CN112066853B - 一种叶片型面可读数测量方法 - Google Patents

一种叶片型面可读数测量方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种叶片型面可读数测量方法，设被测叶片型线轮廓度上差为a上，下差为a下，使用塞尺测量测量型面样板与叶片的最大间隙为b最大，最小间隙为b最小，间隙c值读百分表；当c＝0，且a上‑a下≥b最大，叶片型线轮廓度合格；当间隙c＝0，且a上‑a下＜b最大，a上‑a下＞b最小，叶片型线轮廓度局部超下差，不合格；当c＞0，此时，b最小为0，c‑b最大＜a下‑a上，叶片型线轮廓度局部超下差b最小处超上差，c‑b最大＞a上‑a下叶片型线轮廓度整体超上差，不合格；当c＞0，此时b最小为0，叶片型线最大加工余量为：c，最小加工余量为c‑b最大；若c＝0，则叶片无加工余量；保证测量精度，解决了使用塞尺微小形变的问题。

Description

一种叶片型面可读数测量方法
技术领域
本发明涉及一种叶片型面可读数测量方法，属于型面测量技术领域。
背景技术
在航空航天的部件生产中，为了降低航天发射的成本和提高部件的性能，会存在很多型面钣金零件；在对航空发动机叶片生产完成后，需要对叶片的型面进行检测，目前主要采用两种检测：一种是叶身型面样板对比检测，另一种是采用三坐标或光学扫描等设备检测；采用叶身型面样板对比检测，主要用于叶片叶身型面毛坯、粗加工或半精加工后型面的检测，是通过型面与标准样板间隙以及标准样板与测具底座侧面间隙通过塞尺测量后来计算判断，由于间隙大小是通过塞尺手动测量，塞尺在塞入型面与标准样板间隙时，每一次型面、标准样板发生的微小形变都不一样，存在叶片型面的多次检测数据精确度低，检测数据不能直观获取。
采用三坐标或光学扫描等设备检测，检测装夹的时间长效率低，设备维护成本和检测成本高。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供了一种叶片型面可读数测量方法。
本发明还提供了一种叶片型面可读数测量方法的测量工装。
本发明通过以下技术方案得以实现。
本发明提供的本发明的一种叶片型面可读数测量方法，使用了叶片型面可读数的测量工装，包括如下步骤：
步骤一：型面样板放置在底座顶面上，调整型面样板位置至与底座顶部平面间隙C为0，此时，通过可调节夹紧表夹将百分表的指针末端与底座侧平面压表对零点，型面样板前面顶部侧端面所在位置为叶片身型线的理论最大实体轮廓，即叶片型线为上差；
步骤二：将叶片的根部与夹头上的安装槽配合卡紧；
步骤三：设被测叶片型线轮廓度上差为a上，下差为a下，使用塞尺测量测量型面样板与叶片的最大间隙为b最大，最小间隙为b最小，间隙c值直接读取百分表数据；
步骤四：当c＝0，且a上-a下≥b最大，叶片型线轮廓度合格；当间隙c＝0，且a上-a下＜b最大，a上-a下＞b最小，叶片型线轮廓度局部超下差，不合格；当c＞0，此时，b最小为0，c-b最大＜a下-a上，叶片型线轮廓度局部超下差b最小处超上差，c-b最大＞a上-a下叶片型线轮廓度整体超上差，不合格；
步骤五：当c＞0，此时b最小为0，叶片型线最大加工余量为：c，最小加工余量为c-b最大；若c＝0，则叶片无加工余量。
上述的一种叶片型面可读数的测量工装，包括：底座、固定在底座顶部平面的夹头，夹头的前侧面上设有与底座顶面倾斜的安装槽，叶片的根部与安装槽过盈卡紧，通过调整型面样板前面顶部侧端面与叶片型线接触时，型面样板与叶片的接触力是水平的，倾斜的安装槽限制了叶片的根部在水平方向上移动；
截面定位销，多个截面定位销以两个间隔为一组固定在底座顶面的两侧；
型面样板，型面样板底部与两个间隔的截面定位销之间的底座顶面接触，型面样板与截面定位销接触的前后侧面与截面定位销面形状一致，保证型面样板与截面定位销稳定接触，型面样板前面顶部侧端面形状与待检测的叶片形状相同；
百分表、可调节夹紧表夹，百分表经固定在型面样板底部前或后的侧面的调节夹紧表夹，百分表与底座侧平面接触，调节夹紧表夹松开时，百分表能在调节夹紧表夹上滑动，百分表位置确定后被调节夹紧表夹夹紧。
所述型面样板中部设有将型面样板前部面顶部与底部间隔的间隔槽，由于型面样板前面顶部侧端面形状与待检测的叶片形状相同，型面样板前面顶部加工的精度高于型面样板底部精度，间隔槽区分后能便于对型面样板前面顶部侧端面形状进行精加工。
所述安装槽的槽口小于槽底的形状，便于与叶片的根部进行更好的配合。
所述调节夹紧表夹包括表夹块、紧固螺钉，表夹块与型面样板底部前或后的侧面固定连接，表夹块上设有百分表的指针贯穿的通孔，表夹块上设有贯穿紧固螺钉对百分表的指针压紧的通孔，紧固螺钉向上旋转末端对百分表的指针进行分离，百分表能在表夹块上的通孔滑动，百分表位置确定后，紧固螺钉向下旋转末端对百分表的指针进行压紧。
所述表夹块上设有槽与型面样板底部过盈卡合，或者是表夹块与型面样板焊接。
所述底座顶部为两个台阶面，夹头的底部固定在中部较低的平面，截面定位销固定在底座两侧较高的平面上，型面样板的底面与底座两侧较高的平面接触，由于型面样板与底座的接触要求精度高，底座顶部为两个台阶面便于区分加工平面的精度，降低加工成本。
所述底座的底面设有通槽，使得底座的底面只有两侧支撑面，便于对两侧支撑面进行精加工，降低对底座的底面整体精加工的成本，同时降低底座的整体质量。
所述安装槽的方向是从夹头的左下至右上，或者是从夹头的右下至左上。
所述安装槽与底座顶面倾斜度为三十至六十度之间。
本发明的有益效果在于：由于在通过调整型面样板前面顶部侧端面与叶片型线接触时，型面样板与叶片的接触力是水平的，倾斜的安装槽限制了叶片的根部在水平方向上移动，数据间隙c值是经表百分表直接获取，解决了使用塞尺检测型面、标准样板发生的微小形变问题，提高了叶片型面的多次检测数据精确度，相对于采用三坐标或光学扫描等设备检测，保证了测量精度，降低了检测设备的装夹时间和设备维护成本、检测成本。
附图说明
图1是本发明的使用状态左前视角结构示意图；
图2是本发明图1的主视图；
图3是本发明图1的俯视图；
图4是本发明图1的左视图；
图中：1-夹头；11-安装槽；2-叶片；3-截面定位销；4-底座；6-百分表；7-可调节夹紧表夹；71-表夹块；72-紧固螺钉；8-型面样板；81-间隔槽。
具体实施方式
下面进一步描述本发明的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
参见图1至图4所示。
本发明的一种叶片型面可读数的测量工装，包括：底座4、固定在底座4顶部平面的夹头1，夹头1的前侧面上设有与底座4顶面倾斜的安装槽11，叶片2的根部与安装槽11过盈卡紧，通过调整型面样板8前面顶部侧端面与叶片2型线接触时，型面样板8与叶片2的接触力是水平的，倾斜的安装槽11限制了叶片2的根部在水平方向上移动；
截面定位销3，多个截面定位销3以两个间隔为一组固定在底座4顶面的两侧，如果截面定位销3间距离较小，可通过改变型面样板8厚薄来实现卡装在截面定位销3之间，或者是多个型面样板8使用同一个截面定位销3；
型面样板8，型面样板8底部与两个间隔的截面定位销3之间的底座4顶面接触，型面样板8与截面定位销3接触的前后侧面与截面定位销3面形状一致，保证型面样板8与截面定位销3稳定接触，型面样板8与截面定位销3接触面可以是平面或者是曲面，型面样板8前面顶部侧端面形状与待检测的叶片2形状相同；
百分表6、可调节夹紧表夹7，百分表6经固定在型面样板8底部前或后的侧面的调节夹紧表夹7，百分表6与底座4侧平面接触，调节夹紧表夹7松开时，百分表6能在调节夹紧表夹7上滑动，百分表6位置确定后被调节夹紧表夹7夹紧。
所述型面样板8中部设有将型面样板8前部面顶部与底部间隔的间隔槽81，由于型面样板8前面顶部侧端面形状与待检测的叶片2形状相同，型面样板8前面顶部加工的精度高于型面样板8底部精度，间隔槽81区分后能便于对型面样板8前面顶部侧端面形状进行精加工。
所述安装槽11的槽口小于槽底的形状，便于与叶片2的根部进行更好的配合。
所述调节夹紧表夹7包括表夹块71、紧固螺钉72，表夹块71与型面样板8底部前或后的侧面固定连接，表夹块71上设有百分表6的指针贯穿的通孔，表夹块71上设有贯穿紧固螺钉72对百分表6的指针压紧的通孔，紧固螺钉72向上旋转末端对百分表6的指针进行分离，百分表6能在表夹块71上的通孔滑动，百分表6位置确定后，紧固螺钉72向下旋转末端对百分表6的指针进行压紧。
所述表夹块71上设有槽与型面样板8底部过盈卡合，或者是表夹块71与型面样板8焊接。
所述底座4顶部为两个台阶面，夹头1的底部固定在中部较低的平面，截面定位销3固定在底座4两侧较高的平面上，型面样板8的底面与底座4两侧较高的平面接触，由于型面样板8与底座4的接触要求精度高，底座4顶部为两个台阶面便于区分加工平面的精度，降低加工成本。
所述底座4的底面设有从前至后的通槽，使得底座4的底面只有两侧支撑面，便于对两侧支撑面进行精加工，降低对底座4的底面整体精加工的成本，同时降低底座4的整体质量。
所述安装槽11的方向是从夹头1的左下至右上，或者是从夹头1的右下至左上。
所述安装槽11与底座4顶面倾斜度为三十至六十度之间，便于叶片2在安装槽11上装卸，叶片2被夹紧后，叶片2的测型面与型面样板8基准统一，例如是处于同一坐标系内。
本发明的一种叶片型面可读数测量方法，使用了上述的叶片型面可读数的测量工装，包括如下步骤：
步骤一：型面样板8放置在底座4顶面上，调整型面样板8位置至与底座4顶部平面间隙C为0，此时，通过可调节夹紧表夹7将百分表6的指针末端与底座4侧平面压表对零点，型面样板8前面顶部侧端面所在位置为叶片2身型线的理论最大实体轮廓，即叶片2型线为上差；
步骤二：将叶片2的根部与夹头1上的安装槽11配合卡紧；
步骤三：设被测叶片2型线轮廓度上差为a上，下差为a下，使用塞尺测量测量型面样板8与叶片2的最大间隙为b最大，最小间隙为b最小，间隙c值直接读取百分表6数据；
步骤四：当c＝0，且a上-a下≥b最大，叶片2型线轮廓度合格；当间隙c＝0，且a上-a下＜b最大，a上-a下＞b最小，叶片2型线轮廓度局部超下差，不合格；当c＞0，此时，b最小为0，c-b最大＜a下-a上，叶片2型线轮廓度局部超下差b最小处超上差，c-b最大＞a上-a下叶片2型线轮廓度整体超上差，不合格；
步骤五：当c＞0，此时b最小为0，叶片2型线最大加工余量为：c，最小加工余量为c-b最大；若c＝0，则叶片2无加工余量。
由于在通过调整型面样板8前面顶部侧端面与叶片2型线接触时，型面样板8与叶片2的接触力是水平的，倾斜的安装槽11限制了叶片2的根部在水平方向上移动，数据间隙c值是经表百分表6直接获取，解决了使用塞尺检测型面、标准样板发生的微小形变问题，提高了叶片型面的多次检测数据精确度，相对于采用三坐标或光学扫描等设备检测，保证了测量精度，降低了检测设备的装夹时间和设备维护成本、检测成本。

Claims (9)

1.一种叶片型面可读数测量方法，其特征在于，使用了测量工装，所述测量工装，包括：底座(4)、固定在底座(4)顶部平面的夹头(1)，夹头(1)的前侧面上设有与底座(4)顶面倾斜的安装槽(11)；截面定位销(3)，多个截面定位销(3)以两个间隔为一组固定在底座(4)顶面的两侧；型面样板(8)，型面样板(8)底部与两个间隔的截面定位销(3)之间的底座(4)顶面接触，型面样板(8)与截面定位销(3)接触的前后侧面与截面定位销(3)面形状一致，保证型面样板(8)与截面定位销(3)稳定接触，型面样板(8)前面顶部侧端面形状与待检测的叶片(2)形状相同；百分表(6)、可调节夹紧表夹(7)，百分表(6)经固定在型面样板(8)底部前或后的侧面的调节夹紧表夹(7)，百分表(6)与底座(4)侧平面接触；
叶片型面可读数测量方法，包括如下步骤：
步骤一：型面样板(8)放置在底座(4)顶面上，调整型面样板(8)位置至与底座(4)顶部平面间隙C为0，此时，通过可调节夹紧表夹(7)将百分表(6)的指针末端与底座(4)侧平面压表对零点，型面样板(8)前面顶部侧端面所在位置为叶片(2)身型线的理论最大实体轮廓，即叶片(2)型线为上差；
步骤二：将叶片(2)的根部与夹头(1)上的安装槽(11)配合卡紧；
步骤三：设被测叶片(2)型线轮廓度上差为a上，下差为a下，使用塞尺测量测量型面样板(8)与叶片(2)的最大间隙为b最大，最小间隙为b最小，间隙c值直接读取百分表(6)数据；
步骤四：当c＝0，且a上-a下≥b最大，叶片(2)型线轮廓度合格；当间隙c＝0，且a上-a下＜b最大，a上-a下＞b最小，叶片(2)型线轮廓度局部超下差，不合格；当c＞0，此时，b最小为0，c-b最大＜a下-a上，叶片(2)型线轮廓度局部超下差b最小处超上差，c-b最大＞a上-a下叶片(2)型线轮廓度整体超上差，不合格；
步骤五：当c＞0，此时b最小为0，叶片(2)型线最大加工余量为：c，最小加工余量为c-b最大；若c＝0，则叶片(2)无加工余量。
2.如权利要求1所述的叶片型面可读数测量方法，其特征在于：所述型面样板(8)中部设有将型面样板(8)前部面顶部与底部间隔的间隔槽(81)。
3.如权利要求1所述的叶片型面可读数测量方法，其特征在于：所述安装槽(11)的槽口小于槽底的形状。
4.如权利要求1所述的叶片型面可读数测量方法，其特征在于：所述调节夹紧表夹(7)包括表夹块(71)、紧固螺钉(72)，表夹块(71)与型面样板(8)底部前或后的侧面固定连接，表夹块(71)上设有百分表(6)的指针贯穿的通孔，表夹块(71)上设有贯穿紧固螺钉(72)对百分表(6)的指针压紧的通孔。
5.如权利要求4所述的叶片型面可读数测量方法，其特征在于：所述表夹块(71)上设有槽与型面样板(8)底部过盈卡合，或者是表夹块(71)与型面样板(8)焊接。
6.如权利要求1所述的叶片型面可读数测量方法，其特征在于：所述底座(4)顶部为两个台阶面，夹头(1)的底部固定在中部较低的平面，截面定位销(3)固定在底座(4)两侧较高的平面上，型面样板(8)的底面与底座(4)两侧较高的平面接触。
7.如权利要求1所述的叶片型面可读数测量方法，其特征在于：所述底座(4)的底面设有通槽，底座(4)的底面只有两侧支撑面。
8.如权利要求1所述的叶片型面可读数测量方法，其特征在于：所述安装槽(11)的方向是从夹头(1)的左下至右上，或者是从夹头(1)的右下至左上。
9.如权利要求1所述的叶片型面可读数测量方法，其特征在于：所述安装槽(11)与底座(4)顶面倾斜度为三十至六十度之间。
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