CN115214923B - 一种led测试编带一体机 - Google Patents

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Abstract

本申请属于半导体生产设备技术领域，公开了一种LED测试编带一体机，其包括机架、用于输送物料的上料机构、用于接收所述上料机构的物料并进行光电参数检测的测试机构、用于对检测分类后的物料进行转运及分类的转运机构以及对物料进行编带的编带机构，所述上料机构、测试机构、转运机构以及编带机构均安装于所述机架；所述转运机构位于所述测试机构的出料侧，所述编带机构设置多组。本申请具有对不同类型的物料同时进行编带，提高了物料的检测和编带效率的效果。

Description

一种LED测试编带一体机
技术领域
本申请属于半导体生产设备领域，涉及一种LED测试编带一体机。
背景技术
随着半导体芯片生产工艺的日益成熟，LED在节能环保、3C类产品的背光、户内外显示屏的显示、指示类的指示和车灯照明等领域的应用越来越广泛。
在LED生产工艺中需要对LED元器件进行测试、分类以及编带打包等操作，相关技术手段中，对LED元器件的检测以及编带通过使用不同的设备进行加工生产。由于LED元器件的类别不同，对不同类别的LED元器件进行编带需要使用到不同的设备或者在同一个设备中进行多轮检测及筛选，从而对不同类型LED元器件进行分类编带，降低了LED元器件的检测及编带效率。
针对上述相关技术手段，存在有不同类型的LED元器件在检测及编带的过程中效率低的缺陷。
发明内容
为了改善不同类型的LED元器件在检测及编带的过程中效率低的缺陷，本申请提供一种LED测试编带一体机。
本申请提供的一种LED测试编带一体机采用如下的技术方案：
一种LED测试编带一体机，包括机架、用于输送物料的上料机构、用于接收所述上料机构的物料并进行光电参数检测的测试机构、用于对检测分类后的物料进行转运及分类的转运机构以及对物料进行编带的编带机构，所述上料机构、测试机构、转运机构以及编带机构依次安装于所述机架；所述转运机构位于所述测试机构的出料侧，所述编带机构设置有两组以上。
通过采用上述技术方案，物料通过上料机构运输至测试机构，经过测试机构进行光电参数检测，转运机构根据物料的光电参数将物料进行归类，且对不同类型的物料进行转移，将同类型的物料放置于相应的编带组件中，多组编带组件对不同类型的物料同时进行编带；相对于现有技术，本申请能够通过一台设备实现对不同类型的物料同时进行编带的效果，物料经过一次检测能够对不同类型的物料同时进行编带，提高了物料的检测和编带效率。
可选的，所述测试机构包括带动物料流转的测试转盘和用于检测物料光电参数的测试组件，所述测试转盘上周向间隔设置有用于承载物料的吸座，所述测试组件具有用于测试物料的测试工位，所述测试转盘转动使得吸座与测试工位对齐以进行物料检测。
通过采用上述技术方案，物料通过上料机构转运至若干个吸座上，测试转盘带动若干个吸座转动，使得吸座逐个转动至测试工位。测试组件对位于测试工位处的物料进行光电参数检测，完成测试后的物料经由测试转盘转动带离出测试工位，测试转盘上相邻的吸座继续带动物料进入测试工位进行光电参数检测，提高了物料检测的效率，同时使用转盘提高了空间利用率。
可选的，所述测试组件包括接触物料的测试件，所述测试件包括第一连杆、第二连杆、安装于所述第一连杆的第一测试针、安装于所述第二连杆的第二测试针以及测试电机，测试电机驱动所述第一连杆和第二连杆相向或远离运动，所述第一测试针与所述第二测试针相对设置，所述第一测试针与所述第二测试针之间具有用于容纳物料的测试通道，所述测试通道与所述测试工位对齐。
通过采用上述技术方案，在测试电参数时，测试工位处的物料位于测试通道，测试电机驱动第一连杆与第二连杆相向运动，第一测试针与第二测试针相对运动，测试通道逐渐减小，第一测试针与第二测试针分别与物料两端接触并逐渐抵压物件，形成回路连通，进行电参数检测；完成电参数检测后，测试电机驱动第一连杆与第二连杆朝向相反的方向运动，第一测试针与第二测试针相互远离运动，测试通道逐渐增大，第一测试针与第二测试针均与物料两端脱离，测试转盘带动吸座上物料离开测试通道。通过第一测试针与第二测试针的相对运动或远离实现对物料电参数的连通或断开，连通效果好，提高了电参数检测的准确度且结构简单。
