CN103776345A - 一种天线主面精度样板检测方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种天线主面精度样板检测方法及装置，它是通过制作出一个切面形状样板，并以此样板作为测量基准，用量具检测天线反射面测量点的实际间隙值，进而确定天线反射面误差大小。它的装置设有一个旋转轴（1），旋转轴（1）上设有至少一个支架（2），天线朝天放置并将所述支架（2）定位在天线上；它还包括至少一块根据天线切面形状制作出的样板（3），该样板（3）固定在支架（2）上并插入到天线中心样板座定位孔内且可绕轴转动。本发明在进行天线主面精度检测时，只需要根据天线的理论尺寸制作出相应的样板，然后将样板和天线一起安置在本发明的检测装置上，即可实现快速批量化检测。
Description
技术领域
本发明涉及一种天线主面精度样板检测方法及装置，属于通信设备中的天线技术领域。
背景技术
通信、雷达、遥感、广播、电视、导航等无线电设备，都是依靠无线电波来工作的，都需要有无线电波的辐射和接收。我们把辐射或接收无线电波的装置称为天线。天线的形式很多，但通常天线都具有一个反射面，而反射面的精度是衡量评估天线质量的重要指标，它不仅直接影响天线的口面效率，从而决定该天线可工作的最短波长，还影响天线方向图的主瓣宽度和旁瓣结构。通过对天线面进行测量，确定其表面精度，由表面精度可以推算出它对天线性能的影响。反射面的表面精度要求与工作频率有关系，工作频率越高，对表面精度的要求就越严。现有的检测天线表面精度的方法很多，但是要么精度不足，要么成本过高，检测过程过于复杂，还有很大的改进空间。
发明内容
本发明的目的提供一种天线主面精度样板检测方法及装置，以提高检测精度，降低检测成本，简化检测步骤，实现批量流水化检测，从而克服现有技术的不足。
为实现本发明的目的，本发明的一种天线主面精度样板检测方法是制作出一个切面形状样板，并以此样板作为测量基准，用量具检测天线反射面测量点的实际间隙值，进而确定天线反射面误差大小。进一步来说，以物理材料制成一个理想天线的切面形状样板，样板工作边形状为一条与天线的理论曲线等距的曲线，将待检测调整的天线朝天放置调平，样板插入天线中心样板座的定位孔内，样板旋转到被测天线曲面的任意一个位置，就构成了该位置的基准曲线，样板绕天线理论轴旋转时，样板的等距曲线形成一个与理论曲面等距的旋转曲面，这就是作为反射面检测调整依据的基准曲面，再利用塞尺或百分表等测量天线实际反射面上一些测量点与等距基准曲面的距离，求出它与理论值的差值，进而确定反射面的精度。
为实现上述的方法，本发明的天线主面精度样板检测装置，包括天线的反射面，其中它设有一个旋转轴，旋转轴上设有至少一个支架，天线朝天放置并将所述支架定位在天线上；它还包括至少一块根据天线切面形状制作出的样板，该样板固定在支架上并插入到天线中心样板座定位孔内且可绕旋转轴转动。
进一步的，样板为可绕天线中心轴旋转的旋转样板或立体组合样板。
更进一步的，支架一般设有至少一块用于其调平的配重。
更进一步的，样板旋转时或者立体组合时形成一个样板曲面。
更进一步的，前述的反射面和样板曲面之间用塞尺等工具测量其间隙。
由于采用了本发明的技术方案，在进行天线主面精度检测时，只需要根据天线的理论尺寸制作出相应的样板，然后将本发明的检测装置安置在天线上，即可实现快速批量化检测。检测过程中需要的操作人员较少，检测过程简便，且可以保证较高的检测精度。本发明有检测方便、直观、快速的特点，但还存在样板制作尤其是大型样板的制作工作量较大，样板不易运输和保存等不足。但在目前的技术条件下，可以说是一种成本较低且十分实用的检测技术。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
附图的标记为：1-旋转轴，2-支架，3-样板，4-配重，5-塞尺，6-反射面，7-理论曲线，8-样板曲线。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
本发明的样板测量法原理：如果天线反射体是可旋转成形的反射体，就可制作一块旋转样板。如果天线反射体为非旋转反射体，可采用立体组合样板来检测整个反射面。
下面以旋转样板为例来说明，如图1所示，以物理材料制成一个理想天线的切面形状样板3，样板3工作边形状为一条与天线的理论曲线7等距的样板曲线8（可分轴向等距与法向等距，常用法向等距）；将待检测调整的天线朝天放置调平，再将样板3装在待测的天线上，天线有一个反射面6,；样板3处在被测天线的某一位置，就构成了该位置的基准曲线，样板绕天线旋转轴1旋转时，样板的等距曲线形成一个与理论曲面等距的旋转曲面，这就是作为反射面6检测调整依据的基准曲面，再利用塞尺5测量天线实际反射面6上一些测量点与等距基准曲面的距离，求出它与理论值（等距值）的差值（即误差）。进而算出反射面6的实际形状与理论形状的偏差大小，即实际反射面与理论反射曲面的吻合程度高低，确定该反射面6是否满足设计要求。
看图1，假设根据天线的反射面标准有一个理论曲线7，样板曲线8是与理论曲线7处处等距的曲线，（该等距值根据不同的用途设为不同的值，但对某一样板则是固定的）。而天线的反射面6在该位置剖面为一条实际曲线，该实际曲线与理论曲线7不会处处吻合，也即是与理论曲线7不是处处距离为零，而是存在一定的定位误差。利用塞尺5（塞尺5测量的是反射面6的法向等距值）或其它类似的测量工具，测出测量点的实际间隙值，用等距值减实测间隙值即为该测量点的误差。根据需要在反射面6上测量一定数量的测量点，则每个测量点都会产生一个测量值，即得到了该点的法向位置误差，适当数量的测量点就可得到一个统计上的反射面6精度值，即型面精度，一般用均方根表示。
举例来说，某样板3的样板曲线8与理论曲线7等距5毫米，在反射面6上实测某点与样板曲线8的距离读数4.7毫米，则该点的误差为5 - 4.7 = 0.3毫米。另一点读数为5.2，则该点误差为5 – 5.2 = -0.2毫米。
本发明的实施方式不限于上述实施例，在不脱离本发明宗旨的前提下做出的各种变化均属于本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种天线主面精度样板检测方法，其特征在于：制作出一个切面形状样板，并以此样板作为测量基准，用量具检测天线反射面测量点的实际间隙值，进而确定天线反射面误差大小。
2.根据权利要求1所述的天线主面精度样板检测方法，其特征在于：以物理材料制成一个理想天线的切面形状样板，样板工作边形状为一条与天线的理论曲线等距的曲线，将待检测调整的天线朝天放置调平，样板插入天线中心样板座的定位孔内，样板旋转到被测天线曲面的任意一个位置，就构成了该位置的基准曲线，样板绕天线理论轴旋转时，样板的等距曲线形成一个与理论曲面等距的旋转曲面，这就是作为反射面检测调整依据的基准曲面，再利用塞尺或百分表等测量天线实际反射面上一些测量点与等距基准曲面的距离，求出它与理论值的差值，即该点的位置误差。
3.一种天线主面精度样板检测装置，包括天线的反射面（6），其特征在于：它设有一个旋转轴（1），旋转轴（1）上设有至少一个支架（2），天线朝天放置并将所述支架（2）定位在天线上；它还包括至少一块根据天线切面形状制作出的样板（3），该样板（3）固定在支架（2）上并插入到天线中心样板座定位孔内且可绕轴转动。
4.根据权利要求3所述的天线主面精度样板检测装置，其特征在于：样板（3）为可绕天线中心轴旋转的旋转样板。
5.根据权利要求3所述的天线主面精度样板检测装置，其特征在于：所述样板（3）为立体组合样板。
6.根据权利要求4所述的天线主面精度样板检测装置，其特征在于：所述支架（2）设有至少一块用于其调平的配重（4）。
7.根据权利要求4或5所述的天线主面精度样板检测装置，其特征在于：所述样板（3）旋转时或者立体组合时形成一个样板曲面（8）。
8.根据权利要求7所述的天线主面精度样板检测装置，其特征在于：所述发射面（6）和样板曲面（8）之间设有塞尺（5）。
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