CN114217208B - 模组测试设备和模组测试设备的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种模组测试设备和模组测试设备的测试方法。模组测试设备用于测试模组组件，模组组件包括模组支架和柔性电路板，模组支架具有用于容置模组的容置区域，柔性电路板与模组支架连接并伸入到容置区域内，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧，模组测试设备包括：测试结构；分拨结构，测试结构位于分拨结构远离模组支架的一侧，分拨结构具有推面，模组支架可拆卸地在分拨结构上，推面与柔性电路板具有模组的一侧抵接，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，以使柔性电路板弯折预设角度后模组裸露，测试结构能够对模组进行测试。本发明解决了现有技术中模组存在测试难的问题。

Description

模组测试设备和模组测试设备的测试方法

技术领域

本发明涉及模组测设技术领域，具体而言，涉及一种模组测试设备和模组测试设备的测试方法。

背景技术

对于单个的模组连接器无遮挡，模组和连接器容易定位，普通的探针治具即可实现探针出图，但是多模组组合类支架模块类产品，无法实现探针连接，只能采用手工转接带扣接的方式连接出图工装，测试难、生产效率低，作业人员投入多，不适合大批量生产。

也就是说，现有技术中模组存在测试难的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种模组测试设备和模组测试设备的测试方法，以解决现有技术中模组存在测试难的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种模组测试设备，模组测试设备用于测试模组组件，模组组件包括模组支架和柔性电路板，模组支架具有用于容置模组的容置区域，柔性电路板与模组支架连接并伸入到容置区域内，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧，模组测试设备包括：测试结构；分拨结构，测试结构位于分拨结构远离模组支架的一侧，分拨结构具有推面，模组支架可拆卸地设置在分拨结构上，推面与柔性电路板具有模组的一侧抵接，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，以使柔性电路板弯折预设角度后模组裸露，测试结构能够对模组进行测试。

进一步地，推面包括：第一推面，模组支架安装到分拨结构上后第一推面与柔性电路板抵接；第二推面，第二推面与第一推面呈角度设置，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时第一推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，第二推面逐渐压接柔性电路板并弯折预设角度。

进一步地，第一推面与第二推面形成的夹角的开口朝向远离模组支架方向。

进一步地，第一推面与第二推面的夹角为钝角。

进一步地，分拨结构包括两个滑轨，两个滑轨间隔设置形成间隔区域，模组支架与两个滑轨滑动连接，滑轨的至少一个端面具有推面。

进一步地，分拨结构还包括连接板，连接板与两个滑轨远离推面的一端连接，连接板和两个滑轨围成的区域为间隔区域。

进一步地，滑轨具有滑槽，模组支架在滑槽内滑动。

进一步地，模组支架、分拨结构和测试结构顺次叠置形成内部结构，模组测试设备还包括框架结构，框架结构包覆在内部结构的外侧。

进一步地，模组测试设备还包括侧压推块，侧压推块可滑动地设置在框架结构上，侧压推块为多个，多个侧压推块分别设置在内部结构的两侧，侧压推块具有夹紧位置和松弛位置，侧压推块位于夹紧位置时，侧压推块与模组支架抵接以夹紧模组支架，侧压推块位于松弛位置时，侧压推块与模组支架间隔设置。

进一步地，模组测试设备还包括压盖，压盖可开闭地设置在框架结构上，压盖朝向框架结构的表面具有多个斜压块，多个斜压块与多个侧压推块一一对应，压盖盖设到框架结构的过程中斜压块推顶侧压推块从松弛位置向夹紧位置运动，以夹紧模组支架。

进一步地，框架结构具有合盖开关，合盖开关与测试结构电连接，压盖朝向框架结构的表面具有开关触发件，侧压推块运动至夹紧位置时，压盖与框架结构盖合到位，开关触发件触发合盖开关发送合盖信号给测试结构，测试结构的探针结构向靠近模组组件的方向运动并对模组进行测试。

