein erstes Steuersignal zu empfangen, um den NMOS-Transistor durchzuschalten oder zu sperren; und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 ist an das Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode angeschlossen. Wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, befindet sich das erste Steuersignal auf Tiefpegel, so dass der NMOS-Transistor gesperrt ist; und wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, befindet sich das erste Steuersignal auf Hochpegel, so dass der NMOS-Transistor durchgeschaltet ist.
Wie in 4 dargestellt ist, wird, wenn eine treiberintegrierte Schaltung 33 mit Licht beleuchtet wird, so dass der fotovoltaische Effekt hervorgerufen und somit eine Gleichspannung an der gemeinsamen Elektrode 32 und einer Datenleitung 31 erzeugt wird, die Gleichspannung direkt an ein Pixel angelegt und erzeugt somit einen fotovoltaischen Strom aufgrund eines schwachen Einschaltzustands des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium. Das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 und zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37 sind jedoch an die flexible Leiterplatine 310 angeschlossen und miteinander über eine Kurzschlussverbindung verbunden, und der NMOS-Transistor gelangt im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung in den schwachen Einschaltzustand, so dass die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen über den Pfad durch das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 und zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37 zum Masseanschluss geführt werden, womit sich der Einfluss auf die Anzeigewirkung verringert, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt der treiberintegrierten Schaltung 33 oder des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
In einer optionalen Ausführungsform, wie in 4 dargestellt, können mehrere Pixeltestkontaktpunkte vorhanden sein, darunter ein Testkontaktpunkt für rote Teilpixel, ein Testkontaktpunkt für grüne Teilpixel und ein Testkontaktpunkt für blaue Teilpixel. Der Testkontaktpunkt für rote Teilpixel, der Testkontaktpunkt für grüne Teilpixel und der Testkontaktpunkt für blaue Teilpixel sind einzeln an die flexible Leiterplatine 310 angeschlossen und über Kurzschlussverbindungen an der flexiblen Leiterplatine 310 mit dem Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode verbunden, so dass der NMOS-Transistor im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung in einen schwachen Einschaltzustand gelangt und die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen über den Pfad durch die Pixeltestkontaktpunkte und die Kurzschlussverbindungen zum Masseanschluss geführt werden können, womit sich der Einfluss auf die Anzeigewirkung verringert, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt der treiberintegrierten Schaltung 33 oder des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
In der vorliegenden Ausführungsform sind das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil und das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil an die flexible Leiterplatine angeschlossen und über Kurzschlussverbindungen miteinander verbunden, und der NMOS-Transistor gelangt im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung in einen schwachen Einschaltzustand, so dass die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen über den Pfad durch das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil und zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil zur Masse abgeleitet werden können, womit sich der Einfluss auf die Anzeigewirkung verringert, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt der treiberintegrierten Schaltung 33 oder des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
5 ist eine schematische Ansicht, die eine Schaltung in einer Anzeigevorrichtung gemäß einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt, und die Anzeigevorrichtung umfasst ein Anzeigefeld mit einem ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46, einem ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 45, einem zweiten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37, einem ersten Testbus 48 und einem zweiten Testbus 49.
Das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 ist dazu ausgelegt, ein erstes Anzeigetestsignal einzugeben.
In der vorliegenden Ausführungsform kann es sich bei dem ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 36 um einen Pixeltestkontaktpunkt handeln, der dazu ausgelegt ist, ein Teilpixeltestsignal einzugeben.
Das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 45 ist dazu ausgelegt, die Eingabe des ersten Anzeigetestsignals zu steuern.
In der vorliegenden Ausführungsform wird das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 vom ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 45 gesteuert, und das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 45 kann ein NMOS-Transistor sein. Der NMOS-Transistor kann so gesteuert werden, dass er durchschaltet oder sperrt, so dass verschiedene erste Anzeigetestsignale durch das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 eingegeben werden.
Das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 37 ist dazu ausgelegt, ein zweites Anzeigetestsignal einzugeben.
