CN1455401A - 光学记录媒体以及在其上光学记录数据的方法 - Google Patents

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Abstract

一种光学记录媒体包括：基片；形成在基片上、包含从由Si、Ge、C和Al组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分的第一记录层；和位于第一记录层附近、包含Zn作为主要成分的第二记录层，该光学记录媒体构造成由投射在基片相反侧的激光束照射，并且第一记录层和第二记录层的总厚度等于或薄于30nm。根据如此构成的光学记录媒体，可以减小再现信号中的噪声电平和改善再现信号的C/N比。

Description

光学记录媒体以及在其 上光学记录数据的方法
技术领域
本发明涉及光学记录媒体以及在该光学记录媒体上光学记录数据的方法，更具体地说涉及一种光学记录媒体，构造成可以通过将激光束投射到光学记录媒体基片相反侧而在其上记录数据及由之再现数据，该光学记录媒体包括两个或多个记录层，能够减少噪声电平，并且改善再现信号的C/N(载波/噪声)比，以及涉及在该光学记录媒体上光学记录数据的方法。
背景技术
诸如CD，DVD等光学记录媒体已经广泛用作记录数字数据的记录媒体。这些光学记录媒体可以大致划分为：不能够写和重写数据的光学记录媒体(ROM型光学记录媒体)，诸如CD-ROM和DVD-ROM；能够写但不能够重写数据的光学记录媒体(一次写入型光学记录媒体)，诸如CD-R和DVD-R；以及能够重写数据的光学记录媒体(可重写数据型光学记录媒体)，诸如CD-RW和DVD-RW。
正如本技术领域所熟悉的那样，一般使用在基片制造工艺过程中预先在基片上形成的凹坑，将数据记录在ROM类型光学记录媒体上，然而，在数据可重写型光学记录媒体中，一般采用相变材料作为记录层的材料，利用相变材料的相变引起的光学特性变化来记录数据。
另一方面，在写一次型光学记录媒体中，诸如花青染料，酞青染料或偶氮染料的等有机染料通常被用作记录层的材料，利用有机染料的化学变化引起的光学特性的变化，记录数据，其中这些化学变化伴随着物理形变。
然而，当有机染料暴露在阳光下或类似情况下时，有机染料降解，所以在有机染料用作记录层材料的情况下，很难改进长期存储可靠性。因此，为了改善与一次写型光学记录媒体的长期存储可靠性，需要形成非有机染料的材料记录层。
如在日本专利申请公开No.62-204442中所披露的，用两记录层的叠层形成光学记录层，作为记录层是用非有机染料的材料形成的光学记录媒体公知例子。
另一方面，具有改进记录密度和极高数据传输速率的下一代光学记录媒体近来已经提出。
在这样的下一代类型光学记录媒体中，记录容量增加和极高数据传输速率的实现必然要求用于记录和再现数据的激光束的光斑直径减小到非常小的尺寸。
为了减小激光束的光斑的直径，必须增加聚光激光束的物镜的数值孔径到0.7或更大，例如大约0.85，以便缩短激光束的波长到450nm或者更小，例如大约400nm。
然而，如果聚光激光束的物镜的数值孔径增加，则如公式(1)所示，激光束至光学记录媒体的光轴允许倾斜误差，也就是倾斜容限T，必定大幅度降低。
在公式(1)中，λ是用于记录和再现数据的激光束的波长，d是激光束透射的光透射层的厚度。
如公式(1)所示，倾斜容限T随物镜的数值孔径增加而减小，随光透射层的厚度的减小而增大。因此，通过使光透射层的厚度变薄，可有效地防止倾斜容限T的减小。
另一方面，公式(2)限定表示彗形像差的波像差系数W。 T ∝ λ d · NA 3 - - - ( 1 ) W = d · ( n 2 - 1 ) · n 2 · sin θ · cos θ · ( NA ) 3 2 λ ( n 2 - sin 2 θ ) 5 2 - - - ( 2 )
在公式(2)中，n是光透射层的折射率，θ是激光束光轴的倾斜角。
如公式(2)所示，通过使光透射层的厚度变薄，可以很有效地抑制彗差。
鉴于这些原因，已经建议，下一代类型的光学记录媒体的光透射层的厚度应当减小至大约100μm，以保证足够的倾斜容限和抑制彗差。
结果，难以像CD和DVD那样的常规光学记录媒体中一样，在光透射层上形成诸如记录层的层。这就导致提出像通过旋转涂覆或类似的方法在记录层上形成薄的树脂层等或者在基片上形成其他这种层构成光透射层。
因此，虽然在常规光学记录媒体中的光入射表面一侧顺序形成一些层，但下一代光学记录媒体中，是从光入射表面相反一侧顺序形成这些层。
由于下一代光学记录媒体是从光入射表面相反一侧顺序形成一些层，所以在基片上形成两个记录层的情况下，再现信号的噪声电平有增加的趋势，并且C/N比有下降的趋势。
另一方面，对全球环境问题的加大关注使得必须用尽量小地增加环境负担的材料制造光学记录媒体。
发明内容
因此本发明的目的是提供一种通过将激光束投射在其基片相反一侧在其上记录数据和从其上面再现数据的光学记录媒体，该光学记录媒体包括两个或多个记录层，并且能够降低噪声电平和改善再现信号的C/N比。
本发明的另一个目的是提供一种光学记录媒体，它用尽量小地增加环境负担的材料制造，和具有高的长期存储可靠性。
本发明的另一个目的是提供一种在光学记录媒体上光学记录数据的方法，它减小再现信号的噪声电平和改善再现信号的C/N比。
本发明的发明者不断地跟踪研究，以便实现上述的目的，结果，他们惊奇地发现，当用激光束在一种光学记录媒体上记录数据时，该光学记录媒体包括第一记录层和第二记录层，第一记录层包含从包括Si、Ge、C和Al的一组元素中选择的一种元素作为主要成分，第二记录层包含Zn作为主要成分，并且形成在第一记录层的附近，以致第一记录层和第二记录层的总厚度等于或薄于30nm，形成的包含第一记录层的主要成分元素和第二记录层的主要成分元素的混合区域显著地改变该区域的反射系数，并且能够高灵敏度地记录数据。他们还发现，利用包含第一记录层的主要成分元素和第二记录层的主要成分元素的混合区域与其它区域间的大的反射系数差别，可减小再现信号的噪声电平和改善C/N比。
本发明的上述目的和其它目的通过如下光学记录媒体完成，该光学记录媒体包括基片、第一记录层和第二记录层，第一记录层形成在基片上，并且包含从包括Si、Ge、C和Al的一组元素中选择的一种元素作为主要成分，第二记录层位于第一记录层邻近，并且包含Zn作为主要成分，这样构成的光学记录媒体，通过投射在基片相反一侧的激光束照射，并且第一记录层和第二记录层的总厚度等于或薄于30nm。
可以通过光学记录数据方法实现上述和其它的目的，该方法包括如下步骤：将预定功率的激光束投射到由基片、第一记录层和第二记录层构成的光学记录媒体的基片相反一侧，第一记录层形成在基片上，并且包含从包括Si，Ge，C和Al的一组元素中选择的一种元素作为主要成分，第二记录层位于第一记录层邻近，并且包含Zn作为主要成分，这样构成的光学记录媒体，由激光束照射到基片相反一侧，并且第一记录层和第二记录层的总厚度等于或薄于30nm。
在本发明中第一记录层包含作为主要成分的某种元素的描述意味着在第一记录层中包含的元素中该元素的含量是最大的，同时第二记录层包含作为主要成分Zn的描述意味着，在第二记录层中包含的元素中Zn的含量是最大的。
在本发明中，第二记录层与第一记录层的接触不是绝对必要的，而是第二记录层位于第一记录层附近，当用激光照射该区域时，能够形成包括第一记录层的主要成分和第二记录层的主要成分的混合区域就足够了。另外，作为介电层的一个或多个层可被插入在第一记录层与第二记录层间。
在本发明中，最好是形成第二记录层与第一记录层接触。
在本发明中，除了第一记录层和第二记录层外，光学记录媒体可以包含从由Si，Ge，C和Al组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分的一个或多个记录层，或包含Zn作为主要成分的一个或多个记录层。
在本发明中，最好是第一记录层包含从由Si、Ge和C组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分。
在本发明中，最好是第一记录层包含Si作为主要成分。
当用激光束照射时，为什么能形成一个混合区域包含第一记录层的主要成分元素和第二记录层的主要成分元素的原因还不完全清楚，但第一和第二记录层的主要成分元素可部分或全部熔合或扩散的推论是合理的，从而形成了一个区域，其中由第一和第二记录层的主要成分元素混合在一起。
第一记录层与第二记录层的主要成分元素混合形成的区域相对再现数据的激光束呈现的反射系数与其它区域相对再现数据的激光束呈现的反射系数是相当大的不同，因此，可以利用反射系数如此大的不同，用高灵敏度再现记录的数据。
在构成的由从基片一侧投射激光束照射的光学记录媒体中，该基片是通过注模法制造，以使其具有优异的表面平滑度，如果使用气相生长工艺在基片上顺序形成第一记录层和第二记录层，第一记录层与基片的光滑表面接触，并且激光束射到第一记录层上，则第一记录层同样有优异的表面平滑度。再现的信号的噪声电平因此不会增加。然而，在包括通过气相生长工艺在基片上顺序形成的第一记录层和第二记录层，并且由投射在基片对面一侧的激光照射的光学记录媒体中，激光束射在第二记录层上，由于第二记录层是通过气相生长工艺形成在第一记录层上，所以具有差的表面光洁度，第一记录层是通过气相生长工艺形成在基片上，并且第一记录层具有差的表面光洁度。结果，再现的信号的噪声电平增加，并且C/N比下降。
更具体地说，使用具有短波长的激光和具有大的数值孔径的物镜在其上记录数据和从其上再现数据的下一代光学记录媒体中，由于照射到第二记录层上的激光束的光斑太小，再现信号的噪声电平以及C/N比很大程度上受第二记录层表面的光洁度的影响。因此，当第二记录层的表面光洁度差的时候，再现信号的噪声电平大大地增加和C/N比显著地下降。
另外，形成包含Zn作为主要成分，以致具有好的表面光洁度的记录层是困难的，并且在包括包含作为主要成分Zn的第二记录层的光学记录层中，再现信号的噪声容易造成大大的增加，以及C/N显著地减小。
然而，根据本发明，由于形成第一记录层和第二记录层，以致它们的总厚度等于或薄于30nm，激光束照射的第二记录层的表面光洁度可被改善，从而可能有效地防止再现信号的噪声的增加，从而防止C/N比的下降。
还有，本发明发现前述的元素不但对环境增加了较小的负担，而且由于Zn是不贵重的材料，光学记录媒体的成本可以降低。
在本发明中，第一记录层和第二记录层优选形成总厚度是2至30nm，进一步优选是2至24nm，最好优选2至12nm。
在本发明中，替代从包括Si、Ge、C和Al的一组元素中选择的元素，第一记录层可以包含从包括Sn、Au、Cu、B、Mg、Ti、Mn、Fe、Ga、Zr、Ag和Pt的一组元素中选择的一种元素作为主要成分。
在本发明中，最好是从包括Mg、Cu和Al的一组元素中至少选择一种元素加到第二记录层。在从包括Mg、Cu和Al的一组元素中至少选择一种元素加到第二记录层的情况下，有可能进一步减小再现信号的噪声电平并且改善长期存储的可靠性。
在本发明中，替代从包括Mg、Cu和Al的一组元素中至少选择一种元素，或者在从包括Mg、Cu和Al的一组元素中至少选择一种元素之外，可以从包括Au、Ti、Si、Sn、Ge、P、Cr和Pt的一组元素中至少选择一种元素加到第二记录层。
在本发明的一个优选的方面，光学记录媒体还包括相对于第一记录层和第二记录层、在与基片相反一侧设置的光透射层，在光透射层与第一记录层和第二记录层间的第一介电层，以及在第一记录层和第二记录层与基片间的第二介电层。
根据本发明的这一优选的方面，当通过激光束照射记录媒体在其上记录数据时，可以可靠地防止基片或光透射层由于被加热而变形。另外，根据本发明的这一优选的方面，由于可以防止包含在第二记录层中的作为主要成分的Al免于腐蚀，故可更有效地防止被记录的数据经过长时期后品质恶化。
在本发明的进一步的优选的方面，光学记录媒体还包括在基片与第二介电层间的反射层。
根据本发明的这一优选的方面，可能增加记录区域与非记录区域间通过多重干涉效应产生的反射系数差别，从而得到更高的再现信号(C/N比)。
在本发明的优选的方面，光学记录数据方法包括投射具有450nm波长或者是更短波长的激光束到光学记录媒体上的步骤，从而在第一记录层和第二记录层记录数据。
在本发明的进一步的优先选择的方面，光学记录数据方法包括使用数值孔径NA和波长λ满足λ/NA≤640nm的物镜和激光束，通过物镜将激光束投射在光学记录媒体上，从而在第一记录层和第二记录层上记录数据。
根据本发明的这一优选的方面，由于可以减小投射在光学记录媒体上的激光束的光斑，故可以显著地提高数据记录的密度。
本发明的上述和其它的目的和特征，通过以下参照说明书附图进行描述，将变得显而易见。
附图说明
图1是表示本发明优选实施例的光学记录媒体的结构的横截面示图；
图2(a)是图1所示光学记录媒体放大了的横截面示图；
图2(b)是在其上记录数据后的光学记录媒体放大了的横截面示图；
图3是表示C/N比如何随第一记录层与第二记录层总厚度变化的曲线图；
图4是表示C/N比如何随第一记录层与第二记录层总厚度变化的曲线图；
图5是表示噪声电平如何随加入到第二记录层中的Mg数量变化的曲线图；
图6是表示噪声电平如何随加入到第二记录层中的Al数量变化的曲线图；
图7是表示噪声电平如何随加入到第二记录层中的Cu数量变化的曲线图；
图8是表示C/N比如何随第一记录层与第二记录层总厚度变化的曲线图；
图9是表示当根据工作示例21和比较示例6制造的光学记录媒体样品被激光束照射以记录数据时，噪声电平如何随第一记录层与第二记录层总厚度变化的曲线图；
图10是表示当根据工作示例22和比较示例7制造的光学记录媒体样品被激光束照射记录数据时，噪声电平如何随第一记录层与第二记录层总厚度变化的曲线图；
图11是表示当根据工作示例21和比较示例6制造的光学记录媒体样品被通过聚碳酸脂基片的激光束照射以记录数据时，噪声电平如何随第一记录层与第二记录层总厚度变化的曲线图；
图12是表示当根据工作示例22和比较示例7制造的光学记录媒体样品被通过聚碳酸脂基片的激光束照射以记录数据时，噪声电平如何随第一记录层与第二记录层总厚度变化的曲线图。
具体实施方式
图1是表示本发明优选实施例的光学记录媒体的结构的横截面示图。
如图1所示，根据这个实施例构成作为写一次型光学记录媒体的光学记录媒体10，并且该光学记录媒体包括基片11，形成在基片11表面上的反射层12，形成在反射层12表面上的第二介电层13，形成在第二介电层13表面上的第二记录层32，形成在第二记录层32表面上的第一记录层31，形成在第一记录层31表面上的第一介电层15，和形成在第一介电层15表面上的光透射层16。
如图1所示，在光学记录媒体10的中心部位形成了一个中心孔。
在这个实施例中，如图1所示，激光束L10投射在光透射层16的表面，从而在光学记录媒体10上记录数据或从光学记录媒体10再现数据。
基片11起到支承作用，以保证光学记录媒体10所需要的机械强度。
用于制造基片11的材料不特别限定，只要基体11可以用于支承记录媒体10。基片11可以用玻璃、陶瓷、树脂或类似的材料制造。由于树脂容易成形，所以在这些材料中，树脂优选用于制造基片11。适于制造基片11的树脂的说明性示例包括聚碳酸脂树脂，丙烯酸树脂，环氧树脂，聚苯乙烯树脂，聚乙烯树脂，聚丙烯树脂，硅树脂，含氟聚合物，丙烯腈丁二烯苯乙烯树脂，聚氨脂树脂等。其中，从易于加工和光学特性等角度考虑，在这些材料中，聚碳酸脂树脂优选用于制造基片11。
在这个实施例中，基片厚度大约1.1mm。
不特别限定基片11的形状，但通常是盘状、卡片状或薄片状。
如图1所示，在基片11的表面上交替形成槽11a和脊11b。这些槽11a和/或脊11b在记录数据或再现数据时用作激光束L10的导引轨迹。
反射层12用于反射通过光透射层16入射的激光束L10，以便使光从光透射层16射出。
对反射层的厚度不作特别的限定，但优选是从10nm至300nm，更优选是从20nm至200nm。
用于形成反射层12的材料只要能够反射激光束，不作特别的限定，反射层12可以由Mg、Al、Ti、Cr、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ge、Ag、Pt、Au等形成。在这些材料中，最好使用具有高反射特性的金属材料形成反射层12，诸如Al、Au、Ag、Cu或包含这些金属中至少一种的合金，例如Al与Ti的合金。
当激光束L10用于从第一记录层31和第二记录层32光学再现数据时，为了增加记录区域与非记录区域间由多重干涉效应导致的反射系数的差异，提供了反射层12，从而获得更高的再现信号(C/N比)。
第一介电层15和第二介电层13用于保护第一记录层31和第二记录层32。通过第一介电层15和第二介电层13，可以防止经过长时间后光学记录数据的恶化。另外，由于第二介电层13还用于防止由于热量使基片11等发生变形，所以可以有效地防止由于基片11变形等引发的抖动等变得更槽。
用于形成第一介电层15和第二介电层13的材料不特别限定，只要其透明，并且第一介电层15和第二介电层13可以由包含例如氧化物、硫化物、氮化物或它们的组合作为主要成分的介质材料形成。更具体地说，为了防止基片11等由于受热而变形，从而保护第一记录层31和第二记录层32，最好是第一介电层15和第二介电层13包含从Al2O3、AlN、ZnO、ZnS、GeN、GeCrN、CeO、SiO、SiO2、SiN和SiC中选择的至少一种介电材料作为主要成分，最好是第一介电层15和第二介电层13包含ZnS·SiO2作为主要成分。
第一介电层15和第二介电层13可以由相同的介电材料或不同的介电材料形成。另外，第一介电层15和第二介电层13至少其一可以有包括多个介电膜的多层结构。
在本说明书中，介电层包含某种介质材料作为主要成分的描述意味着该介质材料在包含在介电层中的介质材料中是最大量的。ZnS·SiO2意味着它是ZnS与SiO2的混合物。
不对第一介电层15和第二介电层13的厚度做特别的限定，但最好是3nm至200nm。如果第一介电层15或第二介电层13薄于3nm，就很难获得上述的优点。另一方面，如果第一介电层15或第二介电层13厚于200nm，形成第一介电层15和第二介电层13就需要较长的时间，因此就降低了光学记录媒体10的生产率，并且在光学记录媒体10中可能产生裂纹，这是由于光学记录媒体10中的第一介电层15和或第二介电层13出现了应力。
第一记录层31和第二记录层32适于在其上记录数据。在这个实施例中，第一记录层31位于光透射层16的一侧，并且第二记录层32位于基片11的一侧。