可选的，所述测试机构还包括用于校正物料位置的第一校正组件，所述第一校正组件包括校正安装板，活动校正针以及固定校正针，所述活动校正针和固定校正针均与所述校正安装板滑移配合，且所述活动校正针和所述固定校正针相对设置相互靠近或远离，所述活动校正针与固定校正针之间具有校正通道，所述测试转盘转动使得吸座位于所述校正通道进行物料校正。
通过采用上述技术方案，固定校正针与活动校正针相互靠近对物料进行夹持，从而对检测的物料进行校正位置，减少物料不当的放置对物料检测效果的影响。同时使用一个电机对多个物料检测节约能源。
可选的，所述第一校正组件还包括用于安装有所述活动校正针的第一安装板、用于安装有所述固定校正针的第二安装板、连接第一安装板和第二安装板的第一弹性件以及第一校正电机，所述第一校正电机的输出端设置有第一凸轮，所述第一凸轮位于所述第一安装板和第二安装板之间，所述第一凸轮与第一安装板和第二安装板抵压且可同时驱动第一安装板与第二安装板相对运动以带动活动校正针和固定校正针相互靠近或远离。
通过采用上述技术方案，第一弹性件一端安装于第一安装板，另一端安装于第二安装板，第一校正电机带动第一凸轮进行转动，第一凸轮的长轴运动到第一安装板和第二安装板接触时，第一安装板和第二安装板之间的距离最大，固定校正针与活动校正针之间的校正通道最大，便于吸座以及吸座上的物料进入校正通道；第一凸轮的长轴运动到第一安装板和第二安装板接触时，第一安装板和第二安装板之间的距离最小，固定校正针与活动校正针之间的校正通道最小，实现对物料进行位置校正，配合测试转盘带动吸座上物料的进出。
可选的，所述上料机构包括振动盘和用于抓取物料的抓料组件，所述振动盘设置有上料轨道，所述抓料组件设置有上料支架、上料吸嘴以及上料驱动件，所述上料吸嘴安装于所述上料支架，所述上料驱动件驱动所述上料吸嘴在所述上料轨道和所述吸座之间往复运动以将物料从所述上料轨道运输至所述吸座。
通过采用上述技术方案，振动盘通过振动将无序物料自动且有序的定向排列整齐，进而输送到上料轨道处，上料吸嘴吸取上料轨道处的物料运输至吸座上，通过上料吸嘴的往复运动实现全自动上料，使得上料更精准且效率高。
可选的，所述抓料组件还包括吸嘴定位块、吸嘴限位块以及用于缓冲的压缩弹簧，吸嘴定位块与上料支架固定连接，吸嘴限位块位于吸嘴定位块上方且与吸嘴定位块固定连接，上料吸嘴同时穿设吸嘴定位块和吸嘴限位块且分别与吸嘴定位块和吸嘴限位块滑移配合，上料吸嘴设置有滑移凹槽，压缩弹簧位于滑移凹槽内且同时处于吸嘴定位块和吸嘴限位块之间。
通过采用上述技术方案，一方面增强了上料吸嘴的安装稳定性，另一方面，当上料吸嘴运动至上料轨道与物料接触时，上料吸嘴与物料抵压从而形成真空状态实现吸附，此过程中上料吸嘴朝向物料运动，滑移凹槽的两端面挤压压缩弹簧，压缩弹簧发生形变对上料吸嘴和物料之间的抵压起到缓冲的作用，减少了上料吸嘴与物料抵压时产生的损坏。
可选的，所述转运机构包括将物料从吸座转运至不同编带机构的转运转盘，所述转运转盘设置有若干用于转运物料的转运吸嘴；所述测试转盘设置有抓取工位，所述转运吸嘴运动至抓取工位时可将所述吸嘴上的物料抓取然后转移至所述编带机构。
通过采用上述技术方案，采用开放式的转运转盘与测试转盘相配合，使得对测试完毕后的物料进行转运，在测试物料的同时完成转运，且当更换LED型号时，可以做到更换对应的吸嘴来达到兼容的目的，拓展了测试编带一体机的适配性；另一方面，转运转盘与测试转盘减少了多工序所需的空间占有率，缩小了一体机的体积。
可选的，所述转运机构还包括用于对检测后的物料进行位置校正的第二校正组件以及用于对物料进行换向的换向组件，所述第二校正组件和所述换向组件位于所述转运转盘的周侧，所述第二校正组件设置有两组，两组所述第二校正组件分别位于所述换向机构的两侧。
