CN205484080U - 一种密封胶检测及超声清洗装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种密封胶检测及超声清洗装置，包括：密封胶检测部件，用于检测待测元件上密封胶是否异常；超声清洗部件，用于对密封胶检测部件检测后的待测元件进行超声清洗。该密封胶检测及超声清洗装置将超声清洗部件和密封胶检测部件作为一个整体，经密封胶检测部件检测的密封胶合格的待测元件从密封胶检测部件的直接进入超声清洗部件，这种密封胶检测及超声清洗装置使得在一个装置中的一个工艺流程中，实现了密封胶检测和超声清洗，从而缩短工艺流程，减少了设备占用的空间。

Description

一种密封胶检测及超声清洗装置

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，具体涉及一种密封胶检测及超声清洗装置。

背景技术

近年来，随着移动应用型TFT-LCD产品的广泛使用，新型液晶面板产品不断被开发出来，人们对液晶显示面板显示品质也有了更高的要求，薄膜晶体管液晶显示器凭借高分辨率、高色彩饱和度、反应速度快、高开口率等优点成为新一代显示器件，广泛应用于手机等电子显示产品中，通过阵列基板(TFT)和彩膜(CF)基板对盒形成液晶显示器。

目前对盒工艺中，通过在彩膜基板涂覆封框胶，先进入密封胶涂覆检测设备，然后进入超声清洗设备，最后进行对盒工艺，将两基板牢固粘接一起。

CF基板涂覆封框胶完成后，先进入密封胶涂覆检测设备，然后进入超声清洗设备，工艺流程较复杂，生产所需设备较多，设备购买及维护费用巨大，生产流程多，产能相对较低。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是，如何在同一工艺流程中实现密封胶涂覆检测和超声清洗，从而缩短工艺流程，减少了设备占用的空间。

为此目的，本实用新型提出了一种密封胶检测及超声清洗装置，包括：

密封胶检测部件，用于检测待测元件上密封胶是否异常；

超声清洗部件，用于对密封胶检测部件检测后的待测元件进行超 声清洗。

优选地，所述密封胶检测部件包括出口和入口，所述超声清洗部件设置在所述密封胶检测部件出口的一侧。

优选地，该装置还包括：

检测部件，用于检测所述待测元件的位置；

控制部件，在所述待测元件处于所述密封胶检测部件中时，控制所述密封胶检测部件检测所述待测元件上的密封胶是否异常，在所述待测元件处于所述超声清洗部件中时，控制所述超声清洗部件对所述待测元件进行清洗。

优选地，所述控制部件还用于控制所述待测元件进出所述密封胶检测部件和所述超声清洗部件。

优选地，所述控制部件在所述密封胶检测部件检测到所述待测元件上的密封胶存在异常时，控制所述待测元件将所述待测元件从所述密封胶检测部件的入口移出，并发出提示信息。

优选地，所述控制部件在所述密封胶检测部件检测所述待测元件上的密封胶不存在异常时，控制所述待测元件从所述密封胶检测部件的出口移出，从所述超声清洗部件的入口进入所述超声清洗部件，在所述超声清洗部件对所述待测元件进行超声清洗后，将所述待测元件从所述超声清洗部件的入口移出，从所述密封胶检测部件的出口进入所述密封胶检测部件，并所述密封胶检测部件的入口移出。

优选地，该装置还包括：

机架，

其中，所述密封胶检测部件和所述超声清洗部件设置在所述机架上；

移动平台，设置在所述机架上，用于承载所述待测元件进出所述密封胶检测部件和所述超声清洗部件。

优选地，该装置还包括：

吸盘，设置在所述移动平台上，用于固定所述待测元件。

优选地，所述密封胶检测部件包括光源、准直激光器、分光镜和图像控制器，

其中，所述光源用于照射所述待测元件未涂覆密封胶的一面；

所述准直激光器发出准直激光，所述准直激光通过分光镜后照射所述待测元件中的密封胶；

所述图像控制器用于接收经所述密封胶反射的准直激光，根据接收到的准直激光判断所述密封胶是否存在异常。

优选地，所述超声清洗部件包括：压力室、真空室和超声发生器；

其中，所述压力室用于将压力室中的气体经过压力室开口处的超声发生器射到所述待测元件上，以使所述待测元件表面的微粒扩散；

所述真空室用于将散开的微粒从所述真空室的开口吸入所述真空室。

本实用新型提供的密封胶检测及超声清洗装置将超声清洗部件和密封胶检测部件作为一个整体，经密封胶检测部件检测的密封胶合格的待测元件从密封胶检测部件直接进入超声清洗部件，这种密封胶检测及超声清洗装置使得在一个装置中的一个工艺流程中，实现了密封胶检测和超声清洗，从而缩短工艺流程，减少了设备占用的空间。

附图说明

通过参考附图会更加清楚的理解本实用新型的特征和优点，附图是示意性的而不应理解为对本实用新型进行任何限制，在附图中：

图1示出了本实用新型提供的密封胶检测及超声清洗装置的示意框图；

图2示出了本实用新型的一个实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置的结构示意图；

图3示出了本实用新型的又一个实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置的密封胶检测部件工作原理示意图；

图4示出了本实用新型又一个实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置的超声清洗部件工作原理示意图；

附图标记说明：

1-密封胶检测部件；2-超声清洗部件；3-检测部件；4-控制部件；5-机架；6-移动平台；7-准直激光器；8-分光镜；9-图像控制器；10-基板上的密封胶；11-光源；12-压力室；13-真空室；14-超声发生器；15-基板；100-密封胶检测及超声清洗装置。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本实用新型的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

实施例1：

图1是本实用新型提供的密封胶检测及超声清洗装置的示意框图，参见图1，该密封胶检测及超声清洗装置100包括密封胶检测部件和超声清洗部件。

其中，密封胶检测部件1，用于检测待测元件上密封胶是否异常；

超声清洗部件2，用于对密封胶检测部件检测后的待测元件进行超声清洗。

通过本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置对涂覆了密封胶的基板(例如，对盒工艺之前涂覆了密封胶的彩膜基板)进行密封胶检测时，只需要机械手将待检测元件送入该密封胶检测及超声 清洗装置，待检测元件首先进入密封胶检测部件进行密封胶检测，然后进入超声清洗部件进行超声清洗。两道工序完成后，再由机械手将该基板取出，以便进行下一道工序。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置将超声清洗部件和密封胶检测部件作为一个整体，经密封胶检测部件检测的密封胶合格的待测元件从密封胶检测部件可以直接进入超声清洗部件，使得在一个装置中的一个工艺流程中，即可了密封胶检测和超声清洗，从而缩短工艺流程，减少设备占用的空间。

实施例2：

在实施例1的基础上，本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置中的密封胶检测部件包括出口和入口，超声清洗部件设置在该密封胶检测部件出口的一侧。

需要说明的是：密封胶检测及超声清洗装置的出口和入口可以是同一个口，也可以是不同的口。若密封胶检测及超声清洗装置的出口和入口是同一个口，则可以将密封胶检测部件的入口作为装置整体的出口和入口，若密封胶检测及超声清洗装置的出口和入口是不同的口，则可以将将密封胶检测部件的入口作为装置整体的入口，将超声清洗装置的出口作为装置整体的出口。

通过本实施例可以按照工艺流程的先后顺序，合理设置密封胶检测部件和超声清洗部件的位置关系，保证待测元件在进行密封胶检测及超声清洗的过程中沿着最便捷的路径行进，从而缩短了工艺流程的用时，提高了生产效率。

实施例3：

在实施例2的基础上，该装置还包括：

检测部件3，用于检测待测元件的位置；

控制部件4，在待测元件处于密封胶检测部件1中时，控制密封胶检测部件1检测待测元件上的密封胶是否异常，在待测元件处于超 声清洗部件2中时，控制超声清洗部件2对待测元件进行清洗。

需要说明的是：检测部件可以包括一个设置在封胶检测部件中的第一子检测部件和一个设置在超声清洗部件中第二子检测部件(检测部件可以包括传感器或者摄像头)，也可以是随着待测元件一起运动的检测装置。该检测装置将检测到的待测元件的位置信息传输到控制部件，控制部件控制密封胶检测部件开始对待测元件进行检测，以及控制超声清洗部件开始对待测元件进行清洗。

