CN110850270A - 一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统,包括:工作区,操作装置在所述工作区内执行操作;上下料区,物料经所述上下料区进出所述工作区,所述上下料区在所述工作区所在平面的投影与所述工作区不重叠;以及运载机构,所述运载机构自所述上下料区延伸至所述工作区,所述运载机构包括设于所述上下料区的对接端,所述物料自所述对接端进入或者输出所述工作区,当物料面积较大时,上下料区位于工作区侧面的设置方式,克服了物料进出工作区与测试装置发生干涉导致不便于上料的缺陷,物料能够直接从上下料区沿运载机构顺利进出,从而实现了测试装置可以检测不同面积的物料,同时因可以适用于不同型号的物料,使得检测效率佳。

Description

一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统
技术领域
本发明涉及生产检测设备技术领域,具体涉及一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统。
背景技术
目前,立式飞针测试机在检测印刷电路板(PCB板)时多采用人工送板的方式将待测线路板置于测试机的上下夹具中,在固定时需要操作人员操作测试机上下夹具的操作按钮,来完成夹板和飞针初始定位过程,然后测试完成后再人工将其从检测机上取下,近来市场上出现了相应型号的自动检测设备。
中国专利文献CN107121632A公开了一种飞针测试系统,包括机械手与测试设备,在检测过程中,PCB板由机械手臂夹取并放置于测试设备中的检测工作区内,实现了一定程度的自动化生产,但是整个上下料的过程中,机械手将PCB板夹持进入工作区的路径是面向测试装置从正面送板或取板,需要穿过测试装置,因此为了避免与测试装置产生干涉,通常PCB板的面积不能超过各个测试装置之间的空隙的平面面积,才允许PCB板经过各个测试装置之间的空隙进入工作区,因此,进一步限制了可检测的PCB板的面积,导致现有测试设备可检测的PCB板的面积受限,不能用于实现板面面积较大的PCB板的自动化检测;与此同时,正面送取板的操作方式也限制了测试设备进行成组布局的形式,在工作空间区域有限且要配合机械手臂实现自动化生产的情形下,为有效使用工作空间而使测试设备成组布局是十分必要的。
中国专利文献CN206906539U,公开了一种对多台飞针测试机自动上下料机构及飞针测试生产线,包括:基座、可在所述基座上滑动的机械手移动平台、固定在所述机械手移动平台上的机械手、置在所述基座一侧的待测板传送机和已测板传送机;所述飞针测试生产线包括:一种对多台飞针测试机自动上下料机构和不少于两台飞针测试机。该专利实现了对多台飞针测试机上下料,但是在上下料过程中也是利用机械手臂面向测试装置将物料放置到飞针测试机内部,同样会发生干涉,且该飞针测试机上包含有能与所述机械手配合使用的自动化夹具;所述自动化夹具可在机械手的配合下自动装夹和自动取下电路板,故而机械手需要待物料由夹具固定之后才能将物料释放,其余未放板的飞针测试机需要等待一定的时间,故而当设置更多的测试设备时,机械手将不能满足测试的产能需求,故而不能够进行成组布局,且该生产线在实际应用到生产中时,占用场地较大,不能够适用于更多的生产环境。因此亟待本领域技术人员解决此问题。
发明内容
因此,本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中的测试设备体积较大,占用面积大和成本较高的缺陷,从而提供一种上下料机构,其包括:
工作区,操作装置在所述工作区内执行操作;
上下料区,物料经所述上下料区进出所述工作区,所述上下料区位于所述工作区的一侧面;
以及运载机构,所述运载机构自所述上下料区延伸至所述工作区,所述运载机构包括设于所述上下料区的对接端,所述物料自所述对接端通过所述运载机构进入或者输出所述工作区。
进一步地,所述运载机构包括设置于机架上的输送单元,所述输送单元包括至少一个固定单元和一个导向单元,所述固定单元沿所述导向单元运动,所述导向单元自所述上下料区延伸至所述工作区,所述固定单元用于固定所述物料。
