TWI764518B - 壓接機構及其應用之測試設備 - Google Patents
壓接機構及其應用之測試設備Info
- Publication number
- TWI764518B TWI764518B TW110101612A TW110101612A TWI764518B TW I764518 B TWI764518 B TW I764518B TW 110101612 A TW110101612 A TW 110101612A TW 110101612 A TW110101612 A TW 110101612A TW I764518 B TWI764518 B TW I764518B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- tool
- electronic components
- crimping
- drive
- testing
- Prior art date
Links
Images
Abstract
一種壓接機構，包含架置單元、驅動單元及壓接器，架置單元之機架供裝配驅動單元，驅動單元之馬達經主動具驅動第一被動具及第二被動具，第一被動具及第二被動具分別傳動一位於機架第一側之第一傳動具及另一位於機架第二側之第二傳動具，第一傳動具及第二傳動具帶動壓接器兩端之第一連接部及第二連接部同步位移，使壓接器保持平衡沿壓接軸向位移，並以複數個壓接具施力平均執行電子元件壓接作業，進而提高壓接使用效能。
Description
本發明提供一種使壓接器施力平均執行電子元件壓接作業，而提高壓接使用效能之壓接機構。
在現今，測試設備為確保一批次複數個電子元件之接點與複數個測試座之探針作有效接觸，遂以壓接機構之壓接器以預設下壓力下壓複數個電子元件，使電子元件於測試座執行測試作業；請參閱圖1，目前測試設備於機台11設置複數個具探針之測試座12，以供承置及測試一批次複數個電子元件13，一位於測試座12上方之壓接機構，其於機架141架置馬達142，馬達142經皮帶輪組143而驅動一呈Z軸向配置之螺桿144，螺桿144螺合於壓接器145中央部位配置之螺座146，以帶動壓接器145作Z軸向位移，壓接器145以複數個壓接具1451下壓複數個電子元件13於複數個測試座12執行測試作業；惟，螺桿144螺合於壓接器145之中央部位，而使壓接器145之兩端形成自由端，導致壓接器145作Z軸向位移時，其兩自由端會產生偏擺，以致複數個壓接具1451無法以相同之預設下壓力下壓複數個電子元件13，致使複數個電子元件13受力不均，進而影響測試品質。
本發明之目的一，提供一種壓接機構，包含架置單元、驅動單元及壓接器，架置單元之機架供裝配驅動單元，驅動單元之馬達連接一主動具，主動具傳動第一被動具及第二被動具，第一被動具及第二被動具分別傳動一位於機架第一側之第一傳動具及另一位於機架第二側之第二傳動具，壓接器兩端之第一連接部及第二連接部可作壓接軸向位移地連接於第一傳動具及第二傳動具，壓接器並設有複數個壓接具，以供下壓複數個電子元件；藉以驅動單元帶動壓接器保持平衡沿壓接軸向位移，使複數個壓接具施力平均執行電子元件壓接作業，進而提高壓接使用效能。
本發明之目的二，提供一種測試設備，包含機台、供料裝置、收料裝置、測試裝置、本發明壓接機構及中央控制裝置，供料裝置配置於機台，並設有至少一供料容置器，以供容置至少一待測電子元件；收料裝置配置於機台，並設有至少一收料容置器，以供容置至少一已測電子元件；測試裝置配置於機台，並設有測試機構、輸送機構及本發明壓接機構，以供輸送、壓接及測試電子元件；中央控制裝置以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。
11:機台
12:測試座
13:電子元件
141:機架
142:馬達
143:皮帶輪組
144:螺桿
145:壓接器
1451:壓接具
146:螺座
21:機架
211:頂板
212:側板
213:通道
214:測試空間
221:馬達
222:主動具
2221:第一主驅部件
2222:第二主驅部件
2231:第一被動具
2232:第二被動具
2241:第一皮帶
2242:第二皮帶
2251:第一中介具
2252:第二中介具
2261:第一傳動具
2262:第二傳動具
A:壓接軸向
23:壓接器
231:第一連接部
232:第二連接部
233:壓接具
241:溫控件
242:流體輸送管
30:機台
40:測試裝置
411:電路板
412:測試座
421:第一拾取具
422:第一載台
423:第二載台
424:第二拾取具
43:取像器
50:供料裝置
51:供料容置器
60:收料裝置
61:收料容置器
圖1：習知壓接機構之示意圖。
圖2：本發明壓接機構之俯視圖。
圖3：本發明壓接機構之前視圖。
圖4：本發明壓接機構應用於測試裝置之使用示意圖(一)。
圖5：本發明壓接機構應用於測試裝置之使用示意圖(二)。
圖6：本發明壓接機構應用於測試裝置之使用示意圖(三)。
圖7：本發明壓接機構應用於測試裝置之使用示意圖(四)。
圖8：本發明壓接機構應用於第一實施例測試設備之示意圖。
圖9：本發明壓接機構應用於第二實施例測試設備之示意圖。
圖10：本發明第二實施例測試設備之局部示意圖。
為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：
請參閱圖2、3，本發明之壓接機構包含架置單元、驅動單元及壓接器；更包含溫控單元。
架置單元設有機架21，更進一步，機架21可視作業需求，而具有一開放空間或具通道之封閉空間；於本實施例，機架21包含頂板211及四周側板212，並於其一側板212設有通道213，機架21架置於機台30，而使內部形成一測試空間214。
驅動單元裝配於機架21，並設有馬達221直結式連接主動具222；更進一步，主動具222可直接螺固於馬達221之轉軸，或者以聯軸器直接連結馬達221之轉軸，主動具222可為皮帶輪或齒輪，主動具222設有第一主驅部件2221及第二主驅部件2222，第一主驅部件2221及第二主驅部件2222可為二個獨立構件或者一體成型；於本實施例，主動具222為皮帶輪，並一體成型設有一位於上方之第一主驅部件2221，以及另一位於第一主驅部件2221下方之第二主驅部件2222，主動具222直接螺固於馬達221之轉軸。
主動具222傳動第一被動具2231及第二被動具2232同步轉動，更進一步，第一被動具2231及第二被動具2232可為皮帶輪或齒輪；於本實施例，
第一被動具2231為皮帶輪，並位於機架21之頂板211的第一側，第一被動具2231以第一皮帶2241連接主動具222之第一主驅部件2221；另於第一被動具2231與第一主驅部件2221之間配置至少一第一中介具2251，以輔助傳動；更進一步，第一中介具2251可為皮帶輪或齒輪，於本實施例，複數個為皮帶輪之第一中介具2251配置於第一被動具2231與第一主驅部件2221之間；第二被動具2232為皮帶輪，並位於頂板211相對於第一側之第二側，第二被動具2232以第二皮帶2242連接主動具222之第二主驅部件2222；另於第二被動具2232與第二主驅部件2222之間配置至少一第二中介具2252，以輔助傳動；更進一步，第二中介具2252可為皮帶輪或齒輪，於本實施例，複數個為皮帶輪之第二中介具2252配置於第二被動具2232與第二主驅部件2222之間。
第一被動具2231及第二被動具2232分別傳動一位於機架21第一側之第一傳動具2261及另一位於機架21第二側之第二傳動具2262，更進一步，第一傳動具2261及第二傳動具2262可為螺桿螺座組或齒輪齒條組，於本實施例，第一傳動具2261及第二傳動具2262為螺桿螺座組，第一傳動具2261配置於機架21之第一側，並呈壓接軸向A配置，第一傳動具2261以第一螺桿之一端連結第一被動具2231，而由第一被動具2231驅動旋轉，使第一螺座沿第一螺桿位移；第二傳動具2262配置於機架21之第二側，並呈壓接軸向配置，第二傳動具2262以第二螺桿之一端連結第二被動具2232，而由第二被動具2232驅動旋轉，使第二螺座沿第二螺桿位移。
壓接器23以兩端之第一連接部231及第二連接部232可作壓接軸向A位移地分別連接第一傳動具2261及第二傳動具2262，壓接器23設有至少一壓接具，以供壓接電子元件；於本實施例，壓接器23第一端之第一連接部231連接於
第一傳動具2261之第一螺座，壓接器23第二端之第二連接部232連接於第二傳動具2262之第二螺座，使壓接器23裝配於第一傳動具2261及第二傳動具2262之間，且位於機架21之測試空間214，而供第一傳動具2261及第二傳動具2262同步驅動壓接器23沿壓接軸向A位移；又壓接器23之底部裝配複數個壓接具233，壓接具233可視作業需求，而壓接電子元件，或者壓接和移載電子元件；於本實施例，壓接具233可供執行壓接和移載電子元件之作業。
溫控單元於壓接器23設有至少一溫控件241，以供溫控電子元件，更進一步，溫控件241可為加熱件、致冷晶片或具流體之座體，於本實施例，溫控件241為致冷晶片；又溫控單元於機架21之測試空間214設置至少一流體輸送管242，流體輸送管242輸送乾燥空氣至測試空間214，以降低測試空間214之露點而防止結露。
請參閱圖4，本發明壓接機構應用於測試裝置40，測試裝置40配置於機台30，包含測試機構、輸送機構、本發明壓接機構及取像機構。
測試機構配置於機台30，並設有至少一測試器，以供測試電子元件；測試器具有電性連接之電路板411及測試座412，測試座412具有複數支探針，並供承置及測試電子元件；輸送機構配置於機台30，並設有至少一輸送器，以供輸送電子元件；於本實施例，輸送機構設有一為第一拾取具421之第一輸送器，以移載電子元件，並設有一為第一載台422之第二輸送器，以供第一拾取具421取放電子元件，第一載台422將待測電子元件移入壓接機構之測試空間214，以及將已測電子元件移出測試空間214；本發明壓接機構配置於測試機構之上方，以供測試器位於機架21之測試空間214，並以通道213供第一載台422移入或移出測試空間214，壓接器23之複數個壓接具233相對於測試機構之複數個測試座
412，以供於第一載台422與測試座412間移載電子元件，並供壓接電子元件執行測試作業；取像機構配置於機台30，並設有至少一取像器43，以供取像測試座412及電子元件；更進一步，取像器43連接一處理器(圖未示出)，將取像資料傳輸至處理器，處理器判別電子元件之接點與測試座412之探針是否對位。
請參閱圖5，第一拾取具421將複數個待測之電子元件移入第一載台422，第一載台422將待測之電子元件輸送至壓接機構之測試空間214，並位於壓接器23之下方，使複數個電子元件對應於壓接器23之複數個壓接具233，壓接機構以馬達221驅動主動具222轉動，主動具222以第一主驅部件2221及第二主驅部件2222分別驅動第一皮帶2241及第二皮帶2242，令第一皮帶2241及第二皮帶2242傳動第一被動具2231及第二被動具2232同步轉動，第一被動具2231及第二被動具2232分別帶動一位於機架21第一側之第一傳動具2261及另一位於機架21第二側之第二傳動具2262同步轉動，由於第一傳動具2261及第二傳動具2262連接於壓接器23兩端之第一連接部231及第二連接部232，而使壓接器23兩端之第一連接部231及第二連接部232承受相同之驅動力道，於第一傳動具2261及第二傳動具2262帶動壓接器23之第一連接部231及第二連接部232同步位移時，使得壓接器23保持平衡沿壓接軸向A向下位移，壓接器23以複數個壓接具233於第一載台422取出複數個待測之電子元件。
請參閱圖6、7，於壓接器23之複數個壓接具233取出複數個待測之電子元件後，第一載台422移出測試空間214，取像機構之取像器43移入測試空間214，並位於壓接器23與測試座412之間，以取像電子元件及測試座412，並將取像資料傳輸至處理器以供判別；於取像完畢後，取像機構之取像器43復位，壓接機構以馬達221驅動主動具222轉動，主動具222以第一主驅部件2221及第
二主驅部件2222分別驅動第一皮帶2241及第二皮帶2242，令第一皮帶2241及第二皮帶2242傳動第一被動具2231及第二被動具2232同步轉動，第一被動具2231及第二被動具2232分別帶動位於機架21第一側及第二側之第一傳動具2261及第二傳動具2262同步轉動，第一傳動具2261及第二傳動具2262帶動壓接器23保持平衡沿壓接軸向A向下位移，將複數個待測電子元件移入複數個測試座412，於壓接器23保持平衡位移之作動下，使得複數個壓接具233施力平均下壓複數個待測電子元件，以確保複數個電子元件之接點確實接觸複數個測試座412之探針，再利用溫控件241使複數個待測電子元件於預設測試溫度環境執行測試作業，進而提高測試品質。
請參閱圖2~7、8，本發明第一實施例之測試設備，包含機台30、具本發明壓接機構之測試裝置40、供料裝置50、收料裝置60及中央控制裝置(圖未示出)。供料裝置50配置於機台30，並設有至少一供料容置器51，以供容置至少一待測電子元件，於本實施例，供料裝置50由機台30之前段部朝向後段部輸送具複數個待測電子元件之供料容置器51；收料裝置60配置於機台30，並設有至少一收料容置器61，以供容置至少一已測電子元件，於本實施例，收料裝置60由機台30之後段部朝向前段部輸送具複數個已測電子元件之收料容置器61；中央控制裝置以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業；然測試裝置40及本發明壓接機構之設計及作動如上所述，需補充說明的是，測試裝置40以第一拾取具421於供料裝置50取出待測電子元件，並移載第一載台422，於測試完畢，第一拾取具421依測試結果，將已測電子元件移載至收料裝置60收置分類。
請參閱圖2~7、9、10，本發明第二實施例之測試設備，包含有相同第一實施例測試設備之機台30、具本發明壓接機構之測試裝置40、供料裝置
50、收料裝置60及中央控制裝置(圖未示出)，因此不再贅述；本發明第二實施例與第一實施例之差異在於測試裝置40之輸送機構更包含第三輸送器及第四輸送器，第三輸送器載出已測電子元件，第四輸送器於第三輸送器及收料裝置60間移載已測電子元件；於本實施例，第一拾取具421將待測電子元件移入第一載台422，第一載台422將待測電子元件載入測試空間214，於測試完畢，一為第二載台423之第三輸送器載出已測電子元件，一為第二拾取具424之第四輸送器於第二載台423取出已測電子元件，並移載至收料裝置60收料。
21:機架
211:頂板
212:側板
213:通道
214:測試空間
221:馬達
222:主動具
2221:第一主驅部件
2222:第二主驅部件
2231:第一被動具
2232:第二被動具
2241:第一皮帶
2242:第二皮帶
2251:第一中介具
2252:第二中介具
2261:第一傳動具
2262:第二傳動具
A:壓接軸向
23:壓接器
231:第一連接部
232:第二連接部
233:壓接具
241:溫控件
242:流體輸送管
30:機台
Claims (10)
- 一種壓接機構，包含：架置單元：設置機架；驅動單元：裝配於該機架，並設置馬達直結式驅動一主動具，該主動具連接傳動第一被動具及第二被動具同步轉動，該第一被動具及該第二被動具分別連接傳動一位於該機架第一側之第一傳動具及另一位於該機架第二側之第二傳動具，使該第一傳動具及該第二傳動具同步轉動；壓接器：以第一連接部及第二連接部可作壓接軸向位移地分別連接於該第一傳動具及該第二傳動具，並設有至少一壓接具，該壓接器之該第一連接部及該第二連接部以供該第一傳動具及該第二傳動具帶動同步位移，使該壓接具作該壓接軸向位移而均勻施力下壓電子元件。
- 如請求項1所述之壓接機構，其中，該驅動單元之該主動具設有第一主驅部件及第二主驅部件，該第一主驅部件及該第二主驅部件分別連接傳動該第一被動具及該第二被動具。
- 如請求項1所述之壓接機構，其中，該驅動單元之該主動具與該第一被動具之間配置至少一第一中介具，該主動具與該第二被動具之間配置至少一第二中介具。
- 如請求項1所述之壓接機構，其中，該壓接器之該壓接具作壓接電子元件，或者壓接和移載電子元件。
- 如請求項1所述之壓接機構，更包含溫控單元，該溫控單元於該壓接器設有至少一溫控件，以供溫控電子元件。
- 如請求項5所述之壓接機構，其中，該溫控單元於該機架設置至少一流體輸送管，該流體輸送管輸送乾燥空氣至該架置單元之該機架內部之測試空間。
- 一種測試設備，包含：機台；供料裝置：配置於該機台，並設有至少一供料容置器，以供容置至少一待測電子元件；收料裝置：配置於該機台，並設有至少一收料容置器，以供容置至少一已測電子元件；測試裝置：配置於該機台，並設有測試機構、輸送機構及至少一如請求項1所述之壓接機構，該測試機構設有至少一測試器，以供測試電子元件，該輸送機構設有至少一輸送器，以供輸送電子元件；中央控制裝置：以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。
- 如請求項7所述之測試設備，其中，該輸送機構設有第一輸送器及第二輸送器，該第一輸送器以供取出該供料裝置之電子元件，該第二輸送器以供該第一輸送器移入電子元件，並輸送電子元件至該壓接器下方。
- 如請求項8所述之測試設備，其中，該輸送機構設置第三輸送器及第四輸送器，該第三輸送器輸出已測電子元件，該第四輸送器於該第三輸送器及該收料裝置間移載已測電子元件。
- 如請求項7所述之測試設備，其中，該測試裝置更包含取像機構，該取像機構設有至少一取像器，以供取像該測試器及電子元件。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW110101612A TWI764518B (zh) | 2021-01-15 | 2021-01-15 | 壓接機構及其應用之測試設備 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW110101612A TWI764518B (zh) | 2021-01-15 | 2021-01-15 | 壓接機構及其應用之測試設備 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWI764518B true TWI764518B (zh) | 2022-05-11 |
| TW202229903A TW202229903A (zh) | 2022-08-01 |
Family
ID=82594149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW110101612A TWI764518B (zh) | 2021-01-15 | 2021-01-15 | 壓接機構及其應用之測試設備 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWI764518B (zh) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005121739A1 (ja) * | 2004-06-08 | 2005-12-22 | Advantest Corporation | イメージセンサ用試験装置 |
| WO2006114836A1 (ja) * | 2005-04-07 | 2006-11-02 | Advantest Corporation | 電子部品のピックアンドプレース機構、電子部品ハンドリング装置および電子部品の吸着方法 |
| CN101472459A (zh) * | 2007-12-26 | 2009-07-01 | 鸿劲科技股份有限公司 | 可使电子元件精准对位的移载装置 |
| TW201018635A (en) * | 2008-11-07 | 2010-05-16 | Hon Tech Inc | A testing device for electronic component testing and collating machine |
| TW201514080A (zh) * | 2013-10-04 | 2015-04-16 | Hon Tech Inc | 電子元件作業裝置、作業方法及其應用之作業設備 |
| TW201610450A (zh) * | 2010-05-14 | 2016-03-16 | 精工愛普生股份有限公司 | 電子零件檢查裝置及電子零件搬送方法 |
-
2021
- 2021-01-15 TW TW110101612A patent/TWI764518B/zh active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005121739A1 (ja) * | 2004-06-08 | 2005-12-22 | Advantest Corporation | イメージセンサ用試験装置 |
| WO2006114836A1 (ja) * | 2005-04-07 | 2006-11-02 | Advantest Corporation | 電子部品のピックアンドプレース機構、電子部品ハンドリング装置および電子部品の吸着方法 |
| CN101472459A (zh) * | 2007-12-26 | 2009-07-01 | 鸿劲科技股份有限公司 | 可使电子元件精准对位的移载装置 |
| TW201018635A (en) * | 2008-11-07 | 2010-05-16 | Hon Tech Inc | A testing device for electronic component testing and collating machine |
| TW201610450A (zh) * | 2010-05-14 | 2016-03-16 | 精工愛普生股份有限公司 | 電子零件檢查裝置及電子零件搬送方法 |
| TW201514080A (zh) * | 2013-10-04 | 2015-04-16 | Hon Tech Inc | 電子元件作業裝置、作業方法及其應用之作業設備 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW202229903A (zh) | 2022-08-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI445982B (zh) | Electronic device crimping device, application of crimping device test equipment and crimp control method | |
| TWI639546B (zh) | Electronic component crimping mechanism and test classification device thereof | |
| KR101108591B1 (ko) | 위치 보정 기능을 갖는 핸들러 및 미검사 디바이스의 측정 소켓에 대한 로딩 방법 | |
| TWI597504B (zh) | Electronic components conveying device and its application test classification equipment | |
| CN106291301B (zh) | 半导体组件压力测试装置及其测试设备 | |
| TWI585424B (zh) | Temperature control mechanism of electronic component bonding device, temperature control method and its application Test Equipment | |
| TW202014708A (zh) | 電子元件測試設備 | |
| TWI623754B (zh) | Electronic component testing device and test classification device thereof | |
| TWI764518B (zh) | 壓接機構及其應用之測試設備 | |
| CN109211901A (zh) | 导电粒子压痕检测设备及其检测方法 | |
| WO2005121739A1 (ja) | イメージセンサ用試験装置 | |
| TWI589900B (zh) | Electronic components crimping device and its application test classification equipment | |
| TWI546530B (zh) | 半導體元件壓力測試裝置及其測試設備 | |
| TWI530698B (zh) | Test equipment for electronic component testing devices and their applications | |
| TWI769664B (zh) | 測試裝置及其應用之測試設備 | |
| KR101032420B1 (ko) | 접촉 가압장치 | |
| TWI811770B (zh) | 輸送機構、測試裝置、檢知方法及其應用之作業機 | |
| TWI817749B (zh) | 承載器、作業裝置及作業機 | |
| TWI551529B (zh) | Electronic components operating machine | |
| TWI788966B (zh) | 壓接機構、測試裝置及其應用之作業機 | |
| TWI585413B (zh) | Rotary angle adjustment mechanism and its application of the test classification equipment | |
| TWI815470B (zh) | 具調位單元之作業裝置及作業機 | |
| TWI623998B (zh) | Electronic component transfer device and its operation classification device | |
| CN114967035A (zh) | 取像装置及其应用的作业设备 | |
| CN105572437B (zh) | 电子组件测试装置及其应用的测试设备 |