CN1509471A - 光学头、盘记录/再现装置和物镜驱动方法 - Google Patents

光学头、盘记录/再现装置和物镜驱动方法 Download PDF

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Abstract

一种光学头，包括具有用于将来自盘形记录介质(13)的反射光变换成电信号的光敏单元和光源的集成单元(9)、物镜(11)、用于由在光敏单元根据反射光变换的电信号产生聚焦误差信号和跟踪误差信号的信号产生单元(102)、以及用于根据聚焦误差信号和跟踪误差信号控制跟踪线圈(18a)和聚焦线圈(18b)的控制单元(101)。控制单元根据由跟踪线圈引起的在径向方向上物镜的位移量计算散焦量，并将根据散焦量产生的偏移信号加到聚焦误差信号上。

Description

光学头、盘记录/再现装置和物镜驱动方法
技术领域
本发明涉及一种用于将光点投影到盘形记录介质上并以光学方式记录/再现信息的光学头、盘记录/再现装置以及驱动物镜的方法。
背景技术
近来，已经开发了各种记录/再现光盘、例如DVD、MD、CD和CR-R。与此相关联的是，已经增加了各种品种的用于播放光盘的光学头和光盘记录/再现装置，并在高性能、高质量和附加值上作出了努力。
特别地，对采用以可记录磁光盘为代表的磁光记录介质的便携式盘记录/再现装置的需求趋于增多，因此需要进一步小型化、减小厚度、高性能和减小成本。
已经报道了关于用于磁光记录介质的光学头和盘记录/再现装置的相关技术。下面将参考图12-16描述一种常规的用于磁光记录介质的光学头。图12-16显示了采用磁光盘作为磁光记录介质的例子。
首先，参考图12和13描述光学头的示意性构造。图12是显示一个常规光学头的构造的分解立体图。图13是显示一个常规光学头的进给器的示意性构造的分解立体图。
如图12所示，光学头的构造为在光学基座10上排列反射镜10、集成单元9、物镜驱动装置14、挠性电路35、螺母板所附着的盖板33和热辐射板4。集成单元9通过一个端子(未显示)与挠性电路35相连，连接是在将这些元件排列在光学基座19上之前进行的。
物镜驱动装置14包括物镜支架12、基座15、悬架16、磁路17、聚焦线圈18a和跟踪线圈18b。物镜驱动装置14通过将电流加到聚焦线圈18a和跟踪线圈18b上而在磁光记录介质(磁光盘)的焦点方向和径向方向驱动物镜11。
具体地，可以通过将电流加到聚焦线圈18a上来在焦点方向驱动物镜11。可以通过将电流加到跟踪线圈18b上来在径向方向驱动物镜11。物镜11被固定在物镜支架12上。
用于将电流加到聚焦线圈18a和跟踪线圈18b的驱动电路以及用于控制这样施加的电流的控制电路被放置在一个独立于物镜驱动装置14、集成单元9等而提供的衬底(未显示)上。驱动电路和控制电路通过挠性电路35与聚焦线圈18a和跟踪线圈18b相连。
此外，如图13所示，一个进给器被附着在图12所示的光学头43上。进给器的主要部件包括进给螺杆36、副轴37、进给马达38、齿轮39a、39b和轴承41。进给器被固定在一个机械基座42上。在图13中，机械基座42被示意性地显示。
通过将进给螺杆36穿过螺母板40来将光学头43附着在机械基座42上。因此，当进给马达38旋转时，进给螺杆36在齿轮39a和39b中旋转，因此光学头43由进给螺杆36在箭头所示的光磁记录介质(未显示)的径向方向上移动。光学头43的位移量由齿轮39a与齿轮39b的齿轮比以及在齿轮比和进给螺杆36的螺距的基础上计算出的压缩比来确定。
如上所述，光学头相对于磁光记录介质的位移是由物镜驱动装置14和进给器实现的。图14A-14C被用于描述图12和13所示的光学头从磁光记录介质的内圆周指向外圆周(径向方向上的移动)的操作。
图14A是显示在径向方向驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图14B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图14C是显示由磁光记录介质反射的光束在光电检测器上形成的光点的散焦量与时间或物镜的位移量之间的关系的曲线图。图14A中的术语“偏心校正量”表示当在驱动磁光记录介质的主轴马达的驱动轴的中心与磁光记录介质的中心之间产生偏移时加到跟踪线圈18b的校正电流。
在相对于磁光记录介质记录或读取信息的情况下，首先将物镜11(参见图12和13)定位，使得光轴与光束的光轴基本一致。接着，如图14A所示将一个电流加到跟踪线圈18b上，使得物镜11跟踪磁光记录介质的磁道(参见图15)，因而物镜11在径向方向上移动。此时，如图14B所示，将一个对应于加到线圈18b上的电流值的电压加到进给马达38上。
当跟踪磁道的动作不能利用线圈18b所引起的一个位移控制时，即，当如图14B所示的所加电压到达一特定电平时，进给马达38旋转。当进给马达38旋转时，如上所述，光学头43在磁光记录介质的圆周方向上与光学基座19一起移动由在齿轮39a与齿轮39b的齿轮比以及进给螺杆36的螺距的基础上计算出的压缩比确定的进给量。
 此时，由于物镜11到磁光记录介质的相对位置不改变，因此恰在由进给器引起位移之前(恰在进给马达38旋转之前)，物镜11相对于光学基座19在径向方向上的位移量最大。此外，恰在由进给器引起的位移之后物镜11相对于光学基座19(或光束的光轴)的相对位置偏差是一个通过从光学头(光学基座19)的进给量扣除恰在由进给器引起的位移之前物镜11相对于光学基座19在径向方向上的位移量。
接着，下面将参考图15和16解释图12和13中所示的光学头的光学系统。图15A是从磁光记录介质的法线方向显示图12和13的光学头的光学路径的光学路径示意图，图15B是从垂直于磁光记录介质的法线方向的方向显示图12和13的光学头的光学路径的光学路径示意图。图16是显示组成图12和13所示的光学头的发光元件和光电检测器的示意图。
下面首先描述组成光学头的集成单元。如图15A和15B所示，组成光学头的集成单元9包括在其上布置有半导体激光器2和光电检测器(未显示)的硅衬底1、由树脂形成的全息元件(衍射光栅)7以及复合元件8。复合元件8包括分束器8a、反射镜8b和偏振光分离器8c。
热辐射板4通过银膏附着在硅衬底1的与带有半导体激光器2的表面相对的表面上，因此将在硅衬底1产生的热传导到热辐射板4。
如图16所示，硅衬底1在具有半导体激光器2的表面上带有聚焦误差信号光接收单元24a和24b、跟踪误差信号光接收单元25和26以及信息信号光接收单元27。在各个光接收单元形成光电检测器。硅衬底1用作一个多分割的光电检测器。
由各个光接收单元接收的光束由光电检测器变换成电信号，并通过输出部分3和端子5输出。减法器28和加法器29采用输出的电信号产生伺服信号、再现信号等。虽然自各个光电检测器的电信号的输出路径在图16中为了便于解释以单独的线来显示，但实际上来自各个光电检测器的电信号是通过输出部分3和端子5输出的。
减法器28和加法器29被布置在一个衬底(未显示)上，该衬底的设置独立于与物镜驱动装置14和集成单元9(参见图12)。端子5通过挠性电路35(参见图12)连接到减法器28和加法器29。
在图15A、15B和16中，标号6代表用于容纳硅衬底1、端子5和热辐射板4的树脂外壳。树脂外壳6由粘合剂固定在图12所示的光学基座19上。
由于这个构造，如图15A和15B所示，从半导体激光器2发射出的激光束被全息元件7分离成多个光束。所分离出的光束的一部分被复合元件8的分束器8a所反射，剩余部分通过分束器8a。
由分束器8a反射的光束进入激光监视光电检测器(未显示)，以便被变换成一个电信号。在这个电信号的基础上控制半导体激光器2的驱动电流。
通过分束器8a的光束被反射镜10反射，进入固定在物镜支架(未显示)上的物镜11。通过物镜11将进入物镜11的多个光束在磁光记录介质(磁光盘)13的记录表面上会聚成一个直径为大约1微米的光斑32并反射。
自磁光记录介质13的反射光沿同一路径返回，进入复合元件8，以便由分束器8a反射并分离。在来自磁光记录介质13的反射光束中，由分束器8a反射的光束进一步由反射镜8b反射，并进入偏振光分离器8c。
半导体激光器2被布置为使得在图15A中入射激光束的偏振方向平行。从而，进入偏振光分离器8c的光被分离成其偏振方向彼此相交的两个光束。分离出的光束进入如图16所示的信息信号光接收单元27，并形成光斑22和23。
在图16中，标号22代表由主光束(P偏振光)形成的光斑，23代表由主光束(S偏振光)形成的光斑。在常规技术中，对来自磁光记录介质13的信息信号(磁光盘信号)的检测是通过一种差分检测方法进行的，即，通过用减法器28计算形成光斑22的主光束(P偏振光)的光量与形成光斑23的主光束(S偏振光)的光量之间的差来进行的。
普维特(prewitt)信号的检测是通过用加法器29计算形成光斑22的主光束(P偏振光)的光量与形成光斑23的主光束(S偏振光)的光量的和来实现的。
在自磁光记录介质13的反射光中，通过分束器8a的光束如图15A所示被全息元件7分成多个光束，并且如图16所示，被会聚在聚焦误差信号光接收单元24a和24b和跟踪误差信号光接收单元25和26，从而在各个区域上形成光斑。
在图15A和16中，标号30代表在聚焦误差信号光接收单元24a形成的用于检测一个聚焦误差信号的光斑。标号31代表在聚焦误差信号光接收单元24b形成的用于检测一个聚焦误差信号的光斑。在常规技术中，由所谓的SSD(点尺寸检测)来进行聚焦伺服，并通过用减法器28计算由聚焦误差信号光接收单元24a接收的光束的光量与由聚焦误差信号光接收单元24b接收的光束的光量之间的差来实现对聚焦误差信号的检测。
在图16中，标号21代表在跟踪误差信号光接收单元25和26形成的用于检测一个跟踪误差信号的光斑。由所谓的推挽方法实现跟踪伺服，并通过用减法器28计算由跟踪误差信号光接收单元25接收的光束的光量与由跟踪误差信号光接收单元26接收的光束的光量之间的差来实现对跟踪误差信号的检测。
对于常规光学头，为了采用来自磁光记录介质13的反射光来获得一个想要的检测信号，在组装时调整半导体激光器2、物镜11和硅衬底1(多分割的光检测器)的相对位置，从而为各个检测信号设置初始位置。
在为聚焦误差信号设置的初始位置中，将硅衬底1在Z轴方向(所发射激光束的光轴方向)上的位置调整为使得硅衬底1的布置有聚焦误差信号光接收单元24a和24b的表面大致在一个包括光斑30的焦点并平行于衬底的虚拟表面与一个包括光斑31的焦点并平行于衬底的虚拟表面之间的中点上(参见图15A)。硅衬底1在Z轴方向上的位置的调整是通过设计光学基座19(参见图12)和树脂外壳6来进行的。
下面参考图17A和17B描述跟踪误差信号的初始位置设置。图17A是显示图12和13所示的光学头中的初始位置调整的分解立体图。图17B是显示已经经过位置调整的光学头的立体图。
如图17A所示，在跟踪误差信号的初始位置设置中，在用外部夹具(未显示)夹持基座15的状态下在Y方向(切线方向)和X方向(径向方向)移动物镜驱动装置14，并将物镜驱动装置14的位置调整为使得从跟踪误差信号光接收单元25和26的输出基本上是均匀的。这调整导致从图15所示的半导体激光器14发射的激光束的光轴(从发光斑平行于磁光记录介质13的法线的轴)与物镜11的中心轴的匹配。
在常规光学头中，如图17A所示，磁光记录介质(未显示)与物镜11之间的相对倾斜也被调整(歪斜调整)。这个倾斜调整是在用外部夹具(未显示)夹持基座15的状态下进行的。具体地，调整物镜驱动装置14中的关于Y轴倾斜(径向方向歪斜)θR和关于X轴倾斜(切线方向歪斜)θT。
在完成调整之后，用粘合剂34将基座15粘接并固定在光学基座19上。在这样获得的光学头中，完成了对聚焦误差信号、跟踪误差信号的调整和歪斜调整。
然而，如图13-14所示的常规光学头的光学系统是一种所谓的有限系统。因此，在物镜11由物镜驱动装置(参见图12)在磁光记录介质13的径向方向移动时，即，在物镜11与激光束的光轴分离时，在磁光记录介质13的记录表面上形成的光斑的形状改变，在记录表面上将产生一个轴外像差。
当产生轴外像差时，分别在聚焦误差信号光接收单元24a和24b上形成的用于检测聚焦误差信号的光斑30和31的形状同样将改变。其结果是，在磁光记录介质13的记录表面上形成的光斑32的焦点偏离，引起散焦。下面将参考图18A和18B描述散焦。
图18A是显示在图12和13所示的光学头中的物镜的光轴和激光束的光轴基本上彼此重合的情况下的聚焦误差信号的曲线图。图18B是显示在图12和13所示的光学头中由于物镜的跟踪动作而导致的物镜的光轴和激光束的光轴彼此偏离的情况下的聚焦误差信号的曲线图。在图18A和18B的每个曲线图中，y轴指示电压，x轴指示磁光记录介质13与物镜11之间的相对距离。
图19是显示在图12和13所示的光学头中的聚焦伺服的流程的方框图。
图18A和18B所示的聚焦误差信号是所谓的S形信号，是由于物镜11的焦点方向上的位置改变而产生的。S形信号和GND彼此相交的一点是作为物镜11的跟踪伺服的目标的焦点。即，在这个说明书中，“焦点”代表物镜11的跟踪伺服中的目标会聚点。
如图18A所示，当物镜的中心轴和激光束的光轴彼此重合时，通过S形信号的振幅中心的S形信号中心变成一个焦点。因此，对于在GND和S形信号的交叉点会聚伺服的聚焦伺服，可以通过匹配S形信号中心和焦点来抑制散焦的产生。
如图18B所示，当物镜的中心轴和激光束的光轴彼此偏离时，在在磁光记录介质1 3的记录表面上形成的光斑32中将产生像差，因此S形信号中心偏离S形信号与GND的交叉点。
因此，在常规光学头中，如图19所示，在聚焦误差信号的计算形成(步骤S100)之后，计算相对于GND的偏移量(步骤S101)，并将一个对应于偏移量的电流加到聚焦线圈18a上(步骤102)，从而执行聚焦伺服。这里，术语“偏移量”代表如图18B所示(在聚焦伺服之前)此时在会聚点的电流与GND之间的差。
然而，执行图19的步骤中的聚焦伺服只是为了取消偏移量，而不考虑实际产生的散焦。因此，利用图19所示的聚焦伺服难以抑制散焦和轴外像差的产生。
此外，由于大多数轴外像差是象散现象，所以在物镜11的径向方向上的位移量增大或物镜11的厚度减小时，在物镜11的径向方向上位移时产生的散焦量增大。尤其对于便携式类型的盘记录/再现装置，需要光学头小而薄。由于光学头的物镜同样需要小而薄，轴外像差将进一步增大。
此外，当由于轴外像差而产生散焦时，在磁光记录介质13的记录表面上形成的光斑32的光斑直径增大，同时，椭圆率增大。其结果是，在再现记录在磁光记录介质13的记录表面上的信息的信号期间的串扰(相邻磁道的信号漏到再现信号中的现象)增大。由于光斑32的形状的改变而产生的偏离磁道(光斑32的中心与记录表面的磁道中心的偏离)也会增大串扰。
串扰的增大降低了读取再现信号的能力，也降低了读取具有地址信息等的摆动信号的能力，从而降低了记录/再现性能。
此外，轴外像差改变了用于检测一个跟踪误差信号的光斑21的形状。其结果是，在跟踪误差信号中产生一个偏移，这在进行跟踪伺服的状态中引起偏离磁道(在跟踪伺服中光斑32的中心与记录表面上的磁道中心之间的偏离)。这将增大串扰并降低光学头的记录/再现性能。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种可以抑制轴外像差在盘形记录介质的记录表面上的产生的光学头、一种盘记录/再现装置和一种驱动物镜的方法。
为了实现上述目的，依据本发明的第一光学头具有光源、用于将来自光源的光束会聚在盘形记录介质的记录表面上的物镜、用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动物镜的物镜驱动单元、用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的光接收单元、以及用于从在光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号和跟踪误差信号的信号产生单元，其中，将一个对应于由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向上的位移量的偏移信号加到聚焦误差信号和跟踪误差信号中的至少一个上。
为了实现上述目的，依据本发明的第二光学头具有光源、用于将来自光源的光束会聚在盘形记录介质的记录表面上的物镜、用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动物镜的物镜驱动单元、用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的第一光接收单元和第二光接收单元、用于由在第一光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号以及由在第二光接收单元变换的电信号产生跟踪误差信号的信号产生单元、以及用于根据聚焦误差信号和跟踪误差信号控制物镜驱动单元的控制单元，其中，控制单元计算一个对应于由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向上的位移量的散焦量，根据计算出的散焦量产生偏移信号，并将产生的偏移信号加到聚焦误差信号上以便控制物镜驱动单元。
此外，为了实现上述目的，依据本发明的第三光学头具有光源、用于将来自光源的光束会聚在盘形记录介质的记录表面上的物镜、用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动物镜的物镜驱动单元、用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的第一光接收单元和第二光接收单元、用于由在第一光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号以及由在第二光接收单元变换的电信号产生跟踪误差信号的信号产生单元、以及用于根据聚焦误差信号和跟踪误差信号控制物镜驱动单元的控制单元，其中，控制单元计算一个对应于由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向上的位移量的偏离轨道量，根据计算出的偏离轨道量产生偏移信号，并将产生的偏移信号加到偏移轨道误差信号上以便控制物镜驱动单元。
为了实现上述目的，依据本发明的一种盘记录/再现装置至少具有上述依据本发明的光学头和用于在盘形记录介质的径向方向推送光学头的进给器，其中，进给器至少具有用于调整光学头并在径向方向推送光学头的进给螺杆以及用于旋转进给螺杆的驱动马达，并且其被配置为使得当由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向上的位移超过一特定值时，驱动马达旋转以推动光学头，并且进给器对光学头的进给量在盘形记录介质上记录时间与再现时间之间是不同的。
为了实现上述目的，依据本发明的驱动物镜的第一方法指的是通过一个光学头驱动物镜的方法，所述光学头具有光源、用于在盘形记录介质的记录表面上会聚来自光源的光束的物镜、用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动物镜的物镜驱动单元、用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的第一光接收单元和第二光接收单元、用于由在第一光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号以及由在第二光接收单元变换的电信号产生跟踪误差信号的信号产生单元、以及用于根据聚焦误差信号和跟踪误差信号控制物镜驱动单元的控制单元。所述方法至少包括如下步骤：(a)检测由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向上的位移量的步骤，(b)计算对应于检测出的位移量的散焦量的步骤，(c)根据计算出的散焦量产生偏移信号的步骤，以及(d)将产生的偏移信号加到聚焦误差信号上的步骤。
为了实现上述目的，依据本发明的驱动物镜的第二方法指的是通过一个光学头驱动物镜的方法，所述光学头具有光源、用于在盘形记录介质的记录表面上会聚来自光源的光束的物镜、用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动物镜的物镜驱动单元、用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的第一光接收单元和第二光接收单元、用于由在第一光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号以及由在第二光接收单元变换的电信号产生跟踪误差信号的信号产生单元、以及用于根据聚焦误差信号和跟踪误差信号控制物镜驱动单元的控制单元。所述方法至少包括如下步骤：(a)检测由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向上的位移量的步骤，(b)计算对应于检测出的位移量的偏离轨道量的步骤，(c)根据计算出的偏离轨道量产生偏移信号的步骤，以及(d)将产生的偏移信号加到跟踪误差信号上的步骤。
附图简要说明
图1是显示依据本发明的第一实施例的光学头的构造的示意图。
图2是显示依据第一实施例的光学头的操作和依据第一实施例的驱动物镜的方法的流程图。
图3是显示在由于物镜的跟踪操作而使得物镜的光轴和光束的光轴彼此偏离的情况下用于依据第一实施例的光学头的聚焦误差信号的曲线图。
图4A是显示用于在径向方向驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图4B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图4C是显示加到聚焦误差信号上的偏移信号的电压波形的曲线图。
图5A-5C是显示在执行偏心校正的情况下的控制信号的曲线图。具体地，图5A是显示在径向方向驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图5B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图5C是显示加到聚焦误差信号上的偏移信号的电压波形的曲线图。
图6A-6C是涉及偏移信号具有阶梯状波形的情况的曲线图。具体地，图6A是显示在径向方向驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图6B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图6C是显示加到聚焦误差信号上的偏移信号的电压波形的曲线图。
图7是显示在依据本发明的第二实施例的光学头中的跟踪误差信号光接收单元的放大视图。
图8是显示依据第二实施例的光学头的操作以及依据第二实施例的驱动物镜的方法的流程图。
图9A是显示在物镜的光轴与激光束的光轴基本重合的情况下的跟踪误差信号的曲线图。图9B是显示在由于物镜的跟踪操作而使得物镜的光轴偏离激光束的光轴的情况下的跟踪误差信号的曲线图。
图10是显示依据本发明的第三实施例的物镜的操作以及依据第三实施例的驱动物镜的方法的流程图。
图11A是显示在再现期间在跟踪线圈中的驱动电流的波形以及在进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图11B是显示在记录期间在跟踪线圈中的驱动电流的波形以及在进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。
图12是显示一个常规光学头的构造的分解立体图。
图13是显示一个常规光学头的进给器的示意性构造的分解立体图。
图14A是显示在径向方向驱动驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图14B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图14C是显示在由磁光记录介质反射的光束在光电检测器上形成的光斑的散焦量与时间或物镜的位移量之间的关系的曲线图。
图15A是从磁光记录介质的法线方向显示图12和13的光学头的光学路径的光学路径示意图，图15B是从垂直于磁光记录介质的法线方向的方向显示图12和13的光学头的光学路径的光学路径示意图。
图16是显示组成图12和13所示的光学头的发光元件和光电检测器的示意图。
图17A是显示图12和13所示的光学头中的初始位置调整的分解立体图。图17B是显示已经经过位置调整的光学头的立体图。
图18A是显示在图12和13所示的光学头中的物镜的光轴和激光束的光轴基本上彼此重合的情况下的聚焦误差信号的曲线图。图18B是由于物镜的跟踪操作而使得物镜的光轴偏离激光束的光轴的情况下的聚焦误差信号。
图19是显示在图12和13所示的光学头中的聚焦伺服的流程的方框图。
具体实施例的说明
(第一实施例)
下面参考图1-6描述依据本发明的第一实施例的光学头、盘记录/再现装置和驱动物镜的方法。
图1是显示依据第一实施例的物镜的构造的示意图。与上述的常规示例类似，图1显示依据第一实施例的物镜被用于相对于一个作为盘形记录介质的磁光记录介质13来记录和再现信息。在第一实施例中，磁光记录介质13是一个磁光盘。
依据第一实施例的光学头具有集成单元9、物镜11以及用于在磁光记录介质13的径向方向和聚焦方向驱动物镜11的物镜驱动单元。集成单元9和物镜11与图15A和15B中所示的相同。
与图15A和15B中所示的集成单元类似，集成单元9具有硅衬底1、全息元件7和复合元件8。在硅衬底1上，布置有作为光源的半导体激光器、聚焦误差信号光接收单元、跟踪误差信号光接收单元和信息信号光接收单元。由磁光记录介质13的记录表面反射的光被相应的光接收单元接收并变换成电信号。
