CN117148016B - 一种基板铜箔导电性能测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及基板铜箔导电性能测试领域，具体是涉及一种基板铜箔导电性能测试设备；包括检测台、固定模块、清洁模块、检测模块、加热组件和铜箔，通过固定模块、清洁模块、检测模块和加热组件的设置，可实现对铜箔进行多方位、多方式进行检测，全面检测铜箔在各种状态下的导电性，从而可增加检测结果的精准度，进而增加实用性。

Description

一种基板铜箔导电性能测试设备

技术领域

本发明涉及基板铜箔导电性能测试领域，具体是涉及一种基板铜箔导电性能测试设备。

背景技术

铜箔是电子行业中的重要材料，用于制造电路板等设备。铜箔的导电性能直接影响设备的工作效率和性能，因此必须采取有效措施来确保其导电性能达到要求。

基板铜箔的导电性能可以通过多种测试方法进行评估，通常是以下几种常见测试方法：

电阻率测试：使用四探针法或两点侧量法，测量基板铜箔的电阻率，较低的电阻率表示更好的导电性能。

电子显微镜观察：使用电子显微镜观察基板铜箔的表面形貌和结构，检查是否存在导电性能下降的缺陷，如氧化、腐蚀或断裂。

X射线衍射分析：通过X射线衍射分析，可以确定基板铜箔的晶体结构和晶粒大小，从而评估其导电性能。

热处理测试：对基板铜箔进行热处理，然后测量器电阻率的变化，较小的电阻率变化表示更好的导电性能稳定性。

弯曲测试：测试基板铜箔在弯曲过程中的电阻变化，较小的电阻变化表示更好的导电性能。

中国专利号CN216956267U公开的一种COB基板铜箔导电性能测试装置，该装置通过简易的温度评估方法，有效的评估COB基板体的PCB铜箔线路体宽度能够承载的电流极限值，在COB基板体设计中受空间限制的条件下缩小PCB铜箔线路体宽度，提供可靠的性能评估方法，减少产品设计失效的风险，提升产品精密度，以极小的评估成本为COB产品向高光密度，高功率，高性能方向发展提供有力支持。

上述装置仅仅通过温度变化来评估铜箔的导电性，容易导致检测结果不够准确，从而容易导致误判。

发明内容

针对现技术所存在的问题，提供一种基板铜箔导电性能测试设备，通过固定模块、清洁模块、检测模块和加热组件的设置，可实现对铜箔进行多方位、多方式进行检测，全面检测铜箔在各种状态下的导电性，从而可增加检测结果的精准度，进而增加实用性。

为解决现有技术问题，本发明提供一种基板铜箔导电性能测试设备，包括铜箔本体，其特征在于，导电性能测试设备还包括检测台，检测台的顶部设置有支撑杆，支撑杆上滑动设置有控制器，固定模块固定设置在检测台的顶部，固定模块包括滑动装置和固定组件，滑动装置固定设置在检测台顶部，固定组件固定设置在滑动装置的输出端，固定组件的输出端将铜箔四个转角处实现固定，滑动装置的两侧镜像设置有清洁模块，检测台的顶部且位于铜箔的下方还设置有加热组件，铜箔的两侧还设置有检测模块，检测模块与固定模块呈十字状设置在检测台的顶部，检测模块包括第一检测组件、第二检测组件、第三检测组件和第四检测组件，第一检测组件、第二检测组件、第三检测组件与第四检测组件镜像设置在铜箔两侧。

优选的，第一检测组件、第二检测组件、第三检测组件和第四检测组件结构相同，第一检测组件、第二检测组件、第三检测组件和第四检测组件均包括水平推送装置和通电头，水平推送装置固定设置在检测台的顶部，通电头固定设置在水平推送装置的输出端，水平推送装置还包括滑动轨、齿条、齿轮、第二转动轴、第二固定架、转动盘和转动把，滑动轨固定设置在检测台的顶部，齿条滑动设置在滑动轨上，第二固定架固定设置在滑动轨的旁侧，第二转动轴转动设置在第二固定架上，齿轮固定设置在第二转动轴上，转动盘固定设置在第二转动轴远离齿轮的一侧，转动把固定设置在转动盘远离第二转动轴的一侧。

优选的，滑动装置包括第一滑动机构、第二滑动机构、第一驱动器、第一皮带轮组件和第二皮带轮组件，第一滑动机构和第二滑动机构镜像设置在检测台上，第一驱动器固定设置在检测台的顶部，第一皮带轮组件的一侧固定设置在第一驱动器的输出端，第一皮带轮组件的另一侧与第一滑动机构的输出端固定连接，第二皮带轮组件的一侧与第一滑动机构固定连接，第二皮带轮组件的另一侧与第二滑动机构固定连接。

优选的，第一滑动机构和第二滑动机构结构相同，第一滑动机构与第二滑动机构均包括滑槽、双向丝杆和第一滑动架，滑槽固定设置在检测台的顶部，双向丝杆转动设置在滑槽内部，第一滑动架具有一对且滑动设置在双向丝杆的两侧。

优选的，固定组件包括第一固定装置、第二固定装置、第三固定装置和第四固定装置，第一固定装置、第二固定装置、第三固定装置和第四固定装置一一对应设置在第一滑动架的顶部。

优选的，第一固定装置、第二固定装置、第三固定装置和第四固定装置结构相同，第一固定装置、第二固定装置、第三固定装置和第四固定装置均包括支撑板、第一固定架、第一连杆、第二连杆、压杆和固定机构，第一固定架固定设置在第一滑动架的顶部，第一连杆一端底部与第一固定架铰接，第一连杆一端的顶部与压杆铰接，压杆的底部与第二连杆铰接，第二连杆具有一对且铰接设置在第一固定架内部两侧，第二连杆远离第一固定架的一侧与压杆铰接，固定机构滑动设置在第一连杆上。

优选的，固定机构包括压头、滑动块、第一凹槽、螺纹杆和螺母，第一凹槽固定设置在第一连杆上，滑动块具有一对且镜像设置在第一凹槽的两侧，螺纹杆贯穿滑动块并且可配合滑动块上下移动，螺母具有一对且镜像设置在螺纹杆的两侧，压头固定设置在螺纹杆的底部。

优选的，清洁模块包括丝杆滑台、第二滑动架、第一清洁机构、第二清洁机构、第二驱动器和第三皮带轮组件，丝杆滑台固定设置在检测台的顶部，第二滑动架滑动设置在丝杆滑台上，第一清洁机构和第二清洁机构镜像设置在第二滑动架的顶部，第二驱动器固定设置在第一清洁机构上，第三皮带轮组件的一侧与第二驱动器固定连接，第三皮带轮组件的另一侧与第二清洁机构固定连接。

优选的，第一清洁机构与第二清洁机构结构相同，第一清洁机构与第二清洁机构均包括安装架、风罩、支撑架、风扇和第一转动轴，安装架固定设置在第二滑动架的顶部，风罩与安装架同轴设置在第二滑动架的底部，支撑架固定设置在安装架上，风扇固定设置在第一转动轴上，第一转动轴贯穿支撑架与第二驱动器的输出端固定连接。

优选的，加热组件包括第二凹槽和加热器，第二凹槽固定设置在工作台上，加热器固定设置在第二凹槽内。

本申请相比较于现有技术的有益效果是：

本申请通过固定模块、清洁模块、检测模块和加热组件的设置，可实现对铜箔进行多方位、多方式进行检测，全面检测铜箔在各种状态下的导电性，从而可增加检测结果的精准度，进而增加实用性。

附图说明

图1是一种基板铜箔导电性能测试设备的立体结构示意图一。

图2是一种基板铜箔导电性能测试设备的立体结构示意图二。

图3是一种基板铜箔导电性能测试设备的立体结构示意图三。

图4是一种基板铜箔导电性能测试设备的局部立体结构示意图一。

图5是一种基板铜箔导电性能测试设备的局部立体结构示意图二。

图6是一种基板铜箔导电性能测试设备的图5中A处放大图。

图7是一种基板铜箔导电性能测试设备的局部结构的俯视图。

图8是一种基板铜箔导电性能测试设备的局部立体结构示意图三。

图9是一种基板铜箔导电性能测试设备的图8中B处放大图。

图10是一种基板铜箔导电性能测试设备的局部立体结构示意图四。

图中标号为：

1-检测台；11-控制器；12-支撑杆；2-固定模块；21-滑动装置；211-第一滑动机构；2111-滑槽；2112-双向丝杆；2113-第一滑动架；212-第二滑动机构；213-第一驱动器；214-第一皮带轮组件；215-第二皮带轮组件；22-固定组件；221-第一固定装置；2211-支撑板；2212-第一固定架；2213-第一连杆；2214-第二连杆；2215-压杆；2216-固定机构；2217-压头；2218-滑动块；2219-螺纹杆；222-第二固定装置；223-第三固定装置；224-第四固定装置；3-清洁模块；31-丝杆滑台；32-第二滑动架；33-第一清洁机构；331-安装架；332-风罩；333-支撑架；334-风扇；335-第一转动轴；34-第二清洁机构；35-第二驱动器；36-第三皮带轮组件；4-检测模块；41-第一检测组件；411-水平推送装置；4111-滑动轨；4112-齿条；4113-齿轮；4114-第二转动轴；4115-转动盘；4116-转动把；4117-第二固定架；412-通电头；42-第二检测组件；43-第三检测组件；44-第四检测组件；5-加热组件；51-第二凹槽；52-加热器；6-铜箔。

具体实施方式

为能进一步了解本发明的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

参见图1至图10所示，一种基板铜箔导电性能测试设备，包括铜箔6本体，导电性能测试设备还包括检测台1，检测台1的顶部设置有支撑杆12，支撑杆12上滑动设置有控制器11，固定模块2固定设置在检测台1的顶部，固定模块2包括滑动装置21和固定组件22，滑动装置21固定设置在检测台1顶部，固定组件22固定设置在滑动装置21的输出端，固定组件22的输出端将铜箔6四个转角处实现固定，滑动装置21的两侧镜像设置有清洁模块3，检测台1的顶部且位于铜箔6的下方还设置有加热组件5，铜箔6的两侧还设置有检测模块4，检测模块4与固定模块2呈十字状设置在检测台1的顶部，检测模块4包括第一检测组件41、第二检测组件42、第三检测组件43和第四检测组件44，第一检测组件41、第二检测组件42、第三检测组件43与第四检测组件44镜像设置在铜箔6两侧。

当需要对铜箔6进行检测时，根据铜箔6的尺寸，使得滑动装置21带动固定组件22实现滑动，直至固定组件22的输出端能够将铜箔6的四个转角处进行固定，当铜箔6通过固定组件22固定完毕后，通过清洁组件可实现将铜箔6顶部表面进行清洁，防止因铜箔6表面附着灰尘导致铜箔6电阻变大，进而导致检测结果的不准确性，在清洁完毕后，通过将第一检测组件41、第二检测组件42、第三检测组件43和第四检测组件44的输出端抵接铜箔6外壁，使得第一检测组件41、第二检测组件42、第三检测组件43和第四检测组件44之间能相互通电，当操作完毕后，通过控制检测台1顶部的控制器11，给予铜箔6通电，在铜箔6通电后，通过控制器11上的显示器来显示铜箔6的导电性能，铜箔6的电阻越低，则导电性能越好，通过检测台1底部设置的加热组件5，可实现对铜箔6的加热，进而可检测铜箔6在受热后的导电性能，当需要实现对弯曲的铜箔6进行检测时，通过滑动装置21带动固定组件22的持续相向移动，使得铜箔6因应力弯曲，在铜箔6弯曲后再次对铜箔6进行检测，可实现对铜箔6弯曲时的导电性能进行检测，通过上述设置，可实现对铜箔6进行多方位、多方式进行检测，全面检测铜箔6在各种状态下的导电性，从而可增加检测结果的精准度，进而增加实用性。

参见图2、图8和图9所示，第一检测组件41、第二检测组件42、第三检测组件43和第四检测组件44结构相同，第一检测组件41、第二检测组件42、第三检测组件43和第四检测组件44均包括水平推送装置411和通电头412，水平推送装置411固定设置在检测台1的顶部，通电头412固定设置在水平推送装置411的输出端，水平推送装置411还包括滑动轨4111、齿条4112、齿轮4113、第二转动轴4114、第二固定架4117、转动盘4115和转动把4116，滑动轨4111固定设置在检测台1的顶部，齿条4112滑动设置在滑动轨4111上，第二固定架4117固定设置在滑动轨4111的旁侧，第二转动轴4114转动设置在第二固定架4117上，齿轮4113固定设置在第二转动轴4114上，转动盘4115固定设置在第二转动轴4114远离齿轮4113的一侧，转动把4116固定设置在转动盘4115远离第二转动轴4114的一侧。

当需要实现第一检测组件41对铜箔6进行检测时，通过水平推送装置411带动通电头412朝铜箔6的一侧推移，操作人员可通过转动转动把4116，使得转动把4116带动转动盘4115和第二转动轴4114同步转动，第二转动轴4114在转动时带动齿轮4113同步转动，齿轮4113的外齿与齿条4112的外齿相啮合，因此在齿轮4113转动时，齿条4112沿滑动轨4111滑动，直至通电头412与已固定好的铜箔6抵接，需要说明的是，转动把4116的外部套设有绝缘套，防止铜箔6在多次检测后仍有微弱电流，进而导致安全隐患。

参见图3所示，滑动装置21包括第一滑动机构211、第二滑动机构212、第一驱动器213、第一皮带轮组件214和第二皮带轮组件215，第一滑动机构211和第二滑动机构212镜像设置在检测台1上，第一驱动器213固定设置在检测台1的顶部，第一皮带轮组件214的一侧固定设置在第一驱动器213的输出端，第一皮带轮组件214的另一侧与第一滑动机构211的输出端固定连接，第二皮带轮组件215的一侧与第一滑动机构211固定连接，第二皮带轮组件215的另一侧与第二滑动机构212固定连接。

参见图7所示，第一滑动机构211和第二滑动机构212结构相同，第一滑动机构211与第二滑动机构212均包括滑槽2111、双向丝杆2112和第一滑动架2113，滑槽2111固定设置在检测台1的顶部，双向丝杆2112转动设置在滑槽2111内部，第一滑动架2113具有一对且滑动设置在双向丝杆2112的两侧。

第一滑动架2113上设置有供双向丝杆2112贯穿的穿孔，穿孔内部设置有与双向丝杆2112啮合的螺纹，当需要实现第一滑动机构211带动固定组件22相向或反向移动时，通过双向丝杆2112的转动，使得第一滑动架2113相向或反向移动，进而可实现第一滑动架2113带动固定组件22的相向或反向移动；

当需要实现滑动装置21带动固定组件22相向或反向移动时，通过第一驱动器213带动第一皮带轮组件214传动，使得第一皮带轮组件214带动第一滑动机构211同步转动，第一滑动机构211在转动时通过第二皮带轮组件215的传动，可实现第二滑动机构212同步转动，进而可实现第一滑动机构211的输出端和第二滑动机构212的输出端带动固定组件22相向或反向移动，进而可配合固定组件22实现对不同尺寸的铜箔6进行固定。

参见图4所示，固定组件22包括第一固定装置221、第二固定装置222、第三固定装置223和第四固定装置224，第一固定装置221、第二固定装置222、第三固定装置223和第四固定装置224一一对应设置在第一滑动架2113的顶部。

第一固定装置221和第二固定装置222设置在第一滑动机构211的输出端，第三固定装置223和第四固定装置224固定设置在第二滑动机构212的输出端，通过第一固定装置221、第二固定装置222、第三固定装置223和第四固定装置224的设置，可实现对铜箔6的四个转角处进行固定，进而可有效的保证铜箔6在检测和清洁的过程中防止移位，从而导致难以检测。

参见图5和图6所示，第一固定装置221、第二固定装置222、第三固定装置223和第四固定装置224结构相同，第一固定装置221、第二固定装置222、第三固定装置223和第四固定装置224均包括支撑板2211、第一固定架2212、第一连杆2213、第二连杆2214、压杆2215和固定机构2216，第一固定架2212固定设置在第一滑动架2113的顶部，第一连杆2213一端底部与第一固定架2212铰接，第一连杆2213一端的顶部与压杆2215铰接，压杆2215的底部与第二连杆2214铰接，第二连杆2214具有一对且铰接设置在第一固定架2212内部两侧，第二连杆2214远离第一固定架2212的一侧与压杆2215铰接，固定机构2216滑动设置在第一连杆2213上。

当需要实现第一固定装置221对铜箔6进行固定时，通过将压杆2215朝检测台1的一侧下压，使得压杆2215带动第二连杆2214朝检测台1的一侧转动，进而可实现第一连杆2213朝铝箔的一侧转动，直至固定机构2216的输出端与铜箔6抵接，此时铜箔6则被压紧，进而可实现第一固定装置221对铜箔6进行固定，通过依次操作第二固定装置222、第三固定装置223和第四固定装置224，可实现对铜箔6的四个角进行压实固定。

参见图5和图6所示，固定机构2216包括压头2217、滑动块2218、第一凹槽、螺纹杆2219和螺母，第一凹槽固定设置在第一连杆2213上，滑动块2218具有一对且镜像设置在第一凹槽的两侧，螺纹杆2219贯穿滑动块2218并且可配合滑动块2218上下移动，螺母具有一对且镜像设置在螺纹杆2219的两侧，压头2217固定设置在螺纹杆2219的底部。

通过第一凹槽和滑动块2218的配合，可实现滑动块2218带动螺纹杆2219调节压头2217的水平位置，通过螺纹杆2219的上下移动，可实现对压头2217的纵向位置进行调节，进而可满足压头2217对不同厚度的铜箔6进行固定。

参见图2和图10所示，清洁模块3包括丝杆滑台31、第二滑动架32、第一清洁机构33、第二清洁机构34、第二驱动器35和第三皮带轮组件36，丝杆滑台31固定设置在检测台1的顶部，第二滑动架32滑动设置在丝杆滑台31上，第一清洁机构33和第二清洁机构34镜像设置在第二滑动架32的顶部，第二驱动器35固定设置在第一清洁机构33上，第三皮带轮组件36的一侧与第二驱动器35固定连接，第三皮带轮组件36的另一侧与第二清洁机构34固定连接。

当需要对铜箔6进行清洁时，通过丝杆滑台31带动第二滑动架32滑动，直至带动第一清洁机构33和第二清洁结构移动至铜箔6的上方，此时，第二驱动器35带动第一清洁机构33转动，通过第三皮带轮组件36的传动，使得第二清洁机构34同步转动，进而可实现第一清洁机构33与第二清洁机构34实现对铜箔6的同步清洁，有效的保证铜箔6表面的清洁度，防止因灰尘过多导致检测结果不准确。

参见图2和图10所示，第一清洁机构33与第二清洁机构34结构相同，第一清洁机构33与第二清洁机构34均包括安装架331、风罩332、支撑架333、风扇334和第一转动轴335，安装架331固定设置在第二滑动架32的顶部，风罩332与安装架331同轴设置在第二滑动架32的底部，支撑架333固定设置在安装架331上，风扇334固定设置在第一转动轴335上，第一转动轴335贯穿支撑架333与第二驱动器35的输出端固定连接。

当需要对铜箔6进行清洁时，通过第二驱动器35带动第一转动轴335转动，第一转动轴335通过转动带动风扇334转动，风扇334将风输送至风罩332，风罩332呈倒漏斗状，在风罩332的设置下，使得风扇334输出的风相对集中，进而可有效的对铜箔6表面进行清洁。

参见图1和图2所示，加热组件5包括第二凹槽51和加热器52，第二凹槽51固定设置在工作台上，加热器52固定设置在第二凹槽51内。

通过加热器52的设置，可实现加热器52对铜箔6进行加热，进而可检测铜箔6在不同温度下的电阻大小，进而实现对铜箔6在不同温度下的导电性能的检测。

当需要对铜箔6进行检测时，根据铜箔6的尺寸，使得滑动装置21带动固定组件22实现滑动，直至固定组件22的输出端能够将铜箔6的四个转角处进行固定，当铜箔6通过固定组件22固定完毕后，通过清洁组件可实现将铜箔6顶部表面进行清洁，防止因铜箔6表面附着灰尘导致铜箔6电阻变大，进而导致检测结果的不准确性，在清洁完毕后，通过将第一检测组件41、第二检测组件42、第三检测组件43和第四检测组件44的输出端抵接铜箔6外壁，使得第一检测组件41、第二检测组件42、第三检测组件43和第四检测组件44之间能相互通电，当操作完毕后，通过控制检测台1顶部的控制器11，给予铜箔6通电，在铜箔6通电后，通过控制器11上的显示器来显示铜箔6的导电性能，铜箔6的电阻越低，则导电性能越好，通过检测台1底部设置的加热组件5，可实现对铜箔6的加热，进而可检测铜箔6在受热后的导电性能，当需要实现对弯曲的铜箔6进行检测时，通过滑动装置21带动固定组件22的持续相向移动，使得铜箔6因应力弯曲，在铜箔6弯曲后再次对铜箔6进行检测，可实现对铜箔6弯曲时的导电性能进行检测，通过上述设置，可实现对铜箔6进行多方位、多方式进行检测，全面检测铜箔6在各种状态下的导电性，从而可增加检测结果的精准度，进而增加实用性。

以上实施例仅表达了本发明的一种或几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (7)

1.一种基板铜箔导电性能测试设备，包括铜箔（6）本体，其特征在于，导电性能测试设备还包括检测台（1），检测台（1）的顶部设置有支撑杆（12），支撑杆（12）上滑动设置有控制器（11），固定模块（2）固定设置在检测台（1）的顶部，固定模块（2）包括滑动装置（21）和固定组件（22），滑动装置（21）固定设置在检测台（1）顶部，固定组件（22）固定设置在滑动装置（21）的输出端，固定组件（22）的输出端将铜箔（6）四个转角处实现固定，滑动装置（21）的两侧镜像设置有清洁模块（3），检测台（1）的顶部且位于铜箔（6）的下方还设置有加热组件（5），铜箔（6）的两侧还设置有检测模块（4），检测模块（4）与固定模块（2）呈十字状设置在检测台（1）的顶部，检测模块（4）包括第一检测组件（41）、第二检测组件（42）、第三检测组件（43）和第四检测组件（44），第一检测组件（41）、第二检测组件（42）、第三检测组件（43）与第四检测组件（44）镜像设置在铜箔（6）两侧；

第一检测组件（41）、第二检测组件（42）、第三检测组件（43）和第四检测组件（44）结构相同，第一检测组件（41）、第二检测组件（42）、第三检测组件（43）和第四检测组件（44）均包括水平推送装置（411）和通电头（412），水平推送装置（411）固定设置在检测台（1）的顶部，通电头（412）固定设置在水平推送装置（411）的输出端，水平推送装置（411）还包括滑动轨（4111）、齿条（4112）、齿轮（4113）、第二转动轴（4114）、第二固定架（4117）、转动盘（4115）和转动把（4116），滑动轨（4111）固定设置在检测台（1）的顶部，齿条（4112）滑动设置在滑动轨（4111）上，第二固定架（4117）固定设置在滑动轨（4111）的旁侧，第二转动轴（4114）转动设置在第二固定架（4117）上，齿轮（4113）固定设置在第二转动轴（4114）上，转动盘（4115）固定设置在第二转动轴（4114）远离齿轮（4113）的一侧，转动把（4116）固定设置在转动盘（4115）远离第二转动轴（4114）的一侧；

滑动装置（21）包括第一滑动机构（211）、第二滑动机构（212）、第一驱动器（213）、第一皮带轮组件（214）和第二皮带轮组件（215），第一滑动机构（211）和第二滑动机构（212）镜像设置在检测台（1）上，第一驱动器（213）固定设置在检测台（1）的顶部，第一皮带轮组件（214）的一侧固定设置在第一驱动器（213）的输出端，第一皮带轮组件（214）的另一侧与第一滑动机构（211）的输出端固定连接，第二皮带轮组件（215）的一侧与第一滑动机构（211）固定连接，第二皮带轮组件（215）的另一侧与第二滑动机构（212）固定连接；

第一滑动机构（211）和第二滑动机构（212）结构相同，第一滑动机构（211）与第二滑动机构（212）均包括滑槽（2111）、双向丝杆（2112）和第一滑动架（2113），滑槽（2111）固定设置在检测台（1）的顶部，双向丝杆（2112）转动设置在滑槽（2111）内部，第一滑动架（2113）具有一对且滑动设置在双向丝杆（2112）的两侧。

2.根据权利要求1所述的一种基板铜箔导电性能测试设备，其特征在于，固定组件（22）包括第一固定装置（221）、第二固定装置（222）、第三固定装置（223）和第四固定装置（224），第一固定装置（221）、第二固定装置（222）、第三固定装置（223）和第四固定装置（224）一一对应设置在第一滑动架（2113）的顶部。

3.根据权利要求2所述的一种基板铜箔导电性能测试设备，其特征在于，第一固定装置（221）、第二固定装置（222）、第三固定装置（223）和第四固定装置（224）结构相同，第一固定装置（221）、第二固定装置（222）、第三固定装置（223）和第四固定装置（224）均包括支撑板（2211）、第一固定架（2212）、第一连杆（2213）、第二连杆（2214）、压杆（2215）和固定机构（2216），第一固定架（2212）固定设置在第一滑动架（2113）的顶部，第一连杆（2213）一端底部与第一固定架（2212）铰接，第一连杆（2213）一端的顶部与压杆（2215）铰接，压杆（2215）的底部与第二连杆（2214）铰接，第二连杆（2214）具有一对且铰接设置在第一固定架（2212）内部两侧，第二连杆（2214）远离第一固定架（2212）的一侧与压杆（2215）铰接，固定机构（2216）滑动设置在第一连杆（2213）上。

4.根据权利要求3所述的一种基板铜箔导电性能测试设备，其特征在于，固定机构（2216）包括压头（2217）、滑动块（2218）、第一凹槽、螺纹杆（2219）和螺母，第一凹槽固定设置在第一连杆（2213）上，滑动块（2218）具有一对且镜像设置在第一凹槽的两侧，螺纹杆（2219）贯穿滑动块（2218）并且可配合滑动块（2218）上下移动，螺母具有一对且镜像设置在螺纹杆（2219）的两侧，压头（2217）固定设置在螺纹杆（2219）的底部。

5.根据权利要求1所述的一种基板铜箔导电性能测试设备，其特征在于，清洁模块（3）包括丝杆滑台（31）、第二滑动架（32）、第一清洁机构（33）、第二清洁机构（34）、第二驱动器（35）和第三皮带轮组件（36），丝杆滑台（31）固定设置在检测台（1）的顶部，第二滑动架（32）滑动设置在丝杆滑台（31）上，第一清洁机构（33）和第二清洁机构（34）镜像设置在第二滑动架（32）的顶部，第二驱动器（35）固定设置在第一清洁机构（33）上，第三皮带轮组件（36）的一侧与第二驱动器（35）固定连接，第三皮带轮组件（36）的另一侧与第二清洁机构（34）固定连接。

6.根据权利要求5所述的一种基板铜箔导电性能测试设备，其特征在于，第一清洁机构（33）与第二清洁机构（34）结构相同，第一清洁机构（33）与第二清洁机构（34）均包括安装架（331）、风罩（332）、支撑架（333）、风扇（334）和第一转动轴（335），安装架（331）固定设置在第二滑动架（32）的顶部，风罩（332）与安装架（331）同轴设置在第二滑动架（32）的底部，支撑架（333）固定设置在安装架（331）上，风扇（334）固定设置在第一转动轴（335）上，第一转动轴（335）贯穿支撑架（333）与第二驱动器（35）的输出端固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种基板铜箔导电性能测试设备，其特征在于，加热组件（5）包括第二凹槽（51）和加热器（52），第二凹槽（51）固定设置在工作台上，加热器（52）固定设置在第二凹槽（51）内。