In der vorliegenden Ausführungsform ist das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 47 (wie zum Beispiel der in 5 dargestellte Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode) an eine gemeinsame Elektrode 42 des Anzeigefeldes angeschlossen und dazu ausgelegt, ein Testsignal für die gemeinsame Elektrode einzugeben.
Der erste Testbus 48 ist an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen.
Der zweite Testbus 49 ist an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen.
Der erste Testbus 48 und der zweite Testbus 49, die beide im Anzeigefeld enthalten sind, sind über einen Verarmungs-MOS-Transistor 410 oder einen Widerstand aneinander angeschlossen.
Es ist festzuhalten, dass, wie in 5 dargestellt, das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 45 und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 über eine elektrostatische Schutzschaltung 44 an eine gemeinsame Elektrode 42 angeschlossen sind, um am ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 45 und ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 eine elektrostatische Schutzwirkung zu erzielen.
In der vorliegenden Ausführungsform ist das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 (wie zum Beispiel der in 5 dargestellte Pixeltestkontaktpunkt) über den Verarmungs-NMOS-Transistor 410 oder den Widerstand an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 47 angeschlossen (wie zum Beispiel den in 5 dargestellten Kontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode).
In der vorliegenden Ausführungsform können mehrere erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 46 vorhanden sein, wobei die Anzahl der ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 46 der Anzahl von Grundfarben der Anzeigevorrichtung entspricht; es können mehrere erste Testbusse 48 vorhanden sein, darunter Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben, und die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile sind jeweils an die Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben angeschlossen.
In der vorliegenden Ausführungsform können die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 46 ein Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, ein Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel und ein Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel umfassen, und die mehreren ersten Testbusse 48 können einen Signaltestbus für rote Teilpixel, einen Signaltestbus für grüne Teilpixel und einen Signaltestbus für blaue Teilpixel umfassen, die an das Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, das Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel bzw. das Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel angeschlossen sind.
In der vorliegenden Ausführungsform kann das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 47 ein Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode aufweisen.
In der vorliegenden Ausführungsform kann es sich bei dem ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 45 um einen NMOS-Transistor handeln, dessen Source an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 angeschlossen ist, und dessen Gate dazu ausgelegt ist, das erste Steuersignal zu empfangen, um den NMOS-Transistor durchzuschalten oder zu sperren; und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 ist an das Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode angeschlossen. Wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, befindet sich das erste Steuersignal auf Tiefpegel, so dass der NMOS-Transistor gesperrt ist; und wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, befindet sich das erste Steuersignal auf Hochpegel, so dass der NMOS-Transistor durchgeschaltet ist.
Wie in 5 dargestellt ist, wird, wenn eine treiberintegrierte Schaltung 43 mit Licht beleuchtet wird, so dass der fotovoltaische Effekt hervorgerufen und infolgedessen eine Gleichspannung an der gemeinsamen Elektrode 42 und einer Datenleitung 41 erzeugt wird, die Gleichspannung direkt an ein Pixel angelegt und erzeugt somit einen fotovoltaischen Strom aufgrund eines schwachen Einschaltzustands des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium. Das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 und zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 47 sind jedoch über den Verarmungs-MOS-Transistor im Anzeigefeld miteinander verbunden, und der NMOS-Transistor und der Verarmungs-MOS-Transistor 410 gelangen im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung in einen schwachen Einschaltzustand, so dass die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen über den Pfad durch das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 46 und zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 47 zur Masse abgeführt werden, womit sich der Einfluss auf die Anzeigewirkung verringert, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt der treiberintegrierten Schaltung 43 oder des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
In der vorliegenden Ausführungsform ist der erste Testbus 48 an einen ersten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 410 angeschlossen, der zweite Testbus 49 ist an einen zweiten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 410 angeschlossen, und ein Gate des Verarmungs-MOS-Transistors 410 ist dazu ausgelegt, ein zweites Steuersignal zu empfangen, um den Verarmungs-MOS-Transistor 410 so zu steuern, dass er durchschaltet oder sperrt.
In der vorliegenden Ausführungsform befindet sich, wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, das zweite Steuersignal auf Tiefpegel, so dass der Verarmungs-MOS-Transistor 410 gesperrt ist; und wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, liegt das zweite Steuersignal auf Hochpegel, so dass der Verarmungs-MOS-Transistor 410 durchgeschaltet ist.
In der vorliegenden Ausführungsform ist der erste Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 410 eine Source und der zweite Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 410 ist ein Drain; alternativ handelt es sich beim ersten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 410 um ein Drain und beim zweiten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 410 um eine Source.
In einer optionalen Ausführungsform sind mehrere Pixeltestkontaktpunkte vorhanden, darunter ein Testkontaktpunkt für rote Teilpixel, ein Testkontaktpunkt für grüne Teilpixel und ein Testkontaktpunkt für blaue Teilpixel, wobei jeder der Pixeltestkontaktpunkte über den Verarmungs-MOS-Transistor 410 an den Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode angeschlossen ist. Die Source und das Drain des Verarmungs-MOS-Transistors 410 sind an den Pixeltestkontaktpunkt bzw. an den Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode angeschlossen, und das Gate des Verarmungs-MOS-Transistors 410 ist dazu ausgelegt, das zweite Steuersignal zu empfangen, so dass der Verarmungs-MOS-Transistor 410 im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung durchgeschaltet ist, was bedeutet, dass im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung das Gate des Verarmungs-MOS-Transistors 410 einen Hochpegel empfängt und das Gate des NMOS-Transistors ein Hochpegelsignal empfängt, um den NMOS-Transistor durchzuschalten, so dass die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen über den Pfad durch den Pixeltestkontaktpunkt und den Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode zum Masseanschluss geleitet werden.
In der vorliegenden Ausführungsform sind das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil und das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil im Anzeigefeld über den Verarmungs-MOS-Transistor miteinander verbunden, und der NMOS-Transistor und der Verarmungs-MOS-Transistor gelangen im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung in einen schwachen Einschaltzustand, so dass die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen über besagten Pfad durch das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil und das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil zum Masseanschluss geführt werden, womit sich der Einfluss auf die Anzeigequalität verringert, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt einer treiberintegrierten Schaltung oder eines Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
6 ist eine schematische Ansicht, die eine Schaltung in einer Anzeigevorrichtung gemäß noch einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt, und die Anzeigevorrichtung umfasst: ein erstes Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56, ein erstes Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 55, ein zweites Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 57, einen ersten Testbus 58 und einen zweiten Testbus 59.
Das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 ist dazu ausgelegt, ein erstes Anzeigetestsignal einzugeben.
In der vorliegenden Ausführungsform kann es sich bei dem ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 um einen Pixeltestkontaktpunkt handeln, der dazu ausgelegt ist, ein Teilpixeltestsignal einzugeben.
Das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 55 ist dazu ausgelegt, die Eingabe des ersten Anzeigetestsignals zu steuern.
In der vorliegenden Ausführungsform wird das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 vom ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 55 gesteuert, und das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 55 kann ein NMOS-Transistor sein. Der NMOS-Transistor kann so gesteuert werden, dass er durchschaltet oder sperrt, so dass verschiedene erste Anzeigetestsignale durch das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 eingegeben werden.
Das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 57 ist dazu ausgelegt, ein zweites Anzeigetestsignal einzugeben.
In der vorliegenden Ausführungsform ist das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 57 (wie zum Beispiel der in 6 dargestellte Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode) an eine gemeinsame Elektrode 52 des Anzeigefeldes angeschlossen und dazu ausgelegt, ein Testsignal für die gemeinsame Elektrode einzugeben.
Der erste Testbus 58 ist an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen.
Der zweite Testbus 59 ist an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil angeschlossen.
Die Anzeigevorrichtung umfasst des Weiteren eine flexible Leiterplatine 510, die den ersten Testbus 58 und den zweiten Testbus 59 aufweist, die über einen Verarmungs-MOS-Transistor 511 oder einen Widerstand aneinander angeschlossen sind.
Es ist festzuhalten, dass, wie in 6 dargestellt, das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 55 und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 über eine elektrostatische Schutzschaltung 54 an eine gemeinsame Elektrode 52 angeschlossen sind, um am ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 55 und ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 eine elektrostatische Schutzwirkung zu erzielen.
