CN210166419U - 一种可调节压缩量的陶瓷探针组件 - Google Patents
一种可调节压缩量的陶瓷探针组件 Download PDFInfo
- Publication number
- CN210166419U CN210166419U CN201920427540.6U CN201920427540U CN210166419U CN 210166419 U CN210166419 U CN 210166419U CN 201920427540 U CN201920427540 U CN 201920427540U CN 210166419 U CN210166419 U CN 210166419U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- ceramic
- shaped hole
- jackscrew
- initial position
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型涉及一种可调节压缩量的陶瓷探针组件,包括陶瓷座、探针、陶瓷盖、探针弹簧、探针销、顶丝和螺母,整个陶瓷探针组件没有主动动力,其运动都是受到外力作用而进行的一定范围内的调节运动,陶瓷座为主要承重部件,探针为主要工作部件,探针可在卡槽内上下滑动,对位准确,探针弹簧抵紧探针销,使探针在不受力时处于初始位置,受力时会向上移动,旋转顶丝可以对探针销的初始位置进行调整,可调节压缩量,具有初始位置的微距离调节能力。陶瓷探针组件在测试时具有自动吸收压缩余量的功能,防止产品撞击损坏和探针过度磨损,且每次动作后能自动快速回复的初始位置,便于下一次测试,非常适合小材料SMD电性测试,尤其是应用在编带机上。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试设备技术领域,尤其涉及一种可调节压缩量的陶瓷探针组件。
背景技术
LED由于其体积多样适应性广、色均好、易控制、功耗低的优点,使用量与日俱增,在其生产环节中需要一些高效率、稳定性好、寿命长的生产设备,编带机就是其中一种。目前的编带机具有上料分料、测试、载带封装等多种功能,电性测试是编带机选料的重要依据,测试结果的准确性决定了生产产品的合格率。同时,测试时间也成为影响整台机器的产能瓶颈。测试过程需要用到探针组件,产品运动到指定的测试位置,但这个位置是控制在一定的误差范围内,为了便于安装调试及节省成本,尽可能的增大误差范围,所以往往会有探针的针脚对位不准确,探针磨损剧烈而导致产品针脚磨损、探针更换频繁。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种可调节压缩量的陶瓷探针组件,探针对位准确,磨损小。
本实用新型是这样实现的:一种可调节压缩量的陶瓷探针组件,包括陶瓷座、探针、陶瓷盖、探针弹簧、探针销、顶丝和螺母,所述陶瓷座侧面设有卡槽,所述探针上下滑动地设置在所述卡槽内,所述陶瓷盖设置在陶瓷座侧面,将探针限定在卡槽内,所述探针销横向设置在探针上,所述陶瓷盖侧面设有阶梯条形孔,阶梯条形孔中的内侧条形孔宽度大于外侧条形孔,所述探针销从内侧条形孔穿过进入外侧条形孔,所述探针销与外侧条形孔尺寸相匹配以形成导向结构,所述探针弹簧设置在内侧条形孔内,并位于探针销的上方,所述顶丝设置在陶瓷盖的底部,并穿过陶瓷盖与探针销抵接,所述螺母用于将顶丝固定在陶瓷盖上。
其中,所述陶瓷座的两侧均设有一组或多组探针、陶瓷盖、探针弹簧、探针销、顶丝和螺母。
其中,所述探针包括探针一和探针二,所述探针一和探针二互为镜像件,并且平行布置。
其中,所述陶瓷座包括本体和固定板,所述固定板位于本体的上方,所述固定板上设有安装通孔。
其中,所述探针上端设有通孔,用于外接测试线。
其中,所述探针横截面为方形,所述陶瓷座上的卡槽横截面也为方形。
本实用新型的有益效果为:本实用新型所述陶瓷探针组件没有主动动力,其运动都是受到外力作用而进行的一定范围内的调节运动,陶瓷座为主要承重部件,探针为主要工作部件,探针可在卡槽内上下滑动,对位准确,探针弹簧抵紧探针销,使探针在不受力时处于初始位置,受力时会向上移动,旋转顶丝可以对探针销的初始位置进行调整,可调节压缩量,具有初始位置的微距离调节能力。所述陶瓷探针组件在测试时具有自动吸收压缩余量的功能,防止产品撞击损坏和探针过度磨损,且每次动作后能自动快速回复的初始位置,便于下一次测试,非常适合小材料SMD电性测试,尤其是应用在编带机上。陶瓷座和陶瓷盖均为陶瓷材质,整体相对于机台绝缘。
