CN118031259A - 电磁加热装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种电磁加热装置，包括：面板，用于承载待加热器具；加热线圈，设置在面板的一侧，用于产生电磁场以加热待加热器具；红外测温模组，设置在面板设置有加热线圈的一侧，用于确定待加热器具产生的红外线的强度；控制器，连接红外测温模组，能够基于红外测温模组确定的红外线的强度计算出待加热器具的温度；风机组件，设置在面板设置有加热线圈的一侧，用于对面板位于红外测温模组的探测范围内的区域进行散热。

Description

电磁加热装置

技术领域

本申请涉及厨用设备技术领域，具体而言，涉及一种电磁加热装置。

背景技术

电磁炉/灶是利用加热线圈产生交变电磁场，处于该交变电磁场内的电磁加热装置因电磁感应而在内部产生涡流，从而形成主动发热。一般加热线圈与电磁加热装置之间用玻璃面板进行物理阻隔，相关技术中，通过在玻璃面板下方设置多个红外传感器来实现锅具的非接触式测温。但在测温过程中，红外传感器容易受到玻璃面板的温度影响，比如，当玻璃面板温度过高时，会对探测到的锅具的辐射强度造成干扰，使得检测出的锅具的温度不准。

因此，通过多个红外传感器实现锅具的非接触式测温时，如何降低玻璃面板对锅具测温的结果影响成为目前亟待解决的问题。

发明内容

本申请旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本申请的第一个方面在于，提出一种电磁加热装置。

有鉴于此，本申请的第一方面的技术方案提供了一种电磁加热装置，包括：面板，用于承载待加热器具；加热线圈，设置在面板的一侧，用于产生电磁场以加热待加热器具；红外测温模组，设置在面板设置有加热线圈的一侧，用于确定待加热器具产生的红外线的强度；控制器，连接红外测温模组，能够基于红外测温模组确定的红外线的强度计算出待加热器具的温度；风机组件，设置在面板设置有加热线圈的一侧，用于对面板位于红外测温模组的探测范围内的区域进行散热。

根据本申请提供的电磁加热装置，包括面板、加热线圈、红外测温模组和控制器以及风机组件。其中，面板用于承载待加热器具，也即面板包括承载面和非承载面。而加热线圈、红外测温模组和控制器以及风机组件等零件是安装在面板的非承载面侧的。加热线圈用于产生电磁场以加热待加热器具，具体原理为：加热线圈产生交变电磁场，处于该交变电磁场内的待加热器具因电磁感应而在内部产生涡流从而形成主动发热，以此就实现了对待加热器具的电磁加热。红外测温模组用于接收面板和待加热器具产生(包括发射和反射)的红外线，从而基于红外线确定出待加热器具产生的红外线的强度。控制器与红外测温模组连接，用于根据红外测温模组接收的红外线计算出待加热器具的温度，也即红外测温模组和控制器合在一起构成了一个红外温度检测装置，其目的在于检测出放置在面板上的待加热器具，比如锅具等的温度，以此就在不需要破坏面板的前提下实现了对待加热器具的非接触式的红外测温，解决了现有方案中加热线圈与待加热器具之间因面板的物理阻隔，导致在不破坏面板的前提下，无法对锅具等待加热器具进行非接触式直接测温的问题。

进一步地，在对待加热器具进行非接触式的红外测温时，由于实际需求是测试锅具等待加热器具的温度，因此，若面板温度过高时，会对探测到的待加热器具的辐射强度造成干扰。基于此，本申请专门设置了风机组件，风机组件用于使空气流动，从而通过风机组件能够向面板位于红外测温模组的探测范围内的区域，也即面板和红外测温模组之间的区域吹冷风，以此就实现了对面板相应区域的散热，以此可以减少面板热量对探测的待加热器具辐射强度的干扰，使得待加热器具的测温更加准确。

进一步地，面板为透光面板，比如黑晶玻璃面板。面板的透光度可以根据需要设置成全透明或者部分透明的。

在上述技术方案中，电磁加热装置还包括：盒体，包括能够盖合的上盖和下盖，红外测温模组和风机组件设置在盒体内；上盖靠近面板的一侧上设置有第一环形挡筋和第二环形挡筋，红外测温模组靠近面板的一端位于第一环形挡筋内；第二环形挡筋围设在第一环形挡筋的外侧，并与第一环形挡筋形成出风口，且第一环形挡筋向面板的方向突出第二环形挡筋设置，风机组件产生的风能够由出风口排出。

在该些技术方案中，电磁加热装置还包括上盖和下盖盖合形成的盒体，以此构建了一个相对独立的空间，以方便安装容纳红外测温模组和风机组件等零件。同时，盒体内设置有散热风道，盒体上设置有出风口，风机组件产生的风可以由散热通道流动到出风口，然后吹向面板，实现对面板的散热。而上盖的上表面上设置有同心设置的两圈环形挡筋，内侧的为第一环形挡筋，外侧的为第二环形挡筋。而出风口就由内外两侧的环形挡筋围成。而红外测温模组的上端位于内侧环形挡筋内，此时内侧环形挡筋起到了光导的作用，同时该设置也使得出风口能够设置在红外测温模组的周围，也即出风口和光导通道结合设置在了一起，以此使得出风口吹出风的流动范围是对应红外测温模组的探测范围的，以此就确保了出风口吹出的风能够对面板对应红外测温模组的探测范围内进行散热。进一步地，内侧环形挡筋的高度是高于外侧环形挡筋的，以此一方面能够利用较高的环形挡筋挡住周围的热量，使得周围的热量不易进入到内侧环形挡筋而影响到红外测温模组的测温。另一方面，使得内侧环形挡筋能够延伸到被散热后的区域，以此能够进一步地减少周围环境对红外测温模组测温精度的影响，最大程度的排除例如加热线圈等的热量对红外测温模组的干扰。

在另一技术方案中，面板和红外测温模组之间设置有光导通道，出风口和光导通道相互独立设置，也即通过光导通道限定了红外线的流动通道，隔绝了外部热量，以此也能够相对降低外部热量对红外测温模组的干扰。