通过采用上述技术方案，转运转盘转动带动转运吸嘴同步运动，转运吸嘴上吸附的物料流转至换向组件一侧的第二校正组件，一侧的第二校正组件对换向前的物料进行位置的校正，增加物料换向的准确度；继而物料进入换向组件进行换向，换向组件另一侧的第二校正组件对换向后的物料再次进行物料位置的校正，使得进入编带机构的物料朝向保持一致。
可选的，编带机构包括载带轨道、用于将物料编进料带的编带组件、输送料带的置带组件以及用于驱动载带轨道上的料带运动的编带驱动件，所述载带轨道安装于所述机架，所述编带组件位于所述载带轨道上方且与载带轨道对应设置；所述载带轨道具有用于承载所述转运吸嘴上物料的进料端和用于输出完成物料编带的出料端，所述进料端与所述转运转盘转动对接。
通过采用上述技术方案，转运吸嘴上的物料运动至载带轨道的进料端，物料置于载带轨道上的料带，编带驱动件驱动置带组件转动，编带组件带动载带轨道上的料带运动，使得转运吸嘴上的物料通过进料端运动至编带组件下方，编带组件对带有物料的料带进行编带操作，编带完成的物料从出料端出，完成不同类型物料的分类编带。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
物料通过上料机构运输至测试机构，经过测试机构进行光电参数检测，转运机构根据物料的光电参数将物料进行归类，且对不同类型的物料进行转移，将同类型的物料放置于相应的编带组件中，多组编带组件对不同类型的物料同时进行编带；相对于现有技术，本申请能够通过一台设备实现对不同类型的物料同时进行编带的效果，物料经过一次检测能够对不同类型的物料同时进行编带，提高了物料的检测和编带效率。
在测试电参数时，测试工位处的物料位于测试通道，测试电机驱动第一连杆与第二连杆相向运动，第一测试针与第二测试针相对运动，测试通道逐渐减小，第一测试针与第二测试针分别与物料两端接触并逐渐抵压物件，形成回路连通，进行电参数检测；完成电参数检测后，测试电机驱动第一连杆与第二连杆朝向相反的方向运动，第一测试针与第二测试针相互远离运动，测试通道逐渐增大，第一测试针与第二测试针均与物料两端脱离，测试转盘带动吸座上物料离开测试通道。通过第一测试针与第二测试针的相对运动或远离实现对物料电参数的连通或断开，连通效果好，提高了电参数检测的准确度且结构简单。
附图说明
图1是本申请实施例一种LED测试编带一体机的结构示意图；
图2是本申请实施例凸显上料机构的结构示意图；
图3是本申请实施例凸显测试机构的结构示意图；
图4是本申请实施例凸显第一校正组件的结构示意图；
图5是本申请实施例凸显测试组件的结构示意图；
图6是本申请实施例凸显转运机构和编带机构的整体结构示意图；
图7是图6中A处的局部放大图。
图8是本申请实施例增设外罩的整体示意图。
附图标记说明：
1.机架；11、基板；
2.上料机构；21、振动盘；211、上料轨道；22、抓料组件；221、上料支架；222、吸嘴定位块；223、吸嘴限位块；224、上料吸嘴；225、压缩弹簧；226、高度调节板；
3.测试机构；31、第一转盘底座；32、测试转盘；321、吸座；322、破真空组件；33、测试组件；331、测试件；3311、第一连杆；3312、第二连杆；3313、第一测试针；3314、第二测试针；3315、测试通道；3316、测试电机；3317、第二凸轮；34、第一校正组件；341、校正安装板；342、第一校正安装块；343、第二校正安装块；344、活动校正针；345、固定校正针；346、校正通道；347、第一凸轮；348、弹性件；349、第一校正电机；
4.转运机构；41、第二转盘底座；42、转运转盘；421、转运吸嘴；43、第二校正组件；431、校正片；432、校正安装座；433、第二校正电机；44、换向组件；451、吹料管；452、物料框；
5、编带机构；51、载带轨道；511、进料端；512、出料端；513、输料槽；52、编带组件；53、置带组件；531、物料带卷；532、薄膜卷；533、收带卷；542、同步带；543、第一同步轮；544、第二同步轮。
具体实施方式
以下结合附图1-8对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种LED测试编带一体机。
