TWI788966B - 壓接機構、測試裝置及其應用之作業機 - Google Patents

Abstract

一種壓接機構，包含機架、至少一第一驅動結構、至少一第二驅動結構及至少一壓接器，第一驅動結構設有二位於機架兩側且可作第一方向位移之第一傳動具，第二驅動結構設有二位於機架兩側且可作第二方向位移之第二傳動具 ，壓接器設有一呈第三方向配置且具壓接件之載具，載具兩側裝配呈第一方向配置之連接具，二連接具連接第一驅動結構之二第一傳動具及第二驅動結構之二第二傳動具而作第一、二方向位移，不僅可防止載具翹曲，並縮短壓接位移行程而防止偏擺晃動，使壓接件平均施力且精準對位執行電子元件壓接作業。

Description

壓接機構、測試裝置及其應用之作業機

本發明提供一種使壓接器平均施力且精準對位執行電子元件壓接作業之壓接機構。

測試裝置以具有探針之測試座供電子元件執行電性測試作業，為確保一批次複數個電子元件之接點與複數個測試座之探針作有效接觸，測試裝置配置具有壓接器之壓接機構以供壓接電子元件，壓接機構之壓接器以預設下壓力壓接複數個測試座上之複數個電子元件而執行電性測試作業，然電子元件日趨精密微小；因此，如何使壓接器平均施力且精準對位壓接電子元件著實相當重要。

請參閱圖1，測試裝置於機台11設置複數個具有探針之測試座12 ，以供承置及測試一批次複數個電子元件13，壓接機構配置於測試座12之上方 ，並於機台11架置機架141，機架141裝配馬達142，馬達142經皮帶輪組143而驅動一呈Z方向配置且穿設於機架141頂板之螺桿144，螺桿144經螺座145而連接一呈X方向配置之壓接板146的中央部位，壓接板146之底部裝配複數個壓接件147 ，螺桿144經螺座145而帶動壓接板146及複數個壓接件147作Z方向向下位移，使複數個壓接件147下壓複數個電子元件13於複數個測試座12執行電性測試作業；惟，螺桿144螺合於壓接板146之中央部位，壓接板146之兩端形成自由端，導致壓接板146作Z方向位移時，其兩自由端會產生偏擺，以致複數個壓接件147無法以相同之預設下壓力壓接複數個電子元件13，致使複數個電子元件13受力不均而影響測試品質。再者，壓接板146直接螺設於長桿型之螺桿144，導致壓接件147與測試座12間具有較長之壓接位移行程，易發生壓接板146沿螺桿144朝底部自由端作Z方向位移時產生偏擺晃動，以致壓接件147無法準確對位壓接電子元件13，進而影響壓接效能。

本發明之目的一，提供一種壓接機構，包含機架、至少一第一驅動結構、至少一第二驅動結構及至少一壓接器，第一驅動結構設有二位於機架兩側且可作第一方向位移之第一傳動具，第二驅動結構設有二位於機架兩側且可作第二方向位移之第二傳動具，壓接器設有一呈第三方向配置且具壓接件之載具，載具兩側裝配呈第一方向配置之連接具，壓接器以兩側之連接具連接第一驅動結構之二第一傳動具及第二驅動結構之二第二傳動具，第一驅動結構兩側之第一傳動具可帶動壓接器兩側之連接具同步作第一方向位移，以防止壓接器之載具翹曲，使得複數個壓接件平均施力壓接電子元件，進而提高測試品質。

本發明之目的二，提供一種壓接機構，其壓接器之載具以兩側呈第一方向配置之連接具連接第一驅動結構兩側之第一傳動具，而可降低載具之初始作業高度，以有效縮短載具與測試器間之壓接位移行程，而防止載具帶動壓接件作第一方向位移時產生偏擺晃動，使得壓接件精準對位壓接電子元件，進而提高壓接使用效能。

本發明之目的三，提供一種壓接機構，其第二驅動結構兩側之第二傳動具位於機架之兩側，且連接壓接器兩側之連接具，不僅縮短第二傳動具與連接具之連動距離，於第二驅動結構兩側之第二傳動具帶動壓接器兩側之連接具同步作第二方向位移時，可防止第二傳動具及壓接器偏擺晃動，使第二傳動具迅速且平穩地帶動壓接器位移，進而提高使用效能。

本發明之目的四，提供一種壓接機構，其第一驅動結構之第一驅動源以第一馬達同步驅動二第一皮帶輪組，並以二第一皮帶輪組驅動二位於機架兩側之第一螺桿螺座組，二第一螺桿螺座組經二第一傳動具同步帶動壓接器保持平衡作第一方向位移，使壓接器之複數個壓接件平均施力壓接電子元件，進而提高壓接使用效能。

本發明之目的五，提供一種測試裝置，包含至少一測試器及本發明壓接機構，測試器設有電性連接之傳輸件及電路板，以供測試電子元件，本發明壓接機構配置於測試器之上方，包含機架、至少一第一驅動結構、至少一第二驅動結構及至少一壓接器，以供壓接測試器上之電子元件。

本發明之目的六，提供一種作業機，包含機台、供料裝置、收料裝置、具本發明壓接機構之測試裝置及中央控制裝置，供料裝置配置於機台，並設有至少一供料容置器，以供容置至少一待測電子元件；收料裝置配置於機台，並設有至少一收料容置器，以供容置至少一已測電子元件；測試裝置配置於機台，並設有至少一測試器、輸送機構及本發明壓接機構，以供測試、輸送 及壓接電子元件；中央控制裝置以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱圖2~4，本發明壓接機構包含機架20、至少一第一驅動結構、至少一第二驅動結構及至少一壓接器；於本實施例，至少一第一驅動結構包含二第一驅動結構30A、30B，至少一第二驅動結構包含二第二驅動結構40A 、40B，至少一壓接器包含二壓接器50A、50B。

機架20包含頂板21、第一側板22及第二側板23，頂板21裝配於第一側板22及第二側板23之頂面，更進一步，第一側板22及第二側板23分別開設有相對應之第一通道221及第二通道231，機架20可視作業需求，而於內部構成一測試空間，於本實施例，機架20於第一側板22及第二側板23之前、後面裝配前板24及後板25，使機架20之內部構成一測試空間26，測試空間26可連通至少一輸送管(圖未示出)，以供輸送乾燥空氣至測試空間26，使電子元件(圖未示出)位於模擬日後使用環境溫度之測試空間26執行冷測作業。

然依作業需求，於熱測作業時，測試空間26內可配置鼓風機(圖未示出)，以供吹送熱風，使測試空間26之內部升溫，亦無不可。

至少一第一驅動結構裝配於機架20，並設有二位於機架20兩側且可作第一方向位移之第一傳動具；於本實施例，至少一第一驅動結構包含二第一驅動結構30A、30B，二第一驅動結構30A、30B之設計相同，茲以第一驅動結構30A為例作一說明，第一驅動結構30A設有第一驅動源，第一驅動源以供驅動二位於機架20兩側之第一傳動具作第一方向位移(如Z方向)，更進一步，第一驅動源可為第一線性馬達，或包含第一馬達及至少一第一傳動組，於本實施例，第一驅動源包含第一馬達311A、二為第一皮帶輪組312A、313A之第一傳動組及二為第一螺桿螺座組314A、315A之第二傳動組，第一馬達311A裝配於機架20之頂板21且靠近前方的中央位置，由中央位置連接且同步驅動位於兩側之第一皮帶輪組312A、313A，二第一皮帶輪組312A、313A分別連接驅動位於機架20之第一側板22及第二側板23且呈Z方向配置的二第一螺桿螺座組314A、315A，二第一螺桿螺座組314A、315A之第一螺座分別連結二呈第二方向(如Y方向)配置之第一傳動具321A、322A，使二第一傳動具321A、322A位於機架20之兩側，並可同步帶動壓接器保持平衡作Z方向位移，使壓接器之複數個壓接件平均施力壓接電子元件，進而提高壓接使用效能。

又，第一傳動具與壓接器間設有第一滑接單元，第一滑接單元以供壓接器沿第一傳動具作第二方向位移，於本實施例，二第一滑接單元分別於二第一傳動具321A、322A設有呈第二方向配置之第一滑軌3211A、3221A，以及於壓接器之二連接具設有可滑置於第一滑軌3211A、3221A之第一滑座(容後再述)，使得二連接具以二第一滑座沿二第一傳動具321A、322A之第一滑軌3211A 、3221A作Y方向位移，並可由二第一傳動具321A、322A帶動壓接器作Z方向位移。

然第一驅動源亦可於機架20之兩側配置第一馬達，各第一馬達驅動一為皮帶輪組且呈Z方向配置之第一傳動組，以皮帶輪組帶動第一傳動具作Z方向位移，亦無不可。

至少一第二驅動結構裝配於機架20，並設有二位於機架20兩側且可作第二方向位移之第二傳動具，於本實施例，至少一第二驅動結構包含二第二驅動結構40A、40B，二第二驅動結構40A、40B之設計相同，茲以第二驅動結構40A為例作一說明，第二驅動結構40A設有第二驅動源，第二驅動源以供驅動位於機架20兩側之第二傳動具作第二方向位移(如Y方向)，更進一步，第二驅動源包含至少一第二線性馬達，或包含第二馬達及至少一第二傳動組，於本實施例，第二驅動源包含二第二線性馬達，二第二線性馬達裝配於機架20之第一側板22及第二側板23，一位於第一側板22之第二線性馬達設有複數個第二定子411A及一第二轉子412A，複數個第二定子411A呈Y方向排列，以供驅動第二轉子412A作Y方向線性位移，另一位於第二側板23之第二線性馬達設有複數個第二定子413A及一第二轉子414A，複數個第二定子413A呈Y方向排列，以供驅動第二轉子414A作Y方向線性位移；又第二驅動結構40A位於機架20兩側之二第二轉子412A、414A分別連接二呈Z方向配置之第二傳動具421A、422A，使二第二傳動具421A、422A位於機架20兩側；二第二傳動具421A、422A配置連接於壓接器之二連接具側方，由於第二驅動源配置於二第二傳動具421A、422A之側方，使得第二驅動源配置於二連接具之側方，以有效縮短第二驅動源與二連接具之連動距離，不僅可防止二第二傳動具421A、422A帶動壓接器作第二方向位移時產生偏擺晃動，並使二第二傳動具421A、422A迅速帶動壓接器位移，進而提高使用效能。

另，第二傳動具與壓接器之連接具間設有第二滑接單元，第二滑接單元以供壓接器沿第二傳動具作第一方向位移，於本實施例，二第二滑接單元分別於二第二傳動具421A、422A設有呈Z方向配置之第二滑軌4211A、4221A ，以及於壓接器之二連接具設有可滑置於第二滑軌4211A、4221A之第二滑座(容後再述)，使得壓接器之二連接具以二第二滑座沿二第二傳動具421A、422A之第二滑軌4211A、4221A作Z方向位移，並可由二第二傳動具421A、422A帶動壓接器作Y方向位移。

又，二第二驅動結構40A、40B可於第一側板22配置一第二線性馬達，利用一排之複數個第二定子供二個第二轉子作Y方向位移，二第二驅動結構40A、40B可於第二側板23配置另一第二線性馬達，亦利用另一排之複數個第二定子供另二個第二轉子作Y方向位移，亦無不可。

至少一壓接器包含載具及二連接具，載具呈第三方向配置，並裝配至少一壓接件，壓接件以供壓接電子元件，二連接具裝配於載具之兩側，並連接第一驅動結構之二第一傳動具及第二驅動結構之二第二傳動具，使壓接器作第一、二方向位移；於本實施例，至少一壓接器包含二壓接器50A、50B，二壓接器50A、50B之設計相同，茲以壓接器50A為例作一說明，壓接器50A包含載具51A及二連接具52A、53A，載具51A呈第三方向(如X方向)配置，並於底面裝配具吸嘴之複數個壓接件54A，複數個壓接件54A以供壓接及移載複數個電子元件(圖未示出)，一連接具52A呈Z方向配置，並裝配於載具51A之一側，另一連接具53A呈Z方向配置，並裝配於載具51A之另一側；二第一滑接單元於二連接具52A、53A近頂部分別設有可滑置於第一滑軌3211A、3221A之第一滑座521A 、531A，使得壓接器50A之二連接具52A、53A以二第一滑座521A、531A沿二第一傳動具321A、322A之第一滑軌3211A、3221A作Y方向位移，並可由二第一傳動具321A、322A帶動壓接器50A作Z方向位移；二第二滑接單元於二連接具52A 、53A設有可滑置於第二滑軌4211A、4221A之第二滑座522A、532A，令壓接器50A之二連接具52A、53A分別位於第二驅動結構40A之二第二線性馬達側方，使得壓接器50A之二連接具52A、53A以二第二滑座522A、532A沿二第二傳動具421A、422A之第二滑軌4211A、4221A作Z方向位移，並可由二第二傳動具421A 、422A帶動壓接器作Y方向位移。

壓接器之二連接具52A、53A間可設有至少一呈第三方向配置之轉接架，以增加二連接具52A、53A位移平穩性及強度。壓接機構之壓接件依作業需求，可不具有吸嘴，以單純執行壓接電子元件之作業，亦無不可。再者，壓接機構更包含溫控單元(圖未示出)，溫控單元於壓接器設置至少一溫控件，以供溫控電子元件；更進一步，溫控件可為加熱件、致冷晶片或具流體之座體，溫控件可配置於載具或壓接件。

請參閱圖2、5，本發明壓接機構應用於測試裝置，測試裝置包含至少一測試器及本發明壓接機構，測試器設有電性連接之傳輸件及電路板，以供測試電子元件，本發明壓接機構配置於測試器之上方，包含機架20、至少一第一驅動結構、至少一第二驅動結構及至少一壓接器，以供壓接測試器上之電子元件；於本實施例，測試器裝配於機台60，包含電性連接電路板71及具傳輸件之測試座72，測試座72以供承置及測試電子元件，壓接機構之機架20裝配於機台60，且罩置於測試座72之上方，使測試座72位於機架20之測試空間26而供電子元件執行測試作業，壓接機構以二第一驅動結構30A、30B及二第二驅動結構40A、40B帶動二壓接器50A、50B依作動時序作Z-Y方向位移，而於測試座72執行移載及壓接電子元件之作業。

請參閱圖3、6，以壓接機構之第一驅動結構30A及第二驅動結構40A帶動壓接器50A執行移載及壓接電子元件作業為例，第一驅動結構30A之第一驅動源以第一馬達311A同時驅動二第一皮帶輪組312A、313A，利用二第一皮帶輪組312A、313A驅動位於機架20兩側之第一螺桿螺座組314A、315A作動，二第一螺桿螺座組314A、315A可同步帶動二第一傳動具321A、322A作Z方向向下位移，由於二第一傳動具321A、322A連接於壓接器50A兩側之連接具52A、53A ，使得壓接器50A兩側之連接具52A、53A承受相同之驅動力道，二連接具52A 、53A利用第二滑座522A、532A分別沿第二傳動具421A、422A之第二滑軌4211A、4221A作Z方向位移，以帶動載具51A保持平衡作Z方向向下位移，由於載具51A與二第一傳動具321A、322A間具有適當長度之連接具52A、53A作中介件，以降低載具51A之初始作業高度，而縮短載具51A與第一載台81的取料位移行程，以防止壓接器50A偏擺晃動，使壓接器50A之複數個壓接件54A迅速且精準對位地於第一載台81取出複數個待測之電子元件。

請參閱圖3、7，於壓接器50A之複數個壓接件54A取出複數個待測之電子元件後，第二驅動結構40A之第二驅動源以裝配於機架20之第一側板22及第二側板23的第二定子411A、413A分別驅動第二轉子412A、414A作Y方向位移，二第二轉子412A、414A帶動二第二傳動具421A、422A同步位移，二第二傳動具421A、422A利用第二滑軌4211A、4221A及第二滑座522A、532A而帶動壓接器50A之二連接具52A、53A同步作Y方向位移，由於第二驅動結構40A之第二驅動源的二線性馬達位於壓接器之二連接具52A、53A側方，以縮短二線性馬達驅動二連接具52A、53A之連動距離，不僅可防止第二傳動具421A、422A帶動壓接器50A作Y方向位移時產生偏擺晃動，並使第二傳動具421A、422A迅速帶動壓接器50A位移，壓接器50A之二連接具52A、53A利用二第一滑座521A、531A沿第一傳動具321A、322A之第一滑軌3211A、3221A位移，使二連接具52A 、53A帶動複數個壓接件54A及複數個待測之電子元件平穩且精準地位移至測試座72之上方。

請參閱圖7、8，第一驅動結構30A之第一驅動源以馬達311A經第一皮帶輪組312A、313A而驅動位於機架20兩側之第一螺桿螺座組314A、315A作動，二第一螺桿螺座組314A、315A同步帶動二第一傳動具321A、322A作Z方向向下位移，使得壓接器50A兩側之連接具52A、53A承受相同之驅動力道，二連接具52A、53A帶動載具51A保持平衡作Z方向向下位移，由於載具51A與二第一傳動具321A、322A間具有適當長度之連接具52A、53A作中介件，以降低載具51A之初始作業高度，而縮短載具51A與測試座72間之壓接位移行程，以防止壓接器50A偏擺晃動，使載具51A迅速且精準地將複數個待測之電子元件移入測試座72，並使複數個壓接件54A平均施力以預設下壓力壓接複數個待測電子元件於測試座72執行測試作業，進而提高測試品質。

請參閱圖2~9，本發明壓接機構應用於電子元件作業機，作業機包含機台60、輸送裝置80、供料裝置90、收料裝置100、具本發明壓接機構之測試裝置及中央控制裝置（圖未示出）；供料裝置90裝配於機台60，並設有至少一供料承置器91，以容納至少一待作業之電子元件；收料裝置100裝配於機台60 ，並設有至少一收料承置器101，以容納至少一已作業之電子元件；測試裝置包含至少一測試器及本發明壓接機構，測試器設有電性連接之傳輸件及電路板71 ，以供測試電子元件，於本實施例，測試器設有具傳輸件之測試座72以供承置及測試電子元件，本發明壓接機構配置於測試器之上方，包含機架20、至少一第一驅動結構、至少一第二驅動結構及至少一壓接器，以供壓接測試器上之電子元件，於本實施例，機架20之內部構成一測試空間26，並使測試座72位於測試空間26，至少一第一驅動結構包含二第一驅動結構30A、30B，至少一第二驅動結構包含二第二驅動結構40A、40B，至少一壓接器包含二壓接器50A、50B；輸送裝置80裝配於機台60，並設有至少一輸送器，以輸送電子元件，於本實施例，輸送裝置80設有第一輸送器82，以於供料裝置90之供料承置器91取出待測之電子元件，並移載至一為第一載台81之第二輸送器，第一載台81將待測之電子元件載送至測試裝置之側方；測試裝置以第一驅動結構30A及第二驅動結構40A帶動壓接器50A作Y-Z方向位移，使壓接器50A於第一載台81取出待測之電子元件，且移入測試座72而執行測試作業，以及將已測電子元件移載至一為第二載台83之第三輸送器，第二載台83載出已測之電子元件，輸送裝置80以第四輸送器84於第二載台83取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置100之收料承置器101處而分類收置；中央控制裝置用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

[習知] 11:機台 12:測試座 13:電子元件 141:機架 142:馬達 143:皮帶輪組 144:螺桿 145:螺座 146:壓接板 147:壓接件 [本發明] 20:機架 21:頂板 22:第一側板 221:第一通道 23:第二側板 231:第二通道 24:前板 25:後板 26:測試空間 30A、30B:第一驅動結構 311A:第一馬達 312A、313A:第一皮帶輪組 314A、315A:第一螺桿螺座組 321A、322A:第一傳動具 3211A、3221A:第一滑軌 40A、40B:第二驅動結構 411A、413A:第二定子 412A、414A:第二轉子 421A、422A:第二傳動具 4211A、4221A:第二滑軌 50A、50B:壓接器 51A:載具 52A、53A:連接具 521A、531A:第一滑座 522A、532A:第二滑座 54A:壓接件 60:機台 71:電路板 72:測試座 80:輸送裝置 81:第一載台 82:第一輸送器 83:第二載台 84:第四輸送器 90:供料裝置 91:供料承置器 100:收料裝置 101:收料承置器

圖1：習知測試裝置之示意圖。 圖2：本發明壓接機構之俯視圖。 圖3：本發明壓接機構之前視圖。 圖4：本發明壓接機構之側視圖。 圖5：本發明壓接機構應用於測試裝置之示意圖。 圖6：本發明壓接機構之使用示意圖(一)。 圖7：本發明壓接機構之使用示意圖(二)。 圖8：本發明壓接機構之使用示意圖(三)。 圖9：本發明壓接機構應用於作業機之示意圖。

20:機架

22:第一側板

23:第二側板

24:前板

25:後板

26:測試空間

30A、30B:第一驅動結構

311A:第一馬達

312A、313A:第一皮帶輪組

321A、322A:第一傳動具

40A、40B:第二驅動結構

421A、422A:第二傳動具

50A、50B:壓接器

51A:載具

52A、53A:連接具

521A、531A:第一滑座

54A:壓接件

Claims (20)

1. 一種壓接機構，包含：機架；至少一第一驅動結構：裝配於該機架，並設有二位於該機架兩側且可作第一方向位移之第一傳動具；至少一第二驅動結構：裝配於該機架，並設有二位於該機架兩側且可作第二方向位移之第二傳動具；至少一壓接器：包含載具及二連接具，該載具呈第三方向配置，並裝配複數個壓接件，該複數個壓接件以供壓接複數個電子元件，二該連接具呈第一方向配置而裝配於該載具之兩側，並連接該第一驅動結構之二該第一傳動具及該第二驅動結構之二該第二傳動具，而使該壓接器之該複數個壓接件同步作第一、二方向位移，並以平均施力壓接該複數個電子元件。
2. 如請求項1所述之壓接機構，其該第一驅動結構設有第一驅動源，該第一驅動源以供驅動二該第一傳動具作第一方向位移。
3. 如請求項2所述之壓接機構，其該第一驅動源為第一線性馬達。
4. 如請求項2所述之壓接機構，其該第一驅動源包含第一馬達及至少一第一傳動組。
5. 如請求項4所述之壓接機構，其該第一驅動源包含第一馬達、二第一傳動組及二第二傳動組，該第一馬達裝配於該機架，並同時驅動二該第一傳動組，二該第一傳動組分別驅動位於該機架兩側且呈第一方向配置的該第二傳動組，二該第二傳動組分別驅動二呈第二方向配置之該第一傳動具作第一方向位移。
6. 如請求項1所述之壓接機構，其該第二驅動結構設有第二驅動源，該第二驅動源以供驅動二該第二傳動具作第二方向位移，二該第二傳動具及該第二驅動源配置該壓接器之二該連接具的側方。
7. 如請求項6所述之壓接機構，其該第二驅動源包含至少一第二線性馬達。
8. 如請求項7所述之壓接機構，其該第二驅動源包含二該第二線性馬達，二該第二線性馬達裝配於該機架之兩側，並位於該壓接器之二該連接具側方，以驅動該壓接器之二該連接具位移。
9. 如請求項6所述之壓接機構，其該第二驅動源包含第二馬達及至少一第二傳動組。
10. 如請求項1所述之壓接機構，其該第一傳動具與該壓接器之該連接具間設有第一滑接單元，該第一滑接單元以供該壓接器沿該第一傳動具作第二方向位移。
11. 如請求項10所述之壓接機構，其該第一滑接單元於該第一傳動具與該連接具設有相互配合且呈第二方向配置之第一滑軌及第一滑座。
12. 如請求項1所述之壓接機構，其該第二驅動結構之該第二傳動具與該壓接器之該連接具設有第二滑接單元，該第二滑接單元以供該壓接器沿該第二傳動具作第一方向位移。
13. 如請求項12所述之壓接機構，其該第二滑接單元於該第二傳動具與該連接具間設有相互配合且呈第一方向配置之第二滑軌及第二滑座。
14. 如請求項1所述之壓接機構，其該至少一第一驅動結構包含複數個該第一驅動結構，該第二驅動結構包含複數個該第二驅動結構，至少一壓接器包含複數個該壓接器，複數個該第一驅動結構及複數個該第二驅動結構以供驅動複數個該壓接器作第一、二方向位移。
15. 如請求項1至14中任一項所述之壓接機構，其該機架之內部構成測試空間。
16. 如請求項15所述之壓接機構，其該機架之該測試空間連通至少一輸送管，以供輸送乾燥空氣。
17. 如請求項1至14中任一項所述之壓接機構，其該壓接件具有吸嘴，以供壓接及移載電子元件。
18. 如請求項1至14中任一項所述之壓接機構，更包含溫控單元，該溫控單元於該壓接器設置至少一溫控件，以供溫控電子元件。
19. 一種測試裝置，包含：機台；至少一測試器：裝配於該機台，並包含電性連接之傳輸件及電路板，以供測試電子元件；至少一如請求項1所述之壓接機構：裝配於該機台，並位於該測試器之上方，以供壓接該測試器上之電子元件。
20. 一種作業機，包含：機台；供料裝置：配置於該機台，並設有至少一供料容置器，以供容置至少一待作業電子元件；收料裝置：配置於該機台，並設有至少一收料容置器，以供容置至少一已作業電子元件；測試裝置：配置於該機台，並設有至少一測試器、輸送機構及至少一如請求項 1所述之壓接機構，該測試器以供測試電子元件，該輸送機構設有至少一輸送器以供輸送電子元件，該至少一如請求項1所述之壓接機構以供壓接電子元件；中央控制裝置：以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。

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