透镜驱动单元具有用于在聚焦方向驱动磁光记录介质13的聚焦线圈18a、在径向方向驱动磁光记录介质13的跟踪线圈18b、以及用于向两个线圈18a和18b提供电流的线圈驱动单元103。
在第一实施例中，透镜驱动单元类似于图12所示的透镜驱动装置14。因此，聚焦线圈18a和跟踪线圈18b类似于与图12所示。线圈驱动单元103是在图12所示的挠性电路35中设置的驱动电路。
此外，依据第一实施例的光学头具有一个信号产生单元102，用于由在相应的光接收单元变换的电信号产生各种控制信号、再现信号或类似信号；以及一个控制单元101，例如用于根据信号产生单元102产生的控制信号，控制聚焦线圈18a和跟踪线圈18b。
在第一实施例中，信号产生单元102由图16所示的减法器和加法器组成，如图16所示，它产生聚焦误差信号、跟踪误差信号、磁光盘信号、普维特信号或类似信号。与常规例子类似，控制单元101和信号产生单元102被布置在一个衬底(未显示)上，该衬底的设置独立于透镜驱动单元、集成单元或类似部件。不限于这个实施例，本发明的控制单元101和信号产生单元102可以被设置在用作多分割的光电检测器的挠性电路(参见图12)或硅衬底(参见图16)上。
如上所述，依据第一实施例的光学头被构造为类似于图12、15A和15B所示的常规光学头。此外，图13所示的进给器被固定在第一实施例的光学头上，以便构造根据第一实施例的盘记录/再现装置。
然而，相对于通过控制单元101对物镜11的聚焦控制，依据第一实施例的光学头不同于常规光学头，这可以提供常规示例所不能获得的效果。下面将通过图2-4描述这一点。
图2是显示依据第一实施例的光学头的操作和依据第一实施例的驱动物镜的方法的流程图。
图3是显示聚焦误差信号在依据第一实施例的光学头中的物镜执行跟踪操作、使得物镜的光轴和激光束的光轴彼此偏离的情况下的曲线图。
图4A是显示用于在径向方向驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图4B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图4C是显示加到聚焦误差信号上的偏移信号的电压波形的曲线图。
首先，物镜11的定位使得光轴105与作为光源的半导体激光器的光轴104重合。此时，获得如图18A所示的聚焦误差信号。
在这个说明书中，光源(半导体激光器)的光轴104代表通过半导体激光器的发光点、并在被如图1所示的实施例中所用的反射镜10弯折时垂直于磁光记录介质13(盘形记录介质)的记录表面的一个轴。在未使用反射镜10的实施例中，光源的光轴代表通过光源的发光点并垂直于磁光记录介质(盘形信息记录介质)的记录表面的光的轴。
接着，由跟踪线圈18b将物镜在磁光记录介质13的径向方向移动，从而获得如图3所示的聚焦误差信号。对于如图3所示的聚焦误差信号，如图18B所示，S形信号的中心偏移S形信号和GND的交叉点。焦点和S形信号的中心之间的差、即S形信号中心的电压和GND的电压之间的差是对应于物镜11的径向方向上的位移量的散焦量。
与常规例子不同，此时在第一实施例中如图2所示，首先检测物镜11在径向方向的位移量(步骤S1)。具体地说，由线圈驱动单元103根据跟踪线圈18b的施加电流和在物镜驱动单元的径向方向灵敏度(径向方向位移量/施加电流)，计算物镜11的径向方向的位移量。在说明书中，物镜11在径向方向的位移量代表从上述光源的光轴到物镜11的光轴的距离。
在第一实施例中，还可以采用一个外部位置传感器来检测物镜11在径向方向的位移量。外部位置传感器的一个例子由发光元件(如LED)和半导体器件以及光电检测器组成。
接着，由控制单元101计算对应于物镜11在径向方向的位移量的散焦量(参见图3)(步骤S2)。在第一实施例中，控制单元101通过先前通过实验或模拟获得散焦量与位移量的比(变换比数)并用变换比数乘以位移量，从而执行对散焦量的计算。
接着，由控制单元101在计算出的散焦量的基础上产生一个偏移信号(步骤S3)。具体地，通过用一个增益乘以散焦量来产生偏移信号。该增益是根据计算出的散焦量和物镜驱动单元的聚焦方向灵敏度(散焦量/所施加的电流值)来设置的。
接着，由控制单元101将偏移信号加到聚焦误差信号上(步骤S4)。如图4A、4B和4C所示，作为偏移信号施加到聚焦误差信号上的电压根据物镜11在径向方向的位移量而改变。随后，由线圈驱动单元103将基于加有偏移信号的聚焦误差信号的驱动电流加到聚焦线圈18a上。
其结果是，图18B所示的S形信号处于平行于GND而移动的状态，因此S形信号中心变成一个焦点。因此，由控制单元101在聚焦方向驱动物镜11，使得聚焦误差信号被会聚在GND周围，即，聚焦误差信号被会聚在S形信号中心(步骤S6)。
其结果是，散焦量基本上变为0，从而抑制了由物镜11在径向方向的位移引起的光斑32的变形和像差的产生。
如上所述，在依据第一实施例的光学头中，聚焦误差信号被加有一个偏移信号以便改变焦点，从而以光学方式校正在磁光记录介质13的记录表面上的光斑32的像差和形状。因此，在磁光记录介质13的记录表面上的轴外像差的产生可以通过采用第一实施例的光学头来抑制。此外，由于轴外像差的影响可以减小，因此物镜11的尺寸和厚度可以减小，从而提供小而薄的光学头和盘记录/再现装置。
此外，由于磁光记录介质13的记录表面上的轴外像差的产生可以被抑制，因此可以显著地改善由物镜11在径向方向的位移引起的再现信号和伺服信号的恶化。另外，将显著提高光学头和盘记录/再现装置的记录性能和再现性能。
应该特别注意的是，记录在磁光记录介质13上的摆动信号的读取容易受到由在磁光记录介质13的记录表面上形成的光斑32的散焦引起的串扰的影响，因而在物镜11的径向方向发生位移时摆动信号将会被相当大地恶化。然而，依据第一实施例，由于光斑32的焦点是根据物镜11在径向方向的位移量而改变的，因此可以显著改善在物镜11在径向方向位移时的摆动信号的检测性能。
与常规光学头相比，还可以放大由跟踪线圈18b引起的物镜11在径向方向的位移量的最大值。从而，可以增大在径向方向驱动整个光学头的进给器中的进给马达38的间歇比(不工作时间比)，从而提高盘记录/再现装置的读取和记录能力，并实现相当大的能量节约。
在第一实施例中，偏移信号由散焦量产生并被加到聚焦误差信号上以便实现聚焦伺服。在一个替换实施例中，可以根据散焦量校正聚焦线圈18a的驱动电流，以便将校正后的驱动电流加到聚焦线圈18a上。这个替换实施例也可以提供上述效果。
在第一实施例中，还可以由控制单元101计算磁光记录介质13中相对于旋转中心的偏心量(磁光记录介质的中心相对于驱动磁光记录介质的主轴马达的驱动轴的中心的偏移量)，从而根据计算出的偏心量和计算出的散焦量产生一个偏移信号。
 图5A-5C是显示在执行偏心校正的情况下的控制信号的曲线图。具体地，图5A是显示在径向方向驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图5B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图5C是显示加到聚焦误差信号上的偏移信号的电压波形的曲线图。
如图5A-5C所示，在记录和再现期间，通过检测引起在磁光记录介质13的记录/再现信号轨道位置在径向方向上的偏斜的偏心，并且通过使物镜11可以跟随该偏心，可以实现更精确的光学头和光盘记录/再现装置。
在第一实施例中，基于对应于物镜11的位移量的散焦量产生偏移信号。或者，如图6所示，加到聚焦误差信号上的偏移信号的电压波形可以被任意校正成一个阶梯状的波形。类似地，偏移信号的电压波形可以是非线性的或是设置有死区的波形。
图6A-6C是在偏移信号具有阶梯状波形的情况下的曲线图。具体地，图6A是显示在径向方向驱动物镜的跟踪线圈中的驱动电流的波形的曲线图。图6B是显示在径向方向推送光学头的进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图6C是显示加到聚焦误差信号上的偏移信号的电压波形的曲线图。
依据第一实施例的光学头可以进一步配置有一个用于检测光学头周围温度的温度检测器。在这种情况下，控制单元101可以根据检测出的环境温度和散焦量产生一个偏移信号。这个实施例允许校正由温度改变而影响的光斑32的像差和形状、以及校正光斑32的散焦，从而改进记录/再现性能。
在第一实施例中，如图2中的步骤S3所示，控制单元101通过改变散焦量产生偏移信号。在替换实施例中，改变偏移量的程度在记录时间和在再现时间之间可以是不同的。具体地，在记录期间要乘以散焦量的增益的值(图2中的步骤S3)与再现期间的增益值相比可以被增大。
如上所述，由于根据物镜11的偏移量在磁光记录介质的记录表面上产生轴外像差，所以在再现期间必须考虑伺服信号和再现信号。因此，由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向的位移量在再现期间被增大，因此在再现信号中将出现串扰，导致增大位移量困难。
然而，由于在记录期间仅仅必须考虑伺服信号，因此与再现时相比位移量可以被放大。因此，如上所述，在记录期间要乘以散焦量(图2中的步骤S3)的增益值与再现期间的增益值相比可以被增大。
在这种情况下，在记录期间可以增大不操作进给马达38的时间(间歇比)，因此光学头和光记录/再现装置的功率消耗可以显著减小。
在第一实施例中，根据由反射率、轨道密度(轨道间距)、盘厚度、盘直径和轨道凹槽形状中的至少一个指定的记录介质的类型，可以设置改变偏移量的程度。
此外，在第一实施例中，在记录时间和在再现时间之间可以不同地设置进给马达38的进给量(参见图13)、即对应于进给量加到进给马达38上的电压。
例如，如图11A和11B所示，与再现期间相比，通过在记录期间增大进给量来提高进给马达38的间歇比，从而实现在功率节约上进一步有效的盘记录/再现装置。
图11A是显示在再现期间在跟踪线圈中的驱动电流的波形以及在进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。图11B是显示在记录期间在跟踪线圈中的驱动电流的波形以及在进给马达中的驱动电压的波形的曲线图。在图11A和11B中，将在记录期间的位移量设置为比在再现期间的位移量大。
相反，与在再现期间相比，在记录期间可以通过减小进给量来增大相对于进给量的记录余量，从而减小磁头的磁心尺寸(未显示)。这将有助于进一步减小盘记录/再现装置的尺寸。
此外，根据由反射率、轨道密度(轨道间距)、盘厚度、盘直径和轨道凹槽形状中的至少一个指定的记录介质的类型，可以设置进给马达38的进给量(参见图13)。
(第二实施例)
接着，将参考图7和8描述依据本发明的第二实施例的光学头、盘记录/再现装置和驱动物镜的方法。图7是显示在依据第二实施例的光学头中的跟踪误差信号光接收单元的放大视图。图8是显示依据第二实施例的光学头的操作以及依据第二实施例的驱动物镜的方法的流程图。
依据第二实施例的光学头类似于第一实施例的光学头，其区别在于对由透镜驱动单元引起的物镜在径向方向的位移量的检测是在来自跟踪误差信号光接收单元的电信号的基础上进行的。
与图16所示的常规例子类似，第一实施例的跟踪误差信号光接收单元由两个光接收单元25和26组成，并且每个光接收单元配置有一个光电检测器。在第二实施例中，如图7所示，跟踪误差信号光接收单元25和26分别具有多个光接收区域(25a-25d，26a-26d)，每个光接收区域配置有一个光电检测器。
在第二实施例中，物镜在径向方向的位移量是通过计算在光接收区域25a、25b、26a和26b变换的电信号来检测的。当在光接收区域25a、25b、26a和26b变换的电信号分别具有25aV、25bV、26aV和26bV的电压值时，物镜在径向方向的位移量可以由下面的等式(1)来计算。
 (位移量)＝((25aV+25bV)-(26aV+26bV))k...    (1)
在等式(1)中，‘k’是一个任意比例因子，也是一个可以任意改变的数值。通常，当光接收单元接收到光束时，它产生一个对应于辐射灵敏度(电流/光量变换因子)的电流，并通过电流/电压变换进一步产生一个对应于光量的电压。因此，可以采用电流值替代电压值来执行基于等式(1)的径向方向的位移量的计算。
因此，在第二实施例中，如图8所示在聚焦方向驱动物镜。除了步骤S11中物镜在径向方向的位移量的检测是通过检测在跟踪误差信号光接收单元产生的电信号来实现的之外，如图8所示的物镜在聚焦方向的位移的实现与图2所示的第一实施例类似。在第二实施例中，将一个对应于物镜在径向方向的位移量的偏移信号加到聚焦误差信号上。
虽然在第二实施例中位移量是采用在跟踪误差信号光接收单元产生的电信号来检测的，但依据第二实施例的光学头并不限于此。可选择的是，位移量可以通过在一个不同于跟踪误差信号光接收单元的光接收单元产生的电信号来检测。或者，可以提供一个在图16中未显示的单独的光接收单元来检测位移量。
如上所述，第二实施例可以提供如在第一实施例中所述的效果，因为将一个对应于物镜在径向方向的位移量的偏移信号加到了聚焦误差信号上。此外，在第二实施例中，可以根据由磁光记录介质的记录表面反射的光产生的电信号，检测物镜在径向方向的位移量。由于这个构造使得能够直接检测物镜和磁光记录介质之间的位置关系，因此与依据第一实施例的光学头相比，可以进一步提高对光盘的位置检测的精确度。
在第二实施例中，当在光接收单元25c、25d、26c和26d变换的电信号分别具有25cV、25dV、26cV和26dV的电压值时，通过由组成信号产生单元的减法器执行下面的等式(2)，可以获得跟踪误差信号。
  (跟踪误差信号的电压)＝(25cV+25dV)-(26cV+26dV)...(2)
在依据第二实施例的光学头中，调整X-Y平面(参见图17A)，使得基于等式(1)获得的位移量大致为0。或者，可以调整X-Y平面，使得(25aV-26aV)或(25bV-26bV)的值大致为0。
调整Y方向，使得凹槽混合信号(由所谓的“±一阶光”产生的信号)将是最小，该信号将被混和在由(25aV+25bV)产生的信号中以及由(26aV+26bV)产生的信号中。或者，可以调整Y轴方向，使得分别要在25aV、25bV、26aV和26bV中混合的凹槽混合信号将是最小的。
(第三实施例)
接着，下面将参考图9和10描述依据本发明的第三实施例的光学头、盘记录/再现装置和驱动物镜的方法。
依据第三实施例的光学头和盘记录/再现装置与第一和第二实施例具有类似的结构。与第一和第二实施例类似，根据由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向的位移量来计算散焦量，并根据散焦量形成一个偏移信号。
然而，第三实施例与第一和第二实施例的区别在于，所产生的偏移信号被加到跟踪误差信号上，并且校正根据物镜在径向方向的位移量产生的偏离轨道。下面将参考图9和10描述第三实施例。
图9A是显示在物镜的光轴与激光束的光轴基本重合的情况下的跟踪误差信号的曲线图。图9B是显示在物镜执行跟踪操作而使得物镜的光轴与激光束的光轴相互偏离的情况下的跟踪误差信号的曲线图。在图9A和9B所示的每个图中，y轴指示电压，x轴指示磁光记录介质13和物镜11之间的相对距离。图10是显示依据第三实施例的光学头中的跟踪伺服的流程的方框图。
图9A和9B所示的跟踪误差信号是由于物镜在径向方向的位置改变而产生的。跟踪误差信号和GND彼此交叉的点是物镜中的跟踪点。
如图9A所示，当物镜的中心轴和激光束的光轴相互重合时，GND将是跟踪误差信号的最大值和最小值之间的中间值。因此，将实现跟踪伺服，使得跟踪误差信号被集中在跟踪误差信号的最大值和最小值之间的中间值上。
如图9B所示，当物镜的中心轴和激光束的光轴彼此偏离时，在磁光记录介质的记录表面上形成的光斑的形状将会改变，因此一条指示跟踪误差信号的曲线向上平行移动。这个位移量代表偏离轨道量。因此，当实现跟踪伺服、以便如上所述将跟踪误差信号集中在最大值和最小值之间的中间值上时，串扰会增大。
因此，在这个实施例中，如图10所示，实现跟踪伺服。图10是显示依据第三实施例的光学头的操作和依据第三实施例的驱动物镜的方法的流程图。
首先，将物镜定位为使得光轴与作为光源的半导体激光器的光轴重合。此时，获得如图9A所示的跟踪误差信号。
接着，当由跟踪线圈将物镜在磁光记录介质的径向方向移动时，获得如图9B所示的聚焦误差信号。此时，如图10所示，检测物镜在径向方向的位移量(步骤S21)。具体地，根据跟踪线圈的所加电流和物镜驱动单元中的径向方向灵敏度(径向方向位移量/所加电流)，由线圈驱动单元计算物镜11的径向方向的位移量。
可选择的是，在第三实施例中，可以通过一个外部位置传感器来检测物镜11在径向方向的位移量。可选择的是，如第二实施例中所示的，可以通过在光接收单元产生的电信号来实现检测。
然后，由控制单元计算对应于物镜在径向方向的位移量的偏离轨道量(参见图9B)(步骤S22)。在第三实施例中，控制单元对偏离轨道的计算是通过预先通过实验测量偏离轨道量与位移量的比率(变换比数)并用这个变换比数乘以位移量来实现的。
接着，在通过控制单元计算出的偏离轨道量的基础上产生偏移信号(步骤S23)。具体地，通过将偏离轨道量乘以增益来产生偏移信号。根据计算出的偏离轨道量和上述物镜驱动单元的径向方向灵敏度来设置增益。
接着，由控制单元将偏移信号加到跟踪误差信号上(步骤S24)。随后，通过线圈驱动单元，向跟踪线圈施加基于施加有偏移信号的跟踪误差信号的驱动电流(步骤S25)。
其结果是，图9B所示的S形信号处于向GND平行移动的状态，物镜由控制单元在径向方向驱动(步骤S26)，使得跟踪误差信号被集中在GND周围。因此，偏离轨道量大致为0，因此可以抑制由于物镜11在径向方向的位移而产生的光斑32的形状的改变。
如上所述，在依据第三实施例的光学头中，将一个偏移信号加到跟踪误差信号上，以便改变跟踪点，从而以光学方式校正磁光记录介质13的记录表面上的光斑32的形状。因此，通过采用依据第三实施例的光学头，可以抑制磁光记录介质13的记录表面上的轴外像差的产生，并因此抑制串扰的增大。以这个方式，依据第三实施例可以实现具有更高性能的光学头和盘记录/再现装置。
与第一实施例的光学头类似，第三实施例的光学头可以带有一个用于检测光学头周围的温度的温度检测器。在这种情况下，控制单元可以根据检测出的环境温度和偏离轨道量、产生一个偏移信号。这个实施例允许由于光斑32的形状的改变所产生的轨道偏离和由温度改变引起的像差的校正，从而显著改善记录/再现性能。
工业实用性
如上所述，本发明的特征在于，它包括计算根据物镜在径向方向的位移量产生的光斑的散焦量或偏离轨道量，并将一个由其产生的偏移信号加到聚焦误差信号或跟踪误差信号上。
从而，依据本发明，通过改变焦点或跟踪点，可以以光学方式校正在盘形记录介质的记录表面上形成的光斑的形状。
此外，由于伺服位置可以以电学方式被校正，因此可以显著改善根据物镜在径向方向的位移量产生的再现信号和伺服信号的恶化。此外，可以显著改善光学头和盘记录/再现装置的记录性能和再现性能。
此外，这些特征可以根据物镜的位移量降低在盘形记录介质的记录表面上产生的轴外像差的影响，因此光学头和盘记录/再现装置可以缩减尺寸和减小厚度。

Claims (15)

1.一种光学头，包括：一光源，用于在盘形记录介质的记录表面上会聚来自该光源的光束的一物镜，用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动该物镜的一物镜驱动单元，用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的光接收单元，以及，用于由在光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号和跟踪误差信号的信号产生单元；其中，
将一个偏移信号加到该聚焦误差信号和该跟踪误差信号中的至少一个上，该偏移信号对应于由该物镜驱动单元引起的该物镜在径向方向上的位移量。
2.一种光学头，包括：一光源，用于在盘形记录介质的记录表面上会聚来自该光源的光束的一物镜，用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动该物镜的一物镜驱动单元，用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的第一光接收单元和第二光接收单元，用于由在第一光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号以及由在第二光接收单元变换的电信号产生跟踪误差信号的信号产生单元，以及，用于根据该聚焦误差信号和该跟踪误差信号控制该物镜驱动单元的控制单元；其中，
该控制单元计算一个对应于由该物镜驱动单元引起的该物镜在径向方向上的位移量的散焦量，根据所计算的散焦量产生一个偏移信号，并将产生的偏移信号加到该聚焦误差信号上，以便控制该物镜驱动单元。
3.如权利要求2所述的光学头，其中，该物镜在径向方向上的位移量代表从该光源的光轴到该物镜的光轴的距离。
4.如权利要求2所述的光学头，其中，该物镜驱动单元通过将一个驱动电流加到一个附着在该物镜上的线圈上来驱动该物镜，以及
该控制单元根据所加的驱动电流的电平来计算散焦量，以便在径向方向上移动该物镜。
5.如权利要求2所述的光学头，其中，该控制单元基于从由盘形记录介质的记录表面反射的一部分光获得的电信号计算该散焦量。
6.如权利要求5所述的光学头，其中，第二光接收单元由多个光电检测器组成，该控制单元基于在所述多个光电检测器的全部或部分所变换的电信号、计算该物镜在径向方向上的位移量。
7.如权利要求2所述的光学头，其中，设置一个用于检测该物镜在径向方向上的位移量的外部位置传感器，该控制单元计算对应于由该外部位置传感器检测出的位移量的散焦量。
8.如权利要求2所述的光学头，其中，该控制单元计算相对于盘形记录介质的旋转中心的偏心量，并在计算出的偏心量和计算出的散焦量的基础上产生一个偏移信号。
9.如权利要求2所述的光学头，其中，设置一个用于检测环境温度的温度检测器，该控制单元在检测出的环境温度和计算出的散焦量的基础上产生一个偏移信号。
10.如权利要求2所述的光学头，其中，该控制单元改变计算出的散焦量以便产生一个偏移信号，改变计算出的偏移量的程度在记录时间和再现时间之间是不同的。
11.如权利要求2所述的光学头，其中，该控制单元改变计算出的散焦量以便产生一个偏移信号，改变计算出的偏移量的程度根据由反射率、轨道密度、盘厚度、盘直径、记录方法和轨道凹槽形状中的至少一个指定的盘形记录介质的类型而不同。
12.一种光学头，包括：一光源，用于在盘形记录介质的记录表面上会聚来自该光源的光束的一物镜，用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动该物镜的一物镜驱动单元，用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的第一光接收单元和第二光接收单元，用于由在第一光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号以及由在第二光接收单元变换的电信号产生跟踪误差信号的一信号产生单元，以及，用于根据该聚焦误差信号和该跟踪误差信号控制该物镜驱动单元的一控制单元；其中，
该控制单元计算一个偏离轨道量，该偏离轨道量对应于由该物镜驱动单元引起的该物镜在径向方向上的位移量，在计算出的偏离轨道量的基础上产生偏移信号，并将产生的偏移信号加到该跟踪误差信号上，以便控制该物镜驱动单元。
13.一种盘记录/再现装置，至少包括根据权利要求1-12中任一项的光学头和用于在盘形记录介质的径向方向推送该光学头的进给器，其中，
该进给器至少包括一进给螺杆以及用于旋转进给螺杆的驱动马达，该进给螺杆用于调整该光学头以便在径向方向上使该光学头偏移，并且该进给器被配置为使得当由物镜驱动单元引起的物镜在径向方向上的位移超过一特定值时、该驱动马达旋转以推送该光学头，以及
由该进给器引起的该光学头的进给量在记录时间与再现时间之间是不同的。
14.一种驱动物镜的方法，所述方法采用一个光学头，所述光学头包括光源、用于在盘形记录介质的记录表面上会聚来自光源的光束的物镜、用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动物镜的物镜驱动单元、用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的第一光接收单元和第二光接收单元、用于由在第一光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号以及由在第二光接收单元变换的电信号产生跟踪误差信号的信号产生单元、以及用于根据该聚焦误差信号和该跟踪误差信号控制该物镜驱动单元的控制单元；
所述方法至少包括如下步骤：
(a)检测由该物镜驱动单元引起的该物镜在径向方向上的位移量，
(b)计算对应于检测出的位移量的散焦量，
(c)根据计算出的散焦量产生偏移信号，以及
(d)将产生的偏移信号加到该聚焦误差信号上。
15.一种驱动物镜的方法，所述方法采用一个光学头，所述光学头具有光源、用于在盘形记录介质的记录表面上会聚来自光源的光束的物镜、用于在盘形记录介质的径向方向和聚焦方向驱动物镜的物镜驱动单元、用于接收由盘形记录介质的记录表面反射的光并将反射的光变换成电信号的第一光接收单元和第二光接收单元、用于由在第一光接收单元变换的电信号产生聚焦误差信号以及由在第二光接收单元变换的电信号产生跟踪误差信号的信号产生单元、以及用于根据该聚焦误差信号和该跟踪误差信号控制该物镜驱动单元的控制单元；
所述方法至少包括如下步骤：
(a)检测由该物镜驱动单元引起的该物镜在径向方向上的位移量，
(b)计算对应于检测出的位移量的偏离轨道量，
(c)根据计算出的偏离轨道量产生偏移信号，以及
(d)将产生的偏移信号加到该跟踪误差信号上。
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