CN110456239A - 一种芯片高压和综合电性测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片高压和综合电性测试装置及测试方法，装置包括包括进料分料机构，用于对进料进行初步分料；第一转运机构，用于将待测产品从进料分料机构转运到第一测试机构，同时将完成第一次测试的产品转运到第一输送分料机构；第一测试机构，用于进行第一次测试；第一输送分料机构，用于将进行了第一次测试的产品进行良品不良品分料，并将良品传输到第二测试机构；第二测试机构，用于进行第二次测试；第二转运机构，用于将完成第二次测试的产品转运到第二输送分料机构；以及第二分料传输机构，用于将进行了第二次测试的产品进行良品不良品分料，并将良品传输到下一工序。

Description

一种芯片高压和综合电性测试装置及测试方法

技术领域

本发明属于变压器生产自动化设备技术领域，具体地说，涉及一种芯片高压和综合电性测试装置及测试方法。

背景技术

变压器是利用电磁感应的原理来改变交流电压的装置，主要的构件是初级线圈、次级线圈和铁芯。主要功能有：电压变换、电流变换、隔离、稳压等。除了现在大型的变压器外，为了适应现代电子产品小型化、集成化的发展，变压器也相应的越来越小。

小型的变压器在完成制作后通常需要进行高压测试和综合电性测试，只有同时通过高压测试和综合测试的变压器才是质量合格的变压器。传统的生产过程中，进行变压器的高压测试和综合电性测试均采用人工手动操控测试头进行，需要耗费大量人力，且效率低下。

申请号为2015105871427的发明专利公开了一种变压器自动测试设备，包括有机架、高压测试装置以及综合测试装置；该机架包括有基座、水平台和倾斜台，该高压测试装置包括有高压测试仪、高压测试头和第六驱动机构，该高压测试仪设置于基座上，该高压测试头可上下活动地设置于导料槽正上方并位于第一挡块的旁侧，高压测试头与高压测试仪通讯连接，该第六驱动机构带动高压测试头上下活动；该综合测试装置包括有综合测试仪、综合测试头和第七驱动机构。通过配合利用各个装置和机构，本设备可自动快速地对变压器完成高压测试和综合测试，并自动对次品进行归类收集，有效减少人力耗费，大大提高工作效率，从而利于企业经济效益的提高，本设备结构简单紧凑，成本低，操作方便。

该方案的测试设备在工作时，变压器摆放在水平台上，然后人工将变压器送入导料槽中，在重力的作用下，多个变压器紧挨着滑入导料槽中进行测试，在测试过程中，高压测试出现不良品则会导致综合测试待料，影响产能。需要提供一种更优的变压器测试装置。

发明内容

针对现有技术中上述的不足，本发明提供一种芯片高压和综合电性测试装置及测试方法，该装置能够实现自动化的高压测试和综合电性测试，有效解决现有变压器人工参与较多，耗费人力的不足，同时从第二测试机构与第一测试机构之间通过第一输送分料机构进行产品传输，第一输送分料机构上可以适量堆料，减少不良品来料对第二测试机构测试连续性的影响。

为了达到上述目的，本发明采用的解决方案是：一种芯片高压和综合电性测试装置，包括

进料分料机构，用于对进料进行初步分料；

第一转运机构，用于将待测产品从进料分料机构转运到第一测试机构，同时将进行了第一次测试的产品转运到第一输送分料机构；

第一测试机构，用于进行第一次测试；

第一输送分料机构，用于将完成第一次测试的产品进行良品不良品分料，并将良品传输到第二测试机构；

第二测试机构，用于进行第二次测试；

第二转运机构，用于将进行了第二次测试的产品转运到第二输送分料机构；

以及第二分料传输机构，用于将完成第二次测试的产品进行良品不良品分料，并将良品传输到下一工序。

所述的进料分料机构包括进料滑槽、分料治具组件和分料推料组件，所述的分料治具组件和分料推料组件分别位于进料滑槽的两侧，所述的分料治具组件包括分料板，分料板的两端分别开设有用于放置产品的凹槽，分料板在气缸作用下沿进料滑槽方向往复移动；所述的分料推料组件包括用于将产品进料滑槽上的产品推入分料板的推杆，推杆在气缸的作用下垂直于进料滑槽往复运动。

所述的第一转运机构包括用于在水平面上前后左右移动第一抓取组件的第一移动组件和一对并列安装在第一移动组件左右移动方向上，用于抓取产品的第一抓取组件；所述的第二转运机构包括用于在水平面上前后左右移动第二抓取组件的第二移动组件和安装在第二移动组件上，用于抓取产品的第二抓取组件。

所述的第一抓取组件与第二抓取组件结构相同，均包括手指气缸安装板，所述的手指气缸安装板的底部固定安装有手指气缸，手指气缸安装板在气缸的作用下带动手机气缸在竖直方向上往复运动。

所述的第一测试机构包括第一测试夹具、第一探针安装板、第一探针导向板和第一测试气缸，所述的第一探针安装板与第一探针导向板固定连接，所述的第一测试夹具用于夹紧待测试产品，所述第一测试气缸与第一探针安装板固定连接，带动第一探针安装板和第一探针导向板在竖直方向上往复运动，并向下压紧使得第一探针安装板上的探针与第一测试夹具上的产品电性接触；所述的第一测试夹具包括用于夹紧的第一推料板和用于定位的第一定夹具，所述的第一推料板在气缸作用下与第一定夹具共同夹紧产品。

所述的第二测试机构包括第二测试夹具、第二探针安装板、第二探针导向板和第二测试气缸，所述的第二探针安装板与第二探针导向板固定连接，所述的第二测试夹具用于夹紧待测试产品，所述第二测试气缸与第二探针安装板固定连接，带动第二探针安装板和第二探针导向板在竖直方向上往复运动，并向下压紧使得第二探针安装板上的探针与第二测试夹具上的产品电性接触；所述的第二测试夹具包括用于将第一输送分料机构上的产品推入第二定夹具并夹紧的第二推料板和用于定位的第二定夹具，所述的第二推料板在气缸作用下与第二定夹具共同夹紧产品。

所述的第一输送分料机构包括第一传送组件，第一转运机构将第一次测试后的产品转运放置在第一传送组件上，所述的第一传送组件的一侧设置有用于阻拦不良品的拦料板，拦料板在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件方向上往复运动；第一传送组件的一侧设置有用于将传送组件上的不良品推到第一不良品槽上的第三推料板，第三推料板在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件方向上往复运动。

所述的第二输送分料机构包括第二传送组件和第二不良品槽，第二转运机构将第二次测试后的良品转运放置在第二传送组件上，同时第二转运机构将第二次测试后的不良品转运放置在第二不良品槽上，所述的第二不良品槽的一侧设置有用于将不良品向第二不良品槽出口处拨动的拨片，拨片在气缸作用下沿第二不良品槽往复运动。

所述的第一测试机构为高压测试机构，第二测试机构为综合电性测试机构。

芯片高压和综合电性测试装置的测试方法，包括如下步骤：

S1：进料分料，进料分料机构对进料产品进行初步分料；

S2：转运并第一次测试，第一转运机构将初步分料后的产品转运到测试工位，第一测试机构进行第一次测试；

S3：输送分料，第一转运机构将完成第一次测试的产品转运到第一输送分料机构上，第一输送分料机对第一次测试后的良品和不良品进行分料，将良品传输到第二测试机构；

S4：第二次测试，推料机构将良品推到第二测试机构，第二测试机构进行第二次测试；

S5：转运分料，第二转运机构将完成第二次测试的产品转运到第二输送分料机构上，第二输送分料机构对第二次测试后的良品不良品进行分料，将良品传输到后续工位。

本发明的有益效果是：

(1)该装置能从将从进料口进的料进行分料并自动转运到第一测试机构处进行第一次测试，然后将第一次测试后的产品转运到第一输送分料机构上，对不良品进行分料并将良品传输到第二测试机构处，进行第二次测试，并将第二次测试后的产品进行不良品分料和良品传输，整个测试过程不需要人工参与，能够实现自动化的高压测试和综合电性测试，有效解决现有变压器人工参与较多，耗费人力的不足，同时从第二测试机构与第一测试机构之间通过第一输送分料机构进行产品传输，第一输送分料机构上可以适量堆料，减少不良品来料对第二测试机构测试连续性的影响。

(2)该装置设计合理，合理布置高压测试和综合电性测试中间第一传送组件的传输距离和测量的效率，有效保障高压测试和综合电性测试处于合理的工作效率状态，减少待料，提升生产效率。

附图说明

图1为本发明测试装置立体示意图；

图2为本发明测试装置俯视图；

图3为本发明测试装置正视图；

图4为本发明进料分料机构放大示意图；

图5第一转运机构放大示意图；

图6为本发明第二转运机构放大示意图；

图7为本发明第一抓取装置放大示意图；

图8为本发明第二抓取装置放大示意图；

图9为本发明第一测试机构结构示意图；

图10为本发明第二测试机构结构示意图；

图11为本发明第一输送分料机构及第二推料板结构示意图；

图12为本发明第二分料传输机构示意图；

图中：

1-进料分料机构，11-进料滑槽，12-分料板，13-凹槽，14-推杆，2-第一测试机构，21-第一探针安装板，22-第一探针导向板，23-第一定夹具，24-第一测试气缸，25-第一推料板，3-第一转运机构，31-第一抓取组件，311-手指气缸安装板，312-手指气缸，32-第一移动组件，321-安装板，4-第一输送分料机构，41-第一传送组件，42-第一不良品槽，43-第三推料板，44-拦料板，5-第二测试机构，51-第二探针安装板，52-第二探针导向板，53-第二定夹具，54-第二测试气缸，55-第二推料板，6-第二转运机构，61-第二抓取组件，611-手指气缸安装板，612-手指气缸，62-第二移动组件，621-底板，7-第二转运机构，71-第二传送组件，72-第二不良品槽，73-拨片。

具体实施方式

以下结合附图对本发明作进一步描述：

如图1、图2和图3所示，一种芯片高压和综合电性测试装置，包括进料分料机构1，第一转运机构3，第一测试机构3，第一输送分料机构4，推料机构8，第二测试机构5，第二转运机构6，以及第二分料传输机构7，第一测试机构2为高压测试机构，第二测试机构5为综合电性测试机构，进料分料机构1，第一转运机构3，第一测试机构3，第一输送分料机构4，推料机构8，第二测试机构5，第二转运机构6，以及第二分料传输机构7均安装在一个支撑板上，支撑板通过多个支座安装在一个工作桌上，以使测试装置位于合理的高度，便于员工操作和布置高压不良品收料盒和综合电性不良品收料盒。

如图4所示，所述的进料分料机构1包括进料滑槽11、分料治具组件和分料推料组件，进料滑槽倾斜设置在进料口，进料口的产品能够沿进料滑槽11向下滑落，所述的分料治具组件和分料推料组件分别位于进料滑槽11的两侧，所述的分料治具组件包括分料板12，分料板12的两端分别开设有用于放置产品的凹槽13，分料板12在气缸作用下沿进料滑槽11方向往复移动；所述的分料推料组件包括用于将产品进料滑槽11上的产品推入分料板12的推杆14，推杆14在气缸的作用下垂直于进料滑槽11往复运动。

如图5-8所示，所述的第一转运机构3包括用于在水平面上前后左右移动第一抓取组件31的第一移动组件32和一对并列安装在第一移动组件32左右移动方向上，用于抓取产品的第一抓取组件31，所述的第一移动组件31包括用于固定安装第一抓取组件31的安装板321，安装板321在气缸的作用下在水平方向上移动；所述的第二转运机构6包括用于在水平面上前后左右移动第二抓取组件61的第二移动组件62和安装在第二移动组件62上，用于抓取产品的第二抓取组件61，所述的第二移动组件62包括用于固定安装第二抓取组件的底板621，底板621在气缸的作用下在水平方向上移动。其中，第一移动组件32前后移动指的是第一移动组件32垂直于进料滑槽11方向上的往复运动，第一移动组件32左右移动指的是第一移动组件32沿着进料滑槽11方向上的往复运动，两个第一抓取组件沿着进料滑槽并列安装。

所述的第一抓取组件31与第二抓取组件61结构相同，均包括手指气缸安装板311、611，所述的手指气缸安装板311、611的底部固定安装有手指气缸312、612，手指气缸安装板311、611在气缸的作用下带动手机气缸312、612在竖直方向上往复运动。其中第一抓取组件31上安装有两个手指气缸312，第二抓取组件61上安装有一个手指气缸612。

如图9到图11所示，所述的第一测试机构2包括第一测试夹具、第一探针安装板21、第一探针导向板22和第一测试气缸24，所述的第一探针安装板21与第一探针导向板22固定连接，所述的第一测试夹具用于夹紧待测试产品，所述第一测试气缸24与第一探针安装板21固定连接，带动第一探针安装板21和第一探针导向板22在竖直方向上往复运动，并向下压紧使得第一探针安装板21上的探针与第一测试夹具上的产品电性接触；所述的第一测试夹具包括用于夹紧的第一推料板25和用于定位的第一定夹具23，所述的第一推料板25在气缸作用下与第一定夹具23共同夹紧产品。

所述的第二测试机构包括第二测试夹具、第二探针安装板51、第二探针导向板51和第二测试气缸54，所述的第二探针安装板51与第二探针导向板52固定连接，所述的第二测试夹具用于夹紧待测试产品，所述第二测试气缸54与第二探针安装板51固定连接，带动第二探针安装板51和第二探针导向板52在竖直方向上往复运动，并向下压紧使得第二探针安装板51上的探针与第二测试夹具上的产品电性接触；所述的第二测试夹具包括用于将第一输送分料机构上的产品推入第二定夹具53并夹紧的第二推料板55和用于定位的第二定夹具53，所述的第二推料板55在气缸作用下与第二定夹具53共同夹紧产品。

在生产过程中，由于高压测试耗时约为综合电性测试耗时的2倍，且高压测试不良还有损耗，因此，第一测试夹具、第一探针安装板21、第一探针导向板22均包括两个测试位，第一测试机构2能够同时进行两个产品的高压测试。第一测试夹具、第一探针安装板51、第一探针导向板52仅包括一个测试位，第二测试机构5一次仅能完成一个产品的综合电性测试。为了能够更好的完成测试，第一测试气缸24和第二测试气缸54分别安装在气缸支座上。

如图11所示，所述的第一输送分料机构4包括第一传送组件41，第一转运机构3将第一次测试后的产品转运放置在第一传送组件41上，所述的第一传送组件41的一侧设置有用于阻拦不良品的拦料板44，拦料板44在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件41方向上往复运动，拦住第一传送组件41上的产品；第一传送组件41的一侧设置有用于将第一传送组件41上的不良品推到第一不良品槽42上的第三推料板43，第三推料板43在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件41方向上往复运动，将不良品推到第一不良品槽42上，同时将不良品槽末端的产品推入高压不良品收料盒。

如图11所示，所述的推料机构8包括用于将第一传送组件41上的产品推入第二测试机构的第二推料板81，所述的第二推料板81在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件41方向上往复运动，将第一传送组件41上的产品推入第二测试机构。

如图12所示，所述的第二输送分料机构7包括第二传送组件71和第二不良品槽72，第二转运机构6将第二次测试后的良品转运放置在第二传送组件71上，同时第二转运机构6将第二次测试后的不良品转运放置在第二不良品槽72上，所述的第二不良品槽72的一侧设置有用于将不良品向第二不良品槽72出口处拨动的拨片73，拨片73在气缸作用下沿第二不良品槽72往复运动，将第二不良品槽72出口处的产品推入综合电性不良品收料盒。

进料滑槽11倾斜设置在进料口，进料口的产品能够沿进料滑槽11向下滑落，落到进料滑槽11末端的平台上被挡板挡住停止滑动。当分料板12连接的气缸位于第一拉伸位时，分料板前端的凹槽13与进料滑槽11末端的平台齐平，推杆14在气缸的作用下推出，将进料滑槽11上的产品推到凹槽13中，推杆14回缩，进料滑槽11上的产品下落一个产品身位，分料板12连接的气缸拉伸位于第二拉伸位，分料板12后端的凹槽13与进料滑槽11末端的平台齐平，推杆14在气缸的作用下推出，将进料滑槽11上的产品推到凹槽13中，推杆14回缩，分料板12连接的气缸压缩，使分料板12移动到进料滑槽11尾部的一侧，使得第一转运机构3能够抓取分料板12上的产品。

此时，第一移动组件32移动到第一极限位置，在第一极限位置中，安装板321上并列的第一抓取组件31分别对应分料板12和第一测试机构2，对应分料板12的第一抓取组件31上的两个手指气缸312分别对应分料板12的两个凹槽13，对应第一测试机构2的第一抓取组件31上的两个手指气缸312分别对应测试夹具23上的两个产品。安装板321沿垂直并靠近进料滑槽11方向移动，使得手指气缸312位于分料板12和测试夹具23的正上方，手指气缸安装板311向下移动使得分料板12和测试夹具23上的产品一一对应嵌入每个手指气缸的两个手指之间，手指气缸收缩，夹紧产品；手指气缸安装板311向上移动，同时安装板321向垂直并远离进料滑槽11方向移动，安装板311沿进料滑槽11方向移动，使得第一移动组件32移动到第二极限位置，此时，安装板321上并列的第一抓取组件31分别对应第一测试机构2和第一输送分料机构4，对应第一测试机构2的第一抓取组件31上的两个手指气缸312分别对应第一测试夹具上的两个测试位。安装板321沿垂直并靠近进料滑槽11方向移动，使得手指气缸位于第一测试夹具和第一传送组件41的正上方，手指气缸安装板311向下移动使得手指气缸上的产品嵌入第一测试夹具或落入第一传送组件41，手指气缸拉伸，松开产品，此时待测的产品进入第一测试机构，进行了第一次测试的产品等待进行输送分料。

第一测试机构2对第一测试机构上的产品进行测试，待测产品落入第一定夹具23后，第一推料板25在气缸的作用下伸出夹紧产品，第一测试气缸24带动第一探针安装板21、第一探针导向板22向下压紧，使得第一探针安装板21上的探针与第一测试夹具上的产品电性接触，进行高压测试，测试结束后，第一测试气缸24带动第一探针安装板21、第一探针导向板22回复初始位置，同时第一推料板25回缩，第一转运机构3再次对已测产品和待测产品进行转运。放入第一传送组件41的产品进行良品不良品分料，若放入第一传送组件的产品都是良品，则第一传送组件41直接将产品传输到第二测试机构，若放入第一传送组件41的两个产品中存在不良品，则拦料板42在气缸作用下伸出，将这两个产品拦下；第三推料板43伸出，将产品推入第一不良品槽44，同时将第一不良品槽末端的产品推入高压不良品收料盒。传输到第二测试机构的产品被阻拦在第二测试机构5的测试夹具处，第二推料板55在气缸作用下将产品推入第二定夹具并夹紧，此时第二测试机构5的第二测试气缸54带动第二探针安装板51、第二探针导向板52向下压紧，使得第二探针安装板51上的探针与第二测试夹具上的产品电性接触，进行综合电性测试，测试结束后，第二测试气缸54带动第二探针安装板51、第二探针导向板52回复初始位置。

第二转运机构6的底板621沿垂直并靠近第一传送组件41方向移动，使得手指气缸612位于第二测试机构5的第二测试夹具的正上方，手指气缸安装板611向下移动使得第二测试夹具上的产品嵌入每个手指气缸的两个手指之间，手指气缸收缩，夹紧产品；手指气缸安装板611向上移动，同时底板621向垂直并远离进料滑槽11方向移动，同时底板611沿第一传送组件41方向移动，若产品综合电性测试合格，属于良品，则第二转运机构6将产品转运到第二传送组件71上；若产品综合电性测试不合格，属于不良品，则第二转运机构6将产品转运到第二不良品槽72上。第二传送组件71将产品传输到下一工位。第二不良品槽72一侧的拨片73在气缸作用下，沿第二不良品槽72方向拨动，将综合电性不良品拨入综合电性不良品收料盒。

在整个测试过程中，分料和测试装料都不需要人工进行参与，在上料过程中，仅需要间隔将一批管装的变压器上料到倾斜芯片常用的倾斜进料装置上，并与进料滑槽对接，就能够实现自动上料，这种情况下一个员工可以同时管多台设备的上料，节约人力，提升产能。

芯片高压和综合电性测试装置的测试方法，包括如下步骤：

S1：进料分料，进料分料机构对进料产品进行初步分料；

S2：转运并第一次测试，第一转运机构将初步分料后的产品转运到测试工位，第一测试机构进行第一次测试；

S3：输送分料，第一转运机构将完成第一次测试的产品转运到第一输送分料机构上，第一输送分料机对第一次测试后的良品和不良品进行分料，将良品传输到第二测试机构；

S4：第二次测试，推料机构将良品推到第二测试机构，第二测试机构进行第二次测试；

S5：转运分料，第二转运机构将完成第二次测试的产品转运到第二输送分料机构上，第二输送分料机构对第二次测试后的良品不良品进行分料，将良品传输到后续工位。

以上所述实施例仅表达了本发明的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：包括

进料分料机构，用于对进料进行初步分料；

第一转运机构，用于将待测产品从进料分料机构转运到第一测试机构，同时将完成第一次测试的产品转运到第一输送分料机构；

第一测试机构，用于进行第一次测试；

第一输送分料机构，用于将进行了第一次测试的产品进行良品不良品分料，并将良品传输到第二测试机构；

第二测试机构，用于进行第二次测试；

第二转运机构，用于将进行了第二次测试的产品转运到第二输送分料机构；

以及第二分料传输机构，用于将完成第二次测试的产品进行良品不良品分料，并将良品传输到下一工序。

2.根据权利要求1所述的芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：所述的进料分料机构包括进料滑槽、分料治具组件和分料推料组件，所述的分料治具组件和分料推料组件分别位于进料滑槽的两侧，所述的分料治具组件包括分料板，分料板的两端分别开设有用于放置产品的凹槽，分料板在气缸作用下沿进料滑槽方向往复移动；所述的分料推料组件包括用于将产品进料滑槽上的产品推入分料板的推杆，推杆在气缸的作用下垂直于进料滑槽往复运动。

3.根据权利要求1或2所述的芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：所述的第一转运机构包括用于在水平面上前后左右移动第一抓取组件的第一移动组件和一对并列安装在第一移动组件左右移动方向上，用于抓取产品的第一抓取组件；所述的第二转运机构包括用于在水平面上前后左右移动第二抓取组件的第二移动组件和安装在第二移动组件上，用于抓取产品的第二抓取组件。

4.根据权利要求3所述的芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：所述的第一抓取组件与第二抓取组件结构相同，均包括手指气缸安装板，所述的手指气缸安装板的底部固定安装有手指气缸，手指气缸安装板在气缸的作用下带动手机气缸在竖直方向上往复运动。

5.根据权利要求3所述的芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：所述的第一测试机构包括第一测试夹具、第一探针安装板、第一探针导向板和第一测试气缸，所述的第一探针安装板与第一探针导向板固定连接，所述的第一测试夹具用于夹紧待测试产品，所述第一测试气缸与第一探针安装板固定连接，带动第一探针安装板和第一探针导向板在竖直方向上往复运动，并向下压紧使得第一探针安装板上的探针与第一测试夹具上的产品电性接触；所述的第一测试夹具包括用于夹紧的第一推料板和用于定位的第一定夹具，所述的第一推料板在气缸作用下与第一定夹具共同夹紧产品。

6.根据权利要求3所述的芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：所述的第二测试机构包括第二测试夹具、第二探针安装板、第二探针导向板和第二测试气缸，所述的第二探针安装板与第二探针导向板固定连接，所述的第二测试夹具用于夹紧待测试产品，所述第二测试气缸与第二探针安装板固定连接，带动第二探针安装板和第二探针导向板在竖直方向上往复运动，并向下压紧使得第二探针安装板上的探针与第二测试夹具上的产品电性接触；所述的第二测试夹具包括用于将第一输送分料机构上的产品推入第二定夹具并夹紧的第二推料板和用于定位的第二定夹具，所述的第二推料板在气缸作用下与第二定夹具共同夹紧产品。

7.根据权利要求1或2或5货6所述的芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：所述的第一输送分料机构包括第一传送组件，第一转运机构将第一次测试后的产品转运放置在第一传送组件上，所述的第一传送组件的一侧设置有用于阻拦不良品的拦料板，拦料板在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件方向上往复运动；第一传送组件的一侧设置有用于将传送组件上的不良品推到第一不良品槽上的第三推料板，第三推料板在气缸的作用下沿垂直于第一传送组件方向上往复运动。

8.根据权利要求7所述的芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：所述的第二输送分料机构包括第二传送组件和第二不良品槽，第二转运机构将第二次测试后的良品转运放置在第二传送组件上，同时第二转运机构将第二次测试后的不良品转运放置在第二不良品槽上，所述的第二不良品槽的一侧设置有用于将不良品向第二不良品槽出口处拨动的拨片，拨片在气缸作用下沿第二不良品槽往复运动。

9.根据权利要求1所述的芯片高压和综合电性测试装置，其特征在于：所述的第一测试机构为高压测试机构，第二测试机构为综合电性测试机构。

10.根据权利要求1所述的芯片高压和综合电性测试装置的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

S1：进料分料，进料分料机构对进料产品进行初步分料；

S2：转运并第一次测试，第一转运机构将初步分料后的产品转运到测试工位，第一测试机构进行第一次测试；

S3：输送分料，第一转运机构将完成第一次测试的产品转运到第一输送分料机构上，第一输送分料机对第一次测试后的良品和不良品进行分料，将良品传输到第二测试机构；

S4：第二次测试，推料机构将良品推到第二测试机构，第二测试机构进行第二次测试；

S5：转运分料，第二转运机构将完成第二次测试的产品转运到第二输送分料机构上，第二输送分料机构对第二次测试后的良品不良品进行分料，将良品传输到后续工位。