在上述任一技术方案中，电磁加热装置还包括：屏蔽罩，罩设安装在控制器远离面板的一侧。

在该些技术方案中，电磁加热装置还包括屏蔽罩。屏蔽罩罩设安装在控制器远离面板的一侧，也即控制器使用屏蔽罩进行覆盖，以此减少了电磁干扰。控制器一般为电路板。

进一步地，屏蔽罩安装在盒体内，控制器安装在下盖和屏蔽罩之间。

在上述任一技术方案中，电磁加热装置还包括：进风孔，对应风机组件设置。进一步地，下盖上设置有该进风孔，以使产品外部的空气能够进入到产品内部。

在上述任一技术方案中，电磁加热装置还包括底壳组件，与面板围成安装空间。加热线圈、红外测温模组等零件均设置在底壳组件和面板围成的空间内。进一步地，下盖与底壳组件为一体式结构，或者下盖与底壳组件为分体式结构。

在上述任一技术方案中，风机组件为离心风机，风机组件和红外测温模组在面板上的投影不重合；或风机组件位于红外测温模组远离面板的一侧，且风机组件和红外测温模组在面板上的投影至少部分重合，风机组件为轴流风机。

在该些技术方案中，风机组件可以为离心风机或者轴流风机，而离心风机需要设置在红外测温模组的左右两侧，也即两者需要横向设置，故而，风机组件和红外测温模组在面板上的投影不重合，以此可以降低产品的整体厚度。而轴流风机需要设置在红外测温模组的下侧，故而风机组件和红外测温模组在面板上的投影至少部分重合，也即两者需要竖向设置，以此可以降低产品的整体宽度，但厚度会相对增加。因此，风机组件的形式可在实际生产过程中根据实际需要进行灵活选择，不局限于离心风机或者轴流风机。

在上述任一技术方案中，红外测温模组包括多个红外检测件和测温基座。多个红外检测件均安装在测温基座上。

在该些技术方案中，红外测温模组包括多个红外检测件，多个红外检测件均与控制器连接，而多个红外检测件安装在同一个测温基座上，以此安装时，可以先将每个红外检测件安装到测温基座上，再整体安装到电路板等控制器上，以此就可以简化多个红外检测件的安装。

在上述任一技术方案中，测温基座上设置有多个安装孔，多个红外检测件一一对应安装在多个安装孔处。

在该些技术方案中，测温基座上对应每个红外检测件均设置有安装孔，一个安装孔安装一个红外检测件，以此就实现了每个红外检测件在测温基座上的定位安装，确保了每个红外检测件的位置固定不变。

进一步地，多个红外检测件均朝向面板设置。由垂直于面板的方向观察，多个红外检测件在测温基座上呈圆形阵列排布或矩形阵列分布。以此可以确保红外检测件在测温基座上安装的更有规律，以此更方便产品的后续接线。

在上述任一技术方案中，红外测温模组包括：多个红外检测件；匀热板，匀热板上设置有多个通孔，多个红外检测件靠近面板的一端均位于通孔内。

在该些技术方案中，红外测温模组包括多个红外检测件。每个红外检测件的上端均设置在匀热板的一通孔内，通过匀热板可以使不同位置的温度更加均匀，以此就使得不同位置的红外检测件的温度是一致的，以此可以使每个红外检测件的本体的热量更均匀，提高测量精度。比如，对于红外测温模组为热电堆时，由于热电堆的测温原理为利用热端和冷端的温度差转变为电势差，所以热端接收到的辐射强度的均匀性，对测温精度影响较大，因此，在红外检测件的头部增加一款匀热板，可以减少红外检测件本体不同部位接收到的辐射强度的差异，使得产品的测温更加精确。

进一步地，匀热板的材质可以是铜、铝等导热性能较好的材料。

在上述任一技术方案中，面板能够被第二波长范围的红外线穿透，面板能够阻挡第一波长范围的红外线穿透或面板还能被第三波长范围的红外线穿透，红外测温模组包括第一红外探测器和第二红外探测器，或红外测温模组包括第二红外探测器和发射检测组件；第一红外探测器的响应波长范围为第一波长范围，用于接收面板发出的第一波长范围的第一红外线，第二红外探测器的响应波长范围为第二波长范围，用于接收面板和待加热器具发出的第二波长范围的第二红外线；发射检测组件包括：红外发射件，用于向待加热器具发射第三波长范围的第三红外线；第三红外探测器，用于接收第三红外线经待加热器具反射的第三反射线；控制器具体用于获取第二红外探测器接收第二红外线测出的第二红外信号，以及获取第一红外探测器接收第一红外线测出的第一红外信号，或获取红外发射件发射第三红外线测出的第三红外信号以及第三红外探测器接收第三反射线测出的第三反射信号，并根据第二红外信号以及第一红外信号或第三红外信号计算出待加热器具的温度。

在该些技术方案中，红外测温模组的具体结构有两种方案，其具体如下：

第一种：包括第一红外探测器和第二红外探测器。

第二种：包括第一红外探测器和第二红外探测器和第三红外探测器以及发射检测组件。

其中，对于第一种方案，要求面板能够阻挡第一波长范围的红外线穿透，且能够被第二波长范围的红外线穿透。该种设置使得在面板的下侧无法检测到待加热器具发出的第一波长范围的红外线，但能检测到待加热器具和面板同时发出的第二波长范围的红外线。因此，可通过第二红外探测器用于检测待加热器具和面板同时发出的第二波长范围的红外线，以表示待加热器具和面板的整体红外辐射强度。而同时由于第一红外探测器的响应波长范围为第一波长范围，因此，其只能检测到面板发出的第一波长范围的红外线(因为待加热器具发出的第一波长范围的红外线无法透过面板)，以此可以表示出面板的整体红外辐射强度。然后通过待加热器具和面板的整体红外辐射强度减去面板的整体红外辐射强度便可计算得出待加热器具的整体红外辐射强度。然后据此便可以计算出待加热器具的温度。

其中，对于第二种方案，要求面板能够被第二波长范围和第三波长范围的红外线穿透，且要求面板能够阻挡第一波长范围的红外线穿透。在该方案中，红外发射件用于向待加热器具发射第三波长范围的第三红外线，然后通过第三红外探测器用于接收第三红外线经待加热器具反射的第三反射线，以此就可以计算出待加热器具对第三反射线的反射率，从而确定出待加热器具的表面的红外反射率。而根据光学原理可知，对于金属材质的待加热器具，其红外发射率等于红外吸收率，而红外吸收率与红外反射率相加等于1。因此在测量出待加热器具的反射率后，便可以基于“红外吸收率与红外反射率相加等于1”计算出红外吸收率，然后基于“红外发射率等于红外吸收率”确定出红外发射率。也即通过发射检测组件可以确定出红外发射率。

同时，通过上述介绍可知：通过第二红外探测器和第一红外探测器可计算得出待加热器具的整体红外辐射强度。此后便可根据待加热器具所辐射的红外线强度以及推算出的待加热器具表面红外发射率，可进一步推算出待加热器具的温度。而鉴于不同的材质的待加热器具的红外发射率是不一样的，而该种确定温度的方式，由于考虑了待加热器具的红外发射率，因此，该种测温方式可以测量出不同材质的待加热器具的温度，也即使得该产品可以用于加热不同材质容器的加热以及测温，以此消除了不同材质对温度测量的影响。

进一步地，红外发射件为红外发射LED灯。

在上述任一技术方案中，面板上对应第一红外探测器的第一探测区域与面板上对应第二红外探测器的第二探测区域至少部分重叠；第一探测区域和/或第二探测区域与面板上对应发射检测组件的发射探测区域至少部分重合。

在该些技术方案中，通过上述方式，保证了第一红外探测器的第一探测区域及第二红外探测器的第二探测区域尽量为面板的同一区域范围，进而减少了由于面板各部分的温度分布不均匀而导致的测温偏差过大的影响，以此达到了更精准测温的效果，避免了由于面板各部分的温度分布不均匀导致的测温偏差。

在上述任一技术方案中，面板为一般为透光面板，如玻璃面板。因此，第一波长范围大于4μm，使得在此波长范围的红外线无法穿透玻璃面板，所以第一红外探测器的第一红外线均为面板本身的红外线。第二波长范围大于2.5μm且小于4.5μm，进一步地，第二波长范围小于3μm，此波长范围的红外线可以部分穿透面板，所以第二红外探测器的第二红外线一部分为待加热器具的红外线，一部分为面板本身的红外线，以此就确保了基于第一红外探测器和第二红外探测器能够确定出待加热器具的温度。

进一步地，第三波长范围小于1μm，以此可以避免波长之间相互干涉。

进一步地，基于成本考虑，第一红外探测器与第二红外探测器均为热电堆红外探测器。当然第一红外探测器与第二红外探测器也可以为红外光电探测器。

在上述另一技术方案中，面板能够被第二波长范围的红外线穿透，面板还能被第三波长范围的红外线穿透，红外测温模组包括：第二红外探测器，第二红外探测器的响应波长范围为第二波长范围，用于接收面板和待加热器具发出的第二波长范围的第二红外线；温度传感器，贴附于面板靠近加热线圈的面，用于检测面板的温度，面板上对应第二红外探测器具有第二探测区域，温度传感器位于第二探测区域。发射检测组件包括红外发射件和第三红外探测器，红外发射件用于向待加热器具发射第三波长范围的第三红外线，第三红外探测器用于接收第三红外线经待加热器具反射的第三反射线；控制器具体用于获取第二红外探测器接收第二红外线测出的第二红外信号、红外发射件发射第三红外线测出的第三红外信号以及第三红外探测器接收第三反射线测出的第三反射信号，并根据第二红外信号以及温度传感器检测的温度和第三红外信号计算出待加热器具的温度。

在该些技术方案中，红外测温模组除了包括第二红外探测器和发射检测组件之外还包括温度传感器，也即将上述方案中的第一红外探测器替换为了温度传感器。该温度传感器贴附于面板下表面，以用于检测面板的温度，据此就可以确定出面板的红外辐射强度。然后通过第二红外探测器确定出的待加热器具和面板的整体红外辐射强度，去除掉通过温度传感器确定出的面板的红外辐射强度便可确定出待加热器具的红外辐射强度，然后结合发射检测组件确定出的待加热器具的表面的红外发射率便可确定出待加热器具的温度。

其中，电磁加热装置包括电磁炉。当然电磁加热装置也可以为电磁加热炉具。

在上述任一技术方案中，第一红外探测器的第一探测端与第二红外探测器的第二探测端朝向相同，第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距小于等于20mm，以此可以尽量减小面板各部分温度分布不均匀造成的测温偏差影响。进一步地，第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距可以为15mm、或10mm、或5mm、或2mm等。理论上，第一探测端的中心轴与第二探测端的中心轴的间距越小，测温效果越好。

当然，在本申请的其他实施例中，上述第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距范围也可根据实际情况调整，只要达到提高测温精度的目的，即可实现本申请的目的。

在上述任一技术方案中，电磁加热装置还包括：导光结构，设置于面板和红外测温模组之间，用于将第一波长范围的第一红外线导引至第一红外探测器，将第二波长范围的第二红外线导引至第二红外探测器。通过导光结构可以更好地导引第一红外线与第二红外线至特定位置去，确保光路不会偏移，当然，通过导光结构也可以确保外部的热量不易影响到红外线，以降低周围部件的热量对红外测温的影响。

在另一技术方案中，第一红外探测器的第一探测端与第二红外探测器的第二探测端朝向不同。导光结构中设置有分光件，分光件用于将第一波长范围的第一红外线和第二波长范围的第二红外线引导至不同方向，使第一波长范围的第一红外线投射至第一探测端，第二波长范围的第二红外线投射至第二探测端。

本申请的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1示出了本申请的一个实施例的电磁加热装置的结构示意图；

图2示出了本申请的一个实施例的电磁加热装置的另一结构示意图；

图3示出了本申请的一个实施例的电磁加热装置的风机组件、红外测温组件和盒体以及控制器的组装结构示意图；

图4示出了本申请的一个实施例的电磁加热装置的风机组件、红外测温组件和盒体以及控制器的另一组装结构示意图；

图5示出了本申请的一个实施例的电磁加热装置的风机组件、红外测温组件和盒体以及控制器的分解结构示意图；

图6示出了本申请的一个实施例的电磁加热装置的风机组件、红外测温组件和盒体以及控制器的第三个组装结构示意图；

图7示出了本申请的一个实施例的电磁加热装置的盒体的结构示意图；

图8示出了本申请的一个实施例的电磁加热装置的风机组件、红外测温组件和盒体以及控制器的第四个组装结构示意图；

图9示出了本申请的另一个实施例的电磁加热装置的风机组件、红外测温组件和盒体以及控制器的组装结构示意图；

图10示出了图9中的分解结构示意图。

其中，图1至图10中附图标记与部件名称之间的对应关系为：

1面板，12玻璃面板，2加热线圈，3红外测温模组，32第一红外探测器，34第二红外探测器，36发射检测组件，362红外发射件，3622红外发射LED灯，364第三红外探测器，38测温基座，382安装孔，39匀热板，392通孔，4控制器，5风机组件，6盒体，62上盖，622第一环形挡筋，624第二环形挡筋，626出风口，64下盖，66进风孔，7屏蔽罩，8底壳组件。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本申请的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本申请进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请，但是，本申请还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本申请的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

下面参照图1至图10描述根据本申请一些实施例所提供的电磁加热装置。

实施例一

如图1至图10所示，本申请第一方面的实施例提供了一种电磁加热装置，包括面板1、加热线圈2、红外测温模组3和控制器4以及风机组件5。

其中，面板1用于承载待加热器具，也即面板1包括承载面和非承载面。而加热线圈2、红外测温模组3和控制器4以及风机组件5等零件是安装在面板1的非承载面侧的。进一步地，如图4至图6以及图8所示，加热线圈2、红外测温模组3和控制器4以及风机组件5主要安装在盒体6内。

加热线圈2用于产生电磁场以加热待加热器具，具体原理为：加热线圈2产生交变电磁场，处于该交变电磁场内的待加热器具因电磁感应而在内部产生涡流，从而实现发热，以此就实现了对待加热器具的电磁加热。

红外测温模组3用于接收面板1和待加热器具产生(包括发射和反射)的红外线，从而基于红外线确定出待加热器具产生的红外线的强度。

控制器4(如图8所示)与红外测温模组3连接，用于根据红外测温模组3接收的红外线计算出待加热器具的温度，也即红外测温模组3和控制器4合在一起构成了一个红外温度检测装置，其目的在于检测出放置在面板1上的待加热器具，比如锅具等的温度，以此就在不需要破坏面板1的前提下实现了对待加热器具的非接触式的红外测温，解决了现有方案中加热线圈2与待加热器具之间因面板1的物理阻隔，导致在不破坏面板1的前提下，无法对锅具等待加热器具进行非接触式直接测温的问题。

进一步地，在对待加热器具进行非接触式的红外测温时，由于实际需求是测试锅具等待加热器具的温度，因此，若面板1温度过高时，会对探测到的待加热器具的辐射强度造成干扰。基于此，本申请专门设置了风机组件5，风机组件5用于使空气流动，从而通过风机组件5能够向面板1位于红外测温模组3的探测范围内的区域，也即面板1和红外测温模组3之间的区域吹冷风，以此就实现了对面板1相应区域的散热，以此可以减少面板1热量对探测的待加热器具辐射强度的干扰，使得待加热器具的测温更加准确。

进一步地，如图2所示，面板1为透光面板，比如黑晶玻璃面板。面板1的透光度可以根据需要设置成全透明或者部分透明的。

在上述实施例中，如图5所示，红外测温模组3包括多个红外检测件(具体如图5中的第一红外探测器32、第二红外探测器34和发射检测组件36等)，多个红外检测件均与控制器4连接，而多个红外检测件安装在同一个测温基座38上，以此安装时，可以先将每个红外检测件安装到测温基座38上，再整体安装到电路板等控制器4上，以此就可以简化多个红外检测件的安装。

在上述实施例中，如图5和图10所示，测温基座38上对应每个红外检测件均设置有安装孔382，一个安装孔382安装一个红外检测件，以此就实现了每个红外检测件在测温基座38上的定位安装，确保了每个红外检测件的位置固定不变。

在上述实施例中，如图5和图6所示，电磁加热装置还包括屏蔽罩7。屏蔽罩7罩设安装在控制器4远离面板1的一侧，也即控制器4使用屏蔽罩7进行覆盖，以此减少了电磁干扰。控制器4一般为电路板。

进一步地，如图5和图6所示，屏蔽罩7安装在盒体6内，控制器4安装在下盖64和屏蔽罩7之间。

在上述实施例中，如图8和图10所示，电磁加热装置还包括：进风孔66，对应风机组件5设置。进一步地，下盖64上设置有该进风孔66，以使产品外部的空气能够进入到产品内部。

在上述实施例中，如图1和图2所示，电磁加热装置还包括底壳组件8，与面板1围成安装空间。加热线圈2、红外测温模组3等零件均设置在底壳组件8和面板1围成的空间内。进一步地，下盖64与底壳组件8为一体式结构，或者下盖64与底壳组件8为分体式结构。

在上述实施例中，如图4至图8所示，风机组件5为离心风机，风机组件5和红外测温模组3在面板1上的投影不重合。

在另一实施例中，如图9和图10所示，风机组件5位于红外测温模组3远离面板1的一侧，且风机组件5和红外测温模组3在面板1上的投影至少部分重合，风机组件5为轴流风机。

在该实施例中，风机组件5可以为离心风机或者轴流风机，而离心风机需要设置在红外测温模组3的左右两侧，也即两者需要横向设置，故而，风机组件5和红外测温模组3在面板1上的投影不重合，以此可以降低产品的整体厚度。而轴流风机需要设置在红外测温模组3的下侧，故而风机组件5和红外测温模组3在面板1上的投影至少部分重合，也即两者需要竖向设置，以此可以降低产品的整体宽度，但厚度会相对增加。因此，风机组件5的形式可在实际生产过程中根据实际需要进行灵活选择，不局限于离心风机或者轴流风机。

进一步地，如图3和图9所示，多个红外检测件均朝向面板1设置。由垂直于面板1的方向观察，多个红外检测件在所测温基座38上呈圆形阵列排布或矩形阵列分布。以此可以确保红外检测件在测温基座38上安装的更有规律，以此更方便产品的后续接线。

在上述实施例中，红外测温模组3包括多个红外检测件。每个红外检测件的上端均设置在匀热板39的一通孔392内，通过匀热板39可以使不同位置的温度更加均匀，以此就使得不同位置的红外检测件的温度是一致的，以此可以使每个红外检测件的本体的热量更均匀，提高测量精度。比如，对于红外测温模组3为热电堆时，由于热电堆的测温原理为利用热端和冷端的温度差转变为电势差，所以热端接收到的辐射强度的均匀性，对测温精度影响较大，因此，在红外检测件的头部增加一款匀热板39，可以减少红外检测件本体不同部位接收到的辐射强度的差异，使得产品的测温更加精确。

进一步地，匀热板39的材质可以是铜、铝等导热性能较好的材料。

实施例二

如图5至图8所示，该实施例还具有如下区别：电磁加热装置还包括：盒体6，包括能够盖合的上盖62和下盖64，红外测温模组3和风机组件5设置在盒体6内；上盖62靠近面板1的一侧上设置有第一环形挡筋622和第二环形挡筋624，红外测温模组3靠近面板1的一端位于第一环形挡筋622内；第二环形挡筋624围设在第一环形挡筋622的外侧，并与第一环形挡筋622形成出风口626，且第一环形挡筋622向面板1的方向突出第二环形挡筋624设置，风机组件5产生的风能够由出风口626排出。

在该实施例中，如图7所示，电磁加热装置还包括上盖62和下盖64盖合形成的盒体6，以此构建了一个相对独立的空间，以方便安装容纳红外测温模组3和风机组件5等零件。同时，盒体6内设置有散热风道，盒体6上设置有出风口626，风机组件5产生的风可以由散热通道流动到出风口626，然后吹向面板1，实现对面板1的散热。而上盖62的上表面上设置有同心设置的两圈环形挡筋，内侧的为第一环形挡筋622，外侧的为第二环形挡筋624。而出风口626就由内外两侧的环形挡筋围成。而红外测温模组3的上端位于内侧环形挡筋内，此时内侧环形挡筋起到了光导的作用，同时该设置也使得出风口626能够设置在红外测温模组3的周围，也即出风口626和光导通道结合设置在了一起，以此使得出风口626吹出风的流动范围是对应红外测温模组3的探测范围的，以此就确保了出风口626吹出的风能够对面板1对应红外测温模组3的探测范围内进行散热。进一步地，内侧环形挡筋的高度是高于外侧环形挡筋的，以此一方面能够利用较高的环形挡筋挡住周围的热量，使得周围的热量不易进入到内侧环形挡筋而影响到红外测温模组3的测温。另一方面，使得内侧环形挡筋能够延伸到被散热后的区域，以此能够进一步地减少周围环境对红外测温模组3测温精度的影响，最大程度的排除例如加热线圈2等的热量对红外测温模组3的干扰。

实施例三(图中未示出)

在该实施例中，面板1和红外测温模组3之间设置有光导通道，出风口626和光导通道相互独立设置，也即通过光导通道限定了红外线的流动通道，隔绝了外部热量，以此也能够相对降低外部热量对红外测温模组3的干扰。

在上述实施例中，电磁加热装置还包括：导光结构，设置于面板1和红外测温模组3之间，用于将第一波长范围的第一红外线导引至第一红外探测器32，将第二波长范围的第二红外线导引至第二红外探测器34。通过导光结构可以更好地导引第一红外线与第二红外线至特定位置去，确保光路不会偏移，当然，通过导光结构也可以确保外部的热量不易影响到红外线，以降低周围部件的热量对红外测温的影响。

在另一实施例中，第一红外探测器32的第一探测端与第二红外探测器34的第二探测端朝向不同。导光结构中设置有分光件，分光件用于将第一波长范围的第一红外线和第二波长范围的第二红外线引导至不同方向，使第一波长范围的第一红外线投射至第一探测端，第二波长范围的第二红外线投射至第二探测端。

实施例四

如图5至图8所示，在该实施例中，面板1能够被第二波长范围的红外线穿透，面板1能够阻挡第一波长范围的红外线穿透或面板1还能被第三波长范围的红外线穿透，红外测温模组3包括第一红外探测器32和第二红外探测器34，或红外测温模组3包括第二红外探测器34和发射检测组件36；第一红外探测器32的响应波长范围为第一波长范围，用于接收面板1发出的第一波长范围的第一红外线，第二红外探测器34的响应波长范围为第二波长范围，用于接收面板1和待加热器具发出的第二波长范围的第二红外线；发射检测组件36包括：红外发射件362，用于向待加热器具发射第三波长范围的第三红外线；第三红外探测器364，用于接收第三红外线经待加热器具反射的第三反射线；控制器4具体用于获取第二红外探测器34接收第二红外线测出的第二红外信号，以及获取第一红外探测器32接收第一红外线测出的第一红外信号，或获取红外发射件362发射第三红外线测出的第三红外信号以及第三红外探测器364接收第三反射线测出的第三反射信号，并根据第二红外信号以及第一红外信号或第三红外信号计算出待加热器具的温度。具体而言：红外测温模组3的具体结构有两种实施例，其具体如下：

第一种：包括第一红外探测器32和第二红外探测器34。

第二种：包括第一红外探测器32和第二红外探测器34和第三红外探测器364以及发射检测组件36。

其中，对于第一种实施例，要求面板1能够阻挡第一波长范围的红外线穿透，且能够被第二波长范围的红外线穿透。该种设置使得在面板1的下侧无法检测到待加热器具发出的第一波长范围的红外线，但能检测到待加热器具和面板1同时发出的第二波长范围的红外线。因此，可通过第二红外探测器34用于检测待加热器具和面板1同时发出的第二波长范围的红外线，以表示待加热器具和面板1的整体红外辐射强度。而同时由于第一红外探测器32的响应波长范围为第一波长范围，因此，其只能检测到面板1发出的第一波长范围的红外线(因为待加热器具发出的第一波长范围的红外线无法透过面板1)，以此可以表示出面板1的整体红外辐射强度。然后通过待加热器具和面板1的整体红外辐射强度减去面板1的整体红外辐射强度便可计算得出待加热器具的整体红外辐射强度。然后据此便可以计算出待加热器具的温度。

其中，对于第二种实施例，要求面板1能够被第二波长范围和第三波长范围的红外线穿透，且要求面板1能够阻挡第一波长范围的红外线穿透。在该方案中，红外发射件362用于向待加热器具发射第三波长范围的第三红外线，然后通过第三红外探测器364用于接收第三红外线经待加热器具反射的第三反射线，以此就可以计算出待加热器具对第三反射线的反射率，从而确定出待加热器具的表面的红外反射率。而根据光学原理可知，对于金属材质的待加热器具，其红外发射率等于红外吸收率，而红外吸收率与红外反射率相加等于1。因此在测量出待加热器具的反射率后，便可以基于“红外吸收率与红外反射率相加等于1”计算出红外吸收率，然后基于“红外发射率等于红外吸收率”确定出红外发射率。也即通过发射检测组件36可以确定出红外发射率。

同时，通过上述介绍可知：通过第二红外探测器34和第一红外探测器32可计算得出待加热器具的整体红外辐射强度。此后便可根据待加热器具所辐射的红外线强度以及推算出的待加热器具表面红外发射率，可进一步推算出待加热器具的温度。而鉴于不同的材质的待加热器具的红外发射率是不一样的，而该种确定温度的方式，由于考虑了待加热器具的红外发射率，因此，该种测温方式可以测量出不同材质的待加热器具的温度，也即使得该产品可以用于加热不同材质容器的加热以及测温，以此消除了不同材质对温度测量的影响。

进一步地，如图5所示，红外发射件362为红外发射LED灯3622。

在上述实施例中，面板1上对应第一红外探测器32的第一探测区域与面板1上对应第二红外探测器34的第二探测区域至少部分重叠；第一探测区域和/或第二探测区域与面板1上对应发射检测组件36的发射探测区域至少部分重合。

在该实施例中，通过上述方式，保证了第一红外探测器32的第一探测区域及第二红外探测器34的第二探测区域尽量为面板1的同一区域范围，进而减少了由于面板1各部分的温度分布不均匀而导致的测温偏差过大的影响，以此达到了更精准测温的效果，避免了由于面板1各部分的温度分布不均匀导致的测温偏差。

在上述实施例中，面板1为一般为透光面板，如玻璃面板12。因此，第一波长范围大于4μm，使得在此波长范围的红外线无法穿透玻璃面板12，所以第一红外探测器32的第一红外线均为面板1本身的红外线。第二波长范围大于2.5μm且小于4.5μm，进一步地，第二波长范围小于3μm，此波长范围的红外线可以部分穿透面板1，所以第二红外探测器34的第二红外线一部分为待加热器具的红外线，一部分为面板1本身的红外线，以此就确保了基于第一红外探测器32和第二红外探测器34能够确定出待加热器具的温度。

进一步地，第三波长范围小于1μm，以此可以避免波长之间相互干涉。

进一步地，基于成本考虑，第一红外探测器32与第二红外探测器34均为热电堆红外探测器。当然第一红外探测器32与第二红外探测器34也可以为红外光电探测器。

在上述实施例中，第一红外探测器32的第一探测端与第二红外探测器34的第二探测端朝向相同，第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距小于等于20mm，以此可以尽量减小面板1各部分温度分布不均匀造成的测温偏差影响。进一步地，第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距可以为15mm、或10mm、或5mm、或2mm等。理论上，第一探测端的中心轴与第二探测端的中心轴的间距越小，测温效果越好。

当然，在本申请的其他实施例中，上述第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距范围也可根据实际情况调整，只要达到提高测温精度的目的，即可实现本申请的目的。

实施例五(图中未示出)

在该实施例，面板1和红外测温模组3的结构和之前的不同，其他结构和之前的实施例一致。具体而言，面板1能够被第二波长范围的红外线穿透，面板1还能被第三波长范围的红外线穿透，红外测温模组3包括：第二红外探测器34，第二红外探测器34的响应波长范围为第二波长范围，用于接收面板1和待加热器具发出的第二波长范围的第二红外线；温度传感器(图中未示出)，贴附于面板1靠近加热线圈2的面，用于检测面板1的温度，面板1上对应第二红外探测器34具有第二探测区域，温度传感器位于第二探测区域。发射检测组件36包括红外发射件362和第三红外探测器364，红外发射件362用于向待加热器具发射第三波长范围的第三红外线，第三红外探测器364用于接收第三红外线经待加热器具反射的第三反射线；控制器4具体用于获取第二红外探测器34接收第二红外线测出的第二红外信号、红外发射件362发射第三红外线测出的第三红外信号以及第三红外探测器364接收第三反射线测出的第三反射信号，并根据第二红外信号以及温度传感器检测的温度和第三红外信号计算出待加热器具的温度。

在该实施例中，红外测温模组3除了包括第二红外探测器34和发射检测组件36之外还包括温度传感器，也即将上述方案中的第一红外探测器32替换为了温度传感器。该温度传感器贴附于面板1下表面，以用于检测面板1的温度，据此就可以确定出面板1的红外辐射强度。然后通过第二红外探测器34确定出的待加热器具和面板1的整体红外辐射强度，去除掉通过温度传感器确定出的面板1的红外辐射强度便可确定出待加热器具的红外辐射强度，然后结合发射检测组件36确定出的待加热器具的表面的红外发射率便可确定出待加热器具的温度。

其中，电磁加热装置包括电磁炉。

在上述实施例中，第一红外探测器32的第一探测端与第二红外探测器34的第二探测端朝向相同，第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距小于等于20mm，以此可以尽量减小面板1各部分温度分布不均匀造成的测温偏差影响。进一步地，第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距可以为15mm、或10mm、或5mm、或2mm等。理论上，第一探测端的中心轴与第二探测端的中心轴的间距越小，测温效果越好。

当然，在本申请的其他实施例中，上述第一探测端的中心轴和第二探测端的中心轴的间距范围也可根据实际情况调整，只要达到提高测温精度的目的，即可实现本申请的目的。

在上述实施例中，面板1为一般为透光面板，如玻璃面板12。因此，第一波长范围大于4μm，使得在此波长范围的红外线无法穿透玻璃面板12，所以第一红外探测器32的第一红外线均为面板1本身的红外线。第二波长范围大于2.5μm且小于4.5μm，进一步地，第二波长范围小于3μm，此波长范围的红外线可以部分穿透面板1，所以第二红外探测器34的第二红外线一部分为待加热器具的红外线，一部分为面板1本身的红外线，以此就确保了基于第一红外探测器32和第二红外探测器34能够确定出待加热器具的温度。

进一步地，第三波长范围小于1μm，以此可以避免波长之间相互干涉。

进一步地，基于成本考虑，第一红外探测器32与第二红外探测器34均为热电堆红外探测器。当然第一红外探测器32与第二红外探测器34也可以为红外光电探测器。

实施例六

如图1至图10所示，电磁炉/灶是利用加热线圈2产生交变电磁场，处于该交变电磁场内的烹饪器具因电磁感应内部产生涡流而主动发热。一般加热线圈2(也即线圈盘)与烹饪器具之间用玻璃面板12进行物理阻隔，因此在不破坏玻璃面板12结构的前提下，无法对烹饪器具进行非接触式直接测温。

为解决上述问题，该实施例，通过在玻璃面板12下部设置红外测温模组3，利用第一红外探测器32在第一光谱带进行检测，可获取玻璃面板12的温度，并可进一步推算玻璃面板12在第二光谱带的辐射强度。用第二红外探测器34在第二光谱带进行检测，并扣除上一步经由第一红外探测器32探测获取的玻璃面板12在第二光谱带的辐射贡献，即可得到单纯待加热器具辐射的红外线强度。利用红外发射LED灯3622的发射强度与第三红外探测器364检测到的反射强度推算待加热器具表面的红外发射率。根据待加热器具所辐射的红外线强度以及推算出的待加热器具表面红外发射率，可进一步获取推算带加热器具的温度。

具体而言，如图3至图10所示，电磁加热装置包括包含上盖62、下盖64、电路板、红外测温模组3、散热风机。红外测温模组3包含第一红外探测器32、第二红外探测器34、第三红外探测器364、红外发射LED灯3622。

以上四个元件与电路板连接，为了组装简易，可以设置一个测温基座38，让红外探测元件先安装到测温基座38，再整体安装到电路板上。第一红外探测器32和第二红外探测器34可以是热电堆，分别测试玻璃的温度和锅具的红外辐射强度。第三红外探测器364结合红外发射LED灯3622检测到的反射强度推算锅具表面的红外发射率。根据锅具所辐射的红外线强度以及推算出的锅具表面红外发射率，可进一步获取推算锅具的温度。

进一步地，尤其是当红外探测器为热电堆时，由于热电堆的测温原理为利用热端和冷端的温度差转变为电势差，所以热端的接收到的辐射强度的均匀性，对测温精度影响较大。为了减少红外探测器本体不同部位接收到的辐射强度的差异，如图5和图6所示，在红外探测器头部增加一款匀热板39(匀热片)。匀热板39的材质可以是铜、铝等导热性能较好的材料，以此可以使每个红外探测器本体的热量更均匀，提高测量精度。

进一步地，由于实际需求是测试锅具的温度，但是，当玻璃板温度过高时，会对探测到的锅具的辐射强度造成干扰。所以，可如图4至图8以及图9和图10设置一个散热风机，对红外测温组件探测的玻璃板范围进行散热，减少玻璃面板12热量对探测的锅具辐射强度的干扰。

进一步地，为了减少周围环境对测温精度的影响，散热出风口626的内挡墙设计为高于外挡墙，最大程度的排除例如加热线圈2热量对红外探测器的干扰。

同时，电路板使用屏蔽罩7进行覆盖，减少电磁干扰。

如图3至图8所示，以上散热风机为横向放置，风机为离心风机。当然，如图9和图10所示，散热风机也可以使用轴流风机轴向布置。

通过上述实施例，通过在玻璃面板12下部设置红外测温模组3，利用第一红外探测器32在第一光谱带进行检测，可获取玻璃面板12的温度，并可进一步推算玻璃面板12在第二光谱带的辐射强度。用第二红外探测器34在第二光谱带进行检测，并扣除上一步经由第一红外探测器32探测获取的玻璃面板12在第二光谱带的辐射贡献，即可得到单纯待加热器具辐射的红外线强度。利用红外发射LED的发射强度与第三红外探测器364检测到的反射强度推算待加热器具表面的红外发射率。根据待加热器具所辐射的红外线强度以及推算出的待加热器具表面红外发射率，可进一步获取推算带加热器具的温度。

通过上述实施例可以实现以下效果：红外探测器通过匀热板39进行匀热，提高测温精度。通过散热风机对玻璃面板12，可以减少辐射干扰，提高测温精度。屏蔽罩7(如图8所示)可以降低对电路板的干扰。

在本申请中，术语“多个”则指两个或两个以上，除非另有明确的限定。术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语均应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；“相连”可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本说明书的描述中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“具体实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (13)

1.一种电磁加热装置，其特征在于，包括：

面板，用于承载待加热器具；

加热线圈，设置在所述面板的一侧，用于产生电磁场以加热所述待加热器具；

红外测温模组，设置在所述面板设置有所述加热线圈的一侧，用于确定所述待加热器具产生的红外线的强度；

控制器，连接所述红外测温模组，能够基于所述红外测温模组确定的所述红外线的强度计算出所述待加热器具的温度；

风机组件，设置在所述面板设置有所述加热线圈的一侧，用于对所述面板位于所述红外测温模组的探测范围内的区域进行散热。

2.根据权利要求1所述的电磁加热装置，其特征在于，还包括：

盒体，包括能够盖合的上盖和下盖，所述红外测温模组和所述风机组件设置在所述盒体内；

所述上盖靠近所述面板的一侧上设置有第一环形挡筋和第二环形挡筋，所述红外测温模组靠近所述面板的一端位于所述第一环形挡筋内；

所述第二环形挡筋围设在所述第一环形挡筋的外侧，并与所述第一环形挡筋形成出风口，且所述第一环形挡筋向所述面板的方向突出所述第二环形挡筋设置，所述风机组件产生的风能够由所述出风口排出。

3.根据权利要求2所述的电磁加热装置，其特征在于，所述电磁加热装置还包括：

屏蔽罩，罩设安装在所述控制器远离所述面板的一侧。

4.根据权利要求1所述的电磁加热装置，其特征在于，

所述风机组件为离心风机，所述风机组件和所述红外测温模组在所述面板上的投影不重合；或

所述风机组件位于所述红外测温模组远离所述面板的一侧，且所述风机组件和所述红外测温模组在所述面板上的投影至少部分重合，所述风机组件为轴流风机。

5.根据权利要求1所述的电磁加热装置，其特征在于，所述红外测温模组包括：

多个红外检测件；

测温基座，多个所述红外检测件均安装在所述测温基座上。

6.根据权利要求5所述的电磁加热装置，其特征在于，

所述测温基座上设置有多个安装孔，多个所述红外检测件一一对应安装在多个所述安装孔处。

7.根据权利要求1所述的电磁加热装置，其特征在于，所述红外测温模组包括：

多个红外检测件；

匀热板，所述匀热板上设置有多个通孔，多个所述红外检测件靠近所述面板的一端均位于所述通孔内。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的电磁加热装置，其特征在于，所述面板能够被第二波长范围的红外线穿透，所述面板能够阻挡第一波长范围的红外线穿透或所述面板还能被第三波长范围的红外线穿透，所述红外测温模组包括第一红外探测器和第二红外探测器，或所述红外测温模组包括第二红外探测器和发射检测组件；

所述第一红外探测器的响应波长范围为所述第一波长范围，用于接收所述面板发出的所述第一波长范围的第一红外线，

所述第二红外探测器的响应波长范围为所述第二波长范围，用于接收所述面板和所述待加热器具发出的所述第二波长范围的第二红外线；

所述发射检测组件包括：

红外发射件，用于向所述待加热器具发射所述第三波长范围的第三红外线；

第三红外探测器，用于接收所述第三红外线经所述待加热器具反射的第三反射线；

所述控制器具体用于获取所述第二红外探测器接收所述第二红外线测出的第二红外信号，以及

获取所述第一红外探测器接收所述第一红外线测出的第一红外信号，或获取所述红外发射件发射所述第三红外线测出的第三红外信号以及所述第三红外探测器接收所述第三反射线测出的第三反射信号，

并根据所述第二红外信号以及所述第一红外信号或所述第三红外信号计算出所述待加热器具的温度。

9.根据权利要求8所述的电磁加热装置，其特征在于，所述面板上对应所述第一红外探测器的第一探测区域与所述面板上对应所述第二红外探测器的第二探测区域至少部分重叠；

所述第一探测区域和/或第二探测区域与所述面板上对应所述发射检测组件的发射探测区域至少部分重合。

10.根据权利要求8所述的电磁加热装置，其特征在于，所述第一波长范围大于4μm，所述第二波长范围大于2.5μm且小于4.5μm，和/或所述第三波长范围小于1μm。

11.根据权利要求8所述的电磁加热装置，其特征在于，

所述第一红外探测器和所述第二红外探测器均包括热电堆红外探测器和/或红外光电探测器。

12.根据权利要求1至7中任一项所述的电磁加热装置，其特征在于，所述面板能够被第二波长范围的红外线穿透，所述面板还能被第三波长范围的红外线穿透，所述红外测温模组包括：

第二红外探测器，所述第二红外探测器的响应波长范围为所述第二波长范围，用于接收所述面板和所述待加热器具发出的所述第二波长范围的第二红外线；

温度传感器，贴附于所述面板靠近所述加热线圈的面，用于检测所述面板的温度，所述面板上对应所述第二红外探测器具有第二探测区域，所述温度传感器位于所述第二探测区域；

发射检测组件包括红外发射件和第三红外探测器，所述红外发射件用于向所述待加热器具发射所述第三波长范围的第三红外线，所述第三红外探测器用于接收所述第三红外线经所述待加热器具反射的第三反射线；

所述控制器具体用于获取所述第二红外探测器接收所述第二红外线测出的第二红外信号、所述红外发射件发射所述第三红外线测出的第三红外信号以及所述第三红外探测器接收所述第三反射线测出的第三反射信号，并根据所述第二红外信号以及所述温度传感器检测的温度和所述第三红外信号计算出所述待加热器具的温度。

13.根据权利要求1至7中任一项所述的电磁加热装置，其特征在于，

所述电磁加热装置包括电磁炉。