CN113092982A - 一种测试座以及测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及测试装置技术领域，特别地涉及一种测试座以及测试设备。本发明提供的测试座，测试座包括第一测试座板、第二测试座板、第一密封件、第二密封件以及支撑框。第一测试座板、第二测试座板以及支撑框构成密封空腔，同时，分别在第一测试座板以及第二测试座板的外侧设置第一密封件以及第二密封件，进一步加强密封空腔的密封性能。故可有效地将外界环境与测试座内部隔离，使得处于密封空腔内的探针等测试元件处于密封的环境中，使得本申请提供的测试座在盐雾、尘土环境条件下的检测时，可有效地保护密封空腔内的探针等测试元件，避免机械零部件腐蚀、磨损失效，避免电路短路或断路，进而提高芯片的测试精度。

Description

一种测试座以及测试设备

技术领域

本发明涉及测试装置技术领域，特别地涉及一种测试座以及测试设备。

背景技术

目前，用于芯片检测的盐雾试验以盐溶液浓度、温度、时间等作为试验参数。主要测量芯片的耐腐蚀性能。经常忽略在测试过程中测试装置本身的耐腐蚀性，致使测试结果存在一定的偏差。

现有的测试装置大多不能满足盐雾、尘土环境条件下的芯片测试。现有的测试座以及测试设备长期在盐雾、尘土等环境中的工作，极易导致机械零部件腐蚀、磨损失效，导致电路短路，裸露导线、芯片管脚腐蚀断路，相邻管脚短路等情况，严重影响芯片的测试精度。

发明内容

本发明提供一种测试座，所述测试座，可有效地解决上述技术问题。

本发明的测试座，所述测试座包括第一测试座板、第二测试座板、第一密封件、第二密封件以及支撑框。所述第一测试座板与所述第二测试座板通过所述支撑框连接，所述第一测试座板、所述第二测试座板以及所述支撑框构成密封空腔。所述第一密封件设置于所述第一测试座板远离所述支撑框的一侧，所述第二密封件设置于所述第二测试座板远离所述支撑框的一侧。

在一个实施方式中，所述支撑框与所述第一测试座板、所述第二测试座板连接处均设置有密封胶。

在一个实施方式中，所述测试座还包括探针以及芯片管脚，所述芯片管脚抵接于所述第一密封件远离所述第一测试座板的一侧，所述探针一端可滑动地贯穿所述第一测试座板以及第一密封件抵接于所述芯片管脚，所述第二测试座板开设有用于容纳所述探针的针孔，所述探针的另一端可滑动地连接于所述针孔并向靠近所述第二密封件的方向延伸。

在一个实施方式中，所述测试座还包括套设于所述探针外周壁的弹性件，所述探针外周壁设置有限位凸环，所述弹性件一端抵接于所述限位凸环，另一端抵接于所述第二测试座板远离所述第二密封件的一侧。

在一个实施方式中，所述测试座还包括与所述芯片管脚连接的芯片，所述芯片管脚围绕所述芯片设置。

在一个实施方式中，所述测试座还包括螺柱，所述螺柱一端连接有螺母，所述螺柱另一端依次贯穿连接所述第一密封件、所述第一测试座板、所述支撑框以及所述第二测试座板。

在一个实施方式中，所述测试座还包括密封接口，所述密封接口凸设于所述第二测试座板远离所述第二密封件一侧。

本发明还提供了一种测试设备，所述测试设备包括基架、导温装置、测试机以及上述的测试座；所述基架包括底板以及支撑板，所述测试座设置于所述底板上，所述导温装置与所述支撑板活动连接，以使所述导温装置靠近或远离所述测试座，所述测试机与所述测试座电连接。

在一个实施方式中，所述测试设备还包括丝杠导轨模组以及连接组件，所述丝杠导轨模组与所述支撑板连接，所述连接组件与所述丝杠导轨模组连接，以使所述连接组件沿第一预设方向滑动；所述连接组件连接所述导温装置。

在一个实施方式中，所述连接组件包括导轨转接板、导轨件、滑块以及支撑连接件；所述导轨转接板与所述丝杠导轨模组连接，所述导轨件凸设于所述导轨转接板远离所述丝杠导轨模组丝杠导轨模组的一侧，所述滑块与所述导轨件滑动连接，以使所述滑块沿着第二预设方向滑动；所述滑块与所述支撑连接件连接，所述支撑连接件与所述导温装置连接。

在一个实施方式中，所述第一预设方向与所述第二预设方向垂直。

在一个实施方式中，所述测试设备还包括锁定装置，所述锁定装置包括拨杆支架、弹性锁舌以及设置于所述导轨转接板一侧锁槽；所述弹性锁舌可滑动地连接于所述拨杆支架，所述弹性锁舌构造为可选择地远离或靠近所述锁槽；所述拨杆支架与所述滑块连接。

在一个实施方式中，所述弹性锁舌包括锁舌以及弹簧；所述锁舌包括半球状锁头、锁杆以及限位件，所述限位件凸设于所述锁杆侧壁，所述半球状锁头设置于所述锁杆的端部，所述锁舌可滑动地贯穿所述拨杆支架，所述限位件抵止于所述拨杆支架，所述弹簧套设于所述锁杆，所述弹簧一端抵接于所述半球状锁头，另一端抵接于所述拨杆支架。

在一个实施方式中，所述导温装置包括恒温容器以及导温压头，所述导温压头设置于所述恒温容器靠近所述测试座的一端。

在一个实施方式中，所述导温装置还包括保护罩，所述保护罩套设于所述恒温容器外侧。

在一个实施方式中，所述测试设备还包括密封隔离罩，所述测试机设置于所述密封隔离罩内，所述测试机与所述测试座通过测试导线连接。

本发明提供的一种测试座，与现有技术相比，至少具备有以下有益效果：

本发明提供的测试座，所述测试座包括第一测试座板、第二测试座板、第一密封件、第二密封件以及支撑框。所述第一测试座板、所述第二测试座板以及所述支撑框构成密封空腔，同时，分别在第一测试座板以及第二测试座板的外侧设置第一密封件以及第二密封件，进一步加强密封空腔的密封性能。故可有效地将外界环境与测试座内部隔离，使得处于密封空腔内的探针等测试元件处于密封的环境中，使得本申请提供的测试座在盐雾、尘土环境条件下的检测时，可有效地保护密封空腔内的探针等测试元件，避免机械零部件腐蚀、磨损失效，避免电路短路或断路，进而提高芯片的测试精度，同时延长测试座的使用寿命，可使本发明提供的测试座在盐雾、尘土环境条件下进行测试。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。

图1是本发明实施例的测试座的整体结构的分体结构示意图；

图2是本发明实施例的测试座的整体结构的组合结构示意图；

图3是本发明实施例的测试座的部分剖面示意图；

图4是本发明实施例的测试设备在第一视角下的整体结构示意图；

图5是本发明实施例的测试设备在第二视角下的整体结构示意图；

图6是图5中VI处放大图。

在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例绘制。

附图标记：

10-测试座；11-第一测试座板；111-密封空腔；12-探针；121-弹性件；122-限位凸环；125-芯片管脚；126-芯片；13-第二测试座板；131-螺柱；133-螺母；135-密封接口；14-第一密封件；15-第二密封件；16-支撑框；20-测试设备；21-基架；211-底板；213-支撑板；215-固定角块；25-丝杠导轨模组；26-测试转接板；261-垫块；27-连接组件；271-导轨转接板；272-锁槽；273-导轨件；274-滑块；275-支撑连接件；275a-连接板；275b-承接板；28-锁定装置；281-拨杆支架；285-弹性锁舌；285a-锁舌；285b-弹簧；285c-轴用卡簧；29-导温装置；291-恒温容器；293-导温压头；295-保护罩。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

请参照图1至图3，本发明的测试座10，所述测试座10包括第一测试座板11、第二测试座板13、第一密封件14、第二密封件15以及支撑框16。所述第一测试座板11与所述第二测试座板13通过所述支撑框16连接，所述第一测试座板11、所述第二测试座板13以及所述支撑框16构成密封空腔111。所述第一密封件14设置于所述第一测试座板11远离所述支撑框16的一侧，所述第二密封件15设置于所述第二测试座板13远离所述支撑框16的一侧。

本发明提供的测试座10，所述测试座10包括第一测试座板11、第二测试座板13、第一密封件14、第二密封件15以及支撑框16。所述第一测试座板11、所述第二测试座板13以及所述支撑框16构成密封空腔111，同时，分别在第一测试座板11以及第二测试座板13的外侧设置第一密封件14以及第二密封件15，进一步加强密封空腔111的密封性能。故可有效地将外界环境与测试座10内部隔离，使得处于密封空腔111内的探针12等测试元件处于密封的环境中，使得本申请提供的测试座10在盐雾、尘土环境条件下的检测时，可有效地保护密封空腔111内的探针12等测试元件，避免机械零部件腐蚀、磨损失效，避免电路短路或断路，进而提高芯片126的测试精度，同时延长测试座10的使用寿命，可使本发明提供的测试座10在盐雾、尘土环境条件下进行测试。

在一个例子中，所述支撑框16与所述第一测试座板11、所述第二测试座板13连接处均设置有密封胶。需要说明的，设置密封胶进一步加强支撑框16与所述第一测试座板11、所述第二测试座板13连接的稳固性，同时增强测试座10的密封性能。

在一个例子中，所述测试座10还包括探针12以及芯片管脚125，所述芯片管脚125抵接于所述第一密封件14远离所述第一测试座板11的一侧，所述探针12一端可滑动地贯穿所述第一测试座板11以及第一密封件14抵接于所述芯片管脚125，所述第二测试座板13开设有用于容纳所述探针12的针孔，所述探针12的另一端可滑动地连接于所述针孔并向靠近所述第二密封件15的方向延伸。本申请公开的所述探针12一端抵接于所述芯片管脚125，为仅有一个点面接触，使得信号传递更加稳定，现有技术中一般具有两个点面接触，即还包括探针12下端圆头与测试基板接触，其在盐雾、尘土环境条件下的会严重影响信号传递的可靠性。具体地，在本实施例中，所述探针12采用铜材料制成。

在一个例子中，所述测试座10还包括套设于所述探针12外周壁的弹性件121，所述探针12外周壁设置有限位凸环122，所述弹性件121一端抵接于所述限位凸环122，另一端抵接于所述第二测试座板13远离所述第二密封件15的一侧。

具体地，第一测试座板11以及第二测试座板13采用绝缘的树脂板材料制成，且第一测试座板11以及第二测试座板13在接触表面以外的区域喷涂绝缘漆。

在一个例子中，所述测试座10还包括与所述芯片管脚125连接的芯片126，所述芯片管脚125围绕所述芯片126设置。

具体地，在本实施例中，所述测试座10包括多个间隔设置的探针12，所述探针12与所述芯片管脚125一一对应抵接；在测试时，信号可以从芯片126的管脚流向探针12，探针12把信号传给弹性件121。弹性件121与焊盘接触，通过测试座10上的镀铜线传到排线接口。再经由排线最终传到净室的测试基板和测试机。测试基板起到接口转换、产生信号、信号通路选择等作用。经处理过的信号通过导线传递到测试机。测试机对信号进行采集、处理、储存、显示等从而实现芯片126的测试。

具体地，在本实施例中，所述弹簧285b、探针12、铜线非接触表面喷涂有防锈漆，减少传导信号的金属与外部环境接触，从而达到进一步防护的目的。

在一个例子中，所述测试座10还包括螺柱131，所述螺柱131一端连接有螺母133，所述螺柱131另一端依次贯穿连接所述第一密封件14、所述第一测试座板11、所述支撑框16以及所述第二测试座板13。设置螺柱131与螺母133进一步紧固连接所述第一密封件14、所述第一测试座板11、所述支撑框16以及所述第二测试座板13，有效地增强测试座10连接的稳定性，同时在螺柱131与螺母133的紧固作用下，增强各部件之间的连接紧密性，进一步提升密封性能。

在一个例子中，所述测试座10还包括密封接口135，所述密封接口135凸设于所述第二测试座板13远离所述第二密封件15一侧。

具体地，在本实施例中，第二测试座板13上的针孔内表面镀铜，并延伸出合适尺寸的环形焊盘。每个焊盘与密封接口135中的针脚相对应，并通过第二测试座板13表面的镀铜线相连。

请参照图4至图6，本发明还提供了一种测试设备20，所述测试设备20包括基架21、导温装置29、测试机(图中未示出)以及上述的测试座10；所述基架21包括底板211以及支撑板213，所述测试座10设置于所述底板211上，所述导温装置29与所述支撑板213活动连接，以使所述导温装置29靠近或远离所述测试座10，所述测试机与所述测试座10电连接。在使用过程中，将导温装置29靠近所述测试座10，将安装完毕的测试设备20放置到盐雾、尘土环境中。当待测芯片126温度达到预定值，即可开始测试。

在一个例子中，所述测试设备20还包括丝杠导轨模组25以及连接组件27，所述丝杠导轨模组25与所述支撑板213连接，所述连接组件27与所述丝杠导轨模组25滑动连接，以使所述连接组件27沿第一预设方向滑动；所述连接组件27连接所述导温装置29。

具体地，在本实施例中，所述丝杠导轨模组25与所述固定角块215连接，所述固定角块215与所述底板211通过螺栓连接。

在一个例子中，所述连接组件27包括导轨转接板271、导轨件273、滑块274以及支撑连接件275；所述导轨转接板271与所述丝杠导轨模组25连接，所述导轨件273凸设于所述导轨转接板271远离所述丝杠导轨模组25丝杠导轨模组25的一侧，所述滑块274与所述导轨件273滑动连接，以使所述滑块274沿着第二预设方向滑动；所述滑块274与所述支撑连接件275连接，所述支撑连接件275与所述导温装置29连接。具体地，在本实施例中，所述导轨转接板271与丝杠导轨模组25通过螺栓连接。进一步，所述导轨转接板271、所述导轨件273以及滑块274采用不锈钢材料制成，由于不锈钢材料具备有良好的抗腐蚀性能，故进一步延长测试设备20的使用寿命。

在一个例子中，所述第一预设方向与所述第二预设方向垂直。

需要说明的，所述第一预设方向与所述第二预设方向垂直，也即在本实施例中，第一预设方向为上下运行的方向，第二预设方向为左右运行的方向；也即连接组件27可带动导温装置29做升降运动，滑块274可带动所述导温装置29做左右运动，进而使得导温装置29更好地靠近或远离芯片126。还需要说明的，这里并不对导温装置29靠近或远离所述芯片126的具体结构进行限定，可以理解的，在其他具体实施例中，也可以根据用户的需求，采用智能机械臂等装置实现导温装置29靠近或远离所述芯片126。

在一个例子中，所述测试设备20还包括锁定装置28，所述锁定装置28包括拨杆支架281、弹性锁舌285以及设置于所述导轨转接板271一侧锁槽272；所述弹性锁舌285可滑动地连接于所述拨杆支架281，所述弹性锁舌285构造为可选择地远离或靠近所述锁槽272；所述拨杆支架281与所述滑块274连接。

具体地，在本实施例中，所述支撑连接件275包括成夹角设置的连接板275a以及承接板275b，所述连接板275a与所述拨杆支架281通过螺栓连接，所述导温装置29连接于所述承接板275b上。

具体地，在本实施例中，沿着所述导轨转接板271一侧的延伸方向开设有至少两个所述锁槽272，开设至少两个所述锁槽272，便于用户根据不同的锁止位置进而选择合适的锁槽272，更好地实现定位锁止。

具体地，在本实施例中，所述导轨转接板271一侧开设有两个所述锁槽272。需要说明的，这里并不对锁槽272的个数进行限定，可以理解的，在其他具体实施例中，也可以根据用户的需求，适应性地将锁槽272的个数设置为三个或者四个等。在一个例子中，所述弹性锁舌285包括锁舌285a以及弹簧285b；所述锁舌285a包括半球状锁头、锁杆以及限位件，所述限位件凸设于所述锁杆侧壁，所述半球状锁头设置于所述锁杆的端部，所述锁舌285a可滑动地贯穿所述拨杆支架281，所述限位件抵止于所述拨杆支架281，所述弹簧285b套设于所述锁杆，所述弹簧285b一端抵接于所述半球状锁头，另一端抵接于所述拨杆支架281。

具体地，在本实施例中，所述弹性锁舌285还包括轴用卡簧285c，所述轴用卡簧285c设置于所述半球状锁头与所述弹簧285b之间。

在一个例子中，所述导温装置29包括恒温容器291以及导温压头293，所述导温压头293设置于所述恒温容器291靠近所述测试座10的一端。具体地，在本实施例中，所述恒温容器291通过螺栓连接于所述承接板275b上。

在一个例子中，所述导温装置29还包括保护罩295，所述保护罩295套设于所述恒温容器291外侧。

具体地，所述恒温容器291通过螺栓与所述保护罩295连接。在恒温容器291与恒温保护罩295之间填充保温材料。

具体地，在本实施例中，所述测试设备20还包括测试转接板26以及垫块261；所述测试座10通过螺栓连接到测试转接板26上，将测试转接板26紧固连接于垫块261上，垫块261固定连接于底板211上。

在一个例子中，所述测试设备20还包括密封隔离罩(图中未示出)，所述测试机设置于所述密封隔离罩内，所述测试机与所述测试座10通过测试导线连接。本发明的采用将测试座10和测试设备20与测试基板和测试机进行环境隔离，两环境之间通过密封良好的导线相连，并对测试设备20进行防锈、防尘设计，对测试座10进行重新结构设计和整体密封设计，使之能够在盐雾、尘土环境条件下可靠的工作。

在测试过程中，通过转动丝杠导轨模组25上的手柄使得导温压头293向上移动到合适的位置。用手提起弹性锁舌285，使得半球状锁头的一端远离所述导轨转接板271一侧锁槽272。向左或右拨动拨杆支架281凸起的一端，使得导温压头293远离需要使用的工位，也即调整至合适的导温位置。调整至合适的导温位置后，将释放弹性锁舌285使弹性锁舌285卡接于锁槽272内，进而锁定导温位置，实现稳定的导温。也即转动丝杠导轨模组25上的手柄使得导温压头293向下移动到合适的位置。将安装完毕的测试设备20放置到盐雾、尘土环境中。当待测芯片126温度达到预定值，即可开始测试。

本发明提供的测试设备20由于包括上述的测试座10，因此也具备有上述的有益效果。

虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述，但在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (16)

1.一种测试座，其特征在于，所述测试座包括第一测试座板、第二测试座板、第一密封件、第二密封件以及支撑框；

所述第一测试座板与所述第二测试座板通过所述支撑框连接，所述第一测试座板、所述第二测试座板以及所述支撑框构成密封空腔；

所述第一密封件设置于所述第一测试座板远离所述支撑框的一侧，所述第二密封件设置于所述第二测试座板远离所述支撑框的一侧。

2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述支撑框与所述第一测试座板、所述第二测试座板连接处均设置有密封胶。

3.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述测试座还包括探针以及芯片管脚，所述芯片管脚抵接于所述第一密封件远离所述第一测试座板的一侧，所述探针一端可滑动地贯穿所述第一测试座板以及第一密封件抵接于所述芯片管脚，所述第二测试座板开设有用于容纳所述探针的针孔，所述探针的另一端可滑动地连接于所述针孔并向靠近所述第二密封件的方向延伸。

4.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，所述测试座还包括套设于所述探针外周壁的弹性件，所述探针外周壁设置有限位凸环，所述弹性件一端抵接于所述限位凸环，另一端抵接于所述第二测试座板远离所述第二密封件的一侧。

5.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，所述测试座还包括与所述芯片管脚连接的芯片，所述芯片管脚围绕所述芯片设置。

6.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述测试座还包括螺柱，所述螺柱一端连接有螺母，所述螺柱另一端依次贯穿连接所述第一密封件、所述第一测试座板、所述支撑框以及所述第二测试座板。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测试座，其特征在于，所述测试座还包括密封接口，所述密封接口凸设于所述第二测试座板远离所述第二密封件一侧。

8.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括基架、导温装置、测试机以及权利要求1至7中任一项所述的测试座；所述基架包括底板以及支撑板，所述测试座设置于所述底板上，所述导温装置与所述支撑板活动连接，以使所述导温装置靠近或远离所述测试座，所述测试机与所述测试座电连接。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括丝杠导轨模组以及连接组件，所述丝杠导轨模组与所述支撑板连接，所述连接组件与所述丝杠导轨模组滑动连接，以使所述连接组件沿第一预设方向滑动；所述连接组件连接所述导温装置。

10.根据权利要求9所述的测试设备，其特征在于，所述连接组件包括导轨转接板、导轨件、滑块以及支撑连接件；所述导轨转接板与所述丝杠导轨模组连接，所述导轨件凸设于所述导轨转接板远离所述丝杠导轨模组丝杠导轨模组的一侧，所述滑块与所述导轨件滑动连接，以使所述滑块沿着第二预设方向滑动；所述滑块与所述支撑连接件连接，所述支撑连接件与所述导温装置连接。

11.根据权利要求10所述的测试设备，其特征在于，所述第一预设方向与所述第二预设方向垂直。

12.根据权利要求10所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括锁定装置，所述锁定装置包括拨杆支架、弹性锁舌以及设置于所述导轨转接板一侧锁槽；所述弹性锁舌可滑动地连接于所述拨杆支架，所述弹性锁舌构造为可选择地远离或靠近所述锁槽；所述拨杆支架与所述滑块连接。

13.根据权利要求12所述的测试设备，其特征在于，所述弹性锁舌包括锁舌以及弹簧；所述锁舌包括半球状锁头、锁杆以及限位件，所述限位件凸设于所述锁杆侧壁，所述半球状锁头设置于所述锁杆的端部，所述锁舌可滑动地贯穿所述拨杆支架，所述限位件抵止于所述拨杆支架，所述弹簧套设于所述锁杆，所述弹簧一端抵接于所述半球状锁头，另一端抵接于所述拨杆支架。

14.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，所述导温装置包括恒温容器以及导温压头，所述导温压头设置于所述恒温容器靠近所述测试座的一端。

15.根据权利要求14所述的测试设备，其特征在于，所述导温装置还包括保护罩，所述保护罩套设于所述恒温容器外侧。

16.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括密封隔离罩，所述测试机设置于所述密封隔离罩内，所述测试机与所述测试座通过测试导线连接。

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