CN113787022A - 测试机构、测试方法及分光机 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种测试机构、测试方法及分光机，该测试机构用于对分选件进行测试，包括：支撑座，用于支撑分选件，支撑座上开设有通孔；校正定位组件，位于支撑座的上方，用于夹持并定位分选件；测试针，位于支撑座的下方；测试驱动组件，与测试针相连，用于驱动测试针进出通孔以使该测试针靠近或远离分选件。本申请通过支撑座将分选件支撑，在支撑座的上方设置校正定位组件，在支撑座的下方设置测试针和用于驱动测试针升降的测试驱动组件。当测试驱动组件驱动测试针上升时，测试针穿过支撑座上的通孔并与分选件的引脚接触导通，从而可对分选件进行测试。本申请提供的测试机构对于引脚位于底部的球头LED芯片的测试操作方便快捷。

Description

测试机构、测试方法及分光机

技术领域

本申请属于分光机技术领域，更具体地说，是涉及一种测试机构、基于该测试机构的测试方法及使用该测试机构的分光机。

背景技术

分光机是按照波长、亮度、工作电压等参数将LED(Light Emitting Diode，发光二极管)芯片分成多个组别以进行分类的设备。

目前，测试机构多用于对引脚位于两端的LED芯片，而对于引脚位于底部的球头LED芯片来说，其测试的难度较大，测试精度差。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种测试机构、测试方法及分光机，以解决相关技术中存在的：目前的测试机构对于引脚位于底部的球头LED芯片的测试难度大，测试精度差的问题。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案是：

一方面，提供一种测试机构，用于对分选件进行测试，包括：

支撑座，用于支撑所述分选件，所述支撑座上开设有通孔；

校正定位组件，位于所述支撑座的上方，用于夹持并定位所述分选件；所述校正定位组件包括校正定位底座、用于夹持所述分选件的两个夹持臂、支撑各所述夹持臂的校正定位顶座和用于驱动两个所述夹持臂相互靠近或远离的校正定位驱动单元；所述校正定位驱动单元安装于所述校正定位底座上，所述校正定位驱动单元分别与两个所述校正定位顶座连接，各所述校正定位顶座安装于所述校正定位底座上；

测试针，位于所述支撑座的下方；

测试驱动组件，与所述测试针相连，用于驱动所述测试针进出所述通孔以使该测试针靠近或远离所述分选件。

此结构，(1)本申请通过支撑座将分选件支撑，在支撑座的上方设置校正定位组件，在支撑座的下方设置测试针和用于驱动测试针升降的测试驱动组件。当测试驱动组件驱动测试针上升时，测试针穿过支撑座上的通孔并与分选件的引脚接触导通，从而可对分选件进行测试。特别是对于引脚位于底部的球头LED芯片来说，本申请提供的测试机构对于该类LED芯片的测试操作方便快捷。(2)本申请通过在支撑座的上方设置校正定位组件，可对分选件进行夹持并定位，分选件在测试的过程中位置不会发生偏移，从而有助于提高测试精度。

在一个实施例中，各所述夹持臂上开设有供所述分选件伸入的凹槽。

此结构，通过两个凹槽可实现对分选件的定位。

在一个实施例中，各所述凹槽的内侧壁设有用于将所述分选件压紧于所述支撑座上的压紧斜面。

此结构，避免测试针将分选件顶起。

在一个实施例中，所述校正定位驱动单元包括设于两个所述校正定位顶座之间的校正定位凸轮和安装于所述校正定位底座上并与所述校正定位凸轮连接的校正定位电机，所述校正定位凸轮的两端分别与两个所述校正定位顶座抵接。