参照图1，一种LED测试编带一体机包括机架1、用于输送物料的上料机构2、用于接收上料机构2运输的物料并进行光电参数检测的测试机构3、用于对检测后的物料进行转运及分类的转运机构4以及对不同类型物料进行编带的编带机构5，编带机构5设置有多组；上料机构2、测试机构3、转运机构4以及编带机构5均安装于机架1上。在本实施例中，上料机构2及转运机构4沿测试机构3的周侧分布且两者之间具有间隙，多组编带机构5沿转运机构4周向分布。编带机构5设置有两组，用于对两种不同类型的物料进行编带。物料通过上料机构2运输至测试机构3，经过测试机构3进行光电参数检测，转运机构4根据物料的光电参数将物料进行归类，对不同类型的物料进行转移，将同类型的物料放置于相应的编带组件52中，多组编带组件52对不同类型的物料同时进行编带。
机架1设置有基板11，基板11将机架1分隔成上下两个空间。上料机构2、测试机构3、转运机构4以及编带机构5均安装于基板11远离地面的端面。
参照图2，上料机构2包括用于承载物料的振动盘21和用于将物料从振动盘21转移至测试机构3的抓取组件，振动盘21和抓取组件均安装于基板11上，且振动盘21与基板11固定连接。振动盘21设置有用于承载有序物料的上料轨道211，振动盘21通过振动将无序物料自动且有序的定向排列整齐，进而准确地输送到上料轨道211处。
抓料组件22设置有上料支架221、上料吸嘴224以及驱动上料吸嘴224朝向上料轨道211运输的上料驱动件。上料支架221与基板11固定连接，上料驱动件安装于上料支架221，上料吸嘴224位于上料驱动件的输出端。在本实施例中，上料驱动件为曲柄摇杆电机，上料吸嘴224为真空吸嘴。上料吸嘴224从上料轨道211上吸附物料，在上料驱动电机的带动下朝向测试机构3的方向运动，上料吸嘴224在上料轨道211与测试组件33之间往复运动将物料从上料轨道211运输至测试组件33，完成上料。
进一步的，抓料组件22还包括吸嘴定位块222、吸嘴限位块223以及用于缓冲的压缩弹簧225，吸嘴定位块222与上料支架221固定连接，吸嘴限位块223位于吸嘴定位块222上方且与吸嘴定位块222固定连接，上料吸嘴224同时穿设吸嘴定位块222和吸嘴限位块223且分别与吸嘴定位块222和吸嘴限位块223滑移配合，压缩弹簧225位于吸嘴定位块222和吸嘴限位块223之间且围设于上料吸嘴224外周壁。上料吸嘴224设置有滑移凹槽，吸嘴定位块222位于滑移凹槽远离地面的一侧，当上料吸嘴224运动至上料轨道211与物料接触时，上料吸嘴224与物料抵压形成真空状态实现吸附，上料吸嘴224上移压缩压缩弹簧225使得吸嘴定位块222位于滑移凹槽靠近地面的一侧，对上料吸嘴224和物料起到缓冲的作用，减少了上料吸嘴224与物料抵压时产生的损坏。
为了扩大抓料组件22的适配性，上料支架221与上料驱动件之间设置有高度调节板226，上料支架221与高度调节板226滑移配合，上料驱动件与高度调节板226固定连接。根据物料与上料组件之间距离，调整高度调节板226位于上料支架221上的位置。
参照图1和图3，测试机构3包括第一转盘底座31、测试转盘32、用于校正物料位置的第一校正组件34、用于检测物料光电参数的测试组件33。
第一转盘底座31固定设置于基板11上，测试转盘32安装于第一转盘底座31的上端并与第一转盘底座31转动连接，第一转盘底座31可以通过转动气缸驱使测试转盘32转动，也可以是通过伺服电机驱使测试转盘32转动。在本实施例中，第一转盘底座31通过伺服电机驱使测试转盘32转动。
测试转盘32大体呈圆盘形设置，测试组件33、第一校正组件34以及第一回收组件分布于测试转盘32的周向。测试转盘32设置有若干用于承载物料的吸座321，吸座321与测试转盘32固定连接，若干吸座321等间距安装于测试转盘32的周侧。在本实施例中，吸座321设置有十六个。通过测试转盘32的转动，从而将每个吸座321依次运送至各个工序的位置，实现吸座321以及吸座321上物料的自动化流转。测试转盘32上端安装有对应解除各个吸座321上的真空状态的破真空组件322，便于物料从吸座321转运至转运组件。
参照图3和图4，为了减少物料的方向对检测效果的影响，物料在进入测试组件33之前，需要对物料进行位置校正。第一校正组件34位于测试组件33的左侧，测试转盘32上的吸座321先经过第一校正组件34，后经过测试组件33。在本实施例中，第一校正组件34设置有两组，两组第一校正组件34分别位于测试组件33左右两侧，分别对测试前及测试后的物料进行位置校正。
第一校正组件34包括校正安装板341、活动校正针344、固定校正针345、安装活动校正针344的第一校正安装块342、安装固定校正针345的第二校正安装块343以及第一校正电机349。校正安装板341与基板11固定连接，第一校正安装块342与第二校正安装块343均与校正安装板341滑移配合，且第一校正安装块342与第二校正安装块343相互平行，活动校正针344与第一校正安装块342滑移配合，固定校正针345与第二校正安装块343固定连接，固定校正针345与活动校正针344相对设置，且固定校正针345与活动校正针344的中轴线重合。
在本实施例中，第一校正安装块342与第二校正安装块343之间设置有弹性件348，弹性件348一端与第一校正安装块342固定连接，另一端与第二校正安装块343固定连接。第一校正电机349为旋转电机，第一校正电机349的输出端设置有第一凸轮347，第一凸轮347位于第一校正安装块342与第二校正安装块343之间，且第一凸轮347的周壁分别与第一校正安装块342和第二校正安装块343接触抵压。
活动校正针344与固定校正针345之间具有校正通道346，当第一校正电机349带动第一凸轮347进行转动，第一凸轮347的长轴两端运动到与第一安装板和第二安装板分别接触时，第一安装板和第二安装板之间的距离最大，固定校正针345与活动校正针344之间的校正通道346最大，便于测试转盘32转动带动吸座321以及吸座321上的物料进入校正通道346；第一凸轮347的短轴两端运动到与第一安装板和第二安装板分别接触时，第一安装板和第二安装板之间的距离最小，固定校正针345与活动校正针344之间的校正通道346最小，固定校正针345与活动校正针344分别与物料的两端抵压对物料进行位置校正。活动校正针344与第一校正安装块342滑移配合，使得物料与活动校正针344以及固定校正针345抵压时起到缓冲作用。
参照图3和图5，测试组件33包括用于检测光信号的积分球、用于安装积分球的检测支架以及用于检测物件电参数的测试件331。积分球安装于检测支架，且检测支架与基板11固定连接，测试件331安装于基板11上。测试组件33具有用于测试物料光电参数的测试工位，测试件331与积分球位于检测工位的上方用于同步对物料进行光电参数的检测，测试转盘32转动使得吸座321位于测试工位处进行物料检测。
测试件331包括测试安装板、第一连杆3311、第二连杆3312、安装于第一连杆3311的第一测试针3313、安装于第二连杆3312的第二测试针3314、第二凸轮3317以及测试电机3316。测试安装板与基板11固定连接，第一连杆3311的一端与第二凸轮3317固定连接，另一端与第一测试针3313固定连接，第二连杆3312的一端与第二凸轮3317远固定连接，另一端与第二测试针3314固定连接，第一测试针3313与第二测试针3314的中轴线重合，且第一测试针3313与第二测试针3314相对设置，第二凸轮3317安装于测试电机3316的输出端且与测试电机3316固定连接。在本实施例中，测试电机3316为旋转电机，第一连杆3311和第二连杆3312分别位于第二凸轮3317的长轴两端，第一连杆3311和第二连杆3312相互平行。
第一测试针3313与第二测试针3314之间具有测试通道3315，测试电机3316驱动第二凸轮3317转动，当第二凸轮3317的长轴与第一连杆3311的长度方向平行时，第一测试针3313与第二测试针3314之间的测试通道3315最大，测试转盘32转动带动吸座321上的物料进入测试通道3315；当第二凸轮3317的长轴与第一连杆3311的长度方向垂直时，第一测试针3313与第二测试针3314之间的测试通道3315最小，第一测试针3313与第二测试针3314分别与物料的两端抵压连通，对物料进行电参数测试。
参照图1和图6，转运机构4包括第二转盘底座41、转运转盘42、第二校正组件43、换向组件44以及回收组件。第二转盘底座41固定设置于基板11上，转运转盘42安装于第二转盘底座41的上端并与第二转盘底座41转动连接，第二转盘底座41可以通过转动气缸驱使转运转盘42转动，也可以是通过力矩电机驱使测试转盘32转动。在本实施例中，第一转盘底座31通过力矩电机驱使测试转盘32转动。
参照图6，转运转盘42大体呈圆盘形设置，第二校正组件43、换向组件44以及回收组件分布于测试转盘32的周向。转运转盘42设置有若干用于将物料从吸座321上吸附的转运吸嘴421，转运吸嘴421与转运转盘42固定连接，若干转运吸嘴421等间距安装于转运转盘42的周侧。在本实施例中，转运吸嘴421设置有十六个。通过转运转盘42的转动，从而将每个转运吸嘴421上的物料依次运送至各个工序的位置，实现转运吸嘴421上物料的自动化流转。转运转盘42上端安装有对应解除各个转运吸嘴421上的真空状态的破真空组件322，便于物料从转运吸嘴421转运至各工序位置。
进一步的，测试转盘32设置有抓取工位。在本实施例中，抓取工位为测试转盘32与转运转盘42的相切的区域，转运转盘42带动转运吸嘴421运动至抓取工位时将吸嘴上的物料转移至编带机构5。
转运转盘42还设置有用于控制转运吸嘴421下压行程的马达下压组件，马达下压组件设置有多个，马达下压组件与转运吸嘴421一一对应设置。马达下压组件安装于第二转盘底座41，且马达下压组件位于转运吸嘴421上方，马达下压组件具有下压杆，下压杆与转运吸嘴421接触并抵压，根据检测需要，灵活设置每个吸嘴的下压行程参数，使得转运吸嘴421完成对物料的转移。
在本实施例中，第二校正组件43设置有两组，且两组第二校正组件43分别位于换向组件44的左右两侧。转运转盘42转动带动转运吸嘴421同步运动，转运吸嘴421上吸附的物料流转至换向组件44左侧的第二校正组件43，左侧的第二校正组件43对换向前的物料进行位置的校正，增加物料换向的准确度；继而物料进入换向组件44进行换向，换向组件44右侧的第二校正组件43对换向后的物料再次进行物料位置的校正，使得进入编带机构5的物料朝向保持一致。
废料回收组件用于回收不合格的物料。废料回收组件包括吹料支撑板、吹料管451以及物料筐，吹料支撑板与基板11固定连接，吹料管451安装于吹料支撑板上且与吹料支撑板固定连接。吹料管451一端连接用于气体进入的吹气管，另一端安装用于导出不合格物料的收集管，吹料管451的中部位置设置有用于避让转运吸嘴421的避让凹槽，转运转盘42转动，带动转运吸嘴421上不合格的物料位于避让凹槽处，破真空组件322解除转运吸嘴421上的真空状态，吹气管吹出的气体使得不合格的物料通过吹气管进入收集管内，进而通过收集管将不合格的物料汇集于物料框453内。
为了便于物料的取放，物料筐包括收集仓以及收集罩，收集仓用于容置半导体器件，收集罩用于固定收集仓。收集仓具有收集腔，收集腔上端开口，收集仓设置于收集腔内并与收集罩滑移配合。收集罩上端设置有收集入口，收集入口正对收集管的出口。通过将物料筐做成分体式设置，以使得收集罩的拆装更加方便。
参照图6和图7，编带机构5包括载带轨道51、编带组件52、置带组件53以及编带驱动件，置带组件53用于输送料带，载带轨道51用于安装料带，编带驱动件用于驱动载带轨道51上的料带运动，编带组件52用于将物料编进料带。载带轨道51安装于机架1上表面，编带组件52安装于载带轨道51侧壁且位于载带轨道51的上方，置带组件53位于载带轨道51的侧边，编带驱动件安装于载带轨道51上。
载带轨道51具有用于承载转运吸嘴421上物料的进料端511和用于输出完成物料编带的出料端512，进料端511与转运转盘42转动配合。载带轨道51的上表面设置有用于容置料带的输料槽513。在本实施例中，置带组件53位于出料端512，编带组件52位于载带轨道51的正上方。
置带组件53包括物料带卷531、薄膜卷532以及收带卷533，物料带卷531用于放置物料带，薄膜卷532用于放置封装薄膜，收带卷533用于将完成编带的物料以及物料带进行收卷。料带卷、收带卷533以及薄膜卷532均安装于机架1上，料带卷和薄膜卷532位于基板11上端面，收带卷533位于基板11的下端面。
编带驱动件包括编带输送电机、同步带542、第一同步轮543以及第二同步轮544，载带轨道51位于输送电机的上表面，第一同步轮543位于进料端511，第二同步轮544位于出料端512，编带输送电机、第一同步轮543以及第二同步轮544均安装于载带轨道51的侧边。物料带卷531上的物料从第二同步轮544上方进入出料端512，从出料端512进入输料槽513内，进而从进料端511穿出，环绕第一同步轮543收紧于收料带。编带输送电机与第一同步轮543以及第二同步轮544通过同步带542同轴传动，以使得第一同步轮543以及第二同步轮544能够带动物料带进行转动，从而保证该编带机构5能够自动对料带进行传输。
转运吸嘴421上的物料运动至载带轨道51的进料端511，物料置于载带轨道51上的物料带，编带输送电机带动第一同步轮543以及第二同步轮544同轴转动，从而带动输料槽513内的物料带传动，使得转运吸嘴421上的物料通过进料端511运动至编带组件52下方，编带组件52对带有物料的料带进行编带操作，编带完成的物料从出料端512出。不同的物料分别进入对应的载带轨道51，完成不同类型物料的分类编带。
参照图8，为了增强美观性以及减少灰尘的附着，基板11上设置有外罩组件，外罩组件罩设于测试机构3外。
本申请实施例一种LED测试编带一体机的实施原理为：物料通过振动盘21有序的定向排列于上料轨道211，上料吸嘴224从上料轨道211上吸附物料，在上料驱动电机的带动下将物料运送至吸座321；测试转盘32转动，从而将每个吸座321均依次运送至第一校正组件34处进行校正和检测组件处进行光电测试，完成光电测试的物料流转至抓取工位处通过转运吸嘴421流转至转运组件，转运机构4根据物料的光电参数将物料进行归类，对不同类型的物料进行转移；转运转盘42转动带动转运吸嘴421上的物料至第二校正组件43处进行位置校正和换向组件44进行换向，经过换向的物料经由转运吸嘴421运送至载带轨道51的进料端511物料置于载带轨道51上的物料带，将同类型的物料放置于相应的编带组件52中；编带输送电机带动第一同步轮543以及第二同步轮544同轴转动，从而带动输料槽513内的物料带传动，使得转运吸嘴421上的物料通过进料端511运动至编带组件52下方，编带组件52对带有物料的料带进行编带操作，编带完成的物料从出料端512出。不同的物料分别进入对应的载带轨道51，同时完成不同类型物料的分类及编带。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，其中相同的零部件用相同的附图标记表示，需要说明的是，上面描述中使用的词语“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种LED测试编带一体机，其特征在于，包括机架(1)、用于输送物料的上料机构(2)、用于接收所述上料机构(2)的物料并进行光电参数检测的测试机构(3)、用于对检测分类后的物料进行转运及分类的转运机构(4)以及对物料进行编带的编带机构(5)，所述上料机构(2)、测试机构(3)、转运机构(4)以及编带机构(5)依次安装于所述机架(1)；所述转运机构(4)位于所述测试机构(3)的出料侧，所述编带机构(5)设置有两组以上；
所述测试机构(3)包括带动物料流转的测试转盘(32)和用于检测物料光电参数的测试组件(33)，所述测试转盘(32)上周向间隔设置有用于承载物料的吸座(321)，所述测试组件(33)具有用于测试物料的测试工位，所述测试转盘(32)转动使得吸座(321)与测试工位对齐以进行物料检测；
