CN220231901U - 一种集成电路芯片检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路芯片检测装置，包括底板和固定连接于底板顶部的检测框，所述底板的顶部转动连接有齿环且内表面转动连接有若干转杆，若干所述转杆的外表面均固定连接有齿轮，若干所述齿轮的外侧均与齿环的内侧啮合连接，所述底板的顶部固定连接有若干固定块，若干所述固定块的顶部均滑动连接有齿条，本实用新型涉及芯片检测技术领域。该集成电路芯片检测装置，达到了转动转杆即可控制多个齿条同时向中心移动的效果，使芯片能够始终被定位在中心位置，能够满足不同规格芯片检测时的固定需求，解决了现有的集成电路芯片检测装置当检测芯片较大或较小时会无法放入检测的凹槽内或难以定位中心位置的问题。

Description

一种集成电路芯片检测装置

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体为一种集成电路芯片检测装置。

背景技术

集成电路芯片检测装置是对芯片的焊接引脚进行检测的装置，通常是使用检测探针检测芯片是否能正常工作。

现有的集成电路芯片检测装置，多为针对某一种规格的芯片进行检测，对芯片的规格有一定要求，当芯片较大或较小时，会无法放入检测的凹槽内或难以定位中心位置，为此，本实用新型提出了一种集成电路芯片检测装置。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种集成电路芯片检测装置，解决了现有的集成电路芯片检测装置当检测芯片较大或较小时会无法放入检测的凹槽内或难以定位中心位置的问题。

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种集成电路芯片检测装置，包括底板和固定连接于底板顶部的检测框，所述底板的顶部转动连接有齿环且内表面转动连接有若干转杆，若干所述转杆的外表面均固定连接有齿轮，若干所述齿轮的外侧均与齿环的内侧啮合连接，所述底板的顶部固定连接有若干固定块，若干所述固定块的顶部均滑动连接有齿条，若干所述齿条均与齿轮啮合连接且底部均与检测框的顶部滑动连接，所述底板的顶部设有支撑框架，所述检测框的正上方设有检测组件，所述检测组件位于支撑框架的下方。

优选的，所述支撑框架包括固定连接于底板顶部的若干支撑杆，若干所述支撑杆的顶部固定连接有横板。

优选的，所述检测组件包括固定连接于横板底部的电伸缩杆，所述电伸缩杆的底部固定连接有检测板，所述检测板的底部固定连接有若干检测探针。

优选的，若干所述齿条的内表面滑动连接有连接杆，若干所述连接杆的一端均固定连接有橡胶板且另一端与齿条的内表面之间均固定连接有弹簧。

优选的，所述底板的底部固定连接有若干支撑脚，若干所述齿条的一端均固定连接有限位板。

优选的，所述底板的底部固定连接有驱动电机，所述驱动电机的输出端与转杆的一端通过联轴器固定连接。

有益效果

本实用新型提供了一种集成电路芯片检测装置。与现有技术相比具备以下有益效果：该集成电路芯片检测装置，通过底板、检测框、齿环、转杆、齿轮、固定块、齿条、支撑框架和检测组件之间的配合，达到了转动转杆即可控制多个齿条同时向中心移动的效果，使芯片能够始终被定位在中心位置，能够满足不同规格芯片检测时的固定需求，解决了现有的集成电路芯片检测装置当检测芯片较大或较小时会无法放入检测的凹槽内或难以定位中心位置的问题。

附图说明

图1为本实用新型的主视图；

图2为本实用新型的局部结构主视图；

图3为本实用新型的第一局部结构俯视图；

图4为本实用新型的第二局部结构俯视图；

图5为本实用新型的图3中A处的局部放大图。

图中：1-底板、2-检测框、3-齿环、4-转杆、5-齿轮、6-固定块、7-齿条、8-支撑框架、81-支撑杆、82-横板、9-检测组件、91-电伸缩杆、92-检测板、93-检测探针、10-连接杆、11-橡胶板、12-弹簧、13-支撑脚、14-限位板、15-驱动电机。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实用新型提供两种技术方案：

实施例1：一种集成电路芯片检测装置，包括底板1和固定连接于底板1顶部的检测框2，检测框2内用于放置待检测芯片，底板1的顶部转动连接有齿环3且内表面转动连接有若干转杆4，若干转杆4的外表面均固定连接有齿轮5，若干齿轮5的外侧均与齿环3的内侧啮合连接，一个齿轮5转动时能够通过齿环3带动所有齿轮5同时转动,底板1的顶部固定连接有若干固定块6，若干固定块6的顶部均滑动连接有齿条7，若干齿条7均与齿轮5啮合连接且底部均与检测框2的顶部滑动连接，若干齿条7都对应有一个齿轮5，当齿轮5同步转动时，齿条7也将同步在检测框2和固定块6上滑动，底板1的顶部设有支撑框架8，检测框2的正上方设有检测组件9，检测组件9位于支撑框架8的下方，支撑框架8用于支撑检测组件9，检测组件9用于检测芯片。

本实施例中，支撑框架8包括固定连接于底板1顶部的若干支撑杆81，若干支撑杆81的顶部固定连接有横板82，检测组件9包括固定连接于横板82底部的电伸缩杆91，电伸缩杆91与外部电源连接，电伸缩杆91的底部固定连接有检测板92，检测板92位于检测框2的正上方，检测板92的底部固定连接有若干检测探针93，电伸缩杆91能够通过检测板92控制检测探针93的升降，检测板92上的检测探针的分布和数量根据待测芯片型号确定。

本实施例中，若干齿条7的内表面滑动连接有连接杆10，若干连接杆10的一端均固定连接有橡胶板11且另一端与齿条7的内表面之间均固定连接有弹簧12，橡胶板11为橡胶材质，避免在推动芯片时使芯片摩擦受损，当齿条7移动距离略有超出时，弹簧12能够缓解对芯片造成的挤压，避免芯片受损，底板1的底部固定连接有若干支撑脚13，若干齿条7的一端均固定连接有限位板14,底板1的底部固定连接有驱动电机15，驱动电机15与外部电源连接且可正反两个方向转动，驱动电机15的输出端与转杆4的一端通过联轴器固定连接。

实施例2：一种集成电路芯片检测装置，包括底板1和固定连接于底板1顶部的检测框2，检测框2内用于放置待检测芯片，底板1的顶部转动连接有齿环3且内表面转动连接有若干转杆4，若干转杆4的外表面均固定连接有齿轮5，若干齿轮5的外侧均与齿环3的内侧啮合连接，一个齿轮5转动时能够通过齿环3带动所有齿轮5同时转动,底板1的顶部固定连接有若干固定块6，若干固定块6的顶部均滑动连接有齿条7，若干齿条7均与齿轮5啮合连接且底部均与检测框2的顶部滑动连接，若干齿条7都对应有一个齿轮5，当齿轮5同步转动时，齿条7也将同步在检测框2和固定块6上滑动，底板1的顶部设有支撑框架8，检测框2的正上方设有检测组件9，检测组件9位于支撑框架8的下方，支撑框架8用于支撑检测组件9，检测组件9用于检测芯片。

本实用新型中涉及到电路和电子元器件均为现有技术，本领域技术人员完全可以实现，无需赘言，本实用新型保护的内容也不涉及对于内部结构和方法的改进，需要说明的是，本实用新型使用到的标准零件均可以从市场上购买，异形件根据说明书的和附图的记载均可以进行订制，各个零件的具体连接方式均采用现有技术中成熟的螺栓、铆钉、焊接等常规手段，机械、零件和设备均采用现有技术中，常规的型号，发明人在此不再详述。

同时本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域技术人员公知的现有技术。

工作时，首先将芯片放入检测框2内，之后启动驱动电机15，驱动电机15将通过转杆4带动齿轮5转动，齿轮5能够通过齿环3使所有齿轮5同步转动，在齿轮5同步转动时也将带动对应的齿条7同步滑动，齿条7在固定块6和检测框2上移动并推动芯片，当多个齿条7同时向中心推动时芯片将被固定在中央位置，此时锁住电机即可，芯片不同大小时通过转杆4控制齿条7移动距离即可，当需要取出芯片时仅需反转驱动电机15即可，在安装芯片后启动电伸缩杆91即可使检测探针93下降并对芯片进行检测，以上就是一种集成电路芯片检测装置的工作原理。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种集成电路芯片检测装置，包括底板(1)和固定连接于底板(1)顶部的检测框(2)，其特征在于：所述底板(1)的顶部转动连接有齿环(3)且内表面转动连接有若干转杆(4)，若干所述转杆(4)的外表面均固定连接有齿轮(5)，若干所述齿轮(5)的外侧均与齿环(3)的内侧啮合连接，所述底板(1)的顶部固定连接有若干固定块(6)，若干所述固定块(6)的顶部均滑动连接有齿条(7)，若干所述齿条(7)均与齿轮(5)啮合连接且底部均与检测框(2)的顶部滑动连接，所述底板(1)的顶部设有支撑框架(8)，所述检测框(2)的正上方设有检测组件(9)，所述检测组件(9)位于支撑框架(8)的下方。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述支撑框架(8)包括固定连接于底板(1)顶部的若干支撑杆(81)，若干所述支撑杆(81)的顶部固定连接有横板(82)。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述检测组件(9)包括固定连接于横板(82)底部的电伸缩杆(91)，所述电伸缩杆(91)的底部固定连接有检测板(92)，所述检测板(92)的底部固定连接有若干检测探针(93)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于：若干所述齿条(7)的内表面滑动连接有连接杆(10)，若干所述连接杆(10)的一端均固定连接有橡胶板(11)且另一端与齿条(7)的内表面之间均固定连接有弹簧(12)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述底板(1)的底部固定连接有若干支撑脚(13)，若干所述齿条(7)的一端均固定连接有限位板(14)。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述底板(1)的底部固定连接有驱动电机(15)，所述驱动电机(15)的输出端与转杆(4)的一端通过联轴器固定连接。