In der vorliegenden Ausführungsform ist das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 (wie zum Beispiel der in 6 dargestellte Pixeltestkontaktpunkt) an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 57 angeschlossen (wie zum Beispiel den in 6 dargestellten Kontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode), und zwar über den Verarmungs-MOS-Transistor 511 oder den Widerstand auf der flexiblen Leiterplatine der Anzeigevorrichtung.
In der vorliegenden Ausführungsform können mehrere erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 56 vorhanden sein, wobei die Anzahl der ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 56 der Anzahl der Grundfarben der Anzeigevorrichtung entspricht; es können mehrere erste Testbusse 58 vorhanden sein, darunter Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben, und die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile sind jeweils an die Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben angeschlossen.
In der vorliegenden Ausführungsform können die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile 56 ein Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, ein Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel und ein Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel umfassen, und die mehreren ersten Testbusse 58 können einen Signaltestbus für rote Teilpixel, einen Signaltestbus für grüne Teilpixel und einen Signaltestbus für blaue Teilpixel umfassen, die an das Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, das Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel bzw. das Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel angeschlossen sind.
In der vorliegenden Ausführungsform kann das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 57 ein Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode aufweisen.
In der vorliegenden Ausführungsform kann es sich bei dem ersten Anzeigetestsignal-Steuerbauteil 55 um einen NMOS-Transistor handeln, dessen Source an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 angeschlossen ist, und dessen Gate dazu ausgelegt ist, das erste Steuersignal zu empfangen, um den NMOS-Transistor durchzuschalten oder zu sperren; und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 ist an das Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode angeschlossen. Wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, befindet sich das erste Steuersignal auf Tiefpegel, so dass der NMOS-Transistor gesperrt ist; und wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, befindet sich das erste Steuersignal auf Hochpegel, so dass der NMOS-Transistor durchgeschaltet ist.
Wie in 6 dargestellt ist, wird, wenn eine treiberintegrierte Schaltung 53 mit Licht beleuchtet wird, so dass der fotovoltaische Effekt hervorgerufen und infolgedessen eine Gleichspannung an der gemeinsamen Elektrode 52 und einer Datenleitung 51 erzeugt wird, die Gleichspannung direkt an ein Pixel angelegt und erzeugt folglich einen fotovoltaischen Strom aufgrund eines schwachen Einschaltzustands des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium. Das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 und das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 57 sind jedoch über den Verarmungs-MOS-Transistor im Anzeigefeld miteinander verbunden, und der NMOS-Transistor und der Verarmungs-MOS-Transistor 511 gelangen im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung in den schwachen Einschaltzustand, so dass die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen über besagten Pfad durch das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 56 und zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil 57 zum Masseanschluss geführt werden, womit sich der Einfluss auf die Anzeigewirkung verringert, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt der treiberintegrierten Schaltung 53 oder des Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
In der vorliegenden Ausführungsform ist der erste Testbus 58 an einen ersten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 511 angeschlossen, der zweite Testbus 59 ist an einen zweiten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 511 angeschlossen, und ein Gate des Verarmungs-MOS-Transistors 511 ist dazu ausgelegt, ein zweites Steuersignal zu empfangen, um den Verarmungs-MOS-Transistor 511 so zu steuern, dass er durchschaltet oder sperrt.
In der vorliegenden Ausführungsform befindet sich, wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, das zweite Steuersignal auf Tiefpegel, so dass der Verarmungs-MOS-Transistor 511 gesperrt ist; und wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, liegt das zweite Steuersignal auf Hochpegel, so dass der Verarmungs-MOS-Transistor 511 durchgeschaltet ist.
In der vorliegenden Ausführungsform ist der erste Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 511 eine Source und der zweite Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 511 ist ein Drain; alternativ handelt es sich bei dem ersten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 511 um ein Drain und beim zweiten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors 511 um eine Source.
In einer optionalen Ausführungsform umfasst der Pixeltestkontaktpunkt einen Testkontaktpunkt für rote Teilpixel, einen Testkontaktpunkt für grüne Teilpixel und einen Testkontaktpunkt für blaue Teilpixel, die jeweils über den Verarmungs-MOS-Transistor 511 auf der flexiblen Leiterplatine 510 an den Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode angeschlossen sind. Die Source und das Drain des Verarmungs-MOS-Transistors 511 sind an den Pixeltestkontaktpunkt bzw. den Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode angeschlossen, und das Gate des Verarmungs-MOS-Transistors 511 ist dazu ausgelegt, das zweite Steuersignal zu empfangen, so dass der Verarmungs-MOS-Transistor 511 im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung durchgeschaltet ist, d.h. das Gate des Verarmungs-MOS-Transistors 511 einen Hochpegel empfängt, wenn die Anzeigevorrichtung im inaktiven Zustand ist, und gleichzeitig das Gate des NMOS-Transistors einen Hochpegel empfängt, um den NMOS-Transistor durchzuschalten, so dass die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen über besagten Pfad durch den Pixeltestkontaktpunkt und den Testkontaktpunkt für die gemeinsame Elektrode zum Masseanschluss geleitet werden.
In der vorliegenden Ausführungsform sind das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil und das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil über den Verarmungs-MOS-Transistor auf der flexiblen Leiterplatine miteinander verbunden, und der NMOS-Transistor und der Verarmungs-MOS-Transistor gelangen im inaktiven Zustand der Anzeigevorrichtung in einen schwachen Einschaltzustand, so dass die durch den fotovoltaischen Effekt erzeugten elektrischen Ladungen zum Masseanschluss geführt werden, womit sich der Einfluss auf die Anzeigewirkung verringert, der durch den Restgleichstrom verursacht wird, welcher durch den fotovoltaischen Effekt einer treiberintegrierten Schaltung oder eines Dünnschichttransistors aus amorphem Silizium erzeugt wird.
Obwohl sich die hier übernommenen Ausführungsformen und technischen Prinzipien wie vorstehend beschrieben darstellen, weiß der Fachmann auf diesem Gebiet, dass die vorliegende Erfindung nicht auf die speziellen Ausführungsformen beschränkt ist. Die vorliegende Ausführungsform kann durch Fachleute auf diesem Gebiet verändert, modifiziert und ersetzt werden, ohne vom Umfang und Prinzip der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Obwohl die vorliegende Erfindung durch die bisherigen Ausführungsformen im Einzelnen beschrieben wurde, ist die vorliegende Erfindung deshalb nicht nur auf die vorherigen Ausführungsformen beschränkt; mit dem Konzept der vorliegenden Erfindung lassen sich mehrere weitere äquivalente Ausführungsformen schaffen, und der Umfang der vorliegenden Erfindung ist durch die beigefügten Ansprüche definiert.

Claims

Anzeigevorrichtung, umfassend: ein erstes Anzeigetestsignal-Eingabebauteil (26, 36, 46, 56), das dazu ausgelegt ist, ein erstes Anzeigetestsignal einzugeben; ein erstes Anzeigetestsignal-Steuerbauteil (25, 35, 45, 55), das dazu ausgelegt ist, die Eingabe des ersten Anzeigetestsignals zu steuern; ein zweites Anzeigetestsignal-Eingabebauteil (27, 37, 47, 57), das dazu ausgelegt ist, ein zweites Anzeigetestsignal einzugeben; einen ersten Testbus (28, 38, 48, 58), der an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil (26, 36, 46, 56) angeschlossen ist; und einen zweiten Testbus (29, 39, 49, 59), der an das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil (27, 37, 47, 57) angeschlossen ist; wobei der erste Testbus (28, 38, 48, 58) und der zweite Testbus (29, 39, 49, 59) aneinander angeschlossen sind.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, wobei sie darüber hinaus mehrere erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteile (26, 36, 46, 56) aufweist, wobei die Anzahl der ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile (26, 36, 46, 56) der Anzahl von Grundfarben der Anzeigevorrichtung entspricht, wobei eine Vielzahl der ersten Testbusse (28, 38, 48, 58) Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben umfasst, und die mehreren ersten Anzeigetestsignal-Eingabebauteile (26, 36, 46, 56) jeweils an die Testbusse für Teilpixel der jeweiligen Grundfarben angeschlossen sind.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, wobei das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil (26, 36, 46, 56) ein Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, ein Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel und ein Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel umfasst, wobei eine Vielzahl der ersten Testbusse (28, 38, 48, 58) einen Signaltestbus für rote Teilpixel, einen Signaltestbus für grüne Teilpixel und einen Signaltestbus für blaue Teilpixel umfasst, wobei der Signaltestbus für rote Teilpixel, der Signaltestbus für grüne Teilpixel und der Signaltestbus für blaue Teilpixel an das Testsignal-Eingabebauteil für rote Teilpixel, das Testsignal-Eingabebauteil für grüne Teilpixel bzw. das Testsignal-Eingabebauteil für blaue Teilpixel angeschlossen sind.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, wobei das zweite Anzeigetestsignal-Eingabebauteil (27, 37, 47, 57) ein Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode aufweist.
Anzeigevorrichtung nach einem der Ansprüche 1–4, wobei das erste Anzeigetestsignal-Steuerbauteil (25, 35, 45, 55) einen NMOS-Transistor aufweist, wobei eine Source des NMOS-Transistors an das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil (26, 36, 46, 56) angeschlossen ist; ein Gate des NMOS-Transistors dazu ausgelegt ist, ein erstes Steuersignal zu empfangen, um den NMOS-Transistor durchzuschalten oder zu sperren; und das erste Anzeigetestsignal-Eingabebauteil (26, 36, 46, 56) an das Testsignal-Eingabebauteil für die gemeinsame Elektrode angeschlossen ist; wobei, wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, das erste Steuersignal auf Tiefpegel liegt, so dass der NMOS-Transistor gesperrt ist; und wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, das erste Steuersignal auf Hochpegel liegt, so dass der NMOS-Transistor durchgeschaltet wird.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, darüber hinaus ein Anzeigefeld aufweisend, wobei das Anzeigefeld den ersten Testbus (28, 38, 48, 58) und den zweiten Testbus (29, 39, 49, 59) umfasst, wobei der erste Testbus (28, 38, 48, 58) und der zweite Testbus (29, 39, 49, 59) aneinander angeschlossen sind.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, darüber hinaus mit einer flexiblen Leiterplatine (310, 510), die den ersten Testbus (28, 38, 48, 58) und den zweiten Testbus (29, 39, 49, 59) aufweist, wobei der erste Testbus (28, 38, 48, 58) und der zweite Testbus (29, 39, 49, 59) aneinander angeschlossen sind.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 6 oder 7, wobei der erste Testbus (28, 38, 48, 58) und der zweite Testbus (29, 39, 49, 59) über einen Verarmungs-MOS-Transistor (410, 511) oder einen Widerstand aneinander angeschlossen sind.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 8, wobei der erste Testbus (28, 38, 48, 58) an einen ersten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors (410, 511) angeschlossen ist, der zweite Testbus (29, 39, 49, 59) an einen zweiten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors (410, 511) angeschlossen ist, und ein Gate des Verarmungs-MOS-Transistors (410, 511) dazu ausgelegt ist, ein zweites Steuersignal zu empfangen, um das Durchschalten oder Sperren des Verarmungs-MOS-Transistors (410, 511) zu steuern.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 8, wobei, wenn die Anzeigevorrichtung mit dem Anzeigen befasst ist, das zweite Steuersignal auf Tiefpegel liegt, so dass der Verarmungs-MOS-Transistor (410, 511) gesperrt ist; und wenn die Anzeigevorrichtung den Anzeigevorgang unterbricht, das zweite Steuersignal auf Hochpegel liegt, so dass der Verarmungs-MOS-Transistor (410, 511) durchgeschaltet ist.
Anzeigevorrichtung nach Anspruch 9, wobei es sich bei dem ersten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors (410, 511) um eine Source und bei dem zweiten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors (410, 511) um ein Drain handelt; oder wobei es sich bei dem ersten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors (410, 511) um ein Drain und beim zweiten Anschluss des Verarmungs-MOS-Transistors (410, 511) um eine Source handelt.