所述测试组件(33)包括接触物料的测试件(331)，所述测试件(331)包括第一连杆(3311)、第二连杆(3312)、安装于所述第一连杆(3311)的第一测试针(3313)、安装于所述第二连杆(3312)的第二测试针(3314)以及测试电机(3316)，测试电机(3316)驱动所述第一连杆(3311)和第二连杆(3312)相向或远离运动，所述第一测试针(3313)与所述第二测试针(3314)相对设置，所述第一测试针(3313)与所述第二测试针(3314)之间具有用于容纳物料的测试通道(3315)，所述测试通道(3315)与所述测试工位对齐；
所述测试机构(3)还包括用于校正物料位置的第一校正组件(34)，所述第一校正组件(34)包括校正安装板(341)、活动校正针(344)以及固定校正针(345)，所述活动校正针(344)和固定校正针(345)均与所述校正安装板(341)滑移配合，且所述活动校正针(344)和所述固定校正针(345)相对设置相互靠近或远离，所述活动校正针(344)与固定校正针(345)之间具有校正通道(346)，所述测试转盘(32)转动使得吸座(321)位于所述校正通道(346)进行物料校正；
所述第一校正组件(34)还包括用于安装有所述活动校正针(344)的第一安装板、用于安装有所述固定校正针(345)的第二安装板、连接第一安装板和第二安装板的第一弹性件(348)以及第一校正电机(349)，所述第一校正电机(349)的输出端设置有第一凸轮(347)，所述第一凸轮(347)位于所述第一安装板和第二安装板之间，所述第一凸轮(347)与第一安装板和第二安装板抵压且可同时驱动第一安装板与第二安装板相对运动以带动活动校正针(344)和固定校正针(345)相互靠近或远离；
所述上料机构(2)包括振动盘(21)和用于抓取物料的抓料组件(22)，所述振动盘(21)设置有上料轨道(211)，所述抓料组件(22)设置有上料支架(221)、上料吸嘴(224)以及上料驱动件，所述上料吸嘴(224)安装于所述上料支架(221)，所述上料驱动件驱动所述上料吸嘴(224)在所述上料轨道(211)和所述吸座(321)之间往复运动以将物料从所述上料轨道(211)运输至所述吸座(321)；
所述抓料组件(22)还包括吸嘴定位块(222)、吸嘴限位块(223)以及用于缓冲的压缩弹簧(225)，吸嘴定位块(222)与上料支架(221)固定连接，吸嘴限位块(223)位于吸嘴定位块(222)上方且与吸嘴定位块(222)固定连接，上料吸嘴(224)同时穿设吸嘴定位块(222)和吸嘴限位块(223)且分别与吸嘴定位块(222)和吸嘴限位块(223)滑移配合，上料吸嘴(224)设置有滑移凹槽，压缩弹簧(225)位于滑移凹槽内且同时处于吸嘴定位块(222)和吸嘴限位块(223)之间；
所述转运机构(4)包括将物料从吸座(321)转运至不同编带机构(5)的转运转盘(42)，所述转运转盘(42)设置有若干用于转运物料的转运吸嘴(421)；所述测试转盘(32)设置有抓取工位，所述转运吸嘴(421)运动至抓取工位时将所述吸座(321)上的物料抓取然后转移至所述编带机构(5)；
所述转运机构(4)还包括用于对检测后的物料进行位置校正的第二校正组件(43)以及用于对物料进行换向的换向组件(44)，所述第二校正组件(43)和所述换向组件(44)位于所述转运转盘(42)的周侧，所述第二校正组件(43)设置有两组，两组所述第二校正组件(43)分别位于所述换向组件(44)的两侧。
2.根据权利要求1所述的一种LED测试编带一体机，其特征在于，编带机构(5)包括用于安装料带的载带轨道(51)、用于将物料编进料带的编带组件(52)、输送料带的置带组件(53)以及用于驱动载带轨道(51)上的料带运动的编带驱动件，所述载带轨道(51)安装于所述机架(1)，所述编带组件(52)位于所述载带轨道(51)上方且与载带轨道(51)对应设置；所述载带轨道(51)具有用于承载所述转运吸嘴(421)上物料的进料端(511)和用于输出完成物料编带的出料端(512)，所述进料端(511)与所述转运转盘(42)转动对接。
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