CN112888949B - 换板器以及包括此换板器的色谱仪 - Google Patents

换板器以及包括此换板器的色谱仪 Download PDF

Info

Publication number
CN112888949B
CN112888949B CN201880098800.8A CN201880098800A CN112888949B CN 112888949 B CN112888949 B CN 112888949B CN 201880098800 A CN201880098800 A CN 201880098800A CN 112888949 B CN112888949 B CN 112888949B
Authority
CN
China
Prior art keywords
plate
state
shelf
supported
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201880098800.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112888949A (zh
Inventor
今枝航大
沢田拓也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of CN112888949A publication Critical patent/CN112888949A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112888949B publication Critical patent/CN112888949B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L9/00Supporting devices; Holding devices
    • B01L9/52Supports specially adapted for flat sample carriers, e.g. for plates, slides, chips
    • B01L9/523Supports specially adapted for flat sample carriers, e.g. for plates, slides, chips for multisample carriers, e.g. used for microtitration plates
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L2300/00Additional constructional details
    • B01L2300/06Auxiliary integrated devices, integrated components
    • B01L2300/0627Sensor or part of a sensor is integrated
    • B01L2300/0663Whole sensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0418Plate elements with several rows of samples
    • G01N2035/0425Stacks, magazines or elevators for plates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/04Preparation or injection of sample to be analysed
    • G01N30/24Automatic injection systems

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Clinical Laboratory Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

本发明涉及一种对自动采样器进行样本板的供给及回收的换板器、以及包括此换板器的色谱仪。换板器包括:框体,收容样本板;以及一个或多个第一搁板,支撑样本板。在框体内,设有将一个或多个第一搁板分别支撑在不同高度的一个或多个板支撑部。各第一搁板是在一个或多个板支撑部的任一个上能支撑且能拆卸地构成。换板器还包括检测在各板支撑部上是否支撑有第一搁板的检测部。

Description

换板器以及包括此换板器的色谱仪
技术领域
本发明涉及一种对自动采样器(auto sampler)进行样本板(sample plate)的供给及回收的换板器(plate changer)、以及包括此换板器的色谱仪(chromatograph)。
背景技术
在被用于液相色谱仪等分析装置的自动采样器中,例如将样本板定位在预先规定的位置。样本板是保持多个样本瓶(sample vial)或多个样本自身的板。在此状态下,将由样本板所保持的样本注入至分析装置的分析流路(例如参照专利文献1)。
作为随附于自动采样器的装置,有用于将样本板自动供给至自动采样器的换板器。换板器具有板保管库以及板搬送装置。板保管库收容多个样本板。板搬送装置在板保管库与自动采样器之间搬送样本板。
专利文献1:日本专利特开2016-70695号公报
发明内容
[发明所要解决的问题]
在板保管库中,例如分别载置多个样本板的多个搁板是以在上下方向隔开固定间隔排列的方式而设。但是,收容在板保管库中的多个样本板不一定具有相同的高度(上下方向的尺寸)。因此,多个搁板的间隔被设定成,能够载置具有最大高度的样本板。因此,能够收容在板保管库中的样本板的数量受到板保管库的上下方向的尺寸以及具有最大高度的样本板的尺寸而限制。
另一方面,在板保管库中,通过收容更多数量的样本板来实现分析作业的效率化。因此,若所使用的多个样本板的高度小,则能够通过追加新的搁板来收容多个样本板。此时,若未准确掌握板保管库内的各搁板的位置,则无法进行样本板的准确搬送。
本发明的目的在于提供一种搁板的数量可变且可容易地掌握各搁板的位置的换板器以及包括所述换板器的色谱仪。
[解决问题的技术手段]
(1)本发明的一方面的换板器进行针对自动采样器的样本板的供给以及回收,所述换板器包括:框体,收容样本板;一个或多个第一搁板,支撑样本板;一个或多个板支撑部,在框体内将一个或多个第一搁板分别支撑在不同的高度;以及第一检测部,检测在各板支撑部上是否支撑有第一搁板,各第一搁板是在一个或多个板支撑部的任一个上能支撑且能拆卸地构成。
所述换板器中,使用者能够使第一搁板支撑于框体内的一个或多个板支撑部中的任一个。而且,使用者能够拆卸由框体内的一个或多个板支撑部中的任一个予以支撑的第一搁板。这样,通过框体内的第一搁板的数量可变,使用者能够根据所使用的样本板的上下方向的尺寸以及框体的上下方向的尺寸来有效地利用框体的内部空间。
分别检测在各板支撑部上是否支撑有第一搁板。由此,能够准确地掌握框体内的第一搁板的位置。因此,换板器中的样本板的搬送的可靠性提高。
(2)也可为,第一检测部包含与一个或多个板支撑部分别对应地设置的一个或多个搁板检测部,各搁板检测部包含:第一可动构件,构成为能够在第一状态与第二状态之间转变;以及第一传感器,检测第一可动构件处于第一状态以及第二状态中的哪种状态,第一可动构件被设置成,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时成为第一状态,在第一搁板支撑于对应的板支撑部时成为第二状态。
此时,能够利用简单的结构来检测在各板支撑部是否支撑有第一搁板。
(3)也可为,第一传感器是向预先规定的第一检测区域出射光并且接收来自第一检测区域的光,并输出与受光量相应的信号的光传感器,第一可动构件具有能够遮挡从第一传感器出射的光的第一遮光体,且被设置成,当处于第一状态以及第二状态中的其中一种状态时,所述第一遮光体位于第一检测区域,当处于第一状态以及第二状态中的另一种状态时,所述第一遮光体位于第一检测区域外。
此时,能够基于从第一传感器输出的信号来容易且准确地检测第一可动构件处于第一状态以及第二状态中的哪种状态。
(4)也可为,第一可动构件通过绕预先规定的第一旋转轴旋转而能够转变为第一状态以及第二状态,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时不抵接于第一搁板,从而以第一状态受到保持,在第一搁板支撑于对应的板支撑部时抵接于所述第一搁板,从而以第二状态受到保持。
此时,第一可动构件联动于第一搁板被载置于对应的板支撑部的情况以及从对应的板支撑部拆除第一搁板的情况,而在第一状态与第二状态之间转变。因此,在各板支撑部是否支撑有第一搁板的检测的可靠性提高。
(5)换板器也可还包括:第二检测部,检测在支撑于一个或多个板支撑部的一个或多个第一搁板的各个上是否载置有样本板。
此时,检测在各第一搁板上是否载置有样本板。由此,能够准确地掌握框体内的一个或多个样本板的收容状态。
(6)也可为,第二检测部包含与一个或多个板支撑部分别对应地设置的一个或多个第一板检测部,各第一板检测部包含:第二可动构件,构成为能够在第三状态与第四状态之间转变;以及第二传感器,检测第二可动构件处于第三状态以及第四状态中的哪种状态,第二可动构件是设置成,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时以及第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板未支撑于所述第一搁板时成为第三状态,在第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板支撑于所述第一搁板时成为第四状态。
此时,能够利用简单的结构来检测在各第一搁板上是否支撑有样本板。
(7)也可为,第二传感器是向预先规定的第二检测区域出射光并且接收来自第二检测区域的光,并输出与受光量相应的信号的光传感器,第二可动构件具有能够遮挡从第二传感器出射的光的第二遮光体,且被设置成,当处于第三状态以及第四状态中的其中一种状态时,所述第二遮光体位于第二检测区域,当处于第三状态以及第四状态中的另一种状态时,所述第二遮光体位于第二检测区域外。
此时,能够基于从第二传感器输出的信号来容易且准确地检测第二可动构件处于第三状态以及第四状态中的哪种状态。
(8)也可为,在各第一搁板,设有通过样本板被支撑于所述第一搁板而变形的弹性构件,第二可动构件通过绕预先规定的第二旋转轴旋转而能够转变为第三状态以及第四状态,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时以及第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板未支撑于所述第一搁板时不抵接于弹性构件,从而以第三状态受到保持,在第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板支撑于所述第一搁板时抵接于设在所述第一搁板的发生了变形的弹性构件,从而以第四状态受到保持。
此时,第二可动构件联动于样本板被载置于对应的板支撑部上的第一搁板的情况以及从对应的板支撑部上的第一搁板拆除样本板的情况,而在第三状态与第四状态之间转变。因此,在各第一搁板是否支撑有样本板的检测的可靠性提高。
(9)换板器也可还包括:一个或多个第二搁板,在框体内被固定在与一个或多个板支撑部不同的高度且支撑样本板。
此时,使用者无须使第一搁板支撑于框体内的一个或多个板支撑部,便能够在一个或多个第二搁板上载置样本板。而且,一个或多个第二搁板被固定在框体内。因此,能够准确地掌握框体内的一个或多个第二搁板的位置。
(10)换板器也可还包括:第三检测部,检测在一个或多个第二搁板的各个上是否载置有样本板。
此时,检测在各第二搁板上是否载置有样本板。由此,能够准确地掌握框体内的一个或多个样本板的收容状态。
(11)也可为,第三检测部包含与一个或多个第二搁板分别对应地设置的一个或多个第二板检测部,各第二板检测部包含:第三可动构件,构成为能够在第五状态与第六状态之间转变;以及第三传感器,检测第三可动构件处于第五状态以及第六状态中的哪种状态,第三可动构件是设置成,在样本板未支撑于对应的第二搁板时成为第五状态,在样本板支撑于对应的第二搁板时成为第六状态。
此时,能够利用简单的结构来检测在各第二搁板上是否支撑有样本板。
(12)也可为,第三传感器是向预先规定的第三检测区域出射光并且接收来自第三检测区域的光,并输出与受光量相应的信号的光传感器,第三可动构件具有能够遮挡从第三传感器出射的光的第三遮光体,且被设置成,当处于第五状态以及第六状态中的其中一种状态时,所述第三遮光体位于第三检测区域,当处于第五状态以及第六状态中的另一种状态时,所述第三遮光体位于第三检测区域外。
此时,能够基于从第三传感器输出的信号来容易且准确地检测第三可动构件处于第五状态以及第六状态中的哪种状态。
(13)也可为,第三可动构件通过绕预先规定的第三旋转轴旋转而能够转变为第五状态以及第六状态,当样本板未支撑于对应的第二搁板时不抵接于所述样本板,从而以第五状态受到保持,当样本板支撑于对应的第二搁板时抵接于所述样本板,从而以第六状态受到保持。
此时,第二可动构件联动于样本板被载置于对应的第二搁板的情况以及从对应的第二搁板拆除样本板的情况,而在第五状态与第六状态之间转变。因此,在各第二搁板上是否支撑有样本板的检测的可靠性提高。
(14)换板器也可还包括:提示部,提示第一检测部得出的检测结果。
此时,使用者能够基于所提示的检测结果来容易且准确地掌握框体内的第一搁板的位置。
(15)本发明的另一方面的色谱仪包括自动采样器以及所述换板器。
所述色谱仪包括所述换板器。在所述换板器中,通过有效地利用框体的内部空间,从而在框体内收容更多数量的样本板。因此,实现分析作业的效率化。而且,所述换板器中,可准确掌握第一搁板的位置,因此针对自动采样器的样本板的供给以及回收的可靠性提高。
[发明的效果]
根据本发明,实现搁板的数量可变且可容易地掌握各搁板的位置的换板器以及包括所述换板器的色谱仪。
附图说明
图1是表示本发明的一实施方式的液相色谱仪的一例的示意外观图。
图2是图1的换板器的外观立体图。
图3是表示图2的第二段及第三段固定搁板以及它们的附近部分的、板保管库的局部放大正面图。
图4是图3的板检测部的示意立体图。
图5是用于说明板检测部的功能的示意侧面图。
图6是图2及图3的辅助搁板的示意平面图。
图7是图6的A-A线剖面图。
图8是图3的搁板检测部以及板检测部的示意立体图。
图9是用于说明搁板检测部的功能的示意侧面图。
图10是用于说明板检测部的功能的示意侧面图。
图11是用于说明换板器的控制系统的框图。
具体实施方式
以下,参照附图来说明本发明的一实施方式的换板器以及包括所述换板器的色谱仪。以下,作为色谱仪的一例,对液相色谱仪进行说明。
[1]液相色谱仪的概略结构
图1是表示本发明的一实施方式的液相色谱仪的一例的示意外观图。如图1所示,液相色谱仪1包含控制单元2、送液单元3、自动采样器4、检测单元5、柱温箱(column oven)单元6以及换板器10。
换板器10进行针对自动采样器4的样本板的供给以及回收。换板器10的详细情况将后述。送液单元3将贮存在未图示的流动相容器中的流动相供给至设在柱温箱单元6内的柱。自动采样器4从换板器10接纳保持有作为分析对象的多个样本的样本板。而且,自动采样器4将由样本板所保持的样本注入到从送液单元3供给至柱的流动相中。进而,自动采样器4将使用完毕的样本板交给换板器10。
柱温箱单元6包含柱,将所述柱及其周边的空间保持为大致固定的温度。检测单元5对通过柱而分离的样本的各成分进行检测。通过了检测单元5的流动相被送往未图示的废液容器。控制单元2例如包含中央处理器(Central Processing Unit,CPU)(中央运算处理装置)以及存储器,对构成液相色谱仪1的各部的动作进行控制。
图1的示例中,检测单元5、自动采样器4、送液单元3以及控制单元2以此顺序从下朝上层叠配置。换板器10以及柱温箱单元6是以夹着层叠的检测单元5、自动采样器4、送液单元3以及控制单元2而排列的方式配置。
[2]换板器10
图2是图1的换板器10的外观立体图。如图2所示,换板器10主要包括板保管库100以及板搬送部190。板保管库100以及板搬送部190以具有大致长方体形状并且沿上下方向延伸的方式而形成,且以彼此相邻的状态而连接。
关于本实施方式的换板器10,将在水平面内从板搬送部190朝向板保管库100的方向称作换板器10的前方,将其相反的方向称作换板器10的后方。而且,将在从换板器10的中心部观察换板器10前方的状态下从所述中心部朝左的方向称作换板器10的左方,将其相反的方向称作换板器10的右方。
板保管库100具有左侧壁101、右侧壁102、顶板103以及多个(本例中为七个)固定搁板20。左侧壁101以及右侧壁102是沿上下方向延伸的矩形的板构件,且在左右方向上以彼此相向的方式而平行地设置。以下的说明中,将左侧壁101以及右侧壁102的彼此相向的面分别称作左侧壁101以及右侧壁102的内表面。顶板103连结左侧壁101的上端部与右侧壁102的上端部。
多个固定搁板20包含矩形的板构件,且以沿上下方向隔开预先规定的间隔而排列的方式设在左侧壁101与右侧壁102之间。各固定搁板20连结左侧壁101与右侧壁102并且受到固定。而且,各固定搁板20构成为,可支撑应在图1的自动采样器4中所使用的样本板sp。设在最下端的固定搁板20兼作板保管库100的底板。另外,在板保管库100中,也可在最下端的固定搁板20之外另行设置底板。
板保管库100在前端部具有前部开口111,并且具有对所述前部开口111进行开闭的门109。门109可绕沿上下方向延伸的旋转轴旋转地安装于右侧壁102。进而,板保管库100在后端部具有后部开口112。
使用者在打开了门109的状态下,如图2中的空心箭头所示,能够通过前部开口111而将样本板sp载置于多个固定搁板20上。而且,使用者能够通过前部开口111而取出被载置于多个固定搁板20中的任一个上的样本板sp。
板搬送部190包括搬送机器人190R(图11)。搬送机器人190R通过后部开口112来取出板保管库100内的样本板sp,并搬送至图1的自动采样器4。由此,将样本板sp供给至自动采样器4。
而且,搬送机器人190R取出自动采样器4内的样本板sp,并通过后部开口112而搬送至板保管库100内。由此,将样本板sp回收至换板器10。在板搬送部190的左侧部,形成有用于对自动采样器4进行样本板sp的供给以及回收的开口部191。
此处,在图1的自动采样器4中使用的样本板sp是保持多个样本瓶或多个样本自身的板,存在多种。所述多种样本板sp各自具有固有的高度(上下方向的尺寸)。例如保持样本瓶的样本板sp具有相对较大的高度(上下方向的尺寸)。另一方面,保持样本自身的样本板sp具有相对较小的高度(上下方向的尺寸)。
因此,多个固定搁板20间的间隔被设定为比具有最大高度的样本板sp的高度大。此时,若将具有相对较小的高度的样本板sp载置于固定搁板20上,则会在所述样本板sp与上方的固定搁板20之间形成剩余空间。
因此,本实施方式的换板器10构成为,可将支撑样本板sp的新的搁板作为辅助搁板30而追加到多个固定搁板20之间。图2的示例中,在第一段以及第二段固定搁板20之间安装有一个辅助搁板30,并且在第二段以及第三段固定搁板20之间安装有一个辅助搁板30。由此,在第一段以及第二段固定搁板20间收容有两个样本板sp,并且在第二段以及第三段固定搁板20间收容有两个样本板sp。
图3是表示图2的第二段及第三段固定搁板20以及它们的附近部分的、板保管库100的局部放大正面图。图3中,省略了门109的图示。如图3所示,在上下方向上彼此相向的两个固定搁板20之间,在所述两个固定搁板20的中间位置设有支撑辅助搁板30的左右一对板支撑部130。
左侧的板支撑部130是以从左侧壁101的内表面朝右方突出固定距离的方式,且以从板保管库100的前端部朝后方延伸的方式而设。右侧的板支撑部130是以从右侧壁102的内表面朝左方突出固定距离的方式,且以从板保管库100的前端部朝后方延伸的方式而设。左右的板支撑部130彼此相向。
辅助搁板30包含大致矩形的板构件,且在一对板支撑部130上能支撑且能拆卸地构成。使用者通过从前部开口111将辅助搁板30以水平姿势插入至左右一对板支撑部130与它们上方的固定搁板20之间的空间,便能够容易地将辅助搁板30的两侧部(后述的图6的一对被支撑部32)载置于一对板支撑部130上。而且,使用者能够从前部开口111容易地取出被支撑于一对板支撑部130上的辅助搁板30。
图2的板保管库100中,在七个固定搁板20上方的位置,七个辅助搁板30分别能支撑且能拆卸。因此,板保管库100能够收容最大14个样本板sp。
如图3所示,在板保管库100内,设有多个搁板检测部D1,所述多个搁板检测部D1用于检测在多对板支撑部130上是否支撑有辅助搁板30。而且,设有多个板检测部D2,所述多个板检测部D2用于检测在支撑于多对板支撑部130上的辅助搁板30上是否载置有样本板sp。进而,设有多个板检测部D3,所述多个板检测部D3用于检测在多个固定搁板20上是否载置有样本板sp。
多个搁板检测部D1与设在左侧壁101的多个板支撑部130分别对应。而且,多个板检测部D2与设在左侧壁101的多个板支撑部130分别对应。进而,多个板检测部D3与多个固定搁板20分别对应。以下说明关于搁板检测部D1、板检测部D2、D3以及辅助搁板30的详细情况。
[3]板检测部D3的详细情况
各板检测部D3以位于对应的固定搁板20下方的方式而安装在左侧壁101的内表面。图4是图3的板检测部D3的示意立体图,图5是用于说明板检测部D3的功能的示意侧面图。
如图4所示,板检测部D3包含支撑轴122、旋转构件123以及光传感器SS3。支撑轴122在对应的固定搁板20的下方从左侧壁101的内表面朝右方水平延伸固定距离。旋转构件123是具有一端部123a以及另一端部123b的长条状的板构件。旋转构件123的中央部是以所述旋转构件123基本上沿前后方向延伸的方式且可绕支撑轴122旋转的方式,而安装于支撑轴122。在此状态下,一端部123a位于另一端部123b的前方。
旋转构件123的从中央部直至一端部123a为止的前半部呈直线状延伸。旋转构件123的一端部123a朝向左侧壁101的内表面而朝左方弯曲。在其前端部设有遮光体124。旋转构件123的从中央部直至另一端部123b为止的后半部在旋转构件123被安装于支撑轴122的状态下朝向斜上方弯曲。
而且,旋转构件123是以前半部的重量比后半部的重量大的方式而形成。因此,在旋转构件123中,以在未给予负载的状态下前半部下降并且后半部上升的方式而产生朝向一方向的旋转力。
在固定搁板20形成有开口部21,所述开口部21在对应的板检测部D3的旋转构件123的前半部保持为水平的状态下,将旋转构件123的另一端部123b从所述固定搁板20的下方空间引导向上方空间。
光传感器SS3是具有投光部sa以及受光部sb的透射型的光斩波器(photointerrupter),在对应的固定搁板20的下方且支撑轴122前方的位置安装于左侧壁101的内表面。光传感器SS3的受光部sb构成为可接收从投光部sa出射的光,并且构成为,输出与受光量相应的信号。光传感器SS3的投光部sa以及受光部sb是以夹着旋转构件123以支撑轴122为基准而旋转时的遮光体124的移动路径的方式,沿前后方向隔开间隔而排列。另外,作为光传感器SS3,也可使用反射型的光斩波器。
所述板检测部D3中,在固定搁板20上未载置样本板sp的状态下,如图5的(a)所示,遮光体124位于投光部sa以及受光部sb间且旋转构件123的后半部抵接于固定搁板20。此时,在光传感器SS3中从投光部sa朝向受光部sb出射的光被遮光体124阻断的状态下,旋转构件123的一方向的旋转受到限制。
另一方面,在板检测部D3中,当在固定搁板20上载置样本板sp时,如图5的(b)所示,旋转构件123的另一端部123b被样本板sp的下表面按压向下方。由此,旋转构件123旋转,旋转构件123的另一端部123b下降至与固定搁板20的上表面相同的高度为止,并且,遮光体124移动至光传感器SS3的上方的位置为止。由此,在光传感器SS3中,从投光部sa出射的光入射至受光部sb。
图1的换板器10中,设有对所述换板器10内的各部的动作进行控制的控制部11(图11)。根据所述结构,光传感器SS3的受光部sb在对应的固定搁板20上未载置样本板sp的情况下,接收不到来自投光部sa的光。由此,作为在对应的固定搁板20上未载置有样本板sp的检测结果,所述受光部sb将表示预先规定的阈值以下的受光量的受光信号输出至控制部11(图11)。另一方面,光传感器SS3的受光部sb在对应的固定搁板20上载置有样本板sp的情况下,接收来自投光部sa的光。由此,作为在对应的固定搁板20上载置有样本板sp的检测结果,所述受光部sb将表示比所述阈值大的受光量的受光信号输出至控制部11(图11)。
[4]辅助搁板30的详细情况
说明图2以及图3的辅助搁板30的详细情况。图6是图2以及图3的辅助搁板30的示意平面图,图7是图6的A-A线剖面图。
如图6所示,辅助搁板30具有板支撑部31以及一对被支撑部32。板支撑部31具有可支撑多种样本板sp的矩形状。一对被支撑部32具有与图3的一对板支撑部130分别对应的形状,且以从板支撑部31的一端部朝向中央部而从两侧部朝两侧方突出固定宽度的方式而形成。一对被支撑部32在所述辅助搁板30被设在板保管库100内的情况下由一对板支撑部130(参照图3)予以支撑。板支撑部31以及一对被支撑部32为一体成形。
在板支撑部31,以与其中一个被支撑部32(与图3的左侧壁101上所设的板支撑部130对应的被支撑部32)相邻的方式而形成有开口部33。在开口部33附近的板支撑部31的下表面,设有板簧34。
如图7所示,板簧34具有上表面以及下表面,包含具有高弹性的金属性的带状构件。本例的板簧34具有以上表面彼此相对的方式而弯折的两个谷折部34b、34d以及以下表面彼此相对的方式而弯折的一个峰折部34c。谷折部34b、峰折部34c以及谷折部34d以此顺序在板簧34的一端部34a至另一端部34e之间隔开间隔而排列。
板簧34的一端部34a以从上方观察辅助搁板30时谷折部34b以及峰折部34c位于开口部33内的方式且以另一端部34e接触至板支撑部31的下表面的方式,而接合于板支撑部31的下表面。在此状态下,板簧34的峰折部34c较板支撑部31的上表面突出至上方。板簧34的另一端部34e不接合于板支撑部31的下表面。
如图7中的虚线所示,当在板支撑部31上载置样本板sp时,板簧34的峰折部34c被样本板sp按压向下方。由此,板簧34中的从一端部34a直至峰折部34c为止的部分朝下方弯曲,谷折部34d朝下方移动。
这样,在所述辅助搁板30中,在板支撑部31上未载置样本板sp的状态与在板支撑部31上载置有样本板sp的状态之间,板簧34的最下端部(谷折部34d)的上下方向的位置发生变化。
[5]搁板检测部D1以及板检测部D2的详细情况
各搁板检测部D1以及各板检测部D2以位于对应的板支撑部130的下方的方式而安装于左侧壁101的内表面。图8是图3的搁板检测部D1以及板检测部D2的示意立体图,图9是用于说明搁板检测部D1的功能的示意侧面图,图10是用于说明板检测部D3的功能的示意侧面图。
如图8所示,搁板检测部D1具有与所述板检测部D3基本相同的结构,包含支撑轴140、旋转构件150以及光传感器SS1。支撑轴140在对应的板支撑部130的下方从左侧壁101的内表面朝右方水平延伸固定距离。旋转构件150是具有一端部150a以及另一端部150b的长条状的板构件。旋转构件150的中央部以所述旋转构件150基本上沿前后方向延伸的方式且以可绕支撑轴140旋转的方式,而安装于支撑轴140。在此状态下,一端部150a位于另一端部150b的前方。
旋转构件150的前半部呈直线状延伸。旋转构件150的一端部150a朝向左侧壁101的内表面而朝左方弯曲。在其前端部设有遮光体151。旋转构件150的后半部在旋转构件150被安装于支撑轴140的状态下朝向斜上方弯曲。
而且,旋转构件150是以前半部的重量比后半部的重量大的方式而形成。因此,在旋转构件150中,以在未给予负载的状态下前半部下降并且后半部上升的方式而产生朝向一方向的旋转力。
在板支撑部130形成有切口131,所述切口131在对应的搁板检测部D1的旋转构件150的前半部保持为水平的状态下,将旋转构件150的另一端部150b从所述板支撑部130的下方空间引导向上方空间。
光传感器SS1与光传感器SS3同样,是具有投光部sa以及受光部sb的透射型的光斩波器,在对应的板支撑部130的下方且支撑轴140前方的位置安装于左侧壁101的内表面。光传感器SS1的受光部sb构成为可接收从投光部sa出射的光,并且构成为,输出与受光量相应的信号。光传感器SS1的投光部sa以及受光部sb是以夹着旋转构件150以支撑轴140为基准而旋转时的遮光体151的移动路径的方式,沿前后方向隔开间隔而排列。另外,作为光传感器SS1,也可使用反射型的光斩波器。
所述搁板检测部D1中,在板支撑部130上未载置辅助搁板30的状态下,如图9的(a)所示,遮光体151位于投光部sa以及受光部sb间且旋转构件150的后半部抵接于板支撑部130。此时,在光传感器SS1中从投光部sa朝向受光部sb出射的光被遮光体151阻断的状态下,旋转构件150的一方向的旋转受到限制。
另一方面,在搁板检测部D1中,当在板支撑部130上载置辅助搁板30时,如图9的(b)所示,旋转构件150的另一端部150b被辅助搁板30的下表面按压向下方。由此,旋转构件150旋转,旋转构件150的另一端部150b下降至与板支撑部130的上表面相同的高度为止,并且遮光体151移动至光传感器SS1的上方的位置为止。由此,在光传感器SS1中,从投光部sa出射的光入射至受光部sb。
根据所述结构,光传感器SS1的受光部sb在对应的板支撑部130上未载置辅助搁板30的情况下,接收不到来自投光部sa的光。由此,作为在对应的板支撑部130上未载置有辅助搁板30的检测结果,所述受光部sb将表示预先规定的阈值以下的受光量的受光信号输出至控制部11(图11)。另一方面,光传感器SS1的受光部sb在对应的板支撑部130上载置有辅助搁板30的情况下,接收来自投光部sa的光。由此,作为在对应的板支撑部130上载置有辅助搁板30的检测结果,所述受光部sb将表示比所述阈值大的受光量的受光信号输出至控制部11(图11)。
如图8所示,板检测部D2是以与搁板检测部D1相邻的方式而设,包含支撑轴140、旋转构件160以及光传感器SS2。本例的板检测部D2较搁板检测部D1而位于板保管库100的内侧(本例中为右方)。
支撑轴140是在相邻的搁板检测部D1与板检测部D2之间共同使用。旋转构件160是具有一端部160a以及另一端部160b的长条状的板构件。旋转构件160的中央部以所述旋转构件160基本上沿前后方向延伸的方式且以可绕支撑轴140旋转的方式而安装于支撑轴140。在此状态下,一端部160a位于另一端部160b的前方。
旋转构件160从一端部160a朝向另一端部160b而呈大致直线状延伸。旋转构件160的一端部160a朝向左侧壁101的内表面而朝左方弯曲。在其前端部设有遮光体161。
在旋转构件160被安装于支撑轴140的状态下,旋转构件160的至少另一端部160b较板支撑部130而位于板保管库100的内侧(右方)。
而且,旋转构件160是以前半部的重量比后半部的重量大的方式而形成。因此,在旋转构件160中,以在未给予负载的状态下前半部下降并且后半部上升的方式而产生朝向一方向的旋转力。在板检测部D2设有未图示的旋转限制机构,所述旋转限制机构限制旋转构件160从沿水平方向延伸的状态朝向所述一方向的旋转,而允许旋转构件160从沿水平方向延伸的状态朝向相对于所述一方向的反方向的旋转。
光传感器SS2与光传感器SS3同样,是具有投光部sa以及受光部sb的透射型的光斩波器,在对应的板支撑部130的下方且支撑轴140以及光传感器SS1前方的位置安装于左侧壁101的内表面。光传感器SS2的受光部sb构成为可接收从投光部sa出射的光,并且构成为,输出与受光量相应的信号。光传感器SS2的投光部sa以及受光部sb是以夹着旋转构件160以支撑轴140为基准而旋转时的遮光体161的移动路径的方式,沿前后方向隔开间隔而排列。另外,作为光传感器SS2,也可使用反射型的光斩波器。
在一对板支撑部130上载置辅助搁板30时,辅助搁板30以在上下方向上开口部33(图6)重合于旋转构件160的另一端部160b的方式而定位。此时,板簧34(图6)的谷折部34d较板支撑部130而位于下方,接近旋转构件160的另一端部160b。板簧34是形成为,在板支撑部130上载置有辅助搁板30且在所述辅助搁板30上未载置样本板sp的状态下,不将旋转构件160的另一端部160b按压向下方。由此,在所述板检测部D2中,在板支撑部130上未载置辅助搁板30的状态、以及如图10的(a)所示那样在板支撑部130上载置有辅助搁板30且在辅助搁板30上未载置样本板sp的状态下,旋转构件160保持为水平。此时,在光传感器SS2中从投光部sa朝向受光部sb出射的光被遮光体161阻断。
另一方面,在板检测部D2中,当在板支撑部130上载置辅助搁板30且在所述辅助搁板30上载置样本板sp时,如图10的(b)所示,辅助搁板30的板簧34因样本板sp而发生弹性变形。此时,板簧34的最下端部(谷折部34d)下降,较板支撑部130位于下方的旋转构件160的另一端部160b被板簧34按压向下方。由此,旋转构件160旋转,遮光体161移动至光传感器SS2的上方的位置为止。其结果,在光传感器SS2中,从投光部sa出射的光入射至受光部sb。
根据所述结构,光传感器SS2的受光部sb在支撑于对应的板支撑部130的辅助搁板30上未载置样本板sp的情况下,接收不到来自投光部sa的光。由此,作为在支撑于对应的板支撑部130的辅助搁板30上未载置有样本板sp的检测结果,所述受光部sb将表示预先规定的阈值以下的受光量的受光信号输出至控制部11(图11)。另一方面,光传感器SS2的受光部sb在支撑于对应的板支撑部130的辅助搁板30上载置有样本板sp的情况下,接收来自投光部sa的光。由此,作为在支撑于对应的板支撑部130的辅助搁板30上载置有样本板sp的检测结果,所述受光部sb将表示比所述阈值大的受光量的受光信号输出至控制部11(图11)。
[6]换板器10的控制系统
图11是用于说明换板器10的控制系统的框图。如图11所示,换板器10包含控制部11、多个搁板检测部D1、多个板检测部D2、多个板检测部D3、搬送机器人190R以及多个辅助搁板显示器ID。
如上所述,各搁板检测部D1将表示在对应的板支撑部130上是否载置有辅助搁板30的信号(受光信号)输出至控制部11。而且,各板检测部D2将表示在对应的板支撑部130上是否与辅助搁板30一同载置有样本板sp的信号(受光信号)输出至控制部11。进而,各板检测部D3将表示在对应的固定搁板20上是否载置有样本板sp的受光信号输出至控制部11。
多个辅助搁板显示器ID与设于左侧壁101的多个板支撑部130分别对应。各辅助搁板显示器ID包含发光二极管等发光元件及其驱动电路,例如被设在图1的门109的前表面。
控制部11例如包含CPU以及存储器,基于从多个搁板检测部D1以及多个板检测部D2、D3输出的信号来控制搬送机器人190R的动作。而且,控制部11与控制单元2之间,进行与自动采样器4中的样本板sp的供给以及回收相关的各种信息的授受。
进而,控制部11基于从多个搁板检测部D1输出的信号来控制多个辅助搁板显示器ID的发光状态。例如,控制部11在一个板支撑部130上载置有辅助搁板30的状态下,使与所述板支撑部130对应的辅助搁板显示器ID点亮。而且,在一个板支撑部130上未载置辅助搁板30的状态下,使与所述板支撑部130对应的辅助搁板显示器ID熄灭。由此,使用者通过目测与各板支撑部130对应的辅助搁板显示器ID的发光状态,便能够容易地掌握换板器10中的多个辅助搁板30的安装状态。
[7]效果
(a)所述换板器10中,通过搁板检测部D1来检测沿上下方向排列的各板支撑部130上是否支撑有辅助搁板30。由此,能够准确地掌握设在板保管库100内的辅助搁板30的位置。因此,换板器10中的样本板sp的搬送的可靠性提高。
(b)所述换板器10中,使用者能够容易地使辅助搁板30支撑于板保管库100内的多个板支撑部130的任一个。而且,使用者能够容易地拆卸被支撑于多个板支撑部130的任一个的辅助搁板30。这样,通过板保管库100内的辅助搁板30的数量可变,从而使用者能够根据所使用的样本板sp的上下方向的尺寸以及板保管库100的上下方向的尺寸来有效地利用板保管库100的内部空间。
(c)进而,所述换板器10中,通过板检测部D2来检测各辅助搁板30上是否载置有样本板sp。通过板检测部D3来检测各固定搁板20上是否载置有样本板sp。由此,能够准确地掌握板保管库100内的多个样本板sp的收容状态。
(d)图1的液相色谱仪1包括所述换板器10。由此,实现分析作业的效率化,并且针对自动采样器4的样本板sp的供给动作以及回收动作的可靠性提高。
[8]其他实施方式
(a)所述实施方式中,为了检测板支撑部130上是否载置有辅助搁板30、为了检测板支撑部130上是否载置有样本板sp、以及为了检测固定搁板20上是否载置有样本板sp,而使用光传感器SS1、SS2、SS3,但本发明并不限定于此。作为用于检测所述的各载置状态的结构,也可取代光传感器SS1、SS2、SS3而使用接近传感器或开关等其他电子设备。
(b)所述实施方式中,多个搁板检测部D1、多个板检测部D2以及多个板检测部D3均设在左侧壁101的内表面,但本发明并不限定于此。多个搁板检测部D1、多个板检测部D2以及多个板检测部D3中的一部分或全部也可设在右侧壁102的内表面。
(c)所述实施方式中,与一个板支撑部130对应的搁板检测部D1以及板检测部D2以彼此相邻的方式而设在左侧壁101,支撑轴140被用作搁板检测部D1以及板检测部D2共同的构成元件,但本发明并不限定于此。与一个板支撑部130对应的搁板检测部D1以及板检测部D2也可各别地设在彼此隔开的位置。此时,与一个板支撑部130对应的搁板检测部D1以及板检测部D2将具有各别的支撑轴。
(d)所述实施方式的换板器10中,在板保管库100内设有多个固定搁板20,但也可不设置多个固定搁板20。例如,也可取代图3的多个固定搁板20而设有多对板支撑部130。此时,板保管库100内的辅助搁板30的安装自由度提高。
(e)所述实施方式的换板器10中,通过多个辅助搁板显示器ID来显示板保管库100内的多个辅助搁板30的安装状态,但本发明并不限定于此。换板器10例如也可具有将多个辅助搁板30上以及多个固定搁板20上的样本板sp的载置状态提示给使用者的提示装置(显示装置或声音输出装置等)。
此时,例如通过将多个板检测部D2、D3的检测结果提示给使用者,从而使用者能够容易地掌握板保管库100中的多个样本板sp的收容状态。
(f)所述实施方式的换板器10中,在板保管库100内设有多对板支撑部130,但本发明并不限定于此。也可在板保管库100内仅设置一对板支撑部130。
(g)所述实施方式中,换板器10被用于液相色谱仪,但也可能够用于超临界流体色谱仪以及气相色谱仪等其他色谱仪。
[9]权利要求书的各构成部件与实施方式的各部的对应关系
以下,对权利要求书的各构成部件与实施方式的各部的对应例进行说明。
所述实施方式中,板保管库100为框体的示例,辅助搁板30为第一搁板的示例,一对板支撑部130为板支撑部的示例,多个搁板检测部D1为第一检测部的示例,旋转构件150为第一可动构件的示例,光传感器SS1为第一传感器的示例,另一端部150b较板支撑部130位于上方时的旋转构件150的状态为第一状态的示例,另一端部150b位于与板支撑部130的上表面相同的高度时的旋转构件150的状态为第二状态的示例,光传感器SS1中的投光部sa与受光部sb之间的区域为第一检测区域的示例,遮光体151为第一遮光体的示例,支撑轴140为第一旋转轴以及第二旋转轴的示例。
而且,多个板检测部D2为第二检测部的示例,板检测部D2为第一板检测部的示例,旋转构件160为第二可动构件的示例,光传感器SS2为第二传感器的示例,旋转构件160被保持为水平的状态为第三状态的示例,另一端部160b较支撑轴140位于下方时的旋转构件160的状态为第四状态的示例,光传感器SS2中的投光部sa与受光部sb之间的区域为第二检测区域的示例,遮光体161为第二遮光体的示例,板簧34为弹性构件的示例。
而且,固定搁板20为第二搁板的示例,多个板检测部D3为第三检测部的示例,板检测部D3为第二板检测部的示例,旋转构件123为第三可动构件的示例,光传感器SS3为第三传感器的示例,另一端部123b较固定搁板20位于上方时的旋转构件123的状态为第五状态的示例,另一端部123b位于与固定搁板20的上表面相同的高度时的旋转构件123的状态为第六状态的示例,光传感器SS3中的投光部sa与受光部sb之间的区域为第三检测区域的示例,遮光体124为第三遮光体的示例。
进而,辅助搁板显示器ID为提示部的示例,液相色谱仪1为色谱仪的示例。
作为权利要求书的各构成部件,也能够使用具有权利要求书所记载的结构或功能的其他各种部件。

Claims (16)

1.一种换板器,进行针对自动采样器的样本板的供给以及回收,所述换板器包括:
框体,收容样本板;
多个第一搁板,支撑样本板;
多个板支撑部,在所述框体内将所述多个第一搁板分别支撑在不同的高度;
第一检测部,检测在各板支撑部上是否支撑有第一搁板;以及
一个或多个第二搁板,在所述框体内被固定在与所述多个板支撑部不同的高度且支撑样本板,
各第一搁板是在所述多个板支撑部的任一个上能支撑且能拆卸地构成。
2.根据权利要求1所述的换板器,其中所述第一检测部包含与所述多个板支撑部分别对应地设置的多个搁板检测部,
各搁板检测部包含:
第一可动构件,构成为能够在第一状态与第二状态之间转变;以及
第一传感器,检测所述第一可动构件处于所述第一状态以及第二状态中的哪种状态,
所述第一可动构件被设置成,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时成为第一状态,在第一搁板支撑于对应的板支撑部时成为第二状态。
3.根据权利要求2所述的换板器,其中
所述第一传感器是向预先规定的第一检测区域出射光并且接收来自所述第一检测区域的光,并输出与受光量相应的信号的光传感器,
所述第一可动构件具有能够遮挡从所述第一传感器出射的光的第一遮光体,且被设置成,当处于所述第一状态以及第二状态中的其中一种状态时,所述第一遮光体位于所述第一检测区域,当处于所述第一状态以及第二状态中的另一种状态时,所述第一遮光体位于所述第一检测区域外。
4.根据权利要求3所述的换板器,其中所述第一可动构件通过绕预先规定的第一旋转轴旋转而能够转变为所述第一状态以及第二状态,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时不抵接于所述第一搁板,从而以所述第一状态受到保持,在第一搁板支撑于对应的板支撑部时抵接于所述第一搁板,从而以所述第二状态受到保持。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的换板器,还包括:第二检测部,检测在支撑于所述多个板支撑部的所述多个第一搁板的各个上是否载置有样本板。
6.根据权利要求5所述的换板器,其中所述第二检测部包含与所述多个板支撑部分别对应地设置的多个第一板检测部,
各第一板检测部包含:
第二可动构件,构成为能够在第三状态与第四状态之间转变;以及
第二传感器,检测所述第二可动构件处于所述第三状态以及第四状态中的哪种状态,
所述第二可动构件是设置成,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时以及第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板未支撑于所述第一搁板时成为第三状态,在第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板支撑于所述第一搁板时成为第四状态。
7.根据权利要求6所述的换板器,其中
所述第二传感器是向预先规定的第二检测区域出射光并且接收来自所述第二检测区域的光,并输出与受光量相应的信号的光传感器,
所述第二可动构件具有能够遮挡从所述第二传感器出射的光的第二遮光体,且被设置成,当处于所述第三状态以及第四状态中的其中一种状态时,所述第二遮光体位于所述第二检测区域,当处于所述第三状态以及第四状态中的另一种状态时,所述第二遮光体位于所述第二检测区域外。
8.根据权利要求7所述的换板器,其中在各第一搁板,设有通过样本板被支撑于所述第一搁板而变形的弹性构件,
所述第二可动构件通过绕预先规定的第二旋转轴旋转而能够转变为所述第三状态以及第四状态,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时以及第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板未支撑于所述第一搁板时不抵接于所述弹性构件,从而以所述第三状态受到保持,在第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板支撑于所述第一搁板时抵接于设在所述第一搁板的发生了变形的弹性构件,从而以所述第四状态受到保持。
9.根据权利要求1所述的换板器,还包括:第三检测部,检测在所述一个或多个第二搁板的各个上是否载置有样本板。
10.根据权利要求9所述的换板器,其中所述第三检测部包含与所述一个或多个第二搁板分别对应地设置的一个或多个第二板检测部,
各第二板检测部包含:
第三可动构件,构成为能够在第五状态与第六状态之间转变;以及
第三传感器,检测所述第三可动构件处于所述第五状态以及第六状态中的哪种状态,
所述第三可动构件是设置成,在样本板未支撑于对应的第二搁板时成为第五状态,在样本板支撑于对应的第二搁板时成为第六状态。
11.根据权利要求10所述的换板器,其中
所述第三传感器是向预先规定的第三检测区域出射光并且接收来自所述第三检测区域的光,并输出与受光量相应的信号的光传感器,
所述第三可动构件具有能够遮挡从所述第三传感器出射的光的第三遮光体,且被设置成,当处于所述第五状态以及第六状态中的其中一种状态时,所述第三遮光体位于所述第三检测区域,当处于所述第五状态以及第六状态中的另一种状态时,所述第三遮光体位于所述第三检测区域外。
12.根据权利要求11所述的换板器,其中所述第三可动构件通过绕预先规定的第三旋转轴旋转而能够转变为所述第五状态以及第六状态,当样本板未支撑于对应的第二搁板时不抵接于所述样本板,从而以所述第五状态受到保持,当样本板支撑于对应的第二搁板时抵接于所述样本板,从而以所述第六状态受到保持。
13.根据权利要求1至4中任一项所述的换板器,还包括:提示部,提示所述第一检测部得出的检测结果。
14.一种色谱仪,包括:
自动采样器;以及
根据所述权利要求1至4中任一项所述的换板器。
15.一种换板器,进行针对自动采样器的样本板的供给以及回收,所述换板器包括:
框体,收容样本板;
多个第一搁板,支撑样本板;
多个板支撑部,在所述框体内将所述多个第一搁板分别支撑在不同的高度,各第一搁板是在所述多个板支撑部的任一个上能支撑且能拆卸地构成;以及
第一检测部,检测在各板支撑部上是否支撑有第一搁板,
其中所述第一检测部包含与所述多个板支撑部分别对应地设置的多个搁板检测部,
各搁板检测部包含:
第一可动构件,构成为能够在第一状态与第二状态之间转变;以及
第一传感器,检测所述第一可动构件处于所述第一状态以及第二状态中的哪种状态,
所述第一可动构件被设置成,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时成为第一状态,在第一搁板支撑于对应的板支撑部时成为第二状态。
16.一种换板器,进行针对自动采样器的样本板的供给以及回收,所述换板器包括:
框体,收容样本板;
多个第一搁板,支撑样本板;
多个板支撑部,在所述框体内将所述多个第一搁板分别支撑在不同的高度,
各第一搁板是在所述多个板支撑部的任一个上能支撑且能拆卸地构成;
第一检测部,检测在各板支撑部上是否支撑有第一搁板;以及
第二检测部,检测在支撑于所述多个板支撑部的所述多个第一搁板的各个上是否载置有样本板,
其中所述第二检测部包含与所述多个板支撑部分别对应地设置的多个第一板检测部,
各第一板检测部包含:
第二可动构件,构成为能够在第三状态与第四状态之间转变;以及
第二传感器,检测所述第二可动构件处于所述第三状态以及第四状态中的哪种状态,
所述第二可动构件是设置成,在第一搁板未支撑于对应的板支撑部时以及第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板未支撑于所述第一搁板时成为第三状态,在第一搁板支撑于对应的板支撑部且样本板支撑于所述第一搁板时成为第四状态。
CN201880098800.8A 2018-11-02 2018-11-02 换板器以及包括此换板器的色谱仪 Active CN112888949B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2018/040905 WO2020090121A1 (ja) 2018-11-02 2018-11-02 プレートチェンジャおよびそれを備えるクロマトグラフ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112888949A CN112888949A (zh) 2021-06-01
CN112888949B true CN112888949B (zh) 2024-05-28

Family

ID=70463269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201880098800.8A Active CN112888949B (zh) 2018-11-02 2018-11-02 换板器以及包括此换板器的色谱仪

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11899030B2 (zh)
JP (1) JP7078132B2 (zh)
CN (1) CN112888949B (zh)
WO (1) WO2020090121A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020090121A1 (ja) * 2018-11-02 2020-05-07 株式会社島津製作所 プレートチェンジャおよびそれを備えるクロマトグラフ

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006060135A (ja) * 2004-08-23 2006-03-02 Kawasaki Heavy Ind Ltd 基板状態検出装置
JP2011110067A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Konica Minolta Holdings Inc
CN102654485A (zh) * 2011-03-04 2012-09-05 株式会社岛津制作所 托架以及具有该托架的自动取样器
CN105813446A (zh) * 2015-01-16 2016-07-27 Juki株式会社 电子部件供给装置以及电子部件安装装置
CN105987973A (zh) * 2015-03-19 2016-10-05 株式会社岛津制作所 自动采样器

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5125748A (en) * 1986-03-26 1992-06-30 Beckman Instruments, Inc. Optical detection module for use in an automated laboratory work station
JPS63218080A (ja) * 1986-10-03 1988-09-12 オリンパス光学工業株式会社 試薬等の固相用マイクロプレ−トの収納,搬送用マガジン
US5045208A (en) * 1989-10-27 1991-09-03 Helena Laboratories Corporation Column analyzer system
JPH05162812A (ja) * 1991-12-17 1993-06-29 Shimadzu Corp 自動分析装置
JPH0624510A (ja) * 1992-03-18 1994-02-01 Ngk Insulators Ltd 棚検出装置
JP5492935B2 (ja) * 2012-05-15 2014-05-14 あおい精機株式会社 ラック収納装置
WO2013176621A1 (en) * 2012-05-22 2013-11-28 Ghorashi Sarvestani Seyed Amin Apparatus for depositing articles for subsequent retrieval
JP2016070695A (ja) 2014-09-26 2016-05-09 株式会社島津製作所 オートサンプラ及びそのオートサンプラを備えた液体クロマトグラフ
JP6702502B2 (ja) 2017-03-15 2020-06-03 株式会社島津製作所 オートサンプラ用のプレートチェンジャ
WO2020039558A1 (ja) 2018-08-23 2020-02-27 株式会社島津製作所 プレート搬送装置およびプレートチェンジャー
US20220050122A1 (en) 2018-09-13 2022-02-17 Shimadzu Corporation Plate changer for auto-sampler
WO2020090121A1 (ja) * 2018-11-02 2020-05-07 株式会社島津製作所 プレートチェンジャおよびそれを備えるクロマトグラフ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006060135A (ja) * 2004-08-23 2006-03-02 Kawasaki Heavy Ind Ltd 基板状態検出装置
JP2011110067A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Konica Minolta Holdings Inc
CN102654485A (zh) * 2011-03-04 2012-09-05 株式会社岛津制作所 托架以及具有该托架的自动取样器
CN105813446A (zh) * 2015-01-16 2016-07-27 Juki株式会社 电子部件供给装置以及电子部件安装装置
CN105987973A (zh) * 2015-03-19 2016-10-05 株式会社岛津制作所 自动采样器

Also Published As

Publication number Publication date
US20210356486A1 (en) 2021-11-18
JPWO2020090121A1 (ja) 2021-09-02
JP7078132B2 (ja) 2022-05-31
CN112888949A (zh) 2021-06-01
WO2020090121A1 (ja) 2020-05-07
US11899030B2 (en) 2024-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2427883B1 (en) Optical disc storage system
JP5244062B2 (ja) 検体処理装置
US8186047B2 (en) Method of mounting electronic component
EP1521515B1 (en) Electronic component mounting apparatus
CN112888949B (zh) 换板器以及包括此换板器的色谱仪
JP2002271089A (ja) 対フィーダ作業支援装置
JP4519667B2 (ja) 検体ラック搬送装置
JPH086669A (ja) 携帯型コンピュータ用ドッキング装置
WO2005116613A2 (en) Vial presence indicator for vial-bearing rack
KR101440501B1 (ko) 도서 반납장치
CN212345920U (zh) 电子货架用料盘确位机构
JP4667343B2 (ja) 薬品類引出棚装置
EP2629296B1 (en) Media processing apparatus and controlling method of the same
KR20100083723A (ko) 자동 판매기
KR20100083722A (ko) 자동 판매기
CN101610336A (zh) 记录装置及电子设备
KR20090112984A (ko) 장애물 감지 센서를 구비한 이동로봇
JP5053248B2 (ja) 電気機器
JP6295658B2 (ja) 印刷装置
CN113176402A (zh) 试剂卡推送结构及其免疫分析仪
JP2010206627A (ja) フラットパネルディスプレイ装置
JP5055075B2 (ja) 採血管自動準備装置
KR102499833B1 (ko) 트레이 공급 위치 탐지 기능을 가진 트레이 피더
CN116460816A (zh) 感应置物架及感应置物架组
CN220256354U (zh) 投料装置及烹饪设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant