TWI638160B - Gland module, test device with gland module and test classification device thereof - Google Patents

Abstract

一種壓蓋模組及具壓蓋模組之測試裝置，其壓蓋模組係於蓋座之底部設置至少一壓接電子元件之壓接器，並設置具至少一定位件之定位單元，利用定位單元之定位件連結測試裝置之測試模組，而將蓋座定位於測試模組上，以使壓接器獨立均勻壓接該測試模組內之電子元件執行測試作業，於測試完畢後，測試裝置係以移蓋單元將壓蓋模組脫離測試模組，以供移料器取放電子元件；藉此，該壓蓋模組不僅可使電子元件均勻受壓測試，並可供移料器於壓蓋模組之上方直接位移至周圍各測試模組而縮減移載行程，以及易於增設測試模組，達到提升測試品質及生產效能之實用效益。

Description

壓蓋模組、具壓蓋模組之測試裝置及其應用之測試分類設備

本發明係提供一種可使測試模組內之電子元件均勻受壓測試，並縮短移料器之移載行程，以及易於增加測試模組配置數量，進而提升測試品質及生產效能之壓蓋模組、具壓蓋模組之測試裝置及其應用之測試分類設備。

在現今，電子元件(如IC、記憶卡等)於生產過程中均會經歷多道加工製程，業者為確保產品品質，於製作完成後，均會執行測試製程，以淘汰不良品電子元件；請參閱第1、2圖，係為電子元件測試設備之局部示意圖，其係於機台10上配置測試裝置20及移料裝置30，該測試裝置20係設置複數個測試器21A、21B、21C、21D、21E，以測試器21A為例，其具有電性連接之電路板211A及二具探針之測試座212A、213A，各測試座212A、213A係承置及測試電子元件，該測試裝置20另於複數個測試器21A、21B、21C、21D、21E之上方配置複數個壓接機構22A、22B、22C、22D、22E，以壓接機構22A為例，其設置一可作Z方向位移之移動桿221A，該移動桿221A之承架222A底部兩側則裝配二壓測電子元件之壓接器223A、224A；該移料裝置30係配置於測試裝置20之前方，並設有二可作X-Y-Z方向位移之移料器31、32，以於測試裝置20之複數個測試器21A、21B、21C、21D、21E取出已測電子元件及移入待測電子元件；於測試時，該移料裝置30之移料器31係作X-Y-Z方向位移而於測試裝置 20之測試器21A的二測試座212A、213A取出已測之電子元件41A、41B，並以移料器32將待測之電子元件42A、42B移入二測試座212A、213A，接著該測試裝置20之壓接機構22A係以移動桿221A經承架222A帶動二壓接器223A、224A作Z方向位移，令二壓接器223A、224A下壓二測試座212A、213A內待測之電子元件42A、42B執行測試作業；惟，此一測試設備具有以下待改善之處：

1．由於二壓接器223A、224A位於移動桿221A之承架222A兩側，當移動桿221A帶動二壓接器223A、224A壓接待測電子元件42A、42B時，二壓接器223A、224A即會將二待測電子元件42A、42B之反作用力傳導至承架222A，導致承架222A之二端產生彎曲力矩而向上變形，此一變形量即會影響二壓接器223A、224A對二待測電子元件42A、42B的下壓力，以致二待測電子元件42A、42B受力不均，致使其接點無法確實接觸二測試座212A、213A的探針，造成測試品質不佳之缺失。

2．當移動桿221A帶動二壓接器223A、224A壓接待測電子元件42A、42B時，該移動桿221A即佇立於測試器21A之上方，導致二移料器31、32並無法於複數個測試器21A、21B、21C、21D、21E之上方空間直接作X-Y方向位移，而必須先退出測試裝置20，以迴避移動桿221A，再移入測試裝置20內，方可對測試器21B進行取放料作業，不僅增加移料器31、32之作動時序及位移行程，亦增加移載作業時間，造成無法提升移載效能之缺失。

3．當壓接機構22A之移動桿221A帶動二壓接器223A、224A壓接待測電子元件42A、42B時，該移動桿 221A即佇立於測試器21A之上方，導致移料器31、32並無法作Y方向位移至測試器21A之後方，以致測試裝置20僅能配置一列複數個測試器21A、21B、21C、21D、21E，並無法擴增配置第二、三…複數列測試器，造成測試產能受限之缺失。

本發明之目的一，係提供一種壓蓋模組及具壓蓋模組之測試裝置，其壓蓋模組係於蓋座之底部設置至少一壓接電子元件之壓接器，並設置具至少一定位件之定位單元，利用定位單元之定位件連結測試裝置之測試模組，而將蓋座定位於測試模組上，以使壓接器獨立均勻壓接該測試模組內之電子元件執行測試作業，毋須以移動桿帶動壓接器壓測電子元件，而可避免蓋座發生彎曲力矩，使得壓接器確實以預設下壓力壓測電子元件，達到提升測試品質之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種壓蓋模組及具壓蓋模組之測試裝置，其中，該壓蓋模組之蓋座並無固設呈Z方向配置之移動桿，而可使蓋座之上方形成一可供移料器作X-Y方向位移之空間，使得移料器毋須退出測試裝置，即可於壓蓋模組之上方直接位移至周圍各測試模組處執行取放料作業，不僅縮減移料器之作動時序及位移行程，亦縮短移載作業時間，達到提升生產效能之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種壓蓋模組及具壓蓋模組之測試裝置，其中，該壓蓋模組之蓋座上方並無固設呈Z方向配置之移動桿，而可使蓋座之上方形成一可供移料器作X-Y方向位移之空間，使得測試裝置易於擴增配置複數列測試模組，並搭配移料器於複數列測試模組處執行取放料作業，達到易於擴增測試模組數量而提升生產效能之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種壓蓋模組及具壓蓋模組之測試裝置，其中，該壓蓋模組係具有獨立之壓接器而壓接測 試模組之電子元件，該測試裝置係設置具至少一移蓋器之移蓋單元，以於測試模組處取放該壓蓋模組，該移蓋單元之移蓋器毋須配置壓接器，而可減輕負荷，以利迅速位移至不同測試模組處執行取放該壓蓋模組之作業，達到提升使用效能之實用效益。

本發明之目的五，係提供一種應用具壓蓋模組之測試裝置的測試分類設備，其包含機台、供料裝置、收料裝置、本發明具壓蓋模組之測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，該供料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器，該收料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器，該本發明具壓蓋模組之測試裝置係配置於機台上，並設有至少一測試電子元件之測試模組，以及至少一蓋置於測試模組上之壓蓋模組，以及至少一取放壓蓋模組之移蓋單元，該輸送裝置係配置於機台上，並設有至少一移載電子元件之移料器，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

〔習知〕

10‧‧‧機台

20‧‧‧測試裝置

21A、21B、21C、21D、21E‧‧‧測試器

211A‧‧‧電路板

212A、213A‧‧‧測試座

22A、22B、22C、22D、22E‧‧‧壓接機構

221A‧‧‧移動桿

222A‧‧‧承架

223A、224A‧‧‧壓接器

30‧‧‧移料裝置

31、32‧‧‧移料器

41A、41B、42A、42B‧‧‧電子元件

〔本發明〕

50、50A、50B、50C、50D‧‧‧壓蓋模組

51‧‧‧蓋座

511‧‧‧承槽

512‧‧‧第一導接部件

513‧‧‧第一接合部件

514‧‧‧第二導接部件

515、516‧‧‧承滑部

52、53、54、55‧‧‧壓接器

521‧‧‧壓接源

522‧‧‧壓接部件

523‧‧‧溫控件

561‧‧‧壓缸

562‧‧‧傳動件

5621‧‧‧讓位孔

5622、5623‧‧‧導移部

563、564、565、566‧‧‧定位夾具組

5631、5632‧‧‧定位夾具

5633、5634‧‧‧承導部

5635、5636‧‧‧滑移部

60‧‧‧測試裝置

61、61A、61B、61C、61D‧‧‧測試模組

611‧‧‧電路板

612、613、614、615‧‧‧測試座

6121、6122‧‧‧第二接合部件

6123‧‧‧第一對位部件

62‧‧‧移蓋單元

621‧‧‧輸送結構

6211‧‧‧移動桿

622‧‧‧移蓋驅動源

6231、6232‧‧‧移蓋夾具

624‧‧‧第二對位部件

71‧‧‧移料器

72、73、74、75、76‧‧‧電子元件

80‧‧‧機台

90‧‧‧供料裝置

91‧‧‧供料承置器

100‧‧‧收料裝置

1001‧‧‧收料承置器

110‧‧‧輸送裝置

1101‧‧‧第一移料器

1102‧‧‧第一轉載台

1103‧‧‧第二轉載台

1104‧‧‧第二移料器

1105‧‧‧第三移料器

第1圖：習知電子元件測試裝置及移料裝置之使用示意圖(一)。

第2圖：習知電子元件測試裝置及移料裝置之使用示意圖(二)。

第3圖：本發明壓蓋模組之俯視圖。

第4圖：本發明壓蓋模組之側視圖。

第5圖：本發明壓蓋模組之局部剖視圖。

第6圖：本發明壓蓋模組之定位單元開啟作動示意圖(一)。

第7圖：本發明壓蓋模組之定位單元閉合作動示意圖(二)。

第8圖：本發明壓蓋模組應用於測試裝置之配置示意圖(一)。

第9圖：本發明壓蓋模組應用於測試裝置之配置示意圖(二)。

第10圖：本發明壓蓋模組及測試裝置之使用示意圖(一)。

第11圖：本發明壓蓋模組及測試裝置之使用示意圖(二)。

第12圖：本發明壓蓋模組及測試裝置之使用示意圖(三)。

第13圖：本發明壓蓋模組及測試裝置之使用示意圖(四)。

第14圖：本發明壓蓋模組及測試裝置之使用示意圖(五)。

第15圖：本發明壓蓋模組及測試裝置之使用示意圖(六)。

第16圖：本發明壓蓋模組及測試裝置之使用示意圖(七)。

第17圖：本發明具壓蓋模組之測試裝置應用於測試分類設備之示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第3、4、5圖，本發明壓蓋模組50係於一蓋座51裝配有至少一壓接器及定位單元，更包含於蓋座51設有至少一導接部件，於本實施例中，該蓋座51係為一呈Y方向配置之長型座體，並於頂面凹設有承槽511，而底面則設有至少一第一導接部件512，該第一導接部件512可為銷桿或孔，於本實施例中，該第一導接部件512係為銷桿，另於蓋座51之側方設有至少一第一接合部件513，該第一接合部件513可為磁性件或扣槽，於本實施例中，係於蓋座51之兩側設有為扣槽之第一接合部件513，又該蓋座51之承槽511設有至少一第二導接部件514，該第二導接部件514可為銷桿或孔，於本實施例中，該第二導接部件514係為孔；該至少一壓接器係裝配於蓋座51，並設有至少一壓接電子元件之壓接部件，更進一步，該壓接器係設有壓接源，以令壓接部件壓接電子元件，該壓接源可為壓缸或膜片式浮動器或氣囊式浮動器等，該壓接部件可為獨立元件，或以配置於壓接器之溫控器的底部作為壓接部件，於本實施例中，係於蓋座51之底部裝配複數列壓接器52、53、54、55，以壓接器52為例，係具有一為氣囊式浮動器之壓接源521，該壓接源521係連結一壓接部件522，以令壓接部件522下壓電子元件，並使壓接部件522作Z方向浮動位移而防止壓損電子元件，另於壓接器52設置 一溫控件523，該溫控件523可使壓接部件522以預設測試溫度壓接電子元件，使電子元件於模擬預設溫度測試環境下執行測試作業；該定位單元係裝配於蓋座51，並設有至少一定位件，更進一步，該定位件可為夾具或磁性件，以夾持或磁吸物件(如測試模組，圖未示出)，該定位件並可裝配於蓋座51之兩側或底部，該定位件可為固定式，或由至少一定位驅動源驅動作至少一方向位移，該定位驅動源可為壓缸而直接驅動定位件，亦或壓缸搭配至少一傳動件而驅動定位件，本實施例中，該定位單元係於蓋座51之承槽511配置有定位驅動源，該定位驅動源係具有一壓缸561，該壓缸561連結驅動一為片體之傳動件562作線性位移，該傳動件562係於相對應蓋座51之第二導接部件514位置設有讓位孔5621，另於蓋座51之兩側且相對複數列壓接器52、53、54、55之位置設有複數列定位件組，該複數列定位件組係為定位夾具組563、564、565、566，以定位夾具組563為例，其二定位夾具5631、5632係位於壓接器52之兩側，並與傳動件562間設有相互配合之導移部及承導部，於本實施例中，係於傳動件562設有二斜向配置且為導槽之導移部5622、5623，以及於二夾具5631、5632設有二為桿體之承導部5633、5634，二承導部5633、5634並插置於二導移部5622、5623，以令傳動件562經由二導移部5622、5623及二承導部5633、5634帶動二定位夾具5631、5632位移而夾持或釋放物件(如測試模組)，使蓋座51定位或脫離物件，另於二定位夾具5631、5632與蓋座51之間設有滑移部及承滑部，於本實施例中，係於蓋座51之兩側開設可為孔洞之承滑部515、516，以及於二定位夾具5631、5632設有二為桿體之滑移部5635、5636，二滑移部5635、5636並滑置於二承滑部515、516，使二定位夾具5631、5632可平穩開合啟閉。

請參閱第3、6圖，當定位單元之壓缸561驅動該傳動件562於蓋座51之承槽511作線性位移時，該傳動件562即帶動複數列定位夾具組563、564、565、566同步開啟，以定位夾具組563為例，該傳動件562係以二導移部5622、5623導引二定位夾具5631、5632之承導部5633、5634滑移，令二承導部5633、5634帶動二定位夾具5631、5632向外位移，二定位夾具5631、5632並利用二滑移部5635、5636沿蓋座51之二承滑部515、516平穩位移而呈開啟狀態，使二定位夾具5631、5632釋放物件(如測試模組，圖未示出)，進而使蓋座51脫離物件；反之，請參閱第3、7圖，當壓缸561驅動該傳動件562於蓋座51之承槽511作線性反向位移時，該傳動件562即帶動複數個定位夾具組563、564、565、566同步閉合，以定位夾具組563為例，該傳動件562係以二導移部5622、5623導引二定位夾具5631、5632之承導部5633、5634作反向滑移，令二承導部5633、5634帶動二定位夾具5631、5632向內位移，二定位夾具5631、5632並利用二滑移部5635、5636沿蓋座51之二承滑部515、516平穩位移而呈閉合狀態，使二定位夾具5631、5632勾扣物件(如測試模組，圖未示出)，將蓋座51定位於物件上。

請參閱第4、8、9圖，係本發明壓蓋模組50應用於測試裝置60之配置示意圖，該測試裝置60係設置至少一測試模組，以測試電子元件，該測試模組係設置電性連接之電路板及測試座，該測試座並設有提供該定位單元之定位件連結定位之第二接合部件，該第二接合部件可為磁性件或扣槽，於本實施例中，該測試裝置60係設置複數排測試模組61、61A、61B、61C、61D，複數排測試模組61、61A、61B、61C、61D並搭配複數排壓蓋模組50、50A、50B、 50C、50D，以該測試模組61為例，其係於一電路板611上相對應該壓蓋模組50之複數列壓接器52、53、54、55位置電性連接複數列測試座612、613、614、615，以測試座612為例，其係承置及測試電子元件，並於兩側設有可為扣槽且供二定位夾具5631、5632勾扣連結定位之二第二接合部件6121、6122，該測試座612係於相對應蓋座51之第一導接部件512位置設有第一對位部件6123，該第一對位部件6123可為銷桿或孔，於本實施例中，該第一對位部件6123係為孔，另該測試裝置60係設置具至少一移蓋器之移蓋單元62，該移蓋器係作至少一方向位移，而將壓蓋模組50放置於測試模組上，以及於測試模組處取出壓蓋模組50，更進一步，該移蓋器可為夾具或磁性件，以夾持或磁吸壓蓋模組50之蓋座51，該移蓋單元62係設有輸送結構621以輸送至少一移蓋器位移，於本實施例中，該輸送結構621係以一移動桿6211帶動該移蓋器作X-Y-Z方向位移，該移蓋器係為一移蓋夾具組，並由移蓋驅動源622控制啟閉，該移蓋夾具組之二移蓋夾具6231、6232可夾取或釋放壓蓋模組50，另該移蓋器62係於相對應蓋座51之第二導接部件514處設置第二對位部件624，該第二對位部件624可為銷桿或孔，於本實施例中，該第二對位部件624係為銷桿；再者，該壓蓋模組50之定位單元係設有至少一定位驅動源，以驅動該定位件作至少一方向位移，該定位驅動源係裝配於該蓋座51或該移蓋單元62。

請參閱第10、11圖，於執行測試裝置60之複數排測試模組61、61A、61B、61C、61D的入料作業時，以測試模組61為例，該移蓋單元62係以移蓋驅動源622驅動二移蓋夾具6231、6232夾扣於該壓蓋模組50之蓋座51的第一接合部件513，使該壓蓋模組50位於複數列測試座612、613、614、615之上方，由於壓蓋模 組50與複數列測試座612、613、614、615之間並無佇立有桿體，使得複數列測試座612、613、614、615之上方形成一可供移料器71作X-Y方向位移之空間，該移料器71即可作Y-Z方向位移將複數個待測之電子元件72、73、74、75分別移入複數列測試座612、613、614、615，並於完成入料作業後退出測試模組61。

請參閱第7、12、13、14圖，接著該移蓋單元62係以輸送結構621之移動桿6211帶動二移蓋夾具6231、6232及壓蓋模組50作Z方向向下位移，該壓蓋模組50之蓋座51係以第一導接部件512對位插接於測試座612之第一對位部件6123，其他各第一導接部件亦插接於相對應之測試座的第一對位部件，使蓋座51準確置放於測試模組61之複數列測試座612、613、614、615上，並令複數列壓接器52、53、54、55壓抵複數列測試座612、613、614、615內之複數個待測電子元件72、73、74、75，該移蓋單元62再以移蓋驅動源622控制二移蓋夾具6231、6232釋放壓蓋模組50，並以輸送結構621之移動桿6211帶動二移蓋夾具6231、6232作Z方向向上位移而脫離壓蓋模組50；接著該壓蓋模組50之壓缸561係驅動該傳動件562作線性位移，該傳動件562即以複數列導移部帶動複數列定位件組位移作動而夾扣複數列測試座612、613、614、615，以傳動件562之二導移部5622、5623為例，於壓缸561驅動該傳動件562作Y方向向後位移時，該傳動件562之二導移部5622、5623即頂抵二定位夾具5631、5632之承導部5633、5634位移，令二定位夾具5631、5632作X方向向內位移，並利用二定位夾具5631、5632之滑移部5635、5636沿蓋座51之承滑部515、516滑移，使二定位夾具5631、5632平穩位移，並夾扣於測試座612之二第 二接合部件6121、6122定位。

請參閱第12、14圖，該壓蓋模組50之複數列壓接器52、53、54、55即壓抵複數列待測電子元件72、73、74、75執行測試作業，以壓接器52為例，其係以壓接源521驅動壓接部件522作Z方向向下位移而下壓電子元件72，壓接部件522於承受電子元件72之反作用力時，係將此一反作用力向上傳導至蓋座51及二定位夾具5631、5632，並由二定位夾具5631、5632分散反作用力，不僅可避免壓接部件522過壓電子元件72，亦可使二定位夾具5631、5632更加確實勾扣於測試座612之二第二接合部件6121、6122定位，該壓接器52再利用溫控件523使壓接部件522以預設測試溫度壓接電子元件72，使電子元件72於模擬預設溫度測試環境下執行測試作業；因此，該壓蓋模組50並非利用移動桿帶動複數個壓接器壓接複數個電子元件，可防止複數個壓接器因移動桿之承架產生彎曲力矩而導致施力不均的情況，本發明之複數列壓接器52、53、54、55均設有獨立之壓接源，以令壓接部件壓接電子元件，使得複數列待測電子元件72、73、74、75可均勻受力而執行測試作業。

請參閱第12、15圖，於壓蓋模組50之複數列壓接器52、53、54、55壓抵測試模組61上之複數列待測電子元件72、73、74、75執行測試作業時，由於另一壓蓋模組50A之上方亦無佇立桿體，使得移蓋單元62可利用輸送結構621之移動桿6211帶動二移蓋夾具6231、6232直接作X-Z方向位移，而於另一測試模組61A處取出另一壓蓋模組50A，以供移料器71亦可於另一測試模組61A之上方直接作X-Z方向位移，以取出另一測試模組61A內已測之電子元件76，使得移料器71毋須移出測試裝置60，即可執行取放料作業，不僅縮減移料器71之作動時序及位移行 程，亦縮短移載作業時間，達到提升生產效能之實用效益。

請參閱第6、9、16圖，於完成複數列電子元件72、73、74、75之測試作業，該壓蓋模組50之定位單元的複數列定位件組即釋放複數列測試座612、613、614、615，即該定位單元之壓缸561係驅動該傳動件562作Y方向向前位移，該傳動件562之二導移部5622、5623即頂抵二定位夾具5631、5632之承導部5633、5634位移，令二定位夾具5631、5632作X方向向外位移，使二定位夾具5631、5632釋放測試座612之二第二接合部件6121、6122，接著該移蓋單元62係以輸送結構621之移動桿6211帶動二移蓋夾具6231、6232作Z方向向下位移，並以移蓋驅動源622控制二移蓋夾具6231、6232勾扣於壓蓋模組50之第一接合部件513，該輸送結構621之移動桿6211再帶動二移蓋夾具6231、6232夾持該壓蓋模組50作Z方向向上位移，使壓蓋模組50脫離測試模組61，以供移料器71作Y方向位移而於複數列測試座612、613、614、615逐一取出已測之電子元件72、73、74、75。

請參閱第3、4、5、8、9、17圖，係本發明具壓蓋模組50之測試裝置60應用於電子元件測試分類設備之示意圖，該測試分類設備包含機台80、供料裝置90、收料裝置100、本發明具壓蓋模組50之測試裝置60、輸送裝置110及中央控制裝置(圖未示出)，該供料裝置90係裝配於機台80上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器91；該收料裝置100係裝配於機台80上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器1001；該測試裝置60係裝配於機台80上，並設有至少一測試模組61、移蓋單元62及至少一壓蓋模組50，以測試電子元件，於本實施例中，係於機台80之二側並呈對向設置有二測試裝置60，各測試裝置60係設置複數 排測試模組61、61A、61B、61C、61D及移蓋單元62及複數排壓蓋模組50、50A、50B、50C、50D，以測試電子元件；該輸送裝置110係裝配於機台80上，並設有至少一移載電子元件之移料器，於本實施例中，該輸送裝置110之第一移料器1101係於供料裝置90之供料承置器91取出待測之電子元件，並移載至第一轉載台1102及第二轉載台1103，第一轉載台1102及第二轉載台1103載送待測之電子元件至換料位置，以供第二移料器1104及第三移料器1105取料，第二移料器1104及第三移料器1105再分別將待測之電子元件移載至二測試裝置60而執行測試作業，並將二測試裝置60已測之電子元件移載至第一轉載台1102及第二轉載台1103，第一移料器1101係於第一轉載台1102及第二轉載台1103取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置100之收料承置器1001而分類收置，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

Claims (10)

1. 一種壓蓋模組，包含：蓋座；至少一壓接器：係裝配於該蓋座之底部，並設有至少一壓接電子元件之壓接部件；定位單元：係裝配於該蓋座，並於該蓋座配置有定位驅動源，另於該蓋座之兩側且相對該壓接器之位置設有定位夾具組，該定位夾具組係具有二定位夾具，該定位驅動源係帶動該二定位夾具位移而開合啟閉。
2. 依申請專利範圍第1項所述之壓蓋模組，其中，該定位單元之定位驅動源係具有壓缸，該壓缸連結驅動至少一傳動件位移，該傳動件係帶動該定位夾具組之二定位夾具位移。
3. 依申請專利範圍第2項所述之壓蓋模組，其中，該傳動件係設有二斜向配置且為導槽之導移部，於該二定位夾具則設有二為桿體之承導部，該二承導部並分別插置於該二導移部，以令該傳動件經由該二導移部及該二承導部帶動該二定位夾具位移。
4. 依申請專利範圍第1項所述之壓蓋模組，其中，該蓋座之底部係設有至少一第一導接部件。
5. 依申請專利範圍第1項所述之壓蓋模組，其中，該蓋座之側方係設有至少一第一接合部件。
6. 依申請專利範圍第1項所述之壓蓋模組，其中，該壓接器係設有壓接源，以令該壓接部件壓接電子元件。
7. 一種具壓蓋模組之測試裝置，包含：至少一測試模組：係設有電性連接之電路板及至少一測試座，以對電子元件執行測試作業；至少一依申請專利範圍第1項所述之壓蓋模組：係以該定位夾具組之二定位夾具連結或釋放該測試模 組；移蓋單元：係設有至少一移蓋器，該移蓋器係作至少一方向位移而取放該壓蓋模組。
8. 依申請專利範圍第7項所述之具壓蓋模組之測試裝置，其中，該移蓋單元係設有輸送結構以輸送至少一該移蓋器位移，並設有至少一移蓋驅動源以控制該移蓋器啟閉。
9. 依申請專利範圍第7項所述之具壓蓋模組之測試裝置，其中，該移蓋單元之移蓋器係為一移蓋夾具組，該移蓋夾具組係具有二移蓋夾具，該移蓋驅動源係控制該二移蓋夾具啟閉，以夾取或釋放該壓蓋模組。
10. 一種應用具壓蓋模組之測試裝置的測試分類設備，包含：機台；供料裝置：係裝配於該機台，並設有至少一容納待測電子元件的供料承置器；收料裝置：係裝配於該機台，並設有至少一容納已測電子元件的收料承置器；至少一依申請專利範圍第7項所述之具壓蓋模組之測試裝置：係對電子元件執行預設測試作業；輸送裝置：係裝配於該機台，並設有至少一移載電子元件之移料器；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，而執行自動化作業。