此结构，通过校正定位电机驱动校正定位凸轮转动，通过校正定位凸轮可驱动两个校正定位顶座间歇性地靠近或远离。

在一个实施例中，各所述校正定位顶座上安装有与所述校正定位凸轮抵接的校正定位传动轮。

此结构，可减小摩擦磨损，延长使用寿命。

在一个实施例中，所述校正定位组件还包括连接两个所述校正定位顶座的校正定位弹性件。

此结构，通过校正定位弹性件可实现对两个校正定位顶座的弹性复位及缓冲保护。

在一个实施例中，所述校正定位底座上间隔安装有两个校正定位滑轨，各所述校正定位顶座上安装有校正定位滑块，各所述校正定位滑块滑动安装于相应所述校正定位滑轨上。

此结构，通过各校正定位滑轨与相应校正定位滑块之间的配合，可提高各校正定位顶座在校正定位底座上往复移动的可靠性。

在一个实施例中，所述支撑座上还开设有与所述通孔间隔设置的气孔。

此结构，通过气孔可将分选件吸附固定。

另一方面，提供一种测试方法，采用上述任一实施例提供的测试机构，所述测试方法包括：

校正定位组件将支撑座上的分选件进行夹持并定位；

测试驱动组件驱动测试针穿过通孔以使该测试针与所述分选件的引脚抵接导通。

此结构，通过校正定位组件对分选件进行夹持固定，避免分选件在测试时发生位置偏移。通过测试驱动组件驱动测试针升降，对于引脚位于底部的分选件的测试操作方便。

又一方面，提供一种分光机，包括上述任一实施例提供的测试机构。

此结构，采用上述测试机构的分光机对于分选件的测试作业简便，有助于提高测试精度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或示范性技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的测试针与测试驱动组件连接的立体结构示意图；

图2为本申请实施例提供的测试针与测试驱动组件连接的分解示意图；

图3为本申请实施例提供的活动座与测试针连接的分解示意图；

图4为本申请实施例提供的校正定位组件的立体结构示意图；

图5为本申请实施例提供的校正定位组件的分解示意图；

图6为本申请实施例提供的分选件在测试时的分解示意图。

其中，图中各附图主要标记：

100、分选件；

1、支撑座；10、通孔；11、气孔；

2、校正定位组件；21、校正定位底座；211、校正定位滑轨；212、校正定位感应器；213、校正定位基座；214、校正定位升降单元；2141、升降座；2142、升降导轨；2143、升降调节旋钮；215、校正定位纵移单元；2151、纵移导轨；2152、纵移调节旋钮；2153、纵移座；216、校正定位横移单元；2161、横移导轨；2162、横移调节旋钮；2163、横移座；22、夹持臂；221、凹槽；23、校正定位顶座；231、校正定位传动轮；232、校正定位滑块；233、校正定位感应片；24、校正定位驱动单元；241、校正定位凸轮；242、校正定位电机；25、校正定位弹性件；

3、测试针；30、开孔；

4、测试驱动组件；41、测试底座；411、测试滑轨；412、测试感应器；413、测试升降单元；4131、升降滑轨；4132、升降测试调节旋钮；4133、测试升降移动座；414、测试纵移单元；4141、纵移滑轨；4142、纵移测试调节旋钮；4143、测试纵移移动座；415、测试横移单元；4151、横移滑轨；4152、横移测试调节旋钮；4153、测试横移移动座；42、测试滑动座；421、测试上夹持座；422、测试下夹持座；423、测试隔板；424、上定位槽；425、下定位槽；426、测试传动轮；427、测试滑块；428、测试感应片；43、测试驱动单元；431、测试驱动电机；432、测试凸轮；44、第一弹性件；45、抵挡柱；46、第二弹性件。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在整个说明书中参考“一个实施例”或“实施例”意味着结合实施例描述的特定特征，结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，“在一个实施例中”或“在一些实施例中”的短语出现在整个说明书的各个地方，并非所有的指代都是相同的实施例。此外，在一个或多个实施例中，可以以任何合适的方式组合特定的特征，结构或特性。

为了方便描述，定义空间上相互垂直的三个坐标轴分别为X轴、Y轴和Z轴，同时，沿X轴的方向为纵向，沿Y轴的方向为横向，沿Z轴方向为竖向；其中X轴与Y轴为同一水平面相互垂直的两个坐标轴，Z轴为竖直方向的坐标轴；X轴、Y轴和Z轴位于空间相互垂直有三个平面分别为XY面、YZ面和XZ面，其中，XY面为水平面，XZ面和YZ面均为竖直面，且XZ面与YZ面垂直。空间中三轴为X轴、Y轴和Z轴，沿空间上三轴移动指沿空间上相互垂直的三轴移动，特指在空间上沿X轴、Y轴和Z轴移动；而平面移动，则为在XY面移动。

请参阅图1、图4和图6，现对本申请实施例提供的测试机构进行说明。该测试机构用于对分选件100进行测试。其中，分选件100可为引脚位于底部的球头LED芯片，在此不作唯一限定。该测试机构包括支撑座1、校正定位组件2、测试针3和测试驱动组件4。支撑座1用于支撑分选件100，支撑座1上开设有与分选件100上的引脚对位设置的通孔10。校正定位组件2位于支撑座1的上方，用于夹持并定位分选件100。测试针3位于支撑座1的下方，测试针3与通孔10呈对位设置。测试驱动组件4与测试针3相连，测试驱动组件4可驱动测试针3升降，从而可使测试针3进出通孔10，以实现测试针3与分选件100的引脚接通与断开。当测试针3与分选件100导通时，可实现对分选件100的测试。此结构，本申请通过支撑座1将分选件100支撑，在支撑座1的上方设置校正定位组件2，在支撑座1的下方设置测试针3和用于驱动测试针3升降的测试驱动组件4。当测试驱动组件4驱动测试针3上升时，测试针3穿过支撑座1上的通孔10并与分选件100的引脚接触导通，从而可对分选件100进行测试。特别是对于引脚位于底部的球头LED芯片来说，本申请提供的测试机构对于该类LED芯片的测试操作方便快捷。本申请通过在支撑座1的上方设置校正定位组件2，可对分选件100进行夹持并定位，分选件100在测试的过程中位置不会发生偏移，从而有助于提高测试精度。

在一个实施例中，请参阅图6，支撑座1上还可开设有用于与外部气源连通的气孔11。此结构，当分选件100安装于支撑座1上时，气孔11抽气可实现对分选件100的吸附固定。

在一个实施例中，请参阅图4和图5，作为本申请实施例提供的测试机构的一种具体实施方式，校正定位组件2包括校正定位底座21、用于夹持分选件100的两个夹持臂22、支撑各夹持臂22的校正定位顶座23和用于驱动两个夹持臂22相互靠近或远离的校正定位驱动单元24；校正定位驱动单元24安装于校正定位底座21上，校正定位驱动单元24分别与两个校正定位顶座23连接，各校正定位顶座23安装于校正定位底座21上。此结构，当校正定位驱动单元24驱动两个校正定位顶座23相互靠近时，两个校正定位顶座23带动两个夹持臂22相互靠近，从而可实现对分选件100的夹持并定位，可避免测试针3在对分选件100进行测试时而造成分选件100的位置发生偏移，有助于提高测试精度。

在一些实施例中，校正定位组件2也可为直接抓取分选件100的机械手臂；或者，校正定位组件2也可为吸附分选件100的吸嘴和用于驱动吸嘴移动的移动单元，该移动单元与吸嘴连接。其中，移动单元可为多轴关节臂等。当然，在其它实施例中，校正定位组件2的结构也可以根据实际需要进行调节，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图6，作为本申请实施例提供的测试机构的一种具体实施方式，各夹持臂22上开设有供分选件100伸入的凹槽221。此结构，通过两个凹槽221可分别对分选件100的两端进行定位，从而可提高两个夹持臂22对分选件100的夹持定位效果。

在一个实施例中，各凹槽221可呈V型结构设置。此结构，分选件100可为规则的方形结构，分选件100的相邻两个外周面可与相应凹槽221的两个内侧壁抵接，从而有助于提高对分选件100的定位。

在一个实施例中，请参阅图6，作为本申请实施例提供的测试机构的一种具体实施方式，各凹槽221的内侧壁设有用于将分选件100压紧于支撑座1上的压紧斜面(图未标)。此结构，当两个夹持臂22夹持分选件100时，凹槽221内侧壁上的压紧斜面可将分选件100压紧于支撑座1上，从而避免测试针3将分选件100顶起。

在一个实施例中，请参阅图5，作为本申请实施例提供的测试机构的一种具体实施方式，校正定位驱动单元24包括设于两个校正定位顶座23之间的校正定位凸轮241和安装于校正定位底座21上并与校正定位凸轮241连接的校正定位电机242，校正定位凸轮241的两端分别与两个校正定位顶座23抵接。此结构，通过校正定位电机242驱动校正定位凸轮241转动，通过校正定位凸轮241可驱动两个校正定位顶座23间歇性地靠近或远离。

在一些实施例中，校正定位驱动单元24也可为手指气缸。在另一些实施例中，校正定位驱动单元24也可为丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，校正定位驱动单元24的数量可为两个，两个校正定位驱动单元24可分别与两个夹持臂22连接。当然，在其它实施例中，校正定位驱动单元24也可以根据实际需要进行调节，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图5，作为本申请实施例提供的测试机构的一种具体实施方式，各校正定位顶座23上安装有与校正定位凸轮241抵接的校正定位传动轮231。此结构，通过校正定位凸轮241与校正定位传动轮231的配合抵接推动各校正定位顶座23移动，可减小摩擦磨损，延长使用寿命。

在一个实施例中，请参阅图5，作为本申请实施例提供的测试机构的一种具体实施方式，校正定位组件2还包括连接两个校正定位顶座23的校正定位弹性件25。此结构，当校正定位凸轮241驱动两个校正定位顶座23相互远离时，校正定位弹性件25处于拉伸状态；当校正定位凸轮241继续转动时，在校正定位弹性件25的回弹力作用下，两个校正定位顶座23可相互靠近并恢复至初始位置状态，便于后续重复作业。其中，校正定位弹性件25可为弹性，校正定位弹性件25的数量可为两个。

在一个实施例中，请参阅图4和图5，作为本申请实施例提供的测试机构的一种具体实施方式，校正定位底座21上间隔安装有两个校正定位滑轨211，各校正定位顶座23上安装有校正定位滑块232，各校正定位滑块232滑动安装于相应校正定位滑轨211上。此结构，通过各校正定位滑轨211与相应校正定位滑块232之间的配合，可提高各校正定位顶座23在校正定位底座21上往复移动的可靠性。

在一个实施例中，请参阅图4，校正定位底座21上可安装有校正定位感应器212，校正定位顶座23上安装有与该校正定位感应器212配合的校正定位感应片233。此结构，通过校正定位感应器212与校正定位感应片233的配合，可对校正定位顶座23的移动起到监测保护作用。

在一个实施例中，请参阅图4和图5，校正定位底座21可包括支撑两个校正定位底座21的校正定位基座213、用于驱动校正定位基座213升降的校正定位升降单元214、用于驱动校正定位基座213纵向移动的校正定位纵移单元215和用于驱动校正定位基座213横向移动的校正定位横移单元216；校正定位基座213安装于校正定位升降单元214上，校正定位升降单元214安装于校正定位纵移单元215上，校正定位纵移单元215安装于校正定位横移单元216上。其中，校正定位感应器212可安装于校正定位基座213上。此结构，通过校正定位升降单元214、校正定位纵移单元215和校正定位横移单元216可对两个夹持臂22的位置进行多方位调节。

在一个实施例中，请参阅图4，校正定位横移单元216可包括横移导轨2161，以及分别安装于横移导轨2161上的横移调节旋钮2162与横移座2163，横移座2163上开设有供横移调节旋钮2162的螺杆伸入的螺丝孔，校正定位纵移单元215安装于横移座2163上。此结构，通过调节横移调节旋钮2162，可驱动横移座2163在横移导轨2161上沿X轴方向移动，进而带动校正定位纵移单元215、校正定位升降单元214和两个夹持臂22沿X轴方向移动。当然，在其它实施例中，校正定位横移单元216也可为丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图4，校正定位纵移单元215可包括安装于横移座2163上的纵移导轨2151，以及分别安装于纵移导轨2151上的纵移调节旋钮2152与纵移座2153，纵移座2153上开设有供纵移调节旋钮2152的螺杆伸入的螺丝孔，校正定位升降单元214安装于纵移座2153上。此结构，通过调节纵移调节旋钮2152，可驱动纵移座2153在纵移导轨2151上沿Y轴方向移动，进而带动校正定位升降单元214和两个夹持臂22沿Y轴方向移动。当然，在其它实施例中，校正定位纵移单元215也可为丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图4，校正定位升降单元214可包括支撑校正定位基座213的升降座2141、安装于升降座2141上的升降导轨2142和安装于升降导轨2142上的升降调节旋钮2143，纵移座2153上开设有供升降调节旋钮2143的螺杆伸入的螺丝孔。此结构，通过调节升降调节旋钮2143，可驱动升降座2141沿Z轴方向移动，进而带动两个夹持臂22沿Z轴方向移动。当然，在其它实施例中，校正定位升降单元214也可为丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图1，测试驱动组件4包括测试底座41、支撑测试针3的测试滑动座42和用于驱动测试滑动座42升降的测试驱动单元43；测试驱动单元43安装于测试底座41上，测试驱动单元43与测试滑动座42连接。此结构，通过测试驱动单元43驱动测试滑动座42在测试底座41上升降，进而可实现测试针3与分选件100的引脚导通，以及测试针3与分选件100的引脚分离。

在一些实施例中，测试驱动组件4也可为直接与测试针3连接的丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图3，测试滑动座42包括安装于测试底座41上的测试上夹持座421和与测试上夹持座421连接以夹持测试针3的测试下夹持座422。此结构，通过测试上夹持座421与测试下夹持座422的配合可将测试针3夹持固定，也便于对测试针3的维护及更换。

在一个实施例中，请参阅图3，测试针3上开设有开孔30；测试驱动组件4还包括安装于开孔30中的第一弹性件44和安装于测试滑动座42上并伸入开孔30中的抵挡柱45，第一弹性件44的一端与开孔30的内侧壁抵接，第一弹性件44的另一端与抵挡柱45抵接。此结构，当测试驱动单元43驱动测试针3穿过通孔10并与分选件100的引脚抵接时，测试针3在分选件100的作用力下回缩，第一弹性件44受压变形，从而起到对测试针3的缓冲保护作用。当测试驱动单元43驱动测试针3穿过通孔10并与分选件100的引脚分离时，测试针3在第一弹性件44的回弹力作用下恢复至初始位置状态，以实现后续重复作业。

在一个实施例中，请参阅图3，当测试针3的数量为多个时，支撑座1上的通孔10的数量也可为多个，测试针3的数量与通孔10的数量相同。测试滑动座42还可包括安装于测试上夹持座421与测试下夹持座422之间的测试隔板423，多个测试针3可分为两组，一组测试针3可由测试下夹持座422与测试隔板423夹持固定，另一组测试针3可由测试上夹持座421与测试隔板423夹持固定。

在一个实施例中，请参阅图3，测试上夹持座421上可开设有供相应测试针3伸入的上定位槽424，测试针3的两端可分别伸出该上定位槽424。同理，测试下夹持座422上可开设有供相应测试针3伸入的下定位槽425，测试针3的两端可分别伸出该下定位槽425。此结构，通过上定位槽424和下定位槽425的引导定位，可提高测试针3往复移动的可靠性。

在一个实施例中，请参阅图1和图2，测试驱动单元43包括安装于测试底座41上的测试驱动电机431和与测试驱动电机431的主轴连接的测试凸轮432，测试凸轮432与测试滑动座42抵接。此结构，通过测试驱动电机431驱动测试凸轮432转动，进而可带动测试滑动座42间歇性升降，可一并带动测试针3往复升降。

在一些实施例中，测试驱动单元43也可为直接与测试滑动座42连接的丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图1和图2，测试滑动座42上安装有与测试凸轮432抵接的测试传动轮426。此结构，通过测试凸轮432与测试传动轮426的配合抵接推动测试滑动座42升降，可减小摩擦磨损，延长使用寿命。

在一个实施例中，请参阅图1和图2，测试驱动组件4还包括连接测试底座41与测试滑动座42连接的第二弹性件46。此结构，当测试凸轮432通过测试传动轮426抵推测试滑动座42上升时，第二弹性件46处于拉伸状态；当测试凸轮432通过测试传动轮426抵推测试滑动座42下降时，在测试滑动座42与第二弹性件46的回弹力作用下，测试滑动座42可恢复至初始位置状态，第二弹性件46可起到对测试滑动座42的缓冲保护作用。其中，第二弹性件46可为弹簧，第二弹性件46的数量可为单个或多个。

在一个实施例中，请参阅图2，测试底座41上安装有测试滑轨411，测试滑动座42上安装有滑动安装于测试滑轨411上的测试滑块427。此结构，通过测试滑轨411与测试滑块427的配合，可起到测试滑块427往复升降的可靠性。

在一个实施例中，请参阅图1和图2，测试底座41上还安装有测试感应器412，测试滑动座42上安装有用于与测试感应器412配合的测试感应片428。此结构，通过测试感应器412与测试感应片428的配合，可对测试滑动座42的移动起到监测保护作用。

在一个实施例中，请参阅图1，测试底座41可包括用于驱动测试滑动座42升降的测试升降单元413、用于驱动测试滑动座42纵向移动的测试纵移单元414和用于驱动测试滑动座42横向移动的测试横移单元415；测试滑动座42安装于测试升降单元413上，测试升降单元413安装于测试纵移单元414上，测试纵移单元414安装于测试横移单元415上。此结构，通过测试升降单元413、测试纵移单元414和测试横移单元415可对测试针3的位置进行多方位调节。

在一个实施例中，请参阅图1，测试横移单元415可包括横移滑轨4151，以及分别安装于横移滑轨4151上的横移测试调节旋钮4152与测试横移移动座4153，测试横移移动座4153上开设有供横移测试调节旋钮4152的螺杆伸入的螺丝孔，测试纵移单元414安装于测试横移移动座4153上。此结构，通过调节横移测试调节旋钮4152，可驱动测试横移移动座4153在横移滑轨4151上沿X轴方向移动，进而带动测试纵移单元414、测试升降单元413和测试针3沿X轴方向移动。当然，在其它实施例中，测试横移单元415也可为丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图1，测试纵移单元414可包括安装于测试横移移动座4153上的纵移滑轨4141，以及分别安装于纵移滑轨4141上的纵移测试调节旋钮4142与测试纵移移动座4143，测试纵移移动座4143上开设有供纵移测试调节旋钮4142的螺杆伸入的螺丝孔，测试升降单元413安装于测试纵移移动座4143上。此结构，通过调节纵移测试调节旋钮4142，可驱动测试纵移移动座4143在纵移滑轨4141上沿Y轴方向移动，进而带动测试升降单元413和测试针3沿Y轴方向移动。当然，在其它实施例中，测试纵移单元414也可为丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图1，测试升降单元413可包括安装于测试纵移移动座4143上的升降滑轨4131，以及分别安装于升降滑轨4131上的升降测试调节旋钮4132与测试升降移动座4133，测试升降移动座4133上开设有供升降测试调节旋钮4132的螺杆伸入的螺丝孔，测试滑动座42安装于测试升降移动座4133上。此结构，通过调节升降测试调节旋钮4132，可驱动测试升降移动座4133在升降滑轨4131上沿Z轴方向移动，进而可带动测试针3沿Y轴方向移动。当然，在其它实施例中，测试升降单元413也可为丝杆传动机构、滑台直线电机、气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

本申请实施例还提供了一种测试方法，采用上述任一实施例提供的测试机构，该测试方法具体包括以下步骤：

1、校正定位组件2将支撑座1上的分选件100进行夹持并定位。具体地，校正定位电机242驱动校正定位凸轮241转动，校正定位凸轮241驱动两个校正定位顶座23相互靠近，两个夹持臂22可将分选件100夹持固定。

2、测试驱动组件4驱动测试针3穿过通孔10以使测试针3与分选件100的引脚抵接导通。具体地，测试驱动电机431驱动测试凸轮432转动，测试凸轮432驱动测试滑动座42上升，测试针3穿过通孔10并与分选件100的引脚抵接导通，进而可实现对分选件100的测试。

3、校正定位组件2恢复至初始位置状态，测试驱动组件4驱动测试针3回复至初始位置状态。具体地，校正定位凸轮241驱动两个校正定位顶座23相互远离，两个夹持臂22相互分离以解除对分选件100的夹持。测试凸轮432驱动测试滑动座42下降，测试针3从通孔10中脱离并与分选件100分离。

本申请实施例还提供了一种分光机，包括上述任一实施例提供的测试机构。此结构，采用上述测试机构的分光机对于分选件100的测试作业简便，有助于提高测试精度。

以上所述仅为本申请的可选实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.测试机构，用于对分选件进行测试，其特征在于，包括：

支撑座，用于支撑所述分选件，所述支撑座上开设有通孔；

校正定位组件，位于所述支撑座的上方，用于夹持并定位所述分选件；所述校正定位组件包括校正定位底座、用于夹持所述分选件的两个夹持臂、支撑各所述夹持臂的校正定位顶座和用于驱动两个所述夹持臂相互靠近或远离的校正定位驱动单元；所述校正定位驱动单元安装于所述校正定位底座上，所述校正定位驱动单元分别与两个所述校正定位顶座连接，各所述校正定位顶座安装于所述校正定位底座上；

测试针，位于所述支撑座的下方；

测试驱动组件，与所述测试针相连，用于驱动所述测试针进出所述通孔以使该测试针靠近或远离所述分选件。

2.如权利要求1所述的测试机构，其特征在于：各所述夹持臂上开设有供所述分选件伸入的凹槽。

3.如权利要求2所述的测试机构，其特征在于：各所述凹槽的内侧壁设有用于将所述分选件压紧于所述支撑座上的压紧斜面。

4.如权利要求1所述的测试机构，其特征在于：所述校正定位驱动单元包括设于两个所述校正定位顶座之间的校正定位凸轮和安装于所述校正定位底座上并与所述校正定位凸轮连接的校正定位电机，所述校正定位凸轮的两端分别与两个所述校正定位顶座抵接。

5.如权利要求4所述的测试机构，其特征在于：各所述校正定位顶座上安装有与所述校正定位凸轮抵接的校正定位传动轮。

6.如权利要求1-5任一项所述的测试机构，其特征在于：所述校正定位组件还包括连接两个所述校正定位顶座的校正定位弹性件。

7.如权利要求1-5任一项所述的测试机构，其特征在于：所述校正定位底座上间隔安装有两个校正定位滑轨，各所述校正定位顶座上安装有校正定位滑块，各所述校正定位滑块滑动安装于相应所述校正定位滑轨上。

8.如权利要求1-5任一项所述的测试机构，其特征在于：所述支撑座上还开设有与所述通孔间隔设置的气孔。

9.测试方法，采用如权利要求1-8任一项所述的测试机构，其特征在于，所述测试方法包括：

校正定位组件将支撑座上的分选件进行夹持并定位；

测试驱动组件驱动测试针穿过通孔以使该测试针与所述分选件的引脚抵接导通。

10.分光机，其特征在于：包括如权利要求1-8任一项所述的测试机构。

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