TWI815470B - 具調位單元之作業裝置及作業機 - Google Patents
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Abstract
一種具調位單元之作業裝置，其於裝載具與作業器間設置調位單元，調位單元包含中介具、第一牽動結構及定位結構，中介具配置於裝載具與作業器之間，並以第一牽動結構連結作業器之承置件，於裝載具以定位結構組裝中介具時，利用中介具及第一牽動結構牽動承置件於作業器上作第一方向位移而微調裝配位置，進而提高承置件之配置精準性。
Description
本發明提供一種可微調而精準配置作業器的調位單元。
在現今，作業裝置於機台裝配測試器，以對電子元件執行測試作業；測試器包含電路板及測試座，測試座之內部供承置一具接腳之電子元件，並設有複數支探針，探針之一端穿伸出測試座之底面，以電性連接電路板，另一端供電性接觸電子元件之接腳而執行測試作業；因此，測試座僅以複數支探針連結電路板，使得測試座可作適當位移。
然，電子元件日趨微小精密，其接腳與測試座之探針的對位精準性相當重要，如稍有微小偏差，即會影響電性測試之品質；但作業裝置易發生測試座配置偏差或測試座因冷測/熱測作業的測試溫度影響而偏位，以致測試座內之複數支探針與電子元件之接腳具有微小偏差，而無法使測試座與電子元件作有效性電性接觸之測試作業，以致無法提高測試良率。
本發明之目的一，提供一種具調位單元之作業裝置，其於裝載具與作業器間設置調位單元，調位單元包含中介具、第一牽動結構及定位結構，中介具配置於裝載具與作業器之間，第一牽動結構於中介具沿第一方向設有第一牽動部件，並於作業器之承置件設有可與第一牽動部件相互配合之第二牽動部件，定位結構於中介具與裝載具間設有相互配合之第一定位部件及第二定位部件，於裝載具以定位結構組裝中介具時，中介具利用第一牽動結構牽動承置件於作業器上作第一方向位移而微調位置，進而提高承置件之配置精準性。
本發明之目的二，提供一種具調位單元之作業裝置，其調位單元更包含第二牽動結構，第二牽動結構於中介具設有呈第一方向配置之導槽，並於裝載具裝配一具偏心桿之轉動具，轉動具之偏心桿插置於導槽，於轉動具沿軸線轉動時，利用偏心桿帶動中介具及承置件作第二方向位移而微調位置，進而提高調位使用效能。
本發明之目的三，提供一種作業機，包含機台、供料裝置、收料裝置、本發明作業裝置、輸送裝置及中央控制裝置，供料裝置配置於機台，並設有至少一供料器，以供容置至少一待作業電子元件；收料裝置配置於機台，並設有至少一收料器，以供容置至少一已作業電子元件；本發明作業裝置配置於機台，包含裝載具、作業器及調位單元，作業器以供對電子元件執行預設作業，調位單元以供連結裝載具及作業器，並可微調作業器之位置；輸送裝置配置於機台，並設有至少一輸送器，以供輸送電子元件；中央控制裝置以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。
為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：
請參閱圖1至7，本發明作業裝置10包含裝載具、作業器及調位單元。
裝載具為一可供連結作業器之器件，並供移入或移出電子元件，裝載具可為基板或機台等，不受限於本實施例；於本實施例，裝載具為基板11
，基板11開設有第一通孔111供移入或移出電子元件，並以栓具組裝於機台20之頂面，機台20於相對應基板11之第一通孔111位置開設第二通孔21，第二通孔21供移入或移出電子元件，並供穿置作業器之承置件。
然，裝載具為機台20時，亦可省略配置基板11，作業器之承置件不一定穿置於機台20之第二通孔21，而可位於第二通孔21之下方，亦無不可。
作業器設有至少一承置件，以供對電子元件執行預設作業；作業器可為測試器、載台、預溫器、校正器或取像器等，以供對電子元件執行測試作業、中心校正作業或取像作業等；承置件可為測試座、承座或具作業件(如CCD)之台座，以供承置及對電子元件執行預設作業，或者僅供承置電子元件，若承置件之位置稍有偏差，即會影響測試良率或電子元件移入精準性或取像準確性等，因此，提高承置件之配置位置精準性相當重要。
於本實施例，作業器為測試器，測試器包含測試座12及電路板，測試座12以供承置及測試電子元件，並具有複數支探針121，探針121之一端電性連接電路板，另一端供電性接觸電子元件(圖未示出)之接腳，測試座12可於電路板上作微小偏移，並置入於機台20之第二通孔21，而位於基板11之第一通孔111下方。
調位單元包含中介具13、第一牽動結構及定位結構；更包含第二牽動結構。
中介具13配置於裝載具與作業器之間；於本實施例，中介具13為一長型塊體，並置入於機台20之第二通孔21，而配置於基板11與測試器的測試座12之間，中介具13不會干涉電子元件移入或移出基板11之第一通孔111。
第一牽動結構於中介具13沿第一方向設有第一牽動部件，並於作業器之承置件設有可與第一牽動部件相互配合之第二牽動部件，於裝載具組裝中介具13時，利用中介具13及第一牽動結構能夠牽動承置件於作業器上作第一方向微調位移；更進一步，第一牽動結構之第一牽動部件及第二牽動部件可為相互配合之栓具及螺孔，或者為相互配合之銷具及銷孔。
若第一牽動結構之第一牽動部件及第二牽動部件為相互配合之栓具及螺孔，依作業需求，可於裝載具開設穿孔，以供穿置栓具，或者於中介具13開設階級孔，以供穿置栓具，亦無不可。
若第一牽動結構之第一牽動部件及第二牽動部件為相互配合之銷具及銷孔，依作業需求，更包含於中介具13與承置件間設有相互配合之第一結合部件及第二結合部件，以供中介具13連結組裝承置件；更進一步，第一結合部件及第二結合部件可為相互配合之栓具及螺孔。
於本實施例，第一牽動結構於中介具13之底面設有複數列沿第一方向(如X方向)於預設位置設有一為銷具131之第一牽動部件，每一列之銷具131由中介具13之底面一體成型呈Z方向朝下延伸凸設；第一牽動結構於測試座12
設有複數列可為銷孔122之第二牽動部件，以供插置銷具131。
又第一牽動結構於中介具13設有複數列為第一栓具之第一結合部件，於本實施例，於基板11與中介具13開設有相對應且呈Z方向配置之第一穿孔112及第二穿孔132，以供穿置第一栓具133，第一栓具133之螺桿穿伸出中介具13之第二穿孔132，且螺桿之自由端凸伸出中介具13之底面，第一栓具133較大直徑之螺栓頭則位於基板11之第一穿孔112，且可頂抵於中介具13之頂面，另於測試座12相對應中介具13之第一栓具133的位置設有一為第一螺孔123之第二結合部件，以供螺合第一栓具133。
依作業需求，每一個中介具13之第一牽動部件可位於不同預設位置，例如每一個中介具13之第一牽動部件的預設位置相差1mm，以於更換不同中介具13時，而可牽動微調承置件至不同配置位置；又依作業需求，可於一中介具13沿第一方向之複數個位置分別開設孔洞，以供插置一為銷具之第一牽動部件，令第一牽動部件可插置於不同位置之孔洞，以供牽動微調承置件至不同配置位置，亦無不可。同理，若改變第二牽動部件的位置，亦可供牽動微調承置件之配置位置。
依作業需求，第一牽動結構於中介具13設有階級孔，以供容置一為第一栓具133之第一結合部件的螺栓頭，亦無不可。
定位結構於中介具13與裝載具間設有相互配合之第一定位部件及第二定位部件，以供於中介具13組裝裝載具時，利用中介具13及第一牽動結構能夠牽動承置件於作業器上作第一方向微調位移。更進一步，定位結構於裝載具開設呈第二方向配置之長槽孔，以供穿置第一定位部件，並於中介具13設有可供組裝第一定位部件之第二定位部件；於本實施例，定位結構於基板11開設有呈第二方向(如Y方向)配置之長槽孔113，長槽孔113為階級孔，以供穿置一為第二栓具114之第一定位部件，定位結構另於中介具13設有一為第二螺孔134之第二定位部件，第二螺孔134可供螺合第二栓具114。
第二牽動結構於中介具13設有呈第一方向配置之導槽，並於裝載具設有一具偏心桿之轉動具，轉動具之偏心桿插置於導槽，以供帶動中介具13及承置件作第二方向微調位移；更進一步，裝載具開設有承槽以供容置轉動具
；轉動具設有至少一接合部，以供連接驅動工具(如起子工具，圖未示出)；於本實施例，第二牽動結構於基板11設有一由頂面貫通至底面之承槽115，以供放置可沿軸線A轉動之轉動具14，轉動具14之底面設有呈Z方向配置之偏心桿141
，而頂面凹設有接合部142，以供插接起子工具；第二牽動結構另於中介具13設有呈第一方向(如X方向)配置之導槽135，以供插置轉動具14之偏心桿141。
然，銷具131之設置位置可以中介具13之中心線作為基準而偏置一預設距離，每一個中介具13之銷具131的設置位置均不相同，因此，可依微調距離需求，而選用所需之中介具13。
承上述，銷具131之設置位置可以中介具13之邊線作為基準而偏置一預設距離，亦無不可。
於微調測試座12之X方向位置時，中介具13以銷具131插置於測試座12之銷孔122，並以第一栓具133穿置基板11之第一穿孔112及中介具13之第二穿孔132，而螺合於測試座12之第一螺孔123，使第一栓具133連結中介具13及測試座12，中介具13可於基板11之下方位移作動。
以第二栓具114穿置基板11之長槽孔113，並螺合於中介具13之第二螺孔134，而鎖固基板11及中介具13，由於測試座12僅以探針121之一端連接電路板，當第二栓具114鎖固基板11及中介具13時，利用中介具13之銷具131牽動測試座12於電路板上作X方向微小位移，進而微調測試座12之X方向位置。因此，當微調測試座12至X方向不同位置時，僅需更換不同中介具13，進而提高測試座12之配置精準性。
於微調測試座12之Y方向位置時，以起子工具(圖未示出)插置於轉動具14之接合部142，而驅動該轉動具14於基板11之承槽115內沿軸線A作旋轉
，轉動具14以偏心桿141於中介具13之X方向的導槽135位移，且頂推導槽135，進而推動中介具13作Y方向位移，使中介具13帶動測試座12同步位移而微調Y方向位置；再以第二栓具114鎖固基板11及中介具13，進而精確定位測試座12。
於測試座12作X-Y方向微調定位後，壓接器31可作Y-Z方向位移將電子元件32移入通過基板11之第一通孔111而置入測試座12，使電子元件32之接腳準確對位壓接測試座12之探針121而執行測試作業，以提高測試品質。
請參閱圖1~6、8，本發明作業機包含機台20、供料裝置40、收料裝置50、作業裝置10、輸送裝置60及中央控制裝置（圖未示出）；供料裝置40裝配於機台20，並設有至少一供料器41，以容納至少一待作業之電子元件；收料裝置50裝配於機台20，並設有至少一收料器51，以容納至少一已作業之電子元件；作業裝置10配置於機台20，包含裝載具、作業器及調位單元，作業器以供對電子元件執行預設作業，於本實施例，作業裝置10為測試裝置，作業器為測試器，以供測試電子元件，測試器設有電性連接之電路板及具傳輸件(如探針121)之測試座12，測試座12以供承置及測試電子元件；調位單元以連結裝載具及作業器，並供微調作業器之裝配位置；輸送裝置60裝配於機台20，並設有至少一輸送器，以輸送電子元件，於本實施例，輸送裝置60設有一為第一移料器61之第一輸送器，以於供料裝置40之供料器41取出待測之電子元件，並將待測電子元件移載至一為第一載台62之第二輸送器，第一載台62將待測之電子元件載送至作業裝置10之側方，輸送裝置60設有一為壓接器63之第三輸送器，以於第一載台62取出待測電子元件，並移載至測試座12執行測試作業，以及將已測電子元件移載至一為第二載台64之第四輸送器，第二載台64載出已測之電子元件，一為第二移料器65之第五輸送器於第二載台64取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置50之收料器51而分類收置；中央控制裝置(圖未示出)用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。
依作業需求，壓接器更包含溫控單元(圖未示出)，溫控單元設置至少一溫控件，以供溫控電子元件；更進一步，溫控件可為加熱件、致冷晶片或具流體之座體。
依作業需求，作業裝置10可於機台20設置測試室(圖未示出)，測試室設有至少一輸送管，以供輸送乾燥空氣，測試座12位於測試室之內部，以供電子元件於模擬日後使用環境溫度之測試室執行冷測作業。
依作業需求，於熱測作業時，測試室內可配置鼓風機(圖未示出)
，以供吹送熱風，使測試室之內部升溫，亦無不可。
10:作業裝置
11:基板
111:第一通孔
112:第一穿孔
113:長槽孔
114:第二栓具
115:承槽
12:測試座
121:探針
122:銷孔
123:第一螺孔
13:中介具
131:銷具
132:第二穿孔
133:第一栓具
134:第二螺孔
135:導槽
14:轉動具
141:偏心桿
142:接合部
20:機台
21:第二通孔
A:軸線
31:壓接器
32:電子元件
40:供料裝置
41:供料器
50:收料裝置
51:收料器
60:輸送裝置
61:第一移料器
62:第一載台
63:壓接器
64:第二載台
65:第二移料器
圖1：本發明作業裝置之零件分解圖。
圖2至圖6：作業裝置微調承置件之第一、二方向位置的使用示意圖。
圖7：作業裝置測試電子元件的使用示意圖。
圖8：作業裝置應用於作業機之示意圖。
10:作業裝置
11:基板
111:第一通孔
112:第一穿孔
113:長槽孔
114:第二栓具
115:承槽
12:測試座
121:探針
122:銷孔
123:第一螺孔
13:中介具
131:銷具
132:第二穿孔
133:第一栓具
134:第二螺孔
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14:轉動具
141:偏心桿
142:接合部
20:機台
21:第二通孔
A:軸線
Claims (10)
- 一種具調位單元之作業裝置，其於裝載具與作業器間配置該調位單元，該調位單元包含： 中介具：裝配於該裝載具與該作業器之承置件間； 第一牽動結構：於該中介具沿第一方向設有第一牽動部件，並於該承置件設有可與該第一牽動部件相互配合之第二牽動部件； 定位結構：於該中介具與該裝載具間設有相互配合之第一定位部件及第二定位部件，以供該裝載具組裝該中介具時，利用該中介具及該第一牽動結構能夠牽動該承置件於該作業器上作第一方向微調位移。
- 如請求項1所述之具調位單元之作業裝置，其該定位結構於該裝載具開設呈第二方向配置之長槽孔，以供穿置該第一定位部件，於該中介具設有可供組裝該第一定位部件之該第二定位部件。
- 如請求項1所述之具調位單元之作業裝置，其該第一牽動結構之該第一牽動部件及該第二牽動部件為相互配合之栓具及螺孔。
- 如請求項1所述之具調位單元之作業裝置，其該第一牽動結構之該第一牽動部件及該第二牽動部件為相互配合之銷具及銷孔。
- 如請求項4所述之具調位單元之作業裝置，其該第一牽動結構更包含於該中介具與該承置件間設有相互配合之第一結合部件及第二結合部件，以供該中介具組裝該承置件。
- 如請求項5所述之具調位單元之作業裝置，其該第一牽動結構於該裝載具與該中介具開設相對應之第一穿孔及第二穿孔，以供穿置可為第一栓具之該第一結合部件，另於該承置件開設有可為第一螺孔之該第二結合部件 ，以供螺合該第一結合部件。
- 如請求項1至6中任一項所述之具調位單元之作業裝置，該調位單元更包含第二牽動結構，該第二牽動結構於該中介具設有呈第一方向配置之導槽，並於該裝載具設有一可沿軸線旋轉且具有偏心桿之轉動具，該轉動具之該偏心桿插置於該導槽，以供帶動該中介具及該承置件作第二方向微調位移。
- 如請求項7所述之具調位單元之作業裝置，其該裝載具開設有承槽供容置該轉動具。
- 如請求項7所述之具調位單元之作業裝置，其該轉動具設有至少一接合部。
- 一種作業機，包含： 機台； 供料裝置：配置於該機台，並設有至少一供料器，以供容置至少一待作業 電子元件； 收料裝置：配置於該機台，並設有至少一收料器，以供容置至少一已作業 電子元件； 至少一如請求項1所述之具調位單元之作業裝置：配置於該機台，以供對電子元件執行預設作業，並供牽動作業器之承置件作第一方向微調位移； 輸送裝置：配置於該機台，並設有至少一輸送器，以供輸送電子元件； 中央控制裝置：以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。
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Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0826969B1 (en) * | 1996-08-29 | 2002-11-20 | Nidec-Read Corporation | Substrate inspection apparatus and method therefore |
| TWM310335U (en) * | 2006-10-18 | 2007-04-21 | Guo-Jen Wu | Precise fine-tuning mold |
| CN101520487A (zh) * | 2008-02-28 | 2009-09-02 | 富葵精密组件(深圳)有限公司 | 电测治具 |
| US20190162756A1 (en) * | 2016-05-11 | 2019-05-30 | Wit Co., Ltd. | Multifunctional substrate inspection apparatus and multifunctional substrate inspection method |
| CN213780291U (zh) * | 2020-12-14 | 2021-07-23 | 苏州光和精密测试有限公司 | 一种新型测试治具 |
| TW202217321A (zh) * | 2020-10-27 | 2022-05-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 承置器調位機構及其應用之作業設備 |
-
2022
- 2022-05-23 TW TW111119171A patent/TWI815470B/zh active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0826969B1 (en) * | 1996-08-29 | 2002-11-20 | Nidec-Read Corporation | Substrate inspection apparatus and method therefore |
| TWM310335U (en) * | 2006-10-18 | 2007-04-21 | Guo-Jen Wu | Precise fine-tuning mold |
| CN101520487A (zh) * | 2008-02-28 | 2009-09-02 | 富葵精密组件(深圳)有限公司 | 电测治具 |
| US20190162756A1 (en) * | 2016-05-11 | 2019-05-30 | Wit Co., Ltd. | Multifunctional substrate inspection apparatus and multifunctional substrate inspection method |
| TW202217321A (zh) * | 2020-10-27 | 2022-05-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 承置器調位機構及其應用之作業設備 |
| CN213780291U (zh) * | 2020-12-14 | 2021-07-23 | 苏州光和精密测试有限公司 | 一种新型测试治具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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