附图说明
图1是本实用新型所述陶瓷探针组件实施例的整体结构示意图;
图2是本实用新型所述陶瓷探针组件实施例另一角度的整体结构示意图;
图3是本实用新型所述陶瓷探针组件实施例的分解结构示意图。
其中,1、陶瓷座;11、卡槽;12、本体;13、固定板;131、安装通孔;2、探针;21、通孔;3、陶瓷盖;31、内侧条形孔;32、外侧条形孔;4、探针弹簧;5、探针销;6、顶丝;7、螺母。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
作为本实用新型所述可调节压缩量的陶瓷探针组件的实施例,如图1至图3所示,包括陶瓷座1、探针2、陶瓷盖3、探针弹簧4、探针销5、顶丝6和螺母7,所述陶瓷座1侧面设有卡槽11,所述探针2上下滑动地设置在所述卡槽11内,所述陶瓷盖3设置在陶瓷座1侧面,将探针2限定在卡槽11内,所述探针销5横向设置在探针2上,所述陶瓷盖3侧面设有阶梯条形孔,阶梯条形孔中的内侧条形孔31宽度大于外侧条形孔32,所述探针销5从内侧条形孔31穿过进入外侧条形孔32,所述探针销5与外侧条形孔32尺寸相匹配以形成导向结构,所述探针弹簧4设置在内侧条形孔31内,并位于探针销5的上方,所述顶丝6设置在陶瓷盖3的底部,并穿过陶瓷盖3与探针销5抵接,所述螺母7用于将顶丝6固定在陶瓷盖3上。
本实用新型所述陶瓷探针组件没有主动动力,其运动都是受到外力作用而进行的一定范围内的调节运动,陶瓷座1为主要承重部件,探针2为主要工作部件,探针2可在卡槽11内上下滑动,对位准确,探针弹簧4抵紧探针销5,使探针2在不受力时处于初始位置,受力时会向上移动,旋转顶丝6可以对探针销5的初始位置进行调整,可调节压缩量,具有初始位置的微距离调节能力。所述陶瓷探针组件在测试时具有自动吸收压缩余量的功能,防止产品撞击损坏和探针过度磨损,且每次动作后能自动快速回复的初始位置,便于下一次测试,非常适合小材料SMD电性测试,尤其是应用在编带机上。陶瓷座1和陶瓷盖3均为陶瓷材质,整体相对于机台绝缘。
在本实施例中,所述陶瓷座1的两侧均设有多组探针2、陶瓷盖3、探针弹簧4、探针销5、顶丝6和螺母7,具体为二组。所述探针2包括探针一和探针二,所述探针一和探针二互为镜像件,并且平行布置,具体一共有四个探针,用于LED测试。
在本实施例中,所述陶瓷座1包括本体12和固定板13,所述固定板13位于本体12的上方,所述固定板13上设有安装通孔131,方便安装到机台上。
在本实施例中,所述探针2上端设有通孔21,用于外接测试线。
在本实施例中,所述探针2横截面为方形,所述陶瓷座1上的卡槽11横截面也为方形,方向性好,不会产生周向运动,以免产生偏差。探针销与外侧条形孔形成的导向结构也可以有效减小探针2的运动偏差。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种可调节压缩量的陶瓷探针组件,其特征在于,包括陶瓷座、探针、陶瓷盖、探针弹簧、探针销、顶丝和螺母,所述陶瓷座侧面设有卡槽,所述探针上下滑动地设置在所述卡槽内,所述陶瓷盖设置在陶瓷座侧面,将探针限定在卡槽内,所述探针销横向设置在探针上,所述陶瓷盖侧面设有阶梯条形孔,阶梯条形孔中的内侧条形孔宽度大于外侧条形孔,所述探针销从内侧条形孔穿过进入外侧条形孔,所述探针销与外侧条形孔尺寸相匹配以形成导向结构,所述探针弹簧设置在内侧条形孔内,并位于探针销的上方,所述顶丝设置在陶瓷盖的底部,并穿过陶瓷盖与探针销抵接,所述螺母用于将顶丝固定在陶瓷盖上。
2.根据权利要求1所述的陶瓷探针组件,其特征在于,所述陶瓷座的两侧均设有一组或多组探针、陶瓷盖、探针弹簧、探针销、顶丝和螺母。
3.根据权利要求2所述的陶瓷探针组件,其特征在于,所述探针包括探针一和探针二,所述探针一和探针二互为镜像件,并且平行布置。
4.根据权利要求1所述的陶瓷探针组件,其特征在于,所述陶瓷座包括本体和固定板,所述固定板位于本体的上方,所述固定板上设有安装通孔。
5.根据权利要求1所述的陶瓷探针组件,其特征在于,所述探针上端设有通孔,用于外接测试线。
6.根据权利要求1所述的陶瓷探针组件,其特征在于,所述探针横截面为方形,所述陶瓷座上的卡槽横截面也为方形。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201920427540.6U CN210166419U (zh) | 2019-03-29 | 2019-03-29 | 一种可调节压缩量的陶瓷探针组件 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201920427540.6U CN210166419U (zh) | 2019-03-29 | 2019-03-29 | 一种可调节压缩量的陶瓷探针组件 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN210166419U true CN210166419U (zh) | 2020-03-20 |
Family
ID=69789995
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201920427540.6U Active CN210166419U (zh) | 2019-03-29 | 2019-03-29 | 一种可调节压缩量的陶瓷探针组件 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN210166419U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113787022A (zh) * | 2021-09-13 | 2021-12-14 | 深圳市标谱半导体科技有限公司 | 测试机构、测试方法及分光机 |
-
2019
- 2019-03-29 CN CN201920427540.6U patent/CN210166419U/zh active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113787022A (zh) * | 2021-09-13 | 2021-12-14 | 深圳市标谱半导体科技有限公司 | 测试机构、测试方法及分光机 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101803128B (zh) | 弹簧接触组件 | |
US20160370405A1 (en) | Electrical device testing fixture | |
CN210166419U (zh) | 一种可调节压缩量的陶瓷探针组件 | |
KR100540434B1 (ko) | 접촉자 | |
KR101007660B1 (ko) | 비지에이 테스트소켓 | |
DE102022106418A1 (de) | Wafer-prüfsystem | |
DE202012104416U1 (de) | Testsockel mit hakenartiger Pinkontaktkante | |
CN204166014U (zh) | 一种可调集成电路测试治具 | |
CN204320598U (zh) | 一种可调节涂布间距的涂布装置 | |
CN217034039U (zh) | 一种半导体芯片测试座 | |
CN204758186U (zh) | 一种滑动式弹力测试座 | |
CN207901002U (zh) | 一种检具用快速拉紧复合定位机构 | |
CN208946335U (zh) | 快速定位冲压装置 | |
CN212410656U (zh) | 蛇形弹片针组件 | |
CN205449039U (zh) | 一种平面度检测装置 | |
CN211235923U (zh) | 一种网络变压器电性测试机构 | |
CN210570757U (zh) | 一种便于固定的新型测试治具 | |
CN216560709U (zh) | 一种探针卡保护装置 | |
CN215728731U (zh) | 一种线束导通打点工装 | |
CN216052039U (zh) | 一种半导体测试模块 | |
CN211135032U (zh) | 整形夹具 | |
CN207730798U (zh) | 一种长短脚测试工装 | |
CN209505231U (zh) | 打印成像设备及芯片 | |
CN220552919U (zh) | 一种老化测试电阻的装置 | |
CN209272694U (zh) | 电火花数控机床的涨丝机构 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |