CN113124920A - 产品测试方法及产品测试平台 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种产品测试方法及产品测试平台。产品测试方法包括：通过第一测试治具对多个测试盘的第一群组所承载的每一个待测产品进行测试，并将未通过测试的待测产品定义为第一缓冲产品且移动至第一缓冲盘上；第一缓冲盘承载N个第一缓冲产品时，通过第一测试治具对第一缓冲盘上的每一个第一缓冲产品进行测试，并将未通过测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品且移动至第一重置盘上；第一重置盘承载M个第一重置产品时，通过第二测试治具对第一重置盘上的每一个第一重置产品进行测试，并将未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域。N和M皆为大于或等于2的整数，第一测试治具和第二测试治具为同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具。

Description

产品测试方法及产品测试平台

技术领域

本申请涉及产品测试技术领域，尤其涉及一种产品测试方法及产品测试平台。

背景技术

一般而言，每个产品在生产完毕时需经过一定的测试流程，以确保其具有的各个功能皆可正常运作。其中，制造业者为了防止同一个测试治具对同一个产品进行三次相同的测试而发生良品误判的问题，通常使用一种产品测试方法，即同一个测试治具只能对同一个产品进行两次相同的测试，当任一个产品需要进行第三次相同的测试时，则需要更换成另一测试治具进行所述测试。

当前实现上述产品测试方法时，通常是采用传统的统计方式记录各个产品的测试状态和测试次数，需要消耗极大的软件资源，此时，如果没有一个很完善的服务器管理这些数据时，还易发生统计错误而导致同一个测试治具对同一个产品进行三次相同测试的情形，进而造成良品误判的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种产品测试方法及产品测试平台，可以有效解决现有技术的产品测试方法易发生统计错误而导致同一个测试治具对同一个产品进行三次相同测试，进而可能导致良品误判的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

第一方面，提供了一种产品测试方法，其包括以下步骤：通过第一测试治具对多个测试盘的第一群组所承载的每一个待测产品进行测试，并将未通过测试的待测产品定义为第一缓冲产品且移动至第一测试治具对应的第一缓冲盘上；当第一缓冲盘承载N个第一缓冲产品时，通过第一测试治具对第一缓冲盘上的每一个第一缓冲产品进行测试，并将未通过测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品且移动至第一测试治具对应的第一重置盘上，其中，N为大于或等于2的整数；当第一重置盘承载M个第一重置产品时，通过第二测试治具对第一重置盘上的每一个第一重置产品进行测试，并将未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域，其中，第一测试治具和第二测试治具为同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具，M为大于或等于2的整数。

在一实施例中，产品测试方法还包括：通过移料装置将每一个第一缓冲产品移动至第一缓冲盘上、将每一个第一重置产品移动至第一重置盘上和将每一个未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域。

在一实施例中，产品测试方法还包括：扫描所有待测产品的标识符后，将所有待测产品放置于多个测试盘上；将多个测试盘区分为第一群组和第二群组。

在一实施例中，产品测试方法还包括：通过第二测试治具对多个测试盘的第二群组所承载的每一个待测产品进行测试，并将未通过测试的待测产品定义为第二缓冲产品且移动至第二测试治具对应的第二缓冲盘上；当第二缓冲盘承载N个第二缓冲产品时，通过第二测试治具对第二缓冲盘上的每一个第二缓冲产品进行测试，并将未通过测试的第二缓冲产品定义为第二重置产品且移动至第二测试治具对应的第二重置盘上；当第二重置盘承载M个第二重置产品时，通过第一测试治具对第二重置盘上的每一个第二重置产品进行测试，并将未通过测试的第二重置产品移动至瑕疵区域。

在一实施例中，产品测试方法还包括：通过移料装置将每一个第二缓冲产品移动至第二缓冲盘上、将每一个第二重置产品移动至第二重置盘上或将每一个未通过测试的第二重置产品移动至瑕疵区域。

