DE102007042359B4 - Reflexions-CMOS-Bildsensor und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 45
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 22
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 7
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 8
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14645—Colour imagers
- H01L27/14647—Multicolour imagers having a stacked pixel-element structure, e.g. npn, npnpn or MQW elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14609—Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14683—Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
- H01L27/14685—Process for coatings or optical elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0232—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L31/02327—Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
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- H01L31/101—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
- H01L31/1013—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation devices sensitive to two or more wavelengths, e.g. multi-spectrum radiation detection devices
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Abstract
Verfahren, umfassend: Ausbilden einer Kerbe (A) auf einem Halbleitersubstrat (100), wobei die Kerbe (A) eine schräge Oberfläche (220), die in Bezug auf die oberste Oberfläche des Substrats (100) geneigt ist, und eine Lichtempfangsoberfläche (240) aufweist, die senkrecht zur obersten Oberfläche des Halbleitersubstrats ist, wobei das Substrat (100) einen Bauelement bildenden Bereich (B) neben der Lichtempfangsoberfläche (240) aufweist; Ausbilden einer Reflexionsschicht (260) über der schrägen Oberfläche (220); Ausbilden einer Vielzahl von Fotodioden (320, 340, 360), die senkrecht zur obersten Oberfläche des Substrats (100) im Bauelement bildenden Bereich (B) sind; und Ausbilden von mindestens einem MOS-Transistor (400, 420, 440) über dem Bauelement bildenden Bereich (B).
Description
- HINTERGRUND
- Ein Bildsensor ist ein Halbleiterbauelement, das dazu verwendet wird, vom Bildsensor detektierte optischer Bilder in elektrische Signale umzuwandeln. Bildsensoren können als eine ladungsgekoppelte (CCD) Einrichtung und als ein Komplementär-Metall-Oxid-Halbleiter (CMOS) klassifiziert werden.
- Ein CMOS-Bildsensor ist mit einer Vielzahl von MOS-Transistoren ausgestattet, die Bildpunkte eines Halbleiterbauelements entsprechen, das eine Steuerschaltung und eine Signalverarbeitungsschaltung als periphere Schaltungen aufweist. Die Steuerschaltung und die Signalverarbeitungseinheit können miteinander integriert sein, um ein Schaltverfahren anzuwenden, das eine Ausgabe durch die MOS-Transistoren feststellt.
- Ein CMOS-Bildsensor kann mit einer Vielzahl von Bildpunkteinheiten ausgestattet sein, wobei jede Bildpunkteinheit eine Lichtmesseinrichtung wie zum Beispiel eine Fotodiode sowie eine Vielzahl von MOS-Transistoren umfasst.
- Wie im Beispiel von
1 dargestellt, umfasst ein CMOS-Bildsensor eine Vielzahl von Fotodioden22 ,24 und26 , die durch wiederholte Ausführung von Ionenimplantation und eines Prozesses zum epitaktischen Aufwachsen von Silizium auf und/oder über dem Siliziumsubstrat10 ausgebildet werden. Die Fotodioden22 ,24 und26 sind so gestaltet, dass sie rotes, grünes und blaues Licht detektieren. Eine Ionenimplantationsschicht für eine rote Fotodiode22 kann im Substrat10 ausgebildet sein und eine erste Silizium-Epitaxieschicht12 kann darauf und/oder darüber ausgebildet sein. Eine grüne Fotodiode24 kann in der ersten Epitaxieschicht12 unter Verwendung eines Ionenimplantationsprozesses ausgebildet werden. Ein Plug42 zum Kontaktieren der raten Fotodiode22 kann in einem Teil der ersten Epitaxieschicht12 ausgebildet sein. Unter Verwendung eines Prozesses zum epitaktischen Aufwachsen von Silizium wird die zweite Silizium-Epitaxieschicht14 ausgebildet und die blaue Fotodiode26 wird in der zweiten Sillzium-Epitaxieschicht14 ausgebildet. Ein Plug46 zum Kontaktieren der grünen Fotodiode24 und ein Plug44 zum Kontaktieren der roten Fotodiode22 können ausgebildet sein. Die Vielzahl of MOS-Transistoren zum Übertragen der von den Fotodioden22 ,24 und26 detektierten optischen Ladungen kann auf und/oder über der zweiten Silizium-Epitaxieschicht14 ausgebildet sein. Jeder der Vielzahl von MOS-Transistoren kann Gate30 , Gate-Isolierschicht32 und Spacer34 umfassen. - Da die jeweiligen Größen der roten Fotodiode
22 und der grünen Fotodiode24 größer als die blaue Fotodiode26 sind und die Transistoren zum Übermitteln von Signalen auf einer obersten Schicht angeordnet sind, wird nur die Größe der blauen Fotodiode26 eine wesentliche Lichtempfangsfläche. Folglich kann die wesentliche Lichtempfangsfläche kleiner sein als die der Fotodioden. Die Plugs42 ,44 und46 für die Verarbeitung des Signals der roten Fotodiode22 oder der grünen Fotodiode24 können durch den Ionenimplantationsprozess ausgebildet werden. Doch wenn Licht ausgestrahlt wird, kann aufgrund der Plugs Rauschen im Signal erzeugt werden. Die Fotodioden22 ,24 und26 können separat ausgebildet sein, um Störungen zwischen ihnen zu verhindern. Eine zusätzliche Ionenimplantationsschicht zum Isolieren der Fotodioden22 ,24 und26 kann in jeder Epitaxieschicht12 und14 ausgebildet sein. - In der
US 2006/0081890 A1 - ZUSAMMENFASSUNG
- Ausführungsformen betreffen einen Reflexions-CMOS-Bildsensor, der eine Struktur mit erhöhtem Lichtreflexionsvermögen aufweist.
- Ausführungsformen betreffen einen CMOS-Bildsensor, der ein Halbleitersubstrat enthalten kann, das einen Kerbenbereich mit einer schrägen Oberfläche und mit einer zum Halbleitersubstrat im Wesentlichen senkrechten Lichtempfangsoberfläche sowie einen einen Transistor bildenden Bereich aufweist, der auf einer Seite der Lichtempfangsoberfläche des schrägen Kerbenbereichs festgelegt ist; eine Reflexionsschicht, die selektiv auf der schrägen Oberfläche des schrägen Kerbenbereichs ausgebildet sein kann; eine Vielzahl von zur Oberfläche des Substrats im Wesentlichen senkrechten und in dem den Transistor bildenden Bereich voneinander beabstandeten Fotodioden; und mindestens einen auf und/oder über der Oberfläche des den Transistor bildenden Bereichs ausgebildeten MOS-Transistor.
- ZEICHNUNGEN
- Das Beispiel von
1 stellt einen CMOS-Bildsensor dar. - Die Beispiele von
2A bis2D veranschaulichen ein Verfahren zur Herstellung des CMOS-Bildsensors gemäß Ausführungsformen. - BESCHREIBUNG
- Wie in den Beispielen von
2A und2B dargestellt, enthält ein CMOS-Bildsensor ein Silizium-Halbleitersubstrat100 mit mindestens einer Kerbe A. Die Kerbe A kann aus zwei gesonderten Oberflächenbereichen gebildet sein: aus einer schrägen Oberfläche220 und aus einer Lichtempfangsoberfläche240 . Der Bauelement bildende Bereich B, der an einer oberen Oberfläche von Substrat100 festgelegt ist und an die Lichtempfangsoberfläche240 der schrägen Kerbe A angrenzt. Die schräge Oberfläche220 kann so gestaltet sein, dass sie sich im Wesentlichen mit einer Neigung gegenüber der Oberfläche von Substrat100 erstreckt. Eine Reflexionsschicht260 kann selektiv auf und/oder über der schrägen Oberfläche220 ausgebildet sein. Die Reflexionsschicht260 kann aus einer Metallschicht gebildet sein, die sichtbares Licht reflektiert. - Gemäß Ausführungsformen kann die schräge Oberfläche
220 einen Winkel von ungefähr 45 Grad zur Oberfläche des Substrats haben, so dass das von der Reflexionsschicht260 reflektierte Licht auf die Lichtempfangsoberfläche240 gelenkt wird. Die Lichtempfangsoberfläche240 kann so gestaltet sein, dass sie sich im Wesentlichen senkrecht zur Oberfläche des Substrats100 erstreckt. - Eine Vielzahl von Fotodioden
320 ,340 und360 kann auf und/oder über dem Bauelement bildenden Bereich B vorgesehen sein. Fotodioden320 ,340 und360 können voneinander beabstandet und im Wesentlichen senkrecht zur obersten Oberfläche des Substrats100 vorgesehen sein. Die Vielzahl von Fotodioden kann eine blaue Fotodiode320 , eine grüne Fotodiode340 und eine rote Fotodiode360 umfassen. Die blaue Fotodiode320 , die grüne Fotodiode340 und die rote Fotodiode360 können aufeinanderfolgend neben der Lichtempfangsoberfläche240 ausgebildet sein. Da blaues Licht eine geringe Eindringtiefe hat und rotes Licht eine große Eindringtiefe hat, kann die blaue Fotodiode320 in einer am nächsten zur Lichtempfangsoberfläche240 liegenden Position ausgebildet sein und die rote Fotodiode360 kann in einer am weitesten von der Lichtempfangsoberfläche240 entfernten Position ausgebildet sein. - Mindestens ein MOS-Transistor, der Gate-Elektrode
400 , Spacer420 und Gate-Isolierschicht440 enthält, kann auf und/oder über der Oberfläche von Substrat100 im Bauelement bildenden Bereich B ausgebildet sein. - Wie im Beispiel von
2A dargestellt, kann gemäß Ausführungsformen das Silizium-Halbleitersubstrat100 vorbereitet werden und bestimmte Bereiche des Substrats100 können geätzt werden, um die Kerbe A auszubilden. Die Fotodioden320 ,340 und360 und eine Vielzahl von MOS-Transistoren können im Bauelement bildenden Bereich B ausgebildet sein. Die schräge Kerbe A kann zwei Oberflächen umfassen: die schräge Oberfläche220 und die Lichtempfangsoberfläche240 . Die schräge Oberfläche220 kann einen Winkel von ungefähr 45 Grad zur obersten Oberfläche des Substrats100 haben und die Lichtempfangsoberfläche240 kann im Wesentlichen senkrecht zur obersten Oberfläche des Substrats100 sein. - Wie im Beispiel von
2B dargestellt, kann die Reflexionsschicht260 selektiv auf und/oder über der schrägen Oberfläche220 ausgebildet werden, indem eine Metallschicht mit einem ausgezeichneten Reflexionsvermögen gegenüber sichtbarem Licht auf und/oder über der gesamten Oberfläche von Substrat100 abgeschieden und die Oberfläche des Substrats100 poliert wird, um die Metallschicht zu entfernen. Die Oberfläche von Substrat100 kann unter Verwendung eines chemisch-mechanischen Polierverfahrens poliert werden. - Gemäß Ausführungsformen kann die Reflexionsschicht
220 alternativ ausgebildet werden, indem unter Verwendung eines fotolithografischen Prozesses eine Fotolackschichtstruktur auf und/oder über dem Bauelement bildenden Bereich B ausgebildet wird, eine Metallschicht auf und/oder über der Fotolackschichtstruktur abgeschieden wird und die Fotolackschichtstruktur entfernt wird. - Wie im Beispiel von
2C dargestellt, kann ein Ionenimplantationsprozess wiederholt auf und/oder über dem Bauelement bildenden Bereich B ausgeführt werden, um die Fotodioden320 ,340 und360 auszubilden. Der Ionenimplantationsprozess kann unter Verwendung einer Ionenimplantationsenergie ausgeführt werden, die so eingestellt wird, dass die Ionenimplantationsschichten für die Fotodioden320 ,340 und360 im Wesentlichen senkrecht zur obersten Oberfläche des Substrats100 , d. h. im Wesentlichen parallel zur Lichtempfangsoberfläche240 , ausgebildet werden. Die blaue Fotodiode320 , die grüne Fotodiode340 und die rote Fotodiode360 können aufeinanderfolgend beabstandet voneinander im Bauelement bildenden Bereich B neben der Lichtempfangsoberfläche240 ausgebildet werden. - Wie im Beispiel von
2D dargestellt, kann mindestens ein MOS-Transistor, der Gate-Elektrode400 , Spacer420 und Gate-Isolierschicht440 enthält, auf der obersten Oberfläche des Bauelement bildenden Bereichs B von Substrat100 ausgebildet sein. Ein vorbestimmter Plug kann elektrisch mit den Fotodioden320 ,340 und360 verbunden sein und der mindestens eine MOS-Transistor kann so ausgebildet sein, dass er von den Fotodioden320 ,340 und360 erzeugte Signale überträgt. Dadurch kann Licht, das senkrecht in das Substrat100 eingegeben wird, von der Reflexionsschicht260 mit ungefähr 90 Grad reflektiert werden, und das reflektierte Licht wird von der Lichtempfangsoberfläche240 empfangen und auf die Fotodioden320 ,340 und360 gerichtet, wo es dann in ein elektrisches Signal umgewandelt wird. - Gemäß Ausführungsformen wird ein CMOS-Bildsensor bereitgestellt, der einfallendes Licht mit ungefähr 90 Grad reflektiert und das Licht in eine Vielzahl von Fotodioden eingibt, wobei ein Hindernis zum Blockieren des Lichts auf den Fotodioden ausgebildet sein kann. Demgemäß ist es möglich, das Ausbilden eines Bauelements mit einem Laminataufbau zu vereinfachen, der die Gesamtfläche zum Empfangen einfallenden Lichts vergrößern kann. Da die Fotodioden und die MOS-Transistoren auf einem kürzesten Weg verbunden werden können, sind Plugs nicht unbedingt erforderlich. Dementsprechend kann es möglich sein, die Leistungsfähigkeit des Bauelements zu erhöhen, da die Erzeugung von Rauschen in einem Signal aufgrund von mehrstufigen Plugs verhindert werden kann.
Claims (19)
- Verfahren, umfassend: Ausbilden einer Kerbe (A) auf einem Halbleitersubstrat (
100 ), wobei die Kerbe (A) eine schräge Oberfläche (220 ), die in Bezug auf die oberste Oberfläche des Substrats (100 ) geneigt ist, und eine Lichtempfangsoberfläche (240 ) aufweist, die senkrecht zur obersten Oberfläche des Halbleitersubstrats ist, wobei das Substrat (100 ) einen Bauelement bildenden Bereich (B) neben der Lichtempfangsoberfläche (240 ) aufweist; Ausbilden einer Reflexionsschicht (260 ) über der schrägen Oberfläche (220 ); Ausbilden einer Vielzahl von Fotodioden (320 ,340 ,360 ), die senkrecht zur obersten Oberfläche des Substrats (100 ) im Bauelement bildenden Bereich (B) sind; und Ausbilden von mindestens einem MOS-Transistor (400 ,420 ,440 ) über dem Bauelement bildenden Bereich (B). - Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die Reflexionsschicht (
260 ) eine Metallschicht umfasst, die sichtbares Licht reflektiert. - Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, bei dem die Vielzahl von Fotodioden eine blaue Fotodiode (
320 ), eine grüne Fotodiode (340 ) und eine rote Fotodiode (360 ) umfasst. - Verfahren nach Anspruch 3, bei dem die blaue Fotodiode, die grüne Fotodiode und die rote Fotodiode aufeinanderfolgend neben der Lichtempfangsoberfläche (
240 ) ausgebildet werden. - Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem die schräge Oberfläche (
220 ) mit einem Winkel von 45 Grad zur obersten Oberfläche des Substrats (100 ) ausgebildet wird. - Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem die Kerbe (A) durch Ätzen des Halbleitersubstrats (
100 ) ausgebildet wird. - Vorrichtung, umfassend: ein Halbleitersubstrat (
100 ), das mindestens eine Kerbe (A) mit einer schrägen Oberfläche (220 ) und einer zur obersten Oberfläche des Halbleitersubstrats (100 ) senkrechten Lichtempfangsoberfläche (240 ) und einen Bauelement bildenden Bereich (B) neben der Lichtempfangsoberfläche (240 ) enthält; eine über der schrägen Oberfläche (220 ) ausgebildete Reflexionsschicht (260 ); eine Vielzahl von Fotodioden (320 ,340 ,360 ), die senkrecht zur obersten Oberfläche des Substrats (100 ) im Bauelement bildenden Teil (B) sind; und mindestens einen MOS-Transistor (400 ,420 ,440 ), der über dem Substrat (100 ) des Bauelement bildenden Teils (B) ausgebildet ist. - Vorrichtung nach Anspruch 7, bei der die Reflexionsschicht (
260 ) eine Metallschicht umfasst, die sichtbares Licht reflektiert. - Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, bei der die Vielzahl von Fotodioden eine blaue Fotodiode (
320 ), eine grüne Fotodiode (340 ) und eine rote Fotodiode (360 ) umfasst. - Vorrichtung nach Anspruch 9, bei der die blaue Fotodiode (
320 ), die grüne Fotodiode (340 ) und die rote Fotodiode (360 ) aufeinanderfolgend neben der Lichtempfangsoberfläche (240 ) ausgebildet sind. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 10, bei der die schräge Oberfläche (
220 ) des Bereichs der schrägen Kerbe (A) einen Winkel von 45 Grad zur obersten Oberfläche des Substrats (100 ) hat. - Verfahren, umfassend: Bereitstellen eines Halbleitersubstrats (
100 ); Ausbilden von mindestens einem Kerbenbereich (A) im Halbleitersubstrat (100 ), wobei die Kerbe (A) eine lichtreflektierende Oberfläche (220 ) und eine Lichtempfangsoberfläche (240 ), die senkrecht zur obersten Oberfläche des Halbleitersubstrats ausgebildet ist, aufweist; Ausbilden einer Schicht (200 ) über der lichtreflektierenden Oberfläche (220 ); aufeinanderfolgendes Ausbilden einer Vielzahl von Fotodioden (320 ,340 ,360 ) über dem Halbleitersubstrat (100 ); und dann Ausbilden von mindestens einem Transistor (400 ,420 ,440 ) über dem Halbleitersubstrat (100 ). - Verfahren nach Anspruch 12, bei dem die lichtreflektierende Oberfläche (
220 ) mit einem Neigungswinkel bezogen auf die oberste Oberfläche des Halbleitersubstrats (100 ) ausgebildet wird. - Verfahren nach Anspruch 13, bei dem der Neigungswinkel 45 Grad beträgt.
- Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 14, bei dem die Schicht (
260 ) eine Metallschicht umfasst, die sichtbares Licht reflektiert. - Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 15, bei dem die Vielzahl von Fotodioden eine blaue Fotodiode (
320 ), eine grüne Fotodiode (340 ) und eine rote Fotodiode (360 ) umfasst. - Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 15, bei dem die Vielzahl von Fotodioden eine blaue Fotodiode und eine rote Fotodiode umfasst, und bei dem die blaue Fotodiode (
320 ) in einer am nächsten zur Lichtempfangsoberfläche (240 ) liegenden Position ausgebildet ist und die rote Fotodiode (360 ) in einer am weitesten von der Lichtempfangsoberfläche (240 ) entfernten Position ausgebildet ist. - Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 17, bei dem der mindestens eine Transistor (
400 ,420 ,440 ) mindestens einen MOS-Transistor umfasst. - Verfahren nach Anspruch 18, bei dem der mindestens eine MOS-Transistor eine Gate-Elektrode (
400 ), einen Spacer (420 ) und eine Gate-Isolierschicht (440 ) umfasst.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060086635A KR100778870B1 (ko) | 2006-09-08 | 2006-09-08 | 반사 방식의 씨모스 이미지 센서 및 그의 제조 방법 |
KR10-2006-0086635 | 2006-09-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102007042359A1 DE102007042359A1 (de) | 2008-04-17 |
DE102007042359B4 true DE102007042359B4 (de) | 2013-06-06 |
Family
ID=39080633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102007042359A Expired - Fee Related DE102007042359B4 (de) | 2006-09-08 | 2007-09-06 | Reflexions-CMOS-Bildsensor und Verfahren zu seiner Herstellung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7675098B2 (de) |
JP (1) | JP2008066732A (de) |
KR (1) | KR100778870B1 (de) |
CN (1) | CN100521153C (de) |
DE (1) | DE102007042359B4 (de) |
TW (1) | TWI349365B (de) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100767588B1 (ko) * | 2006-12-15 | 2007-10-17 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 수직형 이미지 센서의 제조 방법 |
KR100913325B1 (ko) * | 2007-11-05 | 2009-08-20 | 주식회사 동부하이텍 | 듀얼 이미지 센서 및 그 제조 방법 |
KR100949257B1 (ko) * | 2007-12-26 | 2010-03-25 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지센서의 제조방법 |
JP5793688B2 (ja) * | 2008-07-11 | 2015-10-14 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 固体撮像装置 |
KR101009394B1 (ko) | 2008-07-30 | 2011-01-19 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지 센서 및 그 제조 방법 |
KR20100075060A (ko) * | 2008-12-24 | 2010-07-02 | 주식회사 동부하이텍 | 이미지 센서 및 이미지 센서의 제조 방법 |
CN102569320A (zh) * | 2011-12-30 | 2012-07-11 | 上海中科高等研究院 | 图像传感器的感光区域以及制造方法、图像传感器 |
CN103199099B (zh) * | 2013-04-11 | 2018-02-27 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 具有高动态范围的图像传感器像素阵列 |
JP2015146364A (ja) * | 2014-02-03 | 2015-08-13 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子、固体撮像素子の駆動方法、固体撮像素子の製造方法および電子機器 |
CN104393008B (zh) * | 2014-11-12 | 2019-03-19 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 具有斜面pn结结构的像元单元及其制造方法 |
US9686457B2 (en) | 2015-09-11 | 2017-06-20 | Semiconductor Components Industries, Llc | High efficiency image sensor pixels with deep trench isolation structures and embedded reflectors |
US11552205B2 (en) | 2020-11-13 | 2023-01-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Optical sensing device having inclined reflective surface |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060081890A1 (en) * | 2004-10-18 | 2006-04-20 | Samsung Electronics Co.; Ltd | CMOS image sensor and method of manufacturing the same |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0485960A (ja) * | 1990-07-30 | 1992-03-18 | Toshiba Corp | 固体撮像装置及びその製造方法 |
JPH04355560A (ja) * | 1991-05-31 | 1992-12-09 | Fuji Xerox Co Ltd | 多色光電変換素子 |
JPH0697402A (ja) * | 1992-09-11 | 1994-04-08 | Sony Corp | 撮像素子およびその製造方法 |
KR20000041459A (ko) * | 1998-12-22 | 2000-07-15 | 김영환 | 집광기로서 경사진 반사층을 갖는 이미지센서 및 그 제조방법 |
JP3949360B2 (ja) * | 2000-08-29 | 2007-07-25 | 日本放送協会 | カラーイメージセンサ |
KR100689885B1 (ko) * | 2004-05-17 | 2007-03-09 | 삼성전자주식회사 | 광감도 및 주변광량비 개선을 위한 cmos 이미지 센서및 그 제조방법 |
US7332737B2 (en) * | 2004-06-22 | 2008-02-19 | Micron Technology, Inc. | Isolation trench geometry for image sensors |
KR20060020400A (ko) * | 2004-08-31 | 2006-03-06 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 광 손실을 감소시킨 시모스 이미지센서의 제조방법 |
US7791158B2 (en) * | 2005-04-13 | 2010-09-07 | Samsung Electronics Co., Ltd. | CMOS image sensor including an interlayer insulating layer and method of manufacturing the same |
US7456452B2 (en) * | 2005-12-15 | 2008-11-25 | Micron Technology, Inc. | Light sensor having undulating features for CMOS imager |
-
2006
- 2006-09-08 KR KR1020060086635A patent/KR100778870B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-09-04 US US11/849,732 patent/US7675098B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-09-05 JP JP2007230531A patent/JP2008066732A/ja active Pending
- 2007-09-05 TW TW096133044A patent/TWI349365B/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-09-06 DE DE102007042359A patent/DE102007042359B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2007-09-07 CN CNB2007101460680A patent/CN100521153C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060081890A1 (en) * | 2004-10-18 | 2006-04-20 | Samsung Electronics Co.; Ltd | CMOS image sensor and method of manufacturing the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101140904A (zh) | 2008-03-12 |
TWI349365B (en) | 2011-09-21 |
KR100778870B1 (ko) | 2007-11-22 |
US20080061329A1 (en) | 2008-03-13 |
DE102007042359A1 (de) | 2008-04-17 |
TW200814310A (en) | 2008-03-16 |
US7675098B2 (en) | 2010-03-09 |
CN100521153C (zh) | 2009-07-29 |
JP2008066732A (ja) | 2008-03-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20130907 |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20140401 |