进一步地，若封胶检测部件或者超声清洗部件在工作前需要预热或者需要进行参数的调整，控制部件可以根据检测部件检测到的待测元件当前的位置或者待测元件所处的工艺过程，控制待测元件将要进入的相关部件进入准备状态或者参数调节状态，以节省工艺流程的时间。例如，在控制部件在收到检测部件检测到待测元件正在密封胶检测部件进行密封胶检测的信息后，在待测元件进入超声清洗部件之前控制超声清洗部件进行相关参数的调节，对设备进行预热，以缩短待测元件进行密封胶检测和超声清洗的工艺流程的时间。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置，通过检测部件检测待测元件的位置，以使控制部件正确控制密封胶检测部件和超声清洗部件的运行。

实施例4：

在实施例3的基础上，该密封胶检测及超声清洗装置的控制部件还用于控制待测元件进出密封胶检测部件和超声清洗部件。

需要说明的是：控制部件控制待测元件进出密封胶检测部件和超声清洗部件，可以是按照工艺流程控制待测元件进入密封胶检测部件进行密封胶检测后，再进入超声清洗部件进行超声清洗，也可以控制待测元件进入密封胶检测部件检测后，不进入超声清洗部件。也即控制部件可以根据需要对待测元件的路径进行控制。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置，控制部件根据需要 对待测元件的运动进行控制，保证了工艺过程的流畅性。

实施例5：

在实施例4的基础上，本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置的控制部件在密封胶检测部件检测到待测元件上的密封胶存在异常时，控制待测元件从密封胶检测部件的入口移出，并发出提示信息。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置，在待测元件上的密封胶异常时，不再对该待测元件进行超声清洗程序，节省了时间。

实施例6：

在实施例4的基础上，本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置中，控制部件在密封胶检测部件检测待测元件上的密封胶不存在异常时，控制待测元件从密封胶检测部件的出口移出，从超声清洗部件的入口进入超声清洗部件，在超声清洗部件对待测元件进行超声清洗后，将待测元件从超声清洗部件的入口移出，从密封胶检测部件的出口进入密封胶检测部件，并从密封胶检测部件的入口移出。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置在待测元件上的密封胶不存在异常的情况下，继续对待测元件进行超声清洗。

实施例7：

在实施例1的基础上，本实施提供的密封胶检测及超声清洗装置还包括：

机架，

其中，所述密封胶检测部件1和所述超声清洗部件2依次设置在所述机架上。

移动平台，设置在该机架上，用于承载待测元件进出密封胶检测部件和超声清洗部件。

图2是本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置的结构示意图，参见图2，密封胶检测部件1和超声清洗部件2设置在机架5上，机架上还设置有移动平台6。

在对待测元件进行密封胶检测和超声清洗是，将待测元件放置在机架5的移动平台6上，移动平台带动待测元件先后分别进入密封胶检测部件1和超声清洗部件2，进行密封胶检测和超声清洗后从该密封胶检测及超声清洗装置移出。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置将密封胶检测部件1和超声清洗部件2设置在机架5上，保证了整个装置的稳定性。移动平台6的设置是待测元件能在机架上稳定移动。

实施例8：

在实施例7的基础上，本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置还包括：

吸盘，设置在移动平台6上，用于固定待测元件。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置，在移动平台6上设置有固定待测元件的吸盘，保证了密封胶检测和超声清洗过程中待测元件的位置不变，保证了检测的精确性。

实施例9：

在实施例1至实施例8的基础上，本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置中的密封胶检测部件如图3所示。

该密封胶检测部件包括准直激光器7、分光镜8、图像控制器9和光源11，其中，光源11用于照射待测元件未涂覆密封胶的一面，为密封胶的检测提供光照；准直激光器发出准直激光，准直激光通过分光镜后照射待测元件中的密封胶；图像控制器用于接收经密封胶反射的准直激光，根据接收到的准直激光判断密封胶是否存在异常。

准直激光器7发出的准直激光经分光镜8后，照射到基板上的密封胶9上，经该密封胶反射后，被图像控制器9接收。图像控制器9通过对接收到的准直激光进行分析，判断该基板上的密封胶是否存在异常。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置中的密封胶检测部 件检测密封胶是否存在断胶或者胶宽不符合要求的情况。

实施例10：

在实施例1至实施例8的基础上，本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置中的超声清洗部件如图4所示。

该超声清洗部件包括：压力室12、真空室13和超声发生器14；其中，压力室12用于将压力室12中的气体经过压力室12开口处的超声发生器14射到待检测元件，例如基板15上，以使基板15表面的微粒扩散；

真空室13用于将散开的微粒从真空室13的开口吸入真空室13中。

本实施例提供的密封胶检测及超声清洗装置中的超声清洗部件通过压力室12、真空室13和超声发生器14对待测元件进行清洗。

本使实用新型提供的密封胶检测及超声清洗装置将超声清洗部件和密封胶检测部件作为一个整体，经密封胶检测部件检测的密封胶合格的待测元件从密封胶检测部件的直接进入超声清洗部件，这种密封胶检测及超声清洗装置使得在一个装置中的一个工艺流程中，实现了密封胶检测和超声清洗，从而缩短工艺流程，减少了设备占用的空间。

在本实用新型中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。术语“多个”指两个或两个以上，除非另有明确的限定。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，包括：

密封胶检测部件，用于检测待测元件上密封胶是否异常；

超声清洗部件，用于对密封胶检测部件检测后的待测元件进行超声清洗；

还包括：机架，

其中，所述密封胶检测部件和所述超声清洗部件依次设置在所述机架上。

2.根据权利要求1所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，所述密封胶检测部件包括出口和入口，所述超声清洗部件设置在所述密封胶检测部件出口的一侧。

3.根据权利要求2所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，还包括：

检测部件，用于检测所述待测元件的位置；

控制部件，在所述待测元件处于所述密封胶检测部件中时，控制所述密封胶检测部件检测所述待测元件上的密封胶是否异常，在所述待测元件处于所述超声清洗部件中时，控制所述超声清洗部件对所述待测元件进行清洗。

4.根据权利要求3所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，所述控制部件还用于控制所述待测元件进出所述密封胶检测部件和所述超声清洗部件。

5.根据权利要求4所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，所述控制部件在所述密封胶检测部件检测到所述待测元件上的密封胶存在异常时，控制所述待测元件从所述密封胶检测部件的入口移出，并发出提示信息。

6.根据权利要求4所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，所述控制部件在所述密封胶检测部件检测所述待测元件上的密 封胶不存在异常时，控制所述待测元件从所述密封胶检测部件的出口移出，从所述超声清洗部件的入口进入所述超声清洗部件，在所述超声清洗部件对所述待测元件进行超声清洗后，将所述待测元件从所述超声清洗部件的入口移出，从所述密封胶检测部件的出口进入所述密封胶检测部件，并从所述密封胶检测部件的入口移出。

7.根据权利要求1所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，还包括：

移动平台，设置在所述机架上，用于承载所述待测元件进出所述密封胶检测部件和所述超声清洗部件。

8.根据权利要求7所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，还包括：

吸盘，设置在所述移动平台上，用于固定所述待测元件。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，所述密封胶检测部件包括光源、准直激光器、分光镜和图像控制器，

其中，所述光源用于照射所述待测元件未涂覆密封胶的一面；

所述准直激光器发出准直激光，所述准直激光通过分光镜后照射所述待测元件中的密封胶；

所述图像控制器用于接收经所述密封胶反射的准直激光，根据接收到的准直激光判断所述密封胶是否存在异常。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的密封胶检测及超声清洗装置，其特征在于，所述超声清洗部件包括：压力室、真空室和超声发生器；

其中，所述压力室用于将压力室中的气体经过压力室开口处的超声发生器射到所述待测元件上，以使所述待测元件表面的微粒扩散；

所述真空室用于将散开的微粒从所述真空室的开口吸入所述真空室。