在一实施例中，产品测试方法还包括：将通过测试的待测产品、通过测试的第一缓冲产品和通过测试的第一重置产品移动至通过区域或下一测试站。

第二方面，提供了一种产品测试平台，其包括：多个测试盘、第一缓冲盘、第一重置盘、第一测试治具、第二测试治具、处理装置和移料装置。其中，多个测试盘中的每一个用于承载多个待测产品；第一缓冲盘位于处在未测试区域的测试盘的一侧，并用于承载第一缓冲产品；第一重置盘位于第一缓冲盘的一侧，并用于承载第一重置产品；第一测试治具用于对多个测试盘的第一群组所承载的每一个待测产品进行测试，及当第一缓冲盘承载N个第一缓冲产品时，对第一缓冲盘上的每一个第一缓冲产品进行测试，其中，N为大于或等于2的整数；第二测试治具用于当第一重置盘承载M个第一重置产品时，对第一重置盘上的每一个第一重置产品进行测试，其中，M为大于或等于2的整数；处理装置电性连接第一测试治具和第二测试治具，并用于将多个测试盘区分为第一群组和第二群组、将未通过第一测试治具的测试的待测产品定义为第一缓冲产品及将未通过第一测试治具的测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品；移料装置连接处理装置，并用于将被处理装置定义的每一个第一缓冲产品移动至第一缓冲盘上、将被处理装置定义的每一个第一重置产品移动至第一重置盘上及将未通过第二测试治具的测试的第一重置产品移动至瑕疵区域；第一测试治具和第二测试治具为同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具。

在一实施例中，产品测试平台还包括扫描装置，扫描装置电性连接移料装置，且用于扫描所有待测产品的标识符；移料装置还用于将扫描装置扫描后的所有待测产品移动至多个测试盘上。

在一实施例中，产品测试平台还包括：第二缓冲盘和第二重置盘。其中，第二缓冲盘位于处在未测试区域的测试盘的一侧，并用于承载第二缓冲产品；第二重置盘位于第二缓冲盘的一侧，并用于承载第二重置产品；第二测试治具还用于对多个测试盘的第二群组所承载的每一个待测产品进行测试，及当第二缓冲盘承载N个第二缓冲产品时，对第二缓冲盘上的每一个第二缓冲产品进行测试；第一测试治具还用于当第二重置盘承载M个第二重置产品时，对第二重置盘上的每一个第二重置产品进行测试；处理装置还用于将未通过第二测试治具的测试的待测产品定义为第二缓冲产品及将未通过第二测试治具的测试的第一缓冲产品定义为第二重置产品；移料装置还用于将被处理装置定义的每一个第二缓冲产品移动至第二缓冲盘上、将被处理装置定义的每一个第二重置产品移动至第二重置盘上或将每一个未通过第一测试治具的测试的第二重置产品移动至瑕疵区域。

在一实施例中，移料装置还用于将通过第一测试治具的测试的待测产品、通过第一测试治具的测试的第一缓冲产品和通过第二测试治具的测试的第一重置产品移动至通过区域或下一测试站。

在本申请实施例中，产品测试方法及产品测试平台通过设置同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具所分别对应的缓冲盘和重置盘，即可通过每一个待测产品所在的位置(例如：哪一个测试治具对应的缓冲盘或重置盘、瑕疵区域)，确认该待测产品通过哪一个测试治具进行测试及其累积的测试次数，容易实现同一个测试治具只能对同一个产品进行两次测试，当任一个产品需要进行第三次相同的测试时，更换成同一测试站的另一测试治具进行所述测试的情形。另外，搭配多个测试盘进行分群，使得同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具可分别针对不同群组的测试盘所承载的待测产品进行最多两次的测试，当任一个产品需要进行第三次测试时，不同测试治具之间可以相互搭配进行所述测试。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为依据本申请的产品测试平台的一实施例示意框图；

图2为图1的产品测试平台所执行的产品测试方法的一实施例方法流程图；

图3A和图3B为图1的产品测试平台所执行的产品测试方法的另一实施例方法流程图；

图4为依据本申请的产品测试平台的另一实施例示意框图。

具体实施方式

以下将配合相关附图来说明本发明的实施例。在这些附图中，相同的标号表示相同或类似的组件或方法流程。

必须了解的是，使用在本说明书中的“包含”、“包括”等词，是用于表示存在特定的技术特征、数值、方法步骤、作业处理、组件和/或组件，但并不排除可加上更多的技术特征、数值、方法步骤、作业处理、组件、组件，或以上的任意组合。

必须了解的是，当组件描述为“连接”或“耦接”至另一组件时，可以是直接连结、或耦接至其他组件，可能出现中间组件。相反地，当组件描述为“直接连接”或“直接耦接”至另一组件时，其中不存在任何中间组件。

请参阅图1，其为依据本申请的产品测试平台的一实施例示意框图。如图1所示，在本实施例中，产品测试平台100包括：未测试区域10、多个测试盘110、第一缓冲盘120、第一重置盘130、第一测试治具140、第二测试治具150、处理装置160和移料装置170。其中，多个测试盘110位于未测试区域10；第一缓冲盘120位于处在未测试区域10的测试盘110的一侧且对应第一测试治具140，并用于承载第一缓冲产品；第一重置盘130位于第一缓冲盘120的一侧且对应第一测试治具140，并用于承载第一重置产品；第一测试治具140和第二测试治具150为同一测试站80中执行相同测试程序的不同测试治具；处理装置160电性连接第一测试治具140、第二测试治具150和移料装置170；移料装置170用于移动测试盘110、第一缓冲盘120、第一重置盘130、待测产品、第一缓冲产品和第一重置产品的位置。另外，产品测试平台100还可包括瑕疵区域90，用于放置未通过第二测试治具150的测试的第一重置产品。

需注意的是，避免图1的图面过于复杂，仅绘制两个测试盘110、一个第一缓冲盘120和一个第一重置盘130，实际测试盘110、第一缓冲盘120和第一重置盘130的数量可依据实际需求进行调整；另外，测试盘110、第一缓冲盘120和第一重置盘130的配置位置可依据实际需求(例如：自动化产品测试的流水线作业或设置产品测试平台100的空间规划)进行调整。

在本实施例中，每一个测试盘110用于承载多个待测产品；第一缓冲盘120用于承载多个第一缓冲产品；第一重置盘130用于承载多个第一重置产品，其中，测试盘110、第一缓冲盘120和第一重置盘130可为相同的载盘，用于承载相同数量的产品，仅透过其配置位置和所承载的产品的差异加以区分为测试盘110、第一缓冲盘120或第一重置盘130，但本实施例并非用以限定本申请，可依据实际需求进行调整。

在一实施例中，移料装置170可包括输送带172和机械手臂174，机械手臂174可为真空吸附式机械手臂，机械手臂174设置于输送带172上，以使机械手臂174可在输送带172上移动，以利移动测试盘110、第一缓冲盘120、第一重置盘130、待测产品、第一缓冲产品和第一重置产品的位置，但本实施例并非用以限定本申请，可依据实际需求进行调整。

请参阅图1和图2，图2为图1的产品测试平台所执行的产品测试方法的一实施例方法流程图。如图1和图2所示，在本实施例中，产品测试方法包括以下步骤：通过第一测试治具140对多个测试盘110的第一群组所承载的每一个待测产品进行测试，并将未通过测试的待测产品定义为第一缓冲产品且移动至第一测试治具140对应的第一缓冲盘120上(步骤210)；当第一缓冲盘120承载N个第一缓冲产品时，通过第一测试治具140对第一缓冲盘120上的每一个第一缓冲产品进行测试，并将未通过测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品且移动至第一测试治具140对应的第一重置盘130上，其中，N为大于或等于2的整数(步骤220)；当第一重置盘130承载M个第一重置产品时，通过第二测试治具150对第一重置盘130上的每一个第一重置产品进行测试，并将未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域90，其中，M为大于或等于2的整数(步骤230)。

在一实施例中，步骤210可包括：第一测试治具140对属于第一群组的测试盘110所承载的每一个待测产品进行测试；当处理装置160通过第一测试治具140确认任一个待测产品未通过测试时，将未通过测试的待测产品定义为第一缓冲产品，并传输控制信号给移料装置170，以使移料装置170将第一缓冲产品移动至第一缓冲盘120上(即移料装置170将被处理装置160定义的每一个第一缓冲产品移动至第一缓冲盘120上)。其中，第一缓冲产品对应的测试治具为第一测试治具140且累积的测试次数为一次。

在一实施例中，步骤220可包括：当处理装置160确认第一缓冲盘120承载N个第一缓冲产品(例如：第一缓冲盘120满载)时，通过移料装置170移动第一缓冲盘120，以使第一测试治具140对第一缓冲盘120上的每一个第一缓冲产品进行测试；当处理装置160通过第一测试治具140确认任一个第一缓冲产品未通过第一测试治具140的测试时，将未通过测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品，并传输另一控制信号给移料装置170，以使移料装置170将第一重置产品移动至第一重置盘130上(即移料装置170将被处理装置160定义的每一个第一重置产品移动至第一重置盘130上)。其中，第一重置产品对应的测试治具为第一测试治具140且累积的测试次数为两次。

在一实施例中，步骤230可包括：当处理装置160确认第一重置盘130承载M个第一重置产品(例如：第一重置盘130满载)时，通过移料装置170移动第一重置盘130，以使第二测试治具150对第一重置盘130上的每一个第一重置产品进行测试；当处理装置160通过第二测试治具150确认任一个第一重置产品未通过第二测试治具150的测试时，处理装置160传输又一控制信号给移料装置170，以使移料装置170将未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域90(即移料装置170将未通过第二测试治具150的测试的第一重置产品移动至瑕疵区域90)。其中，未通过测试的第一重置产品对应的测试治具为第二测试治具150且累积的测试次数为三次，未通过测试的第一重置产品为不良品。

因此，通过上述步骤210至步骤230，即可借由每一个待测产品所在的位置，确认该待测产品通过哪一个测试治具进行测试及其累积的测试次数，容易实现同一个测试治具只能对同一个产品进行两次测试，当任一个产品需要进行第三次相同的测试时，更换成同一测试站80的另一测试治具进行所述测试的情形。

在一实施例中，在步骤210之前，产品测试方法还可包括：将多个测试盘110区分为第一群组和第二群组(步骤310)。更详细地说，处理装置160用于将多个测试盘110区分为第一群组和第二群组，并记录和存储哪一个测试盘110属于第一群组或第二群组。其中，可基于测试盘110的配置位置区别所述测试盘110属于第一群组或第二群组，但这个实施例并非用以限定本申请，可依据实际需求进行调整。

在一实施例中，产品测试平台100还可包括扫描装置180，扫描装置180电性连接移料装置170，且扫描装置180用于扫描所有待测产品的标识符；移料装置170还用于将扫描装置180扫描后的所有待测产品移动至多个测试盘110上；其中，所述标识符可为但不限于条形码(barcode)或二维条形码(QR code)，且为待测产品的唯一识别码。因此，产品测试方法还可包括：扫描所有待测产品的标识符后，将所有待测产品放置于多个测试盘110上(步骤410)。此外，扫描装置180和移料装置170电性连接处理装置160，处理装置160还用于记录和存储哪一个待测产品配置于哪一个测试盘110。

在另一实施例中，产品测试方法可包括步骤410、步骤310和步骤210至步骤230；此时，处理装置160除了记录和存储哪一个待测产品配置于哪一个测试盘110，还可记录和存储哪一个测试盘110属于第一群组或第二群组，因此，处理装置160可获取哪一个待测产品属于第一群组或第二群组。

请参阅图1、图3A和图3B，图3A和图3B为图1的产品测试平台所执行的产品测试方法的另一实施例方法流程图。在本实施例中，产品测试方法可包括：第一测试治具140对属于第一群组的测试盘110所承载的每一个待测产品进行测试(步骤510)；处理装置160通过第一测试治具140确认待测产品是否通过测试(步骤520)；当确认待测产品未通过测试时，处理装置160将未通过测试的待测产品定义为第一缓冲产品，移料装置170将第一缓冲产品移动至第一测试治具140对应的第一缓冲盘120上(步骤530)；当处理装置160确认第一缓冲盘120承载N个第一缓冲产品时，移料装置170移动第一缓冲盘120，以使第一测试治具140对第一缓冲盘120上的每一个第一缓冲产品进行测试，其中，N为大于或等于2的整数(步骤540)；处理装置160通过第一测试治具140确认第一缓冲产品是否通过测试(步骤550)；当确认第一缓冲产品未通过测试时，处理装置160将未通过测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品，移料装置170将第一重置产品移动至第一测试治具140对应的第一重置盘130上(步骤560)；当处理装置160确认第一重置盘130承载M个第一重置产品时，移料装置170移动第一重置盘130，以使第二测试治具150对第一重置盘130上的每一个第一重置产品进行测试，其中，M为大于或等于2的整数(步骤570)；处理装置160通过第二测试治具150确认第一重置产品是否通过测试(步骤580)；当处理装置160确认第一重置产品未通过测试时，移料装置170将未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域90(步骤590)。

在一实施例中，产品测试平台100还可包括通过区域92，用于放置通过第一测试治具140的测试的待测产品和第一缓冲产品及通过第二测试治具150的测试的第一重置产品。因此，产品测试方法还可包括：移料装置170将通过第一测试治具140的测试的待测产品移动至通过区域92(步骤610)；移料装置170将通过第一测试治具140的测试的第一缓冲产品移动至通过区域92(步骤620)；及移料装置170将通过第二测试治具150的测试的第一重置产品移动至通过区域92(步骤630)。

需注意的是，由于步骤210中已将测试盘110上未通过测试的待测产品(即第一缓冲产品)移动至第一缓冲盘120，因此，步骤610中移料装置170可将未承载第一缓冲产品的测试盘110移动至通过区域92(即移料装置170将通过第一测试治具140的测试的待测产品移动至通过区域92)；由于步骤220中已将第一缓冲盘120上未通过测试的第一缓冲产品(即第一重置产品)移动至第一重置盘130，因此，步骤620中移料装置170可将未承载第一重置产品的第一缓冲盘120移动至通过区域92(即移料装置170将通过第一测试治具140的测试的第一缓冲产品移动至通过区域92)，此时，会将未承载任何第一缓冲产品的新第一缓冲盘120配置于处在未测试区域10的测试盘110的一侧；由于步骤230中已将第一重置盘130上未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域90，因此，步骤630中移料装置170可将没有承载未通过测试的第一重置产品的第一重置盘130移动至通过区域92(即移料装置170将通过第二测试治具150的测试的第一重置产品移动至通过区域92)，此时，会将未承载任何第一重置产品的新第一重置盘130配置于新第一缓冲盘120的一侧。

在另一实施例中，如果待测产品除了需要通过测试站80的测试以外，还需要通过其他测试站的测试时，移料装置170可将通过测试站80的测试的待测产品、第一缓冲产品和第一重置产品移动至下一测试站。

请参阅图1，由于测试站80包括执行相同测试程序的第一测试治具140和第二测试治具150，因此，产品测试平台100除了包括未测试区域10、瑕疵区域90、通过区域92、多个测试盘110、第一缓冲盘120、第一重置盘130、第一测试治具140、第二测试治具150、处理装置160、移料装置170和扫描装置180以外，还可包括：对应第二测试治具150的第二缓冲盘720和第二重置盘730。其中，第二缓冲盘720位于处在未测试区域10的测试盘110的一侧，并用于承载第二缓冲产品；第二重置盘730位于第二缓冲盘720的一侧，并用于承载第二重置产品；移料装置170用于移动第二缓冲盘720、第二重置盘730、第二缓冲产品和第二重置产品的位置。需注意的是，避免图1的图面过于复杂，仅绘制一个第二缓冲盘720和一个第二重置盘730，实际第二缓冲盘720和第二重置盘730的数量可依据实际需求进行调整；另外，第二缓冲盘720和第二重置盘730的配置位置可依据实际需求进行调整。

在本实施例中，第二缓冲盘720用于承载多个第二缓冲产品；第二重置盘730用于承载多个第二重置产品，其中，测试盘110、第二缓冲盘720和第二重置盘730可为相同的载盘，用于承载相同数量的产品，仅透过其配置位置和所承载的产品的差异加以区分为测试盘110、第二缓冲盘720或第二重置盘730，但本实施例并非用以限定本申请，可依据实际需求进行调整。

因此，在本实施例中，产品测试方法除了包括图2的步骤210至步骤230以外，还可包括：通过第二测试治具150对多个测试盘110的第二群组所承载的每一个待测产品进行测试，并将未通过测试的待测产品定义为第二缓冲产品且移动至第二测试治具150对应的第二缓冲盘720上(即第二测试治具150对多个测试盘110的第二群组所承载的每一个待测产品进行测试，处理装置160将未通过测试的待测产品定义为第二缓冲产品，移料装置170将第二缓冲产品移动至第二测试治具150对应的第二缓冲盘720上)；当第二缓冲盘720承载N个第二缓冲产品时，通过第二测试治具150对第二缓冲盘720上的每一个第二缓冲产品进行测试，并将未通过测试的第二缓冲产品定义为第二重置产品且移动至第二测试治具150对应的第二重置盘730上(即当处理装置160确认第二缓冲盘720承载N个第二缓冲产品时，移料装置170移动第二缓冲盘720，以使第二测试治具150对第二缓冲盘720上的每一个第二缓冲产品进行测试，处理装置160将未通过测试的第二缓冲产品定义为第二重置产品，移料装置170将第二重置产品移动至第二测试治具150对应的第二重置盘730上)；当第二重置盘730承载M个第二重置产品时，通过第一测试治具140对第二重置盘730上的每一个第二重置产品进行测试，并将未通过测试的第二重置产品移动至瑕疵区域90(即当处理装置160确认第二重置盘730承载M个第二重置产品时，移料装置170移动第二重置盘730，以使第一测试治具140对第二重置盘730上的每一个第二重置产品进行测试；当处理装置160通过第一测试治具140确认第二重置产品未通过测试时，移料装置170将未通过测试的第二重置产品移动至瑕疵区域90)。

此外，处理装置160还将待测产品、第二缓冲产品和第二重置产品通过第二测试治具150或第一测试治具140的测试结果传输给移料装置170，以使移料装置170将测试通过的待测产品、第二缓冲产品和第二重置产品移动至通过区域92。更详细地说，移料装置170可将未承载第二缓冲产品的测试盘110移动至通过区域92；移料装置170可将未承载第二重置产品的第二缓冲盘720移动至通过区域92，此时，会将未承载任何第二缓冲产品的新第二缓冲盘720配置于处在未测试区域10的测试盘110的一侧；移料装置170可将没有承载未通过测试的第二重置产品的第二重置盘730移动至通过区域92，此时，会将未承载任何第二重置产品的新第二重置盘730配置于新第二缓冲盘720的一侧。

在另一实施例中，如果待测产品除了需要通过测试站80的测试以外，还需要通过其他测试站的测试时，移料装置170可将通过测试站80的测试的待测产品、第二缓冲产品和第二重置产品移动至下一测试站。

请参阅图4，其为依据本申请的产品测试平台的另一实施例示意框图。如图4所示，本实施例的待测产品除了需要通过测试站80的测试以外，还需要通过测试站82的测试，因此，本实施例的产品测试平台800包括：图1的瑕疵区域90、未测试区域10、通过区域92、多个测试盘110、第一缓冲盘120、第一重置盘130、包括第一测试治具140和第二测试治具150的测试站80、处理装置160、移料装置170、第二缓冲盘720和第二重置盘730以外，还包括：对应第三测试治具840的第三缓冲盘820和第三重置盘830、包括第三测试治具840和第四测试治具850的测试站82、对应第四测试治具850的第四缓冲盘920和第四重置盘930，第三测试治具840和第四测试治具850为同一测试站82中执行相同测试程序的不同测试治具；第三缓冲盘820、第三重置盘830和第三测试治具840之间的对应关系相同于第一缓冲盘120、第一重置盘130和第一测试治具140之间的对应关系，第四缓冲盘920、第四重置盘930和第四测试治具850之间的对应关系相同于第二缓冲盘720、第二重置盘730和第二测试治具150之间的对应关系，第三测试治具840和第四测试治具850之间的对应关系相同于第一测试治具140和第二测试治具150之间的对应关系，因此，详细的说明不再赘述。

需注意的是，本实施例的移料装置170可将通过第一测试治具140或第二测试治具150的测试的待测产品、第一缓冲产品、第一重置产品、第二缓冲产品和第二重置产品移动至测试站82(即移料装置170将承载通过第一测试治具140的测试的待测产品的测试盘110、承载通过第一测试治具140的测试的第一缓冲产品的第一缓冲盘120以及承载通过第二测试治具150的测试的第一重置产品的第一重置盘130移动至第三测试治具840进行测试；移料装置170将承载通过第二测试治具150的测试的待测产品的测试盘110、承载通过第二测试治具150的测试的第二缓冲产品的第二缓冲盘720以及承载通过第一测试治具140的测试的第二重置产品的第二重置盘730移动至第四测试治具850进行测试)。

此外，本实施例的移料装置170可将未通过第三测试治具840或第四测试治具850的测试的产品移动至瑕疵区域90；本实施例的移料装置170可将通过第三测试治具840或第四测试治具850的测试的产品及其所在的测试盘110、第一缓冲盘120、第一重置盘130、第二缓冲盘720、第二重置盘730、第三缓冲盘820、第三重置盘830、第四缓冲盘920和第四重置盘930移动至通过区域92。

综上所述，本申请实施例的产品测试方法及产品测试平台通过设置同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具所分别对应的缓冲盘和重置盘，即可通过每一个待测产品所在的位置(例如：哪一个测试治具对应的缓冲盘或重置盘、瑕疵区域)，确认该待测产品通过哪一个测试治具进行测试及其累积的测试次数，容易实现同一个测试治具只能对同一个产品进行两次测试，当任一个产品需要进行第三次相同的测试时，更换成同一测试站的另一测试治具进行所述测试的情形。另外，搭配多个测试盘进行分群，使得同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具可分别针对不同群组的测试盘所承载的待测产品进行最多两次的测试，当任一个产品需要进行第三次测试时，不同测试治具之间可以相互搭配进行所述测试。

虽然在本申请的图式中包含了以上描述的组件，但不排除在不违反发明的精神下，使用更多其他的附加组件，已达成更佳的技术效果。

虽然本发明使用以上实施例进行说明，但需要注意的是，这些描述并非用于限缩本发明。相反地，此发明涵盖了所属技术领域中的技术人员显而易见的修改与相似设置。所以，权利要求范围须以最宽广的方式解释来包含所有显而易见的修改与相似设置。

Claims (10)

1.一种产品测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过第一测试治具对多个测试盘的第一群组所承载的每一个待测产品进行测试，并将未通过测试的待测产品定义为第一缓冲产品且移动至所述第一测试治具对应的第一缓冲盘上；

当所述第一缓冲盘承载N个所述第一缓冲产品时，通过所述第一测试治具对所述第一缓冲盘上的每一个所述第一缓冲产品进行测试，并将未通过测试的第一缓冲产品定义为第一重置产品且移动至所述第一测试治具对应的第一重置盘上，其中，N为大于或等于2的整数；

当所述第一重置盘承载M个所述第一重置产品时，通过第二测试治具对所述第一重置盘上的每一个所述第一重置产品进行测试，并将未通过测试的第一重置产品移动至瑕疵区域，其中，所述第一测试治具和所述第二测试治具为同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具，M为大于或等于2的整数。

2.如权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，还包括：

通过移料装置将每一个所述第一缓冲产品移动至所述第一缓冲盘上、将每一个所述第一重置产品移动至所述第一重置盘上和将每一个所述未通过测试的第一重置产品移动至所述瑕疵区域。

3.如权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，还包括：

扫描所有待测产品的标识符后，将所述所有待测产品放置于所述多个测试盘上；

将所述多个测试盘区分为所述第一群组和第二群组。

4.如权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，还包括：

通过所述第二测试治具对所述多个测试盘的第二群组所承载的每一个待测产品进行测试，并将未通过测试的待测产品定义为第二缓冲产品且移动至所述第二测试治具对应的第二缓冲盘上；

当所述第二缓冲盘承载N个所述第二缓冲产品时，通过所述第二测试治具对所述第二缓冲盘上的每一个所述第二缓冲产品进行测试，并将未通过测试的所述第二缓冲产品定义为第二重置产品且移动至所述第二测试治具对应的第二重置盘上；