进一步地，测试结构包括探针结构和驱动结构，驱动结构设置在探针结构远离模组支架的一侧，驱动结构能够驱动探针结构向靠近模组支架和远离模组支架的方向运动。

进一步地，框架结构的内侧壁具有第一定位结构，探针结构具有与第一定位结构配合的第二定位结构，第一定位结构与第二定位结构配合，以保证探针结构测试的准确性。

进一步地，探针结构包括：探针，探针座，探针座具有板体和定位座，板体具有导入孔，探针设置在导入孔内，定位座位于导入孔的下方，柔性电路板的端面与定位座抵接后形成一次定位后模组伸入到导入孔内与探针配合测试。

进一步地，探针座还包括两个导正块，两个导正块分别位于导入孔两侧且间隔设置形成导入间隔，以将柔性电路板限位在导入间隔处，便于模组伸入到导入孔内。

根据本发明的另一个方面，提供了一种模组测试设备的测试方法，上述的模组测试设备应用模组测试设备的测试方法，模组测试设备的测试方法包括：步骤S10：获取模组组件和模组测试设备，模组组件放置到模组测试设备上；步骤S20：获取分拨结构，分拨结构将模组组件的柔性电路板压弯；步骤S30：模组测试设备合盖对模组组件的模组测试；步骤S40：模组测试设备开盖，模组组件侧向退出模组测试设备。

进一步地，步骤S30包括：获取压盖和框架结构，压盖盖设到框架结构上，斜压块推顶侧压推块从松弛位置向夹紧位置运动，以夹紧模组组件的模组支架；压盖与框架结构盖合到位后，开关触发件触发合盖开关发送合盖信号给测试结构，测试结构的探针结构向靠近模组组件的方向运动并对模组进行测试。

进一步地，步骤S40包括：压盖被打开，探针结构复位，侧压推块从夹紧位置向松弛位置运动，以释放模组组件；模组组件退出模组测试设备。

应用本发明的技术方案，模组测试设备用于测试模组组件，模组组件包括模组支架和柔性电路板，模组支架具有用于容置模组的容置区域，柔性电路板与模组支架连接并伸入到容置区域内，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧，模组测试设备包括测试结构和分拨结构，测试结构位于分拨结构远离模组支架的一侧，分拨结构具有推面，模组支架可拆卸地设置在分拨结构上，推面与柔性电路板具有模组的一侧抵接，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，以使柔性电路板弯折预设角度后模组裸露，测试结构能够对模组进行测试。

模组支架的设置能够为模组提供支撑，柔性电路板能够为模组供电，以便于模组稳定工作，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧以保证模组支架对模组形成保护，避免其他结构件对模组产生干涉，保证了模组工作的稳定性。分拨结构的设置能够暂时固定柔性电路板的状态，以使得模组裸露出来，以便于测试结构对裸露出来的模组进行测试。这样就无需采用人为将柔性电路板掰弯进行测试，使得模组的测试变得简单。在模组组件安装到分拨结构上时，推面就压在柔性电路板上，在模组组件逐渐滑动时，推面进一步压柔性电路板，以使柔性电路板弯折角度变大，直到柔性电路板弯折预设角度后，测试结构对暴露的模组进行测试。这样就大大减少了人力的操作，使得模组的测试变得更加简便。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1示出了本发明的一个可选实施例的模组测试设备的结构示意示意图；以及

图2示出了图1中模组测试设备的工作流程图；

图3示出了图1中模组测试设备的一个角度的视图；

图4示出了图1中模组测试设备的另一个角度的视图；

图5示出了图1中分拨机构与柔性电路板的配合关系示意图；

图6示出了图6中分拨机构将柔性电路板弯折到预设角度后的位置关系示意图；

图7示出了图6中分拨结构的整体结构示意图；

图8示出了图7中分拨结构的一个角度的视图；

图9示出了图7中分拨结构的另一个角度的视图；

图10示出了图1中柔性电路板弯折到预设角度后测试结构与模组组件的位置关系示意图；

图11图10中测试结构的工作流程图；

图12示出了图10中的探针结构的结构示意图；

图13示出了图12中探针结构的一个角度的视图；

图14示出了图12中探针结构与柔性电路板的配合关系示意图；

图15示出了图12中探针结构的另一个角度的视图；

图16示出了图1中模组组件的结构示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、模组支架；11、容置区域；12、隆起部；20、模组；30、柔性电路板；40、测试结构；41、探针结构；411、探针；412、探针座；413、板体；414、导正块；415、导入孔；416、导入间隔；417、定位座；418、第二定位结构；42、驱动结构；50、分拨结构；51、间隔区域；52、推面；521、第一推面；522、第二推面；53、滑轨；531、滑槽；54、连接板；60、框架结构；61、合盖开关；70、侧压推块；80、压盖；81、斜压块；82、开关触发件。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

需要指出的是，除非另有指明，本申请使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

在本发明中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本发明。

为了解决现有技术中模组存在测试难的问题，本发明提供了一种模组测试设备和模组测试设备的测试方法。

如图1至图16所示，模组测试设备用于测试模组组件，模组组件包括模组支架10和柔性电路板30，模组支架10具有用于容置模组20的容置区域11，柔性电路板30与模组支架10连接并伸入到容置区域11内，模组20设置在柔性电路板30朝向容置区域11的一侧，模组测试设备包括测试结构40和分拨结构50，测试结构40位于分拨结构50远离模组支架10的一侧，分拨结构50具有推面52，模组支架10可拆卸地设置在分拨结构50上，推面52与柔性电路板30具有模组20的一侧抵接，在模组支架10向分拨结构50所在一侧滑动时推面52逐渐压接柔性电路板30向远离模组支架10的方向运动，以使柔性电路板30弯折预设角度后模组20裸露，测试结构40能够对模组20进行测试。

模组支架10的设置能够为模组20提供支撑，柔性电路板30能够为模组20供电，以便于模组20稳定工作，模组20设置在柔性电路板30朝向容置区域11的一侧以保证模组支架10对模组20形成保护，避免其他结构件对模组20产生干涉，保证了模组20工作的稳定性。分拨结构50的设置能够暂时柔性电路板30的状态，以使得模组20裸露出来，以便于测试结构40对裸露出来的模组20进行测试。这样就无需采用人为将柔性电路板30掰弯进行测试，使得模组20的测试变得简单。在模组组件安装到分拨结构50上时，推面52就压在柔性电路板30上，在模组组件逐渐滑动时，推面52进一步压柔性电路板30，以使柔性电路板30弯折角度变大，直到柔性电路板30弯折预设角度后，测试结构40对暴露的模组20进行测试。这样就大大减少了人力的操作，使得模组20的测试变得更加简便。

需要说明的是，预设角度小于等于90度，只需要保证测试结构40能够对模组20进行测试即可。

如图16所示，模组支架10具有隆起部12，隆起部12围成的区域为容置区域11，柔性电路板30与容置区域11的侧壁连接并向容置区域11的中心伸出。正是由于模组支架10是隆起状的，在模组支架10和柔性电路板30的作用下将模组20限制在容置区域11内，而测试结构40无法进入容置区域11内对模组20进行测试，才会设计本申请中的模组测试设备将柔性电路板30压弯后让测试结构40对模组20进行测试。

在图16所示的具体实施例中，模组支架10为拱形，且柔性电路板30为两个，两个柔性电路板30由拱形的两端相向伸出。

如图7所示，推面52包括第一推面521和第二推面522，模组支架10安装到分拨结构50上后第一推面521与柔性电路板30抵接；第二推面522与第一推面521呈角度设置，在模组支架10向分拨结构50所在一侧滑动时第一推面521逐渐压接柔性电路板30向远离模组支架10的方向运动，第二推面522逐渐压接柔性电路板30弯折预设角度。第一推面521的设置使得柔性电路板30向远离模组支架10的方向运动，而第二推面522的设置将柔性电路板30外侧运动并弯折预设角度，以使得模组20完全暴露出来，便于测试结构40对模组20进行测试。

在图6所示的具体实施例中，柔性电路板30弯折的预设角度为90度，且两个柔性电路板30在第二推面522的作用下向相背的方向运动。

如图7所示，第一推面521与第二推面522形成的夹角的开口朝向远离模组支架10方向。这样设置在第一推面521和第二推面522过渡的后能够保证第二推面522进一步压柔性电路板30。

如图7所示，第一推面521与第二推面522的夹角为钝角。这样设置在第一推面521和第二推面522过渡后能够保证第二推面522进一步压柔性电路板。

在图7所示的具体实施例中，第一推面521为斜面，由上到下向远离柔性电路板30的一侧倾斜，以便于逐渐压接柔性电路板30，且第一推面521为上小下大的梯形。

如图7所示，分拨结构50包括两个滑轨53，两个滑轨53间隔设置形成间隔区域51，模组支架10与两个滑轨53滑动连接，滑轨53的至少一个端面具有推面52。滑轨53的设置能够便于模组组件在分拨结构50上滑动保证模组组件滑动的稳定性，以便于推面52将柔性电路板30压弯，两个滑轨53间隔设置形成间隔区域51，以便于与柔性电路板30产生干涉，保证推面52对柔性电路板30施加的压力。

如图7和图8所示，分拨结构50还包括连接板54，连接板54与两个滑轨53远离推面52的一端连接，连接板54和两个滑轨53围成的区域为间隔区域51。连接板54用于连接两个滑轨53，以保证两个滑轨53的两个推面52能够同时对两个柔性电路板30进行压接，以便于测试结构40对多个模组20进行同时测试，增加了测试效率。

如图7所示，滑轨53具有滑槽531，模组支架10在滑槽531内滑动。滑槽531的设置可以减少模组支架10与滑轨53脱离的风险，增大了模组组件在滑轨53上滑动的稳定性。

如图1和图3所示，模组支架10、分拨结构50和测试结构40顺次叠置形成内部结构，模组测试设备还包括框架结构60，框架结构60包覆在内部结构的外侧。框架结构60具有测试空间，内部结构容置在测试空间内，而推面52在压柔性电路板30的过程中，柔性电路板30先逐渐向远离模组支架10的方向运动，然后再逐渐向靠近框架结构60的方向运动，直至贴到框架结构60的内侧壁上。

如图1、图3和图4所示，模组测试设备还包括侧压推块70，侧压推块70可滑动地设置在框架结构60上，侧压推块70为多个，多个侧压推块70分别设置在内部结构的两侧，侧压推块70具有夹紧位置和松弛位置，侧压推块70位于夹紧位置时，侧压推块70与模组支架10抵接以夹紧模组支架10，侧压推块70位于松弛位置时，侧压推块70与模组支架10间隔设置。侧压推块70的设置能够将模组支架10夹紧，避免模组支架10错位，保证模组支架10位置的稳定性，进而保证测试结构40对模组20测试的准确性。

如图1和图3所示，模组测试设备还包括压盖80，压盖80可开闭地设置在框架结构60上，压盖80朝向框架结构60的表面具有多个斜压块81，多个斜压块81与多个侧压推块70一一对应，压盖80盖设到框架结构60的过程中斜压块81推顶侧压推块70从松弛位置向夹紧位置运动，以夹紧模组支架10。压盖80的设置能够将模组组件、测试结构40和分拨结构50隐藏在测试空间内，以减少外部环境对测试过程的影响，保证测试结构40测试的准确性。斜压块81的设置能够推顶侧压推块70运动，减少了人工操作。同时在压盖80盖到框架结构60上后，斜压块81始终对侧压推块70有推力，避免侧压推块70向松弛位置运动，使得侧压推块70始终夹持模组支架10。

如图1和图3所示，框架结构60具有合盖开关61，合盖开关61与测试结构40电连接，压盖80朝向框架结构60的表面具有开关触发件82，侧压推块70运动至夹紧位置时，压盖80与框架结构60盖合到位，开关触发件82触发合盖开关61发送合盖信号给测试结构40，测试结构40的探针结构41向间隔区域51内运动并对模组20进行测试。在压盖80盖设到框架结构60上后，合盖开关61被开关触发件82触发给测试结构40发送合盖信号，此时测试结构40进行测试工作。

如图1所示，测试结构40包括探针结构41和驱动结构42，驱动结构42设置在探针结构41远离模组支架10的一侧，驱动结构42能够驱动探针结构41向靠近模组支架10和远离模组支架10的方向运动。驱动结构42与合盖开关61电连接，在合盖开关61被触发后，驱动结构42驱动探针结构41运动，以使得探针结构41能够与模组20接触进行测试。

如图12所示，框架结构60的内侧壁具有第一定位结构，探针结构41具有与第一定位结构配合的第二定位结构418，第一定位结构与第二定位结构418配合，以保证探针结构41测试的准确性。第一定位结构与第二定位结构418的配合能够对探针结构41形成准确定位，保证探针结构41能够对模组20进行准确测量。

具体的，在图12所示的具体实施例中，第二定位结构418为孔结构，且第一定位结构就是框架结构60的内侧壁，而孔结构产生负压吸附在框架结构60的内侧壁上实现定位。

如图12至图15所示，探针结构41包括探针411和探针座412，探针座412具有板体413和定位座417，板体413具有导入孔415，探针411设置在导入孔415内，定位座417位于导入孔415的下方，柔性电路板30的端面与定位座417抵接后形成一次定位后模组20伸入到导入孔415内与探针411配合测试。定位座417的设置对柔性电路板30形成一次定位，然后模组20与导入孔415的对正，以便于模组20准确伸入到导入孔415内。

如图12至图15所示，探针座412还包括两个导正块414，两个导正块414分别位于导入孔415两侧且间隔设置形成导入间隔416，以将柔性电路板30限位在导入间隔416处，便于模组20伸入到导入孔415内。导正块414的设置能够对柔性电路板30形成限位，以将柔性电路板限位在导入间隔416内，保证柔性电路板30与探针座412抵接。

本申请中模组测试设备有两级分拨结构，使得柔性电路板30能够弯折预设角度，增加了测试结构40测试的空间，有利于测试结构40测试，且分拨结构50对柔性电路板30实现了侧压，通过探针结构41的配合，保证了柔性电路板30位置的准确性和稳定性，有利于探针结构41对模组20的探测。本申请中的模组测试设备打破了只能靠手工扣接出图的技术壁垒，探针连接出图完全取代了手工扣接，为融入自动化设备奠定了基础，生产效率提高了86.9％，作业人员减少了25％，同时多模组支架类项目可以采用类似的方案，进行探针测试，增加效率。

该模组测试设备适用于多模组组合的探针定位连接，提升了产品的量产性，解决了该类模组探针出图的行业难题。

具体的，上述的模组测试设备应用模组测试设备的测试方法，模组测试设备的测试方法包括：步骤S10：获取模组组件和模组测试设备，模组组件放置到模组测试设备上；步骤S20：获取分拨结构50，分拨结构50将模组组件的柔性电路板30压弯；步骤S30：模组测试设备合盖对模组组件的模组20测试；步骤S40：模组测试设备开盖，模组组件侧向退出模组测试设备。在对模组组件进行测试时，需要将模组测试设备扣合上，以避免外界环境对模组组件测试的影响。同时在模组测试设备合盖后，模组测试设备能够实现自动对模组组件进行测试，大大简化了测试的流程。

具体的，步骤S30包括：获取压盖80和框架结构60，压盖80盖设到框架结构60上，斜压块81推顶侧压推块70从松弛位置向夹紧位置运动，以夹紧模组组件的模组支架10；压盖80与框架结构60盖合到位后，开关触发件82触发合盖开关61发送合盖信号给测试结构40，测试结构40的探针结构41向靠近模组组件的方向运动并对模组20进行测试。通过压盖80与框架结构60上的结构的配合，实现了压盖80在盖合的过程中，侧压推块70能够将模组组件夹紧，以保证模组组件的位置的稳定性，同时开关触发件82与合盖开关61配合，以使得测试结构40工作，实现了自动测试的工作。真空阀、电磁阀和气缸组合运动以使得探针结构41向靠近模组组件的方向运动并对模组20进行测试。

具体的，步骤S40包括：压盖80被打开，探针结构41复位，侧压推块70从夹紧位置向松弛位置运动，以释放模组组件；模组组件退出模组测试设备。在模组组件测试完成后，打开压盖80后，测试结构40自动复位，以使得用户可以将模组组件从模组测试设备上退出。

显然，上述所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、工作、器件、组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种模组测试设备，其特征在于，所述模组测试设备用于测试模组组件，所述模组组件包括模组支架(10)和柔性电路板(30)，所述模组支架(10)具有用于容置模组(20)的容置区域(11)，所述柔性电路板(30)与所述模组支架(10)连接并伸入到所述容置区域(11)内，所述模组(20)设置在所述柔性电路板(30)朝向所述容置区域(11)的一侧，所述模组支架(10)具有隆起部(12)，所述隆起部(12)围成所述容置区域(11)以将所述模组(20)限制在所述容置区域(11)内，所述模组测试设备包括：

测试结构(40)；

分拨结构(50)，所述测试结构(40)位于所述分拨结构(50)远离所述模组支架(10)的一侧，所述分拨结构(50)具有推面(52)，所述模组支架(10)可拆卸地设置在所述分拨结构(50)上，所述推面(52)与所述柔性电路板(30)具有所述模组(20)的一侧抵接，在所述模组支架(10)向所述分拨结构(50)所在一侧滑动时所述推面(52)逐渐压接所述柔性电路板(30)向远离所述模组支架(10)的方向运动，以使所述柔性电路板(30)弯折预设角度后所述模组(20)裸露，所述测试结构(40)能够对所述模组(20)进行测试。

2.根据权利要求1所述的模组测试设备，其特征在于，所述推面(52)包括：

第一推面(521)，所述模组支架(10)安装到所述分拨结构(50)上后所述第一推面(521)与所述柔性电路板(30)抵接；

第二推面(522)，所述第二推面(522)与所述第一推面(521)呈角度设置，在所述模组支架(10)向所述分拨结构(50)所在一侧滑动时所述第一推面(521)逐渐压接所述柔性电路板(30)向远离所述模组支架(10)的方向运动，所述第二推面(522)逐渐压接所述柔性电路板(30)并弯折预设角度。

3.根据权利要求2所述的模组测试设备，其特征在于，所述第一推面(521)与所述第二推面(522)形成的夹角的开口朝向远离所述模组支架(10)方向。

4.根据权利要求2所述的模组测试设备，其特征在于，所述第一推面(521)与所述第二推面(522)的夹角为钝角。

5.根据权利要求1所述的模组测试设备，其特征在于，所述分拨结构(50)包括两个滑轨(53)，两个所述滑轨(53)间隔设置形成间隔区域(51)，所述模组支架(10)与两个所述滑轨(53)滑动连接，所述滑轨(53)的至少一个端面具有所述推面(52)。

6.根据权利要求5所述的模组测试设备，其特征在于，所述分拨结构(50)还包括连接板(54)，所述连接板(54)与两个所述滑轨(53)远离所述推面(52)的一端连接，所述连接板(54)和两个所述滑轨(53)围成的区域为所述间隔区域(51)。

7.根据权利要求5所述的模组测试设备，其特征在于，所述滑轨(53)具有滑槽(531)，所述模组支架(10)在所述滑槽(531)内滑动。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的模组测试设备，其特征在于，所述模组支架(10)、所述分拨结构(50)和所述测试结构(40)顺次叠置形成内部结构，所述模组测试设备还包括框架结构(60)，所述框架结构(60)包覆在所述内部结构的外侧。

9.根据权利要求8所述的模组测试设备，其特征在于，所述模组测试设备还包括侧压推块(70)，所述侧压推块(70)可滑动地设置在所述框架结构(60)上，所述侧压推块(70)为多个，多个所述侧压推块(70)分别设置在所述内部结构的两侧，所述侧压推块(70)具有夹紧位置和松弛位置，所述侧压推块(70)位于所述夹紧位置时，所述侧压推块(70)与所述模组支架(10)抵接以夹紧所述模组支架(10)，所述侧压推块(70)位于所述松弛位置时，所述侧压推块(70)与所述模组支架(10)间隔设置。

10.一种模组测试设备的测试方法，其特征在于，权利要求1至9中任一项所述的模组测试设备应用所述模组测试设备的测试方法，所述模组测试设备的测试方法包括：

步骤S10：获取模组组件和模组测试设备，所述模组组件放置到所述模组测试设备上；

步骤S20：获取分拨结构(50)，所述分拨结构(50)将所述模组组件的柔性电路板(30)压弯；

步骤S30：所述模组测试设备合盖对所述模组组件的模组(20)测试；

步骤S40：所述模组测试设备开盖，所述模组组件侧向退出所述模组测试设备。