CN111397549B - 一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻璃及其制备方法与设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻璃的制备方法，包括步骤缺陷检测，所述缺陷检测包括步骤：使用所述硼硅浮法玻璃生产用检测装置；该装置包括底板、玻璃、控制装置、和收集箱，所述底板的外侧设置有传送带，且传送带的表面固定安装有底座，所述夹持板的下端外表面连接有弹簧，所述玻璃位于底座上，所述竖板的内部贯穿连接有横杆，所述顶板的下表面安装有激光发射器，所述控制装置安装在顶板的上表面，所述底板的右端上表面固定安装有支撑架，所述固定盘的上端连接有连接盘，所述收集箱位于底板的左侧，所述横杆的左端通过皮带相连接。能将不合格的玻璃自动剔除，且便于玻璃的稳定输送，并且便于对废旧玻璃进行收集和处理。

Description

一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻璃及其制备方法与设备

技术领域

本发明涉及特种玻璃生产相关技术领域，具体为一种低膨胀全电熔硼硅 浮法玻璃及其制备方法与设备。

背景技术

低膨胀系数的硼硅玻璃是一种性能优异的功能性玻璃，由于其在整个光 谱范围内具有优越的透光性和极低的荧光强度，使它在光学、光电子学设备 中得到了广泛而理想的使用；同时由于其热膨胀系数低、抗热冲击性强以及 耐温性良好，使它在需要优良耐温性能的应用领域中成为首选。

在硼硅玻璃生产工艺中全电熔浮法生产是其中的一种方法，而全电熔浮 法生产硼硅玻璃包括原料的混合、全电熔熔化和浮法成型等等，而生产出来 的硼硅玻璃需要经过初级的检测才能进行下一步的加工，其中对玻璃疵点和 平整度的检测是最基本的检测工序。

但是当今市场上现有的检测装置往往不能将不合格的玻璃自动剔除，且 在检测时不便于玻璃的稳定输送，并且普通的检测装置不便于对废旧玻璃进 行收集和处理，因此，我们提出一种能够自动剔除的硼硅浮法玻璃生产用检 测装置，以便于解决上述中提出的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够自动剔除的能够自动剔除的硼硅浮法玻 璃生产方法及检测装置，以解决上述背景技术中提出的大多数检测装置不能 将不合格的玻璃自动剔除，且不便于玻璃的稳定输送，并且不便于对废旧玻 璃进行收集和处理的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种低膨胀全电熔硼硅浮 法玻璃的制备方法，包括步骤缺陷检测，所述缺陷检测包括步骤：使用所述 硼硅浮法玻璃生产用检测装置；

包括底板、玻璃、控制装置、和收集箱，所述底板的外侧设置有传送带， 且传送带的表面固定安装有底座，且底座的外侧连接有橡胶板，所述底座的 上端安装有支撑板，且支撑板的内部贯穿连接有夹持板，所述夹持板的下端 外表面连接有弹簧，所述玻璃位于底座上，且玻璃的上方左右两侧均设置有 推块，并且推块与竖板的下端固定连接，所述竖板的内部贯穿连接有横杆， 且横杆位于顶板的下方，所述顶板的下表面安装有激光发射器，所述控制装 置安装在顶板的上表面，所述底板的右端上表面固定安装有支撑架，且支撑架的右侧安装有固定盘，所述固定盘的上端连接有连接盘，且连接盘的内部 贯穿连接有推杆，并且推杆的左端焊接连接有推板，所述收集箱位于底板的 左侧，且收集箱的底部螺纹连接有破碎杆，所述横杆的左端通过皮带相连接。

优选的，所述底座的上表面与橡胶板紧密贴合设置，且底座与支撑板构 成滑动结构，并且夹持板在支撑板上为伸缩结构。

优选的，所述推块的纵截面形状为直角梯形，且推块通过“L”字型的竖 板在顶板上为滑动结构。

优选的，所述横杆的表面呈螺纹状结构，且横杆左右两端的螺纹方向相 反，并且横杆与竖板的连接方式为螺纹连接。

优选的，所述固定盘与连接盘构成传动结构，且连接盘与推杆的连接方 式为螺纹连接。

优选的，所述推杆的外表面呈螺旋状结构，且推杆下表面开设的槽状结 构与支撑架的上端构成滑动结构。

一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻璃的制备设备，所述制备设备包括所述硼 硅浮法玻璃生产用全电熔窑、全封闭料道、浮法锡槽和检测装置。

还涉及一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻璃的生产工艺：

将按工艺要求调制的配合料，投入到全电熔窑进行熔化、澄清，玻璃液 通过全封闭料道进入锡槽，漂浮在相对密度大的锡液表面上，在自身重力、 表面张力以及拉边机拉力等作用力的共同作用下达到成型目的，玻璃带在主 传动牵引力的作用下，经由过渡辊台进入退火窑退火，再经检验、切裁、装 箱，最后入库。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：在现有技术的生产流程中的缺 陷检测步骤中增加该装备，该能够自动剔除的硼硅浮法玻璃生产用检测装置， 能将不合格的玻璃自动剔除，且便于玻璃的稳定输送，并且便于对废旧玻璃 进行收集和处理；

1、通过设置有激光发射器和控制装置，其中激光反射器将向玻璃的表面 发射激光，并由多组激光发射器共同作用测出玻璃表面的平整度，若玻璃表 面不平整，控制装置使得推板在推杆的作用下将玻璃向左推动，进而推下传 送带，将不合格的玻璃剔除；

2、通过在传送带上设置有底座、支撑板和夹持板，可使得夹持板与底座 的共同作用下对玻璃进行夹持，防止玻璃在传送时的偏斜与掉落，使得玻璃 被稳定的传送；

3、通过在底板的左侧设置有收集箱，且在收集箱的内部设置有上端呈锥 形结构的破碎杆，因此当玻璃落至收集箱内部时，可对不合格的玻璃进行破 碎，以便于玻璃的后期处理和收集。

附图说明

图1为本发明正视剖面结构示意图；

图2为本发明固定盘与连接盘连接侧视结构示意图；

图3为本发明推杆整体结构示意图；

图4为本发明侧视剖面结构示意图；

图5为本发明图4中A处放大结构示意图；

图6为本发明收集箱正视剖面结构示意图；

图7为现有技术的硼硅浮法玻璃生产方法的流程示意图。

图中：1、底板；2、传送带；3、底座；4、橡胶板；5、支撑板；6、夹 持板；7、弹簧；8、玻璃；9、推块；10、竖板；11、横杆；12、顶板；13、 激光发射器；14、控制装置；15、支撑架；16、固定盘；17、连接盘；18、 推杆；19、收集箱；20、破碎杆；21、推板；22、皮带。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行 清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而 不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做 出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-7，本发明提供一种技术方案：一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻 璃及其制备方法与设备，

现有技术的流程是：将按工艺要求调制的配合料，投入到全电熔窑进行 熔化、澄清，玻璃液通过全封闭料道进入锡槽，漂浮在相对密度大的锡液表 面上，在自身重力、表面张力以及拉边机拉力等作用力的共同作用下达到成 型目的，玻璃带在主传动牵引力的作用下，经由过渡辊台进入退火窑退火， 再经检验、切裁、装箱，最后入库。

其中检验包括缺陷检测，以此来区分残次品和正品，最后进行包装，具 体步骤参考图7，为比较完整的步骤。本申请的硼硅浮法玻璃生产设备主要加 装于现有技术的流程中的缺陷检测步骤，用于检测玻璃是否残次品。其中用 到了硼硅浮法玻璃生产用检测装置，其包括底板1、传送带2、底座3、橡胶 板4、支撑板5、夹持板6、弹簧7、玻璃8、推块9、竖板10、横杆11、顶 板12、激光发射器13、控制装置14、支撑架15、固定盘16、连接盘17、推 杆18、收集箱19、破碎杆20、推板21和皮带22，底板1的外侧设置有传送 带2，且传送带2的表面固定安装有底座3，且底座3的外侧连接有橡胶板4， 底座3的上端安装有支撑板5，且支撑板5的内部贯穿连接有夹持板6，夹持 板6的下端外表面连接有弹簧7，玻璃8位于底座3上，且玻璃8的上方左右 两侧均设置有推块9，并且推块9与竖板10的下端固定连接，竖板10的内部贯穿连接有横杆11，且横杆11位于顶板12的下方，顶板12的下表面安装有 激光发射器13，控制装置14安装在顶板12的上表面，底板1的右端上表面 固定安装有支撑架15，且支撑架15的右侧安装有固定盘16，固定盘16的上 端连接有连接盘17，且连接盘17的内部贯穿连接有推杆18，并且推杆18的 左端焊接连接有推板21，收集箱19位于底板1的左侧，且收集箱19的底部 螺纹连接有破碎杆20，横杆11的左端通过皮带22相连接。

如图1中推块9的纵截面形状为直角梯形，且推块9通过“L”字型的竖 板10在顶板12上为滑动结构，可通过推块9的运动对夹持板6起到移动作 用，便于夹持板6的向上运动；

如图2中固定盘16与连接盘17构成传动结构，且连接盘17与推杆18 的连接方式为螺纹连接，可通过连接盘17的转动带动推杆18左右运动；

如图3中推杆18的外表面呈螺旋状结构，且推杆18下表面开设的槽状 结构与支撑架15的上端构成滑动结构，可通过支撑架15与推杆18下端的卡 合，防止推杆18的转动；

如图4中横杆11的表面呈螺纹状结构，且横杆11左右两端的螺纹方向 相反，并且横杆11与竖板10的连接方式为螺纹连接，可通过横杆11左右两 端的竖板10同时向中间运动或者向两侧运动；

如图5中底座3的上表面与橡胶板4紧密贴合设置，且底座3与支撑板5 构成滑动结构，并且夹持板6在支撑板5上为伸缩结构，通过夹持板6的作 用对玻璃8起到很好的夹持固定作用。

工作原理：在使用该能够自动剔除的硼硅浮法玻璃生产用检测装置时， 首先手动向上拉动夹持板6，并将玻璃8放置在底座3上，通过弹簧7的作用 可使得夹持板6的下端将玻璃8夹紧，然后在传送带2的作用下对玻璃8进 行稳定的传送，当玻璃8运动至激光发射器13的正下方时，可通过多组激光 发射器13同时向玻璃8的表面发射激光，并通过激光测距，且激光发射器13 与对应的控制装置14通过信号相连接，经过控制装置14内部结构对信息进 行处理后，判断激光测距后的整体信息，从而判定玻璃8表面是否光滑，上 述通过激光发射器13与控制装置14配合来完成玻璃8光滑度的检测为现有 技术，具体的可参照现有的成熟检测技术，若检测结果玻璃8的表面平整， 则传送带2继续将玻璃8向右输送，若玻璃8的检测结果为不平整，此时控 制装置14将控制横杆11上连接的电机以及固定盘16上连接的电机同时转动， 使得横杆11转动带动2组竖板10上的推块9同时向中间运动，当推块9与夹持板6的上端下表面接触时，会将夹持板6向上抬起，使得夹持板6脱离 对玻璃8的夹持，且同时固定盘16的转动将使得连接盘17带动推杆18向左 滑动，使得推杆18上的推板21将玻璃8向左推动，直至玻璃8落至收集箱 19的内部，将不合格的玻璃8剔除，而不合格的玻璃8将在收集箱19内部破 碎杆20的作用下破裂，便于不合格玻璃8后续的处理，这就是该能够自动剔 除的硼硅浮法玻璃生产用检测装置的工作原理。

还涉及一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻璃的生产工艺：

将按工艺要求调制的配合料，投入到全电熔窑进行熔化、澄清，玻璃液通过 全封闭料道进入锡槽，漂浮在相对密度大的锡液表面上，在自身重力、表面 张力以及拉边机拉力等作用力的共同作用下达到成型目的，玻璃带在主传动 牵引力的作用下，经由过渡辊台进入退火窑退火，再经检验、切裁、装箱， 最后入库。

本发明使用到的标准零件均可以从市场上购买，异形件根据说明书的和 附图的记载均可以进行订制，各个零件的具体连接方式均采用现有技术中成 熟的螺栓、铆钉、焊接等常规手段，机械、零件和设备均采用现有技术中， 常规的型号，加上电路连接采用现有技术中常规的连接方式，在此不再详述， 本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人 员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其 中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何 修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻璃的制备方法，包括缺陷检测的步骤，所述缺陷检测包括步骤：使用所述硼硅浮法玻璃生产用检测装置；所述硼硅浮法玻璃生产用检测装置包括底板(1)、玻璃(8)、控制装置(14)和收集箱(19)，

其特征在于：

所述底板(1)的外侧设置有传送带(2)，且传送带(2)的表面固定安装有底座(3)，且底座(3)的外侧连接有橡胶板(4)，所述底座(3)的上端安装有支撑板(5)，且支撑板(5)的内部贯穿连接有夹持板(6)，所述夹持板(6)的下端外表面连接有弹簧(7)，所述玻璃(8)位于底座(3)上，且玻璃(8)的上方左右两侧均设置有推块(9)，并且推块(9)与竖板(10)的下端固定连接，所述竖板(10)的内部贯穿连接有横杆(11)，且横杆(11)位于顶板(12)的下方，所述顶板(12)的下表面安装有激光发射器(13)，所述控制装置(14)安装在顶板(12)的上表面，所述底板(1)的右端上表面固定安装有支撑架(15)，且支撑架(15)的右侧安装有固定盘(16)，所述固定盘(16)的上端连接有连接盘(17)，且连接盘(17)的内部贯穿连接有推杆(18)，并且推杆(18)的左端焊接连接有推板(21)，所述收集箱(19)位于底板(1)的左侧，且收集箱(19)的底部螺纹连接有破碎杆(20)，所述横杆(11)的左端通过皮带(22)相连接，所述底座(3)的上表面与橡胶板(4)紧密贴合设置，且底座(3)与支撑板(5)构成滑动结构，并且夹持板(6)在支撑板(5)上为伸缩结构，所述推块(9)的纵截面形状为直角梯形，且推块(9)通过“L”字型的竖板(10)在顶板(12)上为滑动结构，所述横杆(11)的表面呈螺纹状结构，且横杆(11)左右两端的螺纹方向相反，并且横杆(11)与竖板(10)的连接方式为螺纹连接，所述固定盘(16)与连接盘(17)构成传动结构，且连接盘(17)与推杆(18)的连接方式为螺纹连接。

2.根据权利要求1所述的一种低膨胀全电熔硼硅浮法玻璃的制备方法，其特征在于：所述推杆(18)的外表面呈螺旋状结构，且推杆(18)下表面开设的槽状结构与支撑架(15)的上端构成滑动结构。

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