在这个实施例中，第一记录层31包含从Si、Ge、C和Al组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分，第二记录层32包含Zn作为主要成分。
为了彻底改善再现信号的C/N比，最好是使第一记录层31包含Si作为主要成分。
另外，最好是从Mg、Cu和Al组成的一组元素中至少选择一种元素加到包含Zn作为主要成分的第二记录层32中，在从Mg、Cu和Al组成的一组元素中至少选择一种元素加到包含Zn作为主要成分的第二记录层32中的情形下，第二记录层32的表面光洁度可以大幅改进，并且再现信号的噪声电平可以进一步抑制。
而且，从Mg、Cu和Al组成的一组元素中至少选择一种元素加到包含Zn作为主要成分的第二记录层32中，可以改进光学记录媒体10的存储可靠性和记录灵敏度。
Mg、Cu和Al只给环境增添较轻的负担，因此没有危害全球环境的风险。
加入第二记录层32的Mg、Cu或Al的量最好是等于或大于1原子％并小于50原子％。
当Mg加入第二记录层32中时，最好是加入Mg的量等于或多于24原子％，并且小于50原子％，当Cu加入第二记录层32中时，最好是加入Cu的量等于或多于17原子％，并且小于50原子％。另一方面，当Al加入第二记录层32中时，最好是加入Al的量等于或多于24原子％，并且小于50原子％。
随着第一记录层31和第二记录层32的总厚度变厚，激光束L10照射的第一光学记录层31的表面光洁度变得更坏。结果，再现信号的噪声电平变得更高，并且记录灵敏度下降。另一方面，在第一记录层和第二记录层的总厚度过小的情形下，激光束L10照射前后间反射系数的变化是小的，以致不能够得到具有高强度(C/N比)的再现信号。而且，对第一记录层31和第二记录层32的厚度的控制变得困难。
因此，在这个实施例中，形成第一记录层31和第二记录层32使得它们的总厚度为2nm至30nm。为了获得更高强度(C/N比)的再现信号和进一步减小再现信号的噪声电平，第一记录层31和第二记录层32的总厚度优选2nm至24nm，进一步优选是2nm至12nm。
然而，在没有从Mg、Cu和Al组成的一组元素中选择一种元素加到包含Zn作为主要成分的第二记录层32中的情况下，必须形成第一记录层31和第二记录层32使它们的总厚度是2nm至24nm，并且优选是2nm至12nm。
第一记录层31和第二记录层32分别的厚度不作具体的限定，但是为了显著改进记录灵敏度和大大增加激光束照射前后之间反射系数的变化，第一记录层31的厚度最好是1nm至30nm，第二记录层32的厚度最好是1nm至30nm。还有最好是确定第一记录层31的厚度对第二记录层32的厚度比(第一记录层31的厚度/第二记录层32的厚度)为0.2至0.5。
光透射层16用于透射激光束L10，并且优选厚度为10μm至300μm。进一步优选厚度为50μm至150μm。
对用作光透射层16的材料不作具体的限定，但是在通过旋转涂覆工艺或类似的工艺形成光透射层16的情形下，最好使用紫外线可固化树脂、电子束可固化树脂或类似材料。进一步优选，用紫外线可固化树脂形成光透射导16。
光透射层16可以通过将可透光树脂做成的薄片用粘合剂粘贴在第一介电层15的表面制成。
具有上述结构的光学记录媒体10可以例如用下面的方法制造。
反射层12首先形成在生成有沟槽11a和脊11b的基片11的表面上。
反射层12可以使用包含形成反射层12的元素的化学物质的气相生长工艺生成。气相生长工艺的说明性示例包括真空淀积工艺、溅射工艺等。
第二介电层13然后形成在反射层12的表面。
第二介电层13也可以使用包含形成第二介电层13的元素的化学物质，用气相生长工艺形成。气相生长工艺的说明性示例包括真空淀积工艺、溅射工艺等。
第二记录层32进一步形成在第二介电层13上。第二记录层32也可以使用包含形成第二记录层32的元素的化学物质，用气相生长工艺形成。
第一记录层31然后形成在第二记录层32上。第一记录层31也可以使用包含形成第一记录层31的元素的化学物质，用气相生长工艺形成。
在这个实施例中，由于第一记录层31和第二记录层32形成它们的总厚度从2nm至30nm，有可能改进第一记录层31的表面光洁度。
第一介电层15然后形成在第一记录层31上。第一介电层15也可以使用包含形成第一介电层15的元素的化学物质，用气相生长工艺形成。
最后，在第一介电层15上形成光透射层16。例如通过将调整到适当粘度的丙烯酸紫外线可固化树脂或环氧树脂紫外线可固化树脂加到第二介电层15表面上，使用旋转涂覆的工艺形成涂覆层，并且用紫外线照射该涂覆层，以固化该涂覆层，从而可以形成光透射层16。
这样制得光学记录媒体10。
例如，用下面的方式，在上述结构的光学记录媒体10上记录数据。
如图1和图2(a)所示，首先用预定功率的激光束L10通过光透射层16照射第一记录层31和第二记录层32。
为了以高记录密度记录数据，优选将具有450nm或更短的波长λ的激光束L10，通过数值孔径NA为0.7以上的物镜(未示出)，投射在光学记录媒体10上，并且更进一步优选λ/NA等于或小于640nm。
在这个实施例中，将具有405nm的波长λ的激光束L10，通过数值孔径NA为0.85的物镜，投射在光学记录媒体10上。
如图2(b)所示，这就导致了在激光束L10照射的区域形成由第一记录层31的主要成分元素与第二记录层32的主要成分元素混合构成的混合区域M。
为了快速混合第一记录层31的主要成分元素与第二记录层32的主要成分元素以形成混合区域M，最好调节在光透射层16表面上的激光束L10的功率等于或高于1.5mW。
第一记录层31与第二记录层32的主要成分元素混合时，该区域的反射系数显著地变化。由于这样形成的混合区域M的反射系数大大不同于混合区域M周围区域的反射系数，所以当再现光学记录的信息时，就可能获得高的再现信号(C/N比)。
当投射激光束L10时，由激光束L10加热第一记录层31和第二记录层32。在这个实施例中，第一介电层15和第二介电层13位于第一记录层31和第二记录层32的外面。从而有效地防止由于热量引起基片11和光透射层16的变形。
根据这个实施例，第一记录层31包含从由Si、Ge、C和Al组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分，以及第二记录层32包含Zn元素作为主要成分。当预定功率的激光束L10通过光透射层16投射在第一记录层31和第二记录层32上时，如图2(b)所示，包含在第一记录层31中的主要成分元素和包含在第二记录层32中的主要成分元素，在由激光束L10照射的区域混合，于是形成了由第一记录层31中的主要成分元素和第二记录层32中的主要成分元素的混合物构成的混合区域M。由于这样形成的混合区域M的反射系数大大不同于混合区域M周围区域的反射系数，所以当再现光学记录的信息时，就可能获得高的再现信号(C/N比)。
另外，由激光束L10照射的第一记录层31的表面光洁度随着第一记录层31和第二记录层32的总厚度变厚而变差。结果，再现信号的噪声电平变得更高，并且记录灵敏度下降。另一方面，在第一记录层31和第二记录层32的总厚度太小的情况下，在激光束L10照射前后的反射系数的变化也小，以致不能够获得高强度(C/N比)的再现信号。还有，控制第一记录层31和第二记录层32的厚度变得困难。然而，根据这个实施例，由于形成的第一记录层31和第二记录层32的总厚度是2nm至30nm，所以第一记录层31的表面光洁度可以改进。因此可以减小再现信号的噪声电平，改进记录灵敏度，并且进一步获得高强度(C/N比)的再现信号。
另外，根据这个实施例，由于包含在第一记录层31中的主要成分元素和包含在第二记录层32中的主要成分元素只给环境增加较轻的负担，所以没有损害全球环境的风险。工作示例与比较示例
为了进一步清楚了解本发明的优点，下面将说明工作示例和比较示例。工作示例1
用下面的方法制造光学记录媒体。
首先，将具有1.1mm厚度和直径为120mm的聚碳酸脂基片放在溅射装置中。然后使用溅射工艺在聚碳酸脂基片上顺序形成包含Ag、Pd和Cu的混合物且厚度为100nm的反射层，包含ZnS和SiO2的混合物且厚度为28nm的第二介电层，包含Zn作为主要成分元素且厚度为4nm的第二记录层，包含Si作为主要成分元素且厚度为8nm的第一记录层，和包含ZnS和SiO2的混合物且厚度为22nm的第一介电层。
在第一介电层和第二介电层中包含的ZnS和SiO2的混合物中的ZnS与SiO2的摩尔比是80∶20。
另外，第一介电层被使用旋转涂覆方法，用在溶剂中溶解丙烯酸紫外线可固化树脂制备的树脂溶液涂覆，形成涂覆层，并且该涂覆层用紫外线照射，从而固化丙烯酸紫外线可固化树脂，以形成厚度为100μm厚度的光透射层，从而制得光学记录媒体样品#1-1。
除了形成的第一记录层有6nm厚度和第二记录层有6nm厚度外，用类似的方法制造光学记录媒体样品#1-2。
除了形成的第一记录层有8nm厚度和第二记录层有4nm厚度外，用类似的方法制造光学记录媒体样品#1-3。工作示例2
除了形成包含Ge作为主要成分的第一记录层外，用工作示例1的方法制造光学记录媒体样品#2-1至#2-3。工作示例3
除了形成的第一记录层包含C作为主要成分外，用工作示例1的方法制造光学记录媒体样品#3-1至#3-3。工作示例4
除了形成的第一记录层包含Al作为主要成分外，用工作示例1的方法制造光学记录媒体样品#4-1至#4-3。工作示例5
除了形成的第一记录层包含Zn作为主要成分、形成的第二记录层包含Si作为主要成分元外，用工作示例1的方法制造光学记录媒体样品#5-1至#5-3。工作示例6
除了形成的第一记录层包含Zn作为主要成分、第二记录层包含Ge作为主要成分外，用工作示例1的方法制造光学记录媒体样品#6-1至#6-3。工作示例7
除了形成的第一记录层包含Zn作为主要成分、第二记录层包含C作为主要成分外，用工作示例1的方法制造光学记录媒体样品#7-1至#7-3。工作示例8
除了形成的第一记录层包含Zn作为主要成分、第二记录层包含Al作为主要成分外，用工作示例1的方法制造光学记录媒体样品#8-1至#8-3。比较示例1
除了形成的第一记录层包含W作为主要成分外，用工作示例1的方法制造比较性光学记录媒体样品#1-1至#1-3。比较示例2
除了形成的第一记录层包含Zn作为主要成分、形成第二记录层包含W作为主要成分外，用工作示例1的方法制造比较的光学记录媒体样品#2-1至#2-3。
用下面的方法，在工作示例1至8和比较示例1和2中制造的光学记录媒体样品上记录数据。
具体地说，根据工作示例1至8和比较示例1和2制造的光学记录媒体样品顺序放在Pulstec Industrial Co.，Ltd制造的DDU1000光学记录媒体评估装置中，并且在下列条件下将数据光学记录在其上。
波长为405nm的蓝色激光束用作记录数据的激光束，并且使用数值孔径为0.85的物镜将该激光束通过光透射层聚光在每个光学记录媒体样品上，并且在下面记录信号的条件下将数据记录在每个光学记录媒体样品上。
通过针对各工作示例和比较示例的每个光学记录媒体样品改变激光束的功率，进行数据的光学记录。
记录信号的条件如下：
调制码：(1.7)RLL
通道位长度：0.12μm
记录线速度：5.3m/s
通道时钟：66MHz
记录信号：8T
在每个光学记录媒体样品上记录的数据然后使用上述的光学记录媒体评估装置再现，并且测量再现信号的C/N比。当再现数据时，激光束的波长设定在405nm，物镜的数值孔径设定为0.85，激光束的功率设定为0.3mW。定义激光束的功率为在光透射层表面上的激光束的功率。
因此，针对每个光学记录媒体样品测量最大C/N比和得到具有最大C/N比的再现信号时的激光束的功率。
在表1中列出了测量结果。
在表1中，列出了在根据工作示例1至8和比较示例1和2的每一个制造的三个光学记录媒体样品中间，可以得到最大C/N比的光学记录媒体样品的数据。
用于实验的光学记录媒体评估装置的激光束的最大功率是10.0mW。因此，当即使激光束的功率增加到10.0mW而C/N比也未达到最大时，将认为得到具有最大C/N比的再现信号时的激光束功率超过10.0mW。这种情况通过将激光束功率值标记为10.0mW并加上星号来表示。
表1
第一记录层 第二记录层 8T C/N(dB)   判断 激光束功率(mW)   判断
工作示例1     Si     Zn     42.3     ◎     6     ◎
工作示例2     Ge     Zn     43.1     ◎     5     ◎
工作示例3     C     Zn     44.5     ◎     8     ◎
工作示例4     Al     Zn     31.6     ○     10*     ○
工作示例5     Zn     Si     35.3     ○     8     ◎
工作示例6     Zn     Ge     51.3     ◎     8     ◎
工作示例7     Zn     C     46.9     ◎     8     ◎
工作示例8     Zn     Al     43.8     ◎     10*     ○
比较示例1     W     Zn     不可测量     ×     10*     —
比较示例2     Zn     W     不可测量     ×     10*     —
从表1可知，可以发现根据工作示例1至8制造的每个光学记录媒体样品可以测量再现信号的C/N比。具体地说，在根据工作示例1至3以及6至8制造的每个光学记录媒体样品中再现信号的C/N比超过40dB，同时在根据工作示例6制造的光学记录媒体样品中再现信号的C/N比超过50dB，表明这些光学记录媒体样品有特别优异的数据记录和再现特性。
与此相反，在每一个根据比较示例1和2制造的光学记录媒体样品中，可以发现再现信号的C/N比不可测量，并且难于记录和再现数据。
另外，在根据工作示例1至3以及5至7制造的每一个光学记录媒体样品中，得到具有最大C/N比的再现信号时的激光束功率小于10mW，表明根据工作示例1至3以及5至7制造的光学记录媒体样品具有优异的记录灵敏度。工作示例9
除了形成第二记录层具有2nm厚度和第一记录层具有2nm厚度外，制造光学记录媒体类似于工作示例1。工作示例10
除了形成的第二记录层具有6nm厚度和第一记录层具有6nm厚度外，制造光学记录媒体类似于工作示例1。工作示例11
除了形成的第二记录层具有8nm厚度和第一记录层具有8nm厚度外，制造光学记录媒体类似于工作示例1。工作示例12
除了形成的第二记录层具有12nm厚度和第一记录层具有12nm厚度外，制造光学记录媒体类似于工作示例1。比较示例3
除了形成的第二记录层具有15nm厚度和第一记录层具有15nm厚度外，制造光学记录媒体类似于工作示例1。比较示例4
除了形成的第二记录层具有20nm厚度和第一记录层具有20nm厚度外，制造光学记录媒体类似于工作示例1。
类似于在每一个根据工作示例1至8和比较示例1和2制造的光学记录媒体样品中光学记录数据的情形，在每一个根据工作示例9至12以及比较示例3和4制造的光学记录媒体样品中光学记录数据，并且测量每一个根据工作示例9至12和比较示例3和4制造的光学记录媒体样品的8T信号的C/N比。激光束的功率固定在8mW。
测量结果示于图3中。
如图3所示，在记录数据用的激光束功率是8mW的情况下，发现再现信号的C/N比随第一记录层和第二记录层总厚度的增加而减小，并且当第一记录层和第二记录层的总厚度为12nm以下时，再现信号的C/N比超过40dB，当第一记录层和第二记录层的总厚度等于或厚于16nm时，再现信号的C/N比在40dB以下。
另外，在工作示例11的光学记录媒体中用于记录数据的激光束采用9mW，当8mW激光束用于记录数据，并且8T信号的C/N比被测量时，它的再现信号具有低于40dB的C/N比。而且，对于每个光学记录媒体，采用10mW激光束用于在光学记录媒体上记录数据，当用8mW激光束记录数据并测量8T信号的C/N比时，它们的再现信号具有低于40dB的C/N比。
测量结果示于图4中。
如图4所示，甚至当用于记录数据的激光束的功率增加时，在第一记录层与第二记录层总厚度都等于或厚于30nm的比较示例3和4的光学记录媒体中再现信号的C/N比低于40dB。另一方面，通过增加用于在第一记录层和第二记录层总厚度都等于或小于24nm的工作示例11和12的每一个光学记录媒体中记录数据的激光束的功率，可以将再现信号的C/N比增加至40dB以上。工作示例13
除了形成的第二记录层具有5nm厚度和第一记录层具有5nm厚度外，用工作示例1的方法制造光学记录媒体。工作示例14
除了Mg加入到包含主要成分Zn的第二记录层外，用工作示例13的方法制造光学记录媒体。
另外，除了加入到第二记录层中Mg的量有所变化之外，用类似方式制造三个光学记录媒体。工作示例15
除了Al加入到包含主要成分Zn的第二记录层外，用工作示例13的方法制造光学记录媒体。
另外，除了加到第二记录层中Al的量有所变化之外，用类似方式制造三个光学记录媒体。工作示例16
除Cu加到包含主要成分Zn的第二记录层外，用工作示例13的方法制造光学记录媒体。
另外，除了加入到第二记录层中Cu的量有所变化之外，三个光学记录媒体被类似制造。
在16.5MHz和4.1MHz的频带，测量根据工作示例13至16制造的每一种光学记录媒体的未记录区域的噪声。
根据工作示例14至16制造的光学记录媒体的测量结果分别示于图5至图7中。
在图5至图7中，添加元素的量为0原子％的数据对应于根据工作示例13制造的光学记录媒体的数据。
如图5所示，可以发现当将Mg加到第二记录层时，在16.5MHz和4.1MHz频带处的噪声电平下降。还发现在加入到第二层的Mg的量等于或小于大约24原子％的情况下，在16.5MHz和4.1MHz频带的噪声电平都没有由于加入Mg而显著下降，并且在加入到第二层的Mg的量超过24原子％的情况下，在16.5MHz和4.1MHz频带的噪声电平都随着加入第二记录层的Mg的量的增加而减小。由于第二记录层包含Zn作为主要成分，所以在图5中所示的超过50原子％Mg的数据只作为参考。
另外，如图6中所示，当Al加入到包含作为主要成分的Zn的第二记录层时，在16.5MHz和4.1MHz频带的噪声电平下降。还发现加到第二记录层中的Al等于或小于24原子％的情况下，在16.5MHz和4.1MHz频带的每一个中的噪声电平由于Al的加入而大大地减小，以及在加到第二记录层中的Al的数量超过24原子％的情况下，在16.5MHz和4.1MHz频带的每一个中的噪声电平由于在第二记录层中进一步加入Al而只有稍微的减小。
另外，如图7所示，当Cu加到包含作为主要成分的Zn的第二记录层时，在16.5MHz和4.1MHz频带的噪声电平下降。还发现加入到第二记录层中的Cu等于或小于24原子％的情况下，在16.5MHz和4.1MHz频带的噪声电平都由于Cu的加入而大幅减小，以及在加到第二记录层中的Cu的数量超过24原子％的情况下，在16.5MHz和4.1MHz频带的噪声电平由于在第二记录层中进一步加入Cu只是稍微减小。工作示例17
除了形成的第一记录层包含Si作为主要成分并具有6nm的厚度，形成的第二记录层包含Zn作为主要成分，以及加入36原子％的Cu并具有6nm的厚度外，光学记录媒体是用工作示例1的方法制造的。工作示例18
除了形成的第一记录层具有8nm的厚度和第二记录层具有8nm的厚度外，光学记录媒体是用工作示例17的方法制造的。工作示例19
除了形成的第一记录层具有12nm的厚度和第二记录层具有12nm的厚度外，光学记录媒体是用工作示例17的方法制造的。工作示例20
除了形成的第一记录层具有15nm的厚度和第二记录层具有15nm的厚度外，光学记录媒体是用工作示例17的方法制造的。比较示例5
除了形成的第一记录层具有20nm的厚度和第二记录层具有20nm的厚度外，光学记录媒体是用工作示例17的方法制造的。
类似在根据工作示例1至8和比较例1和2制造的光学记录媒体样品的每一个上光学记录数据的情形，在根据工作示例17至20和比较例5制造的光学记录媒体样品的每一个上光学记录数据，并且测量根据工作示例17至20和比较例5制造的光学记录媒体样品的每一个上的8T信号的C/N比。激光束的功率被固定为8mW。
测量结果示于图8中。
如图8所示，发现甚至在包含作为主要成分Zn的第二记录层中添加Cu的情况中，再现信号的C/N比随第一记录层和第二记录层的总厚度增加而减小，但再现信号的C/N比相对未加入Cu的图3中所示情况下降得更为缓慢，并且当第一记录层和第二层的总厚度等于30nm时，再现信号的C/N比高于40dB。
因此发现由第一记录层与第二记录层的总厚度增加引起的再现信号的C/N比减小会由于将Cu加到包含作为主要成分Zn的第二记录层而受到抑制。工作示例21
根据下面的方法制造光学记录媒体样品#A-1。
首先将厚度为0.6mm，直径为120mm的聚碳酸脂基片放在溅射装置上。然后，使用溅射工艺按顺序在聚碳酸脂基片上形成包含ZnS和SiO2的混合物、厚度为60nm的第二介电层，包含Zn作为主要成分、厚度为5nm的第二记录层，包含Si作为主要成分、厚度为5nm的第一记录层，和包含ZnS和Si02的混合物、厚度为60nm的第一介电层。
在第一介电层和第二介电层中的ZnS和SiO2混合物中的ZnS对SiO2的摩尔比为80∶20。
然后，厚度为0.6mm和直径为120mm的聚碳酸脂板被粘接到第一介电层的表面，以形成光透射层，从而制造光学记录媒体#A-1。比较示例6
除了形成的第一记录层有50nm的厚度和第二记录层有50nm的厚度外，用与制造光学记录媒体#A-1方法相同的方法制造光学记录媒体#A-2。工作示例22
除了形成的第一记录层包含Zn作为主要成分和第二记录层包含Si作为主要成分外，用工作示例21的方法制造光学记录媒体样品#B-1。比较示例7
除了形成的第一记录层包含Si作为主要成分和第二记录层包含Zn作为主要成分外，用比较例6的方法制造光学记录媒体样品#B-2。
然后，由数值孔径为0.6的物镜聚光的具有635nm波长的激光束从通过粘合聚碳酸脂板形成的光透射层的一侧投射到光学记录媒体样品#A-1、#A-2、#B-1和#B-2上。并且在16.5MHz和4.1MHz频带处，光学记录媒体样品每一个的未记录区域的噪声以5.3m/s的线速度加以测量。
激光束的功率是1.0mW。
在图9中示出了工作示例21和比较示例6的测量结果，在图10中示出了工作示例22和比较示例7的测量结果。
如图9和10所示，在将激光束通过经粘合聚碳酸脂板形成的光透射层投射在光学记录媒体样品上以记录数据的情况下，在工作示例21、比较示例6、工作示例22和比较示例7所有的示例中，发现随着第一记录层和第二记录层的总厚度变厚，每一个光学记录媒体样品的未记录区域在4.1MHz频带处的噪声电平增加。有理由认为这是因为随着第一记录层与第二记录层总厚度变厚表面光洁度变差造成的。比较例8
按照工作示例21、比较示例6、工作示例22和比较示例7的方法制造光学记录媒体样品#A-1、#A-2、#B-1、#B-2。
除了激光束通过聚碳酸脂基片投射在每一个光学记录媒体样品上，用工作示例21、比较示例6、工作示例22和比较示例7的方法测量在16.5MHz和4.1MHz频带处每个光学记录媒体样品的未记录区域的噪声。
在图11中示出了根据工作示例21、比较示例6制造的记录媒体样品#A-1、#A-2的测量结果，在图12中示出了根据工作示例22、比较示例7制造的记录媒体样品#B-1、#B-2的测量结果。
如图11和12中所示，在激光束透过聚碳酸脂基片投射在光学记录层上记录数据的情形中，发现第一记录层和第二记录层的总厚度与每个光学记录层样品的未记录区域的噪声电平无关。可以合理地得出结论，这是由于即使第一记录层和第二记录层的厚度变化，聚碳酸脂基片一侧上的第一记录层的表面光洁度也不变化而造成的。
参照具体实施例和工作示例表示和描述了本发明。然而，应当注意到，本发明决不限定于所述结构的细节，可以作出变化和改进而不脱离所附权利要求的范围。
例如，虽然在以上所述的实施例和工作示例中，形成第一记录层31和第二记录层32彼此接触，但是不绝对必须形成第一记录层31和第二记录层32彼此接触，只要第二记录层32位于第一记录层31的附近，使得当激光束照射到以下所述区域时，能够形成包含第一记录层31主要成分元素和第二记录层32主要成分元素的混合区域就足够了。
另外，在上面所述的实施例和工作示例中，光学记录媒体10包括第一记录层31和第二记录层32，但是除了第一记录层31和第二记录层32外，光学记录媒体可以包括包含从Si、Ge、C、Sn、Zn和Cu组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分的一个或多个记录层，或者包括包含Al元素作为主要成分的一个或多个记录层。
此外，虽然在上面所述的实施例和工作示例中，第一记录层31淀积在光透射层16的一侧和第二记录层32淀积在基片11的一面上，但也可以将第一记录层31设在基片11的一侧而将第二记录层32设在光透射层16的一侧。
另外，在上面所述的实施例和工作示例中，光学记录媒体10包括第一介电层15和第二介电层13，并且第一记录层31和第二记录层32安排在第一介电层15和第二介电层13之间。然而，光学记录媒体10不绝对必须包括第一介电层15和第二介电层13，也就是光学记录媒体10可以不包括介电层。另外，光学记录媒体10可以包括单一介电层，并且在此情况下，介电层可以相对于第一记录层31和第二记录层32设在基片11的一侧或光透射层16的一侧。
此外，虽然在上面所述的实施例和工作示例中第一记录层31和第二记录层32具有相同的厚度，但不是绝对必须形成具有相同的厚度的第一记录层31和第二记录层32。
另外，在上述的实施例和工作示例1至20中，虽然光学记录媒体10具有反射层12，但如果在由包含在第一记录层的主要成分元素和包含在第二记录层的主要成分元素Zn混合形成的混合区域中的反射光的强度与激光束未投射的区域中的反射光的强度彼此有很大的不同，则反射层可以省略。
根据本发明，可以提供一种光学记录媒体，构造成通过投射激光束在基片相反一侧上而在其上记录数据和由之再现数据，该光学记录媒体包括两个或多个记录层，并且能够减小再现数据的噪声电平和改善再现数据的C/N比。
另外，根据本发明，可以提供一种光学记录媒体，可以用给环境带来很小负担和具有长期存储可靠性的材料制造该光学记录媒体。
另外，根据本发明，可以提供一种在光学记录媒体上光学记录数据的方法，可以减小再现信号的噪声电平和改善再现信号的C/N比。

Claims (22)

1.一种光学记录媒体，包括：基片；形成在基片上、包含从由Si、Ge、C和Al组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分的第一记录层；和位于第一记录层附近、包含Zn作为主要成分的第二记录层，该光学记录媒体构造成由投射在基片相反侧的激光束照射，并且第一记录层和第二记录层的总厚度等于或薄于30nm。
2.根据权利要求1所述的光学记录媒体，其特征在于其中第二记录层形成为与第一记录层接触。
3.根据权利要求1或2所述的光学记录媒体，其特征在于第一记录层包含从由Si、Ge和C组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分。
4.根据权利要求1至3任一所述的光学记录媒体，其特征在于从由Mg、Cu和Al组成的一组元素中选择至少一种元素加到第二记录层中。
5.根据权利要求1至4任一所述的光学记录媒体，其特征在于第一记录层和第二记录层形成为使其总厚度等于或厚于2nm。
6.根据权利要求5所述的光学记录媒体，其特征在于其中第一记录层与第二记录层形成为使其厚度是2nm至24nm。
7.根据权利要求6所述的光学记录媒体，其特征在于其中第一记录层与第二记录层形成为使其总厚度是2nm至12nm。
8.根据权利要求1至7任一所述的光学记录媒体，其特征在于还包括相对于第一记录层和第二记录层设在基片相反侧的光透射层，在光透射层与第一记录层和第二记录层之间的第一介电层，和在第一记录层和第二记录层与基片之间的第二介电层。
9.根据权利要求8所述的光学记录媒体，其特征在于还包括设在基片与第二介电层之间的反射层。
10.根据权利要求1至9任一所述的光学记录媒体，构造为写一次型光学记录媒体。
11.一种光学记录数据的方法，包括投射预定功率的激光束到光学记录媒体的基片相反侧的步骤，该光学记录媒体包括：基片；形成在基片上的包含从由Si、Ge、C和Al组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分的第一记录层；和位于第一记录层附近的包含Zn作为主要成分的第二记录层，该光学记录媒体构造成由投射在基片相反侧的激光束照射，并且第一记录层和第二记录层的总厚度等于或薄于30nm。
12.根据权利要求11所述的光学记录数据的方法，其特征在于其中第二记录层形成为与第一记录层接触。
13.根据权利要求11或12所述的光学记录数据的方法，其特征在于其中的第一记录层包含从由Si、Ge和C组成的一组元素中选择的一种元素作为主要成分。
14.根据权利要求11至13任一所述的光学记录数据的方法，其特征在于从Mg、Cu和Al组成的一组元素中选择至少一种元素加到第二记录层。
15.根据权利要求11至14任一所述的光学记录数据的方法，其特征在于形成第一记录层和第二记录层，使其总厚度等于或厚于2nm。
16.根据权利要求15所述的光学记录数据的方法，其特征在于第一记录层和第二记录层形成为使其总厚度是2nm至24nm。
17.根据权利要求16所述的光学记录数据的方法，其特征在于第一记录层和第二记录层形成为使其总厚度是2nm至12nm。
18.根据权利要求11至17任一所述的光学记录数据的方法，其特征在于其中的光学记录媒体还包括相对于第一记录层和第二记录层设在基片相反一侧的光透射层，在光透射层与第一记录层和第二记录层之间的第一介电层，和在第一记录层和第二记录层与基片之间的第二介电层。
19.根据权利要求18所述的光学记录数据的方法，其特征在于所述光学记录媒体还包括设在基片与第二介电层之间的反射层。
20.根据权利要求11至19任一所述的光学记录数据的方法，其特征在于该光学记录媒体构造成写一次型光学记录媒体。
21.根据权利要求11至20任一所述的光学记录数据的方法，包括在光学记录媒体上投射波长为450nm或更短的激光束的步骤，从而在第一记录层和第二记录层上记录数据。
22.根据权利要求21所述的光学记录数据的方法，其特征在于还包括如下步骤：使用一个物镜和激光束，它们的数值孔径NA和波长λ满足λ/NA≤640nm，并且将所述激光束通过该物镜投射在光学记录媒体上，从而在第一记录层和第二记录层上记录数据。
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