进一步地,所述固定单元包括若干夹具,所述夹具用于夹持所述物料;所述导向单元包括若干夹具导向装置,所述夹具固定于所述夹具导向装置上,所述夹具导向装置带动所述夹具运动,以将所述物料在所述上下料区和所述工作区内输送。
进一步地,所述夹具包括联动夹具,其上成型有允许物料进入的夹持槽,所述联动夹具包括固定夹具、活动夹具和换向组件,所述固定夹具与所述机架连接,所述活动夹具通过所述换向组件安装在所述固定夹具上,所述换向组件驱动所述活动夹具靠近或者远离所述固定夹具,所述活动夹具和所述固定夹具之间形成有所述夹持槽。
进一步地,所述换向组件包括换向组件包括传动板以及设于传动板与活动夹具之间的销槽连接组件,所述销槽连接组件包括连接销和连接槽,所述连接销固定于所述活动夹具的顶部,所述连接槽开设于所述传动板上,所述连接槽与所述传动板的移动方向呈夹角设置。
进一步地,所述夹具导向装置包括夹具导向驱动件、设于所述固定夹具的至少一端部的耳板以及传动带组件,所述耳板与所述传动带组件的传动带固定连接,所述夹具导向驱动件与所述传动带组件的带轮连接。
进一步地,所述夹具包括联动夹具和/或夹爪,所述联动夹具与所述夹爪沿不同的方向夹持固定所述物料,其分别固定于所述夹具导向装置上,所述夹具导向装置带动联动夹具和/或所述物料在所述上下料区与所述工作区往复运动。
进一步地,所述运载机构还包括设置于机架上的辅助输送单元,所述辅助输送单元包括输送组件和一对导槽,所述物料竖直插置于一对所述导槽之间,至少一个所述导槽内设有与所述物料接触的所述输送组件;所述导槽自所述上下料区延伸至所述工作区。
进一步地,所述输送组件包括带轮、传送带和输送驱动件,所述输送驱动件驱动所述带轮正反转动,所述带轮固定于所述机架上,所述传送带沿平行于所述导槽的方向设置。
一种测试设备,包括:
测试装置;
以及上下料机构,所述上下料机构为如上所述的上下料机构,所述测试装置对应设置于所述工作区内。
进一步地,所述测试设备包括至少两个上下料机构。
进一步地,所述测试设备包括两个上下料机构,两个所述上下料机构沿物料传输方向并行设置于所述机架上;或者两个所述上下料机构沿竖直方向堆叠设置。
进一步地,所述测试装置为飞针测试机构或通断路测试机,所述物料为电路板。
一种测试系统包括:
至少两个测试设备,所述测试设备为如上所述的一种测试设备,所述测试设备的对接端同向设置或者相向设置;
以及物料转移设备,对应设于所述测试设备的所述对接端。
进一步地,所述物料转移设备包括抓取机构和轨道,所述抓取机构沿所述轨道移动,所述测试设备对应设于所述轨道的至少一侧。
本发明技术方案,具有如下优点:
1.本发明提供的一种上下料机构,包括:工作区,操作装置在所述工作区内执行操作;上下料区,物料经所述上下料区进出所述工作区,所述上下料区对应设于所述工作区的一侧面;以及运载机构,所述运载机构自所述上下料区延伸至所述工作区,所述运载机构包括设于所述上下料的对接端,所述物料自所述对接端通过所述运载机构进入或者输出所述工作区。将上下料区设置在工作区的一侧面,使上下料区所在平面的投影与工作区不重叠,物料能够直接从上下料区输送至工作区内,并从工作区内返回至上下料区,实现了在同一侧面进行上下料的过程,克服了物料从测试设备的正面进出工作区时与测试装置发生干涉导致不便于上料的缺陷,物料能够直接从上下料区沿运载机构顺利进出,实现了物料可以从同一侧面输送不同面积的物料的效果,且当物料的面积较大时,也可以直接从工作区一侧的上下料区进出工作区,克服了较大面积的物料在垂直于工作区方向直接向工作区进行上下料导致容易与测试装置发生干涉的缺陷,实现了测试装置可以检测不同面积的物料,同时因可以适用于不同型号的物料,使得检测效率佳,由于工作区和上下料区位于同一竖直平面内,有利于在物料检测的过程中,在同样的占地面积内可以布置多个上下料机构,有利于实现空间的有效以及合理利用,便于成组布局上下料机构。
由于所述上下料区可位于测试设备的侧面具体包括位于左侧面、右侧面或者上侧面,因此,上下料区有更多的选择空间,测试设备也具有更多的组合形式,从而可实现测试系统的灵活布局。
2.本发明提供的一种上下料机构中,所述运载机构包括设置于机架上的输送单元,所述输送单元包括至少一个固定单元和导向单元,所述固定单元沿所述导向单元运动,所述导向单元自所述上下料区延伸至所述工作区,所述导向单元设于机架上,所述固定单元固定所述物料。通过设置固定单元和导向单元,在具体应用中,固定单元可以沿物料的不同方向对物料进行夹持,然后通过导向单元将固定单元自上下料区输送至工作区,实现对物料的夹持与运输,提高了上下料的效率,自动化程度。
3.本发明提供的一种上下料机构中,所述固定单元包括若干夹具,所述夹具夹持所述物料;所述导向单元包括若干夹具导向装置,所述夹具固定于所述夹具导向装置上,所述夹具导向装置带动所述夹具运动,以将所述物料在所述上下料区和所述工作区内输送。通过夹具导向装置带动夹具在上下料区和工作区内进行往复输送,实现了对物料的稳定输送的效果,且在检测的过程中,夹具能够对物料进行持续的夹持,避免在对物料测试的过程中待测物料工作区出现不稳定,导致测试装置测得的数据不准确的问题。
4.本发明提供的一种上下料机构中,所述夹具包括联动夹具,其上成型有允许物料进入的夹持槽,所述联动夹具包括固定夹具、活动夹具和换向组件,所述固定夹具与所述机架连接,所述活动夹具通过所述换向组件安装在所述固定夹具上,所述换向组件驱动所述活动夹具靠近或者远离所述固定夹具,所述活动夹具和所述固定夹具之间形成有所述夹持槽。通过换向组件驱动活动夹具向固定夹具靠近与远离,实现便于对物料的夹持固定与松开的效果,同时在实际固定物料的应用中,活动夹具与固定夹具之间的距离可以进行调整,其能够根据物料实时的调整夹持槽的宽度,实现适用于不同料号的待测物料的效果。
5.本发明提供的一种上下料机构中,所述夹具导向装置包括夹具驱动件、设于所述固定夹具的至少一端部的耳板以及传动带组件,所述耳板与所述传动带组件的传动带固定连接,所述夹具驱动件与所述传动带组件的带轮连接。通过夹具驱动件驱动传动带组件的带轮运动,带动了耳板运动,进一步实现了带动固定单元运动的效果,驱动固定单元在工作区和上下料区之间往复运动,驱动方式简单、易调节,结构设计简单且合理,制造成本低。
6.本发明提供的一种上下料机构中,所述运载机构包括还设置于机架上的辅助输送单元,所述辅助输送单元包括输送组件和一对导槽,所述物料竖直插置于一对所述导槽之间,至少一个所述导槽内设有与所述物料接触的所述输送组件;所述导槽自所述上下料区延伸至所述工作区。通过在上下料区和工作区之间设有输送单元,通过输送单元将物料进行输送,其中,物料竖直插置于一对导槽中,避免物料在输送中发生掉落以及磨损的情况,提高物料输送的整体稳定性。
7.本发明提供一种测试设备,包括:测试装置;以及上下料机构,所述上下料机构为如上所述的上下料机构,所述测试装置对应设置于所述工作区内。由于该测试设备采用了上述上下料机构,因此具体上述上下料机构所述的任一项优点,该测试设备在进行检测时不会因物料的型号、面积大小受到检测的限制,生产产能得到了提高,且该测试设备中,物料自上下料区经对接端进出工作区,实现了物料自测试设备的侧面进出的效果,有利于将该测试设备进行成组布局,以及将待物料在进入上下料区之后,机械手臂即可将物料释放,其余未放板的飞针测试机无需再等待一定的时间,当设置更多的测试设备时,机械手能够满足更多测试的产能需求,故而该测试设备能够进行成组布局,且该生产线在实际应用到生产中时,占用场地较小,能够适用于更多的生产环境。。
8.本发明提供一种测试设备中,所述测试设备包括至少两个上下料机构。将测试设备设置至少两个上下料机构,可以同时对两个及以上的物料进行检测,生产产能得到了进一步的提高。
9.本发明提供一种测试设备中,所述测试设备包括两个上下料机构,两个所述上下料机构沿物料传输方向并行设置于所述机架上;或者两个所述上下料机构沿竖直方向堆叠设置。在此种上下料机构的布置方式中,可以放置多个物料,物料也可以为不同料号的物料,提高生产产能的同时,减小了测试设备的占地面积,生产效率得到了提高。
10.本发明提供一种测试系统,包括:至少两个测试设备,所述测试设备为如上所述的一种测试设备,所述测试设备的对接端同向设置或者相向设置;以及物料转移设备,对应设于所述测试设备的所述对接端。由于该测试系统采用了上述测试设备,因此具体上述测试设备所述的任一项优点,且该测试系统可以实现飞针测试机(即测试设备)的测试平台连续摆放,实现成组布局的效果,同时每个飞针测试机(即测试设备)可放置两个上下料机构,从而极大的减少了测试系统的占地空间,使得单位面积内产能成倍增长,实现了整条处理生产线占地面积小的效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的实施方式中提供的上下料机构的整体结构示意图;
图2为图1所示的上下料机构的主视图;
图3为图1所示的联动夹具的结构示意图;
图4为本发明的实施方式中联动夹具沿水平方向对物料进行夹持固定时的联动夹具与夹爪的结构示意图;
图5为本发明的实施方式中辅助输送单元与联动夹具的连接结构示意图;
图6为本发明的实施方式中辅助输送单元的传送带与换向组件的位置结构示意图;
图7为本发明的实施方式中包括两个并行设置的上下料机构的测试设备的结构示意图;
图8为本发明的实施方式中包括轨道的生产系统的示意图;
图9为本发明实施方式中具有上侧面送料的上下料机构整体结构示意图;
图10为本发明实施方式中具有上侧面送料的上下料机构中联动夹具在工作区的位置连接示意图;
附图标记说明:
1-工作区;
2-上下料区;
3-运载机构;
31-联动夹具;311-夹持槽;312-固定夹具;313-活动夹具;314-换向组件;
321-夹具导向驱动件;322-耳板;323-传动带组件;
4-夹爪;
5-辅助输送单元;51-输送组件;511-带轮;512-传送带;513-输送驱动件;52-导槽;
6、物料转移设备;61、抓取机构;62、轨道;
7、测试设备;
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
实施例
本发明的实施例记载了一种测试系统,如图7和图8所示,包括至少两个测试设备7,以及物料转移设备6,所述测试设备7包括对接端,以两个测试设备为例,两个对接端同向设置或者相向设置,物料转移设备6对应设于测试设备7的对接端,将物料在测试设备与下一工位或储料箱中进行不断转移,在对物料的测试结束后,物料转移设备再将物料从各测试设备中分别取下,送到下一工位,再将待测的物料从储料箱中取出并送至测试设备中进行检测。
在实际应用中,为了使用产能的需要,通常在物料转移设备对物料进行转移的过程中设置为移动式的,具体的,如图8所示,物料转移设备6具体可以包括抓取机构61和轨道62,抓取机构61沿轨道62移动,其中抓取机构61在轨道62上移动的过程中抓取机构61对物料进行抓取的动作,其中,测试设备对应设于轨道的至少一侧,将测试设备的对接端朝向抓取机构设置,抓取机构能够克服测试装置的干涉,便于将物料送入到测试设备中进行固定测试的工作,同时,有利于测试设备便于成组布置,具体的,抓取机构可以为机械手、机器人或其他。当然在测试设备少的时候,也可以不设置轨道,降低制造成本。
本实施例中,如图1和图2所示,测试设备7包括测试装置(未在图中示出)以及上下料机构,上下料机构包括设于同一竖直平面内的上下料区2和工作区1,测试装置对应设置于上下料机构的工作区1内,物料自上下料区2输送至工作区1,测试装置对位于工作区1内的物料进行数据的测试,其中,测试装置可以为飞针测试机构、通断路测试机、电感测试机构、阻抗测试机构、孔面铜测试机构或其他,物料可以为电路板,测试设备对电路板的相关数据进行测试。
具体而言,测试设备7包括至少两个上下料机构,以两个上下料机构为例,当测试设备包括两个上下料机构时,两个所述上下料机构沿电路板(即物料)传输方向并行设置于机架上;或者两个所述上下料机构沿竖直方向堆叠设置,在检测时,通过设置多个测试装置实现同时对多个电路板进行测试的效果,其中堆叠设置是指在测试设备中,两个上下料机构位于同一个竖直平面内叠落在一起设置,使得测试设备的整体占用的平面面积较小。
现对本实施例中的上下料机构进行说明,如图2至图6所示,上下料机构包括工作区1、上下料区2以及运载机构3,其中操作装置在工作区1内执行操作,操作包括对电路板的夹持以及输送与输出,物料经上下料区2进出工作区1,具体的,将上下料区2设置在工作区1的一侧面,上下料区2在工作区1所在平面的投影与工作区1不重叠,将上下料区与工作区布置于同一平面内,确保电路板能够从上下料区的一侧进出工作区1,实现了物料能够在工作区的侧面进行上下料;上下料过程不对工作区产生干涉,且由于图2中工作区1的前后方(垂直于纸面方向)设有检测设备,因此将上下料区设置于工作区的侧面,避免因检测设备的存在而限制进入的PCB板的尺寸,由此从侧面进入工作区1可使得PCB板的检测尺寸增大,进一步实现了在不增大整机尺寸的情况下对大面积PCB板的测量。在工作区1内对电路板进行数据测试,运载机构3自上下料区2延伸至工作区1,其包括设于上下料区2的对接端,电路板在运载机构3的带动下,沿上下料区自对接端进入或者输出工作区,当电路板的面积较大时,也可以直接从工作区1一侧的上下料区2经对接端输入至工作区1内进行测试工作,克服了与测试装置发生干涉的缺陷,实现了测试装置可以检测不同面积的电路板,同时因可以适用于不同型号与规格的电路板,使得检测效率佳,其中,侧面是指图2中的上方、左侧和右侧,即当操作者面向测试设备正面时,位于测试设备左侧、右侧或上侧的区域。
如图4、图5和图6所示,上述上下料机构的运载机构3包括设置于机架上的输送单元,其包括至少一个固定单元和导向单元,导向单元自上下料区2延伸至工作区1,将导向单元设于机架上,固定单元固定电路板,在固定单元固定电路板之后,固定单元沿导向单元运动,以实现在上下料区2和工作区1之间运输电路板的效果。
具体而言,上述固定单元包括若干夹具,用于夹持电路板,上述导向单元包括若干夹具导向装置,将夹具固定于夹具导向装置上,然后夹具导向装置再带动夹具运动在上下料区2和工作区1之间往复运动,实现了电路板在上下料区2和工作区1内输送的效果,在夹具夹持电路板的方式中,可以对电路板的水平方向或者竖直方向对电路板进行夹持。
在本实施例中,如图4所示,上述的夹具包括联动夹具31,其上成型有允许电路板进入的夹持槽311,其中,该联动夹具31包括固定夹具312、活动夹具313和换向组件314,将固定夹具312固定在机架上,该活动夹具313通过换向组件314安装在固定夹具312上,通过换向组件314驱动活动夹具313靠近或者远离固定夹具312,以将电路板进行夹持固定或松开,具体的,活动夹具313可以为活动板,固定夹具312可以为固定板,在活动板与固定板之间形成有用于夹持槽311,将电路板竖直放置在夹持槽311内并输送置工作区1,利用测试装置对其进行测试。
如图3所示,换向组件314包括传动板以及设于传动板与活动夹具313之间的销槽连接组件,如图-所示,销槽连接组件包括连接销和连接槽,将连接销固定于活动夹具313的顶部,连接槽开设于传动板上,在布置过程中,连接槽在传动板上的设置角度与传动板的移动方向呈夹角设置,呈夹角设置使得在传动板运动的过程中,传动板能够相对固定夹具312平行运动,进而连接销在所述连接槽中滑动运动时,以带动活动夹具313向固定夹具312之间迅速的靠近与远离,使得物料能够固定在夹持槽311内。
作为本实施例中夹具的另一种实施方式,该夹具也可包括夹爪4,将夹爪4通过滑块固定于夹具导向装置,例如导轨上,夹爪4的夹持手柄将电路板的一侧进行夹持固定,之后在夹具导向装置的带动下将电路板在上下料区2和工作区1之间输送并调整夹爪4在工作区1的位置。
如图4所示,上述的夹具导向装置包括夹具驱动件、设于所述固定夹具312的至少一端部的耳板322以及传动带组件323,所述耳板322与所述传动带组件323的传动带固定连接,所述夹具驱动件与所述传动带组件323的带轮连接,本实施例中,固定夹具312为固定板,将固定板的一端与耳板322的一端连接,耳板322的另一端与传动带组件323的传动带连接,具体的,夹具驱动件为夹具驱动电机,夹具驱动电机的动力输出端与传动带组件323的带轮固定连接,在夹具驱动电机的驱动下,带轮带动传动带运动,进一步带动夹具,包括联动夹具31或夹爪4,在上下料区2和工作区1内往复运动,实现电路板的送入与输出。
参见附图5,本实施例中,为确保电路板能够稳定的运输至工作区1内,上述的运载机构3还包括设置于机架上的辅助输送单元5,辅助输送单元5包括输送组件51和一对导槽52,将电路板竖直插置于一对导槽52之间,在至少一个导槽52内设有与电路板接触的输送组件51,其中导槽52自上下料区2延伸至工作区1,具体的,输送组件51包括带轮511、传送带512和输送驱动件513,输送驱动件513可以为输送驱动电机,其动力输出轴与带轮511连接,通过控制输送驱动电机的正反转以驱动带轮511正反转动,在布置时,带轮511固定于机架上,在输送电路板时,传送带512沿平行于导槽52的方向设置,同时传送带512能够在夹具夹持电路板输送的过程中提供给夹具导向装置一定补偿力,避免电路板被磨损发生破损的情况。
参见附图2或4,本实施例中的固定单元可以为一对联动夹具31和一对夹爪4,其中上下方向设置有一对联动夹具31,左右方向设置有一对夹爪4,一对联动夹具31的夹持槽311相对设置,一对夹爪4的夹持手柄相对设置,在布置到上下料机构中时,联动夹具31对电路板的竖直方向进行夹持固定,夹爪4对应设置于工作区1内,对电路板的水平方向进行夹持固定,将电路板的竖直两侧分别对应的放置在联动夹具31的夹持槽311内,由夹具导向装置带动一对联动夹具31将电路板从上下料区2输送至工作区1,然后电路板上下两侧的夹爪4对电路板的水平方向进行夹持固定,提高了夹持的效果。
作为本实施例中固定单元的另一种实施方式,上述固定单元中的联动夹具31可以对电路板的水平方向进行夹持固定,夹爪4对电路板的竖直方向进行夹持固定,即调换夹爪和联动夹具的设置位置。当夹爪4对电路板的设置方向进行夹持固定时,夹爪4直接固定于夹具导向装置中的传动带组件323的传动带本体上,由传动带携带在上下料区2和工作区1之间往复运动;在联动夹具31对电路板的水平方向进行夹持固定时,在夹具导向装置的带动下,其能够相对电路板的上下两侧进行靠近与远离,进而实现对电路板水平方向的夹持固定,提高了稳定效果。
作为本发明的上下料机构的另一实施例,上下料机构还可以是具有如图9和图10所示,具有上侧面送料结构的上下料机构,上下料区位于工作区的上侧,且二者位于同一竖直平面内,将物料从上自下进行输送,采用此种布局方式可以更合理的利用上部空间,在特定的应用场景下,这种机构是可选择的。
本发明的工作过程如下:
将需要检测的电路板由物料转移设备自取料箱中取出,并放置在测试设备中的上下料机构中的上下料区,从测试设备对应于运载机构的对接端的侧面上料并经夹具对电路板夹持固定后,启动夹具导向装置,由夹具导向装置驱动,将电路板经对接端输送至工作区内,再由测试装置对电路板进行检测,当对电路板的测试结束后,控制夹具导向装置反转,使得夹具导向装置将夹具自工作区经对接端输出至上下料区,物料转移设备再将检测完成的电路板从上下料机构中取下,输送至下一工位或储料箱中,完成电路板的上下料以及检测的过程。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (15)

1.一种上下料机构,其特征在于,包括:
工作区,操作装置在所述工作区内执行操作;
上下料区,物料经所述上下料区进出所述工作区,所述上下料区位于所述工作区的一侧面;
以及运载机构,所述运载机构自所述上下料区延伸至所述工作区,所述运载机构包括设于所述上下料区的对接端,所述物料自所述对接端通过所述运载机构进入或者输出所述工作区。
2.根据权利要求1所述的一种上下料机构,其特征在于,所述运载机构包括设置于机架上的输送单元,所述输送单元包括至少一个固定单元和一个导向单元,所述固定单元沿所述导向单元运动,所述导向单元自所述上下料区延伸至所述工作区,所述固定单元用于固定所述物料。
3.根据权利要求2所述的一种上下料机构,其特征在于,所述固定单元包括若干夹具,所述夹具用于夹持所述物料;所述导向单元包括若干夹具导向装置,所述夹具固定于所述夹具导向装置上,所述夹具导向装置带动所述夹具运动,以将所述物料在所述上下料区和所述工作区内输送。
4.根据权利要求3所述的一种上下料机构,其特征在于,所述夹具包括联动夹具,其上成型有允许物料进入的夹持槽,所述联动夹具包括固定夹具、活动夹具和换向组件,所述固定夹具与所述机架连接,所述活动夹具通过所述换向组件安装在所述固定夹具上,所述换向组件驱动所述活动夹具靠近或者远离所述固定夹具,所述活动夹具和所述固定夹具之间形成有所述夹持槽。
5.根据权利要求4所述的一种上下料机构,其特征在于,所述换向组件包括换向组件包括传动板以及设于传动板与活动夹具之间的销槽连接组件,所述销槽连接组件包括连接销和连接槽,所述连接销固定于所述活动夹具的顶部,所述连接槽开设于所述传动板上,所述连接槽与所述传动板的移动方向呈夹角设置。
6.根据权利要求5所述的一种上下料机构,其特征在于,所述夹具导向装置包括夹具导向驱动件、设于所述固定夹具的至少一端部的耳板以及传动带组件,所述耳板与所述传动带组件的传动带固定连接,所述夹具导向驱动件与所述传动带组件的带轮连接。
7.根据权利要求6所述的一种上下料机构,其特征在于,所述夹具包括联动夹具和/或夹爪,所述联动夹具与所述夹爪沿不同的方向夹持固定所述物料,其分别固定于所述夹具导向装置上,所述夹具导向装置带动联动夹具和/或所述物料在所述上下料区与所述工作区往复运动。
8.根据权利要求1-7任一项所述的一种上下料机构,其特征在于,所述运载机构还包括设置于机架上的辅助输送单元,所述辅助输送单元包括输送组件和一对导槽,所述物料竖直插置于一对所述导槽之间,至少一个所述导槽内设有与所述物料接触的所述输送组件;所述导槽自所述上下料区延伸至所述工作区。
9.根据权利要求8所述的一种上下料机构,其特征在于,所述输送组件包括带轮、传送带和输送驱动件,所述输送驱动件驱动所述带轮正反转动,所述带轮固定于所述机架上,所述传送带沿平行于所述导槽的方向设置。
10.一种测试设备,其特征在于,包括:
测试装置;
以及上下料机构,所述上下料机构为如权利要求1-9任一项所述的上下料机构,所述测试装置对应设置于所述工作区内。
11.根据权利要求10所述的一种测试设备,其特征在于,所述测试设备包括至少两个上下料机构。
12.根据权利要求10或11所述的一种测试设备,其特征在于,所述测试设备包括两个上下料机构,两个所述上下料机构沿物料传输方向并行设置于所述机架上;或者两个所述上下料机构沿竖直方向堆叠设置。
13.根据权利要求10-12任一项所述的一种测试设备,其特征在于,所述测试装置为飞针测试机构或通断路测试机,所述物料为电路板。
14.一种测试系统,其特征在于,包括:
至少两个测试设备,所述测试设备为如权利要求10-13任一项所述的一种测试设备,所述测试设备的对接端同向设置或者相向设置;
以及物料转移设备,对应设于所述测试设备的所述对接端。
15.根据权利要求14所述的一种测试系统,其特征在于,所述物料转移设备包括抓取机构和轨道,所述抓取机构沿所述轨道移动,所述测试设备对应设于所述轨道的至少一侧。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111638082A (zh) * 2020-06-29 2020-09-08 深圳至峰精密制造有限公司 测试方法及测试设备
WO2021088331A1 (zh) * 2019-11-06 2021-05-14 南京协辰电子科技有限公司 一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统
WO2021088337A1 (zh) * 2019-11-06 2021-05-14 南京协辰电子科技有限公司 一种生产系统
CN113608107A (zh) * 2021-08-06 2021-11-05 深圳市鸿发鑫科技有限公司 具有双通道的电路板测试设备

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102253326A (zh) * 2010-05-18 2011-11-23 英业达股份有限公司 测试工具结构
DE102011085724A1 (de) * 2011-11-03 2013-05-08 Krones Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum Gruppieren von Artikeln oder Behältern
CN104133128A (zh) * 2014-07-07 2014-11-05 珠海市运泰利自动化设备有限公司 迷你快速多功能联动测试设备
CN105314392A (zh) * 2015-10-27 2016-02-10 苏州和瑞科自动化科技有限公司 一种用于多工位电路板并行测试的系统
CN105842606A (zh) * 2016-03-15 2016-08-10 大族激光科技产业集团股份有限公司 平面式飞针测试机及pcb板的传送方法
CN206460136U (zh) * 2016-11-18 2017-09-01 西门子数控(南京)有限公司 Pcb测试夹具
CN107472895A (zh) * 2017-09-04 2017-12-15 广东利迅达机器人系统股份有限公司 一种流道式分层上板机
CN212255566U (zh) * 2019-11-06 2020-12-29 南京协辰电子科技有限公司 一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6366107B2 (en) * 1998-04-28 2002-04-02 Delaware Capital Formation, Inc. Loading mechanism for automated verification and repair station
CN205643621U (zh) * 2016-03-15 2016-10-12 大族激光科技产业集团股份有限公司 平面式飞针测试机下料机构
CN206161797U (zh) * 2016-11-17 2017-05-10 四川长虹电器股份有限公司 Pcb板测试上下板装置
CN206906539U (zh) * 2017-07-12 2018-01-19 深圳市迈创力科技有限公司 一种对多台飞针测试机自动上下料机构及飞针测试生产线
CN107219452B (zh) * 2017-07-12 2023-04-18 深圳市迈创力科技有限公司 一种飞针测试机的新型夹具
CN110850270B (zh) * 2019-11-06 2024-07-09 南京协辰电子科技有限公司 一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102253326A (zh) * 2010-05-18 2011-11-23 英业达股份有限公司 测试工具结构
DE102011085724A1 (de) * 2011-11-03 2013-05-08 Krones Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum Gruppieren von Artikeln oder Behältern
CN104133128A (zh) * 2014-07-07 2014-11-05 珠海市运泰利自动化设备有限公司 迷你快速多功能联动测试设备
CN105314392A (zh) * 2015-10-27 2016-02-10 苏州和瑞科自动化科技有限公司 一种用于多工位电路板并行测试的系统
CN105842606A (zh) * 2016-03-15 2016-08-10 大族激光科技产业集团股份有限公司 平面式飞针测试机及pcb板的传送方法
CN206460136U (zh) * 2016-11-18 2017-09-01 西门子数控(南京)有限公司 Pcb测试夹具
CN107472895A (zh) * 2017-09-04 2017-12-15 广东利迅达机器人系统股份有限公司 一种流道式分层上板机
CN212255566U (zh) * 2019-11-06 2020-12-29 南京协辰电子科技有限公司 一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
蒋仕龙;林斌;陈剑雄;李冬荣;陈方涵;: "PCB缺陷检测上下料系统的应用研究", 机电工程技术, no. 08, 26 August 2018 (2018-08-26) *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021088331A1 (zh) * 2019-11-06 2021-05-14 南京协辰电子科技有限公司 一种上下料机构及具有该机构的测试设备、测试系统
WO2021088337A1 (zh) * 2019-11-06 2021-05-14 南京协辰电子科技有限公司 一种生产系统
CN111638082A (zh) * 2020-06-29 2020-09-08 深圳至峰精密制造有限公司 测试方法及测试设备
CN113608107A (zh) * 2021-08-06 2021-11-05 深圳市鸿发鑫科技有限公司 具有双通道的电路板测试设备
CN113608107B (zh) * 2021-08-06 2024-05-10 深圳市鸿发鑫科技有限公司 具有双通道的电路板测试设备

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