当所述第二重置盘承载M个所述第二重置产品时，通过所述第一测试治具对所述第二重置盘上的每一个所述第二重置产品进行测试，并将未通过测试的第二重置产品移动至所述瑕疵区域。

5.如权利要求4所述的产品测试方法，其特征在于，还包括：

通过移料装置将每一个所述第二缓冲产品移动至所述第二缓冲盘上、将每一个所述第二重置产品移动至所述第二重置盘上或将每一个所述未通过测试的第二重置产品移动至所述瑕疵区域。

6.如权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，还包括：

将通过测试的待测产品、通过测试的第一缓冲产品和通过测试的第一重置产品移动至通过区域或下一测试站。

7.一种产品测试平台，其特征在于，包括：

多个测试盘，所述多个测试盘中的每一个用于承载多个待测产品；第一缓冲盘，位于处在未测试区域的测试盘的一侧，并用于承载第一缓冲产品；

第一重置盘，位于所述第一缓冲盘的一侧，并用于承载第一重置产品；

第一测试治具，用于对所述多个测试盘的第一群组所承载的每一个待测产品进行测试，及当所述第一缓冲盘承载N个所述第一缓冲产品时，对所述第一缓冲盘上的每一个所述第一缓冲产品进行测试，其中，N为大于或等于2的整数；

第二测试治具，用于当所述第一重置盘承载M个所述第一重置产品时，对所述第一重置盘上的每一个所述第一重置产品进行测试，其中，M为大于或等于2的整数；

处理装置，电性连接所述第一测试治具和所述第二测试治具，并用于将所述多个测试盘区分为所述第一群组和第二群组、将未通过所述第一测试治具的测试的待测产品定义为所述第一缓冲产品及将未通过所述第一测试治具的测试的第一缓冲产品定义为所述第一重置产品；

移料装置，连接所述处理装置，并用于将被所述处理装置定义的每一个所述第一缓冲产品移动至所述第一缓冲盘上、将被所述处理装置定义的每一个所述第一重置产品移动至所述第一重置盘上及将未通过所述第二测试治具的测试的第一重置产品移动至瑕疵区域；

其中，所述第一测试治具和所述第二测试治具为同一测试站中执行相同测试程序的不同测试治具。

8.如权利要求7所述的产品测试平台，其特征在于，还包括：扫描装置，所述扫描装置电性连接所述移料装置，且用于扫描所有待测产品的标识符；所述移料装置还用于将所述扫描装置扫描后的所述所有待测产品移动至所述多个测试盘上。

9.如权利要求7所述的产品测试平台，其特征在于，还包括：

第二缓冲盘，位于所述处在未测试区域的测试盘的一侧，并用于承载第二缓冲产品；

第二重置盘，位于所述第二缓冲盘的一侧，并用于承载第二重置产品；

其中，所述第二测试治具还用于对所述多个测试盘的所述第二群组所承载的每一个待测产品进行测试，及当所述第二缓冲盘承载N个所述第二缓冲产品时，对所述第二缓冲盘上的每一个所述第二缓冲产品进行测试；

所述第一测试治具还用于当所述第二重置盘承载M个所述第二重置产品时，对所述第二重置盘上的每一个所述第二重置产品进行测试；

所述处理装置还用于将未通过所述第二测试治具的测试的待测产品定义为所述第二缓冲产品及将未通过所述第二测试治具的测试的第一缓冲产品定义为所述第二重置产品；

所述移料装置还用于将被所述处理装置定义的每一个所述第二缓冲产品移动至所述第二缓冲盘上、将被所述处理装置定义的每一个所述第二重置产品移动至所述第二重置盘上或将每一个所述未通过所述第一测试治具的测试的第二重置产品移动至所述瑕疵区域。

10.如权利要求7所述的产品测试平台，其特征在于，所述移料装置还用于将通过所述第一测试治具的测试的待测产品、通过所述第一测试治具的测试的第一缓冲产品和通过所述第二测试治具的测试的第一重置产品移动至通过区域或下一测试站。

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