CN1479867A - X射线检查装置及其控制和调节方法 - Google Patents
X射线检查装置及其控制和调节方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1479867A CN1479867A CNA028032942A CN02803294A CN1479867A CN 1479867 A CN1479867 A CN 1479867A CN A028032942 A CNA028032942 A CN A028032942A CN 02803294 A CN02803294 A CN 02803294A CN 1479867 A CN1479867 A CN 1479867A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ray
- mentioned
- pick
- units
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
相对定位固定的被检查物体,使多个X射线检测装置移动,对应检测装置的位置使X射线照射装置进行移动或者旋转。将所得到的多个透视图像数据构成为一张合成画像来进行显示。本发明提供了一种缩短了从检测到图像显示的时间的、小型的高性能的X射线检测装置。
Description
技术领域
本发明涉及向被检查物体照射X射线,显示其透视图像的X射线检查装置及其控制和调节方法。
技术背景
以往的X射线检查装置,在被检查物体比检测装置的检测范围大的情况下,用两种方法显示被检查物体整体。
一种方法,使X射线照射装置和X射线检测装置,对于被检查物体相对地移动。从而得到多张部分的透视图像数据,将它们合成形成一张整体图像。另外一种方法,将X射线照射装置和X射线检测装置从被检查物体离开,从而获得一张整体的图像,但这会降低图像的分辨率。
图6表示以往的X射线检查装置的结构。该结构由X射线发生器101,控制X射线光扩展的准直仪102,X射线光束103,屏蔽板104,被检查物体105,装载移动被检查物体的XY工作台106,作为X射线检测装置的X射线传感器107,X射线图像捕捉单元108,个人计算机109,透视图像的显示器110,X射线控制单元111,箱体112等构成。
在这样的以往的X射线检查装置中,当被检查物体比检测装置的检测范围大时,存在以下的问题。
要求使X射线照射装置和X射线检测装置,与被检查物体相对地移动,根据多张部分的透视图像数据以高分辨率显示一张合成图像。进而,还要求缩短从检测到图像显示的时间,装置整体的小型化,低成本化等。
发明内容
本发明提供了一种X射线检查装置,具备向被检查物体照射X射线的X射线照射装置、检测来自上述X射线像前面所说的照射装置的X射线的至少1个或1个以上的检测装置和使上述检测装置移动的移动装置,上述移动装置使上述检测装置在相当于被检查物体的面积的范围内移动。
另外,本发明还提供了一种X射线检查装置,具备:向被检查物体照射X射线的X射线照射装置;检测来自上述X射线照射装置的X射线的至少1个或1个以上的检测装置;使上述检测装置移动的移动装置;控制上述多个检测装置的多个驱动控制装置,上述多个检测装置与驱动控制装置分别连接;在上述多个驱动控制装置之间进行驱动同步的同步装置;通过所述多个驱动控制装置,输入来自多个检测装置的信号的至少1个处理装置;输入来自上述多个处理装置的处理信号,合成图像的图像合成装置。
进而,本发明提供了一种X射线检查装置的控制方法,具有:向被检查物体照射X射线的步骤;用至少1个的检测装置检测照射到被检查物体的X射线的步骤;其中,上述检测步骤具有一边使上述检测装置在至少相当于被检查物体的面积的范围内移动,一边进行检测的步骤。
另外,本发明提供了一种X射线检查装置的调整方法,该X射线检查装置具有:向被检查物体照射X射线的X射线照射装置;检测来自上述X射线照射装置的X射线的多个检测装置;使上述检测装置移动的移动装置;所述方法包括:使构成第1检测装置的X射线的有效检测部分的像素排列与移动方向一致;之后,使构成其它检测装置的X射线的有效检测部分的像素排列与构成上述第1检测装置的X射线的有效检测部分的像素排列一致。
附图说明
图1是展示本发明一实施例的X射线检查装置的结构的图示。
图2是展示本发明一实施例的X射线检查装置的机构系统单元的透视图。
图3是展示本发明一实施例的X射线检查装置的扫描图案的图示。
图4是本发明一实施例的X射线检查装置的从接通电源开始到准备就绪的流程图。
图5是本发明一实施例的X射线检查装置的从准备就绪开始到瓦接(タイリンゲ)拍摄的流程图。
图6是展示以往的X射线检查装置的结构的示意图。附图符号1A X射线管单元20 快门(shutter)30 X射线管旋转用马达单元40 X射线管载物台50 被检查物体载物台6A X射线传感器(CCD1)6B X射线传感器(CCD2)70 X轴工作台80 X轴驱动马达90 Y轴工作台10 Y轴驱动马达11 传感器单元载物台12 箱体101 X射线发生源102 准直器103 X射线光束104 屏蔽板105 被检查物体106 工作台107 X射线传感器108 X射线图像捕捉单元109 个人计算机110 显示器111 X射线控制单元112 箱体
具体实施方式
本发明的X射线检查装置,相对定位固定的被检查物体,使多个X射线检测装置移动。接着,根据检测装置的位置使X射线照射装置进行至少移动和转动的任意一个动作。之后,构成为,根据得到的多个透视图像数据以高分辨率显示1张合成图像。
因为使小的X射线检测装置移动,所以比使大的被检查物体移动可以更加使装置小型化。还有,因为设置多个X射线检测装置,所以检测面积增大。其结果,缩短了得到1张合成图像的时间,并且可以用高分辨率显示图像。
以下,一边参照附图一边说明本发明的实施例。另外,这些图只是示意图,不是以正确尺寸展示各位置关系的图示。
实施例
如图1所示,机构系统单元A,由向被检查物体照射X射线的功能,接收X射线的检测功能,和使检测传感器移动的传感器驱动部构成。
控制单元B,进行X射线管的X射线照射控制,X射线管旋转轴马达的驱动控制,X轴和Y轴的各马达的驱动控制。进而,使用个人计算机的数据处理单元C,在机构系统单元A和控制单元B之间通过USB1,USB2进行信号接受。然后,对得到的画像数据进行处理、合成,显示X射线透视图像。作为检测X射线的X射线传感器使用CCD传感器。图1中,CCD1和CCD2是X射线传感器。图2中,从作为X射线发生源的X射线管单元1A照射的X射线,通过放置有被检查物体的被检查物体工作台50透射,到达X射线传感器6A和6B。
X射线传感器6A和6B安装在传感器支架上,进而装载在X轴工作台70上。X轴工作台70通过X轴驱动马达80可以在X轴方向移动。Y轴工作台90通过装有Y轴驱动单元的Y轴驱动马达10可以在Y轴方向移动。这些单元被安装在传感器单元载物台11上,可以检查被检查物体的整个区域。这时候,与X轴方向的移动同步,X射线管1A,通过安装在X射线管单元载物台40上的X射线管单元旋转用马达单元30可以进行摇头,改变照射位置。
以上说明,是X射线传感器的数量为2,n=2(检测传感器的间距设为有效检测长度的2倍)的情况。即,X射线的照射范围构成为在Y轴方向照射全部区域,只有在X轴方向扫描照射位置。另外,使用超过2个的多个X射线传感器的情况,X射线管的X轴方向和Y轴方向的扫描、移动或旋转的驱动方法等也可以同样地实施。X射线传感器的数量是2时,调节支架使得检测传感器的间距成为大约是有效检测长度的2倍。支架可以分别在X方向和Y方向以及水平旋转方向移动。调节是使用带有3点标记的检查夹具进行的。
该检查夹具被定位固定在支架上。各个传感器通过照射X射线检测出标记的位置。之后,就可以确认检查夹具和安装在支架上的各传感器的位置。2个传感器的位置可以通过使各自的X轴方向,Y轴方向,以及旋转方向一致来确定。由此,使用定位调整后的传感器,得到透视图像的数据。
下面说明被检查物体比检测装置的检测范围大的情况下的获得数据的方法,即,瓦接的一个例子。
由MV命令(移动命令)在X轴移动量a=5(瓦),Y轴移动量b=5(瓦)的情况下,执行以下的动作。(1)从开始点向X轴的正方向以1瓦间距移动a次。(2)向Y轴的正方向以1瓦间距移动1次。(3)将Y轴的移动次数设为b=b-1,改变X的移动方向的符号。(b=4)(4)向X轴的负方向以1瓦间距移动a次。(5)向Y轴的正方向以1瓦间距移动3次。(6)将Y的移动次数设为b=b-3,改变X的移动方向的符号。(b=1)(7)向X轴的正方向以1瓦间距移动a次。(8)向Y轴的正方向以1瓦间距移动1次。(10)向Y的移动次数设为b=b-1,改变X的移动方向的符号。(b=0)(11)向X轴的负方向以1瓦间距移动a次。(12)轴移动结束(状态输出)
扫描图案如图3所示。
进而,轴的正方向是指图3所示的轴的箭头方向,负方向是指其相反方向。
本装置的动作是按照图4的流程图1以及图5的流程图2。另外,根据被检查物体的大小也可以只使用2个传感器中的一个。
如果如以上介绍那样使用本发明的X射线检查装置,因为代替使大的被检查物体移动,而使小的X射线检测传感器移动,所以可以实现装置的小型化。因为使用了多个X射线检测装置,增大了检查面积。其结果,可以缩短作为一张合成画像显示的时间。在不降低分辨率的情况下,可以提供低成本的X射线检查装置。
Claims (10)
1.一种X射线检查装置,具备:向被检查物体照射X射线的X射线照射装置;检测来自上述X射线照射装置的X射线的至少1个检测装置;使上述检测装置移动的移动装置;其中,上述移动装置使上述检测装置在相当于被检查物体的面积的范围内移动。
2.根据权利要求1所述的X射线检查装置,其中上述多个检测装置以规定间隔配置,同时被移动。
3.根据权利要求2所述的X射线检查装置,其中上述规定间隔,多个检测装置间的距离,是各检测装置的有效检测部分的长度的大致n倍,n是自然数。
4.根据权利要求2或3所述的X射线检查装置,其中对应于上述多个检测装置的配置,将上述移动装置的移动距离设为足够覆盖被检查面并且重叠为最小限度。
5.根据权利要求1-4的任意一项所述的X射线检查装置,其中,上述移动装置,根据上述多个检测装置的位置,使上述X射线照射装置进行至少移动和旋转中的任意一个动作。
6.一种X射线检查装置,具备:向被检查物体照射X射线的X射线照射装置;检测来自上述X射线照射装置的X射线的至少1个检测装置;使上述检测装置移动的移动装置;控制上述多个检测装置的多个驱动控制装置,上述多个检测装置与驱动控制装置分别连接;在上述多个驱动控制装置之间进行驱动同步的同步装置;通过上述多个驱动控制装置,输入来自上述多个检测装置的信号的至少1个处理装置;输入来自多个处理装置的处理信号,合成图像的图像合成装置。
7.一种X射线检查装置的控制方法,是具有向被检查物体照射X射线的步骤,和用至少1个检测装置检测照射到被检查物体的X射线的步骤的X射线检查装置的控制方法,其中上述检测步骤具有一边使上述检测装置在至少相当于被检查物体的面积的范围内移动一边进行检测的步骤。
8.根据权利要求7所述的具有上述多个检测装置的X射线检查装置的控制方法,其中具有使上述多个检测装置移动、使得足够覆盖被检查面并且重叠为最小限度的移动装置。
9.一种X射线检查装置的调整方法,该X射线检查装置具有:向被检查物体照射X射线的X射线照射装置,检测来自上述X射线照射装置的X射线的多个检测装置,和使上述检测装置移动的移动装置;所述方法包括:使构成第1检测装置的X射线的有效检测部分的像素排列与移动方向一致;之后,使构成其它检测装置的X射线的有效检测部分的像素排列与构成上述第1检测装置的X射线的有效检测部分的像素排列一致。
10.根据权利要求9所述的X射线检查装置的调整方法;其中上述多个检测装置间的距离被设置为各个检测装置的X射线的有效检测部分的长度的大致n倍,n是自然数。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001359240A JP2003156454A (ja) | 2001-11-26 | 2001-11-26 | X線検査装置とその制御方法と調整方法 |
JP359240/2001 | 2001-11-26 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1479867A true CN1479867A (zh) | 2004-03-03 |
Family
ID=19170283
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNA028032942A Pending CN1479867A (zh) | 2001-11-26 | 2002-11-20 | X射线检查装置及其控制和调节方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20040066888A1 (zh) |
JP (1) | JP2003156454A (zh) |
KR (1) | KR20030072586A (zh) |
CN (1) | CN1479867A (zh) |
TW (1) | TW587164B (zh) |
WO (1) | WO2003046532A1 (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101308103B (zh) * | 2008-07-14 | 2010-10-27 | 成都理工大学 | 一种微束微区x射线探针分析仪 |
CN106793990A (zh) * | 2014-10-13 | 2017-05-31 | 皇家飞利浦有限公司 | 通过x射线准直来控制的探测器旋转 |
CN108291806A (zh) * | 2016-01-19 | 2018-07-17 | 横滨橡胶株式会社 | 传送带的检查装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2003304359A1 (en) * | 2003-07-22 | 2005-02-04 | Pony Industry Co., Ltd. | Transmission imager |
JP5936843B2 (ja) * | 2011-10-24 | 2016-06-22 | Juki株式会社 | ミシン |
JP6631624B2 (ja) * | 2015-04-24 | 2020-01-15 | 株式会社ニコン | X線検査装置、x線検査方法および構造物の製造方法 |
KR102559184B1 (ko) * | 2018-08-29 | 2023-07-26 | 한화오션 주식회사 | 구조물의 방사선 투과검사 장치 |
CN111458354A (zh) * | 2020-06-09 | 2020-07-28 | 广东正业科技股份有限公司 | 在线离线一体检测机及检测方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5850453A (ja) * | 1981-09-21 | 1983-03-24 | Mitsubishi Electric Corp | 物品検査システム |
JP2696471B2 (ja) * | 1993-05-25 | 1998-01-14 | 株式会社シム | 基板半田付け状態検査装置 |
JPH07151709A (ja) * | 1993-11-30 | 1995-06-16 | Toshiba Corp | ラインセンサ透視装置 |
US5712890A (en) * | 1994-11-23 | 1998-01-27 | Thermotrex Corp. | Full breast digital mammography device |
US5583904A (en) * | 1995-04-11 | 1996-12-10 | Hewlett-Packard Co. | Continuous linear scan laminography system and method |
-
2001
- 2001-11-26 JP JP2001359240A patent/JP2003156454A/ja active Pending
-
2002
- 2002-11-20 US US10/433,421 patent/US20040066888A1/en not_active Abandoned
- 2002-11-20 KR KR10-2003-7008928A patent/KR20030072586A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-11-20 CN CNA028032942A patent/CN1479867A/zh active Pending
- 2002-11-20 WO PCT/JP2002/012119 patent/WO2003046532A1/ja not_active Application Discontinuation
- 2002-11-25 TW TW091134213A patent/TW587164B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101308103B (zh) * | 2008-07-14 | 2010-10-27 | 成都理工大学 | 一种微束微区x射线探针分析仪 |
CN106793990A (zh) * | 2014-10-13 | 2017-05-31 | 皇家飞利浦有限公司 | 通过x射线准直来控制的探测器旋转 |
CN106793990B (zh) * | 2014-10-13 | 2021-03-26 | 皇家飞利浦有限公司 | 通过x射线准直来控制的探测器旋转 |
CN108291806A (zh) * | 2016-01-19 | 2018-07-17 | 横滨橡胶株式会社 | 传送带的检查装置 |
US10746541B2 (en) | 2016-01-19 | 2020-08-18 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Inspection device for conveyor belt |
CN108291806B (zh) * | 2016-01-19 | 2020-09-25 | 横滨橡胶株式会社 | 传送带的检查装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW587164B (en) | 2004-05-11 |
US20040066888A1 (en) | 2004-04-08 |
TW200302919A (en) | 2003-08-16 |
JP2003156454A (ja) | 2003-05-30 |
WO2003046532A1 (fr) | 2003-06-05 |
KR20030072586A (ko) | 2003-09-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10692184B2 (en) | Super-resolution X-ray imaging method and apparatus | |
CN100465629C (zh) | 偏离中心的层析x射线照相组合法 | |
US4978224A (en) | Method of and apparatus for inspecting mounting of chip components | |
CN101057135B (zh) | X射线ct系统及x射线ct方法 | |
CN100520380C (zh) | 检查装置、摄像装置以及检查方法 | |
EP0686857A2 (en) | Distance measurement apparatus for vehicle | |
CN1479867A (zh) | X射线检查装置及其控制和调节方法 | |
JPH06105169B2 (ja) | 反復微細パターンの差異検出方法 | |
CN101932904A (zh) | 使用多相位结构光的三维成像改进方法 | |
CN1126990C (zh) | X射线断层摄影系统 | |
KR101041840B1 (ko) | 불량검사장치 및 그 제어방법 | |
JP2003162068A (ja) | レーザ描画方法とその装置 | |
CN1576777A (zh) | 检查装置和检查方法 | |
EP0577414A2 (en) | X-ray inspection apparatus for electronic circuits | |
CN1153058C (zh) | 透孔检查方法及装置 | |
TWI275899B (en) | Imaging system and method for capturing images of a moving object | |
JPH10197463A (ja) | パターン検査装置 | |
CN1392402A (zh) | X射线ct装置 | |
CN101048058B (zh) | 部件放置单元和包含这种部件放置单元的部件放置装置 | |
JP2003295065A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP4155866B2 (ja) | X線断層撮像装置 | |
CN1131415C (zh) | 用于校准元件的装置和方法 | |
CN1470861A (zh) | 镜头检验治具 | |
CN1536638A (zh) | 相对于支撑台确定衬底位置的方法和装置 | |
JP2003262509A (ja) | 検査装置、計測装置、検査方法および計測方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |